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Abstract
【課題】 液晶表示装置の映像信号線と画素電極との間に生じる寄生容量に起因した画質の低下を防ぐとともに、開口率の低下を抑える。
【解決手段】 複数本の走査信号線と、複数本の映像信号線と、マトリクス状に配置された複数個の画素電極とを有する表示パネルを備える表示装置であって、前記映像信号線は、当該映像信号線からみて前記走査信号線の延在方向に配置され、かつ、平面でみたときに当該映像信号線に隣接する画素電極と重なる領域を有する導電性の寄生容量調整層と電気的に接続しており、前記画素電極は、平面で見たときの前記映像信号線と当該画素電極との距離が近づくと、当該映像信号線に接続している前記寄生容量調整層と当該画素電極とが重なる領域が狭くなり、平面で見たときの前記映像信号線と当該画素電極との距離が離れると、当該映像信号線に接続している前記寄生容量調整層と当該画素電極とが重なる領域が広くなる切り欠きを有する。
【選択図】 図4(a)
【解決手段】 複数本の走査信号線と、複数本の映像信号線と、マトリクス状に配置された複数個の画素電極とを有する表示パネルを備える表示装置であって、前記映像信号線は、当該映像信号線からみて前記走査信号線の延在方向に配置され、かつ、平面でみたときに当該映像信号線に隣接する画素電極と重なる領域を有する導電性の寄生容量調整層と電気的に接続しており、前記画素電極は、平面で見たときの前記映像信号線と当該画素電極との距離が近づくと、当該映像信号線に接続している前記寄生容量調整層と当該画素電極とが重なる領域が狭くなり、平面で見たときの前記映像信号線と当該画素電極との距離が離れると、当該映像信号線に接続している前記寄生容量調整層と当該画素電極とが重なる領域が広くなる切り欠きを有する。
【選択図】 図4(a)
Description
本発明は、表示装置に関し、特に、アクティブマトリクス型のTFT液晶表示装置に適用して有効な技術に関するものである。
従来、液晶表示装置には、アクティブマトリクス型の液晶表示装置がある。アクティブマトリクス型の液晶表示装置は、たとえば、液晶材料を封入する一対の基板のうちの一方の基板に、アクティブ素子(スイッチング素子)がマトリクス状に配置されている。前記アクティブ素子として一般的に用いられているのは、MIS構造(MOS構造を含む)のTFT素子である。
前記アクティブ素子が配置された基板(以下、TFT基板と呼ぶ)には、複数本の走査信号線および複数本の映像信号線が設けられており、前記複数本の映像信号線はそれぞれ、前記複数本の走査信号線と立体的に交差するように設けられている。このとき、前記複数個のTFT素子は、ゲートが前記複数本の走査信号線のいずれかに接続しており、ドレインが前記複数本の映像信号線のいずれかに接続している。なお、各TFT素子のゲートが接続している走査信号線とドレインが接続している映像信号線との組み合わせが異なることはもちろんである。
また、前記TFT基板において、各TFT素子のソースは、画素毎に配置される画素電極に接続している。
前記アクティブマトリクス型の液晶表示装置では、たとえば、隣接する2本の走査信号線および隣接する2本の映像信号線で囲まれる領域が1つの画素領域に相当し、この1つの画素領域に対して前記TFT素子および前記画素電極などが配置される。また、前記映像信号線と前記画素電極とは、通常、絶縁層を介した異なる層に形成される。そのため、一般的な液晶表示パネル(TFT基板)では、映像または画像を表示したときに、映像信号線と画素電極との間に寄生容量(配線容量と呼ぶこともある)が生じる。
従来のアクティブマトリクス型の液晶表示装置では、たとえば、映像信号線と画素電極との間に生じる寄生容量に起因した画質の低下が発生しやすいという問題があり、たとえば、1つの画素領域における実効容量、TFT素子のゲート−ソース間に生じる配線容量、TFT素子のドレイン−ソース間に生じる配線容量などの関係が、ある特定の条件を満たすようにTFT素子のパターンや配置位置などを工夫している(たとえば、特許文献1や特許文献2を参照。)。
特開2001−154223号公報
特開平6−11733号公報
ところで、映像信号線と画素電極との間に生じる寄生容量に起因した画質の低下には、たとえば、この寄生容量が寄生ノイズとなり画素電極の電位を変動させることによる画質の低下がある。このような寄生容量(寄生ノイズ)に起因した画素電極の電位の変動による画質の低下は、たとえば、平面で見たときの映像信号線と画素電極との距離が、設計時の寸法からずれてしまったときにみられる。このような寄生容量(寄生ノイズ)に起因した画素電極の電位の変動による画質の低下を防ぐ方法としては、たとえば、平面で見たときの映像信号線と画素電極との距離を広くして寄生容量を小さくするとともに、画素電極の位置がずれたときの寄生容量の値の変化を小さくするという方法が一般的にとられている。
しかしながら、平面で見たときの映像信号線と画素電極との距離を広くすると、隣接する2本の映像信号線の間隔に対する、当該2本の映像信号線の間に配置された画素電極の走査信号線の延在方向の寸法が小さくなるので、画素の開口率が小さくなるという別の問題が生じる。
本発明の目的は、たとえば、液晶表示装置において、映像信号線と画素電極との間に生じる寄生容量に起因した画質の低下を防ぐとともに、開口率の低下を抑えることが可能な技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面によって明らかになるであろう。
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概略を説明すれば、以下の通りである。
(1)複数本の走査信号線と、前記複数本の走査信号線と立体的に交差する複数本の映像信号線と、マトリクス状に配置された複数個の画素電極とを有する表示パネルを備える表示装置であって、前記映像信号線は、当該映像信号線からみて前記走査信号線の延在方向に配置され、かつ、平面でみたときに当該映像信号線に隣接する画素電極と重なる領域を有する導電性の寄生容量調整層と電気的に接続しており、前記画素電極は、平面で見たときの前記映像信号線と当該画素電極との距離が近づくと、当該映像信号線に接続している前記寄生容量調整層と当該画素電極とが重なる領域が狭くなり、平面で見たときの前記映像信号線と当該画素電極との距離が離れると、当該映像信号線に接続している前記寄生容量調整層と当該画素電極とが重なる領域が広くなる切り欠きを有する表示装置。
(2)前記(1)の表示装置において、前記寄生容量調整層は、前記映像信号線と一体形成されている表示装置。
(3)前記(1)または(2)において、前記寄生容量調整層は、前記映像信号線と前記走査信号線とが立体的に交差している領域の近傍で前記映像信号線に接続しており、かつ、前記映像信号線と接続している端部の反対側にある先端部分が、最も近い前記走査信号線から遠ざかる方向に曲がっている表示装置。
(4)前記(1)乃至(3)のいずれかの表示装置において、前記映像信号線は、隣接する1つの画素電極に対して配置された2つの寄生容量調整層と接続しており、当該2つの寄生容量調整層は、前記1つの画素電極の、前記映像信号線の延在方向に対する両端に配置されている表示装置。
(5)前記(1)乃至(4)のいずれかの表示装置において、前記表示パネルは、一対の基板の間に液晶材料を封入した液晶表示パネルである表示装置。
本発明の表示装置によれば、平面で見たときの映像信号線と画素電極との距離が設計値からずれたときの、当該映像信号線と画素電極との間に生じる寄生容量の変動を小さくすることができるので、映像信号線と画素電極との間に生じる寄生容量に起因した画質の低下を防ぐことができる。
また、平面で見たときの映像信号線と画素電極との距離が設計値からずれたときの、当該映像信号線と画素電極との間に生じる寄生容量の変動を小さくすることができるので、画素の開口率の低下を抑えることもできる。
以下、本発明について、図面を参照して実施の形態(実施例)とともに詳細に説明する。
なお、実施例を説明するための全図において、同一機能を有するものは、同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略する。
なお、実施例を説明するための全図において、同一機能を有するものは、同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略する。
図1(a)は、本発明による一実施例の液晶表示装置の概略構成の一例を示す模式図である。図1(b)は、図1(a)に示した液晶表示パネルにおける1画素の回路構成の一例を示す模式回路図である。
本実施例では、本発明をアクティブマトリクス型の液晶表示装置に適用した場合を例に挙げ、その構成の一例について説明する。そこで、まず、アクティブマトリクス型の液晶表示装置の概略構成について簡単に説明する。
アクティブマトリクス型の液晶表示装置は、たとえば、図1(a)に示すように、液晶表示パネル1と、ゲートドライバ2と、データドライバ3とを有する。なお、図1(a)では省略しているが、液晶表示装置は、これらのほかに、たとえば、ゲートドライバ2やデータドライバ3の動作を制御する回路基板などを有する。また、透過型または半透過型の液晶表示装置の場合、バックライトユニット(光源)も有する。
液晶表示パネル1は、複数本の走査信号線GLおよび複数本の映像信号線DLを有する。複数本の走査信号線GLは、ゲートドライバ2から走査信号が入力される信号線であり、複数本の映像信号線DLは、データドライバ3から映像信号(階調電圧信号と呼ぶこともある)が入力される信号線である。また、走査信号線GLと映像信号線DLは、絶縁層を介して形成されており、1本の映像信号線DLは、前記絶縁層を介して複数本の走査信号線GLと立体的に交差している。
また、液晶表示パネル1の表示領域DAは、複数本の走査信号線GLのうちの最も外側に配置されている2本の走査信号線と、複数本の映像信号線DLのうちの最も外側に配置されている2本の映像信号線とで囲まれる矩形領域である。また、表示領域DAは、走査信号線GLの延在方向および映像信号線DLの延在方向に配置された多数個の画素により構成されており、1つの画素が占める領域は、隣接する2本の走査信号線GLと隣接する2本の映像信号線DLとで囲まれる領域に相当する。
なお、前記最も外側に配置されている2本の走査信号線のうちの一方の走査信号線はダミーの走査信号線であり、前記最も外側に配置されている2本の映像信号線のうちの一方の映像信号線はダミーの映像信号線である。図1(a)に示した液晶表示パネル1では、映像信号線DLの信号入力端から最も遠い走査信号線がダミーの走査信号線であり、走査信号線GLの信号入力端から最も遠い映像信号線がダミーの映像信号線である。このように、ダミーの走査信号線およびダミーの映像信号線を設けることにより、表示領域DAを構成するすべての画素が、隣接する2本の走査信号線と隣接する2本の映像信号線とで囲まれた構成になる。
また、図1(a)では省略しているが、表示領域DAを構成する各画素には、アクティブ素子(スイッチング素子と呼ぶこともある)が配置されており、一般的な液晶表示パネル1の場合、前記アクティブ素子には、たとえば、MIS構造(MOS構造を含む)のTFTが用いられる。前記アクティブ素子として用いるTFTが、1つの画素に対して1個の割合で配置される場合、たとえば、図1(b)に示すように、隣接する2本の走査信号線GLn,GLn+1(nは1より大きい整数)と、隣接する2本の映像信号線DLm,DLm+1(mは1より大きい整数)とで囲まれる領域(画素)に対して配置されるTFT(Tr)は、ゲート(G)が走査信号線GLnに接続し、ドレイン(D)が映像信号線DLmに接続している。またこのとき、TFTのソース(S)は、画素電極PXに接続している。画素電極PXは、対向電極CT(共通電極と呼ぶこともある)および液晶層LCと画素容量(液晶容量と呼ぶこともある)CLCを形成している。
なお、本実施例では、TFTのドレインとソースについて、映像信号線DLに接続しているほうをドレインと呼び、画素電極PXに接続しているほうをソースと呼んでいるが、この逆、すなわち、映像信号線DLに接続しているほうをソースと呼び、画素電極PXに接続しているほうをドレインと呼ぶこともある。
図2(a)は、液晶表示パネルの概略構成の一例を示す模式平面図である。図2(b)は、図2(a)のA−A'線における模式断面図である。
図3(a)は、液晶表示パネルのTFT基板における1画素の構成の一例を示す模式平面図である。図3(b)は、図3(a)のB−B'線における模式断面図である。図3(c)は、図3(a)のC−C'線における模式断面図である。
図3(a)は、液晶表示パネルのTFT基板における1画素の構成の一例を示す模式平面図である。図3(b)は、図3(a)のB−B'線における模式断面図である。図3(c)は、図3(a)のC−C'線における模式断面図である。
液晶表示パネル1は、たとえば、図2(a)および図2(b)に示すように、TFT基板101および対向基板102と呼ばれる一対の基板の間に液晶材料103(液晶層LC)を封入した表示パネルである。このとき、TFT基板101と対向基板102は、たとえば、表示領域DAを囲む環状のシール材104で接着されており、液晶材料103は、TFT基板101および対向基板102ならびにシール材104で囲まれた空間に封入されている。
また、液晶表示パネル1が透過型または半透過型の場合、TFT基板101および対向基板102の外側を向いた面には、たとえば、一対の偏光板105A,105Bが設けられている。またこのとき、たとえば、TFT基板101と偏光板105Aの間、および対向基板102と偏光板105Bの間に、それぞれ、1層または複数層の位相差板が設けられていることもある。
また、液晶表示パネル1が反射型の場合、一般に、TFT基板101側の偏光板105Aや位相差板は不要である。
液晶表示パネル1が透過型であり、かつ、横電界駆動方式の場合、TFT基板101には、図1(a)および図1(b)に示した構成のうちの、走査信号線GL、映像信号線DL、アクティブ素子として用いるTFT(Tr)、画素電極PX、対向電極CTが形成されている。また、図1(b)に示した構成のうちの液晶層LCは液晶材料103である。
このとき、TFT基板101における1画素の構成は、たとえば、図3(a)乃至図3(c)に示したような構成になっており、ガラス基板などの絶縁基板SUBの表面には、走査信号線GLおよび対向電極CT、第1の絶縁層PAS1、半導体層SC、映像信号線DL(ドレイン電極SD1、寄生容量調整層CCを含む)およびソース電極SD2、第2の絶縁層PAS2、画素電極PXが、この順序で積層している。またこのとき、画素電極PXは、スルーホールTH1によりソース電極SD2と電気的に接続している。
走査信号線GLは、たとえば、絶縁基板SUBの表面にアルミニウムなどの金属からなる第1の導電膜を成膜した後、前記第1の導電膜をエッチングして形成されたものである。
対向電極CTは、たとえば、ITOなどの光透過率が高い導電体からなる第2の導電膜を成膜した後、前記第2の導電膜をエッチングして形成されたものである。このとき、対向電極CTは、隣接する2本の走査信号線GLの間毎に、たとえば、走査信号線GLの延在方向(x方向)に長く伸びる帯状電極として形成されている。またこのとき、各帯状電極は、たとえば、表示領域DAの外側において電気的に接続されている。なお、各帯状電極(対向電極CT)は、対向電極CTの形成に用いる第2の導電膜(たとえば、ITO膜)自身で接続されていてもよいし、走査信号線GLの形成に用いる第1の導電膜などで接続されていてもよい。
また、図3(b)に示した例は、第2の導電膜をエッチングして対向電極CTを形成した後、第1の導電膜の成膜およびエッチングを行って走査信号線GLを形成した場合の断面構成であるが、走査信号線GLおよび対向電極CTは、別の手順で形成することも可能である。別の形成手順としては、たとえば、第1の導電膜をエッチングして走査信号線GLを形成した後、第2の導電膜の成膜およびエッチングを行って対向電極CTを形成する手順がある。また、その他にも、たとえば、第2の導電膜および第1の導電膜を順次成膜した後、第1の導電膜をエッチングして走査信号線GLを形成し、第2の導電膜をエッチングして対向電極CTを形成することも可能である。
第1の絶縁層PAS1は、TFTのゲート絶縁膜としての機能を有する絶縁層であり、たとえば、シリコン酸化膜を成膜して形成されたものである。
半導体層SCは、たとえば、アモルファスシリコンなどの半導体膜を成膜した後、その半導体膜をエッチングして形成されたものである。また、半導体層SCは、たとえば、リンイオンなどの不純物を注入してチャネル領域、ドレイン領域、ソース領域に分けられている。
映像信号線DLおよびソース電極SD2は、たとえば、アルミニウムなどの金属からなる第3の導電膜を成膜した後、その第3の導電膜をエッチングして形成されたものである。なお、図3(a)に示した例において、映像信号線DLは、データドライバ3から入力された映像信号(階調電圧信号)を映像信号線DLの延在方向(y方向)に並んだ複数個の画素に伝送する主線部MDLのほかに、ドレイン電極SD1と寄生容量調整層CCとを有し、これらが一体形成されている。
ドレイン電極SD1は、TFTのドレイン電極として機能する部分であり、映像信号線DLの主線部MDLのうちの、走査信号線GLと立体的に交差している領域から、当該走査信号線GLの延在方向(x方向)に分岐した部分である。また、図3(a)に示した例では、ドレイン電極SD1の先端部分が、x方向を上下方向とするU字型になっているが、これに限らず、たとえば、y方向を上下方向とするU字型であってもよいし、直線状のままであってもよい。
また、寄生容量調整層CCは、たとえば、映像信号線DLmと画素電極PXとの間に生じる寄生容量の値と、映像信号線DLm+1と画素電極PXとの間に生じる寄生容量の値とのずれを調整する部分であり、映像信号線DLの主線部MDLのうちの、走査信号線GLと立体的に交差する領域の近傍から、走査信号線GLの延在方向(x方向)に分岐したL字型の部分である。また、寄生容量調整層CCは、図3(a)に示したように、1つの画素領域の4つの角部に設けられており、各寄生容量調整層CCの先端部分は、最も近い走査信号線GLから遠ざかる方向に曲がっている。
なお、図3(a)に示した例では、ドレイン電極SD1および寄生容量調整層CCが、映像信号線DLと一体形成されているが、ドレイン電極SD1および寄生容量調整層CCは、映像信号線DLの主線部MDLと電気的に接続していればよい。そのため、映像信号線DLおよびドレイン電極SD1ならびに寄生容量調整層CCは、たとえば、それぞれ独立したパターンで形成されていてもよい。
第2の絶縁層PAS2は、たとえば、シリコン酸化膜またはシリコン窒化膜などの絶縁膜を成膜した後、ウェットエッチングなどでスルーホールTH1を開口して形成されたものである。
画素電極PXは、たとえば、ITOなどの光透過率が高い導電体からなる第4の導電膜を成膜した後、その第4の導電膜をエッチングして形成されたものである。また、画素電極PXは、平面でみて対向電極CTと重なる領域に、複数のスリット(開口部)SLTが形成されている。なお、図3(a)に示した例では、各スリットSLTが、画素電極PXのy方向に対する中心付近を境にした上下で線対称になるように配置されているが、これに限らず、他のパターンで配置されていてもよい。
また、画素電極PXは、図3(a)に示したように、走査信号線GLの延在方向(x方向)に延びる辺PXa,PXbのそれぞれに、切り欠きPXsを有する。そのため、画素電極PXは、寄生容量調整層CCの先端部分と重なる領域と、切り欠きPXsにより寄生容量調整層CCの先端部分とは重ならない領域とがある。また、1つの寄生容量調整層CCに着目すると、平面でみたときに寄生容量調整層CCの先端部分と画素電極PXとが重なる領域と重ならない領域は、図3(a)および図3(d)に示すように、x方向に並んでおり、かつ、寄生容量調整層CCが接続している映像信号線DLに近いほうが、平面でみたときに寄生容量調整層CCの先端部分と画素電極PXとが重なる領域になっている。
すなわち、本実施例の液晶表示パネル1において、映像信号線DLと画素電極PXとの間に生じる寄生容量(配線容量と呼ぶこともある)は、主に、図3(d)に示したように、映像信号線DLの主線部分MDLと画素電極PXの端部との間に生じる第1の寄生容量Cdsと、平面でみたときに2つの寄生容量調整層CCの先端部分と画素電極PXとが重なる領域に生じる第2の寄生容量ΔCdsとからなる。
なお、上記平面とは、図3(a)に示した平面、すなわちTFT基板101(液晶表示パネル1)を観察者側からみたときの平面である。また、以下の説明における平面についても、図3(a)に示した平面、すなわちTFT基板101(液晶表示パネル1)を観察者側からみたときの平面である。またさらに、以下の説明では、寄生容量調整層CCと画素電極PXとが前記平面でみたときに重なる領域のことを重畳領域と呼ぶ。
また、図3(b)および図3(c)ならびに図3(d)では省略しているが、第2の絶縁層PAS2および画素電極PXの上には、たとえば、配向膜が形成されており、TFT基板101は、前記配向膜が形成された面が、液晶材料103(液晶層LC)を介して対向基板102に対向している。
また、詳細な説明は省略するが、対向基板102は、たとえば、ガラス基板などの絶縁基板の表面に、表示領域DAを画素毎の領域に分割する遮光膜やカラーフィルタ、配向膜などが形成されている。
図4(a)乃至図4(c)は、本実施例の液晶表示パネル1の作用効果を説明するための模式平面図である。
図4(a)は、映像信号線と画素電極との位置関係がほぼ設計値通りの場合の模式平面図である。図4(b)は、画素電極の位置がx方向にずれた場合の一例を示す模式平面図である。図4(c)は、画素電極の位置がy方向にずれた場合の一例を示す模式平面図である。
なお、図4(a)乃至図4(c)には、TFT基板101を平面でみたときの1画素の構成のうちの、隣接する2本の映像信号線DLm,DLm+1と、画素電極PXのみを示している。また、画素電極PXについては、ソース電極SD2との接続部の周辺を省略して示している。
図4(a)は、映像信号線と画素電極との位置関係がほぼ設計値通りの場合の模式平面図である。図4(b)は、画素電極の位置がx方向にずれた場合の一例を示す模式平面図である。図4(c)は、画素電極の位置がy方向にずれた場合の一例を示す模式平面図である。
なお、図4(a)乃至図4(c)には、TFT基板101を平面でみたときの1画素の構成のうちの、隣接する2本の映像信号線DLm,DLm+1と、画素電極PXのみを示している。また、画素電極PXについては、ソース電極SD2との接続部の周辺を省略して示している。
本実施例の液晶表示パネル1に用いるTFT基板101において、1つの画素の画素電極PXと、その両側にある2本の映像信号線DLm,DLm+1との平面でみた位置関係は、たとえば、図4(a)に示したようになっていることが望ましい。すなわち、平面でみたときの映像信号線DLmと画素電極PXの辺PXcとの距離GDPmと、映像信号線DLm+1と画素電極PXの辺PXdとの距離GDPm+1とが、等しくなっていることが望ましい。このようにすることで、映像信号線DLmと画素電極PXの辺PXcとの間に生じる第1の寄生容量Cdsmと、映像信号線DLm+1と画素電極PXの辺PXdとの間に生じる第1の寄生容量Cdsm+1とが、ほぼ同じ値になり、各映像信号線DLm,DLm+1からの寄生ノイズに起因する画素電極PXの電位の変動による画質の低下を防げる。
ところで、本実施例のTFT基板101において、映像信号線DLmと画素電極PXとの間に生じる寄生容量には、第1の寄生容量Cdsmのほかに、映像信号線DLmの主線部分MDLmから分岐した寄生容量調整層CC1m,CC2mのそれぞれの先端部分と画素電極PXとの間で生じる第2の寄生容量もある。すなわち、前記2つの寄生容量調整層CC1m,CC2mのうちの一方の寄生容量調整層CC1mと画素電極PXとが平面でみて重なる領域SS1mに生じる第2の寄生容量をΔCds1mとし、他方の寄生容量調整層CC2mと画素電極PXとが平面でみて重なる領域SS2mに生じる第2の寄生容量をΔCds2mとすると、映像信号線DLmと画素電極PXとの間に生じる寄生容量は、第1の寄生容量Cds1mおよび2つの第2の寄生容量ΔCds1m,ΔCds2mの和(Cds1m+ΔCds1m+ΔCds2m)とほぼ同じ値になる。
同様に、映像信号線DLm+1と画素電極PXとの間に生じる寄生容量には、第1の寄生容量Cdsm+1のほかに、映像信号線DLm+1の主線部分MDLm+1から分岐した2つの寄生容量調整層CC1m+1,CC2m+1のそれぞれの先端部分と画素電極PXとの間で生じる第2の寄生容量もある。すなわち、前記2つの寄生容量調整層CC1m+1,CC2m+1のうちの一方の寄生容量調整層CC1m+1と画素電極PXとが平面でみて重なる領域SS1m+1に生じる第2の寄生容量をΔCds1mとし、他方の寄生容量調整層CC2m+1と画素電極PXとが平面でみて重なる領域SS2m+1に生じる第2の寄生容量をΔCds2m+1とすると、映像信号線DLm+1と画素電極PXとの間に生じる寄生容量は、第1の寄生容量Cds1m+1および2つの第2の寄生容量ΔCds1m+1,ΔCds2m+1の和(Cds1m+1+ΔCds1m+1+ΔCds2m+1)とほぼ同じ値になる。
以上のようなことから、映像信号線DLmと画素電極PXとの間に生じる寄生容量と、映像信号線DLm+1と画素電極PXとの間に生じる寄生容量とが、ほぼ同じ値になるようにするためには、映像信号線DLm側の寄生容量の値の和(Cds1m+ΔCds1m+ΔCds2m)と、映像信号線DLm+1側の寄生容量の値の和(Cds1m+1+ΔCds1m+1+ΔCds2m+1)とが、ほぼ同じ値になるようにすればよい。
そのため、本実施例のTFT基板101では、各寄生容量調整層CC1,CC2の寸法および画素電極PXの切り欠きPXsの寸法を設計するときに、たとえば、映像信号線DLmと画素電極PXとの平面距離GDPmと、映像信号線DLm+1と画素電極PXとの平面距離GPDm+1とが同じ値になり、かつ、各寄生容量調整層CC1,CC2の先端部分と画素電極PXとの重畳領域SS1,SS2の面積、言い換えると各重畳領域のx方向の寸法SSxおよびy方向の寸法SSyが同じ値になるようにする。このような設計寸法に基づいて各映像信号線DLm,DLm+1および画素電極PXを形成すれば、映像信号線DLmと画素電極PXとの間に生じる寄生容量と、映像信号線DLm+1と画素電極PXとの間に生じる寄生容量とが、ほぼ同じ値になり、各映像信号線DLm,DLm+1からの寄生ノイズに起因する画素電極PXの電位の変動による画質の低下を防ぐことができる。
しかしながら、映像信号線DLや画素電極PXは、一般に、導電膜をエッチングして形成しており、映像信号線DLやソース電極SD2などを形成する工程、画素電極PXを形成する工程には、通常、前記導電膜の上にエッチングレジストを形成する工程がある。そのため、たとえば、前記エッチングレジストを形成する工程において用いられる露光マスクの位置ずれなどにより、たとえば、図4(b)に示すように、平面でみたときの映像信号線DLと画素電極PXとの位置関係が設計時の関係からずれることがある。なお、図4(b)に示した例は、画素電極PXの位置が、左(−x方向)にずれた場合の映像信号線DLと画素電極PXとの位置関係の一例である。
このように、画素電極PXの位置がずれて、平面で見たときの映像信号線DLmと画素電極PXの辺PXcとの距離GDPmと、映像信号線DLm+1と画素電極PXの辺PXdとの距離GDPm+1との関係が、GDPm<GDPm+1になると、映像信号線DLmと画素電極PXの辺PXcとの間に生じる第1の寄生容量Cdsmと、映像信号線DLm+1と画素電極PXの辺PXdとの間に生じる第1の寄生容量Cdsm+1との関係は、Cdsm>Cdsm+1になる。そのため、従来の液晶表示パネル、たとえば、寄生容量調整層CC1,CC2と画素電極PXとの間に生じる第2の寄生容量を持たない液晶表示パネルの場合、映像信号線DLmからの寄生ノイズが、映像信号線DLm+1からの寄生ノイズよりも大きくなり、寄生ノイズの差に起因する画素電極PXの電位の変動により画質の低下が発生することがある。
一方、本実施例の液晶表示パネル1(TFT基板101)では、平面で見たときの映像信号線DLmと画素電極PXの辺PXcとの距離GDPmが設計値よりも短くなり、映像信号線DLm+1と画素電極PXの辺PXdとの距離GDPm+1が設計値よりも長くなると、図4(b)に示したように、映像信号線DLmから分岐した2つの寄生容量調整層CC1m,CC2mのそれぞれの先端部分と画素電極PXとの重畳領域SS1m,SS2mの面積は設計値よりも狭くなり、映像信号線DLm+1から分岐した2つの寄生容量調整層CC1m+1,CC2m+1のそれぞれの先端部分と画素電極PXとの重畳領域SS1m+1,SS2m+1の面積は設計値よりも広くなる。
すなわち、本実施例の液晶表示パネル1(TFT基板101)では、たとえば、映像信号線DLmと画素電極PXとの間に生じる寄生容量のうちの、第1の寄生容量の値が設計時の値よりも大きくなる場合、第2の寄生容量の値が設計時の値よりも小さくなる。そのため、従来の第2の寄生容量ΔCds1m,ΔCds2mがない液晶表示パネルに比べて、映像信号線DLmと画素電極PXとの間に生じる寄生容量の変動量(増加量)を小さくすることができる。
また、映像信号線DLm+1と画素電極PXとの間に生じる寄生容量についても、第1の寄生容量の値が設計時の値よりも小さくなる場合、第2の寄生容量の値が設計時の値よりも大きくなるので、従来の第2の寄生容量ΔCds1m+1,ΔCds2m+1がない液晶表示パネルに比べて、映像信号線DLm+1と画素電極PXとの間に生じる寄生容量の変動量(減少量)を小さくすることができる。
またさらに、図4(b)には、画素電極PXの形成位置が左側(−x方向)にずれた場合の一例を挙げているが、逆に、画素電極PXの形成位置が右側(+x方向)にずれた場合も同様に、映像信号線DLmと画素電極PXとの間に生じる寄生容量の変動量(減少量)、および映像信号線DLm+1と画素電極PXとの間に生じる寄生容量の変動量(増加量)を、従来の液晶表示パネルにくらべて小さくすることができる。
以上のようなことから、本実施例の液晶表示パネル1(TFT基板101)では、たとえば、画素電極PXの形成位置がx方向にずれた場合でも、映像信号線DLmと画素電極PXとの間に生じる寄生容量の値の変動量、および映像信号線DLm+1と画素電極PXとの間に生じる寄生容量の値の変動量を小さくできる。またさらに、本実施例の液晶表示パネル1(TFT基板101)では、画素電極PXがx方向にずれたときの、映像信号線DLmと画素電極PXとの間に生じる寄生容量の値と、映像信号線DLm+1と画素電極PXとの間に生じる寄生容量の値との差を小さくすることもできる。そのため、各映像信号線DLm,DLm+1からの寄生ノイズに起因する画素電極PXの電位の変動による画質の低下を防げる。
なお、本実施例のTFT基板101において、映像信号線DLmから分岐した2つの寄生容量調整層CC1m,CC2mのそれぞれの先端部分と画素電極PXとの重畳領域SS1m,SS2mの面積は、たとえば、平面で見たときの映像信号線DLmの主線部分MDLと画素電極PXの辺PXcとの距離GDPmが1μm変動したときに生じる第1の寄生容量Cds1mの値の変化量と、2つの第2の寄生容量の和(ΔCds1m+ΔCds2m)の値の変化量との和が0(零)になるようにすることが望ましい。すなわち、平面で見たときの映像信号線DLmの主線部分MDLと画素電極PXの辺PXcとの距離GDPmが1μm変動したときに、たとえば、第1の寄生容量Cds1mの値がZ1[fF]だけ変動し、2つの第2の寄生容量の和(ΔCds1m+ΔCds2m)の値がZ2[fF]だけ変動するとすれば、これらの変動量Z1,Z2の絶対値の関係が、|Z1|=|Z2|になるようにすることが望ましい。
しかしながら、本実施例のTFT基板101では、たとえば、第1の寄生容量Cds1mの値の変動量Z1と、2つの第2の寄生容量の和(ΔCds1m+ΔCds2m)の値の変動量Z2との関係が、たとえば、|Z1|>|Z2|であってもよいことはもちろんである。|Z1|>|Z2|の場合、映像信号線DLmと画素電極PXとの間に生じる寄生容量の変動量の絶対値は|Z1|−|Z2|(<|Z1|)となるので、2つの第2の寄生容量の和(ΔCds1m+ΔCds2m)の値の変動量Z2の分だけ、従来の液晶表示パネルよりも寄生容量の増加(または減少)を抑えることができる。そのため、映像信号線DLmからの寄生ノイズに起因する画素電極PXの電位の変動による画質の低下の度合いを小さくすることができる。
また、第1の寄生容量Cds1mの値の変動量Z1と、2つの第2の寄生容量の和(ΔCds1m+ΔCds2m)の値の変動量Z2との関係が、|Z1|>|Z2|になるようにすれば、たとえば、寄生容量調整層CC1m,CC2mによる開口率の低下を抑えることができる。そのため、映像信号線DLmからの寄生ノイズに起因する画素電極PXの電位の変動による画質の低下の度合いを小さくするとともに、開口率の低下を抑えることができる。
ところで、本実施例のTFT基板101を製造するときには、たとえば、図4(c)に示すように、画素電極PXの形成位置が上側(−y方向)にずれることもある。この場合、映像信号線DLmから分岐した2つの寄生容量調整層CC1m,CC2mのそれぞれの先端部分と画素電極PXとの重畳領域SS1m,SS2mの面積の関係は、SS1>SS2になる。すなわち、画素電極PXが−y方向にずれると、寄生容量調整層CC1mと画素電極PXとの重畳領域SS1mに生じる第2の寄生容量ΔCds1mの値が大きくなる分、寄生容量調整層CC2mと画素電極PXとの重畳領域SS2mに生じる第2の寄生容量ΔCds2mの値が小さくなる。そのため、本実施例の液晶表示パネル1(TFT基板101)では、画素電極PXの形成位置がy方向にずれた場合に、映像信号線DLmと画素電極PXとの間に生じる寄生容量の値が変動することを防げ、映像信号線DLmと画素電極PXとの間に生じる寄生容量の変動に起因する画素電極PXの電位の変動による画質の低下を防げるという効果もある。
以上説明したように、本実施例の液晶表示パネル1(TFT基板101)によれば、各映像信号線DLm,DLm+1からの寄生ノイズに起因する画素電極PXの電位の変動による画質の低下を防げる。
また、本実施例のTFT基板101によれば、各映像信号線DLm,DLm+1からの寄生ノイズに起因する画素電極PXの電位の変動による画質の低下を防ぐとともに、開口率の低下を抑えることができる。
図5(a)乃至図5(c)は、TFT基板における1画素の構成の変形例を説明するための模式図である。
図5(a)は、TFT基板における1画素の構成の変形例の概略構成を示す模式平面図である。図5(b)は、図5(a)のE−E’線における模式断面図である。図5(c)は、図5(a)のF−F’線における模式断面図である。図5(d)は、図5(a)のG−G’線における模式断面図である。
図5(a)は、TFT基板における1画素の構成の変形例の概略構成を示す模式平面図である。図5(b)は、図5(a)のE−E’線における模式断面図である。図5(c)は、図5(a)のF−F’線における模式断面図である。図5(d)は、図5(a)のG−G’線における模式断面図である。
上記の説明では、本発明を適用した液晶表示パネル1の一例として、TFT基板101における1画素の構成が、図3(a)乃至図3(c)に示したような構成である横電界駆動方式の液晶表示パネルを例に挙げている。1画素の構成が、図3(a)乃至図3(c)に示したような構成であるTFT基板101では、走査信号線GLの延在方向(x方向)に長く延びる帯状の各対向電極CTを、表示領域DAの外側において電気的に接続することで、各対向電極CT(帯状電極)を共通の電位にしている。
しかしながら、本発明を適用したTFT基板101は、図3(a)乃至図3(c)に示したような構成に限らず、たとえば、図5(a)乃至図5(d)に示したような構成であってもよいことはもちろんである。
図5(a)乃至図5(d)に示した構成では、たとえば、前記第2の導電膜(たとえば、ITO膜)をエッチングして形成される対向電極CTが、画素毎に独立したパターンで形成されている。このとき、走査信号線GLの延在方向に並んだ複数個の対向電極CTは、たとえば、前記第1の導電膜をエッチングして走査信号線GLとともに形成された共通化配線CLによって電気的に接続されている。
また、図5(a)乃至図5(d)に示した構成では、たとえば、走査信号線GLnを挟んで映像信号線DLの延在方向に並ぶ、隣接した2つの対向電極CTが、たとえば、前記第4の導電膜(たとえば、ITO膜)をエッチングして画素電極PXとともに形成されたブリッジ配線BRによって電気的に接続されている。なお、ブリッジ配線BRは、一方の端部がスルーホールTH2により共通化配線CLと接続しており、他方の端部がスルーホールTH3により接続パッドCPと接続している。また、接続パッドCPは、たとえば、前記第1の導電膜をエッチングして走査信号線GLおよび共通化配線CLとともに形成された導電層であり、対向電極CTと電気的に接続している。
このような構成のTFT基板101においても、図5(a)に示したように、映像信号線DLを形成するときに、映像信号線DLの延在方向に並んだ各画素に映像信号を伝送する主線部分MDLと、ドレイン電極部SD1および寄生容量調整層CCとを一体形成し、画素電極PXを形成するときに、走査信号線GLの延在方向に延びる辺PXa,PXbに切り欠きPXsを形成すれば、図3(a)乃至図3(c)に示した構成のTFT基板101と同様の効果が得られる。
また、図5(a)乃至図5(d)に示した構成の場合、走査信号線GLを挟んで映像信号線DLの延在方向に並ぶ、隣接した2つの対向電極CTが、ブリッジ配線BRにより電気的に接続しているので、たとえば、図3(a)乃至図3(c)に示した構成のTFT基板101に比べて、各画素の対向電極CTの電位のばらつきを低減できる。
なお、図5(a)乃至図5(d)に示したような構成のTFT基板101の場合、共通化配線CLによりx方向に並んだ各対向電極CTが電気的に接続しているので、x方向に並んだすべての画素の対向電極CTを、ブリッジ配線BRにより走査信号線GLを挟んで並んだ別の対向電極CTと電気的に接続する必要はない。すなわち、走査信号線GLの延在方向に並んだ複数個の対向電極CTのうちのいくつか、たとえば、2個おきまたは3個おきの対向電極CTのみがブリッジ配線BRで接続されていてもよい。
以上、本発明を、前記実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々変更可能であることはもちろんである。
たとえば、前記実施例では、図3(a)乃至図3(c)に示した構成や、図5(a)乃至図5(d)に示した構成のように、TFT基板101側に液晶材料103(液晶層LC)を駆動させる画素電極PXおよび対向電極CTが形成されている横電界駆動方式の液晶表示パネル1を例に挙げた。しかしながら、本発明は、これに限らず、たとえば、対向電極CTが対向基板102側に形成されている、いわゆる縦電界駆動方式の液晶表示パネル1に用いるTFT基板にも適用することが可能である。
またさらに、前記実施例では、液晶表示パネルを例に挙げたが、本発明は、これに限らず、たとえば、図3(a)乃至図3(c)に示した構成や、図5(a)乃至図5(d)に示した構成に類似した構成のTFT基板を有する液晶表示パネルに適用できる。液晶表示パネル以外で、本発明が適用可能な表示パネルとしては、たとえば、前記画素電極PXに相当する電極として有機EL(ElectroLuminescence)材料を用いた電極が形成された自発光型の有機EL表示パネルなどがある。
1…液晶表示パネル
101…TFT基板
102…対向基板
103…液晶材料
LC…液晶層
104…シール材
105A,105B…偏光板
SUB…絶縁基板
GL,GLn,GLn+1…走査信号線
DL,DLm,DLm+1…映像信号線
CT…対向電極
CL…共通化配線
CP…接続パッド
PX…画素電極
PXs…切り欠き
SLT…スリット
PAS1…第1の絶縁層
PAS2…第2の絶縁層
SD1…ドレイン電極部
CC,CC1m,CC2m,CC1m+1,CC2m+1…寄生容量調整層
SS1m,SS2m,SS1m+1,SS2m+1…寄生容量調整層と画素電極との重畳領域
Cds,Cdsm,Cdsm+1…第1の寄生容量
ΔCds,ΔCds1m,ΔCds2m,ΔCds1m+1,ΔCds2m+1…第2の寄生容量
2…ゲートドライバ
3…データドライバ
101…TFT基板
102…対向基板
103…液晶材料
LC…液晶層
104…シール材
105A,105B…偏光板
SUB…絶縁基板
GL,GLn,GLn+1…走査信号線
DL,DLm,DLm+1…映像信号線
CT…対向電極
CL…共通化配線
CP…接続パッド
PX…画素電極
PXs…切り欠き
SLT…スリット
PAS1…第1の絶縁層
PAS2…第2の絶縁層
SD1…ドレイン電極部
CC,CC1m,CC2m,CC1m+1,CC2m+1…寄生容量調整層
SS1m,SS2m,SS1m+1,SS2m+1…寄生容量調整層と画素電極との重畳領域
Cds,Cdsm,Cdsm+1…第1の寄生容量
ΔCds,ΔCds1m,ΔCds2m,ΔCds1m+1,ΔCds2m+1…第2の寄生容量
2…ゲートドライバ
3…データドライバ
Claims (5)
- 複数本の走査信号線と、前記複数本の走査信号線と立体的に交差する複数本の映像信号線と、マトリクス状に配置された複数個の画素電極とを有する表示パネルを備える表示装置であって、
前記映像信号線は、当該映像信号線からみて前記走査信号線の延在方向に配置され、かつ、平面でみたときに当該映像信号線に隣接する画素電極と重なる領域を有する導電性の寄生容量調整層と電気的に接続しており、
前記画素電極は、平面で見たときの前記映像信号線と当該画素電極との距離が近づくと、当該映像信号線に接続している前記寄生容量調整層と当該画素電極とが重なる領域が狭くなり、平面で見たときの前記映像信号線と当該画素電極との距離が離れると、当該映像信号線に接続している前記寄生容量調整層と当該画素電極とが重なる領域が広くなる切り欠きを有することを特徴とする表示装置。 - 前記寄生容量調整層は、前記映像信号線と一体形成されていることを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
- 前記寄生容量調整層は、前記映像信号線と前記走査信号線とが立体的に交差している領域の近傍で前記映像信号線に接続しており、かつ、前記映像信号線と接続している端部の反対側にある先端部分が、最も近い前記走査信号線から遠ざかる方向に曲がっていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の表示装置。
- 前記映像信号線は、隣接する1つの画素電極に対して配置された2つの寄生容量調整層と接続しており、当該2つの寄生容量調整層は、前記1つの画素電極の、前記映像信号線の延在方向に対する両端に配置されていることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の表示装置。
- 前記表示パネルは、一対の基板の間に液晶材料を封入した液晶表示パネルであることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の表示装置。
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-
2006
- 2006-12-15 JP JP2006337680A patent/JP2008151880A/ja active Pending
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