JP2008124413A - シリコン基板の粗面化方法および光起電力装置の製造方法 - Google Patents
シリコン基板の粗面化方法および光起電力装置の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008124413A JP2008124413A JP2007022706A JP2007022706A JP2008124413A JP 2008124413 A JP2008124413 A JP 2008124413A JP 2007022706 A JP2007022706 A JP 2007022706A JP 2007022706 A JP2007022706 A JP 2007022706A JP 2008124413 A JP2008124413 A JP 2008124413A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- silicon substrate
- roughening
- etching
- metal
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/546—Polycrystalline silicon PV cells
Landscapes
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Weting (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】有機金属溶液あるいは有機金属の分散液を基板にインクジェット法でドット状に塗布する工程と、上記基板を乾燥する工程と、上記基板の表面にプラズマを照射する工程と、上記基板をエッチング処理する工程とを備えたシリコン基板の粗面化方法である。
【選択図】図5
Description
以下、図面を参照してこの発明の実施の形態について説明する。
本実施の形態に係るシリコン基板の粗面化方法は、有機金属溶液あるいは有機金属の分散液をシリコン基板に塗布する工程と、上記シリコン基板を乾燥する工程と、上記シリコン基板の表面にプラズマを照射して金属粒子を形成する工程と、上記シリコン基板をエッチング処理する工程からなるものである。
図10に、本実施の形態1に係る光起電力装置の製造方法により製造された本実施の形態2に係る光起電力装置(太陽電池)の一例を示す。本実施の形態2に係る光起電力装置の製造方法は、実施の形態1に記載のシリコン基板1の粗面化工程と、粗面化工程により粗面化されたシリコン基板1(p型Si)の表面に対して、ガス拡散法、固相拡散法、イオン打ち込み法などのいずれかの方法により、n型不純物を拡散させて、pn接合を形成する拡散工程と、拡散工程により形成されたn型拡散層7上に、PVD法やCVD法などにより、反射防止膜8を生成する成膜工程と、成膜工程により反射防止膜8が生成されたシリコン基板1の表裏面に上部電極9および下部電極10を生成するための電極ペーストを印刷する印刷工程と、印刷工程により印刷された電極ペーストを焼成処理する焼成処理工程とからなるものである。これにより、本実施の形態2に係る光起電力装置は、図10に示すように、粗面化されたシリコン基板1の表面にn型拡散層7が設けられ、その上に反射防止膜8が設けられ、さらに、そのシリコン基板1に、上部電極9(表面に対応)および下部電極10(裏面に対応)が設けられている。なお、下部電極10は良好なオーム性接触を得るために全面に形成することが望ましいが、上部電極9については、受光ロスや直列抵抗を小さくすることを考慮しながら、そのパターンや面積を適宜決定すればよい。
太陽電池用多結晶シリコン基板に、有機金属として銅フタロシアニンの分散液をインクジェット法により塗布した。銅フタロシアニンは青色顔料用として微細化したものをインクジェット塗布が容易な様に水を主分散媒とし、銅金属換算で0.3〜1.2wt%濃度のインクとした。この銅フタロシアニンインクをインクジェット装置で基板全面に塗布し、銅金属換算膜厚が5〜30nmとなる様に複数回の塗布と乾燥を行った。ここで、塗布膜厚が薄い場合は析出する金属粒子は相対的に小さめ、厚くすれば大きめとすることができる。塗布の各工程間では、水分を除去するため80〜200℃のホットプレートで乾燥処理を行った。この乾燥工程により、繰り返し塗布時の塗布ムラを低減することができるが、必須ではない。また、ホットプレートの代わりにオーブン等の乾燥装置を用いてもよく、基板加熱の可能なインクジェット装置を用いてもよい。
太陽電池用多結晶シリコン基板に、有機金属として銅フタロシアニンの分散液をインクジェット法により塗布した。銅フタロシアニンは青色顔料用として微細化したものをインクジェット塗布が容易な様に水を主分散媒とし、銅金属換算で0.6wt%濃度のインクとした。この銅フタロシアニンインクをインクジェット装置で基板全面に塗布し、銅金属換算膜厚が5〜10nmとなる様に塗布を行い、さらに300〜500℃での熱処理を施し、水分および有機物成分の除去を行った。ここで、塗布膜厚が薄い場合は析出する金属粒子は相対的に小さめ、厚くすれば大きめとすることができる。この熱処理後の基板を反応性イオンエッチング(RIE)装置により、SF6とAr混合ガスを用いて、チャンバー圧力:1〜20Pa、プラズマパワー:20〜500W、処理時間:5〜30分で行い、金属粒子膜を生成した。この基板を、濃度1〜20wt%の水酸化ナトリウム水溶液に5〜60分浸し、ポーラス部分近傍のシリコンエッチングを行った。その後、王水で洗浄することで、金属マスクの溶解除去を行った。その結果、サブミクロンから数ミクロンの窪みからなる粗面化シリコンを得ることができた。この場合、アルカリによるウェットエッチングの代りに、硝酸、フッ酸、および水からなる混酸を用いても同様のエッチングが可能であった。ただし、混酸の場合はマスクとなる金属も溶かすため、短時間で最適なエッチング時間とする必要があるが、エッチング速度がシリコン基板の結晶面方位に依存しないという利点もある。
70〜150℃に加熱した太陽電池用多結晶シリコン基板に、有機金属として金属換算で0.3〜10wt%濃度のアセチルアセトンアルミ錯体のアセトン溶液をスプレー法により、金属換算膜厚が5〜30nmとなる様に塗布と乾燥を行った。ここで、塗布膜厚が薄い場合は析出する金属粒子は相対的に小さめ、厚くすれば大きめとすることができる。次に、溶液を塗布した基板を反応性イオンエッチング(RIE)装置により、NF3ガスを用いて、チャンバー圧力:1〜20Pa、プラズマパワー:100〜500W、処理時間:5〜30分で行い、生成した金属粒子をエッチングマスクとし、シリコン基板の粗面化を行った。予め、有機金属の分解処理を行わなかったので、プラズマパワーは高めとした。粗面化を完了したシリコン基板はリン酸水溶液および塩酸による洗浄を順次行い、残存したアルミ金属、およびアルミ酸化物の除去を行った。
本実施の形態に係るシリコン基板の粗面化方法は、有機金属溶液あるいは有機金属の分散液をシリコン基板にインクジェット法でドット状に塗布する工程と、上記シリコン基板を乾燥する工程と、上記シリコン基板の表面にプラズマを照射して金属膜を形成する工程と、上記シリコン基板をエッチング処理する工程からなるものである。
図19に、本実施の形態3に係る光起電力装置の製造方法により製造された本実施の形態4に係る光起電力装置(太陽電池)の一例を示す。本実施の形態4に係る光起電力装置の製造方法は、実施の形態3に記載のシリコン基板1の粗面化工程と、粗面化工程により粗面化されたシリコン基板1(p型Si)の表面に対して、ガス拡散法、固相拡散法、イオン打ち込み法などのいずれかの方法により、n型不純物を拡散させて、pn接合を形成する拡散工程と、拡散工程により形成されたn型拡散層7上に、PVD法やCVD法などにより、反射防止膜8を生成する成膜工程と、成膜工程により反射防止膜8が生成されたシリコン基板1の表裏面に上部電極9および下部電極10を生成するための電極ペーストを印刷する印刷工程と、印刷工程により印刷された電極ペーストを焼成処理する焼成処理工程とからなるものである。これにより、本実施の形態4に係る光起電力装置は、図19に示すように、粗面化されたシリコン基板1の表面にn型拡散層7が設けられ、その上に反射防止膜8が設けられ、さらに、そのシリコン基板1に、上部電極9(表面に対応)および下部電極10(裏面に対応)が設けられている。なお、下部電極10は良好なオーム性接触を得るために全面に形成することが望ましいが、上部電極9については、受光ロスや直列抵抗を小さくすることを考慮しながら、そのパターンや面積を適宜決定すればよい。
太陽電池用多結晶シリコン基板に、有機金属として銅フタロシアニンの分散液をインクジェット法により塗布した。銅フタロシアニンは青色顔料用として微細化したものをインクジェット塗布が容易な様に水を主分散媒とし、銅金属換算で0.3〜1.2wt%濃度のインクとした。この銅フタロシアニンインクをインクジェット装置で、基板に対して各ドットが最密配置(図20)で、かつ、各ドットの銅金属換算膜厚が5〜30nmとなる様に塗布と乾燥を行った。塗布の後、水分を除去するため、80〜200℃のホットプレートで乾燥処理を行った。また、基板加熱の可能なインクジェット装置を用いることで、インクジェットによる塗布と乾燥を同時に行っても良い。
太陽電池用多結晶シリコン基板に、有機金属として銅フタロシアニンの分散液をインクジェット法により塗布した。銅フタロシアニンは青色顔料用として微細化したものをインクジェット塗布が容易な様に水を主分散媒とし、銅金属換算で0.3〜1.2wt%濃度のインクとした。この銅フタロシアニンインクをインクジェット装置で、基板に対して各ドットが最密に密着する様に配置(図21)し、かつ、各ドットの銅金属換算膜厚が5〜30nmとなる様に塗布と乾燥を行った。塗布の後、水分を除去するため80〜200℃のホットプレートで乾燥処理を行った。また、基板加熱の可能なインクジェット装置を用いることで、インクジェットによる塗布と乾燥を同時に行っても良い。
Claims (17)
- 有機金属溶液あるいは有機金属の分散液をシリコン基板に塗布する工程と、
上記シリコン基板を乾燥する工程と、
上記シリコン基板の表面にプラズマを照射して金属粒子を形成する工程と、
上記シリコン基板をエッチング処理する工程と
を備えたことを特徴とする、シリコン基板の粗面化方法。 - エッチング処理する工程のあとに、金属粒子を除去する工程を備えたことを特徴とする、請求項1に記載のシリコン基板の粗面化方法。
- 上記有機金属溶液あるいは上記有機金属の分散液を基板に塗布する工程は、インクジェット法を用いて行うことを特徴とする、請求項1または2に記載のシリコン基板の粗面化方法。
- 上記シリコン基板を乾燥する工程は、上記有機金属の分解温度以上で行うことを特徴とする、請求項1ないし3のいずれか1項に記載のシリコン基板の粗面化方法。
- 上記プラズマを照射する工程と上記エッチング処理工程とは、反応性イオンエッチングを用いることを特徴とする、請求項1ないし4のいずれか1項に記載のシリコン基板の粗面化方法。
- プラズマを照射する工程はエッチング処理する工程を兼ねていることを特徴とする、請求項5に記載のシリコン基板の粗面化方法。
- 上記有機金属として銅フタロシアニンを用いることを特徴とする、請求項1ないし5のいずれか1項に記載のシリコン基板の粗面化方法。
- 上記有機金属としてアセチルアセトンアルミ錯体を用いることを特徴とする、請求項1ないし5のいずれか1項に記載のシリコン基板の粗面化方法。
- 請求項1ないし8のいずれか1項に記載のシリコン基板の粗面化方法によりシリコン基板の粗面化を行う粗面化工程と、
上記粗面化工程により粗面化された上記シリコン基板の表面にpn接合を形成する拡散工程と、
上記拡散工程により形成された拡散層に反射防止膜を生成する成膜工程と、
上記成膜工程により反射防止膜が生成された上記シリコン基板に上部電極および下部電極に対応する電極ペーストを印刷する印刷工程と、
上記印刷工程により印刷された上記電極ペーストを焼成処理する焼成処理工程と
を備えたことを特徴とする光起電力装置の製造方法。 - 有機金属溶液あるいは有機金属の分散液をシリコン基板にドット状に塗布する工程と、
上記シリコン基板を乾燥する工程と、
上記シリコン基板の表面にプラズマを照射して金属膜を形成する工程と、
上記シリコン基板をエッチング処理する工程と
を備えたことを特徴とする、シリコン基板の粗面化方法。 - 上記金属膜を形成した後に、めっき処理を行う工程を備えたことを特徴とする、請求項10に記載のシリコン基板の粗面化方法。
- エッチング処理する工程のあとに、金属膜を除去する工程を備えたことを特徴とする、請求項10または11に記載のシリコン基板の粗面化方法。
- 上記シリコン基板を乾燥する工程は、上記有機金属の分解温度以上で行うことを特徴とする、請求項10ないし12のいずれか1項に記載のシリコン基板の粗面化方法。
- 上記プラズマを照射する工程と上記エッチング処理工程とは、反応性イオンエッチングを用いることを特徴とする、請求項10ないし13のいずれか1項に記載のシリコン基板の粗面化方法。
- プラズマを照射する工程はエッチング処理する工程を兼ねていることを特徴とする、請求項14に記載のシリコン基板の粗面化方法。
- 上記有機金属として銅フタロシアニンを用いることを特徴とする、請求項10ないし15のいずれか1項に記載のシリコン基板の粗面化方法。
- 請求項10ないし16のいずれか1項に記載のシリコン基板の粗面化方法によりシリコン基板の粗面化を行う粗面化工程と、
上記粗面化工程により粗面化された上記シリコン基板の表面にpn接合を形成する拡散工程と、
上記拡散工程により形成された拡散層に反射防止膜を生成する成膜工程と、
上記成膜工程により反射防止膜が生成された上記シリコン基板に上部電極および下部電極に対応する電極ペーストを印刷する印刷工程と、
上記印刷工程により印刷された上記電極ペーストを焼成処理する焼成処理工程と
を備えたことを特徴とする光起電力装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007022706A JP4869967B2 (ja) | 2006-10-20 | 2007-02-01 | シリコン基板の粗面化方法および光起電力装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006286019 | 2006-10-20 | ||
JP2006286019 | 2006-10-20 | ||
JP2007022706A JP4869967B2 (ja) | 2006-10-20 | 2007-02-01 | シリコン基板の粗面化方法および光起電力装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008124413A true JP2008124413A (ja) | 2008-05-29 |
JP4869967B2 JP4869967B2 (ja) | 2012-02-08 |
Family
ID=39508810
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007022706A Expired - Fee Related JP4869967B2 (ja) | 2006-10-20 | 2007-02-01 | シリコン基板の粗面化方法および光起電力装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4869967B2 (ja) |
Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008282912A (ja) * | 2007-05-09 | 2008-11-20 | Mitsubishi Electric Corp | 太陽電池素子の製造方法 |
JP2010034155A (ja) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Ulvac Japan Ltd | テクスチャー形成方法及び真空処理装置 |
JP2010034156A (ja) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Ulvac Japan Ltd | テクスチャー形成方法及び真空処理装置 |
JP2011139048A (ja) * | 2009-12-01 | 2011-07-14 | Osaka Univ | 少なくとも片面が粗面化された太陽電池用基板 |
WO2011118238A1 (ja) * | 2010-03-23 | 2011-09-29 | リンテック株式会社 | プラズマエッチング処理を用いた表面凹凸形成方法および電極部材 |
WO2012132433A1 (ja) * | 2011-03-30 | 2012-10-04 | パナソニック株式会社 | テクスチャ形成面を有するシリコン基板、およびその製造方法 |
WO2012150669A1 (ja) * | 2011-05-02 | 2012-11-08 | 三菱電機株式会社 | シリコン基板の洗浄方法および太陽電池の製造方法 |
JP2012216788A (ja) * | 2011-03-30 | 2012-11-08 | Panasonic Corp | テクスチャ形成面を有するシリコン基板、およびその製造方法 |
JP2012216570A (ja) * | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Jsr Corp | 半導体装置の製造方法 |
JP2012246216A (ja) * | 2011-05-25 | 2012-12-13 | Agency For Science Technology & Research | 基板上にナノ構造を形成させる方法及びその使用 |
JP2013089832A (ja) * | 2011-10-20 | 2013-05-13 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | シリコン基板の加工方法 |
WO2013088671A1 (ja) * | 2011-12-15 | 2013-06-20 | パナソニック株式会社 | テクスチャ形成面を有するシリコン基板、およびその製造方法 |
JP5295437B2 (ja) * | 2011-05-02 | 2013-09-18 | 三菱電機株式会社 | シリコン基板の洗浄方法および太陽電池の製造方法 |
US20140008726A1 (en) * | 2012-07-04 | 2014-01-09 | National Applied Research Laboratories | Semiconductor structure and method of fabricating the same |
US8628991B2 (en) | 2010-05-10 | 2014-01-14 | Samsung Display Co., Ltd. | Solar cell and method for manufacturing the same |
KR20150142128A (ko) * | 2014-06-10 | 2015-12-22 | 주식회사 지엘테크 | 태양빛 흡수력을 향상시킨 실리콘웨이퍼 및 그 실리콘웨이퍼를 이용한 솔라 셀 |
US9481178B2 (en) | 2010-05-02 | 2016-11-01 | Xjet Ltd | Printing system with self-purge, sediment prevention and fumes removal arrangements |
JP2017017364A (ja) * | 2011-12-16 | 2017-01-19 | エルジー エレクトロニクス インコーポレイティド | 太陽電池及びその製造方法 |
US10026617B2 (en) | 2008-11-30 | 2018-07-17 | Xjet Ltd | Method and system for applying materials on a substrate |
US10034392B2 (en) | 2006-11-28 | 2018-07-24 | Xjet Ltd | Method and system for nozzle compensation in non-contact material deposition |
US10232655B2 (en) | 2009-05-18 | 2019-03-19 | Xjet Ltd. | Method and device for printing on heated substrates |
US10479122B2 (en) | 2010-07-22 | 2019-11-19 | Xjet Ltd. | Printing head nozzle evaluation |
US10611155B2 (en) | 2010-10-18 | 2020-04-07 | Xjet Ltd. | Inkjet head storage and cleaning |
US10913112B2 (en) | 2013-10-17 | 2021-02-09 | Xiet, Ltd. | Tungsten-Carbide/Cobalt ink composition for 3D inkjet printing |
IE20200018A3 (en) * | 2020-02-03 | 2022-10-26 | Ultra High Vacuum Solutions Ltd | Silicon surface preparation for dry etching texturing process. |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001068513A1 (fr) * | 2000-03-16 | 2001-09-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Procede destine a usiner une microstructure avec precision |
JP2004303870A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Toshiba Corp | 微細パターン形成方法 |
-
2007
- 2007-02-01 JP JP2007022706A patent/JP4869967B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001068513A1 (fr) * | 2000-03-16 | 2001-09-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Procede destine a usiner une microstructure avec precision |
JP2004303870A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Toshiba Corp | 微細パターン形成方法 |
Cited By (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10034392B2 (en) | 2006-11-28 | 2018-07-24 | Xjet Ltd | Method and system for nozzle compensation in non-contact material deposition |
JP2008282912A (ja) * | 2007-05-09 | 2008-11-20 | Mitsubishi Electric Corp | 太陽電池素子の製造方法 |
JP2010034155A (ja) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Ulvac Japan Ltd | テクスチャー形成方法及び真空処理装置 |
JP2010034156A (ja) * | 2008-07-25 | 2010-02-12 | Ulvac Japan Ltd | テクスチャー形成方法及び真空処理装置 |
US10026617B2 (en) | 2008-11-30 | 2018-07-17 | Xjet Ltd | Method and system for applying materials on a substrate |
US10232655B2 (en) | 2009-05-18 | 2019-03-19 | Xjet Ltd. | Method and device for printing on heated substrates |
JP2011139048A (ja) * | 2009-12-01 | 2011-07-14 | Osaka Univ | 少なくとも片面が粗面化された太陽電池用基板 |
WO2011118238A1 (ja) * | 2010-03-23 | 2011-09-29 | リンテック株式会社 | プラズマエッチング処理を用いた表面凹凸形成方法および電極部材 |
CN102770943A (zh) * | 2010-03-23 | 2012-11-07 | 琳得科株式会社 | 利用了等离子体蚀刻处理的表面凹凸形成方法以及电极部件 |
JP4790877B1 (ja) * | 2010-03-23 | 2011-10-12 | リンテック株式会社 | プラズマエッチング処理を用いた表面凹凸形成方法および電極部材 |
US9054244B2 (en) | 2010-03-23 | 2015-06-09 | Lintec Corporation | Irregular-surface forming method using plasma-etching process, and electrode member |
US11104071B2 (en) | 2010-05-02 | 2021-08-31 | Xjet Ltd. | Printing system with self-purge, sediment prevention and fumes removal arrangements |
US9481178B2 (en) | 2010-05-02 | 2016-11-01 | Xjet Ltd | Printing system with self-purge, sediment prevention and fumes removal arrangements |
US10315427B2 (en) | 2010-05-02 | 2019-06-11 | Xjet Ltd. | Printing system with self-purge sediment prevention and fumes removal arrangements |
US8628991B2 (en) | 2010-05-10 | 2014-01-14 | Samsung Display Co., Ltd. | Solar cell and method for manufacturing the same |
US10479122B2 (en) | 2010-07-22 | 2019-11-19 | Xjet Ltd. | Printing head nozzle evaluation |
US10611155B2 (en) | 2010-10-18 | 2020-04-07 | Xjet Ltd. | Inkjet head storage and cleaning |
US10864737B2 (en) | 2010-10-18 | 2020-12-15 | Xjet Ltd. | Inkjet head storage and cleaning |
WO2012132433A1 (ja) * | 2011-03-30 | 2012-10-04 | パナソニック株式会社 | テクスチャ形成面を有するシリコン基板、およびその製造方法 |
JP2012216788A (ja) * | 2011-03-30 | 2012-11-08 | Panasonic Corp | テクスチャ形成面を有するシリコン基板、およびその製造方法 |
US9397242B2 (en) | 2011-03-30 | 2016-07-19 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Silicon substrate having textured surface, and process for producing same |
JP2012216570A (ja) * | 2011-03-31 | 2012-11-08 | Jsr Corp | 半導体装置の製造方法 |
KR101464453B1 (ko) | 2011-05-02 | 2014-11-21 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 실리콘 기판의 세정 방법 및 태양전지의 제조 방법 |
US8865509B2 (en) | 2011-05-02 | 2014-10-21 | Mitsubishi Electric Corporation | Cleaning method of silicon substrate and manufacturing method of solar battery |
WO2012150669A1 (ja) * | 2011-05-02 | 2012-11-08 | 三菱電機株式会社 | シリコン基板の洗浄方法および太陽電池の製造方法 |
CN103189966A (zh) * | 2011-05-02 | 2013-07-03 | 三菱电机株式会社 | 硅基板的洗净方法和太阳能电池的制造方法 |
JP5295437B2 (ja) * | 2011-05-02 | 2013-09-18 | 三菱電機株式会社 | シリコン基板の洗浄方法および太陽電池の製造方法 |
JP2012246216A (ja) * | 2011-05-25 | 2012-12-13 | Agency For Science Technology & Research | 基板上にナノ構造を形成させる方法及びその使用 |
TWI562395B (en) * | 2011-05-25 | 2016-12-11 | Agency Science Tech & Res | Method of forming nanostructures on a substrate and use of the same |
US9508880B2 (en) | 2011-10-20 | 2016-11-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for processing a minute structure on a surface of the silicon substrate |
JP2013089832A (ja) * | 2011-10-20 | 2013-05-13 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | シリコン基板の加工方法 |
JP5281217B1 (ja) * | 2011-12-15 | 2013-09-04 | パナソニック株式会社 | テクスチャ形成面を有するシリコン基板の製造方法 |
WO2013088671A1 (ja) * | 2011-12-15 | 2013-06-20 | パナソニック株式会社 | テクスチャ形成面を有するシリコン基板、およびその製造方法 |
JP2017017364A (ja) * | 2011-12-16 | 2017-01-19 | エルジー エレクトロニクス インコーポレイティド | 太陽電池及びその製造方法 |
US20140008726A1 (en) * | 2012-07-04 | 2014-01-09 | National Applied Research Laboratories | Semiconductor structure and method of fabricating the same |
US11000897B2 (en) | 2013-10-17 | 2021-05-11 | Xjet Ltd. | Support ink for three dimensional (3D) printing |
US10913112B2 (en) | 2013-10-17 | 2021-02-09 | Xiet, Ltd. | Tungsten-Carbide/Cobalt ink composition for 3D inkjet printing |
US11577319B2 (en) | 2013-10-17 | 2023-02-14 | Xiet Ltd. | Tungsten-carbide/cobalt ink composition for 3D inkjet printing |
US11623280B2 (en) | 2013-10-17 | 2023-04-11 | Xjet Ltd. | Support ink for three dimensional (3D) printing |
KR20150142128A (ko) * | 2014-06-10 | 2015-12-22 | 주식회사 지엘테크 | 태양빛 흡수력을 향상시킨 실리콘웨이퍼 및 그 실리콘웨이퍼를 이용한 솔라 셀 |
KR101691195B1 (ko) * | 2014-06-10 | 2017-01-02 | 주식회사 지엘테크 | 태양빛 흡수력을 향상시킨 실리콘웨이퍼를 이용한 솔라 셀 |
IE20200018A3 (en) * | 2020-02-03 | 2022-10-26 | Ultra High Vacuum Solutions Ltd | Silicon surface preparation for dry etching texturing process. |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4869967B2 (ja) | 2012-02-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4869967B2 (ja) | シリコン基板の粗面化方法および光起電力装置の製造方法 | |
JP5763709B2 (ja) | イオン性金属溶液を用いて触媒処理されたシリコン表面の反射防止エッチング | |
JP5710618B2 (ja) | 太陽電池およびこのような太陽電池の製造方法 | |
CN102473751B (zh) | 基板的面粗化方法、光电动势装置的制造方法、光电动势装置 | |
US6329296B1 (en) | Metal catalyst technique for texturing silicon solar cells | |
JP5866477B2 (ja) | シリコン表面の銅支援反射防止エッチング | |
KR20180001513A (ko) | 결정질 실리콘 태양전지의 텍스쳐 구조의 제조방법 | |
TW201703269A (zh) | 一種晶體矽太陽能電池的絨面結構及其製備方法 | |
TW201245033A (en) | Method of electrically contacting nanowire arrays | |
JP5698684B2 (ja) | 半導体装置の製造方法、半導体装置の製造装置、半導体装置、並びに転写用部材 | |
JP6120172B2 (ja) | 半導体装置の製造方法、半導体装置の製造装置、半導体装置、半導体装置の製造プログラム、半導体用処理剤、並びに転写用部材 | |
KR20120136881A (ko) | 결정성 실리콘 웨이퍼의 텍스쳐 에칭액 조성물 및 텍스쳐 에칭방법 | |
CN106098810A (zh) | 一种晶体硅太阳能电池绒面结构的制备方法 | |
JP4430488B2 (ja) | 太陽電池及びその製造方法 | |
Li et al. | Formation of nanostructured emitter for silicon solar cells using catalytic silver nanoparticles | |
JP5467697B2 (ja) | 太陽電池の製造方法 | |
CN109735886B (zh) | 基于阳极氧化铝模板的宽谱减反膜及其制备方法 | |
Tsujino et al. | Formation of a low reflective surface on crystalline silicon solar cells by chemical treatment using Ag electrodes as the catalyst | |
JP2013093537A5 (ja) | ||
CN114551614B (zh) | 硅片复合绒面制作方法及由该方法制作的硅片 | |
Dutta et al. | Understanding temporal evolution of microstructures on metal-assisted chemically etched Ge surface and its applications | |
JP2012059954A (ja) | 光電変換素子用シリコン基板及び光電変換素子の製造方法。 | |
KR101718630B1 (ko) | 태양전지용 실리콘 기판의 표면처리방법 | |
WO2012032743A1 (ja) | 光電変換素子及び太陽電池 | |
JP2014146712A (ja) | 太陽電池および太陽電池の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20081218 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090702 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110913 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111024 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111115 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111116 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141125 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |