JP2008098445A - 受光回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】利得制御回路を付加することなく、入射光パワーのダイナミックレンジの広い特性を得ることができる受光回路を実現する。
【解決手段】本発明の受光回路は、外部から入射される入射光を電気信号に変換する光電変換素子11と、第1の入力に電気信号が供給され、第2の入力に参照信号が供給され、電気信号と参照信号の電位差が増幅される差動増幅器12を有し、差動増幅器12は、入力段において、ゲート端子に光電変換素子11からの電気信号が入力され、バックゲートがGNDに接続されているNMOS14と、ゲート端子(G)に参照信号が入力され、ソース端子(S)がNMOS14のソース端子とともに定電流源17を介してGNDに接続されているNMOS15と、NMOS15のバックゲート(B)とGNDとの間に接続され、入射光の一部が入射される光電変換素子18を有する。
【選択図】図1

Description

本発明は、光電変換素子を用いた受光回路に関する。
従来の受光回路は、入射光を電気信号に変換する光電変換素子、電気信号を増幅する差動増幅器、および利得制御回路を備えていた。利得制御回路は、差動増幅器の出力を受けて入射光の光電力に応じた制御信号を生成し、これを差動増幅器にフィードバックすることにより差動増幅器の利得を調整する。
このように、従来の受光回路では、ダイナミックレンジを広げるために、受光回路から出力された電気信号の振幅を読み取り、差動増幅器の利得を落とすなどの新たな利得制御回路が必要であった(例えば、特許文献1を参照。)。このため、従来の受光回路では、広いダイナミックレンジを持った受光回路の小型化には限界があった。
特開2003−264506号公報
本発明は、利得制御回路を付加することなく、入射光パワーのダイナミックレンジの広い特性を得ることができる受光回路を提供する。
本発明の一態様によれば、外部から入射される入射光を電気信号に変換する第1の光電変換素子と、第1の入力に前記第1の光電変換素子からの前記電気信号が供給され、第2の入力に比較の基準となる参照信号が供給され、前記電気信号と前記参照信号の電位差が増幅される差動増幅手段を有し、前記差動増幅手段は、ゲート端子に前記第1の光電変換素子からの前記電気信号が入力され、バックゲートが基準電位に接続されている第1のトランジスタと、ゲート端子に前記参照信号が入力され、ソース端子が前記第1のトランジスタのソース端子に接続されている第2のトランジスタと、前記第2のトランジスタのバックゲートに接続され、前記入射光の一部が入射される第2の光電変換素子と、を有することを特徴とする受光回路が提供される。
本発明の別の一態様によれば、外部から入射される入射光を電気信号に変換する第1の光電変換素子と、ゲート端子に前記第1の光電変換素子からの前記電気信号が入力され、ドレイン端子が負荷を介して第1の基準電位に接続され、バックゲートが第2の基準電位に接続された第1のMOSトランジスタと、ドレイン端子が前記第1の基準電位に接続され、ソース端子が前記第1のMOSトランジスタのソース端子に接続された第2のMOSトランジスタと、前記第1のMOSトランジスタのゲート端子に接続された第1のゲートバイアス手段と、前記第2のMOSトランジスタのゲート端子に接続された第2のゲートバイアス手段と、前記第2のMOSトランジスタのバックゲートに接続され、前記入射光の一部が入射される第2の光電変換素子と、を有することを特徴とする受光回路が提供される。
本発明によれば、利得制御回路を用いずに、広いダイナミックレンジを有する受光回路を実現することができる。
以下、図面を参照しながら、本発明の実施例を説明する。
図1は、本発明の実施例に係わる受光回路を示す回路図である。
本発明の実施例に係わる受光回路は、入射光を電気信号に変換する光電変換素子11、光電変換素子11からの電気信号を増幅する差動増幅器12、および差動増幅器12の入力をバイアスする2つのゲートバイアス回路13a、13bを備えている。
光電変換素子11は、入射光を電気信号に変換するpn接合からなり、差動増幅器12の第1の入力と電源電位(以下、「Vcc」という。)との間に逆バイアスされるように接続されている。
ゲートバイアス回路13aは、所定の出力抵抗値を持ち、差動増幅器12の第1の入力に接続されている。
ゲートバイアス回路13bは、所定の出力抵抗値を持ち、差動増幅器12の第2の入力に接続されている。
差動増幅器12は、第1の入力に入力される光電変換素子11からの電気信号と第2の入力に入力される参照信号との電位差を増幅し出力する。ここでは、参照信号としてゲートバイアス回路13bの出力電圧が直接入力されている。
差動増幅器12は、図1に示したように、一対のn型MOSトランジスタ14および15(以下、「NMOS14および15」という。)、NMOS14の負荷回路16、NMOS14および15のソースに共通に接続された定電流源17、およびNMOS15のバックゲートに接続された光電変換素子18を備えている。
NMOS14のドレイン端子には負荷回路16の一端が接続され、負荷回路16の他端はVccに接続され、NMOS14のゲート端子は差動増幅器12の第1の入力として光電変換素子の一端およびゲートバイアス回路13aに接続され、NMOS14のソース端子には定電流源17の一端が接続され、定電流源17の他端は接地電位(以下、「GND」という。)に接続され、NMOS14のバックゲートはGNDに接続されている。
NMOS15のドレイン端子(D)はVccに接続され、NMOS15のゲート端子(G)は差動増幅器12の第2の入力としてゲートバイアス回路13bに接続され、NMOS15のソース端子(S)はNMOS14のソース端子および定電流源17の一端に接続され、NMOS15のバックゲート(B)には光電変換素子18の一端が接続され、光電変換素子18の他端はGNDに接続されている。
光電変換素子18は、入射光の一部を受光できるようにレイアウトされ、入射光の一部を受光した時に、NMOS15のバックゲートの電位をNMOS14のバックゲートの電位よりも高くするように順バイアスされている。
すなわち、光が入射した場合、NMOS15はバックゲート効果により利得が上昇し、NMOS14の利得はNMOS15の利得よりも低減し、負荷回路16に発生する出力信号は減少する。この動作によって入射光のダイナミックレンジを広げることができる。
図2は、本発明の実施例に係わる受光回路におけるNMOS15および光電変換素子18の構造を示す断面図である。
本発明の実施例に係わる受光回路におけるNMOS15は、図2に示したように、n型の基板21(サブストレート)の主面表面近傍に形成されたp型のウェル22中に形成されている。また、本発明の実施例に係わる受光回路における光電変換素子18は、NMOS15のバックゲートを形成するウェル22と基板21との間のpn接合によって形成されている。
基板21は、表面近傍に形成された高濃度のn型領域(サブストレート電極23)を介してGNDに接続されている。
NMOS15は、ウェル22上にゲート酸化膜を介して形成されたGATE24と、GATE24を挟んでウェル22の表面近傍に対向して形成された2つのn型領域(ドレイン領域25およびソース領域26)とによって構成されている。
GATE24はNMOS15のゲート端子(G)としてゲートバイアス回路13bに電気的に接続され、ドレイン領域25はNMOS15のドレイン端子(D)としてVccに電気的に接続され、ソース領域26はNMOS15のソース端子(S)として定電流源17の一端に電気的に接続されている。
ウェル22は、他の素子、例えばNMOS14が形成されているウェルとは分離されており、NMOS15専用となっている。また、ウェル22と基板21との境界であるpn接合(光電変換素子18)が基板21表面と接する部分には、入射光を取り入れやすくするために、基板21上の遮光物(例えば、パッシベーション膜なと)が除去された開口部27が設けられている。
上記実施例によれば、入射光の一部を受けて、差動増幅器12のNMOS15のバックゲート(B)が順方向にバイアスされるので、特別な利得制御回路を用いずに広いダイナミックレンジを有する受光回路を実現することができる。
上述の実施例では、差動増幅器12は、説明を容易にするために一対のNMOS14および15で構成されるとしたが、本発明はこれに限られるものではなく、例えば、p型MOSトランジスタを用いた構成とすることもできる。また、入力段にMOSトランジスタが用いられていれば、一般の差動増幅器への適用も原理的に可能である。
さらに、上述の実施例では、光電変換素子11は、差動増幅器12の第1の入力とVccとの間に接続されるとしたが、本発明はこれに限られるものではなく、例えば、差動増幅器12の第1の入力とGNDとの間に逆バイアスされるように接続される構成にすることもできる。
さらに、上述の実施例では、負荷回路16はNMOS14のドレイン端子とVccとの間に接続されるとしたが、本発明はこれに限られるものではなく、例えば、NMOS15のドレイン側もしくはNMOS14とNMOS15の両方に接続されるよう構成することもできる。
本発明の実施例に係わる受光回路を示す回路図。 本発明の実施例に係わる受光回路におけるNMOS15および光電変換素子18の構造を示す断面図。
符号の説明
11、18 光電変換素子
12 差動増幅器
13a、13b ゲートバイアス回路
14、15 n型MOSトランジスタ(NMOS)
16 負荷回路
17 定電流源
21 基板
22 ウェル
23 サブストレート電極
24 GATE
25 ドレイン領域
26 ソース領域
27 開口部

Claims (5)

  1. 外部から入射される入射光を電気信号に変換する第1の光電変換素子と、
    第1の入力に前記第1の光電変換素子からの前記電気信号が供給され、第2の入力に比較の基準となる参照信号が供給され、前記電気信号と前記参照信号の電位差が増幅される差動増幅手段を有し、
    前記差動増幅手段は、
    ゲート端子に前記第1の光電変換素子からの前記電気信号が入力され、バックゲートが基準電位に接続されている第1のトランジスタと、
    ゲート端子に前記参照信号が入力され、ソース端子が前記第1のトランジスタのソース端子に接続されている第2のトランジスタと、
    前記第2のトランジスタのバックゲートに接続され、前記入射光の一部が入射される第2の光電変換素子と、
    を有することを特徴とする受光回路。
  2. 前記第2のトランジスタは、第1導電型の基板表面の近傍に形成された第2導電型のウェル中に形成されており、
    前記第2の光電変換素子は、前記ウェルと前記基準電位に接続されている前記基板との間のpn接合によって形成されていることを特徴とする請求項1に記載の受光回路。
  3. 外部から入射される入射光を電気信号に変換する第1の光電変換素子と、
    ゲート端子に前記第1の光電変換素子からの前記電気信号が入力され、ドレイン端子が負荷を介して第1の基準電位に接続され、バックゲートが第2の基準電位に接続された第1のMOSトランジスタと、
    ドレイン端子が前記第1の基準電位に接続され、ソース端子が前記第1のMOSトランジスタのソース端子に接続された第2のMOSトランジスタと、
    前記第1のMOSトランジスタのゲート端子に接続された第1のゲートバイアス手段と、
    前記第2のMOSトランジスタのゲート端子に接続された第2のゲートバイアス手段と、
    前記第2のMOSトランジスタのバックゲートに接続され、前記入射光の一部が入射される第2の光電変換素子と、
    を有することを特徴とする受光回路。
  4. 前記第2の光電変換素子は、前記第2のMOSトランジスタのバックゲートの電位が前記第1のMOSトランジスタのバックゲートの電位より高くなるように構成されている請求項3に記載の受光回路。
  5. 前記第2のMOSトランジスタは、第1導電型の基板表面の近傍に形成された第2導電型のウェル中に形成されており、
    前記第2の光電変換素子は、前記ウェルと前記第2の基準電位に接続されている前記基板との間のpn接合によって形成されていることを特徴とする請求項4に記載の受光回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US9166069B2 (en) 2012-01-27 2015-10-20 Kabushiki Kaisha Toshiba Light receiving circuit
CN112362547A (zh) * 2020-12-02 2021-02-12 山东东达机电有限责任公司 一种用于粉尘浓度检测的激光接收电路

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