JP2008131699A - テストプラグ - Google Patents

Abstract

【課題】 不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡し、ＣＴクランプを用いて容易に計測することが可能なテストプラグを提供する。
【解決手段】
一次ラインと二次ラインとを中継するテストターミナル１１４に用いられる本発明のテストプラグ１１８は、本体２００と、本体２００から突出形成され、テストターミナル１１４に挿入して、一次ラインと二次ラインとを切り離すと共に、一次ラインの接点および二次ラインの接点をそれぞれ引き出す突出部２１０と、略コの字形状に加工された板状鉄片を本体２００から突出部２１０と反対方向に突出形成し、一次ラインの接点と二次ラインの接点とを短絡する短絡部２２０と、を備え、短絡部２２０の略コの字形状によって生成される貫通領域２４０は、ＣＴクランプを嵌入可能な大きさであることを特徴としている。
【選択図】 図２

Description

本発明は、ＣＴ（Ｃｕｒｒｅｎｔ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒｓ）クランプによる導電測定を実施可能なテストプラグに関する。

変電設備における保護継電器や制御盤等の電気機器の電源は送電線から供給され、電源と電気機器との間には、その電気機器を電源から切り離すためのテストターミナルが設けられている。ユーザは、このようなテストターミナルに挿入するテストプラグの各接点を様々に接続することで、電気機器に外部電源から電力を供給したり、電気機器への電流または電圧を計測したりすることができる。

例えば、電気機器に外部電源から電力を供給する場合、テストプラグにおいて電源の接点である一次接点を全て短絡し、残った電気機器の接点である二次接点に外部電源を接続する。しかし、４極のテストプラグにおける４つのプラグ端子全ての一次接点を短絡しようとすると最低３本の短絡バーが必要であり、取り付けに長時間を要したり、締め付けの緩みによる短絡バーの脱落が生じたりしていた。

そこで、かかる問題を回避するため、４つのプラグ端子全ての一次接点を一度に短絡可能な短絡治具を用いて、全一次接点を容易かつ確実に短絡可能な技術が知られている（例えば、特許文献１）。

一方、電源から電気機器への電流または電圧を計測する場合、まず、テストプラグにおいて一次接点と二次接点とを短絡する。このような一次接点と二次接点との短絡は、当該テストプラグに付属する短絡治具によって行うことができる。

図９は、４極のテストプラグ１０の外観を示した斜視図である。かかる４極のテストプラグ１０には、プラグ端子１２が４つ設けられ、プラグ端子１２それぞれの前後に一次接点１４と二次接点１６とが設けられる。そして、短絡治具１８でプラグ端子１２の一次接点１４と二次接点１６とを短絡することで、電源と電気機器を接続することができる。かかる短絡治具１８は、その目的が短絡自体にあるため接点間が最短距離で結ばれている。従って、かかる短絡治具１８を流れる電流を測定しようとしても、プラグ端子１２と短絡治具１８との間にＣＴクランプを挿入することができない。また、短絡治具１８は金属部分が露呈しているので、感電や回路の短地絡等が生じる可能性がある。そこで、電流を計測するために短絡線を別途作成する。

図１０は、４極のテストプラグ１０に短絡線２０を用いた場合の外観を示した斜視図である。ここでは、プラグ端子１２の一次接点１４と二次接点１６との短絡に、短絡線２０が用いられ、短絡線２０の両端に設けられたＹラグ端子２２を介して、一次接点１４と二次接点１６とが導通している。かかる短絡線２０は任意の長さに形成することができるので、図１０に示したように一次接点１４、短絡線２０、二次接点１６で形成される空間領域内にＣＴクランプ２４を嵌入することができる。従って、ＣＴクランプ２４の閉じられたコア内に短絡線２０を貫通させることができ、当該短絡線２０に流れる電流を測定することが可能となる。
特開２００６−０７４８５５号公報

しかし、かかる短絡線２０は、それ自体が変形自在であるが故に導線の各部分にはストレスがかかり、特にＹラグ端子２２との接続点においては、素線切れ（断線）等を引き起こすこともあった。このような素線切れが生じると、電源と電気機器との接続が切断され、閉回路がオープン（ＣＴ回路オープン）となる。このようなＣＴ回路オープンは、各接点に異常電圧（異常高電圧）を引き起こすこととなる。

本発明は、従来の短絡線が有する上記問題点に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡し、ＣＴクランプを用いて容易に計測することが可能な、新規かつ改良されたテストプラグを提供することである。

上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、一次ラインと二次ラインとを中継するテストターミナルに用いられるテストプラグであって、本体と、本体から突出形成され、テストターミナルに挿入して、一次ラインと二次ラインとを切り離すと共に、一次ラインの接点および二次ラインの接点をそれぞれ引き出す突出部と、略コの字形状に加工された板状鉄片を本体から突出部と反対方向に突出形成し、一次ラインの接点と二次ラインの接点とを短絡する短絡部と、を備え、短絡部の略コの字形状によって生成される貫通領域は、ＣＴクランプを嵌入可能な大きさであることを特徴とする、テストプラグが提供される。かかる貫通領域は、２５ｍｍ×２５ｍｍ以上の断面を有するとしてもよい。

上記短絡部は、（１）板状鉄片で形成されており、完全固定されることにより形状が変化せず、部分的にストレスがかかることもないので、不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡することができ、（２）その目的を短絡試験のみに絞り、無用な接点を排することで、短絡部位の緩み、脱落、断線や異物の挟入を防止し、ＣＴ回路オープンのおそれをなくし、（３）略コの字に固定的に形成され、ＣＴクランプの貫通領域が確保されているので、ＣＴクランプを用いて容易に計測することができる。

上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、一次ラインと二次ラインとを中継するテストターミナルに用いられるテストプラグであって、テストターミナルに挿入して、一次ラインと二次ラインとを切り離すと共に、一次ラインの接点および二次ラインの接点をそれぞれ引き出す突出部と、突出部を一面に設け、他面に陥没部を有する本体と、陥没部の開口面を分割するように橋渡し形成され、一次ラインの接点と二次ラインの接点とを短絡する短絡部と、を備え、陥没部は、ＣＴクランプを短絡部周囲に嵌入可能な大きさに形成されていることを特徴とする、テストプラグが提供される。

上記短絡部は、（１）強度の高い鉄片等で形成されており、完全固定されることにより形状が変化せず、部分的にストレスがかかることもないので、不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡することができ、（２）その目的を短絡試験のみに絞り、無用な接点を排することで、短絡部位の緩み、脱落、断線や異物の挟入を防止し、ＣＴ回路オープンの危険性をなくし、（３）陥没部への短絡部の橋渡し構造により、ＣＴクランプの嵌入領域が確保されているので、ＣＴクランプを用いて容易に計測することができる。

当該短絡部は、絶縁材でコーティングされていてもよい。かかる構成により、ＣＴクランプを嵌入する測定者が不意に当該短絡部に接してしまったとしても、感電等を起こすことがなく、不慮の事故を回避することができる。従って、計測者は、安全性が確保されている中、安心して計測を行うことができる。

以上説明したように本発明のテストプラグによれば、不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡し、さらに、ＣＴクランプを用いて容易に計測することが可能となる。

以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。

従来のテストプラグに予め添付された短絡治具は、その鉄片がなす空間が狭いため、ＣＴクランプを嵌入することができないうえ、金属部分が露呈しているので感電等の事故が起きる可能性があった。また、短絡線を用いたとしても、フレキシブルな材質故に局部へのストレスによる素線切れの問題があった。

本発明の実施形態においては、接点間の短絡部位に、鉄片による高い信頼性と、ＣＴクランプを嵌入できるような空間領域とを確保させることで、計測の容易性および信頼性を向上させることができる。

（第１の実施形態：電源および電気機器の配置）
図１は、第１の実施形態における電気系統を説明するための説明図である。かかる図１を参照すると、当該電気系統１００は、電源１１０と、変流器１１２と、テストターミナル１１４と、テストプラグ１１８と、電気機器１２２とを含んで構成され、一次ラインとしての電源１１０からテストターミナル１１４までの電源系統と、二次ラインとしてのテストターミナル１１４から電気機器１２２までの機器系統とからなる。

上記電源１１０は、３相交流電源で構成され、それぞれ１２０°ずつ位相のずれた高電圧の正弦波電力を、電力線を介して各所に供給する。

上記変流器１１２は、非接触に電源１１０を取り込み、電流値を変換してテストターミナル１１４に伝達する。

上記テストターミナル１１４は、電源１１０と後述する電気機器１２２とを中継し、電源１１０と電気機器１２２とを切り離すためのスイッチ１１６を有する。通常時、即ち、後述するテストプラグ１１８を挿入していないときは、上記スイッチ１１６が閉じており、テストターミナル１１４は、電源１１０からの電力をそのまま電気機器１２２に供給している。

上記テストプラグ１１８は、電源１１０から電気機器１２２へ流れる電気の状態（電圧、電流）を抽出するために用いられる。具体的に、テストプラグ１１８は、テストプラグ１１８自体の突出部をテストターミナル１１４に挿入して、電源と電気機器のテストターミナル１１４内の接続を切り離すと共に、新たな接続点（短絡部）をテストプラグ１１８の前面に露呈する。測定者は、このようなテストプラグ１１８前面に引き出された短絡部により、電気機器１２２への電流または電圧を計測することができる。

上述したような接続の切り換えにテストプラグ１１８を用いる場合、通常、テストプラグ１１８上の各接点を予め結線してから、テストターミナル１１４への挿入がなされる。これは、テストターミナル１１４にテストプラグ１１８を挿入した後に接点を結線すると回路がオープンになる期間が生じ、ＣＴ回路オープン状態による異常電圧を誘発するからである。

上記電気機器１２２は、保護継電器、制御盤、配電盤等の総称であり、上述した電源を利用する様々な機器が適用される。例えば、保護継電器（保護リレー盤）は、発電所や変電所、各種産業プラント等に設置され、短絡故障や地落故障を計器用変成器を介して検出し、電力系統からの切り離し信号をリレーに伝送する。制御盤は、電動機等の機器に電力を供給し、自動または手動で運転制御する。配電盤は、電動機器や配電回路を監視し、その制御および保護を実行している。ＣＴクランプによる本実施形態の測定は、かかる電気機器１２２の不具合時や取り付け時、および定期的な変動を観測することを目的としている。

以上説明したような電気系統１００により、電気機器１２２には電源１１０からの電力が供給され、また、テストプラグ１１８を用いることによって電気機器１２２への電流または電圧を計測することもできる。以下、上述したテストプラグ１１８について詳述する。

（テストプラグ１１８）
図２は、４極のテストプラグ１１８の外観を示した斜視図である。かかるテストプラグ１１８は、本体２００と、突出部２１０と、短絡部２２０とを含んで構成される。ここでは、電気機器１２２を３相構造とし、テストターミナル１１４およびテストプラグ１１８には接地相を含む４極（４相）の配線がなされる。テストプラグはこの他にも２極、８極等、様々な極数をとることができる。

上記本体２００は、箱形状に形成され、後述する突出部２１０や短絡部２２０の固定部として機能する。また、短絡部２２０を複数備える場合の短絡部２２０間の距離を確保する。

上記突出部２１０は、本体２００から突出形成され、後述する短絡部２２０に通電する２つの当接部が表裏に配される。そして、挿入方向と直交する方向にも短絡部２２０の数分だけの当接部が並置される。かかる突出部２１０をテストターミナル１１４に挿入することで、電源１１０と電気機器１２２とを切り離すと共に、電源１１０からの接点および電気機器１２２への接点をそれぞれ後述する短絡部２２０に引き出す。

上記短絡部２２０は、極数の数分（本実施形態では４極分）、本体２００から突出部２１０と反対方向に突出した、略コの字形状に加工された板状鉄片であり、突出部２１０が引き出した電源１１０からの接点と電気機器１２２への接点とをそれぞれ短絡する。ここでは、短絡部２２０が突出部２１０と反対方向に設けられているが、本体２００の他の面に設けることも可能である。

かかる短絡部２２０における略コの字形状によって生成される貫通領域２４０は、ＣＴクランプを嵌入可能な大きさに形成されている。従って、図２に示すように、ＣＴクランプ２４を容易に嵌入することができる。かかる貫通領域２４０は、ＣＴクランプ２４の断面の一辺が８〜２０ｍｍ程度であることに鑑みて、一辺２５ｍｍの正方形が入る形状に形成するのが望ましい。また、短絡部２２０の板状鉄片の幅は１０ｍｍで形成されるのが望ましい。それより細いと構造的に弱くなり、太いと他の短絡部との位置関係によってはＣＴクランプ２４を嵌入し難くなるからである。

以下、テストプラグ１１８のテストターミナル１１４への挿入による接点の移動に関して詳述する。

図３は、テストプラグ１１８の挿入工程を説明するための縦断面図である。図３（ａ）では、挿入前のテストプラグ１１８とテストターミナル１１４が、図３（ｂ）では、挿入後のテストプラグ１１８とテストターミナル１１４が示されている。

図３（ａ）において、テストターミナル１１４では、電源１１０が一次側端子３１０と、電気機器１２２が二次側端子３１２と接続されている。また、一次側端子３１０には一次側接触部３２２と一次側導通部３２４とが接続され、二次側端子３１２には二次側接触部３３２と二次側導通部３３４とが接続され、一次側接触部３２２には、一次側接触部３２２自体を二次側導通部３３４に付勢するスプリング等の一次側弾性部３２６が設けられ、同様に、二次側接触部３３２には、二次側接触部３３２自体を一次側導通部３２４に付勢する二次側弾性部３３６が設けられる。一次側接触部３２２と二次側導通部３３４および二次側接触部３３２と一次側導通部３２４は、かかる一次側弾性部３２６と二次側弾性部３３６の付勢力のみによる接点の当接によって接続されている。

このような回路構成により、テストプラグ１１８が挿入される前段階では、電源１１０は、一次側端子３１０から、一次側接触部３２２および二次側導通部３３４を伝導する経路と、一次側導通部３２４と二次側接触部３３２を伝導する経路の２つの経路を経由して二次側端子３１２、即ち電気機器１２２に接続されている。

一方、テストプラグ１１８では、一次側当接部３５０と二次側当接部３６０とが突出部２１０の表裏に絶縁物３７０を挟んで設置され、一次側当接部３５０が各短絡部２２０の一次側中継部３５２を介してテストプラグ１１８前面に露呈され、二次側当接部３６０も各短絡部２２０の二次側中継部３６２を介してテストプラグ１１８前面に露呈され、短絡部２２０によって両接点が短絡されている。結果的にテストプラグ１１８の一次側当接部３５０と二次側当接部３６０とが短絡されていることになる。

図３（ｂ）において、テストプラグ１１８がテストターミナル１１４に挿入されると、即ち、テストプラグ１１８の突出部２１０がテストターミナル１１４の一次側接触部３２２と二次側接触部３３２との間に挿入されると、テストターミナル１１４の一次側接触部３２２および二次側接触部３３２は、一次側弾性部３２６および二次側弾性部３３６の付勢に反して、テストプラグ１１８の一次側当接部３５０と二次側当接部３６０に押圧される。従って、一次側接触部３２２および二次側接触部３３２は引き続き一次側弾性部３２６および二次側弾性部３３６に付勢されて一次側当接部３５０および二次側当接部３６０と電気的に接触する。

このとき、一次側接触部３２２および二次側接触部３３２は、一次側当接部３５０および二次側当接部３６０に押圧されて一次側導通部３２４および二次側導通部３３４との接触が断たれる。従って、電源１１０と電気機器１２２は、切り離され、電源１１０と電気機器１２２とはテストプラグ１１８前面に引き出される。本実施形態では、上述したように両接点が短絡部２２０によって予め短絡されているので、電源１１０と電気機器１２２とは継続して導通することとなる。

このようにテストプラグ１１８がテストターミナル１１４に挿入された後、かかる短絡部２２０にＣＴクランプ２４を嵌入して、短絡部２２０に流れる電流を測定する。

このような短絡部２２０は、上述したように、板状鉄片で形成されており、形状が変化せず、部分的にストレスがかかることもないので不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡することができる。また、当該テストプラグ１１８の目的を短絡試験のみに絞り、短絡部２２０として従来のプラグ端子にあったような無用な接点を排することで、短絡部位の緩み、脱落、断線や異物の挟入を防止し、ＣＴ回路オープンのおそれを排除している。さらに、短絡部２２０は、略コの字に固定的に形成され、ＣＴクランプ２４の貫通領域が確保されているので、ＣＴクランプ２４を用いて容易に計測することができる。かかる短絡部２２０はＣＴクランプ２４を掛止したまま固定的に保持できるので、計測者は計測中ＣＴクランプ２４を把持しておく必要もない。このようにＣＴクランプ２４による計測の確実性が担保されるので、本実施形態によるテストプラグ１１８を使用した長時間の計測にも対応することができる。

図４は、短絡部の他の具体的形状を説明するための説明図である。例えば、図４の（ａ）に示した短絡部４１０では、略コの字形状がテストプラグ１１８に対して垂直方向に構成されている。従って、ＣＴクランプ２４は、かかる垂直方向の短絡部４１０に対して、水平方向に嵌入されることとなる。

また、図４（ｂ）には、短絡部４２０自体の形状を円形状になるように曲げ形成し、ＣＴクランプ２４は、短絡部４２０に対して、垂直方向に嵌入されることとなる。

本実施形態においては、短絡部として、図２の形状の他、図４の（ａ）、（ｂ）の形状を挙げているが、かかる場合に限らず、Ｔ字やＬ字形状に構成したり、楕円形成したりと様々な形状を適用することができる。さらに、その配置も水平方向に一列に形成したり、垂直方向に一列に形成したり、様々な配置を適用することができる。

また、上述した短絡部は、絶縁材でコーティングされている。かかる構成により、ＣＴクランプ２４を嵌入する者が不意に当該短絡部に接してしまったとしても、感電等を起こすことがなく、不慮の事故を回避することができる。従って、計測者は、安全性が確保されている中、安心して計測を行うことができる。

（第２の実施形態：テストプラグ５００）
図５は、４極のテストプラグの他の例の外観を示した斜視図である。かかるテストプラグ５００は、本体５１０と、突出部２１０と、短絡部５２０とを含んで構成される。ここでもテストプラグ１１８同様、電気機器１２２を３相構造とし、テストターミナル１１４およびテストプラグ１１８には接地相を含む４極（４相）の配線がなされる。第１の実施形態における構成要素として既に述べた突出部２１０は、実質的に機能が同一なので重複説明を省略し、ここでは、構成が相違する本体５１０と、短絡部５２０を主に説明する。

上記本体５１０は、突出部２１０を設ける面の他の面に陥没部５３０を有する。かかる陥没部５３０は、ＣＴクランプ２４を後述する短絡部５２０周囲に嵌入可能な大きさに形成されている。本実施形態では、他の面として突出部２１０の反対面を挙げて説明するが、反対面以外の面に設けることも当然可能である。

上記短絡部５２０は、陥没部５３０の開口面を分割するように橋渡し形成され、それぞれ突出部２１０が引き出した電源１１０からの接点と電気機器１２２への接点とを短絡する。

このような短絡部５２０は、鉄片で形成されており、形状が変化せず、部分的にストレスがかかることもないので不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡することができる。また、当該テストプラグ１１８の目的を短絡試験のみに絞り、短絡部２２０として従来のプラグ端子にあったような無用な接点を排することで、短絡部位の緩み、脱落、断線や異物の挟入を防止し、ＣＴ回路オープンの危険性を排除している。さらに、陥没部５３０への短絡部５２０の橋渡し構造により、ＣＴクランプ２４の嵌入領域が確保されているので、ＣＴクランプ２４を用いて容易に計測することができる。かかる短絡部５２０はＣＴクランプ２４を掛止したまま固定的に保持できるので、計測者は計測中ＣＴクランプ２４を把持しておく必要もない。このようにＣＴクランプ２４による計測の確実性が担保されるので、本実施形態によるテストプラグ５００を使用した長時間の計測にも対応することができる。

また、ＣＴクランプ２４を陥没部５３０に嵌入する構成により、計測中のＣＴクランプ２４の本体５１０からの延出を抑制することができ、テストプラグ５００を覆う蓋との距離を短くできる等、占有空間を有効利用することが可能となる。

（第３の実施形態：テストプラグの他の実施形態）
図６および図７は、第３の実施形態における電気系統６００を説明するための説明図である。かかる図６はテストプラグ６２０挿入前の結線関係を示し、図７はテストプラグ６２０挿入後の結線関係を示している。図６を参照すると、当該電気系統６００は、電源１１０と、変流器１１２と、テストターミナル６１０と、電気機器１２２と、他の電気機器６３０とを含んで構成され、基本的な配線は、第１の実施形態における電気系統１００と同様の構成となる。従って、第３の実施形態で示される構成要素は、第１の実施形態における構成要素として既に述べた構成要素と実質的に機能が同一なので重複説明を省略する。

第３の実施形態においては、テストプラグ６２０として８極のテストプラグが用いられる。また、電気機器１２２としてリレー等の中継装置が想定され、かかる電気機器１２２は、電源１１０からの電力の供給を受けると共に、その電力を他の電気機器６３０に中継する。

図６に示すように、通常時、即ち、テストプラグ６２０を挿入していないときは、上記スイッチ１１６が閉じており、テストターミナル６１０は、電源１１０からの電力をそのまま電気機器１２２に供給している。

そして、図７に示すようにテストプラグ６２０を挿入すると、電源１１０と電気機器１２２および電気機器１２２と他の電気機器６３０との接続が切断され、電源１１０と他の電気機器６３０とがテストプラグ６２０の短絡部によって直接接続される。このとき電気機器１２２における電源１１０との接点および他の電気機器６３０への接点はオープン回路となる。

このように、第３の実施形態では電気機器６３０の入出力接点をバイパスし、電気機器６３０を隔離することを目的としている。例えば、バイパスに用いられるテストプラグ６２０の短絡部を流れる電流値と、電気機器６３０を接続していたときの電流値とを比較することによって、不具合部位を特定することが可能となる。

図８は、８極のテストプラグ６２０の外観を示した斜視図である。かかるテストプラグ６２０は、本体２００と、突出部２１０と、短絡部２２０とを含んで構成される。当該テストプラグ６２０は、テストターミナル６１０共々８極で構成されているので、突出部２１０の当接部も８極分（８極×２接点）設けられるが、短絡部は４つのみあればよい。これは、図７で説明したように、当該テストプラグ６２０の目的が電気機器１２２の隔離であり、電気機器１２２における８つの接点はオープン回路のままでよいからである。

従って、テストプラグ６２０の突出部２１０には８極×２接点で、１６の当接部が設けられているが、テストプラグ６２０前面で短絡される接点は、そのうち電源１１０と他の電気機器６３０を短絡する８つの接点のみとなる。また、本実施形態における突出部２１０の当接部は、電源１１０と接続される当接部と他の電気機器６３０と接続される当接部が交互に配されるため、短絡部２２０の配置は、配線の引き回しを偏らせることなく、図８のように等間隔に並置することができる。

以上説明したように、第１〜３の実施形態のテストプラグによれば、不具合が生じる可能性が極めて低く、高い信頼性で接点間を確実に短絡し、さらに、ＣＴクランプを用いて容易に計測することが可能となる。

以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。

例えば、上述した第１の実施形態においては、電源を一次ラインとして電気機器を二次ラインとして説明しているが、逆に電源を二次ラインに電気機器を一次ラインとすることも可能であり、また、他の様々なラインに接続することも可能である。

また、上述した実施形態においては、理解を容易にするため、ＣＴ（計器用変流器）ターミナルおよびプラグを挙げて説明しているが、当然にしてＰＴ（計器用変圧器）ターミナルおよびプラグにも本実施形態を適用することが可能である。

本発明は、ＣＴクランプによる導電測定を実施可能なテストプラグに利用することができる。

第１の実施形態における電気系統を説明するための説明図である。 第１の実施形態における４極のテストプラグの外観を示した斜視図である。 第１の実施形態におけるテストプラグの挿入工程を説明するための縦断面図である。 第１の実施形態における短絡部の他の具体的形状を説明するための説明図である。 第２の実施形態における４極のテストプラグの他の例の外観を示した斜視図である。 第３の実施形態における電気系統を説明するための説明図である。 第３の実施形態における電気系統を説明するための説明図である。 第３の実施形態における８極のテストプラグの外観を示した斜視図である。 従来の４極のテストプラグの外観を示した斜視図である。 従来の４極のテストプラグに短絡線を用いた場合の外観を示した斜視図である。

符号の説明

２４ ＣＴクランプ
１１０ 電源
１１４、６１０ テストターミナル
１１８、５００、６２０ テストプラグ
２２０、４１０、４２０、５２０ 短絡部
１２２ 電気機器
２００、５１０ 本体
２１０ 突出部
５３０ 陥没部

Claims (3)

1. 一次ラインと二次ラインとを中継するテストターミナルに用いられるテストプラグであって、
   本体と、
   前記本体から突出形成され、前記テストターミナルに挿入して、前記一次ラインと前記二次ラインとを切り離すと共に、該一次ラインの接点および該二次ラインの接点をそれぞれ引き出す突出部と、
   略コの字形状に加工された板状鉄片を前記本体から前記突出部と反対方向に突出形成し、前記一次ラインの接点と前記二次ラインの接点とを短絡する短絡部と、
   を備え、
   前記短絡部の略コの字形状によって生成される貫通領域は、ＣＴクランプを嵌入可能な大きさであることを特徴とする、テストプラグ。
2. 一次ラインと二次ラインとを中継するテストターミナルに用いられるテストプラグであって、
   前記テストターミナルに挿入して、前記一次ラインと前記二次ラインとを切り離すと共に、該一次ラインの接点および該二次ラインの接点をそれぞれ引き出す突出部と、
   前記突出部を一面に設け、他面に陥没部を有する本体と、
   前記陥没部の開口面を分割するように橋渡し形成され、前記一次ラインの接点と前記二次ラインの接点とを短絡する短絡部と、
   を備え、
   前記陥没部は、ＣＴクランプを前記短絡部周囲に嵌入可能な大きさに形成されていることを特徴とする、テストプラグ。
3. 当該短絡部は、絶縁材でコーティングされていることを特徴とする、請求項１〜２のいずれかに記載のテストプラグ。

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