JP2008128988A - 発光体の発光特性測定装置及びその測定方法 - Google Patents
発光体の発光特性測定装置及びその測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008128988A JP2008128988A JP2006317738A JP2006317738A JP2008128988A JP 2008128988 A JP2008128988 A JP 2008128988A JP 2006317738 A JP2006317738 A JP 2006317738A JP 2006317738 A JP2006317738 A JP 2006317738A JP 2008128988 A JP2008128988 A JP 2008128988A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical
- paths
- optical fiber
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 78
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 45
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 27
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 25
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 10
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 7
- 230000004075 alteration Effects 0.000 abstract description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 19
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 5
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 4
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002431 foraging effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
【課題】光経路相互間の特性差を補正することによって、発光体の輝度を正確に測定する。
【解決手段】恒温槽121〜124内に配置された有機EL素子140の光を恒温槽外へと導く複数の光ファイバ110と、光ファイバ110により導かれた光を一度に検知するためのCCDイメージセンサ116と、CCDイメージセンサ116の前面に配置される光学レンズ114と、光学レンズ114の収差を補正するための補正手段と、を備えて発光体の発光特性測定装置を構成する。
【選択図】図1
【解決手段】恒温槽121〜124内に配置された有機EL素子140の光を恒温槽外へと導く複数の光ファイバ110と、光ファイバ110により導かれた光を一度に検知するためのCCDイメージセンサ116と、CCDイメージセンサ116の前面に配置される光学レンズ114と、光学レンズ114の収差を補正するための補正手段と、を備えて発光体の発光特性測定装置を構成する。
【選択図】図1
Description
本発明は、発光体の発光特性を測定するための装置に関する。
従来図4及び図5記載の発光素子の検査装置が知られている(特許文献1参照)。
この検査装置は、検査対象のセル(発光体:例えば2mm角)8が搭載されたパネル(例えば50mm角)6が、複数枚ずつ収容される複数台(図では4台)の恒温槽(試験空間)31〜34と、各セル8の光を恒温槽31〜34外に導くための、複数本の光ファイバ41が束ねられたファイババンドル40と、該ファイババンドル40で導かれた光を恒温槽31〜34外で検知するためのカラーCCDカメラ42と、該カラーCCDカメラ42の出力を処理して輝度値B及び色度を計算する画像処理装置44と、各セル8毎に設けられた、電源モジュール50と、各電源モジュール50を制御するための電源モジュール制御回路52と、測定対象となるチャネルを選択して、対応する電源モジュール50から駆動電源を与えるためのチャネルセレクタ54と、該チャネルセレクタ54で選択されたセル8の駆動電圧(V)、電流(I)を測定する電気特性計測器56と、前記恒温槽31〜34を制御する集中管理コントローラ60と、これらを制御するパソコン(PC)62とを備えている。
このように構成することで、各恒温槽31〜34内に配置されるセル8の光は、光ファイバ41を介して恒温槽外へと導かれる。その結果、光ファイバ41(ファイババンドル40)の出力側に配置されるカラーCCDカメラ42によって、複数台の恒温槽31〜34内にそれぞれ収容された複数のセル8の光を一度に検知することが可能となっている。
特許文献1に記載される検査装置は、所定条件(例えば高温・高圧)の恒温槽から、光ファイバによって恒温槽外へとセルの光を導いた上で、CCDカメラによって撮像した画像を基に測定をすることで、より簡易且つ正確な(恒温槽に光学安定性が保証されない測定用窓等を設けることなく測定可能という意味において正確な)測定が可能となっていた。又、複数の発光体の光をそれぞれ別の光ファイバで導いた上で、CCDカメラによって光ファイバの束(光ファイババンドル)の端面を一度に(同時に)撮像し検知測定するため、大量の発光体の測定を短時間で処理することが可能であった。
しかしながら、複数の光ファイバによって光を導き、CCDカメラによって単に撮像した場合には、光経路間の特性差(例えば、CCDカメラの受光素子であるCCDイメージセンサの前面(光ファイバ出力端面側)に配置される光学レンズのレンズ収差)の影響によって、測定に誤差が生じることがあった。この特性差が存在すると、例えば、各光ファイバによって同等の光が伝達されていながら、各光ファイバの光学レンズに対する位置等に起因して、CCDカメラには「異なる光」として捉えられてしまう。
本発明は、かかる問題点を解決するべくなされたものであって、光経路相互間の特性差による測定誤差を排除した発光体の発光特性測定装置及びその方法を提供するものである。
本発明は、試験空間内に配置された発光体の光を試験空間外へと伝達する複数の光経路と、該複数の光経路により導かれた光を一度に検知するための検知手段と、前記複数の光経路相互間の特性差を補正するための補正手段と、を備えて発光体の発光特性測定装置を構成することによって、上記課題を解決するものである。
例えば、前記複数の光経路が、複数の光ファイバと該複数の光ファイバと前記検知手段との間に配置される光学レンズで構成される場合、少なくとも光学レンズの物理的特性により、光学レンズを通過した光は、その周辺の光量が低下する(周辺光量低下)。このことに起因して、発光体の発光特性(例えば輝度)が仮に同一であったとしても、検知手段(例えばCCDイメージセンサ)で撮像する際に、該当する光ファイバの出力側端面の位置(撮像域内の位置)によって、測定結果に差が生じてしまう。
これらの事実に着目した発明者は、この特性差(例えば光量の低下度合い)を予め係数(補正係数)として取得しておき、この補正係数によってCCDイメージセンサの測定値を補正することによって、特性差(周辺光量低下)をキャンセルし、正確な測定結果を取得することを可能としたものである。
測定対象となる発光体は種々のものが想定できるが、特に有機エレクトロルミネッセンス(以下単に「有機EL」という場合がある。)素子のエージング(経年変化:輝度低下)試験等に利用すれば、簡易に正確な測定をすることが可能となる。
又、本発明は、試験空間内に配置された発光体の光を複数の光経路によって試験空間外へと伝達する工程と、前記複数の光経路により伝達された光を検知手段により一度に検知する工程と、検知結果に対して前記複数の光経路相互間の特性差を補正する工程と、を含む発光体の発光特性測定方法としても捕らえることができ、上記同様の効果を得ることができる。この際、前記複数の光経路相互間の特性差を補正する工程は、前記試験空間内に配置される前記発光体の代わりに試験用光源を配置して該試験用光源を発光させる工程と、前記複数の光経路のうち特定の光経路によって導かれた前記試験用光源の発光を前記検知手段によって検知する第1検知工程と、他の光経路によって導かれた前記試験用光源の発光を前記検知手段によって検知する第2検知工程と、前記第2検知工程の検知結果を前記第1検知工程の検知結果と同一の値にするために乗じる数値を補正係数として取得する工程と、を経て取得された補正係数により補正される。このような工程によって得られた補正係数を利用することにより、光学レンズの収差を正確にキャンセルすることができる。
本発明を適用することにより、光経路の特性差(例えばレンズ収差)の影響を受けることなく、正確な測定が可能となる。
以下、添付図面を参照しつつ、本発明の実施形態の一例について詳細に説明する。
図1は、本発明の実施形態の一例を示した発光体の発光特性測定装置100の全体構成図であり、図2は、図1における矢示II部周辺(CCDイメージセンサと光ファイバの関係)を示した模式図であり、図3は、CCDイメージセンサの映像(光ファイババンドルの端面の映像)を示す模式図である。
[発光特性測定装置の構成]
発光特性測定装置100の全体構造は、背景技術で説明した検査装置と略同一であるが、重複する部分も含め再度説明する。
発光特性測定装置100の全体構造は、背景技術で説明した検査装置と略同一であるが、重複する部分も含め再度説明する。
発光特性測定装置100は、有機EL素子(発光体)140が配置される複数の恒温槽(試験空間)121、122、123、124を備えている。この各恒温槽121〜124内には、複数の有機EL素子を配置することが可能とされている。又、当該有機EL素子のエージング(経年変化)試験を行なうために、恒温槽外部よりも高温・高圧の条件とされている。各恒温槽121〜124内の諸条件は、各恒温槽121〜124に接続された恒温槽集中管理コントローラ120によって管理されている。
各恒温槽121〜124内に配置される有機EL素子140には、それぞれ対応する電源モジュール154が接続されており、この電源モジュール154によって電力(発光のための電力)が供給される。各電源モジュール154は、電源モジュール制御回路156によって制御されている。電源モジュール154からの電力は、チャネルセレクタ150によって適宜選択されて有機EL素子140へと供給される。又、チャネルセレクタ150には、電気特性計測器152が接続されており、有機EL素子140に供給されている電流値(I)及び電圧値(V)を計測することが可能である。
又、各恒温槽121〜124内に配置される有機EL素子140の各々に対して、少なくとも1本の光ファイバ110が設置されている。この光ファイバ110の入力側端面は、有機EL素子140の発光を受光できる位置に配置されている。例えば、有機EL素子140の真正面(即ち垂直方向)から光を受けるような配置でもよいし、所定の角度から受光するように配置されていてもよい。これは測定しようとする発光特性の種類などにより、適宜変更することが可能である。なお、図示はしていないが、各光ファイバ110は、ホルダによって正確に保持された上で配置されている。
光ファイバ110は各恒温槽121〜124から外部へと敷設され、自身の出力側端面付近でバンドラ112によって1本に結束固定されている。これにより複数の(例えば81本の:図3参照)の光ファイバ110がバンドル化されている。ここでは、各々の光ファイバ110が直接隣の光ファイバと接触しておらず、互いに縦横に所定の隙間を有する態様で等間隔に配列されたうえでバンドル化されている。なお、本実施形態では、光ファイバ110の出力側端面付近でのみバンドラ112によって結束されているが、より入力側に近い位置から結束するような構成としても良い。そのように構成すれば、複数の光ファイバ110の取り回し及び管理が容易となる。又、本実施形態では、各光ファイバ110は、光学的特性が均一化されたものが使用されており、光ファイバ自体によって誤差が生じることが無いように配慮されている。
バンドラ112によって結束された光ファイバ110の出力側にはCCD(Charge Coupled Device)イメージセンサ(検知手段)116が配置されており、バンドル化された光ファイバ110の出力側端面を、撮像することが可能とされている。又、このCCDイメージセンサ116の前面、即ち、当該センサ116とバンドル化された光ファイバ110の出力側端面の間には、光学レンズ114が配置されている。その結果、CCDイメージセンサ116がバンドル化された光ファイバ110の出力側端面全体を捉えることができ、且つ、効率よく光を受けることが可能となっている。本実施形態においては、当該光学レンズ114と光ファイバ110とが光経路を構成している。なお、この光学レンズ114は、必ずしも独立して存在するものでなくともよい。
CCDイメージセンサ116には、画像処理装置118が接続されており、CCDイメージセンサによって撮像された画像を、輝度、色度等の所定の発光特性情報へと変換することが可能とされている。即ち、恒温槽121〜124内での実際の発光と、光経路(光ファイバ110+光学レンズ114)を介してCCDイメージセンサ116で捉えられる光が輝度・色度等の観点で正確に対応するように光学レンズ114の色収差等が補正される。但し、ここでの補正はあくまでも「(特定の)光経路の入口側と出口側の対応付けのための補正」であって、本発明にかかる「光経路相互間の特性差の補正」とは次元が異なっている。
又、前述した電源モジュール制御回路156、電気特性計測器152、恒温槽集中管理コントローラ120及び画像処理装置118のいずれもが、パーソナルコンピュータ(PC)130に接続されており、各部の状態や測定結果を表示することができ、又、各部へ指令を出すことも可能とされている。
[発光特性測定装置の作用]
次に、発光特性測定装置の作用について説明する。
次に、発光特性測定装置の作用について説明する。
恒温槽121〜124内に測定対象となる有機EL素子140が配置されると、各恒温槽121〜124の内部環境が所定の条件(高温・高圧)にコントロールされる。これは、恒温槽集中管理コントローラ120によって集中的に管理されている。
次にチャネルセレクタ150によって、通電される有機EL素子140が選択された後(例えば、一部の有機EL素子に通電したり、全部の有機EL素子に通電する等自由である。)、電源モジュール154から有機EL素子140に対して電力が供給される。ここでの供給態様は、電源モジュール制御回路156によって制御されており、例えば、常に一定の電圧値(V)で供給したり、所定のタイミングで電圧値(V)を変化させながら供給される。
電力の供給を受けた有機EL素子140は、供給された電力に応じて発光する。この発光は、ホルダ(図示しない)により保持された光ファイバ110の入力側端面から当該光ファイバ110を介して恒温槽121〜124外へと導かれる。
光ファイバ110によって、恒温槽121〜124の外へと導かれた光は、バンドル化された光ファイバ110の出力側端面から出力される。この出力された光は、光学レンズ114を介してCCDイメージセンサ116に入り、電気信号へと変換され、更に画像処理された後、測定結果がPC130のモニタに表示される(更にはプリントアウトされる)。
当該測定装置100においては、この一連の流れの中で、光学レンズ114のレンズ収差(特に周辺光量低下)が補正された上で、PC130から出力される。即ち、光経路相互間の特性差が補正された上で、PC130から出力される。なお、当該補正は、以下で詳細に説明する方法によって取得された補正係数によって補正される(具体的には画像処理装置118からの信号(検知結果)に補正係数を乗じる)。又、本実施形態においての当該補正は、画像処理装置118からの信号(検知結果)に対してPC130によって補正を行なっている。その他にも、例えば、画像処理装置118自体で補正が行なわれるような構成としてもよい。
[補正係数取得方法]
バンドル化された光ファイバ110の出力側端面を、光学レンズ114を介してCCDイメージセンサ116によって撮像すると、例えば図3に示したような画像となる。各光ファイバ110は、バンドラ112によって等間隔に配列されている(ここでは縦横にそれぞれ9本ずつ合計81本の光ファイバ110がバンドル化されている)。
バンドル化された光ファイバ110の出力側端面を、光学レンズ114を介してCCDイメージセンサ116によって撮像すると、例えば図3に示したような画像となる。各光ファイバ110は、バンドラ112によって等間隔に配列されている(ここでは縦横にそれぞれ9本ずつ合計81本の光ファイバ110がバンドル化されている)。
このCCDイメージセンサ116の撮像域αの中で、その中心付近に位置する光ファイバ110−1と、周辺付近に位置する光ファイバ110−5とを比較してみると、仮に両光ファイバ110−1、110−5出力側端面の光の出力が同一でも、CCDイメージセンサの画像としては周辺に近いほうの光ファイバ110−5が暗く撮像(検知)されてしまう。これは、光学レンズ自身に備わる「周辺光量低下」という現象である。その結果、図3の場合であれば、全ての光ファイバからの出力が同じでも、CCDイメージセンサ116が撮像した画像での明るさは、110−1>110−2>110−3>110−4>110−5の順に現れる。
そこで、ある特定の光ファイバを基準として(ここでは中心付近の光ファイバ110−1を基準とする:以下「基準光ファイバ」という)、以下の操作により特性差(ここでは周辺光量低下)をキャンセルするための補正係数を取得する。
最初に、安定して発光する(発光特性が一定の)試験用光源を用意する。
次に、この試験用光源を基準光ファイバ110−1の入力側端面(即ち発光体の配置位置)にて発光させる。更に、この発光により基準光ファイバ110−1の出力側端面の出力をCCDイメージセンサ116にて撮像する。更に、この撮像した画像の基準光ファイバ110−1の出力側端面部分の輝度を測定する(例えばここでの測定結果を100とする)。
次に、対象となる光ファイバ(ここでは周辺に位置する光ファイバ110−5とする:以下「対象光ファイバ」という)の入力側端面(即ち発光体の配置位置)にて同一の試験用光源を発光させる。更に、この発光により対象光ファイバ110−5の出力側端面の出力をCCDイメージセンサ116にて撮像する。更に、この撮像した画像の対象光ファイバ110−5の出力側端面部分の輝度を測定する(例えばここでの測定結果を80とする)。
そうすると、特性差(周辺光量低下)を補正するための補正係数は、
基準光ファイバの測定結果÷対象光ファイバの測定結果…(1)
として求めることができる。上記の場合であれば、100÷80=1.25となる。この補正係数を、光学レンズを介した実際の検知結果に対して乗じることによって、特性差(周辺光量低下)をキャンセルすることが可能となる。
基準光ファイバの測定結果÷対象光ファイバの測定結果…(1)
として求めることができる。上記の場合であれば、100÷80=1.25となる。この補正係数を、光学レンズを介した実際の検知結果に対して乗じることによって、特性差(周辺光量低下)をキャンセルすることが可能となる。
このようにして順次全ての光ファイバについて補正係数を求めることによって、光経路全体の特性差(周辺光量低下)をキャンセルすることが可能となる。
全く同様に、例えば、この光学レンズ114の中心付近での色度特性が、周辺に移行するに従って漸次変化してゆく場合には、この変化分についても補正係数(上記同様の手法で取得した色度補正用の補正係数)を乗じることによってキャンセルすることができる。その結果、恒温槽121〜124内で同一の色度で発せられた光は、光学レンズ114に対してどの位置にあっても同一の色度として把握されるようになる。
なお、上記の方法では、1本ずつの光ファイバに対して繰り返し同じ作業をすることによって補正係数を取得しているが、全ての光ファイバに同時に均一且つ安定した光を入力することができる光源を用いて、一度に行なってもよい。
又、上記では、CCDイメージセンサの撮像域αの中心付近に位置する光ファイバを基準光ファイバとしているが、他の光ファイバを基準としてもよい。その場合は補正係数が「1」以下となる対象光ファイバが存在する可能性がある。
又、本実施形態では、各光ファイバ110は全て光学的に均一な光ファイバを用いることを前提に説明したが、例えば材質や長さの異なる(光伝達能等の光に対する特性の異なる)光ファイバが混じっていた場合、それらに起因する特性差を相殺する補正係数を取得することで各光ファイバ自身に起因して発生する特性差をもキャンセルすることが可能である。
有機EL(エレクトロルミネッセンス)素子をはじめ、各種フラットディスプレイパネル(例えば、有機EL、液晶、プラズマ、電子ペーパー等)の発光特性の測定に好適である。
100…発光特性測定装置
110…光ファイバ(光経路)
112…バンドラ
114…光学レンズ(光経路)
116…CCDイメージセンサ
118…画像処理装置
120…恒温槽集中管理コントローラ
121〜124…恒温槽
130…PC
140…発光体(有機EL素子)
150…チャネルセレクタ
152…電気特性計測器
154…電源モジュール
156…電源モジュール制御回路
110…光ファイバ(光経路)
112…バンドラ
114…光学レンズ(光経路)
116…CCDイメージセンサ
118…画像処理装置
120…恒温槽集中管理コントローラ
121〜124…恒温槽
130…PC
140…発光体(有機EL素子)
150…チャネルセレクタ
152…電気特性計測器
154…電源モジュール
156…電源モジュール制御回路
Claims (7)
- 試験空間内に配置された発光体の光を試験空間外へと伝達する複数の光経路と、
該複数の光経路により導かれた光を一度に検知するための検知手段と、
前記複数の光経路相互間の特性差を補正するための補正手段と、を備えた
ことを特徴とする発光体の発光特性測定装置。 - 請求項1において、
前記複数の光経路には、少なくとも複数の光ファイバと該複数の光ファイバと前記検知手段との間に配置される光学レンズが含まれている
ことを特徴とする発光体の発光特性測定装置。 - 請求項2において、
前記光学レンズが、前記複数の光ファイバから出力される全ての光を前記検知手段に導くことが可能とされ、且つ前記特性差が該光学レンズの周辺光量低下に起因する特性差を含む
ことを特徴とする発光体の発光特性測定装置。 - 請求項1乃至3のいずれかにおいて、
前記検知手段がCCDイメージセンサである、
ことを特徴とする発光体の発光特性測定装置。 - 請求項1乃至4のいずれかにおいて、
前記発光体が有機エレクトロルミネッセンス素子である
ことを特徴とする発光体の発光特性測定装置。 - 試験空間内に配置された発光体の光を複数の光経路によって試験空間外へと伝達する工程と、
前記複数の光経路により伝達された光を検知手段により一度に検知する工程と、
検知結果に対して前記複数の光経路相互間の特性差を補正する工程と、を含む
ことを特徴とする発光体の発光特性測定方法。 - 請求項6において、
前記複数の光経路相互間の特性差を補正する工程が、
前記試験空間内に配置される前記発光体の代わりに試験用光源を配置して該試験用光源を発光させる工程と、
前記複数の光経路のうち特定の光経路によって導かれた前記試験用光源の発光を前記検知手段によって検知する第1検知工程と、
他の光経路によって導かれた前記試験用光源の発光を前記検知手段によって検知する第2検知工程と、
前記第2検知工程の検知結果を前記第1検知工程の検知結果と同一の値にするために乗じる数値を補正係数として取得する工程と、を経て取得された補正係数により補正される
ことを特徴とする発光体の発光特性測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006317738A JP2008128988A (ja) | 2006-11-24 | 2006-11-24 | 発光体の発光特性測定装置及びその測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006317738A JP2008128988A (ja) | 2006-11-24 | 2006-11-24 | 発光体の発光特性測定装置及びその測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008128988A true JP2008128988A (ja) | 2008-06-05 |
Family
ID=39554931
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006317738A Pending JP2008128988A (ja) | 2006-11-24 | 2006-11-24 | 発光体の発光特性測定装置及びその測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008128988A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112014069A (zh) * | 2019-05-28 | 2020-12-01 | 杭州远方光电信息股份有限公司 | 一种成像测量装置 |
-
2006
- 2006-11-24 JP JP2006317738A patent/JP2008128988A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112014069A (zh) * | 2019-05-28 | 2020-12-01 | 杭州远方光电信息股份有限公司 | 一种成像测量装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9307616B2 (en) | Method, system and apparatus for dynamically monitoring and calibrating display tiles | |
JP2008159550A (ja) | バックライト制御装置及びバックライト制御方法 | |
CN101485236A (zh) | 照明装置、背光源装置、液晶显示装置、照明装置的控制方法以及液晶显示装置的控制方法 | |
CN101769878A (zh) | 阵列测试装置、测量其基板的点位置的方法以及测量由照相机组件拍摄的点坐标的方法 | |
KR20060081783A (ko) | 박막 검사 센서어래이의 정렬용 조명장치와 그를 이용한센서어래이 정렬 방법 및 장치 | |
JP5901390B2 (ja) | 発光装置及びそのキャリブレーション方法 | |
JP2008058274A (ja) | 発光体の発光特性測定装置 | |
JP2008128988A (ja) | 発光体の発光特性測定装置及びその測定方法 | |
KR101374880B1 (ko) | 엘이디 검사장치 | |
JP2006352025A (ja) | Led光源の検査方法、led光源、およびフィルムスキャナ装置 | |
JP2008139037A (ja) | Ccdイメージセンサでの輝度・色度測定装置及び光学フィルタ | |
JP2007298380A (ja) | 試料保持部材 | |
JP2008128989A (ja) | 発光体の発光特性測定装置及びその測定方法 | |
KR101410037B1 (ko) | Led어레이의 검사방법 | |
KR20170122649A (ko) | 디스플레이 유닛을 검사하기 위한 기술 | |
JP2005347645A (ja) | 光量制御装置及び光照射装置 | |
US11335221B2 (en) | Method, device and system for detecting display panel | |
JP2004311209A (ja) | 発光素子の検査方法及び装置 | |
JP2011095116A (ja) | 点灯検査装置、方法、及び、プログラム | |
JP2007279213A (ja) | 表示パネルの輝度検査装置、及びこれを用いた表示パネルの製造方法 | |
CN101881660B (zh) | 产品的表面亮度的检测治具及检测方法 | |
US10134315B2 (en) | Heating package test apparatus and method of operating the same | |
JP2009052890A (ja) | 光学測定装置、光学測定方法、及び該装置を備えた信頼性評価システム | |
JP6780708B2 (ja) | 色測定システム | |
JP4786405B2 (ja) | 発光測定装置及び発光測定方法 |