JP2008216057A - 電気信号測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】
本発明の電気信号測定装置は、2つの入力端子204a、204bを有し、2つの入力端子の電気信号を測定する測定部200と、2つの入力端子204a、204bと被測定回路に接続される2つの測定端子A、Bとの組み合わせの電路206a、206b、206c、206dに設けられ、電路206a、206b、206c、206dをそれぞれ開閉する複数の開閉スイッチ202a、202b、202c、202dと、を備え、1つの入力端子に接続された2つの開閉スイッチは、連動して切り換わり、互いに開閉が逆転していることを特徴としている。
【選択図】 図1
Description
図1は、本実施形態の電気信号測定装置の概略的な構成と、その動作を説明するための回路図である。上記電気信号測定装置は、測定部200と、開閉スイッチ202と、被測定回路に接続される測定端子A、Bとで構成される。
電力系統の電力量を間接的に計測して電力系統を保護する保護継電器では、ターミナルにテストプラグを挿入することで主回路と計器用変成器との接続を点検または補修することができる。このようなテストプラグは信頼性が高くなくてはならない。従って、本実施形態の電気信号測定装置を適用したテストプラグ試験装置は、テストプラグを試験してその信頼性を高めることを目的とする。以下では、まず、テストプラグ試験装置の全体的な構成を述べ、その後で具体的な動作を説明する。
図8は、テストプラグ14の当接部32間を試験する具体的接続を示した回路図である。かかる図8に示した回路は、本実施形態による電気信号測定装置の回路を適用している。ここでは、テストプラグ14として形状の異なる2つのメーカ(メーカ1またはメーカ2)のテストプラグ14を対象とし、それぞれに対応して設けられた挿入口110に挿入して試験を行う。テストプラグ14が挿入口110に挿入されると、自動的にまたはプラグ切換スイッチ112を通じて意図的に選択されたテストプラグ14側にリレーQ1を切り換える。
全接点開放試験では、まず、一次接点側の当接部32を短絡し、同様に二次接点側の当接部32を短絡して、一次接点側と二次接点側との絶縁を確認する。かかる一度の試験で、一次接点側の当接部32と二次接点側の当接部32のあらゆる組み合わせの絶縁が確認される。次に、一次接点側および二次接点側のそれぞれの当接部32間で絶縁を試験する。このような試験のうち1つの項目でも条件を満たさないとテストプラグ14は不良と判断される。一次接点側および二次接点側ではそれぞれ4つの当接部32が存在するので、その短絡を漏れなく試験するにはそれぞれ6回の短絡試験処理を要する。従って、処理回数は合計13回となる。本実施形態の電気信号測定装置を適用したテストプラグ試験装置100では、1回の処理に0.06secしか要さないので、処理間でリレー切換処理があるにしても2sec以内には試験が完了する。人手を介して慎重に試験した場合、試験完了まで2secより数十倍の時間を要することは言うまでもない。
一次接点全短絡試験では、まず、短絡されている一次接点側を1つの当接部32、例えば(黒)を中心にして(赤)、(白)、(緑)との導通を試験し(処理数3回)、二次側では、それぞれの当接部32間で絶縁を試験する(処理数6回)。また、一次接点側と二次接点側との絶縁は、一次側の任意の当接部32、例えば(黒)と、二次側の各当接部32それぞれと試験することで確認できる(処理数4回)。従って、処理回数は全接点開放試験同様合計13回となり、やはり、2sec以内には試験が完了する。
一次二次接点短絡試験では、まず、それぞれ短絡されている一次接点側当接部32と2次側当接部32との4つの組合せでそれぞれ短絡試験し(処理数4回)、続いて一次側当接部32間の全ての組合せで絶縁を試験する(処理数6回)。二次側間および一次側と二次側との絶縁は、一次側当接部32間の絶縁により網羅される。従って、処理回数は合計10回となり、2sec以内に試験が完了する。
自己診断試験では、テストプラグ試験装置100が上述した全接点開放試験、一次接点全短絡試験、一次二次接点短絡試験を遂行する前に、テストプラグ試験装置100自体が正常動作していることを確認する。テストプラグ14の当接部32に当接する測定端子160からの内部配線が断線または短絡していた場合、テストプラグ試験装置100自体が正常に動作しない。
図13は、テストプラグ試験装置100の具体的な動作を示したフローチャートである。テストプラグ試験装置100の制御部は、まず、初期化処理として自己診断試験を遂行し(S300)、そして、診断結果が導出され(S302)、そのテストプラグ試験装置100が「良」と判断されると、試験待機状態に移行し、「不良」と判断された場合、安全のためテストプラグ試験装置100内のリレーが開放され(S304)、結果表示部122の「装置異常」のLEDが点灯する(S306)。作業者は、かかる「装置異常」のLEDにより装置自体の異常を把握でき、テストプラグ14の試験前に問題箇所を取り除く。
200 測定部
202a、202b、202c、202d 開閉スイッチ
204a、204b 入力端子
206a、206b、206c、206d 電路
A、B 測定端子
Claims (3)
- 2つの入力端子を有し、該2つの入力端子の電気信号を測定する測定部と、
前記2つの入力端子と、被測定回路に接続される2つの測定端子との組み合わせの電路に設けられ、該電路をそれぞれ開閉する複数の開閉スイッチと、
を備え、
1つの前記入力端子に接続された2つの開閉スイッチは、連動して切り換わり、互いに開閉が逆転していることを特徴とする、電気信号測定装置。 - 前記2つの測定端子に電圧を印加する電圧源をさらに備え、
前記測定部は、前記2つの入力端子間の電圧を測定し、
前記2つの入力端子間の電圧が第1所定電圧以下のとき前記被測定回路は短絡していると判断され、第2所定電圧以上のとき前記被測定回路は絶縁していると判断されることを特徴とする、請求項1に記載の電気信号測定装置。 - 前記被測定回路は、CTまたはPT用テストプラグの2つの当接部であることを特徴とする、請求項1または2に記載の電気信号測定装置。
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