JP2008118207A - 光電変換装置及び焦点検出装置 - Google Patents

光電変換装置及び焦点検出装置 Download PDF

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Abstract

【課題】小規模な回路構成で、撮像部において検出した電荷に相当する信号と光が当たっていない基準画素からの信号又は撮像部で検出した平均的な光に相当する信号との間での差動増幅が可能な光電変換装置及びこのような光電変換装置を備える焦点検出装置を提供すること。
【解決手段】差動増幅回路124の非反転端子を画素列111a、111b、111cにおける開口画素成分を選択する画素出力回路113の出力に接続し、反転端子を一方に画素列111a、111b、111cにおける基準画素成分を選択する基準信号選択回路122の出力が接続され、他方が各画素列における電荷の蓄積を終了させるための基準電圧である蓄積終了電圧生成部140の出力に接続されたセレクト回路123の出力に接続する。そして、モニタ画素114a、114b、114cにより電荷の蓄積状態を画素列単位で監視する。
【選択図】 図2

Description

本発明は、光電変換装置及びそれを備える焦点検出装置に関し、特に複数の測距点に対する焦点状態を検出するための光電変換装置及び焦点検出装置に関する。
オートフォーカスカメラに用いられている焦点検出装置の1つとして位相差検出方式の焦点検出装置が知られている。位相差検出方式においては、主光学系の異なる光路を通過した被写体からの光束が、瞳分割光学系において分割され、該分割された光束が被写体像として基準部の撮像部と参照部の撮像部の2つの焦点検出部によってそれぞれ検出され、これら検出された被写体像の2像間隔値から撮影画面内に配された測距点における焦点状態が検出される。
更に、位相差検出方式の焦点検出装置においては、撮影画面のより広い領域に位置する被写体像の検出を行うようにするためと被写体像のコントラストの検出方向を1方向から複数方向に拡張するために、例えば特許文献1のように、2以上の対となる撮像部を配置して被写体像の検出を行う、所謂多点測距が可能な焦点検出装置も提案され、多数の製品に採用されている。特許文献1の例では、瞳分割光学系が4対の瞳分割レンズで構成されている。そして、撮影画面内の中央部の被写体像は左右方向の対と上下方向の対をなす瞳分割レンズに対応して配置される撮像部において検出され、撮影画面内の左右部の被写体像はそれぞれ上下方向の対をなす瞳分割レンズに対応して配置される撮像部において検出される。
ここで、位相差検出方式においては、コントラストの低い被写体に対しては焦点位置検出が困難である。そのため、撮像部で得られる出力信号を光電変換装置の暗時出力(光が当たっていない画素からの出力)を基準として増幅する手法と、撮像部で得られる出力信号を光電変換装置の平均出力を基準として増幅する手法とを被写体に応じて適宜切り替えて焦点検出を行うことができる焦点検出装置が例えば特許文献2において提案されている。
図8を参照して、特許文献2の焦点検出装置について更に説明する。図8に示す焦点検出装置は、被写体からの光束を受光し、受光した光束に応じた信号を出力する撮像部(図8ではセンサ401が対応する)と、撮像部で得られた信号を処理するための読み出し部(図8ではモニタ電圧回路402、平均値保持回路403、暗時出力電圧回路404、セレクト回路405、差動増幅回路406が対応する)とから構成されている。
図8に示す焦点検出装置は、センサ401で得られた信号を差動増幅回路406で差動増幅するものである。そして、差動増幅回路406の非反転端子にはセンサ401の出力が接続され、反転端子には一方の入力が暗時出力電圧回路404の出力に、他方の入力が平均値保持回路403の出力に接続されたセレクト回路405の出力が接続されている。このような構成において、セレクト回路405において暗時出力電圧回路404を選択すると、センサ401からの出力とセンサ401に設けられている光が当たらない遮光された画素からの出力との差動増幅が行われる。一方、セレクト回路405において平均値保持回路403を選択すると、センサ401からの出力とモニタ電圧回路402によって検出され平均値保持回路403に保持されたセンサ出力の平均値との差動増幅が行われる。
特開平11−2754号公報 特開平11−84226号公報
ここで、特許文献2において示されている読み出し部の場合、撮像部で検出された電荷を撮像部で検出された平均的な光に相当する信号と比較して出力するために、平均値保持回路とモニタ電圧回路とを必要とする。このような読み出し部を、被写体からの光束を複数の位置(方向)に配置した撮像部で検出する多点測距可能な位相差検出方式に適用する場合には、検出する方向、位置に合わせて複数個の平均値保持回路と複数入力のセレクト回路とを必要とし、回路が大規模となるおそれがある。
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたもので、小規模な回路構成で、撮像部において検出した電荷に相当する信号と光が当たっていない基準画素からの信号又は撮像部で検出した平均的な光に相当する信号との間での差動増幅が可能な光電変換装置及びこのような光電変換装置を備える焦点検出装置を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明の第1の態様による光電変換装置は、被写体からの光束を受光して電荷を蓄積する画素が配列される複数の画素列と、前記画素列に対応して設けられ前記各画素列に蓄積される平均の電荷をそれぞれ検出し、該検出した平均の電荷を示す信号を出力する複数のモニタ画素と、前記画素列に対応して設けられ前記各画素列に蓄積された電荷をそれぞれ保持する複数のメモリ列と、前記各メモリ列に保持された電荷を示す信号を出力する少なくとも1つの画素出力回路と、を有する撮像部と、前記画素出力回路の出力における前記電荷を示す信号と、前記画素出力回路の出力における基準出力を示す信号又は前記各モニタ画素の出力と比較され、前記各画素列における電荷の蓄積時間を決めるための基準電圧である蓄積終了電圧に相当する信号との間での差動増幅を行う読み出し部とを具備することを特徴とする。
また、上記の目的を達成するために、本発明の第2の態様の光電変換装置は、被写体からの光束を受光して電荷を蓄積する画素が配列される複数の画素列と、前記画素列に対応して設けられ前記各画素列に蓄積される平均の電荷を検出し、該検出した平均の電荷を示す信号を出力する複数のモニタ画素と、前記画素列に対応して設けられ前記各画素列に蓄積された電荷をそれぞれ保持する複数のメモリ列と、前記各メモリ列に保持された電荷を示す信号を出力する少なくとも1つの画素出力回路と、を有する撮像部と、前記各画素列における電荷の蓄積時間を決めるための基準電圧である蓄積終了電圧を生成する蓄積終了電圧生成部と、前記各モニタ画素の出力と前記蓄積終了電圧生成部の出力とをそれぞれ比較し、前記各モニタ画素の出力が前記蓄積終了電圧に到達した時点で対応する画素列における電荷の蓄積を終了させる蓄積制御部と、全ての前記画素列における電荷の蓄積が終了した時点で前記画素出力回路から信号を出力させる制御部と、前記画素出力回路の出力における前記電荷を示す信号を選択する画素信号選択回路と、前記画素出力回路から出力される信号のうちの基準出力に相当する信号を選択する基準信号選択回路と、前記基準信号選択回路の出力と前記蓄積終了電圧生成部の出力に相当する信号の何れかを選択して出力するセレクト回路と、前記画素出力回路から出力される前記電荷を示す信号と前記セレクト回路から出力される信号との間の差動増幅を行う差動増幅回路と、を有する読み出し部とを具備することを特徴とする。
また、上記の目的を達成するために、本発明の第3の態様の焦点検出装置は、第2の態様に記載の光電変換装置を備える焦点検出装置において、前記セレクト回路は、前記被写体が低コントラストのときに、前記蓄積終了電圧生成部の出力に相当する信号を選択することを特徴とする。
本発明によれば、小規模な回路構成で、撮像部において検出した電荷に相当する信号と光が当たっていない基準画素からの信号又は撮像部で検出した平均的な光に相当する信号との間での差動増幅が可能な光電変換装置及びこのような光電変換装置を備える焦点検出装置を提供することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
[第1の実施形態]
図1は、本発明の第1の実施形態に係る焦点検出装置が搭載されるカメラの、特に焦点検出に係る構成について示す図である。ここで、図1に示すカメラは、1眼レフレックス方式のカメラを示しており、フォーカスレンズ1と、メインミラー2と、ペンタプリズム3と、接眼レンズ4と、サブミラー5と、コンデンサレンズ6と、固定ミラー7と、瞳分割光学系8と、AFセンサ9と、焦点演算部10と、レンズ駆動信号生成部11と、モータドライバ12と、撮像素子13とから構成されている。ここで、瞳分割光学系8とAFセンサ9とで本実施形態に係る焦点検出装置を構成している。
フォーカスレンズ1は、図示しない被写体からの光束を集光してカメラ内部に入射させる。メインミラー2は、中央部がハーフミラーで構成されたミラーであり、フォーカスレンズ1を介して入射してきた光束を反射及び透過させる。ここで、メインミラー2は、図示しないミラー駆動機構により図示矢印A方向に回動自在になされている。そして、メインミラー2が図1の位置にある場合には、フォーカスレンズ1を介して入射した光束の一部をペンタプリズム3の側に反射させ、一部をサブミラー5の側に透過させる。また、メインミラー2が図示A方向に回動された場合には、フォーカスレンズ1を介して入射した光束が撮像素子13の側に入射する。
ペンタプリズム3は、メインミラー2において反射されて得られる被写体像を正立像にしてから接眼レンズ4に入射させる。接眼レンズ4は、ペンタプリズム3からの被写体像を撮影者が視認可能なように拡大する。
サブミラー5は、メインミラー2の中央部背面側に設けられ、該メインミラー2を透過した光束をコンデンサレンズ6の方向に反射させる。コンデンサレンズ6は、サブミラー5で反射され、撮像等価面上に結像した被写体光を集光する。固定ミラー7は、コンデンサレンズ6によって集光された被写体光を瞳分割光学系8に入射させる。瞳分割光学系8は、少なくとも1対の瞳分割レンズから構成されており、コンデンサレンズ6からの被写体光を瞳分割してAFセンサ9に結像させる。
AFセンサ9は、測距点に対応して設けられる少なくとも1対の光電変換装置から構成され、被写体像を受光して光電変換し、光電変換によって得られる電荷を電圧に変換して焦点演算部10に出力する。このAFセンサ9の詳細については後述する。
焦点演算部10は、AFセンサ9から対として出力される被写体像を示す電圧信号から、対をなす光電変換装置にそれぞれ入射した被写体像における2像間隔値(ズレ量)を、例えば相関演算により演算する。レンズ駆動信号生成部11は、焦点演算部10において演算されたズレ量から、焦点が合う位置にフォーカスレンズ1を移動させるためのレンズ駆動信号を生成してモータドライバ12に出力する。モータドライバ12は、レンズ駆動信号生成部11からのレンズ駆動信号に従ってフォーカスレンズ1を、図示矢印B方向で示す方向に駆動させる。撮像素子13は、被写体からの光束を受光して記録又は表示のための画像信号を得る。
以下、本実施形態の要部としてのAFセンサ9の構成について説明する。図2は、AFセンサ9を構成する光電変換装置の構成を示す図である。ここで、AFセンサ9は対をなす光電変換装置から構成されているが、図2にはそのうちの一方の光電変換装置のみを図示している。
図2に示す光電変換装置は、撮像部110と、読み出し部120と、蓄積制御部130と、蓄積終了電圧生成部140と、制御部150とから構成されている。
撮像部110は、画素列111a、111b、111cと、メモリ列112a、112b、112cと、画素出力回路113と、モニタ画素114a、114b、114cとから構成されている。
画素列111a、111b、111cは測距点に対応した位置にそれぞれ配置されている。そして、それぞれの画素列は被写体像を光電変換して被写体像の光量に応じた電荷を蓄積するための開口画素と他の測距点からの被写体像が開口画素に入射するのを防止するための遮光画素とが1次元又は2次元状(図では1次元状)に配列されて構成されている。
メモリ列112a、112b、112cはそれぞれ、画素列111a、111b、111cの近傍に設けられ、画素列111a、111b、111cの各画素に蓄積された電荷を保持する。画素出力回路113は、メモリ列112a、112b、112cに保持された電荷を読み出し、該読み出した電荷を1画素ずつ順次電圧に変換して読み出し部120に出力する。
なお、図2の例は、メモリ列112a、112b、112cに保持された電荷を1つの画素出力回路113で読み出す構成であるが、それぞれのメモリ列に対応して画素出力回路を設けるようにしても良い。
モニタ画素114a、114b、114cはそれぞれ、画素列111a、111b、111cの近傍に設けられ、画素列111a、111b、111cにそれぞれ入射する略平均的な光束に応じた電荷を検出し、検出した電荷に応じた信号を出力する。
このような構成の撮像部110において、画素列111a、111b、111cにはそれぞれ蓄積制御部130からリセット信号RST及び蓄積制御信号TG1(x)が入力される。また、メモリ列112a、112b、112cにはそれぞれ蓄積制御部130からのリセット信号RSTと制御部150からの読み出し開始信号TG2とが入力される。更に、画素出力回路113には、制御部150からの読み出し開始信号TG2と読み出し信号φとが入力される。また、モニタ画素114a、114b、114cにはそれぞれ蓄積制御部130からのリセット信号RSTが入力される。
読み出し部120は、画素信号選択回路121と、基準信号選択回路122と、セレクト回路123と、差動増幅回路124とから構成されている。
画素信号選択回路121は、画素出力回路113の出力Vpixを入力Vpix(1)とし、制御部150からの制御信号Vsh1を受けて画素出力回路113から出力される信号Vpixにおける開口画素からの信号に相当する成分Vbrightを選択し、選択した信号を出力Vpix_det1として差動増幅回路124の非反転入力端子に出力する。
基準信号選択回路122は、画素出力回路113の出力Vpixを入力Vpix(2)とし、制御部150からの制御信号Vsh2を受けて画素出力回路113から出力される信号Vpixのうちのリセットレベルに相当する成分Vrst若しくは遮光画素からの信号に相当する成分Vdarkを選択し、選択した信号を出力Vpix_det2として差動増幅回路124の反転端子に出力端子が接続されたセレクト回路123の一方の入力端子に出力する。
セレクト回路123は、一方の入力端子が基準信号選択回路122の出力端子に接続され、他方の入力端子が蓄積終了電圧生成部140の出力端子Vthに接続されている。更に、セレクト回路123には制御部150からの選択信号Vselが入力される。このような構成のセレクト回路123は、制御部150からの選択信号Vselに応じて基準信号選択回路122の出力Vpix_det2と蓄積終了電圧生成部140の出力Vthの何れかを選択して差動増幅回路124の反転入力端子に出力する。本実施形態では、例えばVselがH(High)レベルの場合にVpix_det2が選択され、VselがL(Low)レベルの場合にVthが選択されるものとする。
差動増幅回路124は、画素信号選択回路121の出力Vpix_det1とセレクト回路123の出力との間の差動増幅を行い、セレクト回路123の出力を基準とした画素出力信号Voutを出力する。
蓄積制御部130は、モニタ出力回路131a、131b、131cと、コンパレータ132a、132b、132cと、タイミング生成回路133とから構成されている。
モニタ出力回路131aはモニタ画素114aの出力を入力Vm_i(1)とし、Vm_i(1)を所定の利得で増幅し、増幅して得られた出力Vm_o(1)をコンパレータ132aの非反転入力端子に出力する。モニタ出力回路131bはモニタ画素114bの出力を入力Vm_i(2)とし、Vm_i(2)を所定の利得で増幅し、増幅して得られた出力Vm_o(2)をコンパレータ132bの非反転入力端子に出力する。モニタ出力回路131cはモニタ画素114cの出力を入力Vm_i(3)とし、Vm_i(3)を所定の利得で増幅し、増幅して得られた出力Vm_o(3)をコンパレータ132cの非反転入力端子に出力する。
なお、以下の説明においてはVm_i(1)、Vm_i(2)、Vm_i(3)を適宜Vm_i(x)(x=1,2,3)と記す。また、Vm_o(1)、Vm_o(2)、Vm_o(3)を適宜Vm_o(x)と記す。
コンパレータ132aは、非反転入力端子がモニタ出力回路131aの出力端子に接続され、反転入力端子が蓄積終了電圧生成部140の出力端子Vthに接続されており、Vm_o(1)とVthとの信号比較を行う。コンパレータ132bは、非反転入力端子がモニタ出力回路131bの出力端子に接続され、反転入力端子が蓄積終了電圧生成部140の出力端子Vthに接続されており、Vm_o(2)とVthとの信号比較を行う。コンパレータ132cは、非反転入力端子がモニタ出力回路131cの出力端子に接続され、反転入力端子が蓄積終了電圧生成部140の出力端子Vthに接続されており、Vm_o(3)とVthとの信号比較を行う。
タイミング生成回路133は、制御部150からのリセット制御信号RST_oを受けてリセット信号RSTを生成すると共に、制御部150からのリセット制御信号RST_oと各コンパレータの出力とに基づいて蓄積制御信号TG1(x)を生成して対応する画素列に出力する。ここで、リセット信号RSTは、画素列111a、111b、111cにおける電荷の蓄積動作の開始に先立って、画素列111a、111b、111cと、メモリ列112a、112b、112cと、モニタ画素114a、114b、114cと、モニタ出力回路131a、131b、131cとにおける出力をリセットさせるための信号である。また、蓄積制御信号TG1(x)は、画素列111a、111b、111cにおける電荷の蓄積動作を画素列毎に制御するための信号である。ここで、xの値は画素列と対応しているものとする。即ち、TG1(1)は画素列111aに係る信号であり、TG1(2)は画素列111bに係る信号であり、TG1(3)は画素列111cに係る信号である。
蓄積終了電圧生成部140は、画素列111a、111b、111cにおけるそれぞれの電荷蓄積時間を決めるための基準となる蓄積終了電圧Vthを生成してセレクト回路123の他方の入力端子と、各コンパレータの反転入力端子とに出力する。
制御部150は、6種類の制御信号を生成して出力する。この6種類の制御信号はそれぞれ、セレクト回路123からの出力を切り替えるための選択信号Vsel、タイミング生成回路133を制御するためのリセット制御信号RST_o、画素出力回路113における電荷の読み出し開始を制御するための読み出し開始信号TG2、画素出力回路113における電荷の読み出しを制御するための読み出し信号φ、画素信号選択回路121を制御するための制御信号Vsh(1)、基準信号選択回路122を制御するための制御信号Vsh(2)である。
以下、図3のタイミングチャートを参照して図2に示す光電変換装置の動作について説明する。なお、図3は、上から、差動増幅回路124の出力Vout、制御部150において生成されるリセット制御信号RST_o、読み出し開始信号TG2、読み出し信号φ、制御信号Vsh2、Vsh1、蓄積制御部130において生成される信号RST、TG1(x)、各モニタ画素の出力(各モニタ出力回路の入力)Vm_i(x)、各モニタ出力回路の出力(各コンパレータの入力)Vm_o(x)、蓄積終了電圧生成部140の出力Vthをそれぞれ示している。
まず、制御部150で生成されたリセット制御信号RST_oが蓄積制御部130のタイミング生成回路133に入力されると、このリセット制御信号RST_oと略同じタイミングでタイミング生成回路133から、撮像部110の画素列111a、111b、111c、メモリ列112a、112b、112c、モニタ画素114a、114b、114c、及び蓄積制御部130のモニタ出力回路131a、131b、131cにリセット信号RSTが入力される。これにより、画素列、メモリ列、モニタ画素、及びモニタ出力回路の出力がリセットされる。
また、リセット信号RSTが入力されるのと略同じタイミングでタイミング生成回路133から画素列111a、111b、111cに蓄積制御信号TG1(x)(=TG1(1)、TG1(2)、TG1(3))が入力され、画素列111a、111b、111cのそれぞれにおいて電荷の蓄積が開始される。
画素列111a、111b、111cのそれぞれにおける電荷の蓄積状況は蓄積制御部130において監視される。即ち、電荷蓄積の開始の時点から、画素列111a、111b、111cにそれぞれ対応して設けられたモニタ画素114a、114b、114cの出力Vm_i(1)、Vm_i(2)、Vm_i(3)がモニタ出力回路131a、131b、131cにそれぞれ入力される。モニタ出力回路131aからはVm_i(1)を所定の利得で増幅した出力Vm_o(1)がコンパレータ132aに入力される。また、モニタ出力回路131bからはVm_i(2)を所定の利得で増幅した出力Vm_o(2)はコンパレータ132bに入力される。モニタ出力回路131cからはVm_i(3)を所定の利得で増幅した出力Vm_o(3)がコンパレータ132cに入力される。コンパレータ132aはモニタ出力回路131aの出力Vm_o(1)と蓄積終了電圧生成部140の出力Vthとを比較し、Vm_o(1)がVthに到達した時点で出力が反転する。また、コンパレータ132bはモニタ出力回路131bの出力Vm_o(2)と蓄積終了電圧生成部140の出力Vthとを比較し、Vm_o(2)がVthに到達した時点で出力が反転する。コンパレータ132cはモニタ出力回路131cの出力Vm_o(3)と蓄積終了電圧生成部140の出力Vthとを比較し、Vm_o(3)がVthに到達した時点で出力が反転する。
タイミング生成回路133は、コンパレータ132aの出力が反転したタイミングで蓄積制御信号TG1(1)を、コンパレータ132bの出力が反転したタイミングで蓄積制御信号TG1(2)を、コンパレータ132aの出力が反転したタイミングで蓄積制御信号TG1(3)を、対応する画素列及びメモリ列に出力する。これにより、電荷の蓄積が終了し、画素列111a、111b、111cにそれぞれ蓄積された電荷がメモリ列112a、112b、112cにそれぞれ保持される。
ここで、電荷の蓄積は画素列111a、111b、111cにおいて個別に行われるものであるが、それぞれの画素列111a、111b、111cで平均として得られる電荷は画素列によらずに等しくなる。同様に、画素列111a、111b、111cに入射する光束の平均も画素列によらずに等しくなっている。これは、モニタ画素114a、114b、114cの出力Vm_o(x)が何れも、
Vm_o(x)=Vth (式1)
となった時点で電荷の蓄積を終了させるようにしているためである。
ここで、本実施形態においては、モニタ画素114a、114b、114cの感度Gmon1、モニタ出力回路131a、131b、131cの利得Gmon2、画素列111a、111b、111cの感度Gpix1、画素出力回路113の利得Gpix2を、
Gmon1×Gmon2=Gpix1×Gpix2 (式2)
の関係が成り立つように設定しておく。この場合、画素出力回路113の出力Vpixの平均値Ave(Vpix)は、画素列111a、111b、111cの入射光束量をLとすると、
Ave(Vpix)=L×Gpix1×Gpix2 (式3)
と表すことができる。同様に、モニタ出力回路131a、131b、131cの出力Vm_o(x)は、
Vm_o(x)=L×Gmon1×Gmon2 (式4)
と表すことができる。したがって、(式1)〜(式4)から、
Ave(Vpix)=Vm_o(x)=Vth (式5)
の関係が成り立つことになる。即ち、本実施形態における光電変換装置では、電荷の蓄積終了の時点で画素出力回路113の出力の平均値Ave(Vpix)が、蓄積終了電圧生成部140の出力Vthに等しくなる。
全ての画素列で電荷の蓄積時間が経過する(図ではこの期間を蓄積期間としている)と、撮像部110は制御部150からの指令を待つ待機状態となる。その後、制御部150から撮像部110のメモリ列112a、112b、112c及び画素出力回路113に読み出し開始信号TG2が入力されると、電荷の読み出しが開始される。また、制御部150から画素出力回路113に読み出し信号φが供給されるのと同時に、読み出し部120の画素信号選択回路121に制御信号Vsh1が、基準信号選択回路122に制御信号Vsh2が供給されて読み出しが行われる。
以下、電荷の蓄積後に行われる電荷の読み出しについて、図4を参照して更に詳しく説明する。ここで、図4(a)は、画素信号選択回路121及び基準信号選択回路122の詳細な構成を示す図である。また、図4(b)は図3に示すタイミングチャートの読み出し期間以後を詳細に示すタイミングチャートである。なお、図4(b)は、上から、画素列の模式図、読み出し信号φ、画素出力回路113の出力Vpix、基準信号選択回路122の制御信号の一例であるVsh2(rst)、基準信号選択回路122の制御信号の別の例であるVsh2(dark)、画素信号選択回路121の制御信号Vsh1、基準信号選択回路122の出力Vpix_det2、画素信号選択回路121の出力Vpix_det1をそれぞれ示している。
図4(a)に示すように、画素信号選択回路121と基準信号選択回路122とは同一の回路構成を有するものである。即ち、画素信号選択回路121と基準信号選択回路122とはそれぞれスイッチ201と、容量202と、バッファアンプ203とから構成されるサンプルホールド回路から構成されている。そして、画素信号選択回路121では、サンプルホールド回路を構成するスイッチ201に制御部150からの制御信号Vsh1が供給され、この制御信号Vsh1を受けて画素信号選択回路121は入力信号のサンプル及びホールドを行う。即ち、画素信号選択回路121は、制御信号Vsh1がHレベルの期間で入力信号をサンプルし、制御信号Vsh1がLレベルの期間でホールドする。一方、基準信号選択回路122では、サンプルホールド回路を構成するスイッチ201に制御部150からの制御信号Vsh2が供給され、この制御信号Vsh2を受けて基準信号選択回路122は入力信号のサンプル及びホールドを行う。即ち、基準信号選択回路122は、制御信号Vsh2がHレベルの期間で入力信号をサンプルし、制御信号Vsh2がLレベルの期間でホールドする。
読み出し時においては、制御部150で生成された読み出し信号φが順次、画素出力回路113に入力され、読み出し信号φに同期して画素出力回路113から、メモリ列112a、112b、112cに保持されている電荷に相当する信号Vpixが1画素分ずつ読み出し部120に出力される。
ここで、VpixがリセットレベルVresの期間中に、基準信号選択回路122のスイッチ201に図4(b)に示す制御信号Vsh2(rst)が供給されると、基準信号選択回路122の出力Vpix_det2がVpixのリセットレベルVresと等しくなる。また、Vpixが遮光画素の期間中に、基準信号選択回路122のスイッチ201に図4(b)に示す制御信号Vsh2(dark)が供給されると、基準信号選択回路122の出力Vpix_det2はVpixの遮光画素出力Vdarkと等しくなる。更に、開口画素に対応する期間中に、画素信号選択回路121のスイッチ201に図4(b)に示す制御信号Vsh1が供給されると、画素信号選択回路121の出力Vpix_det1がVpixの開口画素出力Vbrightと等しくなる。
上述したように、読み出し部120の差動増幅回路124の非反転入力端子には画素信号選択回路121の出力Vpix_det1が、反転入力端子にはセレクト回路123の出力が入力される。そして、セレクト回路123の一方の入力端子には基準信号選択回路122の出力Vpix_det2が入力され、他方の入力端子には蓄積終了電圧生成部140の出力Vthが入力される。したがって、制御部150において生成される選択信号Vselによってセレクト回路123の出力を切り替えることにより、差動増幅回路124の出力Voutは、(式6−1)若しくは(式6−2)と(式7)との2種類の信号となる。
Vout=Gdif(Vpix_det1-Vpix_det2)=Gdif(Vpix-Vres) (式6−1)
Vout=Gdif(Vpix_det1-Vpix_det2)=Gdif(Vpix-Vdark) (式6−2)
Vout=Gdif(Vpix_det1-Vth)=Gdif(Vpix-Vth) (式7)
ただし、Gdifは差動増幅回路124の利得である。即ち、選択信号VselがHレベルの場合には(式6−1)若しくは(式6−2)が選択される。ここで、(式6−1)は各画素列におけるリセットレベルを基準とした画素信号出力に相当し、(式6−2)は遮光画素出力を基準とした画素信号出力に相当するものである。なお、(式6−1)と(式6−2)とは、基準信号選択回路122の出力Vpix_det2が、VresとVdarkの何れの値にホールドされているかによって選択される。
また、選択信号VselがLレベルの場合には(式7)が選択される。この(式7)は(式5)の結果を代入すると、
Vout=Gdif(Vpix_det1-Vth)=Gdif(Vpix-Ave(Vpix)) (式8)
となる。この(式8)は、各画素列における平均出力を基準とした画素信号出力に相当するものである。
以上説明したように、第1の実施形態の光電変換装置では、複数の画素列における電荷の蓄積時間を画素列単位で制御することで、画素出力回路113から出力される信号の画素出力Ave(Vpix)が蓄積終了電圧生成部140において生成される蓄積終了電圧Vthと等しくなる。したがって、蓄積終了電圧生成部140の出力Vthを画素出力回路113の出力Vpixから引いてから増幅することにより、平均出力を基準とした差動増幅を行うことが可能である。これにより、複数の画素列が設けられた光電変換装置であっても、複数の平均値保持回路や複数入力のセレクト回路を必要とせず、簡易な構成で、撮像部110で検出した電荷に相当する信号と遮光画素出力若しくは平均値出力との間の差動増幅が可能である。
なお、第1の実施形態においては、3つの画素列を1次元状に配列した例について説明しているが、画素列(即ち測距点)の数は2つでも4つ以上であっても良く、この場合には、画素列の数に対応させてモニタ画素、モニタ出力回路、コンパレータの数を増減すれば良い。
[第2の実施形態]
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。図5は、第2の実施形態における光電変換装置の構成について説明する。なお、図5において、図2と同様の構成については、図2と同一の参照符号を付すことで説明を省略する。
図5に示す光電変換装置は、蓄積終了電圧生成部140が、基準電圧回路141と、基準電圧補正回路142とから構成されている点が図2と異なっている。基準電圧回路141は、図2に示す蓄積終了電圧生成部140と同様のものであり、蓄積終了電圧Vthを生成する。基準電圧補正回路142は、基準電圧回路141の出力Vthと制御部150からの制御信号Vsh_aveとを入力とし、出力Vth_xはセレクト回路123に接続されている。
以下、第2の実施形態の光電変換装置の動作について図6を参照して説明する。ここで、図6(a)は基準電圧補正回路142の構成図を示し、図6(b)は基準電圧補正回路142の動作を示すタイミングチャートであり、図6(c)は基準電圧補正回路142の動作説明図である。
図6(a)に示すように、基準電圧補正回路142は、スイッチ301と容量302とで構成されるサンプルホールド回路と、レベルシフト回路303と、増幅回路304とで構成されている。そして、サンプルホールド回路を構成するスイッチ301には、制御部150からの制御信号Vsh_aveが供給される。制御信号Vsh_aveは図6(b)に示すように、Vpixが遮光画素の期間でHレベル、開口画素の期間でLレベルとなる。これにより、図6(a)に示すサンプルホールド回路は、Vpixが遮光画素の期間でサンプル動作、開口画素の期間でホールド動作する。
次に、図6(c)を参照してレベルシフト回路303、増幅回路304の動作について説明する。第1の実施形態では、モニタ画素114a、114b、114cで蓄積される電荷(モニタ出力回路121a、121b、121cの出力)と画素列111a、111b、111cで蓄積される電荷(画素出力回路113の出力)とが(式5)の関係となるが、この関係は(式2)の関係が成立している場合に成立するものである。
これに対し、第2の実施形態は、(式2)の関係が成立していなくとも蓄積終了電圧生成部140の出力を画素出力回路113の出力Vpixの平均値として利用できるようにしたものである。即ち、第2の実施形態では(式5)の代わりに、
Ave(Vpix)=Gmpt×Vm_o(x)+ΔV=Gmpt×Vth+ΔV (式9)
の関係を利用する。なお、(式9)のΔV、Gmprは共に定数であり、それぞれ、画素列やモニタ画素等の出力におけるレベルシフト量、感度変動量に対応する。
第2の実施形態において、(式9)の定数ΔV、Gpmrの変化をそれぞれレベルシフト回路303のレベルシフト量、増幅回路304の利得を可変とすることによって補正する。つまり、レベルシフト回路303のシフト量をΔV、増幅回路304の利得をGmprとすると、蓄積終了電圧生成部140の出力Vth_xは、
Vth_x=Gmpr×Vth+ΔV (式10)
となる。したがって、(式9)、(式10)の関係を(式7)に代入すると、
Vout=Gdif(Vpix_det1-Vth_x)=Gdif(Vpix-Ave(Vpix)) (式11)
の関係が得られる。
以上説明したように、第2の実施形態によれば、画素列の感度やモニタ画素の感度などの変化した場合でも、蓄積終了電圧生成部140の基準電圧回路141で生成される蓄積終了電圧Vthを補正することにより、差動増幅回路124において各画素列における平均出力を基準とした画素信号出力を得ることができる。
[第3の実施形態]
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。図7は、制御部150において生成される選択信号Vselの設定例を示すフローチャートである。図7に示すように、焦点検出に先立って、制御部150は、焦点検出を行う被写体が高コントラスト被写体であるか否かを判定する(ステップS1)。そして、ステップS1の判定において、高コントラスト被写体である場合には、選択信号VselをHレベルに設定する(ステップS2)。この場合、差動増幅回路124の出力Voutは(式6−1)又は(式6−2)で示すものとなる。一方、ステップS1の判定において、低コントラスト被写体である場合には、選択信号VselをLレベルに設定する(ステップS3)。この場合には、差動増幅回路124の出力Voutは(式7)で示すものとなる。
以上説明したように、第3の実施形態によれば、被写体のコントラストに応じて選択信号Vselを設定することにより、被写体のコントラストに応じた基準出力に基づいて画素出力の差動増幅を行うことができる。
以上実施形態に基づいて本発明を説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形や応用が可能なことは勿論である。
さらに、上記した実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件の適当な組合せにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、上述したような課題を解決でき、上述したような効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成も発明として抽出され得る。
本発明の第1の実施形態に係る焦点検出装置が搭載されるカメラの、特に焦点検出に係る構成について示す図である。 AFセンサを構成する光電変換装置の構成を示す図である。 光電変換装置の動作を示すタイミングチャートである。 図4(a)は画素信号選択回路及び基準信号選択回路の詳細な構成を示す図であり、図4(b)は図3に示すタイミングチャートの読み出し期間以後を詳細に示すタイミングチャートである。 本発明の第2の実施形態における光電変換装置の構成を示す図である。 図6(a)は基準電圧補正回路の構成図を示す図であり、図6(b)は基準電圧補正回路の動作を示すタイミングチャートであり、図6(c)は基準電圧補正回路の動作説明図である。 本発明の第3の実施形態における選択信号Vselの設定例を示すフローチャートである。 従来の光電変換装置について示す図である。
符号の説明
1…フォーカスレンズ、2…メインミラー、3…ペンタプリズム、4…接眼レンズ、5…サブミラー、6…コンデンサレンズ、7…固定ミラー、8…瞳分割光学系、9…AFセンサ、10…焦点演算部、11…レンズ駆動信号生成部、12…モータドライバ、13…撮像素子、110…撮像部、111a,111b,111c…画素列、112a,112b,112c…メモリ列、113…画素出力回路、114a,114b,114c…モニタ画素、120…読み出し部、121…画素信号選択回路、122…基準信号選択回路、123…セレクト回路、124…差動増幅回路、130…蓄積制御部、131a,131b,131c…モニタ出力回路、132a,132b,132c…コンパレータ、133…タイミング生成回路、140…蓄積終了電圧生成部、141…基準電圧回路、142…基準電圧補正回路、150…制御部

Claims (6)

  1. 被写体からの光束を受光して電荷を蓄積する画素が配列される複数の画素列と、前記画素列に対応して設けられ前記各画素列に蓄積される平均の電荷をそれぞれ検出し、該検出した平均の電荷を示す信号を出力する複数のモニタ画素と、前記画素列に対応して設けられ前記各画素列に蓄積された電荷をそれぞれ保持する複数のメモリ列と、前記各メモリ列に保持された電荷を示す信号を出力する少なくとも1つの画素出力回路と、を有する撮像部と、
    前記画素出力回路の出力における前記電荷を示す信号と、前記画素出力回路の出力における基準出力を示す信号又は前記各モニタ画素の出力と比較され、前記各画素列における電荷の蓄積時間を決めるための基準電圧である蓄積終了電圧に相当する信号との間での差動増幅を行う読み出し部と、
    を具備することを特徴とする光電変換装置。
  2. 被写体からの光束を受光して電荷を蓄積する画素が配列される複数の画素列と、前記画素列に対応して設けられ前記各画素列に蓄積される平均の電荷を検出し、該検出した平均の電荷を示す信号を出力する複数のモニタ画素と、前記画素列に対応して設けられ前記各画素列に蓄積された電荷をそれぞれ保持する複数のメモリ列と、前記各メモリ列に保持された電荷を示す信号を出力する少なくとも1つの画素出力回路と、を有する撮像部と、
    前記各画素列における電荷の蓄積時間を決めるための基準電圧である蓄積終了電圧を生成する蓄積終了電圧生成部と、
    前記各モニタ画素の出力と前記蓄積終了電圧生成部の出力とをそれぞれ比較し、前記各モニタ画素の出力が前記蓄積終了電圧に到達した時点で対応する画素列における電荷の蓄積を終了させる蓄積制御部と、
    全ての前記画素列における電荷の蓄積が終了した時点で前記画素出力回路から信号を出力させる制御部と、
    前記画素出力回路の出力における前記電荷を示す信号を選択する画素信号選択回路と、前記画素出力回路から出力される信号のうちの基準出力に相当する信号を選択する基準信号選択回路と、前記基準信号選択回路の出力と前記蓄積終了電圧生成部の出力に相当する信号の何れかを選択して出力するセレクト回路と、前記画素出力回路から出力される前記電荷を示す信号と前記セレクト回路から出力される信号との間の差動増幅を行う差動増幅回路と、を有する読み出し部と、
    を具備することを特徴とする光電変換装置。
  3. 前記複数の画素列はそれぞれ一部の画素が遮光されており、
    前記画素出力回路から出力される信号のうちの前記基準出力に相当する信号は、前記画素出力回路から出力される信号におけるリセットレベルの信号又は前記遮光された画素で蓄積された電荷に相当する信号であることを特徴とする請求項1又は2に記載の光電変換装置。
  4. 前記画素信号選択回路及び前記基準信号選択回路は、サンプルホールド回路から構成されることを特徴とする請求項2に記載の光電変換装置。
  5. 前記蓄積終了電圧生成部は、生成した蓄積終了電圧に対して、サンプルホールド、増幅、及びレベルシフトの少なくとも何れかを行うことにより前記蓄積終了電圧を補正する基準電圧補正回路を含むことを特徴とする請求項2に記載の光電変換装置。
  6. 請求項2乃至5の何れか1つに記載の光電変換装置を備える焦点検出装置において、
    前記セレクト回路は、前記被写体が低コントラストのときに、前記蓄積終了電圧生成部の出力を選択することを特徴とする焦点検出装置。
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