JP5098331B2 - 計測装置 - Google Patents

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本発明は、計測装置に係り、特に、受光量に応じた信号を電荷として蓄積し、電荷蓄積量に基づいて、受光した光の位相差、遅延時間、又は物体との距離を計測する計測装置に関する。
従来より、検出範囲に光を照射し、検出範囲内に存在する物体で反射された光を2次元のイメージセンサで受光し、光を反射した物体との距離によって相違する受光光の位相を画素毎に検出することで、物体との距離を演算し、距離レンジ毎に画像を生成することが可能な距離画像センサが知られている。
また、物体との距離を精度よく計測するために、太陽光などの外乱光の影響を削除又は低減して、オーバーフローをなるべく防ぐ技術が知られている。例えば、特殊な素子構造で、外乱光による飽和を防止して信号光に対応する成分を抽出することができるようにし、信号光に対するダイナミックレンジを向上させた光検出素子が知られている(特許文献1)。
また、特殊な素子構造で、混合器の出力信号の相関信号成分を無相関信号成分から遅延なしで分離可能とし、外乱成分を削除する信号処理技術が知られている(特許文献2)。
また、変調信号源が信号波を生成し、伝導媒体によりその経路上で、または少なくとも一つの物体上での反射および散乱により、信号波が変更されるときに、受信媒体から分配されて出力される二つの出力信号の和と差分とを生成し、物体により散乱・反射または遅延された信号波の強度と位相位置の値とを供給する特殊な素子構造で、外乱光を削除する信号波を検出して処理するデバイスが知られている(特許文献3)。
特開2005−303268号 特開2005−338062号 特表2004−536704号
しかしながら、特許文献1〜特許文献3には、太陽光などの外乱光の影響を削除又は低減して、オーバーフローをなるべく防ぐ技術が記載されているが、オーバーフローなどが原因となって距離の計測ができない事態となったときの対応については記載されていないため、外乱光の影響が低減できたとしても、低減量の不十分又は装置自身の変調光の強過ぎによるオーバーフローや、低照度時のアンダーフローが発生した場合には、距離を計測することができない、という問題がある。
また、特許文献1及び特許文献2に記載の技術では、デバイス上で外乱光を抑制するための特殊なデバイスが必要であるため、コストがかかってしまう、という問題がある。
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもので、正常に受光できなかった場合でも、低コストな構成で、位相差、遅延時間、又は距離を精度よく計測することができる計測装置を提供することを目的とする。
の発明に係る計測装置は、計測対象物に対して光を発光する発光手段と、前記発光手段から発光された光の前記計測対象物からの反射光を受光し、受光量に応じた受光信号を出力する複数の受光手段と、時間的に発光強度を変化させた光を発光するように前記発光手段を制御する発光制御手段と、前記複数の受光手段の各々に対応して設けられた複数の電荷蓄積手段と、前記複数の受光手段の各々について、前記受光手段から出力される受光信号を、前記発光手段の発光タイミングからπ/2n(nは自然数である)だけ異なる4n個の位相タイミングの各々で、所定の蓄積期間に、対応する前記電荷蓄積手段へ電荷として蓄積させる蓄積制御手段と、前記複数の受光手段の各々について、対応する前記電荷蓄積手段に蓄積された前記4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の各々が、前記電荷蓄積手段のアンダーフローに相当する電荷蓄積量より大きく、オーバーフローに相当する電荷蓄積量より小さい予め定められた範囲内であるか否かを判定する判定手段と、前記複数の受光手段の各々について、対応する前記電荷蓄積手段に蓄積された前記4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量のうち、π/2だけ異なる4個の位相タイミングの各々における電荷蓄積量からなるn個の電荷蓄積量グループの各々について、前記判定手段によって前記電荷蓄積量の全てが前記予め定められた範囲内であると判定された場合、前記電荷蓄積量グループの電荷蓄積量に基づいて、前記発光手段によって発光してから前記受光手段によって受光するまでの位相差、遅延時間、及び前記計測対象物までの距離の少なくとも一つを計測し、前記判定手段によって1個の位相タイミングにおける電荷蓄積量が前記予め定められた範囲内でないと判定された場合、前記電荷蓄積量グループの前記1個の位相タイミング以外の3個の位相タイミングにおける電荷蓄積量に基づいて、前記1個の位相タイミングにおける電荷蓄積量を補正し、前記3個の位相タイミングにおける電荷蓄積量及び前記補正された電荷蓄積量に基づいて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つを計測し、前記判定手段によって2個の位相タイミングの各々における電荷蓄積量が前記予め定められた範囲内でないと判定された場合、前記電荷蓄積量グループの前記2個の位相タイミング以外の2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の総和及び該2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の何れか一方の比に基づいて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つの候補を2つ計測し、他の受光手段について計測された前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つに基づいて、前記2つの候補の何れかを選択する計測手段とを含んで構成されている。
の発明に係る計測装置によれば、発光制御手段によって、時間的に発光強度を変化させた光を発光するように発光手段を制御し、受光手段によって、発光手段から発光された光の計測対象物からの反射光を受光し、受光量に応じた受光信号を出力する。また、蓄積制御手段によって、発光手段の発光タイミングからπ/2n(nは自然数である。以下同様。)だけ異なる4n個の位相タイミングの各々で、所定の蓄積期間に、受光手段から出力される受光信号を、前記電荷蓄積手段へ電荷として蓄積させる。
そして、判定手段によって、電荷蓄積手段に蓄積された4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の各々が、予め定められた範囲内であるか否かを判定し、電荷蓄積手段に蓄積された4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量のうち、π/2だけ異なる4個の位相タイミングの各々における電荷蓄積量からなるn個の電荷蓄積量グループの各々について、判定手段によって電荷蓄積量の全てが予め定められた範囲内であると判定された場合、計測手段によって、電荷蓄積量グループの電荷蓄積量に基づいて、発光手段によって発光してから受光手段によって受光するまでの位相差、遅延時間、及び計測対象物までの距離の少なくとも一つを計測する。また、判定手段によって1個の位相タイミングにおける電荷蓄積量が予め定められた範囲内でないと判定された場合、計測手段によって、電荷蓄積量グループの1個の位相タイミング以外の3個の位相タイミングにおける電荷蓄積量に基づいて、1個の位相タイミングにおける電荷蓄積量を補正し、3個の位相タイミングにおける電荷蓄積量及び補正された電荷蓄積量に基づいて、位相差、遅延時間、及び距離の少なくとも一つを計測する。
このように、1個の位相タイミングにおける電荷蓄積量が、予め定められた範囲内でない場合には、それ以外の3個の位相タイミングの電荷蓄積量に基づいて補正して、位相差、遅延時間、又は距離を計測するため、正常に受光できなかった場合でも、低コストな構成で、位相差、遅延時間、又は距離を精度よく計測することができる。
の発明に係る受光手段は複数であって、電荷蓄積手段は、複数の受光手段の各々に対応して複数設けられ、蓄積制御手段は、複数の受光手段の各々について、受光手段から出力される受光信号を、対応する電荷蓄積手段へ電荷として蓄積させ、判定手段は、複数の受光手段の各々について、予め定められた範囲内であるか否かを判定し、計測手段は、複数の受光手段の各々について、位相差、遅延時間、及び距離の少なくとも一つを計測し、判定手段によって2個の位相タイミングの各々における電荷蓄積量が予め定められた範囲内でないと判定された場合、電荷蓄積量グループの2個の位相タイミング以外の2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の総和及び該2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の何れか一方の比と、他の受光手段について計測された位相差、遅延時間、及び距離の少なくとも一つとに基づいて、位相差、遅延時間、及び距離の少なくとも一つを計測する。このように、更に正常に受光できなかった場合でも、低コストな構成で、位相差、遅延時間、又は距離を精度よく計測することができる。
の発明に係る計測装置は、計測対象物に対して光を発光する発光手段と、前記発光手段から発光された光の前記計測対象物からの反射光を受光し、受光量に応じた受光信号を出力する複数の受光手段と、時間的に発光強度を変化させた光を発光するように前記発光手段を制御する発光制御手段と、記複数の受光手段の各々に対応して設けられた複数の電荷蓄積手段と、前記複数の受光手段の各々について、前記受光手段から出力される受光信号を、前記発光手段の発光タイミングからπ/2n(nは自然数である)だけ異なる4n個の位相タイミングの各々で、所定の蓄積期間に、対応する電荷蓄積手段へ電荷として蓄積させる蓄積制御手段と、前記複数の受光手段の各々について、対応する電荷蓄積手段に蓄積された前記4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の各々が、前記電荷蓄積手段のアンダーフローに相当する電荷蓄積量より大きく、オーバーフローに相当する電荷蓄積量より小さい予め定められた範囲内であるか否かを判定する判定手段と、前記複数の受光手段の各々について、対応する電荷蓄積手段に蓄積された前記4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量のうち、π/2だけ異なる4個の位相タイミングにおける電荷蓄積量からなるn個の電荷蓄積量グループの各々について、前記判定手段によって前記電荷蓄積量の全てが前記予め定められた範囲内であると判定された場合、前記電荷蓄積量グループの電荷蓄積量に基づいて、前記発光手段による発光から前記受光手段による受光までの位相差、遅延時間、及び前記計測対象物までの距離の少なくとも一つを計測し、前記判定手段によって2個の位相タイミングの各々における電荷蓄積量が前記予め定められた範囲内でないと判定された場合、前記電荷蓄積量グループの前記2個の位相タイミング以外の2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の総和及び該2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の何れか一方の比に基づいて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つの候補を2つ計測し、他の受光手段について計測された前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つに基づいて、前記2つの候補の何れかを選択する計測手段とを含んで構成されている。
の発明に係る計測装置によれば、発光制御手段によって、時間的に発光強度を変化させた光を発光するように発光手段を制御し、受光手段によって、発光手段から発光された光の計測対象物からの反射光を受光し、受光量に応じた受光信号を出力する。また、蓄積制御手段によって、発光手段の発光タイミングからπ/2nだけ異なる4n個の位相タイミングの各々で、所定の蓄積期間に、受光手段から出力される受光信号を、前記電荷蓄積手段へ電荷として蓄積させる。
そして、判定手段によって、電荷蓄積手段に蓄積された4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の各々が、予め定められた範囲内であるか否かを判定し、電荷蓄積手段に蓄積された4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量のうち、π/2だけ異なる4個の位相タイミングの各々における電荷蓄積量からなるn個の電荷蓄積量グループの各々について、判定手段によって電荷蓄積量の全てが予め定められた範囲内であると判定された場合、計測手段によって、電荷蓄積量グループの電荷蓄積量に基づいて、発光手段によって発光してから受光手段によって受光するまでの位相差、遅延時間、及び距離の少なくとも一つを計測する。また、判定手段によって2個の位相タイミングの各々における電荷蓄積量が予め定められた範囲内でないと判定された場合、計測手段によって、電荷蓄積量グループの2個の位相タイミング以外の2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の総和及び該2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の何れか一方の比と、他の受光手段について計測された位相差、遅延時間、及び距離の少なくとも一つとに基づいて、位相差、遅延時間、及び距離の少なくとも一つを計測する。
このように、2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量が、予め定められた範囲内でない場合には、それ以外の2個の位相タイミングの電荷蓄積量に基づいて、位相差、遅延時間、又は距離を計測するため、正常に受光できなかった場合でも、低コストな構成で、位相差、遅延時間、又は距離を精度よく計測することができる。
また、第の発明及び第の発明に係る計測装置は、発光手段が発光を停止している状態で受光手段から出力される受光信号を、電荷蓄積手段へ蓄積させるノイズ蓄積制御手段を更に含み、計測手段は、判定手段によって2個の位相タイミングの各々の電荷蓄積量が予め定められた範囲内でないと判定された場合、電荷蓄積量グループの2個の位相タイミング以外の2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の各々からノイズ蓄積制御手段によって蓄積された電荷蓄積量を減算して補正し、補正された2個の電荷蓄積量を用いて、位相差、遅延時間、及び距離の少なくとも一つを計測することができる。これにより、2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量が、予め定められた範囲内でない場合には、それ以外の2個の位相タイミングの電荷蓄積量からノイズの影響を除去して、位相差、遅延時間、又は距離を精度よく計測することができる。
また、正常電荷量条件を、電荷蓄積量が所定範囲内であることとすることができる。また、所定範囲を、電荷蓄積手段のアンダーフローに相当する電荷蓄積量より大きく、オーバーフローに相当する電荷蓄積量より小さい範囲とする。これにより、アンダーフローやオーバーフローに相当する電荷蓄積量を破棄して、位相差又は遅延時間を精度よく計測することができる。
また、正常電荷量条件を、電荷蓄積量グループの電荷蓄積量の相対関係が、所定関係となることとすることができる。
以上説明したように、本発明の計測装置によれば、1個や2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量が、予め定められた範囲内でない場合には、それ以外の位相タイミングの電荷蓄積量に基づいて補正して位相差、遅延時間、又は距離を計測し、または、それ以外の位相タイミングの電荷蓄積量に基づいて位相差、遅延時間、又は距離を計測するため、正常に受光できなかった場合でも、低コストな構成で、位相差、遅延時間、又は距離を精度よく計測することができる、という効果が得られる。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。なお、本実施の形態では、照射範囲内に存在する物体までの距離を計測する距離計測装置に本発明を適用する場合を例に説明する。
図1に示すように、第1の実施の形態に係る距離計測装置10は、距離画像センサとして機能する装置であり、LED等の発光素子と発光素子の発光を制御する制御回路とを含んで構成され、かつ、検出物体18に対して発光する発光手段としての発光器12、撮像素子で構成され、かつ、発光器12から発光された光の検出物体18からの反射光を受光する受光器14、及び距離計測装置10の全体を制御するために各種処理を実行する制御部16を備えている。発光器12は受光器14を介して制御部16に接続されており、発光器12の制御回路は、受光器14を介して制御部16から入力される制御信号によって発光素子の発光が指示されると、時間的に発光強度を変化させて発光させる。例えば、図2(A)に示すように、発光素子を一定時間だけ発光させることを一定周期で繰り返す方形波の発光パターンとなっており、発光素子を断続的に発光させている。
また、発光器12から発光された光は、ある距離に存在する検出物体18で反射し、受光器14に反射光として戻ってくる。受光器14で受光される反射光には、図2(B)に示すように、検出物体18までの距離に応じて、発光された光に対して遅延時間及び位相差が発生する。
発光器12の発光素子が発光されることで発光器12から射出された光(照射光)は、照射光の照射範囲内に存在する検出物体18で反射されて、受光器14に入射される。受光器14は、図3に示すように、CCDセンサやCMOSセンサから成り、受光した光を光電変換し受光量に応じたレベルの受光信号を出力するフォトダイオード20を内蔵した複数個の受光セルが、2次元に配列されて成る撮像素子を備えており、この撮像素子は、受光セルの配列方向が受光器14への光の入射方向に対して交差するように配置されている。撮像素子の個々の受光セルには、信号処理回路24が各々接続されている。また、フォトダイオード20の一端は給電端に接続されている。なお、この信号処理回路24は、撮像素子と別に設けられていてもよいし、撮像素子として機能する半導体チップ上に撮像素子と一体に形成されていてもよい。
また、受光器14の信号処理回路24は、蓄積部26を備えている。蓄積部26は一端が給電端に接続されており、他端がスイッチ28を介して、フォトダイオード20の他端に接続されている。スイッチ28は給電端にも接続されており、入力される変調信号に応じて、フォトダイオード20の他端を給電端に接続する第1の状態、又は、フォトダイオード20の他端を蓄積部26に接続する第2の状態に切り替わる。なお、スイッチ28は例えばトランジスタ等の半導体スイッチング素子を組み合わせることで実現できる。フォトダイオード20が受光量に応じたレベルの受光信号を出力し、スイッチ28が第2の状態になっている場合、蓄積部26には、信号線を介して入力される受光信号のレベルに応じた量の電荷が蓄積される。例えば、入力された受光信号のレベルをスイッチ28が第2の状態になっている時間(電荷蓄積時間)で積分した値に相当する量の電荷が蓄積される。
また、蓄積部26の他端は、スイッチ40及び増幅器42を介して、A/D(アナログデジタル)変換器44に接続されている。なお、スイッチ40も例えばトランジスタ等の半導体スイッチング素子で構成することができる。スイッチ40は入力される読出信号に応じてオンオフし、スイッチ40がオンされると、蓄積部26に蓄積されていた電荷がスイッチ40を介して増幅器42へ転送されて入力され、増幅器42で増幅された後にA/D変換器44で蓄積部26の電荷蓄積量を表すデジタルデータ(電荷蓄積量データ)へ変換されて出力される。また、蓄積部26とスイッチ40とを接続する信号線は途中で2本に分岐されており、分岐された信号線はスイッチ46を介して給電端に接続されている。なお、スイッチ46も例えばトランジスタ等の半導体スイッチング素子で構成することができる。スイッチ46は入力されるリセット信号に応じてオンオフし、スイッチ46がオンされると、蓄積部26に蓄積されていた電荷が排出され、蓄積部26が初期状態(電荷蓄積量がゼロの状態)にリセットされる。
また受光器14は、制御部16から入力される制御信号に従い、信号処理回路24の各部に各種信号(上述した変調信号、選択信号、読出信号及びリセット信号)を入力することで各部の動作を制御する制御回路も設けられている。一方、制御部16はCPUやメモリ、HDDやフラッシュメモリ等の不揮発性記憶手段を備えたマイクロコンピュータ、或いは、DSP(Digital Signal Process)で構成され、発光器12及び受光器14の動作を制御すると共に、受光器14から出力された電荷蓄積量データに基づいて、後述する検出物体18までの距離を計測する計測処理ルーチンを実行する。
次に、第1の実施の形態に係る距離計測装置10の作用について説明する。制御部16において、図4に示す計測処理ルーチンが実行される。なお、計測処理ルーチンは、繰り返し実行され、また、各受光セルについて、同様に実行される。
まず、ステップ100において、変数iに初期値0を設定する。ステップ102では受光器14を介して発光器12へ所定の制御信号を出力することで、発光器12の発光素子の発光を開始させる。これにより、発光器12の発光素子は、図5(A)及び図6(A)に示すように一定時間の発光が一定周期で繰り返される方形波の発光パターンで発光し、発光器12から射出された光は検出物体18に照射され、検出物体18で反射された後に反射光として受光器14で受光される。また、受光器14の撮像素子の個々の受光セル(のフォトダイオード20)は反射光を受光する毎に受光信号を出力するが、この受光信号の出力タイミングは、図6(B)に示すように、発光器12における発光タイミングに対し、光を反射した検出物体18との距離に応じて遅延することになる。なお、図5(A)及び図6(A)の例では発光素子の発光時間を発光素子の発光周期の1/2としているが、これに限られるものではない。
次のステップ104では、変調位相を位相iに設定し、設定した変調位相を受光器14へ通知する。本実施形態における位相0の変調では、図5(B)に電荷蓄積期間として示すように、発光器12における発光素子の発光期間に対して位相差0の期間(発光素子の発光開始タイミングに対して位相差0〜πの電荷蓄積期間)にのみ、フォトダイオード20から出力される受光信号を蓄積部26に電荷として蓄積するように、信号処理回路24によって、変調(変調0)が行われる。このとき、受光器14の制御回路は、信号処理回路24のスイッチ28を上記蓄積期間にのみ第2の状態(フォトダイオード20の他端を蓄積部26に接続する状態)に切り替える変調信号を個々のスイッチ28に入力する。
またステップ106では、受光器14に対して信号処理回路24の蓄積部26のリセットを指示する。これにより、受光器14の制御回路は、信号処理回路24にリセット信号を入力してスイッチ46を一定時間オンさせることで、信号処理回路24の蓄積部26に蓄積されていた電荷を全て排出(廃棄)させる。次のステップ108では蓄積部26への電荷蓄積回数が位相iに対して予め設定された電荷蓄積回数Ni回以上になったか否か判定し、判定が肯定される迄ステップ108を繰り返す。
この間、受光セルに対応するフォトダイオード20は、反射光を受光する毎に受光量に応じたレベルの受光信号を出力するが(図6(B)も参照)、信号処理回路24では、図5(B)に示す電荷蓄積期間にのみスイッチ28が第2の状態に切り替わるので、図6(C)にハッチングで示す期間にのみ、蓄積部26に信号が入力されて電荷が蓄積される。また、蓄積部26への電荷の蓄積はNi回行われるため、受光器14における反射光の受光強度に比して電荷蓄積期間が短い等の場合にも、Niを比較的に大きな値に設定しておくことで、蓄積部26の電荷蓄積量がNi倍され、反射光量の受光強度に対する実質的な感度を増大させることができる。
蓄積部26へのNi回の電荷の蓄積が完了すると、ステップ108の判定が肯定されてステップ110へ移行し、受光器14に対して信号処理回路24の蓄積部26からの電荷蓄積量の読み出しを指示する。これにより、受光器14の制御回路は、信号処理回路24に読出信号を入力しスイッチ40を一定時間オンさせることで、信号処理回路24の蓄積部26に蓄積されていた電荷を増幅器42へ転送させる(電荷蓄積量の読み出し)。増幅器42へ転送された蓄積電荷は、増幅器42で増幅されA/D変換器44でデジタルの電荷蓄積量データへ変換されて制御部16へ出力される。次のステップ112では、受光器14の信号処理回路24から入力された電荷蓄積量データを、位相iの電荷蓄積量データAとしてメモリ又は不揮発性記憶部に記憶させる。
ステップ114では変数iが3であるか否か判定する。判定が否定された場合はステップ116で変数iを1だけインクリメントした後にステップ104に戻り、ステップ114の判定が肯定される迄ステップ104〜ステップ112を繰り返す。本実施形態では、変調位相として位相0〜位相3の4種類の位相が設定されており、上記のようにステップ104〜ステップ116が繰り返されることで、個々の信号処理回路24において、フォトダイオード20から出力される受光信号が、位相1〜位相3に対応する互いに異なる電荷蓄積期間に、電荷として蓄積部26に蓄積される。
より詳しくは、個々の信号処理回路24において、位相1の変調では、図5(C)に電荷蓄積期間として示すように、発光器12における発光素子の発光タイミングに対して位相差π/2となる位相タイミングからの電荷蓄積期間(発光素子の発光開始タイミングに対して位相差π/2〜3π/2の期間)にのみ、受光信号を蓄積部26に電荷として蓄積する変調(変調1)が行われ、位相2の変調では、図5(D)に電荷蓄積期間として示すように、発光器12における発光素子の発光タイミングに対して位相差πとなる位相タイミングからの電荷蓄積期間(発光素子の発光開始タイミングに対して位相差π〜2πの期間)にのみ、受光信号を蓄積部26に電荷として蓄積する変調(変調2)が行われる。また、位相3の変調では、図5(E)に電荷蓄積期間として示すように、発光器12における発光素子の発光タイミングに対して位相差3/2πとなる位相タイミングの電荷蓄積期間(発光素子の発光開始タイミングに対して位相差3/2π〜5/2πの期間)にのみ、受光信号を蓄積部26に電荷として蓄積する変調(変調3)が行われる。そして、上述した位相0〜位相3の変調(電荷の蓄積)を順次行い、各位相タイミングに対応する電荷蓄積量データが各位相の電荷蓄積量データA〜Aとしてメモリ又は不揮発性記憶部に記憶されると、ステップ114の判定が肯定される。
上記のように、受光セル(フォトダイオード20)によって、図6(B)に示す遅延したタイミングで反射光を受光し、位相タイミングをずらして電荷を蓄積すると、図6(C)〜図6(F)に示すように、位相0〜位相3の変調の各々で、電荷蓄積期間(図6の破線部分参照)と、受光信号が出力される期間とが重なる期間だけ蓄積部26に電荷が蓄積される。
また、発光器12の発光素子の発光タイミングに対する反射光の受光タイミングの遅延時間(位相差)は、光を反射した検出物体18との距離に応じて変化し、また、この位相差の変化に応じて、図7に示すように、各位相の変調における電荷蓄積量も変化する。なお、位相0〜位相3の各位相の変調における電荷蓄積量データをA0〜Aとする。
そして、ステップ118で、各位相タイミングの電荷蓄積量データA〜Aをメモリから読み出して取得し、ステップ120で、電荷蓄積量データA〜Aの各々が、適切な値であるかを判定し、電荷蓄積量データA〜Aの各々が正常電荷量条件としての予め定められた正常電荷量範囲内であると、全ての受光信号が適切であると判断し、ステップ122へ移行するが、一方、電荷蓄積量データA〜Aの少なくとも一つが、正常電荷量範囲外であると、受光信号の少なくとも1つが、オーバーフロー、アンダーフロー、又はそれらに準ずる信頼できないものであると判断し、ステップ124へ移行する。なお、正常電荷量範囲は、受光信号が最小値で黒つぶれしている場合(アンダーフロー)、又はその状況に極めて近い場合に相当する値より大きく、受光信号が最大値で飽和している場合(オーバーフロー)、又はその状況に極めて近い場合に相当する値より小さい範囲であり、実験的又は統計的に、アンダーフロー時の電荷蓄積量データ及びアンダーフロー時の電荷蓄積量データを予め求めておき、求められた電荷蓄積量データに基づいて、正常電荷量範囲を設定しておけばよい。
ステップ122では、電荷蓄積量データA〜Aを用いて、検出物体18までの距離を算出し、計測処理ルーチンを終了する。ここで、上記ステップ122における算出方法について以下に説明する。
まず、発光器12の発光素子の発光タイミングに対する反射光の受光タイミングの位相差φは、以下の(1)式で求められる。
φ=2π・δ/8γ ・・・(1)
ただし、
Figure 0005098331
Figure 0005098331
また、光を反射した検出物体18との距離dは、発光器12の発光素子の発光周波数をf、光速をcとすると、次の(4)式で求めることができる。
d=(c/2f)・(φ/2π) …(4)
但し、上記の(4)式は、発光器12の発光素子の発光タイミングに対する反射光の受光タイミングの実際の位相差が0〜2πの間に収まっている(発光器12の発光素子の発光タイミングに対する反射光の受光タイミングの遅延時間が発光素子の発光周期以内に収まっている)ことが前提であり、物体との距離dが(c/2f)を越えることで上記前提が崩れると、距離dを正しく求めることができない。これを回避するためには、検出対象となる検出物体18との最大距離に基づいて、上記の前提が崩れないように発光器12の発光素子の発光周波数fを設定すればよい。なお、上記演算を個々の受光セル(蓄積部26)毎に行うことで、個々の受光セルに入射された反射光を反射した物体との距離dを各々求めることができる。
また、上記では、位相差φを用いて検出物体18との距離を求める場合を例に説明したが、位相差φを求めなくとも、以下の(5)式により、検出物体18との距離dを求めることができる。この場合には、(1)式の演算が不要となるため、演算処理の高速化が可能となる。
d=(c/2f)・(δ/8γ) …(5)
以上のように、発光器12の発光素子が、図5(A)に示すように方形波状の発光パターンで発光する場合には、上記の(1)式〜(4)式、又は(2)式、(3)式、及び(5)式に基づいて、電荷蓄積量データA〜Aから、検出物体18までの距離を算出することができる。
また、ステップ124では、電荷蓄積量データA〜Aのうち3つが適切な値であるか否かを判定し、電荷蓄積量データA〜Aの何れか1つのみが正常電荷量範囲外である場合には、ステップ126において、正常電荷量範囲内である電荷蓄積量データA〜Aのうちの3つに基づいて、正常電荷量範囲外である電荷蓄積量データA〜Aの何れかを補正する。なお、以下では、電荷蓄積量データAが正常電荷量範囲外である場合を例に説明する。
通常は4つの電荷蓄積量データから、上述した(1)式〜(4)式によって距離を算出するが、各電荷蓄積量データのうち1つがオーバーフローやアンダーフロー、又はそれらに準ずる信頼できない値となった場合、距離を正確に算出することができない。つまり、適切な値として3つの電荷蓄積量データしか取得できないため、(1)式〜(4)式を用いることができず、距離を算出することができない。そこで、3つの電荷蓄積量データから、以下に示すように、近似的に距離を算出する。
まず、図7に示すように、位相差(あるいは、距離、遅延量)に応じて電荷蓄積量データの相対値は理論的に既知の情報となるため、理論電荷蓄積量から、次の(6)式が成立する。
+A=A+A・・・(6)
つまり、電荷蓄積量データAが欠落しても、図8に示すように、次の(7)式から、理論的に電荷蓄積量データAの補正データA‘を求めることができる。
+A−A=A‘・・・(7)
そして、ステップ128では、上記の(1)式〜(4)式、又は(2)式、(3)式、及び(5)式に基づいて、電荷蓄積量データA〜A、及び電荷蓄積量データAの補正データA‘から、検出物体18までの距離を算出し、計測処理ルーチンを終了する。
なお、上述した(1)式〜(7)式では、受光信号が発光器12の光のみを考慮しているが、受光器14で受光する光に、太陽光などによる外乱成分Nが含まれていても、次の(8)式が成立するため、(9)式を用いて距離を計算することができる。
(A+N)+(A+N)=(A+N)+(A+N)・・・(8)
Figure 0005098331
また、上記ステップ124で電荷蓄積量データA〜Aのうち2つ以上が正常電荷量範囲外である場合には、ステップ130において、電荷蓄積量データA〜Aのうち2つが適切な値であるか否かを判定し、電荷蓄積量データA〜Aのうち3つ以上が正常電荷量範囲外である場合には、検出物体18までの距離を計測できないと判定し、計測処理ルーチンを終了するが、一方、電荷蓄積量データA〜Aのうち2つのみが正常電荷量範囲外である場合には、ステップ132において、発光器12の発光を停止した状態で、電荷蓄積量データANを取得する。上記ステップ132における非発光時の電荷蓄積量データANの取得は、以下のように行なわれる。
まず、変調位相を任意の位相(例えば、位相0)に設定し、設定した変調位相を受光器14へ通知することで、受光器14の制御回路により、通知した変調位相に対応する電荷蓄積期間にのみ個々の信号処理回路24のスイッチ28を第2の状態に切り替えさせる。また、受光器14に対して個々の信号処理回路24の蓄積部26のリセットを指示し、受光器14の制御回路により、個々の信号処理回路24の蓄積部26に蓄積されていた電荷を全て排出(廃棄)させる。そして、蓄積部26への電荷蓄積回数が非発光時の電荷蓄積回数Nx回以上になるまで、蓄積部26への電荷蓄積を繰り返す。
この間、発光器12は発光していないので、個々の受光セルに対応するフォトダイオード20は環境光のみを受光し、環境光の受光量に応じたレベルの受光信号を出力する。そして個々の信号処理回路24では、制御部16から通知された変調位相に対応する電荷蓄積期間にのみスイッチ28が第2の状態に切り替わることで、所定の電荷蓄積期間に蓄積部26に信号が入力され、環境光に相当する電荷のみが蓄積される。なお、非発光時の電荷蓄積回数Nxは、上記ステップ108の電荷蓄積回数と同一であることが好ましい。
蓄積部26へのNx回の電荷の蓄積が完了すると、個々の信号処理回路24の蓄積部26から電荷蓄積量を読み出させ、受光器14の個々の信号処理回路24から各々入力された電荷蓄積量データを、非発光時の電荷蓄積量データANとしてメモリ又は不揮発性記憶部に記憶させる。
そして、次のステップ134において、上記ステップ132で得られた非発光時の電荷蓄積量データANを用いて、正常電荷量範囲内である電荷蓄積量データA〜Aのうちの2つから外乱成分(環境光成分)を除去する補正を各々行う。
次のステップ136では、上記ステップ134で、正常電荷量範囲内である電荷蓄積量データA〜Aのうちの2つの各々から外乱成分を除去した値に基づいて、検出物体18までの2つの距離候補を算出する。なお、以下では、電荷蓄積量データA、Aが正常電荷量範囲外である場合を例に説明する。
ここで、外乱成分を考慮せずに、2つの電荷蓄積量データA、Aに基づいて、検出物体18までの距離を算出する場合について説明する。次の(10)式によって、2つの電荷蓄積量データA、Aから、検出物体18までの距離d‘を算出することができる。
Figure 0005098331
上記の(10)式により距離d‘を計算すると、図9に示すように距離d‘1が求まるが、距離d1’と距離d2‘とにおける電荷蓄積量データAと電荷蓄積量データAとの値は同じであり、実際には上記の(10)式から得られた距離d’は,距離d‘と距離d‘のどちらなのか分からない。2つの電荷蓄積量データから距離を算出する場合には、2つの距離候補を算出することができるが、どちらの距離候補が正しいかを求めることができない。
そこで、距離d‘と距離d‘とをそれぞれ以下に示す(11)式、(12)式によって求める。
Figure 0005098331
Figure 0005098331
次に、上記ステップ136で行われる外乱成分を考慮した場合における算出方法について説明する。2つの電荷蓄積量データA、Aに基づいて、距離を算出する場合には、3つの電荷蓄積量データA〜Aに基づいて算出する場合と異なり、外乱成分があった場合は、次の(13)式のように、計算過程で外乱成分Nが削除されないため、計算結果に影響を与えてしまう。
Figure 0005098331
そこで、上記ステップ134で、電荷蓄積量データA、Aから外乱成分を削除した値を用いて、以下の(14)式及び(15)式により、検出物体18までの距離候補d‘、d‘を計算する。
Figure 0005098331
Figure 0005098331
そして、ステップ138において、上記ステップ136で算出された2つの距離候補d‘、d‘について、撮像素子の周囲の受光セルにおいて正しく算出された距離と上記ステップ136で算出された距離候補とを比較して、正しく算出された周囲の他の受光セルにおける距離と近い距離候補d‘、d‘の何れかを、正しい距離d‘として選択し、計測処理ルーチンを終了する。
上記のように計測処理ルーチンを実行することにより、発光タイミングに対して位相差0〜3π/2を有する位相タイミングで取得された電荷蓄積量データのうち、環境光の影響で蓄積電荷の飽和が生じた電荷蓄積量データがあったとしても、飽和が生じていない位相タイミングの電荷蓄積量データを用いて、制御部16は、発光タイミングから受光タイミングまでの位相差φ、又は検出物体18との距離dを算出することができる。
また、この距離の算出は、撮像素子の個々の受光セルについて各々行い、演算結果を外部へ出力し、この物体との距離dの演算結果を参照することで、受光器14の撮像素子による撮像範囲内に存在する各物体との距離を認識することができる。
また、各受光セルにおける位相0〜位相3の電荷蓄積量データからなる画像データを生成し、そして、各画像データが表す各画素の電荷蓄積量を、対応する明度(濃度)に置き換えた各位相(に対応する検出対象の距離レンジ)毎の距離画像データを生成し、生成した距離画像データを外部へ出力して、検出物体18を検出することができる。また、この距離画像データが表す画像をディスプレイ等に表示させることで、受光器14の撮像素子による撮像範囲内に、各距離レンジ毎にどのような物体が存在しているのかを視覚的に認識させることができる。
以上説明したように、第1の実施の形態に係る計測装置によれば、発光タイミングからの位相差が異なる4位相のタイミングで取得された電荷蓄積量データの何れか1つが、正常電荷量範囲内にない場合には、それ以外の3位相の位相タイミングで取得された電荷蓄積量データに基づいて、正常電荷量範囲外の電荷蓄積量データを補正して、発光タイミングからの位相差又は検出物体までの距離を計測するため、正常に受光できなかった場合でも、低コストな構成で、位相差、又は距離を精度よく計測することができる。
また、発光タイミングからの位相差が異なる4位相のタイミングで取得された電荷蓄積量データの何れか1つが、正常電荷量範囲内にない場合であっても、それ以外の2位相のタイミングで取得された電荷蓄積量データに基づいて、位相差又は距離を計測するため、更に正常に受光できなかった場合でも、低コストな構成で、位相差、又は距離を精度よく計測することができる。
また、受光した光が外乱成分を含む場合であっても、電荷蓄積量データから外乱成分を除去して補正することにより、位相差又は距離を精度よく計測することができる。
また、アンダーフローやオーバーフローに相当する電荷蓄積量データを破棄して、それ以外の電荷蓄積量データから、位相差や距離を算出するため、位相差又は距離を精度よく計測することができる。
また、4位相のタイミングで取得された電荷蓄積量データのうち、全ての電荷蓄積量データが正常な値でなくとも距離を計測することが可能であるため、未計測となる回数を低減することができる。
また、外乱成分の影響を受けたり、適正な露光制御が出来ずに、電荷蓄積量データが正しく取得できなくても、最低限2つの電荷蓄積量データが取得できれば補正処理によって、距離計測を行うことができる。また、後処理ベースであるため、特殊なデバイスを用意するなどの必要が無く、低コストで装置を構成することができる。また、素子ごとの特性を揃えたり、画素ごとに外乱成分の削除機能を持つ必要がないため、1つの素子が大型化することを防ぐことができ、高解像度の画像データを出力することができる。
なお、上記の実施の形態では、撮像素子に受光セルが2次元に複数個配列されている場合を例に説明したが、これに限定されるものではなく、単一の受光手段を備え、受光手段が受光した光を反射した物体との距離を計測する距離計測装置であってもよい。この場合には、上記ステップ138において、周囲の受光セルにおける距離と比較するのではなく、過去にその座標で正しく計測された距離と比較して、正しい距離を選択すればよい。
また、正常電荷量範囲内であるか否かに基づいて、電荷蓄積量データが適切な値であるか否かを判断する場合を例に説明したが、4つの電荷蓄積量データを比較し、相対関係に基づいて、適切な値であるか否かを判断してもよい。例えば、ある電荷蓄積量データが、相対的に不自然なほど値が大きかったり、小さかった場合には、適切な値でないと判断する。ここで、上記(6)式より、以下の(16)式を導くことが出来るが、実際は誤差が含まれるため0になることは少ない。
(A+A)−(A+A)=0・・・(16)
そこで、次の(17)式や(18)式のように、閾値Th、Thを設定し、明らかに大小関係の差が大きい場合は、何らかの原因によって、電荷蓄積量データが異常値となったと判断して、異常と思われる電荷蓄積量データを使用しないで、正しく取得された3つの電荷蓄積量データ又は2つの電荷蓄積量データから位相差や距離を算出する。
(A+A)−(A+A)>Th・・・(17)
(A+A)−(A+A)<Th・・・(18)
また、上記では電荷蓄積量データから、発光タイミングからの位相差や検出物体までの距離を算出する場合を例に説明したが、電荷蓄積量データから遅延時間を求めるようにしてもよい。この場合には、上記(1)式から算出された位相差φから、以下の(19)式によって、遅延時間Dを求めればよい。
D=φ/(2f・2π)・・・(19)
次に、第2の実施の形態に係る計測装置について説明する。なお、第2の実施の形態に係る計測装置は、第1の実施の形態に係る計測装置の構成と同様であるため、同一符号を付して、計測装置の構成に関する説明を省略する。
第2の実施の形態では、発光器の発光素子によって発光される発光パターンが正弦波である点が第1の実施の形態と異なっている。
第2の実施の形態に係る計測装置では、発光器12の発光素子によって、時間的に発光強度を変化させた正弦波の発光パターンで発光する。
また、発光器12の発光素子の発光タイミングに対する反射光の受光タイミングの位相差は、光を反射した検出物体18との距離に応じて変化し、この受光タイミングの位相差の変化に応じて、図10に示すように、各位相の変調における電荷蓄積量も変化する。これにより、制御部16で実行される計測処理ルーチンでは、電荷蓄積量データA〜Aの各々が、予め定められた正常電荷量範囲であって、全ての受光信号が適切であると判断されると、次の(20)式によって、位相差φが求められる。
Figure 0005098331
また、電荷蓄積量データA〜Aのうち、何れか1つが正常電荷量範囲外である場合には、第1の実施の形態と同様に、正常電荷量範囲内の電荷蓄積量データに基づいて、正常電荷量範囲外の電荷蓄積量データを補正して、上記(20)式を用いて、位相差φ‘を求めることができる。
また、受光器14で受光する光に太陽光などによる外乱成分Nが含まれていても、次の(21)式及び(22)式のように、位相差φが求めるための計算過程で外乱成分Nが削除されるため、外乱成分Nを考慮しなくても、電荷蓄積量データA〜Aに基づいて、または、電荷蓄積量データA〜A及び補正された電荷蓄積量データA‘に基づいて、位相差φ、φ‘を算出することができる。
Figure 0005098331
Figure 0005098331
また、光を反射した検出物体18との距離dは、発光器12の発光素子の発光周波数をf、光速をcとすると、位相差φ、φ‘を用いて、次の(23)式及び(24)式で求めることができる。
d=(c/2f)・(φ/2π) ・・・(23)
d‘=(c/2f)・(φ‘/2π)・・・(24)
また、電荷蓄積量データA〜Aのうち、何れか2つが正常電荷量範囲外である場合には、第1の実施の形態のステップ132〜138と同様に、正常電荷量範囲内の2つの電荷蓄積量データと、周囲の受光セルについて算出された距離とに基づいて、光を反射した検出物体18との距離d‘を求めることができる。
このように、発光器から正弦波の発光パターンで発光した場合でも、発光タイミングからの位相差が異なる4位相のタイミングで取得された電荷蓄積量データの何れか1つ又は2つが、正常電荷量範囲内にない場合には、それ以外の3位相又は2位相の位相タイミングで取得された電荷蓄積量データに基づいて、発光タイミングからの位相差又は検出物体までの距離を計測することができるため、正常に受光できなかった場合でも、低コストな構成で、位相差、又は距離を精度よく計測することができる。
次に、第3の実施の形態に係る計測装置について説明する。なお、第3の実施の形態に係る計測装置は、第1の実施の形態に係る計測装置の構成と同様であるため、同一符号を付して、計測装置の構成に関する説明を省略する。
第3の実施の形態では、発光タイミングからの位相差が異なる8つの位相タイミングについて、電荷蓄積量データを取得し、8つの電荷蓄積量データに基づいて、発光タイミングから受光タイミングまでの位相差又は検出物体までの距離を計測している点が第1の実施の形態と異なっている。
第3の実施の形態に係る計測装置において、制御部16で実行される計測処理ルーチンでは、発光タイミングから位相差がπ/4ずつ異なる8位相のタイミングで、蓄積部26に電荷を蓄積させ、電荷蓄積量データA〜Aを取得する。
図11に示すように、発光タイミングから位相差がπ/2ずつ異なる位相差0、π/2、π、3π/2となる4位相のタイミングで取得される電荷蓄積量データA〜Aと、発光タイミングから、位相差がπ/2ずつ異なる位相差π/4、3π/4(=π/2+π/4)、5π/4(=π+π/4)、7π/4(=3π/2+π/4)となる4位相のタイミングで取得される電荷蓄積量データA〜Aとは、発光器12の発光素子の発光タイミングに対する反射光の受光タイミングの位相差に応じて変化している。なお、電荷蓄積量データA〜Aの位相タイミングと、電荷蓄積量データA〜Aの位相タイミングとは、全体的にπ/4だけずれている。
そして、電荷蓄積量データA〜Aの各々が、予め定められた正常電荷量範囲であって、全ての受光信号が適切であると判断された場合には、電荷蓄積量データA〜A(第1の電荷蓄積量グループ)に基づいて、次の(25)式によって、位相差φが求められる。
φ=2π・δ/8γ ・・・(25)
また、電荷蓄積量データA〜Aの各々が、予め定められた正常電荷量範囲であって、全ての受光信号が適切であると判断された場合には、電荷蓄積量データA〜A(第2の電荷蓄積量グループ)に基づいて、次の(26)式によって、位相差φが求められる。
φ=2π・δ/8γ−π/4 ・・・(26)
ただし、
Figure 0005098331
Figure 0005098331
Figure 0005098331
Figure 0005098331
また、第1の電荷蓄積量グループ及び第2の電荷蓄積量グループの各々から算出された光を反射した検出物体18との距離d、dは、発光器12の発光素子の発光周波数をf、光速をcとすると、次の(31)式、(32)式で求めることができる。
=(c/2f)・(φ/2π) …(31)
=(c/2f)・(φ/2π) …(32)
そして、以下の(33)式によって、距離d、dの平均を算出して、光を反射した検出物体18との距離dを算出する。
d=(d+d)/2 ・・・(33)
また、電荷蓄積量データA〜A(第1の電荷蓄積量グループ)について、電荷蓄積量データA〜Aのうち、1つが正常電荷量範囲外である場合には、第1の実施の形態で説明したステップ126、128と同様に検出物体18までの距離d‘を算出し、また、電荷蓄積量データA〜Aのうち、2つが正常電荷量範囲外である場合には、第1の実施の形態で説明したステップ132〜138と同様に検出物体18までの距離d‘を算出する。
また、電荷蓄積量データA〜A(第2の電荷蓄積量グループ)について、電荷蓄積量データA〜Aのうち、1つが正常電荷量範囲外である場合には、第1の実施の形態で説明したステップ126、128と同様に検出物体18までの距離d‘を算出し、また、電荷蓄積量データA〜Aのうち、2つが正常電荷量範囲外である場合には、第1の実施の形態で説明したステップ132〜138と同様に検出物体18までの距離d‘を算出する。
そして、上記(33)式を用いて、第1の電荷蓄積量グループ及び第2の電荷蓄積量グループの各々について算出された距離d‘、d‘から、検出物体18との距離dを算出する。
以上説明したように、第3の実施の形態に係る計測装置によれば、電荷蓄積量グループ内の電荷蓄積量データの何れか1つ又は2つが、正常電荷量範囲内にない場合には、それ以外の3個又は2個の位相タイミングの電荷蓄積量データに基づいて、位相差、又は距離を精度よく計測することができる。
また、複数の電荷蓄積量グループの各々について算出された距離を平均して、検出物体までの距離を計測するため、高精度に検出物体までの距離を計測することができる。
なお、上記の実施の形態では、8位相のタイミングで電荷蓄積量データを取得する場合について説明したが、これに限定されるものではなく、4n(nは自然数)位相のタイミングで電荷蓄積量データを取得してもよい。この場合には、π/2nだけ異なる4n個の位相タイミングの各々で取得された電荷蓄積量データを、π/2だけ異なる4個の位相タイミングで取得された電荷蓄積量データからなるn個の電荷蓄積量グループに分けて、各電荷蓄積量グループについて、検出物体までの距離を算出し、これらの距離の平均を算出して、検出物体までの距離を計測すればよい。
また、電荷蓄積量データA〜Aに基づいて算出された距離dと電荷蓄積量データA〜Aに基づいて算出された距離dとを平均して、距離dを算出する場合を例に説明したが、電荷蓄積量データA〜Aと電荷蓄積量データA〜Aとの一方が、正常電荷量範囲外となる2つの電荷蓄積量データを有し、他方が、正常電荷量範囲外となる1つの電荷蓄積量データを有し、または、全て正常電荷量範囲内である場合には、平均をとらずに、他方の電荷蓄積量グループに基づいて算出された距離を、そのまま計測距離として出力してもよい。例えば、電荷蓄積量データA〜Aのうち、1つが正常電荷量範囲外であって、電荷蓄積量データA〜Aのうち、2つが正常電荷量範囲外である場合には、電荷蓄積量データA〜Aで計測される距離を破棄して、電荷蓄積量データA〜Aに基づいて算出された距離を出力すればよい。これにより、精度の良くない値を用いないため、計測される距離の精度の低下を防ぐことができる。
本発明の第1の実施の形態に係る計測装置の構成を示す概略図である。 (A)照射光の発光強度を示すタイミングチャート、及び(B)反射光の発光強度を示すタイミングチャートである。 受光器の受光セルに接続された信号処理部の回路図である。 本発明の第1の実施の形態に係る計測装置の制御部における計測処理ルーチンの内容を示すフローチャートである。 発光信号及び各変調信号を示すタイミングチャートである。 各位相での電荷の蓄積と蓄積部に蓄積される電荷量を示すタイミングチャートである。 発光タイミングに対する受光タイミングの位相差と各電荷蓄積量データとの関係を示すグラフである。 発光タイミングに対する受光タイミングの位相差と3位相のタイミングで取得された電荷蓄積量データとの関係を示すグラフである。 発光タイミングに対する受光タイミングの位相差と2位相のタイミングで取得された電荷蓄積量データとの関係を示すグラフである。 発光パターンを正弦波とした場合における発光タイミングに対する受光タイミングの位相差と各電荷蓄積量データとの関係を示すグラフである。 発光タイミングに対する受光タイミングの位相差と8位相のタイミングで取得された各電荷蓄積量データとの関係を示すグラフである。
符号の説明
10 距離計測装置
12 発光器
14 受光器
16 制御部
18 検出物体
20 フォトダイオード
24 信号処理回路
26 蓄積部
Ai 電荷蓄積量データ

Claims (3)

  1. 計測対象物に対して光を発光する発光手段と、
    前記発光手段から発光された光の前記計測対象物からの反射光を受光し、受光量に応じた受光信号を出力する複数の受光手段と、
    時間的に発光強度を変化させた光を発光するように前記発光手段を制御する発光制御手段と、
    前記複数の受光手段の各々に対応して設けられた複数の電荷蓄積手段と、
    前記複数の受光手段の各々について、前記受光手段から出力される受光信号を、前記発光手段の発光タイミングからπ/2n(nは自然数である)だけ異なる4n個の位相タイミングの各々で、所定の蓄積期間に、対応する前記電荷蓄積手段へ電荷として蓄積させる蓄積制御手段と、
    前記複数の受光手段の各々について、対応する前記電荷蓄積手段に蓄積された前記4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の各々が、前記電荷蓄積手段のアンダーフローに相当する電荷蓄積量より大きく、オーバーフローに相当する電荷蓄積量より小さい予め定められた範囲内であるか否かを判定する判定手段と、
    前記複数の受光手段の各々について、対応する前記電荷蓄積手段に蓄積された前記4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量のうち、π/2だけ異なる4個の位相タイミングの各々における電荷蓄積量からなるn個の電荷蓄積量グループの各々について、前記判定手段によって前記電荷蓄積量の全てが前記予め定められた範囲内であると判定された場合、前記電荷蓄積量グループの電荷蓄積量に基づいて、前記発光手段によって発光してから前記受光手段によって受光するまでの位相差、遅延時間、及び前記計測対象物までの距離の少なくとも一つを計測し、
    前記判定手段によって1個の位相タイミングにおける電荷蓄積量が前記予め定められた範囲内でないと判定された場合、前記電荷蓄積量グループの前記1個の位相タイミング以外の3個の位相タイミングにおける電荷蓄積量に基づいて、前記1個の位相タイミングにおける電荷蓄積量を補正し、前記3個の位相タイミングにおける電荷蓄積量及び前記補正された電荷蓄積量に基づいて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つを計測し、
    前記判定手段によって2個の位相タイミングの各々における電荷蓄積量が前記予め定められた範囲内でないと判定された場合、前記電荷蓄積量グループの前記2個の位相タイミング以外の2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の総和及び該2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の何れか一方の比に基づいて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つの候補を2つ計測し、他の受光手段について計測された前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つに基づいて、前記2つの候補の何れかを選択する計測手段と、
    を含む計測装置。
  2. 計測対象物に対して光を発光する発光手段と、
    前記発光手段から発光された光の前記計測対象物からの反射光を受光し、受光量に応じた受光信号を出力する複数の受光手段と、
    時間的に発光強度を変化させた光を発光するように前記発光手段を制御する発光制御手段と、
    前記複数の受光手段の各々に対応して設けられた複数の電荷蓄積手段と、
    前記複数の受光手段の各々について、前記受光手段から出力される受光信号を、前記発光手段の発光タイミングからπ/2n(nは自然数である)だけ異なる4n個の位相タイミングの各々で、所定の蓄積期間に、対応する電荷蓄積手段へ電荷として蓄積させる蓄積制御手段と、
    前記複数の受光手段の各々について、対応する電荷蓄積手段に蓄積された前記4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の各々が、前記電荷蓄積手段のアンダーフローに相当する電荷蓄積量より大きく、オーバーフローに相当する電荷蓄積量より小さい予め定められた範囲内であるか否かを判定する判定手段と、
    前記複数の受光手段の各々について、対応する電荷蓄積手段に蓄積された前記4n個の位相タイミングにおける電荷蓄積量のうち、π/2だけ異なる4個の位相タイミングにおける電荷蓄積量からなるn個の電荷蓄積量グループの各々について、前記判定手段によって前記電荷蓄積量の全てが前記予め定められた範囲内であると判定された場合、前記電荷蓄積量グループの電荷蓄積量に基づいて、前記発光手段による発光から前記受光手段による受光までの位相差、遅延時間、及び前記計測対象物までの距離の少なくとも一つを計測し、
    前記判定手段によって2個の位相タイミングの各々における電荷蓄積量が前記予め定められた範囲内でないと判定された場合、前記電荷蓄積量グループの前記2個の位相タイミング以外の2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の総和及び該2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の何れか一方の比に基づいて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つの候補を2つ計測し、他の受光手段について計測された前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つに基づいて、前記2つの候補の何れかを選択する計測手段と、
    を含む計測装置。
  3. 前記発光手段が発光を停止している状態で前記受光手段から出力される受光信号を、前記電荷蓄積手段へ蓄積させるノイズ蓄積制御手段を更に含み、
    前記計測手段は、前記判定手段によって2個の位相タイミングの各々の電荷蓄積量が前記予め定められた範囲内でないと判定された場合、前記電荷蓄積量グループの前記2個の位相タイミング以外の2個の位相タイミングにおける電荷蓄積量の各々から前記ノイズ蓄積制御手段によって蓄積された電荷蓄積量を減算して補正し、前記補正された2個の電荷蓄積量を用いて、前記位相差、前記遅延時間、及び前記距離の少なくとも一つを計測する請求項1又は2項記載の計測装置。
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Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110063437A1 (en) * 2008-08-20 2011-03-17 Tatsumi Watanabe Distance estimating device, distance estimating method, program, integrated circuit, and camera
JP5478902B2 (ja) * 2009-01-20 2014-04-23 スタンレー電気株式会社 光学距離センサー
EP2402783B1 (en) * 2009-02-27 2013-10-02 Panasonic Corporation Distance measuring apparatus
KR101565969B1 (ko) * 2009-09-01 2015-11-05 삼성전자주식회사 깊이 정보를 추정할 수 있는 방법과 장치, 및 상기 장치를 포함하는 신호 처리 장치
KR101711061B1 (ko) * 2010-02-12 2017-02-28 삼성전자주식회사 깊이 추정 장치를 이용한 깊이 정보 추정 방법
KR101652933B1 (ko) * 2010-02-17 2016-09-02 삼성전자주식회사 센서, 이의 동작 방법, 및 이를 포함하는 거리 측정 장치
US8587771B2 (en) * 2010-07-16 2013-11-19 Microsoft Corporation Method and system for multi-phase dynamic calibration of three-dimensional (3D) sensors in a time-of-flight system
CN103181156B (zh) * 2011-07-12 2017-09-01 三星电子株式会社 模糊处理装置及方法
US9456152B2 (en) 2011-07-12 2016-09-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Device and method for blur processing
EP2743724B1 (de) 2012-12-12 2015-09-23 Espros Photonics AG TOF Entfernungssensor sowie Verfahren zum Betrieb
JP6298236B2 (ja) * 2013-02-22 2018-03-20 スタンレー電気株式会社 距離画像生成装置および距離画像生成方法
JP6507529B2 (ja) * 2014-08-29 2019-05-08 株式会社デンソー 光飛行型測距装置
DE102014013099B4 (de) * 2014-09-03 2019-11-14 Basler Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur vereinfachten Erfassung eines Tiefenbildes
JP6498429B2 (ja) * 2014-12-16 2019-04-10 スタンレー電気株式会社 距離画像生成装置、距離画像生成方法およびプログラム
JP6834211B2 (ja) * 2016-07-15 2021-02-24 株式会社リコー 測距装置、移動体、ロボット、3次元計測装置及び測距方法
WO2018101262A1 (ja) * 2016-11-30 2018-06-07 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 測距装置及び測距方法
JP6878943B2 (ja) * 2017-02-17 2021-06-02 セイコーエプソン株式会社 回路装置、物理量測定装置、電子機器及び移動体
US10928489B2 (en) 2017-04-06 2021-02-23 Microsoft Technology Licensing, Llc Time of flight camera
US10215856B1 (en) 2017-11-27 2019-02-26 Microsoft Technology Licensing, Llc Time of flight camera
US10901087B2 (en) 2018-01-15 2021-01-26 Microsoft Technology Licensing, Llc Time of flight camera
US10942274B2 (en) 2018-04-11 2021-03-09 Microsoft Technology Licensing, Llc Time of flight and picture camera
US10895925B2 (en) 2018-10-03 2021-01-19 Microsoft Technology Licensing, Llc Touch display alignment
US11435476B2 (en) 2018-10-12 2022-09-06 Microsoft Technology Licensing, Llc Time-of-flight RGB-IR image sensor
CN110333779B (zh) * 2019-06-04 2022-06-21 Oppo广东移动通信有限公司 控制方法、终端和存储介质
US11079515B2 (en) 2019-12-18 2021-08-03 Microsoft Technology Licensing, Llc Micro lens time-of-flight sensor having micro lens heights that vary based on image height
CN112799087A (zh) * 2020-12-30 2021-05-14 艾普柯微电子(江苏)有限公司 测距方法及测距装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3906818B2 (ja) * 2003-04-07 2007-04-18 松下電工株式会社 受光素子の感度制御方法、強度変調光を用いた空間情報の検出装置
JP3906859B2 (ja) * 2004-09-17 2007-04-18 松下電工株式会社 距離画像センサ
JP4715216B2 (ja) * 2005-02-07 2011-07-06 パナソニック電工株式会社 測距装置
JP4200328B2 (ja) * 2005-04-18 2008-12-24 パナソニック電工株式会社 空間情報検出システム
JP4788187B2 (ja) * 2005-05-02 2011-10-05 パナソニック電工株式会社 空間情報検出装置
JP4321540B2 (ja) * 2006-03-30 2009-08-26 株式会社豊田中央研究所 物体検出装置

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