JP2008164496A - 計測装置 - Google Patents
計測装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008164496A JP2008164496A JP2006355886A JP2006355886A JP2008164496A JP 2008164496 A JP2008164496 A JP 2008164496A JP 2006355886 A JP2006355886 A JP 2006355886A JP 2006355886 A JP2006355886 A JP 2006355886A JP 2008164496 A JP2008164496 A JP 2008164496A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- charge accumulation
- charge
- phase
- amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
【解決手段】4つの電荷蓄積量データが、全ての受光信号が適切であると(120)、4つの電荷蓄積量データを用いて、検出物体までの距離を算出する(122)。また、電荷蓄積量データのうち3つが適切な値であると(124)、正常電荷量範囲外である電荷蓄積量データを補正し(126)、適切な値である3つの電荷蓄積量データと補正された電荷蓄積量データとから、検出物体までの距離を算出する(128)。また、2つの電荷蓄積量データのみが適切な値であると(130)、非発光時の電荷蓄積量データの取得し(132)、適切な値である2つの電荷蓄積量データの各々から外乱成分を除去した値に基づいて、検出物体までの2つの距離候補を算出し(134、136)、距離候補から正しい距離を選択する(138)。
【選択図】図4
Description
φ=2π・δ/8γ ・・・(1)
ただし、
d=(c/2f)・(φ/2π) …(4)
d=(c/2f)・(δ/8γ) …(5)
A0+A2=A1+A3・・・(6)
A0+A2−A1=A3‘・・・(7)
(A0+N)+(A2+N)=(A1+N)+(A3+N)・・・(8)
(A0+A2)−(A1+A3)=0・・・(16)
(A0+A2)−(A1+A3)>Th1・・・(17)
(A0+A2)−(A1+A3)<Th2・・・(18)
D=φ/(2f・2π)・・・(19)
d=(c/2f)・(φ/2π) ・・・(23)
d‘=(c/2f)・(φ‘/2π)・・・(24)
φ1=2π・δ1/8γ1 ・・・(25)
φ2=2π・δ2/8γ2−π/4 ・・・(26)
ただし、
d1=(c/2f)・(φ1/2π) …(31)
d2=(c/2f)・(φ2/2π) …(32)
d=(d1+d2)/2 ・・・(33)
12 発光器
14 受光器
16 制御部
18 検出物体
20 フォトダイオード
24 信号処理回路
26 蓄積部
Ai 電荷蓄積量データ
Claims (10)
- 計測対象物に対して光を発光する発光手段と、
前記発光手段から発光された光の前記計測対象物からの反射光を受光し、受光量に応じた受光信号を出力する受光手段と、
時間的に発光強度を変化させた光を発光するように前記発光手段を制御する発光制御手段と、
電荷蓄積手段と、
前記発光手段の発光タイミングから異なる複数の位相差を有する位相タイミングの各々で、所定の蓄積期間に、前記受光手段から出力される受光信号を、前記電荷蓄積手段へ電荷として蓄積させる蓄積制御手段と、
前記電荷蓄積手段に蓄積された前記複数の位相タイミングにおける電荷蓄積量の各々が、予め定められた正常電荷量条件を満たすか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段によって前記電荷蓄積量の全てが前記正常電荷量条件を満たすと判定された場合、前記複数の位相タイミングにおける電荷蓄積量に基づいて、前記発光手段によって発光してから前記受光手段によって受光するまでの位相差、遅延時間、及び前記計測対象物までの距離の少なくとも一つを計測し、
前記判定手段によって1つの位相タイミングにおける電荷蓄積量が前記正常電荷量条件を満たさないと判定された場合、前記1つの位相タイミング以外の位相タイミングの各々における電荷蓄積量に基づいて、前記1つの位相タイミングにおける電荷蓄積量を補正し、前記複数の位相タイミングにおける電荷蓄積量に基づいて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つを計測する計測手段と、
を含む計測装置。 - 前記計測手段は、前記判定手段によって2つの位相タイミングの各々における電荷蓄積量が前記正常電荷量条件を満たさないと判定された場合、前記2つの位相タイミング以外の位相タイミングの各々における電荷蓄積量に基づいて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つを計測する請求項1記載の計測装置。
- 計測対象物に対して光を発光する発光手段と、
前記発光手段から発光された光の前記計測対象物からの反射光を受光し、受光量に応じた受光信号を出力する受光手段と、
時間的に発光強度を変化させた光を発光するように前記発光手段を制御する発光制御手段と、
電荷蓄積手段と、
前記発光手段の発光タイミングから異なる複数の位相差を有する位相タイミングの各々で、所定の蓄積期間に、前記受光手段から出力される受光信号を、前記電荷蓄積手段へ電荷として蓄積させる蓄積制御手段と、
前記電荷蓄積手段に蓄積された前記複数の位相タイミングにおける電荷蓄積量の各々が、予め定められた正常電荷量条件を満たすか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段によって前記電荷蓄積量の全てが前記正常電荷量条件を満たすと判定された場合、前記複数の位相タイミングにおける電荷蓄積量に基づいて、前記発光手段による発光から前記受光手段による受光までの位相差、遅延時間、及び前記計測対象物までの距離の少なくとも一つを計測し、
前記判定手段によって2つの位相タイミングの各々における電荷蓄積量が前記正常電荷量条件を満たさないと判定された場合、前記2つの位相タイミング以外の位相タイミングの各々における電荷蓄積量に基づいて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つを計測する計測手段と、
を含む計測装置。 - 計測対象物に対して光を発光する発光手段と、
前記発光手段から発光された光の前記計測対象物からの反射光を受光し、受光量に応じた受光信号を出力する受光手段と、
時間的に発光強度を変化させた光を発光するように前記発光手段を制御する発光制御手段と、
電荷蓄積手段と、
前記発光手段の発光タイミングからπ/2n(nは自然数である)だけ異なる4n個の位相タイミングの各々で、所定の蓄積期間に、前記受光手段から出力される受光信号を、前記電荷蓄積手段へ電荷として蓄積させる蓄積制御手段と、
前記電荷蓄積手段に蓄積された前記4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の各々が、予め定められた正常電荷量条件を満たすか否かを判定する判定手段と、
前記電荷蓄積手段に蓄積された前記4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量のうち、π/2だけ異なる4個の位相タイミングの各々における電荷蓄積量からなるn個の電荷蓄積量グループの各々について、前記判定手段によって前記電荷蓄積量の全てが前記正常電荷量条件を満たすと判定された場合、前記電荷蓄積量グループの電荷蓄積量に基づいて、前記発光手段によって発光してから前記受光手段によって受光するまでの位相差、遅延時間、及び前記計測対象物までの距離の少なくとも一つを計測し、
前記判定手段によって1個の位相タイミングにおける電荷蓄積量が前記正常電荷量条件を満たさないと判定された場合、前記電荷蓄積量グループの前記1個の位相タイミング以外の3個の位相タイミングにおける電荷蓄積量に基づいて、前記1個の位相タイミングにおける電荷蓄積量を補正し、前記3個の位相タイミングにおける電荷蓄積量及び前記補正された電荷蓄積量に基づいて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つを計測する計測手段と、
を含む計測装置。 - 前記計測手段は、前記判定手段によって2個の位相タイミングの各々における電荷蓄積量が前記正常電荷量条件を満たさないと判定された場合、前記電荷蓄積量グループの前記2個の位相タイミング以外の2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の合計及び該2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の何れか一方の比に基づいて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つを計測する請求項4記載の計測装置。
- 前記受光手段は複数であって、
前記電荷蓄積手段は、前記複数の受光手段の各々に対応して複数設けられ、
前記蓄積制御手段は、前記複数の受光手段の各々について、前記受光手段から出力される受光信号を、対応する電荷蓄積手段へ電荷として蓄積させ、
前記判定手段は、前記複数の受光手段の各々について、前記正常電荷量条件を満たすか否かを判定し、
前記計測手段は、前記複数の受光手段の各々について、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つを計測し、前記判定手段によって2個の位相タイミングの各々における電荷蓄積量が前記正常電荷量条件を満たさないと判定された場合、前記電荷蓄積量グループの前記2個の位相タイミング以外の2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の総和及び該2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の何れか一方の比と、他の受光手段について計測された前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つとに基づいて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つを計測する請求項4記載の計測装置。 - 計測対象物に対して光を発光する発光手段と、
前記発光手段から発光された光の前記計測対象物からの反射光を受光し、受光量に応じた受光信号を出力する複数の受光手段と、
時間的に発光強度を変化させた光を発光するように前記発光手段を制御する発光制御手段と、
前記複数の受光手段の各々に対応して設けられた複数の電荷蓄積手段と、
前記複数の受光手段の各々について、前記受光手段から出力される受光信号を、前記発光手段の発光タイミングからπ/2n(nは自然数である)だけ異なる4n個の位相タイミングの各々で、所定の蓄積期間に、対応する電荷蓄積手段へ電荷として蓄積させる蓄積制御手段と、
前記複数の受光手段の各々について、対応する電荷蓄積手段に蓄積された前記4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の各々が、予め定められた正常電荷量条件を満たすか否かを判定する判定手段と、
前記複数の受光手段の各々について、対応する電荷蓄積手段に蓄積された前記4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量のうち、π/2だけ異なる4個の位相タイミングにおける電荷蓄積量からなるn個の電荷蓄積量グループの各々について、前記判定手段によって前記電荷蓄積量の全てが前記正常電荷量条件を満たすと判定された場合、前記電荷蓄積量グループの電荷蓄積量に基づいて、前記発光手段による発光から前記受光手段による受光までの位相差、遅延時間、及び前記計測対象物までの距離の少なくとも一つを計測し、
前記判定手段によって2個の位相タイミングの各々における電荷蓄積量が前記正常電荷量条件を満たさないと判定された場合、前記電荷蓄積量グループの前記2個の位相タイミング以外の2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の総和及び該2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の何れか一方の比と、他の受光手段について計測された前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つとに基づいて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つを計測する計測手段と、
を含む計測装置。 - 前記発光手段が発光を停止している状態で前記受光手段から出力される受光信号を、前記電荷蓄積手段へ蓄積させるノイズ蓄積制御手段を更に含み、
前記計測手段は、前記判定手段によって2個の位相タイミングの各々の電荷蓄積量が前記正常電荷量条件を満たさないと判定された場合、前記電荷蓄積量グループの前記2個の位相タイミング以外の2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の各々から前記ノイズ蓄積制御手段によって蓄積された電荷蓄積量を減算して補正し、前記補正された2個の電荷蓄積量を用いて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つを計測する請求項5〜請求項7の何れか1項記載の計測装置。 - 前記所定の正常電荷量条件を、前記電荷蓄積量が所定範囲内であることとした請求項1〜請求項8の何れか1項記載の計測装置。
- 前記所定範囲は、前記電荷蓄積手段のアンダーフローに相当する電荷蓄積量より大きく、オーバーフローに相当する電荷蓄積量より小さい範囲である請求項9記載の計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006355886A JP5098331B2 (ja) | 2006-12-28 | 2006-12-28 | 計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006355886A JP5098331B2 (ja) | 2006-12-28 | 2006-12-28 | 計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008164496A true JP2008164496A (ja) | 2008-07-17 |
JP5098331B2 JP5098331B2 (ja) | 2012-12-12 |
Family
ID=39694195
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006355886A Expired - Fee Related JP5098331B2 (ja) | 2006-12-28 | 2006-12-28 | 計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5098331B2 (ja) |
Cited By (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010021090A1 (ja) * | 2008-08-20 | 2010-02-25 | パナソニック株式会社 | 距離推定装置、距離推定方法、プログラム、集積回路およびカメラ |
JP2010169405A (ja) * | 2009-01-20 | 2010-08-05 | Stanley Electric Co Ltd | 光学距離センサー |
JP2011053216A (ja) * | 2009-09-01 | 2011-03-17 | Samsung Electronics Co Ltd | 距離測定方法、距離測定システム及び距離センサー |
JP2011164094A (ja) * | 2010-02-12 | 2011-08-25 | Samsung Electronics Co Ltd | 深さセンサーの深さ推定方法及びその記録媒体 |
JP2011171715A (ja) * | 2010-02-17 | 2011-09-01 | Samsung Electronics Co Ltd | センサー系及びその動作方法 |
EP2402783A1 (en) * | 2009-02-27 | 2012-01-04 | Panasonic Electric Works Co., Ltd. | Distance measuring apparatus |
CN103181156A (zh) * | 2011-07-12 | 2013-06-26 | 三星电子株式会社 | 模糊处理装置及方法 |
JP2013534639A (ja) * | 2010-07-16 | 2013-09-05 | マイクロソフト コーポレーション | 飛行時間システムにおける3次元(3d)センサーの多相位相動的キャリブレーションのための方法及びシステム |
EP2743724A1 (de) * | 2012-12-12 | 2014-06-18 | Espros Photonics AG | TOF Entfernungssensor sowie Verfahren zum Betrieb |
JP2014163717A (ja) * | 2013-02-22 | 2014-09-08 | Stanley Electric Co Ltd | 距離画像生成装置および距離画像生成方法 |
WO2016031240A1 (ja) * | 2014-08-29 | 2016-03-03 | 株式会社デンソー | 光飛行型測距装置 |
JP2016114522A (ja) * | 2014-12-16 | 2016-06-23 | スタンレー電気株式会社 | 距離画像生成装置、距離画像生成方法およびプログラム |
US9456152B2 (en) | 2011-07-12 | 2016-09-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Device and method for blur processing |
JP2017530344A (ja) * | 2014-09-03 | 2017-10-12 | バスラー アーゲーBasler Ag | 深度画像の単純化された検出のための方法およびデバイス |
JP2018009917A (ja) * | 2016-07-15 | 2018-01-18 | 株式会社リコー | 測距装置、移動体、ロボット、3次元計測装置及び測距方法 |
JP2018132460A (ja) * | 2017-02-17 | 2018-08-23 | セイコーエプソン株式会社 | 回路装置、物理量測定装置、電子機器及び移動体 |
CN109804266A (zh) * | 2016-11-30 | 2019-05-24 | 索尼半导体解决方案公司 | 测距装置及测距方法 |
CN110333779A (zh) * | 2019-06-04 | 2019-10-15 | Oppo广东移动通信有限公司 | 控制方法、终端和存储介质 |
US10571572B2 (en) | 2017-11-27 | 2020-02-25 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Time of flight camera |
US10895925B2 (en) | 2018-10-03 | 2021-01-19 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Touch display alignment |
US10901087B2 (en) | 2018-01-15 | 2021-01-26 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Time of flight camera |
US10928489B2 (en) | 2017-04-06 | 2021-02-23 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Time of flight camera |
US10942274B2 (en) | 2018-04-11 | 2021-03-09 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Time of flight and picture camera |
CN112799087A (zh) * | 2020-12-30 | 2021-05-14 | 艾普柯微电子(江苏)有限公司 | 测距方法及测距装置 |
US11079515B2 (en) | 2019-12-18 | 2021-08-03 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Micro lens time-of-flight sensor having micro lens heights that vary based on image height |
US11435476B2 (en) | 2018-10-12 | 2022-09-06 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Time-of-flight RGB-IR image sensor |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004309310A (ja) * | 2003-04-07 | 2004-11-04 | Matsushita Electric Works Ltd | 受光素子の感度制御方法、強度変調光を用いた空間情報の検出装置 |
JP2006084430A (ja) * | 2004-09-17 | 2006-03-30 | Matsushita Electric Works Ltd | 距離画像センサ |
JP2006214998A (ja) * | 2005-02-07 | 2006-08-17 | Matsushita Electric Works Ltd | 測距装置 |
JP2006300616A (ja) * | 2005-04-18 | 2006-11-02 | Matsushita Electric Works Ltd | 空間情報検出システム |
JP2006308522A (ja) * | 2005-05-02 | 2006-11-09 | Matsushita Electric Works Ltd | 空間情報検出装置 |
JP4321540B2 (ja) * | 2006-03-30 | 2009-08-26 | 株式会社豊田中央研究所 | 物体検出装置 |
-
2006
- 2006-12-28 JP JP2006355886A patent/JP5098331B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004309310A (ja) * | 2003-04-07 | 2004-11-04 | Matsushita Electric Works Ltd | 受光素子の感度制御方法、強度変調光を用いた空間情報の検出装置 |
JP2006084430A (ja) * | 2004-09-17 | 2006-03-30 | Matsushita Electric Works Ltd | 距離画像センサ |
JP2006214998A (ja) * | 2005-02-07 | 2006-08-17 | Matsushita Electric Works Ltd | 測距装置 |
JP2006300616A (ja) * | 2005-04-18 | 2006-11-02 | Matsushita Electric Works Ltd | 空間情報検出システム |
JP2006308522A (ja) * | 2005-05-02 | 2006-11-09 | Matsushita Electric Works Ltd | 空間情報検出装置 |
JP4321540B2 (ja) * | 2006-03-30 | 2009-08-26 | 株式会社豊田中央研究所 | 物体検出装置 |
Cited By (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2010021090A1 (ja) * | 2008-08-20 | 2012-01-26 | パナソニック株式会社 | 距離推定装置、距離推定方法、プログラム、集積回路およびカメラ |
WO2010021090A1 (ja) * | 2008-08-20 | 2010-02-25 | パナソニック株式会社 | 距離推定装置、距離推定方法、プログラム、集積回路およびカメラ |
JP2010169405A (ja) * | 2009-01-20 | 2010-08-05 | Stanley Electric Co Ltd | 光学距離センサー |
US8699008B2 (en) | 2009-02-27 | 2014-04-15 | Panasonic Corporation | Distance measuring device |
EP2402783A1 (en) * | 2009-02-27 | 2012-01-04 | Panasonic Electric Works Co., Ltd. | Distance measuring apparatus |
EP2402783A4 (en) * | 2009-02-27 | 2012-08-01 | Panasonic Corp | DISTANCE MEASURING APPARATUS |
KR101279103B1 (ko) | 2009-02-27 | 2013-06-26 | 파나소닉 주식회사 | 거리 측정 장치 |
JP2011053216A (ja) * | 2009-09-01 | 2011-03-17 | Samsung Electronics Co Ltd | 距離測定方法、距離測定システム及び距離センサー |
JP2011164094A (ja) * | 2010-02-12 | 2011-08-25 | Samsung Electronics Co Ltd | 深さセンサーの深さ推定方法及びその記録媒体 |
JP2011171715A (ja) * | 2010-02-17 | 2011-09-01 | Samsung Electronics Co Ltd | センサー系及びその動作方法 |
JP2013534639A (ja) * | 2010-07-16 | 2013-09-05 | マイクロソフト コーポレーション | 飛行時間システムにおける3次元(3d)センサーの多相位相動的キャリブレーションのための方法及びシステム |
CN103181156A (zh) * | 2011-07-12 | 2013-06-26 | 三星电子株式会社 | 模糊处理装置及方法 |
JP2014528059A (ja) * | 2011-07-12 | 2014-10-23 | サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド | ブラー処理装置及び方法 |
US9456152B2 (en) | 2011-07-12 | 2016-09-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Device and method for blur processing |
EP2743724A1 (de) * | 2012-12-12 | 2014-06-18 | Espros Photonics AG | TOF Entfernungssensor sowie Verfahren zum Betrieb |
US9377532B2 (en) | 2012-12-12 | 2016-06-28 | Espros Photonics Ag | TOf distance sensor and method for operation thereof |
JP2014163717A (ja) * | 2013-02-22 | 2014-09-08 | Stanley Electric Co Ltd | 距離画像生成装置および距離画像生成方法 |
JP2016050832A (ja) * | 2014-08-29 | 2016-04-11 | 株式会社デンソー | 光飛行型測距装置 |
WO2016031240A1 (ja) * | 2014-08-29 | 2016-03-03 | 株式会社デンソー | 光飛行型測距装置 |
JP2017530344A (ja) * | 2014-09-03 | 2017-10-12 | バスラー アーゲーBasler Ag | 深度画像の単純化された検出のための方法およびデバイス |
JP2016114522A (ja) * | 2014-12-16 | 2016-06-23 | スタンレー電気株式会社 | 距離画像生成装置、距離画像生成方法およびプログラム |
JP2018009917A (ja) * | 2016-07-15 | 2018-01-18 | 株式会社リコー | 測距装置、移動体、ロボット、3次元計測装置及び測距方法 |
US11703573B2 (en) | 2016-11-30 | 2023-07-18 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Distance measurement device and distance measurement method |
CN109804266A (zh) * | 2016-11-30 | 2019-05-24 | 索尼半导体解决方案公司 | 测距装置及测距方法 |
CN109804266B (zh) * | 2016-11-30 | 2023-09-19 | 索尼半导体解决方案公司 | 测距装置及测距方法 |
JP2018132460A (ja) * | 2017-02-17 | 2018-08-23 | セイコーエプソン株式会社 | 回路装置、物理量測定装置、電子機器及び移動体 |
US10928489B2 (en) | 2017-04-06 | 2021-02-23 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Time of flight camera |
US10571572B2 (en) | 2017-11-27 | 2020-02-25 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Time of flight camera |
US10901087B2 (en) | 2018-01-15 | 2021-01-26 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Time of flight camera |
US10942274B2 (en) | 2018-04-11 | 2021-03-09 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Time of flight and picture camera |
US10895925B2 (en) | 2018-10-03 | 2021-01-19 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Touch display alignment |
US11435476B2 (en) | 2018-10-12 | 2022-09-06 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Time-of-flight RGB-IR image sensor |
CN110333779A (zh) * | 2019-06-04 | 2019-10-15 | Oppo广东移动通信有限公司 | 控制方法、终端和存储介质 |
US11079515B2 (en) | 2019-12-18 | 2021-08-03 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Micro lens time-of-flight sensor having micro lens heights that vary based on image height |
CN112799087A (zh) * | 2020-12-30 | 2021-05-14 | 艾普柯微电子(江苏)有限公司 | 测距方法及测距装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5098331B2 (ja) | 2012-12-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5098331B2 (ja) | 計測装置 | |
JP4321540B2 (ja) | 物体検出装置 | |
CN110462437B (zh) | 光检测器 | |
JP5261571B2 (ja) | 距離測定装置 | |
JP4971744B2 (ja) | 強度変調光を用いた空間情報検出装置 | |
CN109709531B (zh) | 光传感器、距离测量装置及电子设备 | |
CN110596727B (zh) | 输出精度信息的测距装置 | |
EP1206131B1 (en) | Solid-state imaging device and range finding device | |
US9880266B2 (en) | Measurement system incorporating ambient light component nullification | |
JP5576851B2 (ja) | 測距システム及び測距方法 | |
KR20190030027A (ko) | 라이다 장치 및 이의 동작 방법 | |
US7869007B2 (en) | Ranging apparatus and ranging method | |
JP5760168B2 (ja) | 空間情報検出装置 | |
JP2009192499A (ja) | 距離画像生成装置 | |
WO2018181013A1 (ja) | 光検出器 | |
US9606243B2 (en) | Radiation imaging apparatus, method of determining radiation irradiation, and storage medium | |
US20190317197A1 (en) | Monitoring device of a lidar system | |
CN109716539B (zh) | 光传感器及电子设备 | |
WO2018235944A1 (ja) | 光測距装置 | |
JP2002195807A (ja) | 光学式変位測定装置及びその投光光量補正方法 | |
JP2005326340A (ja) | イメージセンサー利用機器、光学式変位計及び光学情報読取装置 | |
US20190007573A1 (en) | Image reading device, image reading method, and storage medium | |
JP2008241258A (ja) | 測距装置及び測距方法 | |
KR20220069944A (ko) | 정보 처리 장치, 보정 방법 및 프로그램 | |
US20220159199A1 (en) | Infrared imaging device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090918 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120306 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120507 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120828 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120910 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151005 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151005 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |