JP2008158480A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101086508B (zh) * 2006-06-07 2010-05-12 瀚斯宝丽股份有限公司 检测设备及其连接器及其检测方法
CN101424795B (zh) * 2007-11-02 2010-12-01 群康科技(深圳)有限公司 液晶显示器及其检测方法
KR101427592B1 (ko) * 2007-12-21 2014-08-08 삼성디스플레이 주식회사 액정표시장치용 검사장치 및 그 제어방법
KR101492116B1 (ko) * 2008-01-24 2015-02-09 삼성디스플레이 주식회사 커넥터 및 이를 갖는 표시장치
JP5428299B2 (ja) * 2008-03-18 2014-02-26 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置及び電子機器
US20090267877A1 (en) * 2008-04-29 2009-10-29 Himax Display, Inc. Liquid crystal on silicon panel
TWI379116B (en) * 2008-05-30 2012-12-11 Chimei Innolux Corp Liquid crystal display high-voltage testing circuit and method of testing liquid crystal display
TWI395041B (zh) * 2008-07-16 2013-05-01 Electronic paper display screen pin device
KR101485584B1 (ko) * 2008-08-06 2015-01-28 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치 및 그것의 구동 방법
CN101719352B (zh) * 2008-10-09 2012-07-25 北京京东方光电科技有限公司 液晶盒成盒后检测装置和方法
JP5504507B2 (ja) 2008-10-20 2014-05-28 国立大学法人 東京大学 集積回路装置
CN101958091B (zh) * 2009-07-15 2012-10-31 北京京东方光电科技有限公司 一种液晶显示面板盒后检测装置和检测方法
CN102063877B (zh) * 2009-11-12 2013-01-02 群康科技(深圳)有限公司 液晶显示器及其检测方法
JP2013058428A (ja) * 2011-09-09 2013-03-28 Japan Display East Co Ltd コネクタ接続検査回路、表示装置、コネクタ接続検査方法及び表示装置の製造方法
US20130273776A1 (en) * 2012-04-16 2013-10-17 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Conversion Adaptor and LCD Inspection System
US8994219B2 (en) * 2012-12-25 2015-03-31 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd DC/DC module of LCD driving circuit
CN104732913B (zh) * 2013-12-19 2018-12-14 昆山国显光电有限公司 Amoled的屏体结构及其电压转换电路
KR102374748B1 (ko) * 2015-06-30 2022-03-17 엘지디스플레이 주식회사 전원공급부 및 이를 이용한 표시장치
CN105161065B (zh) * 2015-09-30 2017-10-27 深圳市华星光电技术有限公司 液晶屏信号控制电路、显示面板及显示装置
KR102618361B1 (ko) * 2017-02-02 2023-12-27 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN107038985B (zh) * 2017-06-02 2020-04-03 京东方科技集团股份有限公司 用于显示面板的驱动模块、显示面板及显示装置
CN107316618B (zh) * 2017-07-19 2019-11-12 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 直流电压变换电路及直流电压变换方法和液晶显示装置
CN107329291A (zh) * 2017-08-11 2017-11-07 深圳同兴达科技股份有限公司 一种液晶显示模组高效检测系统
CN108615490B (zh) * 2018-03-16 2022-03-01 昆山龙腾光电股份有限公司 测试电路
CN112368762A (zh) * 2018-06-29 2021-02-12 堺显示器制品株式会社 显示装置
CN113160728B (zh) * 2021-02-19 2024-02-20 厦门天马微电子有限公司 显示面板、检测显示面板的高压漏检方法及显示装置
CN113745865B (zh) * 2021-08-30 2022-09-09 武汉华星光电技术有限公司 引脚连接器和显示面板
CN113920957B (zh) * 2021-10-29 2022-07-26 重庆惠科金渝光电科技有限公司 液晶显示设备及其驱动方法
CN115148141B (zh) * 2022-06-27 2023-03-03 绵阳惠科光电科技有限公司 栅极驱动电路、栅极驱动方法和显示装置
CN119001287B (zh) * 2024-08-15 2025-12-09 四川航天烽火伺服控制技术有限公司 一种驱动板批量化测试电路及测试方法

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08202320A (ja) * 1995-01-25 1996-08-09 Nec Home Electron Ltd ディスプレイ装置のモード切り替え方法及びディスプ レイ装置
JP4147594B2 (ja) * 1997-01-29 2008-09-10 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクス基板、液晶表示装置および電子機器
KR100239749B1 (ko) * 1997-04-11 2000-01-15 윤종용 그로스 테스트용 tft 소자 제조 방법 및 이를 형성한 액정 표시 장치 구조와 그로스 테스트 장치 및 방법
JP3206509B2 (ja) * 1997-08-22 2001-09-10 日本電気株式会社 表示パネル用プローブ装置
JPH11186516A (ja) 1997-12-17 1999-07-09 Toshiba Microelectronics Corp 半導体メモリ装置及び半導体メモリ装置の試験方法
KR100365943B1 (ko) * 1999-04-08 2002-12-26 주식회사 하이닉스반도체 내부전원전위를 이용한 번인테스트용 고전압 발생장치
JP2001272430A (ja) * 2000-03-24 2001-10-05 Oht Inc 検査装置及び検査方法
JP2002156417A (ja) * 2000-11-17 2002-05-31 Oht Inc 回路基板の検査装置及び検査方法
KR100758809B1 (ko) * 2000-12-30 2007-09-13 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시소자의 검사장치
JP2002340989A (ja) * 2001-05-15 2002-11-27 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 測定方法、検査方法及び検査装置
US6940271B2 (en) * 2001-08-17 2005-09-06 Nptest, Inc. Pin electronics interface circuit
JP4685336B2 (ja) * 2003-06-06 2011-05-18 株式会社島津製作所 Ｔｆｔアレイ検査装置
KR20060015201A (ko) * 2004-08-13 2006-02-16 삼성전자주식회사 어레이 기판과, 이를 갖는 모기판 및 액정표시장치
CN100359556C (zh) * 2004-09-13 2008-01-02 凌阳科技股份有限公司 内建测试电路的源极驱动器及其测试方法
KR101209050B1 (ko) * 2005-02-22 2012-12-06 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치 및 그 검사 방법
KR101172498B1 (ko) * 2005-06-01 2012-08-10 삼성전자주식회사 액정 표시 장치의 제조 방법, 액정 표시 장치 및 에이징시스템
KR20060131021A (ko) 2005-06-14 2006-12-20 삼성전자주식회사 표시 장치
KR101147120B1 (ko) * 2005-08-30 2012-05-25 엘지디스플레이 주식회사 Ｌｃｄ 검사 장비 및 ｌｃｄ 검사 방법
JP2007072285A (ja) * 2005-09-08 2007-03-22 Funai Electric Co Ltd 液晶表示装置および液晶セルの検査装置
JP5019194B2 (ja) * 2005-11-30 2012-09-05 株式会社ジャパンディスプレイセントラル 表示制御回路

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