JP2008218496A - Sealing resin film - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sealing resin film by which an electronic device (e.g. semiconductor element or the like) can be simultaneously mounted and sealed at low pressure, and to provide a method of manufacturing a module using the sealing resin film (e.g. semiconductor device or the like) as well as a module precursor. <P>SOLUTION: The sealing resin film is used to seal an electronic part that is mounted to a substrate wherein a wiring pattern is formed. It is made of resin composition with minimum viscosity of 1-10<SP>7</SP>Pa s at 60-230°C. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、配線パターンが形成された基板上に搭載された電子部品を封止するための封止用樹脂フィルムに関する。   The present invention relates to a sealing resin film for sealing an electronic component mounted on a substrate on which a wiring pattern is formed.

配線パターンが設けられた基板上に半導体素子等の電子部品が複数搭載された半導体装置においては、一般的に金属キャップを設ける形態が主流だったが、近年、パッケージの薄型化やコストダウンのために樹脂封止にてパッケージングされるものが増加してきている(例えば、特許文献1および2参照。)。   In a semiconductor device in which a plurality of electronic components such as semiconductor elements are mounted on a substrate on which a wiring pattern is provided, a form in which a metal cap is generally provided has been the mainstream. The number of products packaged by resin sealing is increasing (for example, see Patent Documents 1 and 2).

具体的には、特許文献1には、「金型の片方に一括封止型半導体の基板を、他の一方に半固形状のエポキシ樹脂組成物を配置し圧縮成形法にて加熱硬化させることを特徴とする半導体装置の樹脂封止方法。」が記載されている。   Specifically, Patent Document 1 states that “a batch-encapsulated semiconductor substrate is placed on one side of a mold and a semi-solid epoxy resin composition is placed on the other side and heat-cured by a compression molding method. The resin sealing method of a semiconductor device characterized by the above. "

また、特許文献1と同一出願人により提案された特許文献2には、「フィルムのうえに品質特性の異なる複数種のエポキシ樹脂系組成物を並列又は及び積層したシート状接着体。」が記載されている。   Patent Document 2 proposed by the same applicant as Patent Document 1 describes “a sheet-like adhesive body in which a plurality of types of epoxy resin compositions having different quality characteristics are aligned or laminated on a film”. Has been.

特開2004−56141号公報JP 2004-56141 A 特開2006−117919号公報JP 2006-117919 A

しかしながら、特許文献1および2に記載の樹脂封止方法およびシート状接着体であっても、封止する前に、ハンダ等を用いて半導体素子を基板上に実装しておく必要があり、半導体素子の実装と封止を一括で行うには至っておらず、生産効率が低い問題があることが明らかとなった。
また、特許文献1および2に記載の樹脂封止方法およびシート状接着体を用いると、圧縮形成に要する圧力が高くなり、薄型の電子部品や高周波電子部品に十分に対応できない場合があることが明らかとなった。
However, even in the resin sealing method and the sheet-like adhesive body described in Patent Documents 1 and 2, it is necessary to mount a semiconductor element on a substrate using solder or the like before sealing. It has become clear that there has been a problem of low production efficiency because the mounting and sealing of elements have not been performed at once.
In addition, when the resin sealing method and the sheet-like adhesive body described in Patent Documents 1 and 2 are used, the pressure required for compression formation increases, and it may not be possible to sufficiently handle thin electronic components and high-frequency electronic components. It became clear.

そこで、本発明は、電子部品(例えば、半導体素子等)の実装と封止を一括かつ低圧で行うことを可能とする封止用樹脂フィルムならびに該封止用樹脂フィルムを用いたモジュール(例えば、半導体装置等)およびモジュール前駆体の製造方法を提供することを課題とする。   Accordingly, the present invention provides a sealing resin film that enables mounting and sealing of electronic components (for example, semiconductor elements and the like) collectively and at a low pressure, and a module using the sealing resin film (for example, It is an object to provide a method for manufacturing a semiconductor device and the like and a module precursor.

本発明者は、上記課題について鋭意検討した結果、60〜230℃での最低粘度が1〜107Pa・sとなる樹脂組成物を封止用のフィルムとして用いることにより、電子部品の実装と封止が一括かつ低圧で可能になることを見出し、本発明を完成させた。
即ち、本発明は、以下の(1)〜(19)を提供する。
As a result of earnestly examining the above problems, the inventor of the present invention uses a resin composition having a minimum viscosity of 1 to 10 7 Pa · s at 60 to 230 ° C. as a film for sealing. The inventors have found that sealing can be performed all at a low pressure, and the present invention has been completed.
That is, the present invention provides the following (1) to (19).

(1)配線パターンが形成された基板上に実装される電子部品を封止するための封止用樹脂フィルムであって、
60〜230℃での最低粘度が1〜107Pa・sとなる樹脂組成物からなる封止用樹脂フィルム。
(1) A sealing resin film for sealing an electronic component mounted on a substrate on which a wiring pattern is formed,
A sealing resin film comprising a resin composition having a minimum viscosity of 1 to 10 7 Pa · s at 60 to 230 ° C.

(2)上記樹脂組成物が、
(A)下記式(1)で示されるビニル化合物、ならびに、
(B)ゴムおよび/または熱可塑性エラストマー
を含有する熱硬化性樹脂組成物からなる上記(1)に記載の封止用樹脂フィルム。
(2) The resin composition is
(A) a vinyl compound represented by the following formula (1), and
(B) The sealing resin film according to (1) above, comprising a thermosetting resin composition containing rubber and / or thermoplastic elastomer.

Figure 2008218496
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式(1)中、R1、R2、R3、R4、R5、R6およびR7は、それぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、アルキル基、ハロゲン化アルキル基またはフェニル基を表し、複数のR1、R2、R3、R4、R5、R6およびR7は、同一であっても異なっていてもよい。
また、−(O−X−O)−は下記式(2)で表される構造であり、−(Y−O)−は下記式(3)で表される繰返し単位であり、Zは酸素原子、窒素原子、硫黄原子、ハロゲン原子を含んでいてもよい炭素数1以上の有機基を表す。
また、aおよびbは、少なくとも一方が0でない0〜300の整数を表し、cおよびdは、それぞれ独立に0または1の整数を表す。
In formula (1), R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 6 and R 7 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group, a halogenated alkyl group or a phenyl group, A plurality of R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 6 and R 7 may be the same or different.
-(O-X-O)-is a structure represented by the following formula (2),-(YO)-is a repeating unit represented by the following formula (3), and Z is oxygen. An organic group having 1 or more carbon atoms, which may contain an atom, nitrogen atom, sulfur atom, or halogen atom.
Moreover, a and b represent the integer of 0-300 in which at least one is not 0, and c and d represent the integer of 0 or 1 each independently.

Figure 2008218496
Figure 2008218496

式(2)中、R8、R9、R10、R14およびR15は、それぞれ独立にハロゲン原子、炭素数6以下のアルキル基またはフェニル基を表し、R11、R12およびR13は、それぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、炭素数6以下のアルキル基またはフェニル基を表す。
また、式(3)中、R16およびR17は、それぞれ独立にハロゲン原子、炭素数6以下のアルキル基またはフェニル基を表し、R18およびR19は、それぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、炭素数6以下のアルキル基またはフェニル基を表す。
In the formula (2), R 8 , R 9 , R 10 , R 14 and R 15 each independently represent a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group, and R 11 , R 12 and R 13 are Each independently represents a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms, or a phenyl group.
In the formula (3), R 16 and R 17 each independently represent a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group, and R 18 and R 19 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, An alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group is represented.

(3)上記−(O−X−O)−が、下記式(4)で表される構造であり、
上記−(Y−O)−が、下記式(5)または(6)で表される繰返し単位である上記(2)に記載の封止用樹脂フィルム。
(3)-(O-XO)-is a structure represented by the following formula (4),
The sealing resin film according to (2), wherein-(YO)-is a repeating unit represented by the following formula (5) or (6).

Figure 2008218496
Figure 2008218496

(4)上記−(Y−O)−が、上記式(6)で表される繰返し単位である、上記(3)に記載の封止用樹脂フィルム。
(5)上記(B)成分が、スチレン系熱可塑性エラストマーである、上記(2)〜(4)のいずれかに記載の封止用樹脂フィルム。
(6)上記(A)成分と上記(B)成分との質量割合((A):(B))が、40:60〜60:40である、上記(2)〜(5)のいずれかに記載の封止用樹脂フィルム。
(4) The sealing resin film according to (3), wherein-(YO)-is a repeating unit represented by the formula (6).
(5) The sealing resin film according to any one of (2) to (4), wherein the component (B) is a styrene thermoplastic elastomer.
(6) Any of (2) to (5) above, wherein a mass ratio ((A) :( B)) of the component (A) and the component (B) is 40:60 to 60:40. The resin film for sealing as described in 2.

(7)上記樹脂組成物が、
(C)フェノール骨格とビフェニル骨格を有するノボラック型エポキシ樹脂、および/または、重量平均分子量が10,000〜200,000であって水酸基を有する2官能型直鎖状エポキシ樹脂、ならびに、
(D)フェノール性水酸基の少なくとも一部を脂肪酸でエステル化した変性フェノールノボラック
を含有するエポキシ樹脂組成物からなる上記(1)に記載の封止用樹脂フィルム。
(7) The resin composition is
(C) a novolak-type epoxy resin having a phenol skeleton and a biphenyl skeleton, and / or a bifunctional linear epoxy resin having a weight average molecular weight of 10,000 to 200,000 and having a hydroxyl group, and
(D) The sealing resin film according to the above (1), comprising an epoxy resin composition containing a modified phenol novolac obtained by esterifying at least a part of a phenolic hydroxyl group with a fatty acid.

(8)上記(D)成分の含有量が、上記(C)成分100質量部に対して30〜200質量部である、上記(7)に記載の封止用樹脂フィルム。   (8) The sealing resin film according to (7), wherein the content of the component (D) is 30 to 200 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the component (C).

(9)上記(C)成分のノボラック型エポキシ樹脂が、下記式(7)で表されるエポキシ樹脂である、上記(7)または(8)に記載の封止用樹脂フィルム。   (9) The resin film for sealing according to the above (7) or (8), wherein the novolac type epoxy resin as the component (C) is an epoxy resin represented by the following formula (7).

Figure 2008218496

(式(7)中、nは1〜10の数(平均値)を表す。)
Figure 2008218496

(In formula (7), n represents a number (average value) of 1 to 10)

(10)上記(C)成分の2官能型直鎖状エポキシ樹脂が、下記式(8)で表されるエポキシ樹脂である、上記(7)〜(9)のいずれかに記載の封止用樹脂フィルム。   (10) For sealing according to any one of (7) to (9), wherein the bifunctional linear epoxy resin of component (C) is an epoxy resin represented by the following formula (8): Resin film.

Figure 2008218496
Figure 2008218496

式(8)中、Qは、単結合、炭素数1〜7の炭化水素基、−O−、−S−、−SO2−、−CO−または下記式で表される基を表し、複数のQは、同一であっても異なっていてもよい。R21は、炭素数1〜10の炭化水素基またはハロゲン原子を表し、複数のR21は、同一であっても異なっていてもよい。eは、0〜4の整数を表し、複数のeは、同一であっても異なっていてもよい。nは、25〜500の数(平均値)を表す。 In formula (8), Q represents a single bond, a hydrocarbon group having 1 to 7 carbon atoms, —O—, —S—, —SO 2 —, —CO— or a group represented by the following formula, Q may be the same or different. R 21 represents a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms or a halogen atom, and a plurality of R 21 may be the same or different. e represents an integer of 0 to 4, and a plurality of e may be the same or different. n represents the number (average value) of 25-500.

Figure 2008218496
Figure 2008218496

式中、R22は、炭素数1〜10の炭化水素基またはハロゲン原子を表し、複数のR22は、同一であっても異なっていてもよい。R23は、水素原子、炭素数1〜10の炭化水素基またはハロゲン原子を表し、fは、0〜5の整数を表す。 In the formula, R 22 represents a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms or a halogen atom, and a plurality of R 22 may be the same or different. R 23 represents a hydrogen atom, a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, or a halogen atom, and f represents an integer of 0 to 5.

(11)上記(D)成分が、下記式(9)で表される変性フェノールノボラックである、上記(7)〜(10)のいずれかに記載の封止用樹脂フィルム。   (11) The sealing resin film according to any one of (7) to (10), wherein the component (D) is a modified phenol novolak represented by the following formula (9).

Figure 2008218496
Figure 2008218496

式(9)中、R24は、炭素数1〜5のアルキル基を表し、複数のR24は、同一であっても異なっていてもよい。R25は、炭素数1〜5のアルキル基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいアラルキル基、アルコキシ基またはハロゲン原子を表し、複数のR25は、同一であっても異なっていてもよい。R26は、炭素数1〜5のアルキル基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいアラルキル基、アルコキシ基またはハロゲン原子を表し、複数のR26は、同一であっても異なっていてもよい。gは、0〜3の整数を表し、複数のgは、同一であっても異なっていてもよい。hは、0〜3の整数を表し、複数のhは、同一であっても異なっていてもよい。n:mは、1:1〜1.2:1である。 In formula (9), R 24 represents an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and a plurality of R 24 may be the same or different. R 25 represents an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a phenyl group which may have a substituent, an aralkyl group which may have a substituent, an alkoxy group or a halogen atom, and a plurality of R 25 s , May be the same or different. R 26 is an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, which may have a substituent phenyl group which may have a substituent aralkyl group, an alkoxy group or a halogen atom, a plurality of R 26 is , May be the same or different. g represents an integer of 0 to 3, and a plurality of g may be the same or different. h represents an integer of 0 to 3, and a plurality of h may be the same or different. n: m is 1: 1 to 1.2: 1.

(12)上記(D)成分が、上記式(9)中のR24がメチル基である、上記(11)に記載の封止用樹脂フィルム。
(13)上記エポキシ樹脂組成物が、更に(E)イソシアナート化合物を含有する、上記(7)〜(12)のいずれかに記載の封止用樹脂フィルム。
(14)上記エポキシ樹脂組成物が、更に(F)無機フィラーを含有する、上記(7)〜(13)のいずれかに記載の封止用樹脂フィルム。
(15)上記(F)成分の無機フィラーが、平均粒径5μm以下のものである、上記(14)に記載の封止用樹脂フィルム。
(12) The sealing resin film according to (11), wherein the component (D) is such that R 24 in the formula (9) is a methyl group.
(13) The sealing resin film according to any one of (7) to (12), wherein the epoxy resin composition further contains (E) an isocyanate compound.
(14) The sealing resin film according to any one of (7) to (13), wherein the epoxy resin composition further contains (F) an inorganic filler.
(15) The sealing resin film according to (14), wherein the inorganic filler of the component (F) has an average particle size of 5 μm or less.

(16)電子部品を封止してモジュールを得るモジュールの製造方法であって、少なくとも、
配線パターンが形成された基板上に電子部品を設置し、該電子部品を該基板上に固定する部品固定工程と、
上記部品固定工程後に、上記基板および上記電子部品の上に上記(1)〜(15)のいずれかに記載の封止用樹脂フィルムを設置するフィルム設置工程と、
上記フィルム設置工程後に、上記封止用樹脂フィルム上に基材を設置し、60〜300℃で加熱しながら、1MPa以下の圧力で、該基材と上記基板とをプレスする低圧加熱プレス工程と、を具備するモジュールの製造方法。
(16) A module manufacturing method for obtaining a module by sealing an electronic component, comprising at least:
A component fixing step of installing an electronic component on a substrate on which a wiring pattern is formed and fixing the electronic component on the substrate;
A film installation step of installing the sealing resin film according to any one of (1) to (15) on the substrate and the electronic component after the component fixing step;
After the film installation step, a low-pressure heating press step of setting the base material on the sealing resin film and pressing the base material and the substrate at a pressure of 1 MPa or less while heating at 60 to 300 ° C. The manufacturing method of the module which comprises these.

(17)上記(16)に記載のモジュールの製造方法により得られるモジュール。   (17) A module obtained by the method for producing a module according to (16).

(18)電子部品を封止してモジュール前駆体を得るモジュール前駆体の製造方法であって、少なくとも、
第1基材上に上記(1)〜(15)のいずれかに記載の封止用樹脂フィルムを設置する第1フィルム設置工程と、
上記第1フィルム設置工程後に、上記封止用樹脂フィルム上に電子部品を設置し、該封止用樹脂フィルムにより該電子部品を上記第1基材上に固定する部品固定工程と、
上記部品固定工程後に、上記封止用樹脂フィルムおよび上記電子部品の上に上記(1)〜(15)のいずれかに記載の封止用樹脂フィルムを設置する第2フィルム設置工程と、
上記第2フィルム設置工程により設置された上記封止用樹脂フィルム上に第2基材を設置し、60〜230℃で加熱しながら、1MPa以下の圧力で、該第2基材と上記第1基材とをプレスする低圧加熱プレス工程と、を具備するモジュール前駆体の製造方法。
(18) A method for producing a module precursor that encapsulates an electronic component to obtain a module precursor, at least,
A first film installation step of installing the sealing resin film according to any one of (1) to (15) on the first substrate;
After the first film installation step, an electronic component is installed on the sealing resin film, and the electronic component is fixed on the first base material by the sealing resin film;
A second film installation step of installing the sealing resin film according to any one of (1) to (15) on the sealing resin film and the electronic component after the component fixing step;
A second base material is placed on the sealing resin film placed by the second film placement step, and heated at 60 to 230 ° C., and at a pressure of 1 MPa or less, the second base material and the first film A method for producing a module precursor, comprising: a low-pressure heating press step for pressing a substrate.

(19)上記(18)に記載のモジュール前駆体の製造方法により得られるモジュール前駆体。   (19) A module precursor obtained by the method for producing a module precursor described in (18) above.

以下に示すように、本発明によれば、基板への電子部品(例えば、半導体素子等)の実装と電子部品の封止を一括かつ低圧で可能とする封止用樹脂フィルムならびに該封止用樹脂フィルムを用いたモジュール(例えば、半導体装置等)およびモジュール前駆体の製造方法を提供することができる。
また、本発明の封止用樹脂フィルムを用いれば、基板上の電子部品の実装と封止が一括かつ低圧で可能となるため、モジュールの生産効率が飛躍的に向上し、薄型電子部品や高周波電子部品の封止にも対応できる。
更に、本発明のモジュール前駆体の製造方法は、機能や種類、厚みや形状の異なる多数の電子部品を含んだ多機能のモジュール前駆体を容易に製造することができるため非常に有用である。
更にまた、本発明のモジュール前駆体は、多様な用途の基板への実装に適用でき、また基板への実装時に接続と封止が同時に形成することができるため非常に有用である。
As described below, according to the present invention, a resin film for sealing that enables mounting of electronic components (for example, semiconductor elements) on a substrate and sealing of the electronic components collectively and at a low pressure, and the sealing A module (for example, a semiconductor device) using a resin film and a method for producing a module precursor can be provided.
In addition, if the sealing resin film of the present invention is used, mounting and sealing of electronic components on a substrate can be performed collectively and at a low pressure, so that module production efficiency is dramatically improved, and thin electronic components and high-frequency components are improved. Can also be used to seal electronic components.
Furthermore, the method for producing a module precursor according to the present invention is very useful because a multifunctional module precursor including a large number of electronic components having different functions, types, thicknesses and shapes can be easily produced.
Furthermore, the module precursor of the present invention is very useful because it can be applied to mounting on a substrate for various uses, and at the same time, connection and sealing can be formed at the time of mounting on the substrate.

本発明の第1の態様に係る封止用樹脂フィルム(以下、「本発明の封止用樹脂フィルム」ともいう。)は、配線パターンが形成された基板上に実装される電子部品を封止するための封止用樹脂フィルムであって、60〜230℃での最低粘度が1〜107Pa・sとなる樹脂組成物からなるフィルムである。
本発明においては、「60〜230℃での最低粘度」とは、昇温速度5℃/min、周波数1Hzの条件で、粘度計(VAR−100、REOLOGICA社製)を用いて60〜230℃の範囲で測定することができる粘度の最低値のことをいう。
The sealing resin film according to the first aspect of the present invention (hereinafter also referred to as “the sealing resin film of the present invention”) seals an electronic component mounted on a substrate on which a wiring pattern is formed. It is the resin film for sealing for, Comprising: It is a film which consists of a resin composition in which the minimum viscosity in 60-230 degreeC becomes 1-10 < 7 > Pa * s.
In the present invention, the “minimum viscosity at 60 to 230 ° C.” refers to a temperature increase rate of 5 ° C./min and a frequency of 1 Hz using a viscometer (VAR-100, manufactured by REOLOGICA) at 60 to 230 ° C. It means the minimum value of viscosity that can be measured in the range.

このような粘度物性を有する樹脂組成物を封止用樹脂フィルムに用いることにより、電子部品の実装と封止を一括かつ低圧で行うことが可能となる。これは、後述する本発明の第2の態様に係るモジュールの製造方法に示すように60〜300℃で電子部品を封止することにより、得られる本発明の封止用樹脂フィルムの電子部品間への埋め込み性が良好となり、かつ、樹脂流れ(圧着時の横方向へのはみ出し)も起きず、また、電子部品のバンプ(突起電極)と基板電極とが接触するように基板上に位置決めした電子部品がずれず、更に、厚みの設計精度も良好となるためであると考えられる。
また、このような粘度物性を有する樹脂組成物を封止用樹脂フィルムに用いることにより、薄型の電子部品や高周波電子部品であっても破損もなく、実装と封止を一括に行うことができる。
By using the resin composition having such viscosity properties for the sealing resin film, it is possible to perform mounting and sealing of electronic components all at a low pressure. This is between the electronic components of the sealing resin film of the present invention obtained by sealing the electronic components at 60 to 300 ° C. as shown in the method for producing a module according to the second aspect of the present invention described later. Positioning on the substrate was such that the embedding into the substrate was good and the resin flow (protruding laterally during crimping) did not occur, and the bump (projection electrode) of the electronic component and the substrate electrode were in contact with each other This is probably because the electronic components are not displaced and the thickness design accuracy is also improved.
In addition, by using a resin composition having such viscosity physical properties for a sealing resin film, even a thin electronic component or a high-frequency electronic component is not damaged and can be mounted and sealed at once. .

また、電子部品の実装と封止を一括かつ低圧でより容易に行える観点から、60〜230℃での最低粘度が1〜105Pa・sとなる樹脂組成物を用いるのが好ましく、1〜104Pa・sとなる樹脂組成物を用いるのがより好ましい。 In addition, from the viewpoint of easier mounting and sealing of electronic components at a low pressure, it is preferable to use a resin composition having a minimum viscosity of 1 to 10 5 Pa · s at 60 to 230 ° C. It is more preferable to use a resin composition that provides 10 4 Pa · s.

本発明においては、上記樹脂組成物が、(A)上記式(1)で示されるビニル化合物、ならびに、(B)ゴムおよび/または熱可塑性エラストマー、を含有する熱硬化性樹脂組成物からなるのが好ましい。
次に、各成分について詳述する。
In the present invention, the resin composition comprises a thermosetting resin composition containing (A) a vinyl compound represented by the above formula (1) and (B) rubber and / or a thermoplastic elastomer. Is preferred.
Next, each component will be described in detail.

<(A)成分:ビニル化合物>
上記(A)成分のビニル化合物は、下記式(1)で示されるものであり、特開2004−59644号公報に記載されたものと同様である。
<(A) component: vinyl compound>
The vinyl compound as the component (A) is represented by the following formula (1) and is the same as that described in JP-A-2004-59644.

Figure 2008218496
Figure 2008218496

上記式(1)中、R1、R2、R3、R4、R5、R6およびR7は、それぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、アルキル基、ハロゲン化アルキル基またはフェニル基を表し、複数のR1、R2、R3、R4、R5、R6およびR7は、同一であっても異なっていてもよい。
また、−(O−X−O)−は下記式(2)で表される構造であり、−(Y−O)−は下記式(3)で表される繰返し単位であり、Zは酸素原子、窒素原子、硫黄原子、ハロゲン原子を含んでいてもよい炭素数1以上の有機基を表す。
また、aおよびbは、少なくとも一方が0でない0〜300の整数を表し、cおよびdは、それぞれ独立に0または1の整数を表す。
In the above formula (1), R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 6 and R 7 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group, a halogenated alkyl group or a phenyl group. A plurality of R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 6 and R 7 may be the same or different.
-(O-X-O)-is a structure represented by the following formula (2),-(YO)-is a repeating unit represented by the following formula (3), and Z is oxygen. An organic group having 1 or more carbon atoms, which may contain an atom, nitrogen atom, sulfur atom, or halogen atom.
Moreover, a and b represent the integer of 0-300 in which at least one is not 0, and c and d represent the integer of 0 or 1 each independently.

Figure 2008218496
Figure 2008218496

ここで、上記式(2)中、R8、R9、R10、R14およびR15は、それぞれ独立にハロゲン原子、炭素数6以下のアルキル基またはフェニル基を表し、R11、R12およびR13は、それぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、炭素数6以下のアルキル基またはフェニル基を表す。
また、上記式(3)中、R16およびR17は、それぞれ独立にハロゲン原子、炭素数6以下のアルキル基またはフェニル基を表し、R18およびR19は、それぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、炭素数6以下のアルキル基またはフェニル基を表す。
Here, in the formula (2), R 8, R 9, R 10, R 14 and R 15 each independently represent a halogen atom, an alkyl or a phenyl group having 6 or less carbon atoms, R 11, R 12 And R 13 each independently represents a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms, or a phenyl group.
In the above formula (3), R 16 and R 17 each independently represent a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group, and R 18 and R 19 each independently represent a hydrogen atom or a halogen atom. Represents an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group.

また、上記式(1)中、Zは、炭素数3以下のアルキレン基であるのが好ましい。具体的には、メチレン基が好適に例示される。   In the above formula (1), Z is preferably an alkylene group having 3 or less carbon atoms. Specifically, a methylene group is preferably exemplified.

更に、上記式(1)中、aおよびbは、少なくともいずれか一方が0でない0〜300の整数を表すが、0〜30の整数を表すのが好ましい。   Furthermore, in said formula (1), a and b represent the integer of 0-300 whose at least any one is not 0, but it is preferable to represent the integer of 0-30.

本発明においては、上記式(2)中、R8、R9、R10、R14およびR15は、炭素数3以下のアルキル基であるのが好ましく、R11、R12およびR13は、水素原子または炭素数3以下のアルキル基であるのが好ましい。具体的には、下記式(4)で表される構造が好適に例示される。 In the present invention, in the above formula (2), R 8 , R 9 , R 10 , R 14 and R 15 are preferably alkyl groups having 3 or less carbon atoms, and R 11 , R 12 and R 13 are , A hydrogen atom or an alkyl group having 3 or less carbon atoms. Specifically, a structure represented by the following formula (4) is preferably exemplified.

Figure 2008218496
Figure 2008218496

また、上記式(3)中、R16およびR17は、炭素数3以下のアルキル基であるのが好ましく、R18およびR19は、水素原子または炭素数3以下のアルキル基であるのが好ましい。具体的には、下記式(5)または(6)で表される構造が好適に例示される。 In the above formula (3), R 16 and R 17 are preferably an alkyl group having 3 or less carbon atoms, and R 18 and R 19 are a hydrogen atom or an alkyl group having 3 or less carbon atoms. preferable. Specifically, a structure represented by the following formula (5) or (6) is preferably exemplified.

Figure 2008218496
Figure 2008218496

本発明においては、(A)成分であるビニル化合物は、数平均分子量1000〜3000であるのが、得られる熱硬化性樹脂組成物の溶融粘度がより低くなり、(A)成分間の反応性が良好になる理由から好ましい。なお、(A)成分間で反応が進むことにより、得られる熱硬化性樹脂組成物の硬化速度が向上し、本発明の封止用樹脂フィルムの硬化物の耐熱性や硬度等の物性も向上するため好ましい。
ここで、数平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー法(GPC)により、標準ポリスチレンによる検量線を用いて求めた値とする。
In the present invention, the vinyl compound as the component (A) has a number average molecular weight of 1000 to 3000, but the resulting thermosetting resin composition has a lower melt viscosity and the reactivity between the components (A). Is preferable because As the reaction proceeds between the components (A), the curing rate of the resulting thermosetting resin composition is improved, and the physical properties such as heat resistance and hardness of the cured product of the sealing resin film of the present invention are also improved. Therefore, it is preferable.
Here, the number average molecular weight is a value determined by a gel permeation chromatography method (GPC) using a standard polystyrene calibration curve.

また、本発明においては、このようなビニル化合物は、1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。   Moreover, in this invention, such a vinyl compound may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together.

<(B)成分:ゴムおよび/または熱可塑性エラストマー>
上記(B)成分のゴムとしては、具体的には、例えば、スチレン−ブタジエンゴム、ブチルゴム、ブタジエンゴム、アクリルゴム等が挙げられる。
これらの中でも、スチレン−ブタジエンゴムを用いるのが、上記(A)成分との相溶性が良好となり、また、得られる熱硬化性樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムの硬化物の弾性率および誘電率が低くなり、更に、基板や電子部品との接着耐久性が良好となるため好ましい。
<(B) component: rubber and / or thermoplastic elastomer>
Specific examples of the rubber (B) include styrene-butadiene rubber, butyl rubber, butadiene rubber, acrylic rubber, and the like.
Among these, the use of styrene-butadiene rubber improves the compatibility with the component (A), and the cured product of the sealing resin film of the present invention comprising the resulting thermosetting resin composition. It is preferable because the elastic modulus and dielectric constant are low and the durability of bonding to a substrate or electronic component is good.

一方、上記(B)成分の熱可塑性エラストマーとしては、例えば、スチレン系熱可塑性エラストマー、具体的には、スチレン−ブタジエン−スチレンブロック共重合体、スチレン−イソプレン−スチレンブロック共重合体、オレフィン系熱可塑性エラストマー、ポリエステル系熱可塑性エラストマー等が挙げられる。   On the other hand, as the thermoplastic elastomer of the component (B), for example, styrene thermoplastic elastomer, specifically, styrene-butadiene-styrene block copolymer, styrene-isoprene-styrene block copolymer, olefin-based heat Examples thereof include a plastic elastomer and a polyester-based thermoplastic elastomer.

本発明においては、上記(B)成分としては、得られる熱硬化性樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムの硬化物の弾性率の観点から熱可塑性エラストマーが好ましい。特に、得られる熱硬化性樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムの電子部品に対する流動性、低誘電率および低弾性率の観点から、スチレン系熱可塑性エラストマーが好ましい。   In the present invention, the component (B) is preferably a thermoplastic elastomer from the viewpoint of the elastic modulus of the cured product of the encapsulating resin film of the present invention comprising the resulting thermosetting resin composition. In particular, styrenic thermoplastic elastomers are preferred from the viewpoints of fluidity, low dielectric constant, and low elastic modulus of the encapsulating resin film of the present invention comprising the resulting thermosetting resin composition with respect to electronic components.

また、本発明においては、このようなゴムおよび/または熱可塑性エラストマーは、1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。   In the present invention, such rubber and / or thermoplastic elastomer may be used singly or in combination of two or more.

本発明においては、上述した(A)成分と(B)成分の質量割合((A):(B))は、10:90〜90:10であるのが好ましく、得られる熱硬化性樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムの封止後の硬化物が、低誘電率・低誘電正接と低弾性率をバランスよく備える観点から、40:60〜60:40であるのがより好ましく、45:55〜55:45であるのが更に好ましい。   In the present invention, the mass ratio ((A) :( B)) of the components (A) and (B) described above is preferably 10:90 to 90:10, and the resulting thermosetting resin composition From the viewpoint of having a low dielectric constant / low dielectric loss tangent and a low elastic modulus in a well-balanced manner, the cured product after sealing of the sealing resin film of the present invention composed of the product is more preferably 40:60 to 60:40. Preferably, it is more preferable that it is 45: 55-55: 45.

本発明においては、上述した(A)成分および(B)成分を含有する熱硬化性樹脂組成物は、本発明の効果を損なわない範囲で、無機フィラー、粘着性付与剤、消泡剤、流動調整剤、成膜補助剤、分散助剤等の添加剤を含有していてもよい。
ここで、無機フィラーとしては、具体的には、例えば、後述する(F)成分として例示するものが挙げられる。
In the present invention, the thermosetting resin composition containing the component (A) and the component (B) described above is an inorganic filler, a tackifier, an antifoaming agent, a fluid as long as the effects of the present invention are not impaired. You may contain additives, such as a regulator, a film-forming auxiliary agent, and a dispersion auxiliary agent.
Here, specifically as an inorganic filler, what is illustrated as a (F) component mentioned later, for example is mentioned.

また、本発明においては、上記熱硬化性樹脂組成物は、硬化触媒を含有していてもよいが、加熱のみによって硬化することができる。   In the present invention, the thermosetting resin composition may contain a curing catalyst, but can be cured only by heating.

本発明においては、上記熱硬化性樹脂組成物は、公知の方法により製造することができる。
例えば、溶媒の存在下または非存在下で、上記(A)成分および上記(B)ならびに所望により含有してもよい各種添加剤の各々を加熱真空混合ニーダー等により混合する方法により製造することができる。
具体的には、所定の溶剤濃度に溶解し、それらを40〜100℃に加温された反応釜に所定量投入し、常圧混合を30分〜6時間行うことにより製造することができる。その後、真空下(最大1トール)で更に5分〜60分混合撹拌することができる。
In the present invention, the thermosetting resin composition can be produced by a known method.
For example, it can be produced by a method in which each of the component (A), the component (B), and various additives that may be optionally contained is mixed with a heating vacuum mixing kneader or the like in the presence or absence of a solvent. it can.
Specifically, it can be produced by dissolving in a predetermined solvent concentration, putting them into a reaction kettle heated to 40 to 100 ° C., and carrying out normal pressure mixing for 30 minutes to 6 hours. Thereafter, the mixture can be further stirred for 5 to 60 minutes under vacuum (maximum 1 Torr).

このような熱硬化性樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムの製造方法としては、具体的には、例えば、熱硬化性樹脂組成物を有機溶剤に溶解または分散させてワニスとした後に、所望の支持体に塗布し、乾燥させる方法等が挙げられる。   As a method for producing a sealing resin film of the present invention comprising such a thermosetting resin composition, specifically, for example, a thermosetting resin composition is dissolved or dispersed in an organic solvent to obtain a varnish. Later, the method of apply | coating to a desired support body and making it dry is mentioned.

上記有機溶剤としては、具体的には、例えば、トルエン、キシレンなどの芳香族系溶剤;メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトンなどのケトン系溶剤;ジオクチルフタレート、ジブチルフタレートなどの高沸点溶媒;等が挙げられ、これらを1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
ここで、有機溶剤の使用量は、特に限定されないが、固形分が20〜90質量%となるように使用するのが好ましく、20〜50質量%となるように使用するのがより好ましい。
また、作業性の観点から、ワニスは、100〜600mPa・sの粘度範囲であるのが好ましい。
ここで、粘度は、E型粘度計を用いて、回転数60rpm、25℃で測定した値とする。
Specific examples of the organic solvent include aromatic solvents such as toluene and xylene; ketone solvents such as methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone; high-boiling solvents such as dioctyl phthalate and dibutyl phthalate; These may be used alone or in combination of two or more.
Here, although the usage-amount of an organic solvent is not specifically limited, It is preferable to use it so that solid content may be 20-90 mass%, and it is more preferable to use it so that it may become 20-50 mass%.
From the viewpoint of workability, the varnish preferably has a viscosity range of 100 to 600 mPa · s.
Here, the viscosity is a value measured using an E-type viscometer at a rotation speed of 60 rpm and 25 ° C.

上記支持体は特に限定されず、その具体例としては、銅、アルミニウム等の金属箔、ポリエステル樹脂、ポリエチレン樹脂等の有機フィルム等が挙げられる。
また、上記支持体はシリコーン系化合物等で離型処理されていてもよい。
The said support body is not specifically limited, As a specific example, organic films, such as metal foil, such as copper and aluminum, a polyester resin, and a polyethylene resin, etc. are mentioned.
Further, the support may be subjected to a release treatment with a silicone compound or the like.

また、ワニスを塗布する方法は特に限定されないが、薄膜化・膜厚制御の観点からマイクログラビア法、スロットダイ法、ドクターコ一夕一方式等が挙げられ、所望のフィルムの厚み等に応じて適宜選択されるが、特にマイクログラビア方式が、フィルムの厚みを薄く設計しうることから好ましい。マイクログラビア法により、例えば、厚み90μm以下のフィルムを得ることができる。   Further, the method for applying the varnish is not particularly limited, but from the viewpoint of thinning and film thickness control, microgravure method, slot die method, doctor co Although selected, the micro gravure method is particularly preferable because the thickness of the film can be designed to be thin. For example, a film having a thickness of 90 μm or less can be obtained by the microgravure method.

また、ワニスを塗布した後の乾燥条件は、ワニスに使用される有機溶剤の種類や量、塗布の厚み等に応じて、適宜、設定することができ、一般に、大気圧下、60〜120℃で、1〜30分程度で行うことが好ましく、防爆機能を有する乾燥機を使用することが安全上の観点から好ましい。また、乾燥は、大気中または窒素雰囲気中にて行うことができる。   Moreover, the drying conditions after apply | coating a varnish can be suitably set according to the kind and quantity of the organic solvent used for a varnish, the thickness of application | coating, and generally 60-120 degreeC under atmospheric pressure. Therefore, it is preferable to carry out in about 1 to 30 minutes, and it is preferable from the viewpoint of safety to use a dryer having an explosion-proof function. Moreover, drying can be performed in air | atmosphere or nitrogen atmosphere.

このような熱硬化性樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムは、60〜230℃での最低粘度が1〜107Pa・sとなるため、電子部品の実装と封止を一括かつ低圧で行うことが可能となる。 Since the sealing resin film of the present invention comprising such a thermosetting resin composition has a minimum viscosity of 1 to 10 7 Pa · s at 60 to 230 ° C., mounting and sealing of electronic components are performed at once. In addition, it can be performed at a low pressure.

また、このような熱硬化性樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムの厚みは、30〜500μmであるのが好ましく、30〜125μmであるがのより好ましい。
特に薄型化が要求されるような場合には、30〜100μmであるのが好ましい。本発明の封止用樹脂フィルムは、このような範囲においても、十分な物理的・電気的特性を保持することができる。
Moreover, it is preferable that the thickness of the resin film for sealing of this invention which consists of such a thermosetting resin composition is 30-500 micrometers, and it is more preferable that it is 30-125 micrometers.
Especially when thinning is required, the thickness is preferably 30 to 100 μm. Even in such a range, the encapsulating resin film of the present invention can maintain sufficient physical and electrical characteristics.

更に、このような熱硬化性樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムは、封止した後に硬化させた硬化物が、高周波領域で低誘電率・低誘電正接を有しており、例えば、温度25℃、周波数5GHzの条件で、誘電率4以下、誘電正接0.025以下のレベルとすることができる。また、例えば、(A)成分および(B)成分の配合割合等の制御を通じて、誘電率2.6以下、誘電正接0.005以下のレベルを達成することもできる。   Furthermore, the encapsulating resin film of the present invention comprising such a thermosetting resin composition has a cured product cured after encapsulating, having a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent in a high frequency region, For example, under conditions of a temperature of 25 ° C. and a frequency of 5 GHz, the dielectric constant can be 4 or less and the dielectric loss tangent can be 0.025 or less. In addition, for example, a level of dielectric constant 2.6 or lower and dielectric loss tangent 0.005 or lower can be achieved through control of the blending ratio of component (A) and component (B).

更に、このような熱硬化性樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムは、封止した後に硬化させた硬化物が、低弾性率であり、応力緩和にも寄与することができ、加工上、ハンドリングがしやすい。例えば、動的粘弾性測定による弾性率として、温度25℃で、3.5GPa以下にすることができる。また、例えば、(A)成分および(B)成分の配合割合等の制御を通じて、1.5GPa以下のレベルを達成することもできる。   Furthermore, the encapsulating resin film of the present invention composed of such a thermosetting resin composition is a cured product cured after sealing, has a low elastic modulus, and can contribute to stress relaxation, Easy to handle for processing. For example, the elastic modulus by dynamic viscoelasticity measurement can be 3.5 GPa or less at a temperature of 25 ° C. Further, for example, a level of 1.5 GPa or less can be achieved through control of the blending ratio of the component (A) and the component (B).

更に、このような熱硬化性樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムは、硬化前後の厚みがほぼ均一であるため、硬化後の厚みの均一性に優れたものとなる。   Furthermore, since the sealing resin film of the present invention made of such a thermosetting resin composition has a substantially uniform thickness before and after curing, the thickness uniformity after curing is excellent.

本発明においては、このような熱硬化性樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムの封止した後の硬化条件は、適宜、設定することができ、例えば、150〜250℃で、10〜120分程度とすることができる。   In the present invention, the curing conditions after sealing of the sealing resin film of the present invention comprising such a thermosetting resin composition can be appropriately set, for example, at 150 to 250 ° C., It can be about 10 to 120 minutes.

本発明においては、上記樹脂組成物が、(C)フェノール骨格とビフェニル骨格を有するノボラック型エポキシ樹脂、および/または、重量平均分子量が10,000〜200,000であって水酸基を有する2官能型直鎖状エポキシ樹脂、ならびに、(D)フェノール性水酸基の少なくとも一部を脂肪酸でエステル化した変性フェノールノボラック、を含有するエポキシ樹脂組成物からなるのが好ましい。
次に、各成分について詳述する。
In the present invention, the resin composition is (C) a novolak type epoxy resin having a phenol skeleton and a biphenyl skeleton, and / or a bifunctional type having a weight average molecular weight of 10,000 to 200,000 and having a hydroxyl group. It is preferable to comprise an epoxy resin composition containing a linear epoxy resin and (D) a modified phenol novolak obtained by esterifying at least part of a phenolic hydroxyl group with a fatty acid.
Next, each component will be described in detail.

<(C)成分:ノボラック型エポキシ樹脂および/または2官能型直鎖状エポキシ樹脂>
上記(C)成分のノボラック型エポキシ樹脂は、分子骨格および側鎖が剛直で、硬化後のポリマーの運動性を落とす方向に働くものである。
<(C) component: novolac type epoxy resin and / or bifunctional linear epoxy resin>
The novolak type epoxy resin as the component (C) has a rigid molecular skeleton and side chain, and acts in a direction that reduces the mobility of the polymer after curing.

上記(C)成分のノボラック型エポキシ樹脂としては、例えば、下記式(7)で表されるエポキシ樹脂が好適に挙げられる。   As the novolak type epoxy resin of the component (C), for example, an epoxy resin represented by the following formula (7) is preferably exemplified.

Figure 2008218496
Figure 2008218496

上記式(7)中、nは1〜10の数(平均値)を表し、1〜5であるのが好ましく、1であるのがより好ましい。   In said formula (7), n represents the number (average value) of 1-10, it is preferable that it is 1-5, and it is more preferable that it is 1.

これらの中でも、下記式(7′)で表されるエポキシ樹脂であるのがより好ましい。   Among these, an epoxy resin represented by the following formula (7 ′) is more preferable.

Figure 2008218496
Figure 2008218496

上記式(7′)中、nは上記式(7)と同様である。   In the above formula (7 ′), n is the same as in the above formula (7).

上記(C)成分の2官能型直鎖状エポキシ樹脂は、分子骨格および側鎖が剛直で、硬化後のポリマーの運動性を落とす方向に働くものである。   The bifunctional linear epoxy resin of the component (C) has a rigid molecular skeleton and side chain, and acts in a direction that reduces the mobility of the polymer after curing.

本発明においては、上記(C)成分の2官能型直鎖状エポキシ樹脂の重量平均分子量は、10,000〜200,000であり、15,000〜70,000であるのが好ましい。
また、上記(C)成分の2官能型直鎖状エポキシ樹脂の数平均分子量は、3,700〜74,000であるのが好ましく、5,500〜26,000であるのがより好ましい。
更に、上記(C)成分の2官能型直鎖状エポキシ樹脂のエポキシ当量は、5000g/当量以上であるのが好ましい。
更に、上記(C)成分の2官能型直鎖状エポキシ樹脂は、重量平均分子量/数平均分子量が2〜3の範囲のものが特に好ましい。
ここで、重量平均分子量および数平均分子量は、上述した(A)成分であるビニル化合物の測定と同様、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー法(GPC)により、標準ポリスチレンによる検量線を用いて求めた値とする。
In the present invention, the bifunctional linear epoxy resin as the component (C) has a weight average molecular weight of 10,000 to 200,000, preferably 15,000 to 70,000.
The number average molecular weight of the bifunctional linear epoxy resin as the component (C) is preferably 3,700 to 74,000, and more preferably 5,500 to 26,000.
Furthermore, the epoxy equivalent of the bifunctional linear epoxy resin as the component (C) is preferably 5000 g / equivalent or more.
Further, the bifunctional linear epoxy resin of the component (C) is particularly preferably one having a weight average molecular weight / number average molecular weight in the range of 2 to 3.
Here, the weight average molecular weight and the number average molecular weight are the values obtained using a standard polystyrene calibration curve by gel permeation chromatography (GPC), as in the measurement of the vinyl compound which is the component (A). To do.

上記(C)成分の2官能型直鎖状エポキシ樹脂としては、具体的には、例えば、下記式(8)で表されるエポキシ樹脂が好適に挙げられる。   Specific examples of the bifunctional linear epoxy resin of the component (C) include, for example, an epoxy resin represented by the following formula (8).

Figure 2008218496
Figure 2008218496

上記式(8)中、Qは、単結合、炭素数1〜7の炭化水素基、−O−、−S−、−SO2−、−CO−または下記式で表される基を表し、複数のQは、同一であっても異なっていてもよい。 In the above formula (8), Q represents a single bond, a hydrocarbon group having 1 to 7 carbon atoms, —O—, —S—, —SO 2 —, —CO— or a group represented by the following formula: A plurality of Q may be the same or different.

Figure 2008218496
Figure 2008218496

上記式中、R22は、炭素数1〜10の炭化水素基またはハロゲン原子を表し、複数のR22は、同一であっても異なっていてもよい。
23は、水素原子、炭素数1〜10の炭化水素基またはハロゲン原子を表す。
fは、0〜5の整数を表す。
In the above formula, R 22 represents a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms or a halogen atom, and a plurality of R 22 may be the same or different.
R 23 represents a hydrogen atom, a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, or a halogen atom.
f represents an integer of 0 to 5.

上記式(8)中、R21は、炭素数1〜10の炭化水素基またはハロゲン原子を表し、複数のR21は、同一であっても異なっていてもよい。
eは、0〜4の整数を表し、複数のeは、同一であっても異なっていてもよい。
nは、25〜500の数(平均値)を表す。
In the formula (8), R 21 represents a hydrocarbon group or a halogen atom having 1 to 10 carbon atoms, more R 21 may be different even in the same.
e represents an integer of 0 to 4, and a plurality of e may be the same or different.
n represents the number (average value) of 25-500.

上記(C)成分の2官能型直鎖状エポキシ樹脂としては、下記式(8′)で表されるエポキシ樹脂がより好ましい。   As the bifunctional linear epoxy resin of the component (C), an epoxy resin represented by the following formula (8 ′) is more preferable.

Figure 2008218496
Figure 2008218496

上記式(8′)中、Qおよびnは、それぞれ、上記式(8)のQおよびnと同様である。   In the above formula (8 ′), Q and n are the same as Q and n in the above formula (8), respectively.

本発明においては、このようなエポキシ樹脂は、1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。   In this invention, such an epoxy resin may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together.

<(D)成分:変性フェノールノボラック>
上記(D)成分の変性フェノールノボラックは、フェノール性ヒドロキシ基の少なくとも一部を脂肪酸エステル化したものである。
上記(D)成分の変性フェノールノボラックとしては、例えば、下記式(9)で表される変性フェノールノボラックが好適に挙げられる。
<(D) component: Modified phenol novolak>
The modified phenol novolak as the component (D) is obtained by fatty acid esterification of at least a part of the phenolic hydroxy group.
Preferred examples of the modified phenol novolak as the component (D) include a modified phenol novolak represented by the following formula (9).

Figure 2008218496
Figure 2008218496

上記式(9)中、R24は、炭素数1〜5のアルキル基を表し、メチル基であるのが好ましく、複数のR24は、同一であっても異なっていてもよい。
また、R25は、炭素数1〜5のアルキル基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいアラルキル基、アルコキシ基またはハロゲン原子を表し、複数のR25は、同一であっても異なっていてもよい。
また、R26は、炭素数1〜5のアルキル基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいアラルキル基、アルコキシ基またはハロゲン原子を表し、複数のR26は、同一であっても異なっていてもよい。
gは、0〜3の整数を表し、複数のgは、同一であっても異なっていてもよい。
hは、0〜3の整数を表し、複数のhは、同一であっても異なっていてもよい。
n:mは、1:1〜1.2:1であり、約1:1であることが好ましい。
nとmの合計としては、例えば2〜4とすることができる。
In the above formula (9), R 24 represents an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, preferably a methyl group, and the plurality of R 24 may be the same or different.
R 25 represents an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a phenyl group which may have a substituent, an aralkyl group which may have a substituent, an alkoxy group or a halogen atom, and a plurality of R 25 may be the same or different.
R 26 represents an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a phenyl group which may have a substituent, an aralkyl group which may have a substituent, an alkoxy group or a halogen atom, and a plurality of R 26 may be the same or different.
g represents an integer of 0 to 3, and a plurality of g may be the same or different.
h represents an integer of 0 to 3, and a plurality of h may be the same or different.
n: m is 1: 1 to 1.2: 1, preferably about 1: 1.
The total of n and m can be 2 to 4, for example.

上記式(9)におけるn、mは、繰り返し単位の平均値であり、繰り返し単位の順序は限定されず、ブロックでもランダムでもよい。   In the above formula (9), n and m are average values of repeating units, and the order of repeating units is not limited, and may be block or random.

上記(D)成分の変性フェノールノボラックとしては、下記式(9′)で表される変性フェノールノボラックが好適に挙げられる。   Preferred examples of the modified phenol novolak as the component (D) include a modified phenol novolak represented by the following formula (9 ′).

Figure 2008218496
Figure 2008218496

上記式(9′)中、R24、nおよびmは、それぞれ、上記式(9)のR24、nおよびmと同様である。
特に好ましくは、上記式(9′)においてR24がメチル基のアセチル化フェノールノボラックである。
In the above formula (9 '), R 24, n and m are each the same as R 24, n and m in the formula (9).
Particularly preferably, in the above formula (9 ′), R 24 is a methyl group acetylated phenol novolak.

本発明においては、このような変性フェノールノボラックは、1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。   In the present invention, such modified phenol novolacs may be used alone or in combination of two or more.

上記(D)成分の含有量は、上記(C)成分100質量部に対して30〜200質量部であるのが好ましく、50〜180質量部であるのがより好ましい。(D)成分の含有量がこの範囲であると、得られるエポキシ樹脂組成物からなる封止用樹脂フィルムの封止後の硬化性が良好となり、かつ、硬化後に良好な誘電特性が期待できる。
なお、上記(C)成分が上述したフェノール骨格とビフェニル骨格を有するノボラック型エポキシ樹脂である場合は、上記(D)成分を30〜70質量部配合することが特に好ましい。また、上記(C)成分が上述した2官能型直鎖状エポキシ樹脂である場合は、上記(D)成分を120〜180質量部配合することが特に好ましい。
The content of the component (D) is preferably 30 to 200 parts by mass, and more preferably 50 to 180 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the component (C). When the content of the component (D) is within this range, the sealing resin film made of the resulting epoxy resin composition has good curability after sealing, and good dielectric properties can be expected after curing.
In addition, when the said (C) component is a novolak-type epoxy resin which has the phenol skeleton and biphenyl skeleton mentioned above, it is especially preferable to mix | blend the said (D) component 30-70 mass parts. Moreover, when the said (C) component is the bifunctional linear epoxy resin mentioned above, it is especially preferable to mix | blend the said (D) component 120-180 mass parts.

<(E)成分:イソシアナート化合物>
本発明においては、上述した成分(C)および成分(D)を含有するエポキシ樹脂組成物は、更に、(E)イソシアナート化合物を含有するのが好ましい態様の1つである。
エポキシ樹脂中にヒドロキシ基がある場合は、そのヒドロキシ基やエポキシ樹脂が開環した際に生成するヒドロキシ基と、イソシアナート化合物中のイソシアナート基とが反応して、ウレタン結合を形成し、硬化後(封止後)のポリマーの架橋密度を上げ、分子の運動性を更に低下させることができるため好ましい。また、極性の大きいヒドロキシ基が減少するため、一層の誘電率の低下、誘電正接の低下が可能になると考えられる。更に、一般にエポキシ樹脂は分子間力が大きく、フィルム化する場合に均一な成膜が困難であり、かつフィルム化してもフィルム強度が弱く、フィルム形成時にクラックが入りやすい傾向があるが、イソシアナート化することにより、これらの欠点を除くことができるため、加工性の点からも好ましい。
<(E) component: isocyanate compound>
In the present invention, it is one of preferred embodiments that the epoxy resin composition containing the component (C) and the component (D) described above further contains (E) an isocyanate compound.
When there is a hydroxy group in the epoxy resin, the hydroxy group produced when the hydroxy group or the epoxy resin is ring-opened reacts with the isocyanate group in the isocyanate compound to form a urethane bond and cure. This is preferable because the crosslink density of the polymer after (sealing) can be increased and the mobility of the molecule can be further lowered. Further, since the number of highly polar hydroxy groups decreases, it is considered that the dielectric constant and dielectric loss tangent can be further reduced. Furthermore, in general, epoxy resin has a large intermolecular force, it is difficult to form a uniform film when it is made into a film, and even if it is made into a film, the film strength is weak, and it tends to crack easily during film formation. Since it is possible to eliminate these drawbacks, the processability is preferred.

上記(E)成分のイソシアナート化合物としては、例えば、2個以上のイソシアナート基を有するイソシアナート化合物が挙げられる。具体的には、ヘキサメチレンジイソシアナート(HDI)、ジフェニルメタンジイソシアナート、トリレンジイソシアナート、イソホロンジイソシアナート、ジシクロへキシルメタンジイソシアナート、テトラメチルキシリレンジイソシアナート、キシリレンジイソシアナート、ナフタレンジイソシアナート、トリメチルヘキサメチレンジイソシアナート、トリジンジイソシアナート、p−フェニレンジイソシアナート、シクロへキシレンジイソシアナート、ダイマー酸ジイソシアナート、水素化キシリレンジイソシアナート、リシンジイソシアナート、トリフェニルメタントリイソシアナート、トリ(イソシアナートフェニル)トリホスフアート等が挙げられる。これらは、単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
これらの中でも、ヘキサメチレンジイソシアナート、ジフェニルメタンジイソシアナートが好ましい。
Examples of the isocyanate compound of the component (E) include isocyanate compounds having two or more isocyanate groups. Specifically, hexamethylene diisocyanate (HDI), diphenylmethane diisocyanate, tolylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, dicyclohexylmethane diisocyanate, tetramethylxylylene diisocyanate, xylylene diisocyanate, naphthalene Diisocyanate, trimethylhexamethylene diisocyanate, tolidine diisocyanate, p-phenylene diisocyanate, cyclohexylene diisocyanate, dimer acid diisocyanate, hydrogenated xylylene diisocyanate, ricin diisocyanate, triphenyl Examples include methane triisocyanate and tri (isocyanatophenyl) triphosphatate. These may be used alone or in combination of two or more.
Among these, hexamethylene diisocyanate and diphenylmethane diisocyanate are preferable.

また、上記(E)成分のイソシアナート化合物には、イソシアナート化合物の一部が環化反応により、イソシアヌレート環を形成したプレポリマーを含むものとする。例えば、イソシアナート化合物の3量体を含むプレポリマーが挙げられる。   The isocyanate compound as the component (E) includes a prepolymer in which a part of the isocyanate compound forms an isocyanurate ring by a cyclization reaction. For example, the prepolymer containing the trimer of an isocyanate compound is mentioned.

上記(E)成分のイソシアナート化合物は、特に、上述した(C)成分の2官能型直鎖状エポキシ樹脂との組み合わせで使用することが好ましい。エポキシ樹脂の開環反応に伴なう生成したヒドロキシ基と(E)成分のイソシアナート基との反応に加えて、2官能型直鎖状エポキシ樹脂中にはヒドロキシ基が存在するため、このヒドロキシ基とイソシアナート基とが反応できるため、より大きな効果が得られる。   The isocyanate compound as the component (E) is particularly preferably used in combination with the bifunctional linear epoxy resin as the component (C) described above. In addition to the reaction between the hydroxy group produced by the ring-opening reaction of the epoxy resin and the isocyanate group of the component (E), the hydroxy group exists in the bifunctional linear epoxy resin. Since the group and the isocyanate group can react, a greater effect can be obtained.

上記(E)成分のイソシアナート化合物の含有量は、上記(C)成分100質量部に対して100〜400質量部であるのが好ましく、300〜350質量部であるのがより好ましい。(E)成分の含有量がこの範囲であると、フィルム形成時に、発泡が抑えられ均一なフィルムになりやすく、またハジキ現象が生じにくい。更に、形成したフィルムを乾燥させた後クラックが生じにくく、フィルムの操作性に優れ、誘電特性も良好となることが期待できる。   The content of the isocyanate compound as the component (E) is preferably 100 to 400 parts by mass, and more preferably 300 to 350 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the component (C). When the content of the component (E) is within this range, foaming is suppressed and a uniform film is easily formed during film formation, and repellency is unlikely to occur. Furthermore, it is expected that after the formed film is dried, cracks hardly occur, the operability of the film is excellent, and the dielectric properties are also good.

<(F)成分:無機フィラー>
上記エポキシ樹脂組成物は、更に、(F)無機フィラーを含有するのが好ましい態様の1つである。
上記(F)成分の無機フィラーは、特に限定されず、上記エポキシ樹脂組成物に、更に所望の特性を付与するものである。例えば、熱膨張率を調整する物質、熱伝導性を調整する物質等が挙げられる。
<(F) component: inorganic filler>
In one preferred embodiment, the epoxy resin composition further contains (F) an inorganic filler.
The inorganic filler of the component (F) is not particularly limited, and further imparts desired characteristics to the epoxy resin composition. For example, a substance that adjusts the coefficient of thermal expansion, a substance that adjusts thermal conductivity, and the like can be given.

熱膨張率を調整する物質としては、具体的には、例えば、二酸化ケイ素、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム等が挙げられる。
また、上記熱伝導性を調整する物質のうち、上記熱伝導性物質としては、具体的には、例えば、酸化アルミニウム、炭化ケイ素、ダイヤモンドなどの酸化物;窒化アルミニウム、窒化ホウ素などの窒化物;等が挙げられる。
これらは、1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
Specific examples of the substance that adjusts the coefficient of thermal expansion include silicon dioxide, aluminum oxide, and aluminum nitride.
In addition, among the substances for adjusting the thermal conductivity, the thermal conductive substance specifically includes, for example, oxides such as aluminum oxide, silicon carbide, and diamond; nitrides such as aluminum nitride and boron nitride; Etc.
These may be used alone or in combination of two or more.

これらの中でも、上記無機フィラーとしては、二酸化ケイ素、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、窒化ホウ素が好ましい。   Among these, as the inorganic filler, silicon dioxide, aluminum oxide, aluminum nitride, and boron nitride are preferable.

上記無機フィラーの含有量は、所望の性質を発揮させるのに必要な量であって、かつフィルム形成が可能な量であれば、特に制限されるものではないが、上記成分(C)〜(E)の合計100質量部に対して、200〜500質量部であるのが好ましく、350〜470質量部であるのがより好ましく、380〜420質量部であるのが更に好ましい。無機フィラーの含有量がこの範囲であると、無機フィラーの樹脂組成物に対する分散性や、得られる樹脂組成物の加工性の点から好ましい。   The content of the inorganic filler is not particularly limited as long as it is an amount necessary for exhibiting desired properties and can form a film, but the components (C) to ( It is preferable that it is 200-500 mass parts with respect to a total of 100 mass parts of E), It is more preferable that it is 350-470 mass parts, It is still more preferable that it is 380-420 mass parts. When the content of the inorganic filler is within this range, it is preferable from the viewpoint of dispersibility of the inorganic filler in the resin composition and workability of the obtained resin composition.

上記無機フィラーは、粒状、粉末状、りん片等のいずれの形態であってもよい。   The inorganic filler may be in any form such as granular, powder, flakes and the like.

上記無機フィラーの平均粒径(粒状でない場合は、その平均最大径)は、0.5μm以下であることが、無機フィラーの樹脂組成物に対する分散性や、得られる樹脂組成物の加工性の点から好ましく、0.3μm以下であることがより薄いフィルムを成形可能となる点からより好ましい。   The average particle size of the inorganic filler (if it is not granular, the average maximum diameter) is 0.5 μm or less, the dispersibility of the inorganic filler in the resin composition and the processability of the resulting resin composition It is more preferable that the thickness is 0.3 μm or less from the viewpoint that a thinner film can be formed.

上記無機フィラーは、必要に応じて、表面処理を施されたものであってもよい。例えば、粒子表面に酸化皮膜を形成させたものであってもよい。   The inorganic filler may be subjected to surface treatment as necessary. For example, an oxide film may be formed on the particle surface.

本発明においては、上記エポキシ樹脂組成物は、任意の成分として硬化促進剤を含有してもよい。
硬化促進剤としては、エポキシ樹脂組成物の硬化促進剤として公知のものを使用することができ、具体的には、例えば、2−メチルイミダゾ−ル、2−エチル−4−メチルイミダゾールなどの複素環化合物イミダゾール類;トリフェニルホスフィン、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレートなどのリン化合物類;2,4,6−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、ベンジルジメチルアミンなどの第3級アミン類;1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセンやその塩などのジアザビシクロウンデセン(DBU)類;アミン類やイミダゾ−ル類をエポキシ、尿素、酸などでアダクトさせたアダクト型促進剤類;等が挙げられる。
硬化促進剤の含有量は、上記(C)成分100質量部に対して、1〜10質量部であるのが好ましい。
In the present invention, the epoxy resin composition may contain a curing accelerator as an optional component.
As the curing accelerator, those known as curing accelerators for epoxy resin compositions can be used. Specifically, for example, complex such as 2-methylimidazole and 2-ethyl-4-methylimidazole are used. Ring compounds imidazoles; phosphorus compounds such as triphenylphosphine and tetraphenylphosphonium tetraphenylborate; tertiary amines such as 2,4,6-tris (dimethylaminomethyl) phenol and benzyldimethylamine; 1,8- Diazabicyclo (5,4,0) undecene and its salts and other diazabicycloundescenes (DBU); adduct accelerators obtained by adducting amines and imidazoles with epoxy, urea, acid, etc. Can be mentioned.
It is preferable that content of a hardening accelerator is 1-10 mass parts with respect to 100 mass parts of said (C) component.

また、本発明においては、上記エポキシ樹脂組成物は、任意の成分として重合開始剤を含有してもよい。
重合開始剤としては、公知の重合開始剤を使用することができ、具体的には、例えば、過酸化ベンゾイル、アゾビスイソブチロニトリル、t−ブチルパーオキシベンゾエート、1,1,3,3−テトラメチルプチルベルオキシ−2−エチルヘキサノアート等が挙げられる。
重合開始剤の含有量は、上記(C)成分100質量部に対して、1〜10質量部であるのが好ましい。
In the present invention, the epoxy resin composition may contain a polymerization initiator as an optional component.
As the polymerization initiator, a known polymerization initiator can be used. Specifically, for example, benzoyl peroxide, azobisisobutyronitrile, t-butylperoxybenzoate, 1,1,3,3 -Tetramethylptylberoxy-2-ethylhexanoate etc. are mentioned.
It is preferable that content of a polymerization initiator is 1-10 mass parts with respect to 100 mass parts of said (C) component.

本発明においては、上記エポキシ樹脂組成物は、必要に応じて、粘着性付与剤、消泡剤、流動調整剤、成膜補助剤、分散助剤等の添加剤を含有してもよい。   In the present invention, the epoxy resin composition may contain additives such as a tackifier, an antifoaming agent, a flow regulator, a film forming aid, and a dispersion aid, if necessary.

上記成膜補助剤としては、具体的には、例えば、ジビニルベンゼンが挙げられる。
成膜補助剤の含有量は、上記(C)成分100質量部に対して、50〜150質量部であるのが好ましい。
Specific examples of the film forming aid include divinylbenzene.
The content of the film forming auxiliary is preferably 50 to 150 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the component (C).

また、本発明においては、上記エポキシ樹脂組成物は、本発明の目的を損なわない範囲で、弾性率の向上、膨張係数の低下、ガラス転移温度(Tg値)の変更等を目的として、必要に応じて、上記(C)成分以外のエポキシ樹脂を含有してもよい。
上記(C)成分以外のエポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、ビフェニルエポキシ樹脂等が挙げられる。これらは、1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
Further, in the present invention, the epoxy resin composition is necessary for the purpose of improving the elastic modulus, lowering the expansion coefficient, changing the glass transition temperature (Tg value), etc., as long as the object of the present invention is not impaired. Accordingly, an epoxy resin other than the component (C) may be contained.
Examples of the epoxy resin other than the component (C) include a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, an alicyclic epoxy resin, and a biphenyl epoxy resin. These may be used alone or in combination of two or more.

本発明においては、上記エポキシ樹脂組成物は、本発明の目的を損なわない範囲で、脂肪酸エステル化されていないフェノールノボラック、クレゾールノボラック樹脂、フェノール多核体等の公知のエポキシ樹脂硬化剤を含有してもよい。
フェノール多核体としては、例えば、3〜5核体程度等のフェノール類が挙げられる。
In the present invention, the epoxy resin composition contains a known epoxy resin curing agent such as phenol novolak, cresol novolak resin, phenol polynuclear body and the like that are not fatty acid esterified, as long as the object of the present invention is not impaired. Also good.
As a phenol polynuclear body, phenols, such as a 3-5 nuclei grade, are mentioned, for example.

本発明においては、上記エポキシ樹脂組成物は、公知の方法により製造することができる。
例えば、溶媒の存在下または非存在下で、上記(C)成分および上記(D)成分ならびに所望により含有してもよい上記(E)成分の各々をプロペラ撹拌機、バンバリー式ミキサー、遊星式ミキサー、加熱真空混合ニーダー等により混合する方法により製造することができる。なお、所望により含有してもよい上記(F)成分は、上記(C)〜(E)成分を混合した後に添加してもよく、上記(C)〜(E)成分と同時に添加してもよい。
具体的には、所定の溶剤濃度に溶解し、それらを25〜60℃に加温された反応釜に所定量投入し、常圧混合を30〜60分行うことにより製造することができる。その後、真空下(最大1トール)で更に5分〜60分混合撹拌することができる。ただし(F)成分を他の成分と同時に捷拝する場合は、真空下での混合撹拌時間を30〜60分延長するのが好ましい。
In the present invention, the epoxy resin composition can be produced by a known method.
For example, in the presence or absence of a solvent, the component (C) and the component (D) as well as the component (E) which may be optionally contained are mixed with a propeller stirrer, Banbury mixer, planetary mixer It can be manufactured by a method of mixing with a heating vacuum mixing kneader or the like. In addition, the said (F) component which may be contained depending on necessity may be added after mixing the said (C)-(E) component, and may be added simultaneously with the said (C)-(E) component. Good.
Specifically, it can be produced by dissolving in a predetermined solvent concentration, putting them into a reaction kettle heated to 25 to 60 ° C., and carrying out normal pressure mixing for 30 to 60 minutes. Thereafter, the mixture can be further stirred for 5 to 60 minutes under vacuum (maximum 1 Torr). However, when the component (F) is worshiped simultaneously with other components, it is preferable to extend the mixing and stirring time under vacuum by 30 to 60 minutes.

このようなエポキシ樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムの製造方法としては、具体的には、例えば、エポキシ樹脂組成物を有機溶剤に溶解または分散させてワニスとした後に、所望の支持体に塗布し、乾燥させる方法等が挙げられる。   As a method for producing the sealing resin film of the present invention comprising such an epoxy resin composition, specifically, for example, after the epoxy resin composition is dissolved or dispersed in an organic solvent to form a varnish, a desired varnish is prepared. Examples thereof include a method of applying to a support and drying.

ここで、有機溶剤の種類や使用量については、上述した熱硬化性樹脂組成物におけるものと同様である。
また、支持体、ワニスの塗布方法や乾燥条件についても、上述した熱硬化性樹脂組成物におけるものと同様である。
Here, about the kind and usage-amount of an organic solvent, it is the same as that in the thermosetting resin composition mentioned above.
The support and varnish coating method and drying conditions are also the same as those in the above-described thermosetting resin composition.

このようなエポキシ樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムは、60〜230℃での最低粘度が1〜107Pa・sとなるため、電子部品の実装と封止を一括かつ低圧で行うことが可能となる。 Since the sealing resin film of the present invention comprising such an epoxy resin composition has a minimum viscosity of 1 to 10 7 Pa · s at 60 to 230 ° C., the mounting and sealing of electronic components are performed at a low pressure in a lump. Can be performed.

また、このようなエポキシ樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムの厚みは、上記エポキシ樹脂組成物が(F)成分を含まない場合、30〜500μmであるのが好ましく、30〜125μmであるがのより好ましい。
特に薄型化が要求されるような場合には、30〜100μmであるのが好ましい。本発明の封止用樹脂フィルムは、このような範囲においても、十分な物理的・電気的特性を保持することができる。
Further, the thickness of the sealing resin film of the present invention comprising such an epoxy resin composition is preferably 30 to 500 μm, preferably 30 to 125 μm, when the epoxy resin composition does not contain the component (F). However, it is more preferable.
Especially when thinning is required, the thickness is preferably 30 to 100 μm. Even in such a range, the encapsulating resin film of the present invention can maintain sufficient physical and electrical characteristics.

一方、上記エポキシ樹脂組成物が(F)成分を含む場合、得られる本発明の封止用樹脂フィルムの厚みは、30〜500μmであるのが好ましく、30〜125μmであるのがより好ましい。   On the other hand, when the said epoxy resin composition contains (F) component, it is preferable that the thickness of the resin film for sealing of this invention obtained is 30-500 micrometers, and it is more preferable that it is 30-125 micrometers.

更に、このようなエポキシ樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムは、封止した後に硬化させた硬化物が、高周波領域で低誘電率・低誘電正接を有しており、例えば、温度25℃、周波数5GHzの条件で、誘電率4以下、誘電正接0.025以下のレベルとすることができる。また、例えば、(C)成分および(D)成分の配合割合等の制御を通じて、誘電率2.6以下、誘電正接0.005以下のレベルを達成することもできる。   Furthermore, in the sealing resin film of the present invention comprising such an epoxy resin composition, the cured product cured after sealing has a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent in a high frequency region, for example, Under conditions of a temperature of 25 ° C. and a frequency of 5 GHz, a dielectric constant of 4 or less and a dielectric loss tangent of 0.025 or less can be obtained. In addition, for example, a dielectric constant of 2.6 or less and a dielectric loss tangent of 0.005 or less can be achieved through control of the blending ratio of the component (C) and the component (D).

更に、このようなエポキシ樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムは、封止した後に硬化させた硬化物が、低弾性率であり、応力緩和にも寄与することができ、加工上、ハンドリングがしやすい。例えば、動的粘弾性測定による弾性率として、温度25℃で、3.5GPa以下にすることができる。また、例えば、(C)成分および(D)成分の配合割合等の制御を通じて、1.5GPa以下のレベルを達成することもできる。   Furthermore, the encapsulating resin film of the present invention comprising such an epoxy resin composition is a cured product that is cured after sealing, has a low elastic modulus, can contribute to stress relaxation, Easy to handle. For example, the elastic modulus by dynamic viscoelasticity measurement can be 3.5 GPa or less at a temperature of 25 ° C. Further, for example, a level of 1.5 GPa or less can be achieved through control of the blending ratio of the component (C) and the component (D).

更に、このようなエポキシ樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムは、硬化前後の厚みがほぼ均一であるため、硬化後の厚みの均一性に優れたものとなる。   Furthermore, since the sealing resin film of the present invention made of such an epoxy resin composition has a substantially uniform thickness before and after curing, the thickness uniformity after curing is excellent.

本発明においては、このようなエポキシ樹脂組成物からなる本発明の封止用樹脂フィルムの封止した後の硬化条件は、特に限定されないが、例えば、硬化温度を段階的に上昇させることができ、具体的には80℃、100℃、150℃、180℃に段階的に温度を引き上げることができる。また、硬化時間はフィルムの完全な硬化状態を維持する条件とすることができる。   In the present invention, the curing conditions after sealing the sealing resin film of the present invention composed of such an epoxy resin composition are not particularly limited, but for example, the curing temperature can be increased stepwise. Specifically, the temperature can be raised stepwise to 80 ° C., 100 ° C., 150 ° C., and 180 ° C. Further, the curing time can be a condition for maintaining a complete cured state of the film.

本発明の第2の態様に係るモジュールの製造方法(以下、「本発明のモジュール製造方法」ともいう。)は、電子部品を封止してモジュールを得るモジュールの製造方法であって、少なくとも、
配線パターンが形成された基板上に電子部品を設置し、該電子部品を該基板上に固定する部品固定工程と、
上記部品固定工程後に、上記基板および上記電子部品の上に本発明の第1の態様に係る封止用樹脂フィルムを設置するフィルム設置工程と、
上記フィルム設置工程後に、上記封止用樹脂フィルム上に基材を設置し、60〜300℃で加熱しながら、1MPa以下の圧力で、該基材と上記基板とをプレスする低圧加熱プレス工程と、を具備するモジュールの製造方法である。
A method for manufacturing a module according to the second aspect of the present invention (hereinafter also referred to as “module manufacturing method of the present invention”) is a method for manufacturing a module in which an electronic component is sealed to obtain a module.
A component fixing step of installing an electronic component on a substrate on which a wiring pattern is formed and fixing the electronic component on the substrate;
A film installation step of installing the sealing resin film according to the first aspect of the present invention on the substrate and the electronic component after the component fixing step;
After the film installation step, a low-pressure heating press step of setting the base material on the sealing resin film and pressing the base material and the substrate at a pressure of 1 MPa or less while heating at 60 to 300 ° C. The manufacturing method of the module which comprises these.

次に、各工程について、図1を用いて詳述する。
図1は、モジュールの製造方法の実施態様の一例を模式的に説明する断面図である。
Next, each step will be described in detail with reference to FIG.
FIG. 1 is a cross-sectional view schematically illustrating an example of an embodiment of a module manufacturing method.

<部品固定工程>
上記部品固定工程は、配線パターンが形成された基板上に電子部品を設置し、該電子部品を該基板上に固定する工程である。
具体的には、所定の配線パターン(図示せず)が形成された基板1上に電子部品2を設置し、電子部品2を基板1上に固定する工程である(図1(A)参照。)。
<Part fixing process>
The component fixing step is a step of installing an electronic component on a substrate on which a wiring pattern is formed, and fixing the electronic component on the substrate.
Specifically, the electronic component 2 is set on the substrate 1 on which a predetermined wiring pattern (not shown) is formed, and the electronic component 2 is fixed on the substrate 1 (see FIG. 1A). ).

ここで、基板1としては、モジュール(例えば、半導体装置)に用いられる公知の基板を用いることができる。
また、電子部品2としては、モジュール基板に搭載される公知の電子部品を用いることができ、具体的には、例えば、半導体素子(例えば、フィリップチップ)、コンデンサー等を用いるのが好ましい。
更に、固定する方法は特に限定されず、例えば、本発明の第1の態様に係る封止用樹脂フィルムを予め基板上に設置し、電子部品を該封止用樹脂フィルムに押し付ける方法;仮固定用の樹脂を予め基板に設置し、電子部品を該仮固定用の樹脂と接着または粘着させる方法;電子部品のバンプ(突起電極)に予めフラックス材を付着させる方法;等が挙げられる。
Here, as the board | substrate 1, the well-known board | substrate used for a module (for example, semiconductor device) can be used.
Moreover, as the electronic component 2, a known electronic component mounted on a module substrate can be used. Specifically, for example, a semiconductor element (for example, a Philip chip), a capacitor, or the like is preferably used.
Further, the fixing method is not particularly limited. For example, the sealing resin film according to the first aspect of the present invention is previously placed on the substrate, and the electronic component is pressed against the sealing resin film; For example, a method in which an electronic component is preliminarily placed on a substrate and an electronic component is adhered or adhered to the temporary fixing resin; a flux material is adhered in advance to a bump (projection electrode) of the electronic component;

<フィルム設置工程>
上記フィルム設置工程は、上記部品固定工程後に、上記基板および上記電子部品の上に本発明の第1の態様に係る封止用樹脂フィルムを設置する工程である。
具体的には、基板1および基板1上に固定された電子部品2の上部に本発明の封止用樹脂フィルム3を設置する工程である(図1(B)参照。)。
<Film installation process>
The film installation step is a step of installing the sealing resin film according to the first aspect of the present invention on the substrate and the electronic component after the component fixing step.
Specifically, this is a step of placing the sealing resin film 3 of the present invention on the substrate 1 and the electronic component 2 fixed on the substrate 1 (see FIG. 1B).

<低圧加熱プレス工程>
上記低圧加熱プレス工程は、上記フィルム設置工程後に、上記封止用樹脂フィルム上に基材を設置し、60〜300℃で加熱しながら、1MPa以下の圧力で、該基材と上記基板とをプレスする工程である。
具体的には、上記フィルム設置工程後に、上記封止用樹脂フィルム3上に基材4を設置し、上記基材4と基板1とを矢印の方向にプレスする工程である(図1(B)および(C)参照。)。
<Low pressure heating press process>
In the low-pressure heating press step, after the film installation step, the base material is placed on the sealing resin film, and the base material and the substrate are bonded at a pressure of 1 MPa or less while heating at 60 to 300 ° C. It is a step of pressing.
Specifically, after the film installation step, the base material 4 is placed on the sealing resin film 3 and the base material 4 and the substrate 1 are pressed in the direction of the arrow (FIG. 1B ) And (C).)

上記基材4としては、具体的には、例えば、ポリエチレンテレフタラート(PET)等を用いることができる。
また、上記基材4には、後述するように封止用樹脂フィルム3上から取り除くことを考慮して、封止用樹脂フィルム3と接する面に、離型効果のある部材(例えば、テフロンクッション等)が付いているのが好ましい。
Specifically, for example, polyethylene terephthalate (PET) or the like can be used as the substrate 4.
In addition, considering that the base material 4 is removed from the sealing resin film 3 as described later, a member having a releasing effect (for example, a Teflon cushion) is provided on the surface in contact with the sealing resin film 3. Etc.) is preferred.

本発明においては、上記低圧加熱プレス工程において本発明の封止用樹脂フィルムを用いているため、1MPa以下の低圧であっても、電子部品の実装と封止を一括に行うことが可能となる。これは、60〜300℃で加熱することにより、本発明の封止用樹脂フィルムの電子部品間への埋め込み性が良好になるとともに、電子部品の実装もなされるためである。
また、1MPa以下の低圧で封止を行うことが可能となるため、薄型電子部品の封止にも対応することができる。
更に、60〜300℃で加熱により本発明の封止用樹脂フィルムの電子部品間への埋め込み性が良好になるため、電子部品の低背化が可能となる。
In the present invention, since the sealing resin film of the present invention is used in the low-pressure heating press step, it is possible to perform mounting and sealing of electronic components all at a low pressure of 1 MPa or less. . This is because by heating at 60 to 300 ° C., the embedding property of the sealing resin film of the present invention between the electronic components is improved and the electronic components are also mounted.
Further, since sealing can be performed at a low pressure of 1 MPa or less, it is possible to cope with sealing thin electronic components.
Furthermore, since the embedding property between the electronic components of the sealing resin film of the present invention is improved by heating at 60 to 300 ° C., the height of the electronic components can be reduced.

ここで、低圧加熱プレスの条件は、使用する封止用樹脂フィルム3の種類により、60〜300℃の温度範囲、1MPa以下の圧力で適宜、設定することができる。例えば、封止用樹脂フィルムとして上述した熱硬化性樹脂組成物からなるものを用いた場合は、温度150〜300℃、実圧力0.50〜1.00MPaとすることができ、上述したエポキシ樹脂組成物からなるものを用いた場合は、温度60〜230℃、実圧力0.05〜1.00MPaとすることができる。
また、この温度は、電子部品に使用されているバンプ(突起電極)および基板電極の材質(例えば、銅や、銅表面にメッキしたハンダ、金、スズ等)により60〜300℃の範囲内で適宜、設定するのが望ましい。
Here, the conditions of the low-pressure heating press can be appropriately set in a temperature range of 60 to 300 ° C. and a pressure of 1 MPa or less depending on the kind of the sealing resin film 3 to be used. For example, when the above-described thermosetting resin composition is used as the sealing resin film, the temperature can be set to 150 to 300 ° C. and the actual pressure can be set to 0.50 to 1.00 MPa. When the composition is used, the temperature can be 60 to 230 ° C. and the actual pressure 0.05 to 1.00 MPa.
This temperature is in the range of 60 to 300 ° C. depending on the material of bumps (projection electrodes) and substrate electrodes (for example, copper, solder plated on the copper surface, gold, tin, etc.) used in electronic components. It is desirable to set appropriately.

本発明においては、上記低圧加熱プレス工程は、大気圧下で行うこともできるが、減圧下(例えば、10kPa以下)で行うのが好ましく、1kPa以下の減圧下で行うのがより好ましい。   In the present invention, the low-pressure hot pressing step can be performed under atmospheric pressure, but is preferably performed under reduced pressure (for example, 10 kPa or less), and more preferably performed under reduced pressure of 1 kPa or less.

本発明のモジュール製造方法のおいては、上記低圧加熱プレス工程の後に、所定の条件で硬化させ、必要に応じて基材4を取り除くことにより、モジュールを製造することができる(図1(D)参照。)。
ここで、硬化条件は、使用する封止用樹脂フィルム3の種類により、適宜、設定することがでる。例えば、封止用樹脂フィルムとして上述した熱硬化性樹脂組成物からなるものを用いた場合は、180〜200℃で30〜240分間加熱することにより硬化させることができ、上述したエポキシ樹脂組成物からなるものを用いた場合は、180〜200℃で30〜240分間加熱することにより硬化させることができる。
In the module manufacturing method of the present invention, after the low-pressure hot pressing step, the module can be manufactured by curing under predetermined conditions and removing the base material 4 as necessary (FIG. 1D). )reference.).
Here, the curing conditions can be appropriately set depending on the type of the sealing resin film 3 to be used. For example, when the above-described thermosetting resin composition is used as the sealing resin film, it can be cured by heating at 180 to 200 ° C. for 30 to 240 minutes. In the case of using a material consisting of the above, it can be cured by heating at 180 to 200 ° C. for 30 to 240 minutes.

本発明の第3の態様に係るモジュール(以下、「本発明のモジュール」ともいう。)は、本発明の第2の態様に係るモジュールの製造方法により得られるモジュールである。
本発明のモジュールは、上述したように、本発明の封止用樹脂フィルムの封止した後の硬化物が、高周波領域で低誘電率・低誘電正接を有しているため、例えば、温度25℃、周波数5GHzの条件で、誘電率4以下、誘電正接0.025以下のレベルとすることができる。
また、本発明のモジュールは、上述したように、本発明の封止用樹脂フィルムの封止した後の硬化物が、低弾性率であり、応力緩和にも寄与することができ、加工上、ハンドリングがしやすい。例えば、動的粘弾性測定による弾性率として、温度25℃で、3.5GPa以下にすることができる。
The module according to the third aspect of the present invention (hereinafter also referred to as “module of the present invention”) is a module obtained by the method for manufacturing a module according to the second aspect of the present invention.
In the module of the present invention, as described above, the cured product after sealing of the sealing resin film of the present invention has a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent in a high frequency region. Under the conditions of ° C. and a frequency of 5 GHz, the dielectric constant can be 4 or less and the dielectric loss tangent can be 0.025 or less.
In the module of the present invention, as described above, the cured product after sealing of the sealing resin film of the present invention has a low elastic modulus and can contribute to stress relaxation. Easy to handle. For example, the elastic modulus by dynamic viscoelasticity measurement can be 3.5 GPa or less at a temperature of 25 ° C.

本発明の第4の態様に係るモジュール前駆体の製造方法(以下、「本発明のモジュール前駆体の製造方法」ともいう。)は、電子部品を封止してモジュール前駆体を得るモジュール前駆体の製造方法であって、少なくとも、
第1基材上に本発明の第1の態様に係る封止用樹脂フィルムを設置する第1フィルム設置工程と、
上記第1フィルム設置工程後に、上記封止用樹脂フィルム上に電子部品を設置し、該封止用樹脂フィルムにより該電子部品を上記第1基材上に固定する部品固定工程と、
上記部品固定工程後に、上記封止用樹脂フィルムおよび上記電子部品の上に本発明の第1の態様に係る封止用樹脂フィルムを設置する第2フィルム設置工程と、
上記第2フィルム設置工程により設置された上記封止用樹脂フィルム上に第2基材を設置し、60〜230℃で加熱しながら、1MPa以下の圧力で、該第2基材と上記第1基材とをプレスする低圧加熱プレス工程と、を具備するモジュール前駆体の製造方法である。
The module precursor manufacturing method according to the fourth aspect of the present invention (hereinafter, also referred to as “the module precursor manufacturing method of the present invention”) is a module precursor that obtains a module precursor by sealing an electronic component. A manufacturing method of at least
A first film installation step of installing the sealing resin film according to the first aspect of the present invention on the first substrate;
After the first film installation step, an electronic component is installed on the sealing resin film, and the electronic component is fixed on the first base material by the sealing resin film;
After the component fixing step, a second film installation step of installing the sealing resin film according to the first aspect of the present invention on the sealing resin film and the electronic component;
A second base material is placed on the sealing resin film placed by the second film placement step, and heated at 60 to 230 ° C., and at a pressure of 1 MPa or less, the second base material and the first film And a low-pressure heating press process for pressing the substrate.

次に、各工程について、図2を用いて詳述する。
図2は、モジュール前駆体の製造方法の実施態様の一例を模式的に説明する断面図である。
ここで、モジュール前駆体とは、本発明の第1の態様に係る封止用樹脂フィルムによって基材間に電子部品が挟み込まれた構造を有するものをいう。
Next, each step will be described in detail with reference to FIG.
FIG. 2 is a cross-sectional view schematically illustrating an example of an embodiment of a method for producing a module precursor.
Here, the module precursor means one having a structure in which an electronic component is sandwiched between base materials by the sealing resin film according to the first aspect of the present invention.

<第1フィルム設置工程>
上記第1フィルム設置工程は、第1基材上に本発明の第1の態様に係る封止用樹脂フィルム(以下、「第1封止フィルム」ともいう。)を設置する工程である。
具体的には、基材5上に第1封止フィルム6を設置する工程である(図2(A)参照。)。
ここで、上記基材5としては、上記基材4と同様のものを用いることができる。
<First film installation process>
The said 1st film installation process is a process of installing the resin film for sealing which concerns on the 1st aspect of this invention (henceforth a "1st sealing film") on a 1st base material.
Specifically, it is a step of installing the first sealing film 6 on the substrate 5 (see FIG. 2A).
Here, as the base material 5, the same material as the base material 4 can be used.

<部品固定工程>
上記部品固定工程は、上記第1フィルム設置工程後に、上記第1封止フィルム上に電子部品を設置し、該第1封止フィルムにより該電子部品を上記第1基材上に固定する工程である。
具体的には、第1封止フィルム6上に電子部品7を設置し、第1封止フィルム6中に電子部品7の一部が埋め込まれることにより、電子部品7を第1基材5上に固定する工程である(図2(A)(B)参照。)。
<Part fixing process>
The component fixing step is a step of installing an electronic component on the first sealing film after the first film installing step, and fixing the electronic component on the first base material by the first sealing film. is there.
Specifically, the electronic component 7 is installed on the first sealing film 6, and a part of the electronic component 7 is embedded in the first sealing film 6. (See FIGS. 2A and 2B).

<第2フィルム設置工程>
上記第2フィルム設置工程は、上記部品固定工程後に、上記第1封止フィルムおよび上記電子部品の上に本発明の第1の態様に係る封止用樹脂フィルム(以下、「第2封止フィルム」ともいう。)を設置する工程である。
具体的には、第1封止フィルム6および電子部品7上に第2封止フィルム8を設置する工程である(図2(C)参照。)。
<Second film installation process>
In the second film installation step, after the component fixing step, the sealing resin film according to the first aspect of the present invention (hereinafter referred to as “second sealing film”) on the first sealing film and the electronic component. It is also a process of installing.
Specifically, it is a step of installing the second sealing film 8 on the first sealing film 6 and the electronic component 7 (see FIG. 2C).

<低圧加熱プレス工程>
上記低圧加熱プレス工程は、上記第2フィルム設置工程により設置された上記第2封止フィルム上に第2基材を設置し、60〜230℃で加熱しながら、1MPa以下の圧力で、該第2基材と上記第1基材とをプレスする工程である。
具体的には、上記第2封止フィルム8上に第2基材9を設置し、第2基材9と第1基材5とを矢印の方向にプレスする工程である(図2(C)および(D)参照。)。
ここで、第2基材9としては、上記基材4と同様のものを用いることができる。
<Low pressure heating press process>
In the low-pressure heating press step, the second base material is installed on the second sealing film installed in the second film installation step, and heated at 60 to 230 ° C., at a pressure of 1 MPa or less, 2 is a step of pressing the base material and the first base material.
Specifically, the second base material 9 is placed on the second sealing film 8 and the second base material 9 and the first base material 5 are pressed in the direction of the arrow (FIG. 2 (C ) And (D).).
Here, as the second base material 9, the same material as the base material 4 can be used.

ここで、低圧加熱プレスの条件は、使用する封止フィルム6および8の種類により、60〜230℃の温度範囲、1MPa以下の圧力で適宜、設定することができる。例えば、封止フィルムとして上述した熱硬化性樹脂組成物からなるものを用いた場合は、温度60〜230℃、実圧力0.50〜1.00MPaとすることができ、上述したエポキシ樹脂組成物からなるものを用いた場合は、温度60〜230℃、実圧力0.05〜1.00MPaとすることができる。
ここで、この温度範囲は、上述した本発明のモジュール製造方法の低圧加熱プレスの温度範囲(60〜300℃)とは異なり、上述した熱硬化性樹脂組成物の硬化反応や、上述した本発明の封止用樹脂フィルムの電子部品間への埋め込み性によって適宜、設定するのが望ましい。
Here, the conditions of the low-pressure heating press can be appropriately set in a temperature range of 60 to 230 ° C. and a pressure of 1 MPa or less depending on the types of the sealing films 6 and 8 to be used. For example, when using the above-described thermosetting resin composition as the sealing film, the temperature can be set to 60 to 230 ° C. and the actual pressure can be set to 0.50 to 1.00 MPa. In the case of using the above, the temperature can be set to 60 to 230 ° C., and the actual pressure can be set to 0.05 to 1.00 MPa.
Here, this temperature range is different from the temperature range (60 to 300 ° C.) of the low-pressure heating press of the module manufacturing method of the present invention described above, the curing reaction of the thermosetting resin composition described above, and the present invention described above. It is desirable to set appropriately depending on the embedding property of the sealing resin film between the electronic components.

本発明においては、上記低圧加熱プレス工程は、大気圧下で行うこともできるが、減圧下(例えば、10kPa以下)で行うのが好ましく、1kPa以下の減圧下で行うのがより好ましい。   In the present invention, the low-pressure hot pressing step can be performed under atmospheric pressure, but is preferably performed under reduced pressure (for example, 10 kPa or less), and more preferably performed under reduced pressure of 1 kPa or less.

本発明のモジュール前駆体の製造方法においては、上記低圧加熱プレスを施すによりモジュール前駆体を製造することができる(図2(D)および(E)参照。)。この際、モジュールの用途に応じてモジュール前駆体を切断(個片化)することができる(図2(E)参照。)。   In the method for producing a module precursor of the present invention, the module precursor can be produced by applying the low pressure heating press (see FIGS. 2D and 2E). At this time, the module precursor can be cut (divided into pieces) in accordance with the use of the module (see FIG. 2E).

このような本発明のモジュール前駆体の製造方法は、機能や種類、厚みや形状の異なる多数の電子部品を含んだ多機能のモジュール前駆体を容易に製造することができるため非常に有用である。   Such a method for producing a module precursor of the present invention is very useful because a multifunctional module precursor including a large number of electronic components having different functions, types, thicknesses and shapes can be easily produced. .

本発明の第5の態様に係るモジュール前駆体(以下、「本発明のモジュール前駆体」ともいう。)は、本発明の第4の態様に係るモジュール前駆体の製造方法により得られるモジュール前駆体である(図2(F)参照。)。
このような本発明のモジュール前駆体を用いることにより、例えば、図2(D)または(E)に示す第1基材5および第2基材9を取り除き、基板10上に実装することにより、容易にモジュールを製造することができる。
The module precursor according to the fifth aspect of the present invention (hereinafter also referred to as “module precursor of the present invention”) is a module precursor obtained by the method for producing a module precursor according to the fourth aspect of the present invention. (See FIG. 2F).
By using such a module precursor of the present invention, for example, by removing the first base material 5 and the second base material 9 shown in FIG. 2 (D) or (E) and mounting on the substrate 10, Modules can be manufactured easily.

このような本発明のモジュール前駆体は、上述したように個片化することもできるため多様な用途の基板への実装に適用でき、また基板への実装時に接続と封止が同時に形成することができるため非常に有用である。   Since the module precursor of the present invention can be singulated as described above, it can be applied to mounting on a substrate for various purposes, and connection and sealing are simultaneously formed when mounting on the substrate. It is very useful because it can.

以下、実施例を示して、本発明を具体的に説明する。ただし、本発明はこれらに限定されるものではない。   Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples. However, the present invention is not limited to these.

(実施例1〜3、比較例1)
下記表1に示す配合(質量部)で、メチルエチルケトンを溶剤として熱硬化性樹脂組成物のワニスを調製した(固形分約30重量%)。得られたワニスを、支持体(PET)上に、厚み30μmとなるようマイクログラビアコーターで塗布した後、80〜120℃、10分間の条件で乾燥させて、封止用樹脂フィルムを得た。
なお、熱硬化性樹脂組成物の60〜230℃での最低粘度は、ワニスを調製し、乾燥させた後の組成物で測定した。具体的には、昇温速度5℃/min、周波数1Hzの条件で、粘度計(VAR−100、REOLOGICA社製)を用いて測定したところ、それぞれ、下記第1表に示す結果であった。
(Examples 1 to 3, Comparative Example 1)
A varnish of a thermosetting resin composition was prepared with the composition (parts by mass) shown in Table 1 below using methyl ethyl ketone as a solvent (solid content: about 30% by weight). After apply | coating the obtained varnish with a micro gravure coater so that it might become thickness 30 micrometers on a support body (PET), it was dried on 80-120 degreeC and the conditions for 10 minutes, and the resin film for sealing was obtained.
In addition, the minimum viscosity in 60-230 degreeC of a thermosetting resin composition measured the composition after preparing a varnish and drying it. Specifically, measurement was performed using a viscometer (VAR-100, manufactured by REOLOGICA) under the conditions of a temperature rising rate of 5 ° C./min and a frequency of 1 Hz, and the results are shown in Table 1 below.

得られた各封止用樹脂フィルムを、200℃、60分間の条件で硬化させた。
硬化後の各フィルムを40mm×100mmに切り取り、直径約2mmの筒状試験体とした。
各試験体の誘電率(ε)および誘電正接(tanδ)を、空洞共振器を用いて、温度25℃、周波数5GHzで測定した。その結果を第1表に示す。
また、同様の各試験体のガラス転移温度(Tg)および弾性率(GPa)を、動的粘弾性測定(DMA)により、周波数10Hz(引張りモード)で測定した。その結果を表1に示す。
Each obtained resin film for sealing was hardened on 200 degreeC and the conditions for 60 minutes.
Each film after curing was cut into 40 mm × 100 mm to obtain a cylindrical test body having a diameter of about 2 mm.
The dielectric constant (ε) and dielectric loss tangent (tan δ) of each test specimen were measured using a cavity resonator at a temperature of 25 ° C. and a frequency of 5 GHz. The results are shown in Table 1.
Moreover, the glass transition temperature (Tg) and elastic modulus (GPa) of each similar test body were measured at a frequency of 10 Hz (tensile mode) by dynamic viscoelasticity measurement (DMA). The results are shown in Table 1.

Figure 2008218496
Figure 2008218496

上記第1表に示す各組成成分としては、以下に示すものを用いた。
・ビニル化合物A1:OPE−2st(一般式(1)において、R1〜R7が水素であり、−(O−X−O)−が構造式(4)であり、−(Y−O)−が構造式(6)であり、Zがメチレン基であり、cおよびdが1である。)、数平均分子量2200、三菱ガス化学社製
・ビニル化合物A2:OPE−2st(一般式(1)において、R1〜R7が水素であり、−(O−X−O)−が構造式(4)であり、−(Y−O)−が構造式(6)であり、Zがメチレン基であり、cおよびdが1である。)、数平均分子量30000、三菱ガス化学社製
・熱可塑性エラストマーB1:TR2003、JSR社製
As the composition components shown in Table 1, the following components were used.
Vinyl compound A1: OPE-2st (in the general formula (1), R 1 to R 7 are hydrogen, — (O—X—O) — is the structural formula (4), and — (Y—O) -Is structural formula (6), Z is a methylene group, and c and d are 1.), number average molecular weight 2200, manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Inc. Vinyl compound A2: OPE-2st (general formula (1 ), R 1 to R 7 are hydrogen, — (O—X—O) — is structural formula (4), — (Y—O) — is structural formula (6), and Z is methylene. Group, c and d are 1.), number average molecular weight 30000, manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd. Thermoplastic elastomer B1: TR2003, manufactured by JSR

(実施例4および5)
下記表2に示す配合(質量部)で、メチルエチルケトンを溶剤としてエポキシ樹脂組成物のワニスを調製した(固形分約30重量%)。得られたワニスを、支持体(PET)上に、厚み30μmとなるようマイクログラビアコーターで塗布した後、80〜120℃、10分間の条件で乾燥させて、封止用樹脂フィルムを得た。
なお、熱硬化性樹脂組成物の60〜230℃での最低粘度は、ワニスを調製し、乾燥させた後の組成物で測定した。具体的には、昇温速度5℃/min、周波数1Hzの条件で、粘度計(VAR−100、REOLOGICA社製)を用いて測定したところ、それぞれ、下記第2表に示す結果であった。
(Examples 4 and 5)
A varnish of an epoxy resin composition was prepared with a composition (parts by mass) shown in Table 2 below and using methyl ethyl ketone as a solvent (solid content: about 30% by weight). After apply | coating the obtained varnish with a micro gravure coater so that it might become thickness 30 micrometers on a support body (PET), it was dried on 80-120 degreeC and the conditions for 10 minutes, and the resin film for sealing was obtained.
In addition, the minimum viscosity in 60-230 degreeC of a thermosetting resin composition measured the composition after preparing a varnish and drying it. Specifically, measurement was performed using a viscometer (VAR-100, manufactured by REOLOGICA) under the conditions of a heating rate of 5 ° C./min and a frequency of 1 Hz. The results are shown in Table 2 below.

Figure 2008218496
Figure 2008218496

上記第2表に示す各組成成分としては、以下に示すものを用いた。
・エポキシ樹脂C1:フェノール骨格とビフェニル骨格を有するノボラック型樹脂。式(7′)でn=1〜1.2のもの。
・エポキシ樹脂C2:重量平均分子量が39000であり、かつ水酸基を有する2官能型直鎖状エポキシ樹脂。エポキシ当量12000g/当量、数平均分子量14500。
・アセチル化フェノールノボラックD1:(n:m=1:1)
・硬化剤:2−エチル−4−メチルイミダゾール
・成膜補助剤:ジビニルベンゼン(DVB960、新日鉄化学社製)
・開始剤:1,1,3,3−テトラメチルブチルペルオキシ−2−エチルヘキサノアート
・溶剤:エチルメチルケトン
The following components were used as the composition components shown in Table 2 above.
Epoxy resin C1: A novolac resin having a phenol skeleton and a biphenyl skeleton. In the formula (7 '), n = 1 to 1.2.
Epoxy resin C2: a bifunctional linear epoxy resin having a weight average molecular weight of 39000 and having a hydroxyl group. Epoxy equivalent 12000 g / equivalent, number average molecular weight 14500.
Acetylated phenol novolak D1: (n: m = 1: 1)
Curing agent: 2-ethyl-4-methylimidazole Film-forming auxiliary: Divinylbenzene (DVB960, manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.)
・ Initiator: 1,1,3,3-tetramethylbutylperoxy-2-ethylhexanoate ・ Solvent: Ethyl methyl ketone

(実施例6)
得られた封止用樹脂フィルムのうち、実施例2で調製した封止用樹脂フィルムを用いて、電子部品1(Siチップ、t250μm、5mm□)および電子部品2(Siチップ、t125μm、7.5mm□)の封止を行った。
(Example 6)
Among the obtained sealing resin films, using the sealing resin film prepared in Example 2, electronic component 1 (Si chip, t250 μm, 5 mm □) and electronic component 2 (Si chip, t125 μm, 7. 5 mm □) was sealed.

具体的には、まず、テフロンクッション付きPET基材のテフロンクッション表面上に封止用樹脂フィルムを厚さ10μmで設置した後に、180℃下において、該封止用樹脂フィルム上に電子部品1および2を設置し、該封止用樹脂フィルムにより該電子部品をテフロンクッション付きPET基材上に固定した(図2(A)および(B)参照。)。
次に、該封止用樹脂フィルムおよび該電子部品の上に、封止用樹脂フィルムを厚さ135μmで設置し、更にその上にテフロンクッション付き熱盤(基材)を設置した。
その後、高温真空プレス機(北川精機社製)を用い、200℃、プレス圧1MPa、真空度1.0kPaの条件で、60分間、PET基材と熱盤とを真空プレスし、モジュール前駆体を得た(図2(C)および(D)参照。)。
Specifically, first, after placing a sealing resin film with a thickness of 10 μm on the surface of a Teflon cushion of a PET substrate with a Teflon cushion, the electronic component 1 and the sealing resin film are placed on the sealing resin film at 180 ° C. 2 was installed, and the electronic component was fixed on a PET substrate with a Teflon cushion by the sealing resin film (see FIGS. 2A and 2B).
Next, a sealing resin film having a thickness of 135 μm was placed on the sealing resin film and the electronic component, and a heating board (base material) with a Teflon cushion was further placed thereon.
Then, using a high-temperature vacuum press (made by Kitagawa Seiki Co., Ltd.), the PET substrate and the hot plate are vacuum-pressed for 60 minutes under the conditions of 200 ° C., press pressure of 1 MPa, and vacuum degree of 1.0 kPa. Obtained (see FIGS. 2C and 2D).

図1は、モジュールの製造方法の実施態様の一例を模式的に説明する断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view schematically illustrating an example of an embodiment of a module manufacturing method. 図2は、モジュール前駆体の製造方法の実施態様の一例を模式的に説明する断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view schematically illustrating an example of an embodiment of a method for producing a module precursor.

符号の説明Explanation of symbols

1,10 基板
2,7 電子部品
3,封止用樹脂フィルム
4 基材
5 第1基材
6 第1封止フィルム
8 第2封止フィルム
9 第2基材
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,10 Board | substrate 2,7 Electronic component 3, Resin film for sealing 4 Base material 5 1st base material 6 1st sealing film 8 2nd sealing film 9 2nd base material

Claims (19)

配線パターンが形成された基板上に実装される電子部品を封止するための封止用樹脂フィルムであって、
60〜230℃での最低粘度が1〜107Pa・sとなる樹脂組成物からなる封止用樹脂フィルム。
A sealing resin film for sealing an electronic component mounted on a substrate on which a wiring pattern is formed,
A sealing resin film comprising a resin composition having a minimum viscosity of 1 to 10 7 Pa · s at 60 to 230 ° C.
前記樹脂組成物が、
(A)下記式(1)で示されるビニル化合物、ならびに、
(B)ゴムおよび/または熱可塑性エラストマー
を含有する熱硬化性樹脂組成物からなる請求項1に記載の封止用樹脂フィルム。
Figure 2008218496

(式(1)中、R1、R2、R3、R4、R5、R6およびR7は、それぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、アルキル基、ハロゲン化アルキル基またはフェニル基を表し、複数のR1、R2、R3、R4、R5、R6およびR7は、同一であっても異なっていてもよい。
また、−(O−X−O)−は下記式(2)で表される構造であり、−(Y−O)−は下記式(3)で表される繰返し単位であり、Zは酸素原子、窒素原子、硫黄原子、ハロゲン原子を含んでいてもよい炭素数1以上の有機基を表す。
また、aおよびbは、少なくとも一方が0でない0〜300の整数を表し、cおよびdは、それぞれ独立に0または1の整数を表す。)
Figure 2008218496

(式(2)中、R8、R9、R10、R14およびR15は、それぞれ独立にハロゲン原子、炭素数6以下のアルキル基またはフェニル基を表し、R11、R12およびR13は、それぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、炭素数6以下のアルキル基またはフェニル基を表す。
また、式(3)中、R16およびR17は、それぞれ独立にハロゲン原子、炭素数6以下のアルキル基またはフェニル基を表し、R18およびR19は、それぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、炭素数6以下のアルキル基またはフェニル基を表す。)
The resin composition is
(A) a vinyl compound represented by the following formula (1), and
The resin film for sealing according to claim 1, comprising a thermosetting resin composition containing (B) rubber and / or a thermoplastic elastomer.
Figure 2008218496

(In the formula (1), R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 6 and R 7 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group, a halogenated alkyl group or a phenyl group. A plurality of R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 5 , R 6 and R 7 may be the same or different.
-(O-X-O)-is a structure represented by the following formula (2),-(YO)-is a repeating unit represented by the following formula (3), and Z is oxygen. An organic group having 1 or more carbon atoms, which may contain an atom, nitrogen atom, sulfur atom, or halogen atom.
Moreover, a and b represent the integer of 0-300 in which at least one is not 0, and c and d represent the integer of 0 or 1 each independently. )
Figure 2008218496

(In the formula (2), R 8 , R 9 , R 10 , R 14 and R 15 each independently represent a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group, and R 11 , R 12 and R 13 Each independently represents a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms, or a phenyl group.
In the formula (3), R 16 and R 17 each independently represent a halogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group, and R 18 and R 19 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, An alkyl group having 6 or less carbon atoms or a phenyl group is represented. )
前記−(O−X−O)−が、下記式(4)で表される構造であり、
前記−(Y−O)−が、下記式(5)または(6)で表される繰返し単位である請求項2に記載の封止用樹脂フィルム。
Figure 2008218496
The — (O—X—O) — is a structure represented by the following formula (4),
The sealing resin film according to claim 2, wherein the — (YO) — is a repeating unit represented by the following formula (5) or (6).
Figure 2008218496
前記−(Y−O)−が、前記式(6)で表される繰返し単位である、請求項3に記載の封止用樹脂フィルム。   The sealing resin film according to claim 3, wherein the — (YO) — is a repeating unit represented by the formula (6). 前記(B)成分が、スチレン系熱可塑性エラストマーである、請求項2〜4のいずれかに記載の封止用樹脂フィルム。   The sealing resin film according to claim 2, wherein the component (B) is a styrene-based thermoplastic elastomer. 前記(A)成分と前記(B)成分との質量割合((A):(B))が、40:60〜60:40である、請求項2〜5のいずれかに記載の封止用樹脂フィルム。   The sealing ratio according to any one of claims 2 to 5, wherein a mass ratio ((A) :( B)) of the component (A) and the component (B) is 40:60 to 60:40. Resin film. 前記樹脂組成物が、
(C)フェノール骨格とビフェニル骨格を有するノボラック型エポキシ樹脂、および/または、重量平均分子量が10,000〜200,000であって水酸基を有する2官能型直鎖状エポキシ樹脂、ならびに、
(D)フェノール性水酸基の少なくとも一部を脂肪酸でエステル化した変性フェノールノボラック
を含有するエポキシ樹脂組成物からなる請求項1に記載の封止用樹脂フィルム。
The resin composition is
(C) a novolak-type epoxy resin having a phenol skeleton and a biphenyl skeleton, and / or a bifunctional linear epoxy resin having a weight average molecular weight of 10,000 to 200,000 and having a hydroxyl group, and
The resin film for sealing according to claim 1, comprising an epoxy resin composition containing (D) a modified phenol novolak obtained by esterifying at least part of a phenolic hydroxyl group with a fatty acid.
前記(D)成分の含有量が、前記(C)成分100質量部に対して30〜200質量部である、請求項7に記載の封止用樹脂フィルム。   The resin film for sealing according to claim 7, wherein the content of the component (D) is 30 to 200 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the component (C). 前記(C)成分のノボラック型エポキシ樹脂が、下記式(7)で表されるエポキシ樹脂である、請求項7または8に記載の封止用樹脂フィルム。
Figure 2008218496

(式(7)中、nは1〜10の数(平均値)を表す。)
The resin film for sealing according to claim 7 or 8, wherein the novolak type epoxy resin as the component (C) is an epoxy resin represented by the following formula (7).
Figure 2008218496

(In formula (7), n represents a number (average value) of 1 to 10)
前記(C)成分の2官能型直鎖状エポキシ樹脂が、下記式(8)で表されるエポキシ樹脂である、請求項7〜9のいずれかに記載の封止用樹脂フィルム。
Figure 2008218496

(式(8)中、Qは、単結合、炭素数1〜7の炭化水素基、−O−、−S−、−SO2−、−CO−または下記式で表される基を表し、複数のQは、同一であっても異なっていてもよい。R21は、炭素数1〜10の炭化水素基またはハロゲン原子を表し、複数のR21は、同一であっても異なっていてもよい。eは、0〜4の整数を表し、複数のeは、同一であっても異なっていてもよい。nは、25〜500の数(平均値)を表す。)
Figure 2008218496

(式中、R22は、炭素数1〜10の炭化水素基またはハロゲン原子を表し、複数のR22は、同一であっても異なっていてもよい。R23は、水素原子、炭素数1〜10の炭化水素基またはハロゲン原子を表し、fは、0〜5の整数を表す。)
The resin film for sealing according to any one of claims 7 to 9, wherein the bifunctional linear epoxy resin of the component (C) is an epoxy resin represented by the following formula (8).
Figure 2008218496

(In formula (8), Q represents a single bond, a hydrocarbon group having 1 to 7 carbon atoms, —O—, —S—, —SO 2 —, —CO— or a group represented by the following formula: A plurality of Q may be the same or different, and R 21 represents a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms or a halogen atom, and a plurality of R 21 may be the same or different. E represents an integer of 0 to 4, and a plurality of e may be the same or different, and n represents a number (average value) of 25 to 500.
Figure 2008218496

(In the formula, R 22 represents a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms or a halogen atom, and a plurality of R 22 may be the same or different. R 23 is a hydrogen atom, 1 carbon atom. 10 represents a hydrocarbon group of 10 or a halogen atom, and f represents an integer of 0 to 5.)
前記(D)成分が、下記式(9)で表される変性フェノールノボラックである、請求項7〜10のいずれかに記載の封止用樹脂フィルム。
Figure 2008218496

(式(9)中、R24は、炭素数1〜5のアルキル基を表し、複数のR24は、同一であっても異なっていてもよい。R25は、炭素数1〜5のアルキル基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいアラルキル基、アルコキシ基またはハロゲン原子を表し、複数のR25は、同一であっても異なっていてもよい。R26は、炭素数1〜5のアルキル基、置換基を有していてもよいフェニル基、置換基を有していてもよいアラルキル基、アルコキシ基またはハロゲン原子を表し、複数のR26は、同一であっても異なっていてもよい。gは、0〜3の整数を表し、複数のgは、同一であっても異なっていてもよい。hは、0〜3の整数を表し、複数のhは、同一であっても異なっていてもよい。n:mは、1:1〜1.2:1である。)
The resin film for sealing according to any one of claims 7 to 10, wherein the component (D) is a modified phenol novolak represented by the following formula (9).
Figure 2008218496

(In Formula (9), R 24 represents an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and a plurality of R 24 may be the same or different. R 25 is an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. Represents a group, a phenyl group which may have a substituent, an aralkyl group which may have a substituent, an alkoxy group or a halogen atom, and a plurality of R 25 may be the same or different. R 26 represents an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a phenyl group which may have a substituent, an aralkyl group which may have a substituent, an alkoxy group or a halogen atom, and a plurality of R 26 May be the same or different, g represents an integer of 0 to 3, a plurality of g may be the same or different, and h represents an integer of 0 to 3. A plurality of h may be the same or different, and n: m is 1: 1 to 1.2: 1. .)
前記(D)成分が、前記式(9)中のR24がメチル基である、請求項11に記載の封止用樹脂フィルム。 The sealing resin film according to claim 11, wherein the component (D) is such that R 24 in the formula (9) is a methyl group. 前記エポキシ樹脂組成物が、更に(E)イソシアナート化合物を含有する、請求項7〜12のいずれかに記載の封止用樹脂フィルム。   The sealing resin film according to any one of claims 7 to 12, wherein the epoxy resin composition further contains (E) an isocyanate compound. 前記エポキシ樹脂組成物が、更に(F)無機フィラーを含有する、請求項7〜13のいずれかに記載の封止用樹脂フィルム。   The sealing resin film according to claim 7, wherein the epoxy resin composition further contains (F) an inorganic filler. 前記(F)成分の無機フィラーが、平均粒径5μm以下のものである、請求項14に記載の封止用樹脂フィルム。   The sealing resin film according to claim 14, wherein the inorganic filler of the component (F) has an average particle size of 5 μm or less. 電子部品を封止してモジュールを得るモジュールの製造方法であって、少なくとも、
配線パターンが形成された基板上に電子部品を設置し、該電子部品を該基板上に固定する部品固定工程と、
前記部品固定工程後に、前記基板および前記電子部品の上に請求項1〜15のいずれかに記載の封止用樹脂フィルムを設置するフィルム設置工程と、
前記フィルム設置工程後に、前記封止用樹脂フィルム上に基材を設置し、60〜300℃で加熱しながら、1MPa以下の圧力で、該基材と前記基板とをプレスする低圧加熱プレス工程と、を具備するモジュールの製造方法。
A method of manufacturing a module for obtaining a module by sealing an electronic component, at least,
A component fixing step of installing an electronic component on a substrate on which a wiring pattern is formed and fixing the electronic component on the substrate;
A film installation step of installing the sealing resin film according to any one of claims 1 to 15 on the substrate and the electronic component after the component fixing step;
After the film installation step, a low-pressure heating press step of setting the base material on the sealing resin film and pressing the base material and the substrate at a pressure of 1 MPa or less while heating at 60 to 300 ° C. The manufacturing method of the module which comprises these.
請求項16に記載のモジュールの製造方法により得られるモジュール。   The module obtained by the manufacturing method of the module of Claim 16. 電子部品を封止してモジュール前駆体を得るモジュール前駆体の製造方法であって、少なくとも、
第1基材上に請求項1〜15のいずれかに記載の封止用樹脂フィルムを設置する第1フィルム設置工程と、
前記第1フィルム設置工程後に、前記封止用樹脂フィルム上に電子部品を設置し、該封止用樹脂フィルムにより該電子部品を前記第1基材上に固定する部品固定工程と、
前記部品固定工程後に、前記封止用樹脂フィルムおよび前記電子部品の上に請求項1〜15のいずれかに記載の封止用樹脂フィルムを設置する第2フィルム設置工程と、
前記第2フィルム設置工程により設置された前記封止用樹脂フィルム上に第2基材を設置し、60〜230℃で加熱しながら、1MPa以下の圧力で、該第2基材と前記第1基材とをプレスする低圧加熱プレス工程と、を具備するモジュール前駆体の製造方法。
A method for producing a module precursor that encapsulates an electronic component to obtain a module precursor, at least,
A first film installation step of installing the sealing resin film according to any one of claims 1 to 15 on a first substrate;
After the first film installation step, an electronic component is installed on the sealing resin film, and a component fixing step of fixing the electronic component on the first substrate with the sealing resin film;
After the component fixing step, a second film installation step of installing the sealing resin film according to any one of claims 1 to 15 on the sealing resin film and the electronic component;
A second base material is placed on the sealing resin film placed in the second film placement step, and heated at 60 to 230 ° C., at a pressure of 1 MPa or less, and the second base material and the first film A method for producing a module precursor, comprising: a low-pressure heating press step for pressing a substrate.
請求項18に記載のモジュール前駆体の製造方法により得られるモジュール前駆体。   The module precursor obtained by the manufacturing method of the module precursor of Claim 18.
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