JP2008251868A - 半導体素子収納用パッケージ - Google Patents
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Abstract
【課題】 絶縁樹脂板に開口部の角部を起点としたクラックが発生することがなく、内部に収容する半導体素子を長期間にわたり安定して作動させることが可能な半導体素子収納用パッケージを提供すること。
【解決手段】 中央部に半導体素子3を収容するための四角形の開口部8aを有する絶縁樹脂板8と、該絶縁樹脂板8の上面に前記開口部8aから離間して被着されており、前記半導体素子3の電極がボンディングワイヤ19を介して電気的に接続される配線導体層12とを具備して成る半導体素子収納用パッケージにおいて、前記絶縁樹脂板8は、前記開口部8aの各角部側面に金属めっき層から成るダミーの導体層22が被着されている。
【選択図】 図1
【解決手段】 中央部に半導体素子3を収容するための四角形の開口部8aを有する絶縁樹脂板8と、該絶縁樹脂板8の上面に前記開口部8aから離間して被着されており、前記半導体素子3の電極がボンディングワイヤ19を介して電気的に接続される配線導体層12とを具備して成る半導体素子収納用パッケージにおいて、前記絶縁樹脂板8は、前記開口部8aの各角部側面に金属めっき層から成るダミーの導体層22が被着されている。
【選択図】 図1
Description
本発明は、半導体素子を収容するための半導体素子収納用パッケージに関するものである。
従来、MPU等の半導体素子を収容するための半導体素子収納用パッケージは、例えば図3に断面図で示すように、上面中央部に半導体素子40が搭載される搭載部41aを有する四角平板状の放熱板41と、この放熱板41の上面に搭載部41aを取り囲むようにして接着層42を介して接合されており、中央部に半導体素子40を収容するための階段状の開口部43aを有する四角枠状の配線基板43とから主に構成されている。
この従来の半導体素子収納用パッケージにおいては、放熱板41は、銅等の良熱伝導性の金属材料から成り、その搭載部41aに半導体素子40がエポキシ樹脂等の接着剤44を介して搭載される。
放熱板41と配線基板43とを接合する接着層42は、ガラスクロスにエポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂等の熱硬化性樹脂を含浸させて成り、未硬化の接着層42を放熱板41と配線基板43との間に挟んで上下から加圧しながら加熱してシート中の熱硬化性樹脂を硬化させることによって放熱板41と配線基板43とが接着層42を介して接合されている。
放熱板41と配線基板43とを接合する接着層42は、ガラスクロスにエポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂等の熱硬化性樹脂を含浸させて成り、未硬化の接着層42を放熱板41と配線基板43との間に挟んで上下から加圧しながら加熱してシート中の熱硬化性樹脂を硬化させることによって放熱板41と配線基板43とが接着層42を介して接合されている。
配線基板43は、接着層45、46を介して積層された3層の絶縁樹脂板47、48、49を具備していおり、絶縁樹脂板47、48、49の中央部には半導体素子を収容するための四角形の開口部47a,48a,49aがそれぞれ設けられている。接着層45、46および絶縁樹脂板47、48、49は、ガラスクロスにエポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂等の熱硬化性樹脂を含浸させて成り、熱硬化された絶縁樹脂板47、48、49の間に未硬化の接着層45、46を挟み、上下から加圧しながら加熱して接着層45、46を熱硬化させることによって積層一体化されている。なお一般的には、開口部47a,48aはこの積層一体化に先立ち予め設けられ。他方、開口部49aは積層一体化の後に形成される。これらの開口部47a,48a,49aは、いずれもルータを使用して形成される。
各絶縁樹脂板47、48、49の上面には銅箔から成る配線導体層50、51、52が被着されており、各絶縁樹脂板47、48、49の下面には同じく銅箔から成る接地導体層または電源導体層53、54、55が被着されている。また、配線基板43の外周部の上面から下面にかけては複数のスルーホール56が形成されており、このスルーホール56の内面には銅めっきからなる貫通導体57が被着される。
配線基板43の最下層に位置する絶縁樹脂板47は、その中央部に搭載部41aを露出させるようにして開口部47aが形成されており、その上面の開口部47a周辺から外周部にかけては半導体素子40の各電極がボンディングワイヤ58を介して電気的に接続される複数の配線導体を有する銅箔から成る配線導体層50が被着されている。またその下面には半導体素子40に接地電位または電源電位を供給するための銅箔から成る接地導体層または電源導体層53が被着されており、上面側の配線導体層50の表面から開口部47aの側面を介して下面側の接地導体層または電源導体層54の表面にかけて、配線導体層50の一部と接地導体層または電源導体層54とを電気的に接続する銅めっきから成る金属めっき層59が被着されている。さらに絶縁樹脂板47の下面には、エポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂等の熱硬化性樹脂および酸化珪素やタルク等の絶縁フィラーから成る保護樹脂層60が接地導体層または電源導体層53を覆うようにして被着されており、それにより接地導体層または電源導体層53の電気的な絶縁が良好に保たれるとともに配線基板43と接着層42との接合が強固なものとなっている。
絶縁樹脂板47の上に積層された絶縁樹脂板48は、その中央部に開口部47aおよびその周辺を露出させるようにして開口部48aが形成されており、開口部48a内には配線導体層50の一端部が露出しており、この露出した一端部にボンディングワイヤ58が接続される。
絶縁樹脂板48の上面には開口部48a周辺から外周部にかけて半導体素子40の各電極がボンディングワイヤ58を介して電気的に接続される複数の配線導体を有する銅箔から成る配線導体層51が開口部48aから0.2mm程度離間して被着されており、その下面には半導体素子40に接地電位または電源電位を供給するための銅箔から成る接地導体層または電源導体層54が被着されている。なお、この絶縁樹脂板48においては、上面に被着された配線導体層51と下面に被着された接地または電源導体層54とは開口部48a側面を介して接続されておらず、したがって開口部48a側面には金属めっき層は被着されていない。
絶縁樹脂板48の上面に積層された絶縁樹脂板49は、その中央部に開口部48aおよびその周辺を露出させるようにして開口部49aが形成されており、開口部49a内には配線導体層51の一端部が露出しており、この露出した一端部にボンディングワイヤ58が接続されている。
絶縁樹脂板49の上面には外部電気回路基板に半田ボール61を介して電気的に接続される外部接続用の接続パッドを有する銅箔から成る配線導体層52が被着されており、その下面には半導体素子40に接地電位または電源電位を供給するための銅箔から成る接地導体層または電源導体層55が被着されている。さらに、絶縁樹脂板49の上面にはエポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂等の熱硬化性樹脂および酸化珪素やタルク等の絶縁フィラーから成るソルダーレジスト層62が被着されており、それにより配線導体層52の電気的な絶縁が良好に保たれるとともに配線導体層52の絶縁樹脂板49への被着が強固なものとなっている。
スルーホール56の内面から配線導体層52の表面にかけては貫通導体57を形成する金属めっき層が被着されており、貫通導体57を介して所定の配線導体層50、51、52や接地導体層または電源導体層53、54、55の間が電気的に接続されている。なお、スルーホール56内は、エポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂から成る孔埋め樹脂63が充填されている。
そして、この従来の半導体素子収納用パッケージによれば、放熱板41の搭載部41aに半導体素子40を搭載するとともにこの半導体素子40の各電極を配線導体層50、51にボンディングワイヤ58を介して電気的に接続し、しかる後、外部接続用の接続パッドに半田ボール61を接合するとともに開口部43a内へ図示しない封止用樹脂をポッティングして半導体素子40を気密に封止することにより製品としての半導体装置となる。
特開平11−150372号公報
ところが近時、半導体素子収納用パッケージは、その薄型化が要求されており、そのため配線基板を構成する各絶縁樹脂板の厚みも0.2mm以下の薄いものとなってきている。このように各絶縁樹脂板の厚みが0.2mm以下の薄いものとなると、それらのうち、各絶縁樹脂板の積層一体化に先立ち半導体素子収納用の開口部が予め設けられており且つ開口部の側面に金属めっき層が被着されてない絶縁樹脂板の場合、各絶縁樹脂板を取り扱う際に発生する撓みや積層一体化する際に加えられる圧力により機械的な応力が加えられると、その応力により開口部の角部を起点として絶縁樹脂板にクラックが発生し易くなる。このようなクラックはその絶縁樹脂板上に設けた配線導体層に断線をもたらす危険があるとともにパッケージ内への水分等の滲入を許し、パッケージ内部に収容する半導体素子を長期間にわたり安定して作動させることが困難となる。
本発明は、かかる従来の問題点に鑑み案出されたものであり、その目的は、パッケージを構成する絶縁樹脂板の厚みが薄いものであったとしても、絶縁樹脂板に開口部の角部を起点としたクラックが発生することがなく、内部に収容する半導体素子を長期間にわたり安定して作動させることが可能な半導体素子収納用パッケージを提供することにある。
本発明の半導体素子収納用パッケージは、中央部に半導体素子を収容するための四角形の開口部を有する絶縁樹脂板と、該絶縁樹脂板の上面に前記開口部から離間して被着されており、前記半導体素子の電極がボンディングワイヤを介して電気的に接続される配線導体層とを具備して成る半導体素子収納用パッケージにおいて、前記絶縁樹脂板は、前記開口部の各角部側面に金属めっき層から成るダミーの導体層が被着されていることを特徴とするものである。
本発明の半導体素子収納用パッケージは、上面に半導体素子の電極がボンディングワイヤを介して電気的に接続される配線導体層が半導体素子を収容するための四角形の開口部から離間して被着された絶縁樹脂板を具備する半導体素子収納用パッケージにおいて、前記絶縁樹脂板の開口部の各角部側面に金属めっき層からなるダミーの導体層を被着させたので、前記絶縁樹脂板に機械的な応力が加えられても、前記ダミーの導体層が障壁となり、前記絶縁樹脂板にクラックが発生することが有効に防止される。したがって、内部に収容する半導体素子を長期間にわたり安定して作動させることが可能な半導体素子収納用パッケージを提供することができる。
次に、本発明の半導体素子収納用パッケージを添付の図面に基づいて説明する。図1は、本発明の半導体素子収納用パッケージを実施するための最良の形態例を示す断面図である。図中、1は放熱板、2は配線基板であり、主としてこれらで半導体素子3を収容するための本発明の半導体素子収納用パッケージが構成されている。また、図2は図1に示す半導体素子収納用パッケージの上面図である。
放熱板1は、銅等の熱伝導性に優れる金属から成る四角平板状であり、半導体素子3を支持するための支持体として機能するとともに半導体素子3が作動時に発生する熱を外部に良好に放熱するための放熱部材として機能し、その上面中央部に半導体素子3を搭載するための搭載部1aを有している。そして、その搭載部1aに半導体素子3がエポキシ樹脂等の接着剤4を介して接着固定される。
このような放熱板1は、例えば銅から成る板材を打ち抜き金型により所定の形状に打ち抜くことによって形成される。あるいは、銅から成る板材にエッチング加工を施すことにより形成される。なお、放熱板1の表面にニッケルや金等の耐食性の良好な金属をめっき法により1〜20μmの厚みに被着させておくと、放熱板1の酸化腐食を有効に防止することができる。さらに、放熱板1と配線基板2との接合力向上のために、放熱板1の表面に黒化処理やブラスト処理を施し、その表面に中心線平均粗さRaが0.2〜3μm程度となるように微小な凹凸を形成してもよい。
放熱板1の上面には、接着層5を介して配線基板2が接合されている。放熱板1と配線基板2とを接合する接着層5は、例えばガラスクロスにエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を含浸させて成る。このような接着層5を介した放熱板1と配線基板2との接合は、未硬化の接着層5を放熱板1と配線基板2との間に挟んで上下から加圧しながら加熱して接着層5を熱硬化させることにより行なわれる。
配線基板2は、その中央部に半導体素子3を収容するための四角形の開口部2aを有する四角枠状であり、放熱板1の搭載部1aを露出させるようにして放熱板1の上面に接合されている。
この配線基板2は、放熱板1の上面に接着層5を介して接合された第1の絶縁樹脂板6と、この絶縁樹脂板6の上面に接着層7を介して積層された第2の絶縁樹脂板8と、この絶縁樹脂板8の上面に接着層9を介して積層された第3の絶縁樹脂板10とを備えており、各絶縁樹脂板6、8、10の中央部には半導体素子を収容するための開口部6a,8a,10aがそれぞれ設けられている。これらの各絶縁樹脂板6、8、10および接着層7、9は、いずれもガラス繊維やアラミド繊維のクロスにエポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂等の熱硬化性樹脂を含浸させて成り、硬化済の絶縁樹脂板6、8、10と未硬化の接着層7、9とを所定の順に重ねるとともにそれを上下から加圧しながら加熱して接着層7,9を熱硬化させることにより積層一体化される。なお、開口部6a,8aはこの積層一体化に先立ち予め設けられ、他方、開口部10aは積層一体化の後に設けられる。これらの開口部6a,8a,10aは、いずれもルータを使用して形成される。
また、各絶縁樹脂板6、8、10の上面には銅箔から成る第1の配線導体層11、第2の配線導体層12、第3の配線導体層13がそれぞれ被着されており、各絶縁樹脂板6、8、10の下面には同じく銅箔から成る第1の接地導体層または電源導体層14、第2の接地導体層または電源導体層15、第3の接地導体層または電源導体層16が被着されている。さらに、配線基板2の外周部の上面から下面にかけては複数のスルーホール17が形成されており、このスルーホール17の内面には銅めっきからなる貫通導体18が被着されている。
放熱板1の上面に接合された第1の絶縁樹脂板6は、その中央部に放熱板1の搭載部1aを露出させるようにして第1の開口部6aが形成されている。また、その上面の第1の開口部6a周辺から外周部にかけては半導体素子3の各電極がボンディングワイヤ19を介して電気的に接続される複数の配線導体を有する銅箔から成る第1の配線導体層11が被着されている。また、その下面の第1の開口部6a周辺から外周部にかけては半導体素子3に接地電位または電源電位を供給するための銅箔から成る第1の接地導体層または電源導体層14が被着されており、さらに第1の配線導体層11の表面から第1の開口部6aの側面を介して第1の接地導体層または電源導体層14の表面にかけては、第1の配線導体層11の一部と第1の接地導体層または電源導体層14とを電気的に接続する無電解銅めっきおよび電解銅めっきを順次形成して成る複数の金属めっき層20が被着されている。またさらに第1の絶縁樹脂板6の下面には、エポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂等の熱硬化性樹脂および酸化珪素やタルク等の絶縁フィラーから成る保護樹脂層21が第1の導体層または電源導体層14を覆うようにして被着されており、それにより第1の接地導体層または電源導体層14の電気的な絶縁が良好に保たれるとともに配線基板2と接着層5との接合が強固なものとなっている。
第2の絶縁樹脂板8は、その中央部に第1の開口部6aおよびその周辺を第1の開口部6aの縁から0.5〜2mm程度の幅で露出させるようにして第2の開口部8aが形成されており、第2の開口部8a内にはボンディングワイヤ19が接続される第1の配線導体層11の一端部が露出している。この第2の絶縁樹脂板8の上面には第2の開口部8aの周辺から外周部にかけて半導体素子3の各電極がボンディングワイヤ19を介して電気的に接続される複数の配線導体を有する銅箔から成る第2の配線導体層12が開口部8aから0.2mm程度離間して被着されており、その下面には半導体素子3に接地電位または電源電位を供給するための銅箔から成る第2の接地導体層または電源導体層15が被着されている。
さらに第2の開口部8aの側面には無電解銅めっきおよび電解銅めっきを順次施した金属めっき層から成るダミーの導体層22が被着されている。ダミーの導体層22は、第2の開口部8aの少なくとも各角部側面を覆っており、電気的な接続導体としての機能はなく、第2の絶縁樹脂板8に第2の開口部8aの角部を起点としたクラックが発生するのを防止するための障壁として機能する。このように第2の開口部8aの角部側面に金属めっき層から成るダミーの導体層22が被着されていることから、第2の絶縁樹脂板8を取り扱う際に発生する撓みや絶縁樹脂板6、8、10を積層一体化する際に加えられる圧力により第2の絶縁樹脂板8に機械的な応力が加えられても、ダミーの導体層22が障壁となるので前記絶縁樹脂板にクラックが発生することが有効に防止される。したがって、内部に収容する半導体素子を長期間にわたり安定して作動させることが可能な半導体素子収納用パッケージを提供することができる。ダミーの導体層22は、その厚みが5μm未満であるとクラック防止の障壁として十分に機能しない危険性が大きくなり、50μmを超えると不要に厚くなり生産性が低下する。したがって、ダミーの導体層22の厚みは5〜50μmの範囲が好ましい。
なお、第1の絶縁樹脂板6においては、金属めっき層20がクラック発生の障壁として機能するので、第2の絶縁樹脂板8の場合と同様にクラックが発生することが有効に防止される。また、第3の絶縁樹脂板10においては、絶縁樹脂板6、8、10が接着層7、9を介して積層一体化され後に第3の開口部10aが形成されるので、第3の絶縁樹脂板10の取扱いによる撓みや積層時の圧力等により応力が加えられても第3の開口部10aの角部を起点としたクラックが発生することはない。
第3の絶縁樹脂板10は、その中央部に第2の開口部8aおよびその周辺を第2の開口部8aの縁から0.5〜5mm程度の幅で露出させるようにして第3の開口部10aが形成されており、第3の開口部10a内にはボンディングワイヤ19が接続される第2の配線導体層12の一端部が露出している。第3の絶縁樹脂板10の上面には外部電気回路基板に半田ボール23を介して電気的に接続される外部用の接続パッドを有する銅箔から成る第3の配線導体層13が被着されており、第3の絶縁樹脂板10の下面には半導体素子3に接地電位または電源電位を供給するための銅箔から成る第3の接地導体層または電源導体層16が被着されている。さらに、絶縁樹脂板10の上面にはエポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂等の熱硬化性樹脂および酸化珪素やタルク等の絶縁フィラーから成るソルダーレジスト層24が被着されており、それにより第3の配線導体層13の電気的な絶縁が良好に保たれるとともに第3の配線導体層13と第3の絶縁樹脂板10との被着が強固なものとなっている。
スルーホール17の内面に被着された貫通導体18は、無電解銅めっきおよび電解銅めっきを順次形成して成り、スルーホール17内で所定の配線導体層11、12、13や接地導体層または電源導体層14、15、16に接続されることにより、所定の配線導体層11、12、13や接地導体層または電源導体層14、15、16が貫通導体18を介して互いに電気的に接続される。なお、この例では貫通導体18を形成する銅めっきの一部が第3の配線導体層13の表面まで被着された例を示している。さらに、スルーホール17内は、エポキシ樹脂やビスマレイミドトリアジン樹脂から成る孔埋め樹脂25が充填されており、それによりスルーホール17内の絶縁信頼性が高いものとなっているとともに配線基板の上下面が平坦なものとなっている。
そして、この例で示した本発明の半導体素子収納用パッケージによれば、第1の配線導体層11および第2の配線導体層12の露出する表面に図示しないニッケルめっき層および金めっき層を順次被着させた後、放熱板1の搭載部1aに半導体素子3を搭載するとともにその半導体素子3の各電極を第1の配線導体層11および第2の配線導体12にボンディングワイヤ19を介して電気的に接続し、しかる後、第3の配線導体層13に形成された外部接続用の接続パッドに半田ボール23を接合するとともに開口部2a内へ図示しない封止用樹脂をポッティングして半導体素子3を気密に封止することにより製品としての半導体装置となる。
なお、本発明は上述の形態例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲であれば種々の変更が可能であることはいうまでもない。
なお、本発明は上述の形態例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲であれば種々の変更が可能であることはいうまでもない。
1:配線基板
2:放熱板
3:半導体素子
6,8,19:絶縁樹脂板
6a,8a,10a:半導体素子を収容するための開口部
11,12,13:の配線導体層
19:ボンディングワイヤ
22:ダミーの導体層
2:放熱板
3:半導体素子
6,8,19:絶縁樹脂板
6a,8a,10a:半導体素子を収容するための開口部
11,12,13:の配線導体層
19:ボンディングワイヤ
22:ダミーの導体層
Claims (1)
- 中央部に半導体素子を収容するための四角形の開口部を有する絶縁樹脂板と、該絶縁樹脂板の上面に前記開口部から離間して被着されており、前記半導体素子の電極がボンディングワイヤを介して電気的に接続される配線導体層とを具備して成る半導体素子収納用パッケージにおいて、前記絶縁樹脂板は、前記開口部の各角部側面に金属めっき層から成るダミーの導体層が被着されていることを特徴とする半導体素子収納用パッケージ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007091873A JP2008251868A (ja) | 2007-03-30 | 2007-03-30 | 半導体素子収納用パッケージ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007091873A JP2008251868A (ja) | 2007-03-30 | 2007-03-30 | 半導体素子収納用パッケージ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008251868A true JP2008251868A (ja) | 2008-10-16 |
Family
ID=39976460
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007091873A Pending JP2008251868A (ja) | 2007-03-30 | 2007-03-30 | 半導体素子収納用パッケージ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008251868A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012238687A (ja) * | 2011-05-11 | 2012-12-06 | Sony Corp | 半導体パッケージ、半導体装置の製造方法、および固体撮像装置 |
WO2023135929A1 (ja) * | 2022-01-11 | 2023-07-20 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | パッケージ |
-
2007
- 2007-03-30 JP JP2007091873A patent/JP2008251868A/ja active Pending
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