JP2008172054A - 半導体封止用樹脂組成物及び半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 (A)中性子減速材、(B)100μm以上の粒子が1%以下である中性子吸収材を含むことを特徴とする半導体封止用樹脂組成物、より好ましくは、前記(A)中性子減速材が(A1)エポキシ樹脂、及び/又は(DA2)フェノール系樹脂であり、前記(B)100μm以上の粒子が1%以下である中性子吸収材が(B1)ホウ素化合物、(B2)カドミウム化合物、及び(B3)サマリウム化合物のから選ばれる1種以上である半導体封止用樹脂組成物。
【選択図】 なし
Description
高エネルギー中性子はMeVレベルの高いエネルギーを有しており、高エネルギー中性子が半導体素子を構成するシリコン原子核と衝突すると原子核が壊れて、α線といった荷電粒子を生じることがある。これらはU、Thなどの放射性元素由来のα線より高いエネルギーをもち電子−正孔対が10倍程度多く発生する。書き換えられるメモリセルの数も多くなり、放射性元素由来のα線より深刻なソフトエラーが発生する。高エネルギー中性子は物質透過性が高く、完全な遮蔽は困難である。そこでエラー対策は材料、デバイス、機器、ソフトウエアの各レベルで行ない機器としてエラーが発生しなければよいとされている。材料としての半導体封止用樹脂組成物にも高エネルギー中性子遮蔽対策を施したものが求められている。
[1] (A)中性子減速材、(B)100μm以上の粒子が1%以下である中性子吸収材を含むことを特徴とする半導体封止用樹脂組成物、
[2] 前記(A)中性子減速材が(A1)エポキシ樹脂及び/又は(A2)フェノール系樹脂である第[1]項記載の半導体封止用樹脂組成物、
[3] 前記(B)100μm以上の粒子が1%以下である中性子吸収材が(B1)ホウ素化合物、(B2)カドミウム化合物及び(B3)サマリウム化合物から選ばれる1種以上である第[1]項又は第[2]項記載の半導体封止用樹脂組成物、
[4] 更に(C)硬化促進剤、(D)前記(B)成分以外の無機充填材を含む第[1]項ないし第[3]項のいずれかに記載の半導体封止用樹脂組成物、
[5] 第[1]項ないし第[4]項のいずれかに記載の半導体封止用樹脂組成物を用いて半導体素子を封止してなることを特徴とする半導体装置、
である。
以下、本発明について詳細に説明する。
エポキシ樹脂(A1)とフェノール系樹脂(A2)の配合量としては、全エポキシ樹脂のエポキシ基数(EP)と全フェノール系樹脂のフェノール性水酸基数(OH)の比(EP/OH)で0.8〜1.3とするのが好ましい。
本発明の半導体装置の形態としては、特に限定されないが、例えば、デュアル・インライン・パッケージ(DIP)、プラスチック・リード付きチップ・キャリヤ(PLCC)、クワッド・フラット・パッケージ(QFP)、スモール・アウトライン・パッケージ(SOP)、スモール・アウトライン・Jリード・パッケージ(SOJ)、薄型スモール・アウトライン・パッケージ(TSOP)、薄型クワッド・フラット・パッケージ(TQFP)、テープ・キャリア・パッケージ(TCP)、ボール・グリッド・アレイ(BGA)、チップ・サイズ・パッケージ(CSP)等が挙げられる。
上記トランスファーモールドなどの成形方法で封止された半導体装置は、そのまま、或いは80℃〜200℃程度の温度で、10分〜10時間程度の時間をかけて完全硬化させた後、電子機器等に搭載される。
なお、実施例、及び比較例で用いた中性子減速材(A)であるエポキシ樹脂(A1)、フェノール系樹脂(A2)、中性子吸収材(B)であるホウ素化合物(B1)、カドミウム化合物(B2)、サマリウム化合物(B3)の内容を以下にまとめて示す。
エポキシ樹脂2:ビフェニル型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製、YX−4000、エポキシ当量190、融点105℃)
フェノール系樹脂1:フェノールノボラック樹脂(住友ベークライト(株)製、PR−HF−3、水酸基当量104、軟化点80℃)
フェノール系樹脂2:フェノールアラルキル樹脂(三井化学(株)製、XLC−4L、水酸基当量168、軟化点62℃)
酸化ホウ素2(関東化学株式会社製、酸化ホウ素(特級)。主成分:B2O3、平均粒径13.2μm、100μm以上の粒子の割合:2.1%)
ホウ酸亜鉛1(関東化学株式会社製、ホウ酸亜鉛(1級)を55μmの篩に掛けて粒度調整したもの。主成分:2ZnO・3B2O3、平均粒径8.4μm、100μm以上の粒子の割合:0.20%)
ホウ酸亜鉛2(関東化学株式会社製、ホウ酸亜鉛(1級)。主成分:2ZnO・3B2O3、平均粒径12.1μm、100μm以上の粒子の割合:1.3%)
酸化カドミウム(シグマ・アルドリッチ・ジャパン株式会社製、酸化カドミウム(>99.5%)を55μmの篩に掛けて粒度を調整したもの。主成分:CdO、平均粒径0.8μm、100μm以上の粒子の割合:0.02%)
硫化サマリウム(三津和化学薬品株式会社製、硫化サマリウム−200メッシュ品を75μmの篩に掛けて粒度を調整したもの。主成分:Sm2S3、平均粒径25.4μm、100μm以上の粒子の割合:0.75%)
エポキシ樹脂1 12.33重量%
フェノール系樹脂1 6.47重量%
酸化ホウ素1 10.00重量%
トリフェニルホスフィン(以下、TPPという) 0.30重量%
溶融球状シリカ(平均粒径26.5μm) 70.00重量%
γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン(以下、エポキシシランという)
0.20重量%
カーボンブラック 0.30重量%
カルナバワックス 0.40重量%
を常温でミキサーを用いて混合し、70〜100℃でロール混練し、冷却後粉砕して半導体封止用樹脂組成物を得た。得られた半導体封止用樹脂組成物を以下の方法で評価した。結果を表1に示す。
表1の配合に従い、実施例1と同様にして半導体封止用樹脂組成物を得、実施例1と同様にして評価した。結果を表1に示す。
一方、(B)100μm以上の粒子が1%以下である中性子吸収材を用いていない比較例1、3では、充分な中性子遮蔽効果が得られなかった。また、(B)100μm以上の粒子が1%以下である中性子吸収材の代わりに100μm以上の粒子が1%を超える中性子吸収材を用いた比較例2、4では、金線流れ率が劣る結果となった。
2 ダイボンド材硬化体
3 ダイパッド
4 ワイヤ
5 リード
6 封止用樹脂組成物の硬化体
Claims (5)
- (A)中性子減速材、(B)100μm以上の粒子が1%以下である中性子吸収材を含むことを特徴とする半導体封止用樹脂組成物。
- 前記(A)中性子減速材が(A1)エポキシ樹脂及び/又は(A2)フェノール系樹脂である請求項1記載の半導体封止用樹脂組成物。
- 前記(B)100μm以上の粒子が1%以下である中性子吸収材が(B1)ホウ素化合物、(B2)カドミウム化合物及び(B3)サマリウム化合物から選ばれる1種以上である請求項1又は請求項2記載の半導体封止用樹脂組成物。
- 更に(C)硬化促進剤、(D)前記(B)成分以外の無機充填材を含む請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の半導体封止用樹脂組成物。
- 請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の半導体封止用樹脂組成物を用いて半導体素子を封止してなることを特徴とする半導体装置。
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A521 | Written amendment |
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A02 | Decision of refusal |
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