JP2008116342A - エンコーダ - Google Patents

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Abstract

【課題】エンコーダの小型化及び低コスト化を図る。
【解決手段】第1インデックススケール20で生成された+1次回折光及び−1次回折光を、相互に逆位相の変調信号V(t)、及び変調信号V’(t)に基づいて、それぞれの光路上に配置された電気光学素子16A,16Bによって周期的に偏向する。そして、受光素子26へ干渉光が入射することによって得られる光電変換信号I(t)に基づいて移動体の位置情報を検出する。これにより、+1次回折光と−1次回折光とを、機械的に変調するスキャン機構を用いることなく変調することが可能となるため、装置の小型化を図ることが可能となる。また、電気光学素子16A,16Bそれぞれは単体で回折光を偏向することが可能であるため、スキャン機構の構造を単純化することができ、装置の低コスト化を図ることが可能となる。
【選択図】図1

Description

本発明は、エンコーダに係り、さらに詳しくは、移動体の位置情報を光学的に検出するエンコーダに関する。
近年、スキャン方式のエンコーダとして、移動体とともに移動し、かつ移動方向に沿って周期的に形成された格子を有するスケールに、所定の変調信号に基づいて変調された照明光を照射して、その反射光又は透過と、変調信号とを比較することで、スケールの位置情報を検出するエンコーダが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
この種のスキャン方式のエンコーダでは、照明光を周期的に変調する必要があるため、例えば、照明光の光路中にピエゾ素子などによって振動される偏向ミラーなどが配置されている。しかしながら、機械的にミラーを駆動する方式のスキャナは、大きな設置スペースが必要となるため、装置が大型化するという不都合がある。また、駆動機構が複雑になるため装置の高コスト化を招くという不都合もある。
米国特許第6,639,696号明細書
本発明は、第1の観点からすると、変調信号に基づいて変調された照明光の干渉を利用して、移動体の位置情報を検出するエンコーダであって、前記照明光を、回折して第1回折光と第2回折光を生成する回折部材と;前記移動体に固定され、前記移動体の移動方向に配列されたパターンを有するスケールと;前記第1回折光の光路上に配置され、前記第1回折光を前記変調信号に基づいて、前記パターンの配列方向へ周期的に偏向する第1電気光学素子と;前記変調信号の位相をシフトする位相シフト回路と;前記第2回折光の光路上に配置され、前記第2回折光を前記位相シフト回路により位相がシフトされた前記変調信号に基づいて、前記パターンの配列方向へ周期的に偏向する第2電気光学素子と;を備えるエンコーダである。
これによれば、照明光が回折部材を経由することで生成された第1回折光と第2回折光とは、変調信号、及び位相がシフトされた変調信号に基づいて第1、第2電気光学素子が駆動されることにより、機械的に変調するスキャン機構を用いることなく、スケールに形成されたパターンの配列方向へ周期的に偏向される。そして、第1回折光と第2回折光との干渉を利用して、移動体の位置情報が検出される。
したがって、第1回折光と第2回折光とを機械的に変調するスキャン機構を用いる必要がなくなるため、装置の小型化を図ることが可能となる。また、第1回折光と第2回折光とを変調する光学素子は単体で回折光を偏向することが可能であるため、スキャン機構の構造を簡略化することができ、装置の低コスト化を図ることが可能となる。また、位相シフト回路により、第2光学素子の変調信号の位相をシフトすることで、エンコーダの変調度を任意に調整することが可能となる。
本発明は、第2の観点からすると、変調信号に基づいて変調された照明光の干渉を利用して、移動体の位置情報を検出するエンコーダであって、前記変調信号に基づいて前記照明光に含まれるS偏光成分又はP偏光成分を周期的に偏向する電気光学素子と;前記電気光学素子を透過した前記照明光の前記S偏光成分と前記P偏光成分を分離する分離光学系と;前記移動体に固定され、前記移動体の移動方向に配列されたパターンを有するすスケールと;前記照明光の前記S偏光成分と前記P偏光成分とを前記スケールに照射して、前記パターンの配列方向に振動する干渉光を生成する導光光学系と;を備えるエンコーダである。
これによれば、光源から射出された照明光のS偏光成分又はP偏光成分は、機械的に変調するスキャン機構を用いることなく、電気光学素子により周期的に偏向され、導光光学系によって照明光がスケールに照射されることによるS偏光成分とP偏光成分との干渉を利用して、移動体の位置情報が検出される。
したがって、照明光を機械的に変調するスキャン機構を用いる必要がなくなるため、装置の小型化を図ることが可能となる。また、光学素子は単体で回折光を偏向することが可能であるため、スキャン機構の構造を簡略化することができ、装置の低コスト化を図ることが可能となる。
《第1の実施形態》
以下、本発明の第1の実施形態を図1に基づいて説明する。図1には、本発明の第1の実施形態に係るエンコーダ10の概略的な構成が示されている。図1に示されるように、エンコーダ10は、いわゆる回折干渉方式のエンコーダであり、所定方向(X軸方向)に移動する移動体の移動方向、あるいは移動量、あるいは変位を検出するリニアエンコーダである。
このエンコーダ10は、図1に示されるように、光源12、コリメータレンズ18、第1インデックススケール20、第2インデックススケール22、2つの電気光学素子16A,16B、移動スケール24、受光素子26、変調信号生成回路31、及び位相シフト回路32などを備えている。
光源12は、コヒーレントな光、例えば波長λ(=850nm)の照明光を図1における下方(−Z方向)へ射出する。
コリメータレンズ18は、光源12の下方に配置され、光源12から射出された照明光を平行光に成形する。
第1インデックススケール20は、コリメータレンズ18の下方に配置されている。この第1インデックススケール20は、X軸方向を周期方向とする回折格子が形成された透過型の位相格子であり、コリメータレンズ18を透過した照明光が入射すると、複数の回折光を発生させる。図1では、それらの回折光のうち、第1インデックススケール20で発生した±1次回折光(図1において、+X側に出射している回折光を+1次回折光とし、−X側に出射している回折光を−1次回折光とする)が示されている。
電気光学素子16A,16Bそれぞれは、例えば、EOM(Electro-Optic Modulator)などの光学的な変調素子からなり、第1インデックススケール20からの+1次回折光及び−1次回折光の光路上にそれぞれ配置されている。
第2インデックススケール22は、電気光学素子16A,16Bの下方に配置されている。この第2インデックススケール22は、例えば第1インデックススケール20と同様に、X軸方向を周期方向とする回折格子が形成された透過型の位相格子であり、第1インデックススケール20で生成され、電気光学素子16A,16Bを経由した+1次回折光及び−1次回折光を回折し、これらの±1次回折光を移動スケール24上に少なくとも一部が重なりあった状態で入射させる。
移動スケール24は、第2インデックススケール22の下方にX軸方向に移動可能に配置されている。この移動スケール24は、X軸方向を周期方向とする回折格子が形成された透過型の位相格子であり、入射した±1次回折光を回折し相互に干渉した状態で受光素子26へ入射させる。
受光素子26は、移動スケール24の下方に配置されている。この受光素子26は、移動スケール24を経由した±1次回折光(以下、干渉光ともいう)が入射すると、干渉光の干渉強度に応じた光電変換信号I(t)を出力する。
変調信号生成回路31は、次式(1)で示される変調信号V(t)を生成し、位相シフト回路32及び電気光学素子16Bへ出力する。なお、rは係数であり、ωは角周波数であり、tは時間である。
V(t)=r・sin(ωt)…(1)
位相シフト回路32は、変調信号V(t)の位相を、例えばθだけシフトして次式(2)で示される変調信号V’(t)を生成し、電気光学素子16Aへ出力する。なお、ここでは、位相シフト回路32は、変調信号V(t)の位相をπ(=θ)だけシフトし、変調信号V(t)とは逆位相の変調信号V’(t)を生成するものとする。
V’(t)=r・sin(ωt−θ)…(2)
上述のように、電気光学素子16A,16Bに、それぞれ変調信号生成回路31で生成された変調信号V(t)、及び位相シフト回路32で生成された変調信号V’(t)が供給されることで、第1インデックススケールで生成された+1次回折光、及び−1次回折光それぞれは、電気光学素子16A,16Bにより、相互に逆位相で、X軸方向に周期的に偏向(変調)される。そして、電気光学素子16A,16Bにより変調された+1次回折光及び−1次回折光は、第2インデックススケール22を介して、相互に干渉した状態で移動スケール24へ入射する。
移動スケール24へ入射する±1次回折光は、それぞれ逆位相となるように変調されているため、移動スケール24上では、これらの±1次回折光の干渉によって形成される干渉縞は、変調信号V(t),V’(t)の角周波数ωに比例してX軸に沿って移動する。この結果、受光素子26で干渉光を受光することにより得られる光電変換信号I(t)は、移動スケール24の位置情報を変調信号V(t)で変調したものとなり、次式(3)で示される。なお、Xは初期オフセット量であり、xは第1インデックススケール20に対する移動スケール24の位相である。
I(t)=X+A・cos[rω・sin(ωt)+ωx] …(3)
したがって、光電変換信号I(t)に対して、例えば、不図示の受光回路を用いて、米国特許第6,639,696号明細書に記載の処理を行うことで、移動スケール24の位置情報及び移動情報を算出することができ、これをエンコーダ10の出力信号とすることができる。
以上説明したように、本第1の実施形態に係るエンコーダ10では、第1インデックススケール20で生成された+1次回折光及び−1次回折光は、相互に逆位相の変調信号V(t)、及び変調信号V’(t)に基づいて、それぞれの光路上に配置された電気光学素子16A,16Bによって周期的に偏向されることにより変調される。そして、受光素子26へ干渉光が入射することによって得られる光電変換信号I(t)に基づいて移動体の位置情報が検出される。したがって、+1次回折光と−1次回折光とを、機械的に変調するスキャン機構を用いることなく変調することが可能となるため、装置の小型化を図ることが可能となる。また、電気光学素子16A,16Bそれぞれは単体で回折光を偏向することが可能であるため、スキャン機構の構造を単純化することができ、装置の低コスト化を図ることが可能となる。
また、+1次回折光と−1次回折光とは、相互に逆位相となるように変調されるため、+1次回折光及び−1次回折光のうちのいずれか一方を変調する場合に比べて変調度を大きくすることが可能となる。
また、本第1の実施形態に係るエンコーダ10では、変調信号V(t)の位相を位相シフト回路32を介してπだけシフトしているが、シフト量θはπには限られない。要は、変調信号V(t)と変調信号V’(t)に位相差があればよく、例えば、シフト量θを適宜変更することで、変調度の調整も可能となる。
また、本第1の実施形態に係るエンコーダ10では、位相シフト回路32を用いて、変調信号V(t)の位相をシフトしているが、シフト量θをπとして、変調信号V(t)と逆位相の変調信号を生成する場合には、位相シフト回路32に代えて、変調信号V(t)の位相を反転する反転回路などを用いることとしてもよい。
《第2の実施形態》
次に、本発明の第2の実施形態について図2に基づいて説明する。図2には、第2の実施形態に係るエンコーダ10’の概略的な構成が示されている。このエンコーダ10’は、1つの電気光学素子16を用いて変調した照明光を、偏光ビームスプリッタ21でS偏光成分とP偏光成分とに分離し、このS偏光成分とP偏光成分との干渉を利用して、移動スケール24の位置情報を検出する点で、第1の実施形態に係るエンコーダ10と相違している。したがって、重複記載を回避する観点から、以下の記載では第1の実施形態と同一又は同等の構成部分には、同一の符号を用いるとともに、その説明を簡略又は省略するものとする。
エンコーダ10’は、図2に示されるように、光源12、電気光学素子16、偏光ビームスプリッタ21、λ/2板23、インデックススケール22、移動スケール24、受光素子26、及び変調信号生成回路31などを備えている。
光源12は、均一な偏光特性を持った照明光(例えば円偏光)を、図2に示されるようにX軸に対して−45度の方向へ射出する。
電気光学素子16は、光源12から射出された照明光の光路上に配置されている。この電気光学素子16は、印加される電界の方向と、電界の影響を受ける照明光の偏光成分に依存性のあるEOMからなり、変調信号生成回路31によって変調信号V(t)が印加されることで、主として照明光のS偏光成分LのみがY軸方向(図2における矢印aに示される方向)に周期的に偏向されるように調整されている。なお、EOMの依存性により、P偏光成分LがX軸方向(図2における矢印aに示される方向)へ偏向されることもあるが、ここでは、S偏光成分Lの偏向振幅は、P偏光成分Lの偏向振幅に比べて十分大きいものとする。
偏光ビームスプリッタ21は、電気光学素子16を経由した照明光の光路上に配置され、入射する照明光のうちのP偏光成分Lを透過して、S偏光成分Lを分岐する。
λ/2板23は、照明光のS偏光成分Lの光路上に配置され、偏光ビームスプリッタ21で分岐されたS偏光成分Lの偏向方向をX軸方向に変換する。
上記のように構成されたエンコーダ10’では、電気光学素子16によって変調された照明光のS偏光成分LとP偏光成分Lとが偏光ビームスプリッタ21で分離され、それぞれインデックススケール22の上面へ入射角45度で入射する。そして、P偏光成分LとS偏光成分Lは、インデックススケール22で回折され、S偏光成分Lの1次回折光とP偏光成分Lの−1次回折光は、移動スケール24上へ少なくとも一部が重なりあった状態で入射し、移動スケール24を介して受光素子26へ相互に干渉しつつ入射する。
移動スケール24へ入射するS偏光成分LとP偏光成分Lそれぞれの偏向方向はX軸方向に揃えられ、S偏光成分Lの偏向振幅がP偏光成分Lの偏向振幅よりも大きくなっている。したがって、受光素子26へ入射するS偏光成分LとP偏光成分Lとの干渉により形成される干渉縞は、変調信号V(t)の角周波数ωに比例してX軸に沿って移動する。この結果、受光素子26でS偏光成分LとP偏光成分Lとの干渉光を受光することにより得られる光電変換信号I(t)は、移動スケール24の位置情報を変調信号V(t)で変調したものとなる。したがって、この光電変換信号I(t)に対して、例えば、不図示の受光回路などを用いて、米国特許第6,639,696号明細書に記載の処理を行うことで、移動スケール24の位置情報及び移動情報を算出することができ、これをエンコーダ10’の出力信号とすることができる
以上説明したように、本第2の実施形態に係るエンコーダ10’では、光源12から射出された照明光は、電気光学素子16を透過することで、そのS偏光成分Lが変調信号V(t)に基づいてY軸方向に周期的に偏向され、偏光ビームスプリッタ21へ入射することで、S偏光成分LとP偏光成分Lとに分離される。そして、受光素子26へ照明光のS偏光成分LとP偏光成分Lとが干渉しつつ入射することで得られる光電変換信号I(t)に基づいて、移動体の位置情報が検出される。したがって、照明光を、機械的に変調するスキャン機構を用いることなく変調することが可能となるため、装置の小型化を図ることが可能となる。また、電気光学素子16は単体で回折光を偏向することが可能であるため、スキャン機構の構造を単純化することができ、装置の低コスト化を図ることが可能となる。また、第1の実施形態に係るエンコーダ10と異なり、照明光の変調に用いる電気光学素子は1つでよいため、更なる装置の小型化、及び低コスト化を実現することが可能となる。
なお、本第2の実施形態に係るエンコーダ10’では、S偏光成分LをY軸方向へ周期的に偏向したが、これに限らず、例えばP偏光成分LをX軸方向へ周期的に偏向してもよい。要は、照明光のS偏光成分L及びP偏光成分Lのうちのいずれか一方の偏向振幅が、他方の偏向振幅よりも大きくなるようにX軸に沿って周期的に偏向された状態で、移動スケール24へ入射する構成であればよい。
また、本第2の実施形態に係るエンコーダ10’では、光源12から射出される照明光が円偏光である場合について説明したが、これに限らず、照明光は、偏光ビームスプリッタ21の反射面に対して、振動方向が45度の角度をなす直線偏光や楕円偏光であってもよい。これにより、偏光ビームスプリッタ21から射出されるS偏光成分LとP偏光成分Lが等しい割合となる。また、S偏光成分LとP偏光成分Lは厳密に等しい割合である必要はなく、S偏光成分LとP偏光成分Lとが干渉することによって干渉縞が観測できる程度の割合であればよい。
なお、上記各実施形態では、移動スケール24上へ照明光を入射させる際に、インデックススケール22を用いたが、これに限らず、インデックススケール22の代わりに、反射ミラーなどを用いてもよい。
また、上記各実施形態では、照明光をEOMからなる電気光学素子を用いて変調したが、これに限らず、電気光学素子に代えて、若しくは電気光学素子とともに、例えば、AOM(Acousto-Optic Modulator)などからなる音響光学素子を用いてもよい。
また、上記各実施形態では、移動スケール24が移動する場合について説明したが、これに限らず、移動スケール24以外の部分が移動する場合についても本発明を採用することができる。要は、移動スケール24と他の光学部材とが相対的に移動する構成であればよい。
また、上記各実施形態では、インデックススケール22と移動スケール24が位相格子を有する場合について説明したが、これに限らず、振幅型の回折格子(明暗型の回折格子)を採用してもよい。また、振幅型の回折格子と位相格子とを混在させるようにしてもよい。
また、上記各実施形態では、±1次回折光を計測光として用いたが、本発明はこれには限られない。さらに高次の回折光の干渉光を計測光として用いてもよいし、0次とn次(又は−n次)、+n次と+(m+n)次というように異なる次数の回折光同士の干渉光を計測光として用いてもよい。
また、上記各実施形態に係るエンコーダ10,10’は、移動体の一軸方向の位置情報を検出するリニアエンコーダであったが、回転体の回転量を検出するロータリーエンコーダにも本発明を適用することができる。
以上説明したように、本発明のエンコーダは、移動体の位置情報を光学的に検出するのに適している。
本発明の第1の実施形態に係るエンコーダの構成を概略的に示す図である。 本発明の第2の実施形態に係るエンコーダの構成を概略的に示す図である。
符号の説明
10,10’…エンコーダ、12…光源、16,16A,16B…電気光学素子、18…コリメータレンズ、20…第1インデックススケール、21…偏光ビームスプリッタ、22…第2インデックススケール、23…λ/2板、24…移動スケール、26…受光素子、31…変調信号生成回路、32…位相シフト回路。

Claims (6)

  1. 変調信号に基づいて変調された照明光の干渉を利用して、移動体の位置情報を検出するエンコーダであって、
    前記照明光を回折して、第1回折光と第2回折光を生成する回折部材と;
    前記移動体に固定され、前記移動体の移動方向に配列されたパターンを有するスケールと;
    前記第1回折光の光路上に配置され、前記第1回折光を前記変調信号に基づいて、前記パターンの配列方向へ周期的に偏向する第1電気光学素子と;
    前記変調信号の位相をシフトする位相シフト回路と;
    前記第2回折光の光路上に配置され、前記第2回折光を、前記位相シフト回路により位相がシフトされた前記変調信号に基づいて、前記パターンの配列方向へ周期的に偏向する第2電気光学素子と;を備えるエンコーダ。
  2. 前記位相シフト回路は、前記変調信号の位相をほぼ180度反転させることを特徴とする請求項1に記載のエンコーダ。
  3. 変調信号に基づいて変調された照明光の干渉を利用して、移動体の位置情報を検出するエンコーダであって、
    前記変調信号に基づいて前記照明光に含まれるS偏光成分又はP偏光成分を周期的に偏向する電気光学素子と;
    前記電気光学素子を透過した前記照明光の前記S偏光成分と前記P偏光成分を分離する分離光学系と;
    前記移動体に固定され、前記移動体の移動方向に配列されたパターンを有するすスケールと;
    前記照明光の前記S偏光成分と前記P偏光成分とを前記スケールに照射して、前記パターンの配列方向に振動する干渉光を生成する導光光学系と;を備えるエンコーダ。
  4. 前記導光光学系は、S偏光成分又は前記P偏光成分の偏向方向を変えて、前記S偏光成分と前記P偏光成分の偏向方向を揃える位相板を備えることを特徴とする請求項3に記載のエンコーダ。
  5. 前記照明光は円偏光であることを特徴とする請求項3又は4に記載のエンコーダ。
  6. 前記照明光は、前記分離光学系に対して45度の角度を成す直線偏光又は楕円偏光であることを特徴とする請求項3又は4に記載のエンコーダ。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010078566A (ja) * 2008-09-29 2010-04-08 Canon Inc 変位計測装置
JP2012127939A (ja) * 2010-12-16 2012-07-05 Dr Johannes Heidenhain Gmbh 光学式位置測定装置
US8529823B2 (en) 2009-09-29 2013-09-10 Asml Netherlands B.V. Imprint lithography
JP2016507050A (ja) * 2013-01-15 2016-03-07 レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company 周期的偏光ナノ構造によって表されるデータを読み取る方法
US9945697B2 (en) 2013-01-15 2018-04-17 Renishaw Plc Measurement scale with periodic nanostructure
TWI710795B (zh) * 2019-12-04 2020-11-21 國立中興大學 光學旋轉編碼器

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06194189A (ja) * 1992-12-24 1994-07-15 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光エンコーダ
JPH0815435A (ja) * 1994-06-27 1996-01-19 Canon Inc 変位情報測定装置
JP2006170899A (ja) * 2004-12-17 2006-06-29 Sendai Nikon:Kk 光電式エンコーダ
JP2006170696A (ja) * 2004-12-14 2006-06-29 Sendai Nikon:Kk 光電式エンコーダ

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06194189A (ja) * 1992-12-24 1994-07-15 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光エンコーダ
JPH0815435A (ja) * 1994-06-27 1996-01-19 Canon Inc 変位情報測定装置
JP2006170696A (ja) * 2004-12-14 2006-06-29 Sendai Nikon:Kk 光電式エンコーダ
JP2006170899A (ja) * 2004-12-17 2006-06-29 Sendai Nikon:Kk 光電式エンコーダ

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010078566A (ja) * 2008-09-29 2010-04-08 Canon Inc 変位計測装置
US8529823B2 (en) 2009-09-29 2013-09-10 Asml Netherlands B.V. Imprint lithography
JP2012127939A (ja) * 2010-12-16 2012-07-05 Dr Johannes Heidenhain Gmbh 光学式位置測定装置
JP2016507050A (ja) * 2013-01-15 2016-03-07 レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company 周期的偏光ナノ構造によって表されるデータを読み取る方法
US9945697B2 (en) 2013-01-15 2018-04-17 Renishaw Plc Measurement scale with periodic nanostructure
TWI710795B (zh) * 2019-12-04 2020-11-21 國立中興大學 光學旋轉編碼器
US11448529B2 (en) 2019-12-04 2022-09-20 National Chung-Hsing University Optical rotary encoder

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