JP2008198694A - 受光装置 - Google Patents
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 317
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 192
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims abstract description 14
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 claims abstract description 12
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 19
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 239000011800 void material Substances 0.000 abstract 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 61
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 61
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- 238000005549 size reduction Methods 0.000 description 1
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 1
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- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
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Abstract
【解決手段】受光素子と、信号処理回路部3を構成する複数の回路素子(MOSトランジスタ30等)と、受光素子または各回路素子に接続された接続用導体32とを備えると共に、所定の機能層として機能する第2金属層15(第1導体層)が絶縁体17を介して回路素子の上方に形成され、第2金属層15は、回路素子における所定の機能部(ゲート31)の上方に位置する遮光用導体部51(第1導体部)と、接続用導体32として機能する遮光用導体部52(第2導体部)とを備えて構成され、遮光用導体部51は、隣接する遮光用導体部52に対して第2金属層15の層形成面においてスリット53(間隙)を有するように形成されている。
【選択図】図3
Description
2 受光部
3 信号処理回路部
11 シリコン基板
12 第1回路素子形成層
13 第2回路素子形成層
14 第1金属層
15 第2金属層
16 第3金属層
17 絶縁体
21〜26 受光素子
30 MOSトランジスタ
31 ゲート
32 ドレイン
33 ソース
34 接続用導体
51,51a,51b,52,61,61a〜61c,62,65 遮光用導体部
53,53a,63,63a スリット
C1a,C1b,C2a,C2b 浮遊容量
Claims (5)
- 受光素子と、信号処理回路部を構成する複数の回路素子と、前記受光素子または前記各回路素子に接続された接続用導体とを備えると共に、所定の機能層として機能する第1導体層が絶縁体を介して前記回路素子の上方に形成され、
前記第1導体層は、前記回路素子における所定の機能部の上方に位置する第1導体部と、前記接続用導体として機能する第2導体部とを備えて構成され、当該第1導体部は、隣接する当該第2導体部に対して当該第1導体層の層形成面において間隙を有するように形成されている受光装置。 - 前記第1導体部は、前記回路素子を構成する複数の回路素子形成層のうちの当該受光装置の厚み方向において前記第1導体層に最も近い当該回路素子形成層で構成された前記機能部の上方に形成されている請求項1記載の受光装置。
- 前記第1導体層の上に絶縁体を介して第2導体層が形成され、
前記第1導体層は、前記回路素子に対する光の照射を規制する前記機能層としての第1遮光層を構成し、
前記第2導体層は、前記第1導体部と前記第2導体部との間の前記間隙を覆って前記回路素子に対する光の照射を規制する第2遮光層として機能する請求項1または2記載の受光装置。 - 前記第2導体層は、前記第1導体部の上方に位置する第3導体部と、前記接続用導体として機能する第4導体部とを備えて構成され、当該第3導体部は、隣接する当該第4導体部に対して当該第2導体層の層形成面において間隙を有するように形成されると共に、当該第3導体部および当該第4導体部のいずれかの導体部が前記第1導体部と前記第2導体部と間の前記第1導体層における前記間隙を覆って前記光の照射を規制する請求項3記載の受光装置。
- 前記各回路素子における各々の前記機能部の上方には、間隙を介して互いに分離された前記第1導体部がそれぞれ1つずつ形成されている請求項1から4のいずれかに記載の受光素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007030129A JP2008198694A (ja) | 2007-02-09 | 2007-02-09 | 受光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007030129A JP2008198694A (ja) | 2007-02-09 | 2007-02-09 | 受光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008198694A true JP2008198694A (ja) | 2008-08-28 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007030129A Pending JP2008198694A (ja) | 2007-02-09 | 2007-02-09 | 受光装置 |
Country Status (1)
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---|---|
JP (1) | JP2008198694A (ja) |
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