JP2008171835A - レーザ誘導光配線装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 LSIチップ上の配線に適用することができ、特性再現性や信頼性の向上を図る。
【解決手段】 レーザ誘導光配線装置であって、基板11上にループ状光導波路からなるリング光共振器13を設け、該リング光共振器13中に少なくとも2つの光利得部18を設け、各光利得部18を励起してリング光共振器13と光利得部18からなるレーザ発振器をレーザ発振可能にすると共に、入力信号により各光利得部18の少なくとも1つを利得変化させてリング光共振器13の光経路利得を切り替えてレーザ発振器のレーザ発振状態を変化させ、該レーザ発振状態の変化を各光利得部18のうちの利得変化させたもの以外で検出して出力信号を得る。
【選択図】 図2

Description

本発明は、LSIチップ等の配線を光で行うオンチップ光配線技術に係り、特に光配線をレーザ共振器によるデジタル的な動作で実現したレーザ誘導光配線装置に関する。
バイポーラトランジスタや電界効果トランジスタ等の電子デバイスの性能向上により、大規模集積回路(LSI)の飛躍的な動作速度向上が図られてきている。ところが、トランジスタの微細化による性能向上の一方で、それを接続する電気配線は微細化により配線抵抗や配線間容量の増大が深刻な問題となり、これがLSI性能向上のボトルネックになりつつある。
このような電気配線の問題を鑑み、LSI内を光で接続する光配線LSIが幾つか提案されている(例えば、特許文献1参照)。光配線は、直流から100GHz以上の周波数で損失の周波数依存性が殆ど無く、配線路の電磁障害なども無いため、数10Gbps以上の配線が容易に実現できる。
しかしながら、特許文献1のような従来技術は、莫大な数の配線を必要とするLSIに適用するには再現性や信頼性が桁違いに低いという問題があった。例えば、LSI配線の最上層(グローバル配線)だけに光を適用する場合を想定しても、1つのLSIチップで数100本以上の配線を搭載することも珍しくない。これは即ち、LSIが動作するだけでも数100本以上の光配線を1本の不良も無く動作させることが必要であり、LSIの製造歩留まりまで考えると数万本〜数十万本の光配線を製作して、配線不良を皆無にするだけの再現性と信頼性が必要ということを意味する。従って、LSI用の光配線は個々の配線距離は短いものの再現性や信頼性が極めて高い必要があり、そのために構成が極めてシンプルであることと、高密度集積のため極限的小型化が達成可能なことが必要となる。
従来の光配線は、基本的に発光素子、光導波路、受光素子が必須の要素となっており、これらの要素は動作原理、材料、構造、加工技術などが異なり、実現のために種々の材料と加工技術を複雑に組み合わせていく必要があった。また、発光素子技術、光導波路技術、受光素子技術の他、これらを効率良く光接続する光結合技術、光伝送レベル設計などの周辺技術まで多岐に渡る技術を集大成していく必要があり、その実現が極めて困難であった。
このように従来の光配線では、構成要素が複雑化しやすく、用いる材料も多岐に渡ってしまうため、特性の安定性や再現性に問題を生じ易く、また配線の小型化が難しいなど、LSI配線への適用に不適格な要素が非常に多いという問題があった。
特開平6−132516号公報
本発明の目的は、LSIチップ上の配線に適用することができ、特性再現性や信頼性の高いオンチップのレーザ誘導光配線装置を提供することにある。
本発明の一態様に係わるレーザ誘導光配線装置は、基板上にループ状光導波路からなるリング光共振器を設け、前記ループ状光導波路の途中の少なくとも1つの光利得部と1つの光スイッチを互いに離間して設け、前記光利得部を励起して前記リング光共振器と前記光利得部からなるレーザ発振器をレーザ発振可能にすると共に、入力信号により前記光スイッチを動作させて前記リング光共振器の光経路損失を切り替えることにより前記レーザ発振器のレーザ発振状態を変化させ、該レーザ発振状態の変化を前記基板の前記光スイッチ以外の場所で検出して出力信号を得ることを特徴とする。
また、本発明の別の一態様に係わるレーザ誘導光配線装置は、基板上にループ状光導波路からなるリング光共振器を設け、前記ループ状光導波路の途中に少なくとも2つの光利得部を互いに離間して設け、前記各光利得部を励起して前記リング光共振器と前記光利得部からなるレーザ発振器をレーザ発振可能にすると共に、入力信号により前記各光利得部の少なくとも1つを利得変化させて前記リング光共振器の光経路利得を切り替えることにより前記レーザ発振器のレーザ発振状態を変化させ、該レーザ発振状態の変化を前記各光利得部のうちの前記利得変化させたもの以外で検出して出力信号を得ることを特徴とする。
本発明によれば、LSIチップ上の配線に適用することができ、特性再現性や信頼性の高いオンチップのレーザ誘導光配線装置を実現することができる。
本発明の実施形態においては、発光素子(光送信)、光導波路(光伝送)、受光素子(光受信)というような一方通行的光伝達動作を基本にするのではなく、発光素子、光導波路、発光素子の組合せを空間的に分散配置し、これらを1つのレーザ発振器として連動させて系のレーザ動作そのものを信号として共有させる。これにより、系がレーザ発振しているか否かの2状態を信号として利用することでデジタル的な配線動作を達成し、動作余裕の高い光配線を実現できる。即ち、空間的に離れた発光素子を1つの系として連動させ、系の応答より遅い動作であれば一部の変動が一斉に系全体に伝わることを利用し、空間的に離れた位置への信号伝達を実現する。このとき、送信側の発光素子はレーザ発振器としての系の光利得(又は損失)を制御する光スイッチとして機能させ、もう一方の発光素子は系の光量変動に応じた励起キャリアの変動等を外部伝達する受信器として機能させるものである。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態の説明を行っていく。ここでは幾つかの具体的材料を示して説明を行っていくが、これはレーザ発振可能な材料であれば同様に実施可能であり、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。また、ここでは1本〜数本の光配線を抽出した形で示していくが、これは勿論、多数の光配線を集積すること、LSIチップ上に集積することを意図しており、集積する光配線数は任意である。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す断面構成図であり、本発明の光配線に必要な要素を抜き出した形で示してある。また、図1の実施形態の斜視図を、図2に示す。ここでは、具体的な構成材料の例としてGaInAsP/InP系材料を用いて説明していくが、これは前述のように他の材料でも構わず、例えばGaAlAs/GaAs,Si,SiGe/Si等の材料を用いても構わない。
図1及び図2において、11はn型InP基板、12はGaInAsP活性層(レーザ媒質、例えば発光波長1.3μm)、13はGaInAsP光導波路コア(例えばバンドギャップ波長1.2μm)、14(14a,14b)はp型InPクラッド、15は半絶縁型InPクラッド(例えばFeドープInP)、16(16a,16b)はp側電極(例えばAuZnなど)、17はn側電極(例えばAuGeなど)である。
InP基板11上に、GaInAsP光導波路コア13がループ状に形成され、この光導波路コア13からリング光共振器が構成されるようになっている。光導波路コア13上及び基板11上に半絶縁性InPクラッド層15が形成されている。光導波路コア13の一部(2箇所)はGaInAsP活性層12となり、半絶縁性InPクラッド層15の一部(活性層12上)はp型InP層14となっている。そして、InP層14上にp側電極16が形成され、基板11の下面にn側電極17が形成されている。即ち、ループ状の光導波路コア13の一部に、レーザ発振器を構成する第1の光利得部18aと第2の光利得部18bが形成されている。
ここで、活性層12は、例えば厚さ0.12μm、幅1μm、長さ50μmとし、光導波路コア13は、例えば厚さ0.12μm、幅1μmとする。活性層12、光導波路コア13には、量子井戸構造を用いても構わない。光導波路コア13の長さは、レーザ発振器の最大動作周波数を決定するパラメータとなるため、ある長さ以上では光配線装置としての動作速度が制限される。これについては後述する。また、光導波路コア13の曲り部は、光導波損失の許容可能な範囲で設定するものとし、具体的な値は光導波路の屈折率差や導波損失、レーザ発振器の利得設計等により決定すればよい。
図1に示すように、活性層12は光導波路コア13に直接接続されており、図2に示すように、p型クラッド14及び光導波路コア13に囲われた2つの活性層12(図示せず)は、リング状に配された光導波路コア13により光学的に結合されている。活性層12、光導波路コア13は、順番に結晶成長とパターニングを行って形成しても良いし、多重量子井戸構造等の選択成長による組成制御技術を用いて一括結晶成長を行ってパターニングする方法で形成しても良い。
なお、活性層12の上下左右のいずれか近傍に回折格子を形成し、DFB(Distributed Feed Back)レーザ構造としてレーザ発振閾値を低減させる構成としても構わない。また、光利得部(17,11,12,14,16が積層されている領域)近傍の光導波路コア13、或いは光導波路コア13の途中に回折格子を設け、DBR(Distributed Bragg Reflector)レーザ構造としてレーザ発振閾値を低減させる構成としても構わない。DFBレーザ構造やDBRレーザ構造とする場合、原理的に1つの活性層12が単独でも発振可能となるが、2つの活性層12の連携動作を行うため、単独の発振しきい値はやや高めに設定しておく。
以上のような構成としたレーザ誘導光配線装置の動作原理を、以下に説明する。
図3は、図1と図2に示したレーザ誘導光配線装置を模式的なブロックと結線で示した構成ブロック図である。図3において、13は光導波路コア(光線路)、18(18a,18b)は光利得部(図1、図2において17,11,12,14,16が積層されている領域)であり、実構成上の形状を示すのではなく、それぞれ機能的な構成ブロックを示したものである。ここでは、簡単のため光利得部18がDFB或いはDBR構造をとらない、即ち単純なリング光結合構成について説明していく。なお、光利得部18がDFBやDBR構成をとる場合でも回折格子との光位相整合条件などを付加することで同様に動作可能であり、ここではその説明を省略する。
図3に示すように、光結合された光利得部18a,18bを両方励起(電流注入)すると、内部の光強度分布はほぼ一様となり、光周回利得を1、即ちレーザ発振させることが可能になる。それぞれの要素の特性パラメータとして、活性層12の長さをLa(18a側)、Lb(18b側)、活性層12の誘導放出利得(光利得)をga(18a側)、gb(18b側)、活性層12の吸収損失係数をαa(18a側)、αb(18b側)、光導波路コア13の全長をLt、光導波路コア13の吸収損失係数をαt、活性層12と光導波路コア13との結合係数をCa(18aと13の間)、Cb(18bと13の間)とすると、全体のレーザ発振条件は系を一周した光が元の光強度を維持できる条件から、
2ln{1/(CaCb)}
=(gaLa+gbLb−αaLa−αbLb−αtLt)…(1)
となる。
ここで、ga,gbは活性層12に注入するキャリア(電流)の関数であり、それ以外のパラメータは構造が決まれば確定する固定パラメータである。従って、レーザ発振条件はga,gbによる光学利得が系の光損失を超えることであり、次の関係が成り立てば良い。即ち、
ga(IFa)La+gb(IFb)Lb
=αaLa+αbLb+αtLt+2ln(CaCb) …(2)
が成立すればよい。ここで、IFa,IFbは、それぞれ光利得部18a,18bの励起電流を表している。
図4に、前述した図3の構成でCa=Cb〜100%とし、IFa=IFb=IF/2、即ち18a,18bとも同じ電流とした場合のレーザ発振特性の例を示す。図4の横軸は素子電圧(VF)及び光結合プローブ(結合効率20%)による光モニタ出力(Po)、縦軸は18a,18bへの注入電流の合計値(IF=IFa+IFb)である。PoとVFのグラフがそれぞれ2つあるのは、図3の系がレーザ発振した場合とレーザ発振しない場合のものである。レーザ発振しない場合の特性は、光導波路13の途中をエッチング(光結合しないように非垂直エッチング)して光利得部18a,18bの光学的結合を分断した場合のものであり、光利得部18a,18bの元々の電気的な特性は変わっていない。
図4中で、Poが急激に増加するポイントがレーザ発振しきい値であり、その電流をIth、電圧をVthで記述する。図4は、IFa=IFbの対称励起した場合の特性であり、IFa≠IFbとした場合には利得g(IF)の非線形性により、しきい電流値及びしきい電圧値が図4のIth,Vthからずれる場合が多い。
光利得部18a,18bは、それぞれp型クラッド層14とn型クラッド層(基板)11に活性層12が挟まれたダイオードとなっており、その電流電圧特性は、
I=I0[exp{(V−IRs)e/nkT} …(3)
と表せる。ここで、Rsは16,14,12,11,17からなるpn接合ダイオードの内部抵抗、I0は飽和電流、nはダイオード定数、kはボルツマン定数、eは電子電荷、Tは絶対温度である。これを電圧について逆算すると以下の(4)式のようになる。
V1={ln(I1/I0)}nkt/e+I1Rs (I1<Ith)…(4)
半導体レーザは、レーザ発振すると活性層電圧(接合電位)がしきい電圧で固定されるため、しきい値以上の電圧は以下の(5)式のようになる。
V2={ln(Ith/I0)}nkt/e+I2Rs (I2>Ith)…(5)
この場合、第1項は電流に対して定数となる。ここで、光利得部18a,18bの間の光結合だけを変化してレーザ発振状態と非発振状態を切り替えるとすると、上述したV1,V2でI1=I2=Ibと置き換え、V2とV1の差分をΔVとして以下の(6)式が得られる。
ΔV={ln(Ib/Ith)}nkt/e …(6)
このΔVは、図4のVoffとVonの差(Voff−Von)に等しく、半導体レーザ素子で電流注入を一定にしてレーザ発振と非発振を切替えることができたとすると、その素子電圧が変化するということを意味している。また、逆に、素子バイアス電圧を一定に保つと、素子に流れる電流値が変化するということにもなる。
本実施形態のレーザ誘導光配線装置の原理はここにあり、2つの活性層を光結合してレーザ発振器を構成し、一方の活性層に加えた変動で全体のレーザ発振状態を変動させ、その結果、もう一方の活性層に何らかの形で変動が現れるという性質を利用する。即ち、上記2つの活性層を隔離して配置すれば、一方の活性層に加えた変動が隔離した位置のもう一方の活性層に伝わり、何らかの変動として取り出せることになり、結果として信号を伝達する機能を持つことになる。
次に、本実施形態のレーザ誘導光配線装置の動作方法の例を説明する。
本実施形態のレーザ誘導光配線装置の基本的な動作は、光利得部18a,18bを励起してリング光共振器と光利得部18a,18bからなるレーザ発振器をレーザ発振可能(レーザ発振器がレーザ発振している状態、又はレーザ発振する直前のバイアスが印加されている状態)にすると共に、入力信号により光利得部18a,18bの一方の励起レベルを変化させてリング光共振器の光経路利得(損失)を切り替えることによりレーザ発振器のレーザ発振状態を変化させ、レーザ発振状態の変化を光利得部18a,18bの他方で検出して出力信号を得るというものである。
まず、電極16a,16bにバイアス電流としてそれぞれIb/2を加えておき、系をレーザ発振状態(図4中のレーザ発振)としておく。次に、電極16a,16bの何れかに信号印加するが、例えば信号として−Ib/2を電極16aに印加、即ち信号に合わせて電極16aのバイアス電流をオフにするようにすると、信号入力時に系のレーザ発振が停止し、相手方の電極16bは素子電圧がVonからVoffに上昇する。ここで、Ith=10mA、Ib=30mAとすると、光利得部18a,18bはそれぞれしきい電流が5mAでバイアス電流が15mAの状態に相当し、ダイオード定数(n)が2とすると、Voff−Von(=ΔV)は約57mVとなる。
上記信号印加は電極16bに対して行うこともでき、その場合、逆に電極16aに信号電圧が発生する。即ち、上記バイアス及び信号印加では、信号を印加した電極と反対の電極に約50mVの信号電圧を発生可能になる。この場合、信号印加した電極側の活性層が、利得オンの状態から利得オフの状態に切り替って光スイッチとして機能している。従って、図1〜図3の実施形態では一方が光スイッチ、一方が光利得部及び信号受信部として機能しており、しかも、それが受動的に交換可能、即ち双方向伝送可能という特徴を持っている。
ここで、一方の活性層の変動がもう一方の活性層の変動として現れる限界を説明する。レーザは光の誘導放出現象を利用しており、励起されたレーザ媒質に光注入されることが基本的な要件の一つになる。このため、本実施形態のように2つの活性層を隔離配置し、その間でレーザ共振器を構成する場合、活性層間の光伝達時間だけ遅れて誘導放出が起こることになり、その遅れ時間分だけレーザ発振動作の立ち上がりに時間を要することになる。従って、本実施形態のレーザ誘導光配線装置は、レーザ発振器を光が一周する時間より速い動作は難しい。
しかしながら、図1の例で見ると、活性層及び光導波路の実効屈折率を3.5とし、レーザ発振器長(リング長)を約1mmとすると光の周回時間は約23psとなり、最大応答速度は40GHz程度となる。即ち、10数GHz程度の速度であれば十分応答可能であり、一般的論理データのNRZ(Non Return to Zero)信号であれば20Gbps程度の信号が扱えることになり、それほど致命的なものではないことが分かる。
このように本実施形態によれば、基板11上にリング光共振器を構成するループ状の光導波路コア13を設けると共に、この光導波路コア13の一部に第1及び第2の活性層12を設けることにより、光配線の基本要素が発光素子と光導波路になる。そして、受光専用素子が必須でないという劇的な構成簡略化のほか、系の設計がレーザ動作を考慮するだけのデジタル的な設計、即ちレーザ発振状態を“1”、非発振状態を“0”とするような動作設計で良く、最小受信感度や光結合効率を考慮した光送受信レベル設定など、アナログ的で緻密な光伝送設計が不要になる。また、配線の動作としてレーザ発振器がレーザ発振しているか否かの2つの状態を用いてデジタル的な動作で配線するため、配線動作の動作マージンが高い。
従って、光配線構成要素が根本的に簡潔化されてばらつき要因や故障要因などが減少し、更に系の動作余裕が大幅に向上することで特性不良の出現頻度が大幅に減少する。即ち、光配線の特性再現性や信頼性などを劇的に向上し、LSIオンチップ光配線の実用性を大幅に高め、情報通信機器などの高度化に大きく貢献することができる。
また、本実施形態では、各々の活性層12に、レーザ発振器を構成するための光利得部及び発振状態を検出するための信号受信部としての機能を持たせることにより、双方向の信号伝達が可能となる。
(第2の実施形態)
図5に、図1〜図3で示したレーザ誘導光配線装置の周辺回路の例を示す。但し、前述した動作例のように、レーザ誘導光配線装置の動作方法は、本実施形態に限定されるものではなく、本実施形態はあくまで一例である。
図5において、破線で囲われた光利得部18a,光導波路コア13,光利得部18bが図1〜図3の実施形態の等価回路に相当し、バイアス抵抗Rdは、図1の実施形態の基板上に集積しても、外部に設けても構わない。ここで、光利得部18と直列接続したバイアス抵抗Rdに印加するバイアス電圧をVd、それぞれのバイアス電流をIdとし、バイアス抵抗Rdと光利得部18との接続端子の電圧をVs、電圧Vsから流入する電流をIsとする。光利得部18a,18b間のレーザ発振特性として、光利得部18a,18bに同じ電流を流したときの発振しきい値をIth,Vthとする。即ち、発振しきい値における電流は、光利得部18a,18b共にそれぞれIth/2であるとする。
この回路の動作例として、Idをしきい電流値より僅かに下、例えば0.95Ithの半分とする(Id=0.475Ith)。そして、信号送信側はIsとしてIthよりも十分大きな電流を流入するものとする。こうすると、Is=0(Isa=Isb=0)のとき、Vsa,Vsbは何れもほぼVthに近い値となっている。この状態で、例えば光利得部18a側に信号としてIsa=2Ithを注入する。そうすると、光利得部18b側がしきい値より低めにバイアスされているものの、光利得部18a側からの光注入により全体としてレーザ発振可能な状態になる。
レーザ発振が起こると、光利得部18b側の実効しきい値(発振しきい値光量に達する電流値)が低下し、実質的にしきい値以上にバイアス電流を与えられた状態となり、素子電圧が前記図4で説明した原理で低下する。即ち、Isaの注入によりVsbが低下し、そのVsbの変動を取り出すことで光利得部18a側から光利得部18b側への信号伝達が実現する。勿論、Isbの注入でVsaを低下させることも可能であり、逆方向への信号伝達も可能である。
また、Ibを予めIth/2より大きい値、例えばIth(全体の電流は2Ith)として系を初めからレーザ発振させておき、Isa,Isbをレーザ発振停止させるに足りる負電流(例えば−Ith)とすることでも動作可能である。この場合、信号出力位相が上記しきい値未満のバイアスの場合と反対になる。
(第3の実施形態)
図6は、本発明の第3の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す斜視図である。なお、図2と同一部分には同一符号を付して、その詳しい説明は省略する。
第1及び第2の実施形態では、2点間での信号伝送の例を示してきたが、本実施形態では、光導波路コア13の途中に光利得部を4個設け、多点間での信号伝送を可能にしている。即ち、光導波路コア13の4箇所にGaInAsP活性層12(図示せず)、p型InPクラッド層14,p側電極16を設けることにより、4つの光利得部18a,18b,18c,18dを設けている。
この場合の動作原理や駆動方法は図1〜図5で示した2点間の信号伝送と同様であり、光導波路コア13を1周した時の光学利得が1以上でレーザ発振となる。但し、この実施形態では、任意のノード(光利得部18)から任意のノードに独立に信号伝送できるものではなく、1つのノードで信号送信すると、残りの全てのノードにその信号が伝えられるという制限がある。逆に、その特徴を生かし、図7、図8に示すような配線構成が可能である。
図7は、1つのノード(18d)から信号送信して、その信号をその他のノード(18a,18b,18c)で一斉に受信する、所謂放送型光バスを構成している。この放送型バスは、例えばツリー接続型のマルチプロセッサ接続やクロック分配などに用いることができる。
また、図8は多数ノードの入力を論理OR処理して出力する、所謂ワイヤードOR回路を構成している。本実施形態のレーザ誘導光配線装置は、レーザ発振しているか否かの2値信号配線(デジタル配線)を実現しているため、多入力のOR出力が容易に得られる特徴を持っている。図8の構成では、ノード18a,18c,18dが入力ノードであり、何れのノードにも信号入力されない時は出力ノード18bに何の変化も現れないが、ノード18a,18c,18dの何れかに入力があると、ノード18bから出力が得られる。即ち、多入力OR回路として動作することが分かる。また、ノード18a,18c,18dの2つ、或いは3つ以上に入力があると、ノード18bから出力が得られるように構成することもできる。この場合、AND回路として動作することになる。
ここで、OR回路にするかAND回路にするかは、レーザ発振器のしきい値の設定により選択することができる。例えば、全てのノードのバイアスをしきい値に極めて近い値としておき、ノード18a,18b,18cの何れか1つの入力でレーザ発振するようにすればOR回路を構成できる。さらに、全てのノードのバイアスをOR回路の場合よりも僅かに小さくしておき、ノード18a,18b,18cの2つ、或いは3つ以上の入力でレーザ発振するようにすればAND回路を構成することができる。
図16(a)(b)は、第3の実施形態の変形例に相当するものであり、ループ状光導波路の代わりに共振ミラーを利用した光導波路を用い、この光導波路中に3つ以上の光利得部を配して論理回路を実現した例である。
図16(a)の構成では、直線状の光導波路コア13の両端にノード18a,18bがそれぞれ設けられ、光導波路コア13の中央部にノード18cが設けられ、例えばノード18a,18bが入力ノード、ノード18cが出力ノードとなっている。そして、ノード18a,18bの両方に入力があると、ノード18cから出力が得られるようになっている。即ち、AND回路として動作することになる。
図16(b)の構成では、直線状の光導波路コア13a,13bが直交配置されており、光導波路コア13aの両端にノード18a,18bがそれぞれ形成され、光導波路コア13bの両端にノード18c,18dが形成されている。さらに、光導波路コア13a,13bの交差部にもノード18eが形成されている。このような構成においても、ノード18a〜18eの一つ(例えばノード18e)を出力ノード、残りを入力ノードとすることにより、全てのノード18a〜18dに入力があるときにノード18eから出力が得られるようにして、AND回路を構成することができる。さらに、レーザ発振器のしきい値の設定により、何れのノード18a〜18dにも信号入力されない時はノード18eに何の変化も現れないが、ノード18a〜18dの何れかに入力があると、ノード18eから出力が得られるようにして、多入力OR回路を構成することもできる。
なお、共振ミラーを利用した光導波路にするためには、例えば図17に示すように構成すればよい。図17は、図16(a)の機能ブロックに対応するレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す斜視図である。
図6の構成と異なる点は、光導波路コア13が直線状となっていることに加え、光導波路コア13の両端部にドライエッチングによるミラー部41(41a,41b)が形成されていることである。これらのミラー41は、所謂ファブリペロー型共振器を形成しているが、基本的に光を外部出力する必要が無いため垂直端面に高反射コートや金属コート(図示せず)を施してミラー反射率を高めても構わない。
また、ノード18a〜18cは次のように形成すればよい。即ち、ミラー41a側にミラー41a,41b及び光導波路コア13と共にレーザ発振器を構成する第1の光利得部(ノード18a)を形成し、ミラー41b側にミラー41a,41b及び光導波路コア13と共にレーザ発振器を構成する第2の光利得部(ノード18b)を形成する。さらに、光導波路コア13の中央部にミラー41a,41b及び光導波路コア13と共にレーザ発振器を構成する第3の光利得部(ノード18c)を形成すればよい。
(第4の実施形態)
図9は、図7で示した放送型バスを用い、I/Oポートの数だけ放送型バスを空間的に並列配置した実施形態である。図9では、I/Oポート19が4つ(19a,19b,19c,19d)であり、同じ長さの4本の光導波路コア13(光導波路リング13a〜13d)を並列に配置している。また、各I/Oポート19a〜19dには各光導波路リング(ここではaリング〜dリングと記す)に対応した光送受ノードがそれぞれ4つ配置されており、各光導波路リングへの入出力端子となっている。各I/Oポート19a〜19dでは1つの光導波路リングを占有してデータの送信を行い、残りの光導波路リングは他のI/Oポートからのデータを受信するようになっている。
例えば、I/Oポート19aの場合、aリング(13a)を占有してデータ送信を行うように配置されており、ノード18aaを送信専用ノードとし、18ab〜18adはそれぞれI/Oポート19b〜19d(それぞれリングb〜リングdを占有)からの受信専用ノードとする。
このように構成することで、各I/Oポートは他のI/Oポートに対して一斉にデータ送信すると同時に、他のI/Oポートからのデータを全て受信することができる。即ち、図9の構成は、全二重タイプの通信が可能となる所謂フルメッシュバスを実現しており、光配線の高速性を生かして大容量のマルチコアプロセッサを実現することが可能になる。
なお、図9の実施形態では光導波路コア13を多重に並列配置するため、各光導波路コア13の交差する部分が生じるが、図に示すように光導波路コア13の交差部を直交交差とすればよい。これは、直交する光が干渉しない性質を用いたもので、実体として光導波路が交差していても、交差部分が直角に交わるように配置することで光配線路としては独立な配線として機能するものである。
(第5の実施形態)
図10は、1つの光導波路リングに多数の光利得部を設けるのではなく、光利得部毎に次の光導波路リングを接続するように配置した実施形態である。光導波路リングは中間の光利得部を共有するように配置し、光導波路リングを連結する部分の光利得部は両方の光導波路リングに対して光利得を与えられるようにする。
具体的には、5つの光導波路リング13(13a〜13e)が順に接続されており、光導波路リング13に光利得部28(28a〜28e)が設けられている。即ち、両端の光導波路リング13a,13eにはそれぞれ光利得部28aと28eが設けられている。光導波路リング13aと13bとの接続部には光利得部28abが設けられ、光導波路リング13bと13cとの接続部には光利得部28bcが設けられ、光導波路リング13cと13dとの接続部には光利得部28cdが設けられ、光導波路リング13dと13eとの接続部には光利得部28deが設けられている。
この実施形態は、図11に示すように最初の光利得部28aに信号入力されると光導波路リング13aがレーザ発振し、それにより光導波路リング13bがレーザ発振するというように、光導波路リング13a〜13eを順番にレーザ発振させて光利得部28eまで信号を伝えていく。このとき、光導波路リング13を連結する部分の光利得部28は、それぞれ伝播する信号を出力することが可能であり、信号分配器として利用することも可能である。図11において、実線の矢印は信号の流れを示し、破線の矢印は光利得部へのバイアス電流を示している。
また、図12に示すようにバイアス電流を一部(光利得部28cd)停止することで信号伝播を遮断することが可能であり、配線経路を制御、改変することも可能になる。即ち、図12の実施形態では、リコンフィギャラブル光配線が実現可能になる。
(第6の実施形態)
図13は、図10の実施形態を変形し、各光導波路リング13が光学的に独立となるよう構成した実施形態である。図10の実施形態では、光利得部28を共有する光導波路リング13間に光結合が発生するため、1つの光導波路リング13が発振すると次の光導波路リング13の発振縦モード(発振波長)をロックしようとする。ところが、各光導波路リング13の光路長に差があると、発振縦モードが異なるためモード競合が起こってしまい、レーザ発振が不安定になったり、ビート発振を重畳してしまったりすることがある。
これを避けるため、図13では光導波路リング同士が光結合しないよう光導波路の直交交差を用いている。但し、信号伝播は可能にするよう、直交交差部分に光利得部28を配置し、活性層12(図示せず)を光励起してキャリア増加させることによる光利得の増加で光導波路リング間のレーザ発振の伝播を可能にしている。このとき、図14に示すように各光導波路リング13の光利得が偏らないよう、各光導波路リング13を個別に見た時の光利得部28の数を一定にし、その配置も対称になるように配置することが望ましい。
このような構成であれば、第5の実施形態と同様の効果が得られるのは勿論のこと、モード競合を招くこともなく、より安定した動作が可能となる。
(第7の実施形態)
図15は、本発明の第7の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す断面構成図である。本実施形態は、光導波路として表面プラズモン導波路を用いたものであり、ここではレーザ活性層はSi基板の一部、光導波路としては金属薄膜を用いている。
図15において、31はSi基板、32はSiO2 カバー、33はpウェル、34はnウェル、35(35a,35b)はn電極、36(36a,36b)はp電極、37は表面プラズモンガイド(金属薄膜)である。
電極35,36は例えばAlとし、表面プラズモンガイド37は、例えばAuを厚さ40nm、幅2μmとする。さらに、表面プラズモンガイド37は、長さ200μmのループ状に形成し、リング光共振器を構成するものとする。このとき、Au薄膜下には絶縁膜としてSiO2 を例えば20nm設けておく。Si発光部(レーザ能動部)は、pウェル33とnウェル34の間の部分であり、両ウェル33,34からキャリア注入することで発光再結合を行わせる。
なお、pウェル33又はnウェル34を形成する際、粒径10nm前後のSiO2 粉末を混入したドーパントペーストをスピンコートして熱拡散することで、拡散フロントに数nm〜数10nmの拡散フロント凹凸を形成し、そのナノサイズ凹凸によるキャリア閉じ込め効果を利用して発光再結合を促進する。また、Si発光部に、希土類ドーパントを注入して希土類発光を行わせたり、数nmのSiO2 で覆われたナノサイズSi球を配置して微小球Si発光を利用しても構わない。
表面プラズモンは、光と各種分極波が結合したポラリトンの一種であり、金属の自由電子偏移分極と結合した金属表面を伝わる光伝播モードで、一般には表面プラズモンポラリトン(Surface Plasmon Polariton、以下、SPPと記す)と呼ばれる。SPPの光は金属界面を中心に閉じ込められており、その光電界分布の範囲にSi発光部が位置すれば誘導放出動作が可能になる。
図15の実施形態は、電極35,36間がダイオードとなっており、この間に順方向電流を通電することで発光する。また電極35a,36a間と電極35b,36b間にそれぞれ通電することで両方の活性層が発光し、表面プラズモンガイド37からなるループ状光導波路を共振器とするレーザ発振が可能になる。そして、電極35a,36a側の光利得部と電極35b,36b側の光利得部との間の信号伝達は、前述した実施形態群と同様に行うことができる。
(変形例)
なお、本発明は上述した各実施形態に限定されるものではない。例えば上述した本発明実施形態はいくつかの具体例を示しているが、これはあくまで構成例であり、本発明の主旨に従い個々の要素に他の手段(材料、寸法など)を用いても構わないものである。例えば、実施形態では、レーザ発振器を構成する光利得部自体で出力信号を検出するようにしたが、光導波路に近接して光導波路からの漏れ光を検出する光検出器を設け、この検出器で出力信号を検出するようにしても良い。さらに、光導波路は図1に示したようなスラブ型光導波路だけでなく、表面プラズモン導波路等を用いることもできる。これらの導波構造は、適用する場所や周辺条件などに応じて使い分ければよい。また、実施形態に示された材料、形状、配置などはあくまで一例であり、また、各実施形態を組み合わせて実施することも可能である。
その他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で、種々変形して実施することができるものである。
第1の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す断面図。 第1の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す斜視図。 第1の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す機能ブロック図。 第1の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置における発振特性を示す図。 第2の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の周辺回路例を示す等価回路図。 第3の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す斜視図。 第3の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す機能ブロック図。 第3の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す機能ブロック図。 第4の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す機能ブロック図。 第5の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す斜視図。 第5の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す機能ブロック図。 第5の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す機能ブロック図。 第6の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す斜視図。 第6の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す機能ブロック図。 第7の実施形態に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を一部切欠して示す斜視図。 第3の実施形態の変形例に係わるレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す機能ブロック図。 図16の機能ブロックに対応するレーザ誘導光配線装置の概略構成を示す斜視図。
符号の説明
11…n型クラッド
12…活性層
13…光導波路
14…P型クラッド
15…半絶縁クラッド
16…p電極
17…n電極
18,28…光利得部(ノード)
19…I/Oポート
31…Si基板
32…SiO2 カバー
33…pウェル
34…nウェル
35…n電極
36…p電極
37…表面プラズモンガイド(金属薄膜)

Claims (5)

  1. 基板上にループ状光導波路からなるリング光共振器を設け、前記ループ状光導波路の途中に少なくとも1つの光利得部と1つの光スイッチを互いに離間して設け、前記光利得部を励起して前記リング光共振器と前記光利得部からなるレーザ発振器をレーザ発振可能にすると共に、入力信号により前記光スイッチを動作させて前記リング光共振器の光経路損失を切り替えることにより前記レーザ発振器のレーザ発振状態を変化させ、該レーザ発振状態の変化を前記基板の前記光スイッチ以外の場所で検出して出力信号を得ることを特徴とするレーザ誘導光配線装置。
  2. 前記光利得部を励起する手段は電流注入であり、前記レーザ発振器のレーザ発振状態の変化を前記光利得部の電圧又は電流の変化で検出することを特徴とする請求項1記載のレーザ誘導光配線装置。
  3. 前記光スイッチは、前記光利得部と同等の構造体からなり、励起レベルを変化させることにより前記光経路損失を切り替えるものであることを特徴とする請求項1又は2記載のレーザ誘導光配線装置。
  4. 基板上にループ状光導波路からなるリング光共振器を設け、前記ループ状光導波路の途中に少なくとも2つの光利得部を互いに離間して設け、前記各光利得部を励起して前記リング光共振器と前記光利得部からなるレーザ発振器をレーザ発振可能にすると共に、入力信号により前記各光利得部の少なくとも1つを利得変化させて前記リング光共振器の光経路利得を切り替えることにより前記レーザ発振器のレーザ発振状態を変化させ、該レーザ発振状態の変化を前記各光利得部のうちの前記利得変化させたもの以外で検出して出力信号を得ることを特徴とするレーザ誘導光配線装置。
  5. 前記各光利得部は、信号送信時は自らの利得を入力信号に応じて変化させて前記レーザ発振器のレーザ発振状態を変化させ、信号受信時は自らの励起を一定化してレーザ発振状態の変化に応じた励起キャリア消費の変化を出力信号として検出するものであり、前記各光利得部が送信部と受信部を兼ねて双方向伝送又は多点信号伝送を可能にすることを特徴とする請求項4記載のレーザ誘導光配線装置。
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