JP2008190949A - 荷電状態検出表示機能付きテストプラグ - Google Patents

荷電状態検出表示機能付きテストプラグ Download PDF

Info

Publication number
JP2008190949A
JP2008190949A JP2007024396A JP2007024396A JP2008190949A JP 2008190949 A JP2008190949 A JP 2008190949A JP 2007024396 A JP2007024396 A JP 2007024396A JP 2007024396 A JP2007024396 A JP 2007024396A JP 2008190949 A JP2008190949 A JP 2008190949A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
conductor
plug
test terminal
conductors
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007024396A
Other languages
English (en)
Inventor
Kuniaki Miyaoka
邦明 宮岡
Original Assignee
Chugoku Electric Power Co Inc:The
中国電力株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chugoku Electric Power Co Inc:The, 中国電力株式会社 filed Critical Chugoku Electric Power Co Inc:The
Priority to JP2007024396A priority Critical patent/JP2008190949A/ja
Publication of JP2008190949A publication Critical patent/JP2008190949A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

【課題】テスト端子に装着した際、盤の前面に臨む導体の充電状態を容易に視認し得るテストプラグを提供する。
【解決手段】第1及び第2のテスト端子導体の間への挿入時に前記第1及び第2のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、絶縁突出部25の上面及び下面にそれぞれ配設されるとともに、絶縁支持体22を貫通してその前方に突出させてある第1及び第2のテストプラグ導体26,27と、盤の前面側で接地線を接続し得るよう絶縁支持体22に配設した接地用端子76と、発光部が絶縁支持体22の前面にそれぞれ臨むとともに、第1及び第2のテストプラグ導体26,27と接地用端子76との間にそれぞれ接続されており、第1及び第2のテストプラグ導体26,27の荷電状態に応じて発光部が点灯乃至消灯される発光部とを有する。
【選択図】図1

Description

本発明は荷電状態検出表示機能付きテストプラグに関し、特にリレー盤内に収納されているリレーの動作試験等を前記リレー盤の盤面に配設したテスト端子に前記テストプラグを挿入して行う場合に適用して有用なものである。
図5は従来の変成器及び変流器をテストする場合の回路図である。同図に示すように、変成器02は発電機(図示せず)に接続された母線01の電圧を計測するとともに、変流器03は母線01の電流を計測し得るように構成してある。かかる変成器02及び変流器03の出力側はテスト端子11を介して制御所の電圧・電流計04に接続してある。ここでテスト端子11は電源(活線)側導体である第1のテスト端子導体6及び負荷(非活線)側導体である第2のテスト端子導体7を有しており、通常時には第1及び第2のテスト端子導体6,7が接触して電気的な導通状態を保持している。一方、所定のテストを行う場合には、テストプラグ21をテスト端子11の第1及び第2のテスト端子導体6,7の間に挿入することにより各相における第1及び第2のテスト端子導体6,7間を絶縁するとともに、第1のテスト端子導体6にテストプラグ21の第1のテストプラグ導体26を接触させるとともに、第2のテスト端子導体7にテストプラグ21の第2のテストプラグ導体27を接触させる。
かかる状態で所定のテスト、例えば変成器02乃至変流器03のテストを行う。さらに詳言すると、変成器02のテストを行うときには、テスト端子11に挿入したテストプラグ21において異なる二つの相の第1のテストプラグ導体26間に電圧計05を接続してその間の電圧を測定するとともに、他の全ての組み合わせにおける第1のテストプラグ導体26間において同様の電圧の測定を繰り返す。
一方、変流器03のテストを行うときには、テスト端子11に挿入したテストプラグ21において同一の相の第1及び第2のテストプラグ導体27間に電流計06を接続してその電流を測定するとともに、他の全ての各相において同様の電流の測定を繰り返す。かくして、変成器02及び変流器03で所定の電圧乃至電流が得られているか否かを確認する。
上述の如き変成器02及び変流器03のテストの際に用いるテスト端子11及びテストプラグ21は、電圧用及び電流用で基本的な構造において変るところはない。すなわち、電圧用と電流用とで区別されるテスト端子11に間違って逆のテストプラグ21を挿入しないように挿入時に嵌合される凹部と凸部の形状を変える等、所定の工夫はしてあるが、電気回路を構成する第1及び第2のテスト端子導体6,7や第1及び第2のテストプラグ導体26,27の構造並びにこれらの絶縁構造は何れの場合にも共通の構造としている。
そこで、ここでは、電圧用及び電流用を特に区別することなくテスト端子11及びテストプラグ21の詳細な構造を説明する。
図6はテスト端子11にテストプラグ21を装着する前の状態(通常時の状態)を、また図7はテスト端子11にテストプラグ21を装着した後の状態(試験時の状態)をそれぞれ示している。
両図に示すように、テスト端子11は筐体10、電源側導体である第1のテスト端子導体6及び負荷側導体である第2のテスト端子導体7からなる。これらのうち、筐体10は前面に開口部であるプラグ挿入口8を有して配電盤1に固定された絶縁部材である。第1のテスト端子導体6及び第2のテスト端子導体7は、可撓性を有する導電部材で形成されており、一端部が筐体10に埋設されて外部に臨む端子3,5にそれぞれ接続されるとともに、他端部を筐体10の内周面に当接させてある。また、第1のテスト端子導体6及び第2のテスト端子導体7の中央部は上方乃至下方に突出する一体的な凸部となっており、通常時には図6に示すように所定の弾性力で凸部同士が接触している。かくして、電源側と負荷側とが電気的に接続されている。
ここで、第1のテスト端子導体6、第2のテスト端子導体7及び端子3,5はB,W,Rの各相及びN相に対応させて同一構成のものがそれぞれ4組設けてあり、各端子3には電源側の変成器02又は変流器03(図5参照)が、また各端子5には負荷側である制御所の電圧・電流計04(図5参照)がそれぞれ接続してある。
一方、テストプラグ21は、絶縁支持体22から各相毎に後方に突出した絶縁突出部25と、各絶縁突出部25の上面及び下面に相対向して配設された各一対の活線側導体である第1のテストプラグ導体26及び非活線側導体である第2のテストプラグ導体27を有している。各第1のテストプラグ導体26及び第2のテストプラグ導体27は、相互間の絶縁状態を維持しつつ絶縁支持体22を貫通してその前方に突出させてあり、それぞれが同軸状に形成された4個の端子部23となっている。すなわち、第1のテストプラグ導体26の先端部は円筒状の接続部位31となっており、第2のテストプラグ導体27の先端部は接続部位31を貫通してさらに前方に突出するロッド状の接続部位32となっている。ここで、接続部位31にはナット33を、また接続部位32にはナット35を螺合させてある。また、ナット34はナット33の抜け止めを行うべく第1のテストプラグ導体26の先端に固定してある。
図8はテストプラグ21をその前方から見た斜視図である。同図に示すように、隣接する相間の第1のテストプラグ導体26及び第2のテストプラグ導体27は各相の絶縁突出部25間に介在させた絶縁部材24で絶縁されている。なお、図8中、図6及び図7と同一部分には同一番号を付してある。
上述の如きテストプラグ21は、図7に示すように、所定の試験時等にテスト端子11に装着される。具体的には、テスト端子11のプラグ挿入口8から第1のテスト端子導体6及び第2のテスト端子導体7の間に第1のテストプラグ導体26及び第2のテストプラグ導体27を挿入する。この結果、第1のテスト端子導体6及び第2のテスト端子導体7が弾性変形して第1のテスト端子導体6と第1のテストプラグ導体26とが接触するとともに第2のテスト端子導体7と第2のテストプラグ導体27とが接触する。かくして、第1のテスト端子導体6と第2のテスト端子導体7との間が絶縁され、電源側と負荷側)とが電気的に遮断される。
かかる状態において、例えば変成器02乃至変流器03(図5参照)のテストの際には、電圧計05(図5参照)を第1のテストプラグ導体26の接続部位31間に接続するとともに、電流計06(図5参照)を第1のテストプラグ導体26の接続部位31と第2のテストプラグ導体27の同相の接続部位32に接続して電圧乃至電流を検出する。
図6乃至図8に示すテストプラグ21は、図5に示す変成器02及び変流器03をテストする際のテストプラグ等としてのみならず、電気機器の一種である、例えばシーケンス制御回路の各種のリレーの動作試験をする場合にも適用されている。さらに詳言すると、多種類の前記リレーは他の電気機器とともにリレー盤内に収納されて直流回路である所定のシーケンス制御回路等を形成しているが、その総合動作試験用のテスト端子は、前記テスト端子11とほぼ同様に構成してあり、同様に前記リレー盤の前面に臨んで配設してある。ただ、前記総合動作試験用のテスト端子は、第1及び第2のテスト端子導体の構成が若干異なる。すなわち、上述の電圧用乃至電流用のテスト端子11の第1及び第2のテスト端子導体6,7とは異なり、両者は接触することなく離れている。そして、前記総合動作試験用のテスト端子では、第1及び第2のテスト端子導体が前記シーケンス回路を構成する任意の接点等に接続される。この結果、総合動作試験用のテスト端子における第1及び第2のテスト端子の充電状態は何れも不明であり、正電位、負電位乃至大地電位の何れであるかを外部から認識することはできない。
なお、この種のテストプラグを開示する従来技術として特許文献1を挙げることができる。
特開平09−184862号公報
上述の如く、従来技術に係るテストプラグ21においては、これをテスト端子11等に挿入した際、各テストプラグ導体26,27の充電状態を外部から認識することはできない。ただ、図5に示すテスト回路におけるテストプラグ21の場合、これをテスト端子11に挿入することにより第1のテストプラグ導体26は充電部となり、テストプラグ導体27は非充電部となるのが通常の状態であるので、それぞれの充電状態を予測することはできる。
これに対し、リレー盤内に収納されたシーケンス制御回路等におけるテストプラグ21の場合、回路図等で別途確認しない限りテストプラグ21をリレー盤のテスト端子に挿入した状態で第1及び第2のテストプラグ導体26,27の充電状態を知ることは不可能である。
この結果、テストプラグ21を用いて、リレー等の総合動作試験を行う場合には特に、リレー盤の前面側で、第1及び第2のテストプラグ導体26,27のうちの充電部を非充電部と間違えて導体を接触させたり、間違った結線をして地絡等の事故を生起する虞があった。
また、前記変成器02及び変流器03のテスト回路等の場合でも、テストプラグ21をテスト端子11に挿入した状態で、第1及び第2のテストプラグ導体26,27の充電状態を盤の前面から確認することができれば注意を喚起する意味でも有効である。
本発明は、上記従来技術に鑑み、テスト端子に装着した際、盤の前面に臨む導体の充電状態を容易に視認し得るテストプラグを提供することを目的とする。
上記目的を達成する本発明の第1の態様は、
電気機器を収納する盤の盤面に配設されたテスト端子の一方の端子である複数の第1のテスト端子導体と、これら第1のテスト端子導体に対応させて設けた前記テスト端子の他方の端子である同数の第2のテスト端子導体との間に、前記盤面の前方から挿入して前記第1のテスト端子導体及び第2のテスト端子導体に接続された前記電気機器の試験を行うためのテストプラグであって、
前記第1のテスト端子導体と前記第2のテスト端子導体との間に挿入し得るよう絶縁支持体からそれぞれ後方に突出させた複数の絶縁突出部と、
前記第1のテスト端子導体と前記第2のテスト端子導体との間への挿入時に前記第1のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の上面に配設されるとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第1のテストプラグ導体と、
前記第1のテスト端子導体と前記第2のテスト端子導体との間への挿入時に前記第2のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の下面に配設されて前記第1のテストプラグ導体と対をなすとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第2のテストプラグ導体と、
前記盤の前面側で接地線を接続し得るよう前記絶縁支持体に配設した接地用端子と、
発光面が前記絶縁支持体の前面にそれぞれ臨むとともに、前記第1及び第2のテストプラグ導体と前記接地用端子との間にそれぞれ接続されており、前記第1及び第2のテストプラグ導体の荷電状態に応じて前記発光面が点灯乃至消灯される発光部とを有することを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグにある。
本発明の第2の態様は、
電気機器を収納する盤の盤面に配設されたテスト端子の一方の端子である複数の第1のテスト端子導体と、これら第1のテスト端子導体に対応させて設けた前記テスト端子の他方の端子である同数の第2のテスト端子導体との間に、前記盤面の前方から挿入して前記第1のテスト端子導体及び第2のテスト端子導体に接続された前記電気機器の試験を行うためのテストプラグであって、
前記第1のテスト端子導体と前記第2のテスト端子導体との間に挿入し得るよう絶縁支持体からそれぞれ後方に突出させた複数の絶縁突出部と、
前記第1のテスト端子導体と前記第2のテスト端子導体との間への挿入時に前記第1のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の上面に配設されるとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第1のテストプラグ導体と、
前記第1のテスト端子導体と前記第2のテスト端子導体との間への挿入時に前記第2のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の下面に配設されて前記第1のテストプラグ導体と対をなすとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第2のテストプラグ導体と、
前記絶縁支持体に配設した導電性のプレートと、
前記第1及び第2のテストプラグ導体と前記プレートとの間にそれぞれ接続されて前記第1及び第2のテストプラグ導体の荷電状態を検出する検電手段と、
発光面が前記絶縁支持体の前面にそれぞれ臨むとともに、前記第1及び第2のテストプラグ導体と前記検電手段にそれぞれ接続されており、前記第1及び第2のテストプラグ導体の荷電状態に応じて前記発光面が点灯乃至消灯される発光部とを有することを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグにある。
本発明の第3の態様は、
請求項2に記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
前記検電手段は各発光部に一対一に対応させて同数設けたことを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグ。
本発明の第4の態様は、
上記第2の態様に記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
前記検電手段は、選択スイッチを介して前記第1及び第2のテストプラグ導体及び前記発光部に接続してあり、前記選択スイッチで選択した前記第1乃至第2のテストプラグの荷電状態を検出するとともに、前記選択スイッチで選択した前記第1乃至第2のテストプラグに対応する前記発光部の発光面が前記第1乃至第2のテストプラグ導体の荷電状態に応じて点灯乃至消灯されるように構成したものであることを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグにある。
本発明の第5の態様は、
上記第1乃至第4の態様の何れか一つに記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
前記発光部は、逆並列に接続された一対の発光ダイオードで構成したことを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグにある。
本発明の第6の態様は、
上記第1の態様乃至第5の態様の何れか一つに記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
前記発光部の発光面の発光色を正極乃至負極のそれぞれに固有のものとしたことを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグにある。
上記構成の本発明によれば、荷電状態検出表示機能付きテストプラグをテスト端子に装着した際、第1乃至第2のテストプラグ導体が荷電状態であれば、第1乃至第2のテストプラグ導体に対応させて設けた発光部が点灯されて光る。この結果、テストプラグ導体の荷電状態を容易に視認して把握することができ、荷電部分に接触することによる短絡、感電等の事故を未然に防止することができる。ここで、発光面の位置乃至発行色を正極乃至負極によって区別することにより、同時に充電部の極性も検出し得る。
さらに、荷電されていることを意識し、テーピングやカバーを付ける等、必要な措置を事前に実施する際の手助けともなる。
以下本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。なお、従来技術と同一乃至各実施の形態間で同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。
<第1の実施の形態>
図1は本発明の第1の実施の形態に係るテストプラグを示す図で、(a)はその斜視図、(b)はその正面図である。当該テストプラグはリレー等の総合動作試験を行う場合に適用するものである。そこで、対象とするのが直流電圧の場合である。
図1に示すように、本形態に係るテストプラグ71は、従来技術に係るテストプラグ21に発光面72a,72b,73a,73b,74a,74b,75a,75b、接地用端子76及びこれらに関連する回路を追加したもので、その他の構成は全く同様である。すなわち、テストプラグ71はリレー等の電気機器を収納する盤の盤面に配設されたテスト端子に挿入され、その一方の端子である複数の第1のテスト端子導体乃至他方の端子である同数の第2のテスト端子導体に接触する。かくして、前記テスト端子の第1及び第2のテスト端子導体を介してリレー等の電気機器の試験を行うことができるようになっている。ここで、第1及び第2のテスト端子導体を介して接続される接点等は、正電位、負電位乃至接地電位の何れかとなっている。
一方、各発光面(72a,72b)乃至(75a,75b)は、第1及び第2のテストプラグ導体26,27の各対に対応して絶縁支持体22の前面に臨んで、各端子部23の周囲にそれぞれ配設されている。同様に、接地用端子76も大地に接地するための接地線77を接続し得るよう絶縁支持体22の前面に配設されている。
図2は図1に示すテストプラグ71の等価回路を示す回路図である。同図に示すように、発光部A,Bは4組の第1及び第2のテストプラグ導体26,27に対応させてそれぞれ設けてあり、第1及び第2のテストプラグ導体26,27と接地用端子76との間に抵抗R1,R1を介してそれぞれ接続してある。ここで、各発光部A,Bは逆並列に接続した発光ダイオードD1,D2をそれぞれ有しており、発光ダイオードD1,D2の発光面が各発光部A,Bの発光面(72a,72b)乃至(75a,75b)となっている。
リレー盤81の内部には多種類のリレー等の電気機器が収納してあり、そのシーケンス制御回路を構成する接点等が第1及び第2のテスト端子導体86,87に接続してある。したがって、リレー盤81の前面に臨んで配設してある第1及び第2のテスト端子導体86,87は前記接点等を介して正電位、負電位乃至接地電位の何れかの電位となっている。そこで、テストプラグ71を挿入することにより第1及び第2のテスト端子導体86,87に第1及び第2のテストプラグ導体26,27をそれぞれ接触させた場合、第1及び第2のテストプラグ導体26,27の電位は第1及び第2のテスト端子導体86,87の電位を反映したものとなる。
したがって、接地用端子76を介して接地線77により接地した状態で、テストプラグ71の第1及び第2のテストプラグ導体26,27を第1及び第2のテスト端子導体86,87に接触させた場合、第1及び第2のテストプラグ導体26,27の充電状態は発光部A,Bの点灯乃至消灯状態として反映される。すなわち、第1のテスト端子導体86が正電位の場合には、発光部Aの発光ダイオードD1が点灯し、負電位の場合には発光部Aの発光ダイオードD2が点灯する。同様に、第2のテスト端子導体87が正電位の場合には、発光部Bの発光ダイオードD1が点灯し、負電位の場合には発光部Bの発光ダイオードD2が点灯する。さらに、接地電位となっているときには発光部A,Bの発光ダイオードD1,D2は何れも消灯されたままとなる。ここで、発光ダイオードD1,D2の発光色を、例えば一方を赤、他方を緑としておけば充電の有無のみならず、正負何れの極性であるかを容易に視認し得る。
<第2の実施の形態>
図3は本発明の第2の実施の形態に係るテストプラグを示す斜視図である。本形態も直流電圧の検出を目的とするリレー等の総合動作試験を行う場合に適用するテストプラグである。
図3に示すように、本形態に係るテストプラグ91は、絶縁支持体22の側面に導電性のプレート92を配設してある。このプレート92は当該テストプラグ91をテスト端子に挿入する際に作業者が容易に掴み得るような位置に配設してある。その他の外形的な構成は図1に示す第1の実施の形態と同様である。
図4は図3に示すテストプラグ91の等価回路を示す回路図である。同図に示すように、4組の第1及び第2のテストプラグ導体26,27とプレート92との間には4組の検電回路93,94が静電容量C1,C2を介してそれぞれ接続してあり、各発光部A,Bは対応する各検電回路93,94にそれぞれ接続してある。ここで、検電回路93,94は作業者95がプレート92を掴むことにより大地との間で静電容量C1,C2及び人体を介して静電結合される第1及び第2のテストプラグ導体26,27の充電状態を検出するもので、交流電圧のみならず直流電圧の検電も可能な構造となっている。
したがって、作業者がプレート92を掴んだ状態でテストプラグ91をテスト端子に挿入して第1及び第2のテストプラグ導体26,27を第1及び第2のテスト端子導体86,87に接触させた場合、第1及び第2のテストプラグ導体26,27の充電状態は発光部A,Bの点灯乃至消灯状態として反映される。すなわち、第1のテスト端子導体86が正電位の場合には、発光部Aの発光ダイオードD1が点灯し、負電位の場合には発光部Aの発光ダイオードD2が点灯する。同様に、第2のテスト端子導体87が正電位の場合には、発光部Bの発光ダイオードD1が点灯し、負電位の場合には発光部Bの発光ダイオードD2が点灯する。さらに、接地電位となっているときには発光部A,Bの発光ダイオードD1,D2は何れも消灯されたままとなる。ここで、発光ダイオードD1,D2の発光色を、例えば一方を赤、他方を緑としておけば充電の有無のみならず、正負何れの極性であるかを容易に視認し得る。
なお、本形態に係るテストプラグ91は交流電圧の検電も可能であるので、例えば図5に示すような変成器02乃至変流器03のテスト回路に適用するものとしても利用することができる。すなわち、従来技術に係るテストプラグ21の代わりにテスト端子11に挿入することにより、荷電状態を視認し得るので、感電、短絡に関する作業者95の意識レベルが上がり、その分ヒューマンエラーを有効に防止し得る。
<他の実施の形態>
第2の実施の形態においては検電回路93,94を各テストプラグ導体26,27に対して各1個づつ対応させて設けたが、これは各テストプラグ導体26,27とプレート92との間に一組の検電回路93,94を配設するとともに、検電回路93,94に接続するテストプラグ導体26,27及び発光部A,Bを選択スイッチにより順次切替えるように構成することで同様の機能を実現できる。この場合には、選択スイッチが新たに必要になるが、検電回路93,94は一組用意すれば足りる。
本発明は電力設備の保安に関する技術乃至これらの機器の製造・販売に関連する産業分野で有効に利用し得る。
本発明の第1の実施の形態に係るテストプラグを示す図で、(a)はその斜視図、(b)はその正面図である。 図1の等価回路を示す回路図である。 本発明の第2の実施の形態に係るテストプラグを示す斜視図である。 図3の等価回路を示す回路図である。 挿入式のテストプラグ及びテスト端子を有する変成器及び変流器のテスト回路を示す回路図である。 従来技術に係るテストプラグをテスト端子に装着する前の状態(通常時の状態)で示す断面図である。 従来技術に係るテストプラグをテスト端子に装着した後の状態(通常時の状態)で示す断面図である。 従来技術に係るテストプラグを示す斜視図である。
符号の説明
D1,D2 発光ダイオード
A,B 発光部
22 絶縁支持体
25 絶縁突出部
26,27 テストプラグ導体
71,91 テストプラグ
72a乃至75b 発光面
76 接地用端子
77 接地線
81 リレー盤
86,87 テスト端子導体
92 プレート
93,94 検電回路

Claims (6)

  1. 電気機器を収納する盤の盤面に配設されたテスト端子の一方の端子である複数の第1のテスト端子導体と、これら第1のテスト端子導体に対応させて設けた前記テスト端子の他方の端子である同数の第2のテスト端子導体との間に、前記盤面の前方から挿入して前記第1のテスト端子導体及び第2のテスト端子導体に接続された前記電気機器の試験を行うためのテストプラグであって、
    前記第1のテスト端子導体と前記第2のテスト端子導体との間に挿入し得るよう絶縁支持体からそれぞれ後方に突出させた複数の絶縁突出部と、
    前記第1のテスト端子導体と前記第2のテスト端子導体との間への挿入時に前記第1のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の上面に配設されるとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第1のテストプラグ導体と、
    前記第1のテスト端子導体と前記第2のテスト端子導体との間への挿入時に前記第2のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の下面に配設されて前記第1のテストプラグ導体と対をなすとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第2のテストプラグ導体と、
    前記盤の前面側で接地線を接続し得るよう前記絶縁支持体に配設した接地用端子と、
    発光面が前記絶縁支持体の前面にそれぞれ臨むとともに、前記第1及び第2のテストプラグ導体と前記接地用端子との間にそれぞれ接続されており、前記第1及び第2のテストプラグ導体の荷電状態に応じて前記発光面が点灯乃至消灯される発光部とを有することを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグ。
  2. 電気機器を収納する盤の盤面に配設されたテスト端子の一方の端子である複数の第1のテスト端子導体と、これら第1のテスト端子導体に対応させて設けた前記テスト端子の他方の端子である同数の第2のテスト端子導体との間に、前記盤面の前方から挿入して前記第1のテスト端子導体及び第2のテスト端子導体に接続された前記電気機器の試験を行うためのテストプラグであって、
    前記第1のテスト端子導体と前記第2のテスト端子導体との間に挿入し得るよう絶縁支持体からそれぞれ後方に突出させた複数の絶縁突出部と、
    前記第1のテスト端子導体と前記第2のテスト端子導体との間への挿入時に前記第1のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の上面に配設されるとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第1のテストプラグ導体と、
    前記第1のテスト端子導体と前記第2のテスト端子導体との間への挿入時に前記第2のテスト端子導体にそれぞれ接触し得るよう、前記絶縁突出部の下面に配設されて前記第1のテストプラグ導体と対をなすとともに、前記絶縁支持体を貫通してその前方に突出させてある第2のテストプラグ導体と、
    前記絶縁支持体に配設した導電性のプレートと、
    前記第1及び第2のテストプラグ導体と前記プレートとの間にそれぞれ接続されて前記第1及び第2のテストプラグ導体の荷電状態を検出する検電手段と、
    発光面が前記絶縁支持体の前面にそれぞれ臨むとともに、前記第1及び第2のテストプラグ導体と前記検電手段にそれぞれ接続されており、前記第1及び第2のテストプラグ導体の荷電状態に応じて前記発光面が点灯乃至消灯される発光部とを有することを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグ。
  3. 請求項2に記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
    前記検電手段は各発光部に一対一に対応させて同数設けたことを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグ。
  4. 請求項2に記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
    前記検電手段は、選択スイッチを介して前記第1及び第2のテストプラグ導体及び前記発光部に接続してあり、前記選択スイッチで選択した前記第1乃至第2のテストプラグの荷電状態を検出するとともに、前記選択スイッチで選択した前記第1乃至第2のテストプラグに対応する前記発光部の発光面が前記第1乃至第2のテストプラグ導体の荷電状態に応じて点灯乃至消灯されるように構成したものであることを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグ。
  5. 請求項1乃至請求項4の何れか一つに記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
    前記発光部は、逆並列に接続された一対の発光ダイオードで構成したことを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグ。
  6. 請求項1乃至請求項5の何れか一つに記載する荷電状態検出表示機能付きテストプラグにおいて、
    前記発光部の発光面の発光色を正極乃至負極のそれぞれに固有のものとしたことを特徴とする荷電状態検出表示機能付きテストプラグ。
JP2007024396A 2007-02-02 2007-02-02 荷電状態検出表示機能付きテストプラグ Pending JP2008190949A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007024396A JP2008190949A (ja) 2007-02-02 2007-02-02 荷電状態検出表示機能付きテストプラグ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007024396A JP2008190949A (ja) 2007-02-02 2007-02-02 荷電状態検出表示機能付きテストプラグ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008190949A true JP2008190949A (ja) 2008-08-21

Family

ID=39751195

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007024396A Pending JP2008190949A (ja) 2007-02-02 2007-02-02 荷電状態検出表示機能付きテストプラグ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008190949A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012050182A (ja) * 2010-08-24 2012-03-08 Chugoku Electric Power Co Inc:The 変流器二次側開放保護回路、電気盤及びテストプラグ
CN105044396A (zh) * 2015-07-23 2015-11-11 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 一种接地线中间接头
KR102018903B1 (ko) * 2019-07-01 2019-09-05 주식회사 피디엔에스 과전압 방지장치가 구비된 테스트 플러그
CN110456113A (zh) * 2019-09-18 2019-11-15 云南电网有限责任公司电力科学研究院 一种插拔式电流本质安全端子
WO2020012625A1 (ja) * 2018-07-13 2020-01-16 三菱電機株式会社 電子式遮断器およびブレーカテスタ

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012050182A (ja) * 2010-08-24 2012-03-08 Chugoku Electric Power Co Inc:The 変流器二次側開放保護回路、電気盤及びテストプラグ
CN105044396A (zh) * 2015-07-23 2015-11-11 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 一种接地线中间接头
WO2020012625A1 (ja) * 2018-07-13 2020-01-16 三菱電機株式会社 電子式遮断器およびブレーカテスタ
KR102018903B1 (ko) * 2019-07-01 2019-09-05 주식회사 피디엔에스 과전압 방지장치가 구비된 테스트 플러그
CN110456113A (zh) * 2019-09-18 2019-11-15 云南电网有限责任公司电力科学研究院 一种插拔式电流本质安全端子
CN110456113B (zh) * 2019-09-18 2021-10-08 云南电网有限责任公司电力科学研究院 一种插拔式电流本质安全端子

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8339270B2 (en) Electrical ground protection device, circuit tester and method of circuit condition detection
CN103181030B (zh) 电气穿墙端子
JP2008190949A (ja) 荷電状態検出表示機能付きテストプラグ
CN100464196C (zh) 单相插头式电源检测仪
JP5403776B1 (ja) 屋内配線の接続不良等検出装置、及びこれを用いた接続不良等判定方法
US10088500B2 (en) Combination test device
JP4930106B2 (ja) 電気信号測定装置
JP5159201B2 (ja) テストプラグの試験装置
JP5796219B2 (ja) 給電制御装置
JP5250789B2 (ja) 2極回路遮断器
JP2008180680A (ja) 測定用アダプタ
JP5735748B2 (ja) Pct導通チェッカー及び導通チェック方法
JP2017096830A (ja) コネクタ
JP2008017674A (ja) テストプラグ
KR20170069724A (ko) 진공 인터럽터의 진공도 측정장치
JP2004132727A (ja) インサーキットテスタ
JP5834187B2 (ja) 給電制御装置
JP5834186B2 (ja) 給電制御装置
KR20160118742A (ko) 인체 전위 측정장치
JP2020193931A (ja) 検電器チェッカー
US10921350B2 (en) Voltage testing system
JP6875197B2 (ja) 導通チェッカー
JP2009257930A (ja) 測定器
JP5335008B2 (ja) トリップロック端子用電圧計
JP6577303B2 (ja) ソケット