JP2008098130A - 電気光学装置、電子機器および電気光学装置の製造方法 - Google Patents

電気光学装置、電子機器および電気光学装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008098130A
JP2008098130A JP2006307543A JP2006307543A JP2008098130A JP 2008098130 A JP2008098130 A JP 2008098130A JP 2006307543 A JP2006307543 A JP 2006307543A JP 2006307543 A JP2006307543 A JP 2006307543A JP 2008098130 A JP2008098130 A JP 2008098130A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
liquid repellent
electro
optical device
pixel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006307543A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4333728B2 (ja
Inventor
Shuichi Takei
周一 武井
Yuji Kayano
祐治 茅野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2006307543A priority Critical patent/JP4333728B2/ja
Priority to US11/846,090 priority patent/US7902750B2/en
Publication of JP2008098130A publication Critical patent/JP2008098130A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4333728B2 publication Critical patent/JP4333728B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/12Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating
    • H10K71/13Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing
    • H10K71/135Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing using ink-jet printing
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/122Pixel-defining structures or layers, e.g. banks
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/20Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning
    • H10K71/231Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning by etching of existing layers
    • H10K71/233Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning by etching of existing layers by photolithographic etching

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

【課題】発光層(有機半導体層)の上の電極の酸化を遅くするとともに、薄膜封止の場合の封止層の形成を容易とする。
【解決手段】複数の陽極11が形成された基板10と、基板10の上に形成された個別バンク70Aとを有する。個別バンク70Aには、複数の画素開口部50Aが設けられている。各画素開口部50Aは各陽極11に対応している。各画素開口部50Aの内部には、陽極11の上に、正孔注入層20、インターレイヤ21、発光層22が順に積層されている。発光層22の上に陰極30が形成されている。個別バンク70Aは、親液層12の上に撥液層13を積層して構成されている。撥液層13は互いに離間している複数の撥液部14から構成され、各撥液部14が各画素開口部50Aを画定している。
【選択図】図3

Description

本発明は、電気的な作用に応じて光学的な特性が変化する電気光学装置、電子機器および電気光学装置の製造方法に関する。
電気光学装置として有機EL(Electro luminescent)パネルがある。有機ELパネルでは、電気エネルギにより発光特性が変化する複数の発光素子として複数の有機EL素子が基板上に配列される。この有機ELパネルは光ヘッドや画像表示装置として用いられる。
図8〜図10は一般的な有機ELパネルCの一部の構造を示す図である。図8は平面図であり、有機ELパネルCのZ2−Z2’における断面図が図9、有機ELパネルCの部分Nの斜視断面図が図10である。有機ELパネルCは、複数の画素電極210が形成された基板200の上に親水性の第1層220と撥液性の第2層230を積層したものである。第1層220および第2層230には、複数の画素電極210にそれぞれ対応する複数の開口部Qが形成されている。各開口部Qは、当該開口部Qに対応する画素電極210の上に配置されている。
有機ELパネルCにおける発光素子の形成では、開口部Qに正孔注入層と発光層(有機半導体層)とを順次積層する。正孔注入層の材料溶液は水系であるのに対し、発光層の材料溶液は有機溶液である。このため、正孔注入層の材料溶液は第1層220の内周面に濡れ広がり、発光層の材料溶液は第2層230の内周面に濡れ広がる。そして、発光層上に電極を形成する。この電極は複数の発光素子に共通している。こうして形成された複数の発光素子は、封止層に覆われて封止される。なお、有機ELパネルCと同様の構造は、例えば特許文献1に開示されている。
特開2002−372921号公報(図10、図11)
ところで、撥液性の第2層230は、アクリルやポリイミド等の有機材料から形成される。したがって、第2層230は水分を呼び込み易い。例えば、有機ELパネルの製造工程において、第2層230の表面に水分が付き易い。一方、第2層230は、画素電極210のみならず、基板200上の画素電極210が形成されていない部分にも重なっている。つまり、発光層の上の電極の下面のうち広い領域が第2層230の表面に接触する。よって、有機ELパネルCには、発光層の上の電極が早く酸化し易いという問題がある。
また、第2層230には、発光層の上の電極に覆われていない部分がある。したがって、無機材料の成膜により封止層を形成する場合(薄膜封止の場合)には、封止層の一部が第2層230に接触することになる。この接触箇所では、第2層230に呼び込まれた水分により、無機材料の成膜が阻害される。例えば、第2層230の形成材料(例えばアクリル)が水和により変質して膨張し、脆い封止層が壊れてしまう。つまり、有機ELパネルCには、薄膜封止の場合の封止層の形成が困難になるという問題がある。
本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであり、有機半導体層の上の電極の酸化を遅くするとともに、薄膜封止の場合の封止層の形成を容易とすることができる電気光学装置、電子機器および電気光学装置の製造方法を提供することを解決課題とする。
本発明に係る電気光学装置は、複数の画素電極が形成された基板と、前記基板の上に形成され、前記複数の画素電極に各々対応する複数の画素開口部が設けられた個別バンクと、前記複数の画素開口部の各々内に形成され、電子又は正孔を注入する注入層と、前記複数の画素開口部の各々内であって前記注入層の上に形成された有機半導体層と、前記有機半導体層の上に形成された電極とを備え、前記個別バンクは、前記基板の上に形成された親液層と、前記親液層の上に形成された撥液層とを有し、前記複数の画素開口部の各々は、前記親液層および前記撥液層を貫通しており、前記撥液層は、前記親液層と比較して前記注入層を形成するための材料液に対する親和性が弱く、前記複数の画素開口部に各々対応する複数の撥液部から構成され、前記複数の撥液部は、互いに離間しており、前記複数の撥液部の各々は、当該撥液部に対応する前記画素開口部の周囲を囲んでいる、ことを特徴とする。
注入層は電子又は正孔を有機半導体層に注入する機能を有する。有機半導体層では電子と正孔との再結合が行われることになる。有機半導体層は、有機材料から形成され、電子又は正孔の注入量に応じた輝度で発光する機能を有する。電気光学装置としては有機EL素子を、有機半導体層としては有機EL素子の発光層を例示することができる。画素開口部の内周面には親液層が露出しており、親液層は撥液層と比較して注入層を形成するための材料液に対する親和性が強いので、材料液は画素開口部の内部に濡れ広がる。親液層は、例えば無機材料から形成される。ここでいう無機材料としては、ケイ素酸化物、ケイ素窒化物、およびケイ素酸化窒化物を例示することができる。一方、撥液層は、親液層と比較して材料液に対する親和性が弱くなければならないため、水分を呼び込み易い材料(例えばアクリルやポリイミド等の水分を呼び込み易い有機材料)から形成される。また、有機半導体層は有機材料から形成されるから、有機半導体層上の電極をプラズマエッチング法等のドライエッチでエッチングすることは困難である。したがって、有機半導体層上の電極は複数の画素開口部に共通して形成され、複数の画素開口部を覆うことになる。
この電気光学装置では、複数の画素開口部の各々の周囲をそれぞれ囲んでいる複数の撥液部が互いに離間しており、これら複数の撥液部のみから撥液層が構成されている。つまり、有機半導体層上の電極側から見ると、撥液部にも画素開口部にも重ならない領域において親液層が露出する。よって、有機半導体層上の電極の下面において、水分を呼び込み易い撥液層に接触する領域が狭くなる(水分を呼び込み難い親液層に接触する領域が広くなる)。以上より、この電気光学装置によれば、有機半導体層の上の電極の酸化を遅くするとともに、薄膜封止の場合の封止層の形成を容易とすることができる。
また、この電気光学装置によれば、撥液層を形成する有機材料の量を少なく抑えることができるから、長寿命化を達成することができる。
上記の電気光学装置では、画素開口部の形状は、全ての画素開口部に共通であってもよいし、そうでなくてもよい。後者の一例としては、理想的な画素開口(画素開口部の画素電極の領域)の形状が発光色毎に異なるフルカラーの表示装置が挙げられる。この表示装置では、画素開口部の形状を発光色毎に相違させることが好ましい。このことは、理想的な画素開口の形状が互いに異なる2以上の画素を有する電気光学装置にもあてはまる。よって、上記の電気光学装置において、前記複数の画素開口部には、互いに形状の異なる2以上の画素開口部が含まれている、ようにしてもよい。この態様によれば、全ての画素開口部の形状を統一する形態と比較して、1または複数の撥液部の内周の径が短くなるから、有機半導体層上の電極の下面において水分を呼び込み易い撥液層に接触する領域をより狭くすることができる。
ところで、仮に、画素開口部の内部に親液層が突出しているとすれば、注入層が親液層の上部にも形成されることになる。このため、注入層が低抵抗であれば、画素開口部の径方向にクロストークが発生し、当該画素の発光領域が、理想的な画素開口を超えて画素開口部の径まで広がってしまう。そこで、前記画素開口部を前記親液層及び撥液層に同一形状で形成することが好ましい。この場合には、親液層が画素開口部の内側に飛び出さず、親液層の内周面と撥液層の内周面とが面一となる。したがって、理想的な画素開口で画素を発光させることができ、発光領域の面積を規定することができる。この結果、電気光学装置を光ヘッドとして用いた場合には、印字の品質を向上させることができ、表示装置として用いた場合には表示画像の解像度を向上させることができる。また、親液層が画素開口部の内側に飛び出した形態と比較して、各撥液部の内周の径が短くなるから、有機半導体層上の電極の下面において水分を呼び込み易い撥液層に接触する領域をより狭くすることができる。
上記の電気光学装置や各種態様において、前記注入層と前記有機半導体層との間にインターレイヤを備える、ようにしてもよい。インターレイヤは、注入層から注入されるキャリヤ(正孔/電子)の有機半導体層への注入を促進する機能と、有機半導体層を突き抜けてくるキャリヤ(電子/正孔)をブロックする機能とを有する層であり、例えばTFBから形成され、その厚さは数nm〜数十nmである。この態様によれば、有機半導体層の輝度の向上や長寿命化を期待することができる。
本発明に係る電子機器は、上記の電気光学装置や各種態様の電気光学装置のうちいずれかを有する。したがって、上述した各種効果に起因した効果を奏する。
本発明に係る電気光学装置の製造方法は、複数の画素開口部を有する電気光学装置の製造方法であって、基板上の前記画素開口部に対応する領域に画素電極を形成するステップと、前記基板上に、前記画素電極を覆うように、親液層及び撥液性薄膜をこの順に積層するステップと、前記撥液性薄膜の表面の領域であって、前記画素開口部を囲む環状の領域にエネルギを照射することにより、前記基板の表面のうち前記環状の領域における親液性を、前記環状の領域を除いた領域における親液性より高めるステップAと、前記基板の表面のうち前記環状の領域に、液滴吐出法により環状の撥液層を形成するステップと、前記環状の領域に囲まれた領域に形成された前記撥液性薄膜及び前記親液層を除去するステップと、前記環状の領域に囲まれた領域に形成された凹部の底部に、液滴吐出法を用いて注入層及び有機半導体層をこの順に形成するステップと、前記有機半導体層上に陰極を形成するステップと、を有することを特徴とする。
このような製造方法によれば、ステップAの終了時において、基板の表面には、環状の親液性の領域と、撥液性薄膜による撥液性の領域とが分布する。これにより、環状の親液性領域に液滴吐出法により撥液層を形成する際には、吐出された液滴が環状の親液性の領域に濡れ広がるとともに、これと隣接する撥液性の領域には侵入しにくくなる。よって、容易に環状の領域に撥液層を形成することができる。また、撥液層の形成工程においては、撥液層の材料を含む液滴を環状の領域以外には吐出しないため、撥液層の材料の使用量を必要最小限に抑えることができる。そして、撥液層を側壁とする凹部にのみ注入層及び有機半導体層を形成し、その後陰極を積層させることにより、陰極の下面において、水分を呼び込み易い撥液層に接触する領域が狭くなる。よって、陰極の酸化を遅くすることができるとともに、薄膜封止の場合の封止層の形成を容易とすることができる。また、撥液層を形成する有機材料の量を少なく抑えることができるから、長寿命化を達成することができる。なお、本発明における「基板の表面」は、基板上に積層された構成要素の最表面を指す。また、「液滴吐出法」とは、有機半導体等の機能物質が溶解又は分散された機能液の液滴を吐出し、その後、吐出された機能液を乾燥させて溶媒を蒸発させ、機能物質の層を形成する手法である。液滴吐出法には、インクジェット法やディスペンサ塗布法などが含まれる。
上記電気光学装置の製造方法において、前記撥液性薄膜は単分子膜であり、前記ステップAは、前記単分子膜上のうち前記環状の領域を除いた領域にマスクを配置するステップと、前記基板の表面に紫外線を照射して、前記環状の領域に形成された前記単分子膜を除去するステップと、を含むことが好ましい。また、上記単分子膜は、カップリング剤を含むことが好ましい。カップリング剤は、紫外線を照射することによって分解される性質を有するので、全面形成された単分子膜に向けて紫外線を局所的に照射することによって所定パターンの単分子膜を形成することができる。このような方法によれば、ステップAの終了時において、環状の領域には親液層が露出し、その他の領域には撥液性の単分子膜が残る。このため、上記環状の領域に、液滴吐出法を用いて容易に撥液層を形成することができる。
上記電気光学装置の製造方法において、前記ステップAは、前記撥液性薄膜上のうち前記環状の領域を除いた領域にマスクを配置するステップと、前記基板の表面をプラズマ処理するステップと、を含むことが好ましい。このような方法によれば、ステップAの終了時において、撥液性薄膜の表面は、プラズマ処理がなされた環状の領域では親液層が増し、その他の領域は撥液性が保たれる。このため、上記環状の領域に、液滴吐出法を用いて容易に撥液層を形成することができる。
以下、添付の図面を参照しながら本発明に係る実施の形態を説明する。なお、図面においては、各部の寸法の比率は実際のものとは適宜に異ならせてある。
<第1の実施の形態>
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る電気光学装置の平面図である。本実施の形態に係る電気光学装置は、電子写真方式の画像形成装置において感光体ドラムなどの像担持体に潜像を形成する光ヘッド1Aである。図2は、図1に示す光ヘッド1AのZ1−Z1’における断面図である。図3は、図2に示す部分Mの斜視断面図である。但し、図2および図3においては、正孔注入層20、インターレイヤ21、発光層22、及び陰極30を除いてある。
光ヘッド1Aでは、基板10上に、複数の発光素子P1が千鳥状に2列に配列されている。発光素子P1は、正孔注入層20、インターレイヤ21および発光層22が形成される領域である画素開口部50Aを有する。例えば、画素開口部50Aの径は40μm、長手方向のピッチは84.5μmであり、2列の千鳥配列となっている。また、列間ピッチは84.5μmである。これにより、600dpiの解像度を実現可能である。なお、発光素子P1を4列で配置して1200dpi、あるいは8列で配置して2400dpiといったように高解像度としてもよい。
基板10には、必要に応じて配線、駆動用TFT(Thin Film Transistor)、層間絶縁膜などの駆動回路を形成しておく。基板10の上にはITO(Indium Tin Oxide)などの透明な陽極11が形成される。陽極11は、層間絶縁膜のコンタクトホールを通して駆動回路に接続され、画素電極として機能する(図示略)。
陽極11及び基板10の上に親液層(親液性絶縁膜)12が積層される。親液層12の材料としては、酸化ケイ素、窒化ケイ素、酸化窒化ケイ素などの無機材料が適している。親液層12には水系溶液が濡れ広がる性質がある。親液層12の膜厚は、正孔注入層20と略同一かそれ以上であり、具体的には、50nm〜200nmである。それ以上の膜厚では、1)成膜時間が長くなる、2)エッチング加工精度が悪化する、3)後で形成する発光層22の膜厚が画素内で均一になりにくくなるといった弊害がある。
親液層12上には撥液層(撥液性絶縁膜)13が積層され、親液層12の開口部と同一形状の開口部が形成されている。両開口部は繋がっており、親液層12および撥液層13は、発光素子P1と同数の画素開口部50Aを画定している。つまり、親液層12および撥液層13は、発光素子P1毎に画素開口部を画定する個別バンク70Aとして機能する。なお、親液層12の開口部と撥液層13の開口部とを同一形状にすることには、互いの開口が平面視で一致する場合だけでなく、製造誤差によって若干ずれる場合も含まれる。これらの開口は、陽極11の数だけ形成されている。
撥液層13は、陽極11と同数の撥液部14のみから構成されている。各撥液部14は、その形状が円筒状であり、撥液層13における各画素開口部50Aの周囲を囲む壁となっている。壁の厚さ(幅)は、全ての撥液部14に共通であり、具体的には、20μm以下である。したがって、これらの撥液部14は互いに離間している。
撥液層13は、撥液性の材料で構成され、例えば、感光性のアクリル、ポリイミドなどの有機材料からなる樹脂を採用することができる。撥液層13は、水系溶液をはじく一方、有機溶剤が塗れ広がる性質を有する。撥液層13の膜厚(高さ)は0.1μm〜2.5μmである。これより薄いと、例えばインクジェット法により着弾した液体が溢れて狙い膜厚に対する膜厚ばらつきの割合が大きくなり過ぎ、開口部の寸法精度を維持できなくなってしまい、これより厚いと、後で形成する発光層22の膜厚が均一になりにくいという弊害がある。
画素開口部50Aでは、陽極11の上に正孔注入層20が、正孔注入層20の上にインターレイヤ21が、インターレイヤ21の上に有機EL材料からなる発光層22が形成される。正孔注入層20の材料としては、例えば、導電性ポリマーの一種であるPEDOT−PSSを用いる。インターレイヤ21は、正孔注入層20から注入される正孔の発光層22への注入を促進する機能と、発光層22を突き抜けてくる電子をブロックする機能とを有する層であり、例えばTFB( poly(2,7-(9,9-di-n-octylfluorene)-alt-(1,4-phenylene-((4-sec-butylphenyl)imino)-1,4-phenylene)) )から形成される。
個別バンク70Aおよび発光層22の上には陰極30が形成される。発光素子P1は、陽極11、正孔注入層20、発光層22及び陰極30から構成される。陰極30は、全ての発光素子P1に共通する電極であり、例えばカルシウムから形成される。また、陰極30は、電子注入層および電子輸送層の一方または両方を含んでいてもよい。
光ヘッド1Aでは、図示を省略したが、発光素子P1を外気から保護するための封止がなされる。封止構造としては、各種のものを採用可能であるが、本実施の形態では、薄膜封止を採用している。なお、薄膜封止以外の封止構造としては、封止層の下側に気体が封入される缶封止や、気体が封入される空間が形成されないベタ封止を例示することができる。
図4に、光ヘッド1Aの製造工程を示す。まず、同図(A)に示すように基板10の上に陽極11を形成する。この工程では、ITO膜をパターニングすることにより、所定の領域に陽極11を形成する。
次に、同図(B)に示すように親液層12を成膜する。材料は酸化ケイ素、窒化ケイ素、酸化窒化ケイ素が適しているが、成膜/エッチングが容易な絶縁材料なら変更可能である。成膜は既知の方法で行えば良く、方法を限定するものではない。例えば、スピンコート、スプレーコート、ロールコート、ダイコート、ディップコート等の方法で材料を塗布する。親液層12の厚さは、50nm〜200nmが適している。それ以上の膜厚では、成膜時間が長くなる、エッチング加工精度が悪化する、後で形成する発光層22の膜厚が画素内で均一になりにくくなるという弊害がある。
次に、同図(C)に示すように親液層12の上に、感光性のアクリルやポリイミドなどの有機材料を用いて撥液層13を形成する。撥液層13の形成では、印刷法やリソグラフィ法等、任意の方法を選択できる。印刷法を使用する場合は、凹版、平版、凸版等任意の方法でバンク形状に有機材料を直接塗布する。リソグラフィ法を使用する場合は、感光性を有する有機材料で有機膜を形成し、この有機膜を露光によってパターニングする。撥液層13の厚さは0.1μm〜2.5μmである。
次に、同図(D)に示すように画素開口部50Aを形成する。この工程では、撥液層13をエッチングマスクにして親液層12をエッチングする。撥液層13は有機材料であってレジストとして作用可能である。したがってエッチング材料を選択することにより親液層12のみを選択的にエッチングすることができる。エッチングは溶液を用いないドライエッチと溶液を用いるウェットエッチのどちらでも良いが、アンダーカットが起きにくいのでドライエッチの方が望ましい。例えば、プラズマエッチング法によりエッチングすることが好ましい。このプロセスによって、撥液層13に形成した開口部と同一形状の開口を親液層12に形成できる。この後、酸素プラズマによる親液化処理とCF4プラズマによる撥液化処理を行ない、陽極11の表面には親液性を、撥液層13の表面には撥液性をもたせる。すなわち、親液層12及び陽極11の表面は、撥液層13と比較して、水系溶液に対する親和性が強くなる。
次に、同図(E)に示すように正孔注入材料溶液をインクジェット法によって画素開口部50Aに打ち込み、乾燥させることで正孔注入層20を形成する。正孔注入材料が特に水系溶媒を用いるPEDOT−PSSの場合、撥液層13にはじかれるため、正孔注入層20は画素開口部50Aの内側だけに形成される。また、画素開口部50Aの内側端面には親液層12が露出しているため、正孔注入材料溶液が画素開口部50A全体に濡れ広がりやすくなり、正孔注入層20の形成不良を低減することができる。
その後、発光材料溶液等の有機溶液をインクジェット法に拠って画素開口部50Aに打ち込み、乾燥させる、という作業を繰り返すことで、インターレイヤ21および発光層22を順次形成する。この過程において、インターレイヤ21および発光層22を形成する各有機溶液は、撥液層13の表面でもある程度濡れ広がる。その後、Ca/Alなどを蒸着して陰極30とする(同図(F)参照)。さらに、薄膜封止を行う。具体的には、酸化ケイ素、窒化ケイ素、酸化窒化ケイ素などの無機材料を蒸着し、全ての発光素子P1を覆う封止層(図示せず)を形成する。
以上説明したように、この実施の形態では、複数の画素開口部50Aの各々の周囲をそれぞれ囲んでいる複数の撥液部14が互いに離間しており、これら複数の撥液部14のみから撥液層13が構成されている。つまり、陰極30側から見ると、撥液部14にも画素開口部50Aにも重ならない領域において親液層12が露出する。よって、陰極30の下面において、水分を呼び込み易い撥液層13に接触する領域が狭くなる(水分を呼び込み難い親液層12に接触する領域が広くなる)。以上より、光ヘッド1Aによれば、陰極30の酸化を遅くすることができる。
また、この実施の形態では、封止層の下面において、水分を呼び込み易い撥液層13に接触する領域が狭くなる(水分を呼び込み難い親液層12に接触する領域が広くなる)。具体的には、図4(F)から明らかなように、無機材料から形成される封止層は有機材料から形成される撥液層13に接触しない。したがって、封止層の成膜が阻害されることはない。よって、光ヘッド1Aによれば、薄膜封止を採用しながらも、封止層(薄膜)を容易に形成することができる。また、この実施の形態では、撥液層13を形成する有機材料の量が少なく抑えられる。つまり、封止された領域における水分量が少なく抑えられる。よって、光ヘッド1Aは長寿命となる。
図5は、上述した実施の形態を変形して得られる光ヘッド1Bの一部の断面図である。光ヘッド1Bでは、各画素開口部50Bの内部に親液層12が突出するように、撥液層15が形成されている。撥液層15は、撥液層13と同様に、陽極11と同数の撥液部16のみから構成されている。光ヘッド1Bでも、上述の各種効果を得ることができる。ただし、光ヘッド1Bでは、正孔注入層20が親液層12の上部にも形成されることになる。このため、正孔注入層20が低抵抗であれば、画素開口部50Bの径方向にクロストークが発生し、発光領域が、陽極11の上面のうち画素開口部50Bの底面となっている領域(理想的な画素開口)を超えて画素開口部50Bの径まで広がってしまう。これに対して、光ヘッド1Aでは、開口部が親液層12及び撥液層13に同一形状で形成されており、親液層12の内周面と撥液層13の内周面とが面一となっている。したがって、光ヘッド1Aによれば、発光領域の面積を規定すること、すなわち理想的な画素開口で発光させることができる。よって、光ヘッド1Aを画像形成装置に用いることにより、画像形成装置の画像形成の品質を向上させることができる。また、光ヘッド1Aでは、光ヘッド1Bと比較して、各撥液部14の内周の径が短くなるから、陰極30の下面において水分を呼び込み易い撥液層13に接触する領域をより狭くすることができる。
<第2の実施の形態>
続いて、本発明の第2の実施の形態に係る光ヘッド1Dについて説明する。光ヘッド1Dの構成は、図13(C)の部分断面図に示されているように、基本的には第1の実施の形態に係る光ヘッド1A(図4(F))と同様である。ただし、親液層12上に撥液性薄膜18が形成されている点、及び撥液層13がインクジェット法によって形成される点において光ヘッド1Aと異なる。以下では、光ヘッド1Dの製造方法及び構成について、図11から図14を用いて、光ヘッド1Aと異なる点を中心に説明する。ここで、図11は、光ヘッド1Dの製造方法を示すフローチャートであり、図12及び図13は、当該製造方法の各工程における光ヘッド1Dの断面図である。また、図14は、当該製造方法の各工程における光ヘッド1Dの部分斜視図である。なお、図1から図4の実施形態と同じ要素は同じ符号を付して示すことにして、その説明は省略する。
まず、ステップS1では、駆動用TFT等を含む駆動回路が形成された基板10の表面のうち画素開口部50A(図13(A))に略対応する領域に、ITOからなる画素電極としての陽極11を形成する。
次に、ステップS2では、基板10上に、陽極11を覆うように、親液層12及び撥液性薄膜18をこの順に積層する(図12(A))。より詳しくは、まず、酸化ケイ素、窒化ケイ素、酸化窒化ケイ素等を含んだ材料の層を、常圧若しくは減圧CVD法、又はスピンコート、スプレーコート、ロールコート、ダイコート、ディップコート等の方法により基板10上の全体に、陽極11を覆って成膜し、親液層12を形成する。次に、親液層12の上に、パーフロロアルキルトリメトキシシラン1%アルコール液をディッピングで塗布し、次に、アルコールでリンスすることで、親液層12上の全面に撥液性薄膜18を形成する。このような撥液性薄膜18は、パーフロロアルキルトリメトキシシランを材料とする単分子膜である。そして、その膜厚は単分子〜2分子程度であることが好ましい。なお、本実施形態では、シランカップリング剤を採用しているが、カップリング剤はシラン系を含めて、チタン系、シラン系等の金属のアルキレートで、撥液性の基、例えばアルキル基、アリル基、或いはこれらに芳香族が置換しているフッ化物が好ましい。また、本実施形態における撥液性薄膜18の「撥液性」とは、少なくとも親液層12を構成する材料と比べて撥液性が高いことを意味するものとする。
次に、ステップS3では、撥液性薄膜18の表面の領域であって、画素開口部50Aを囲む環状の領域8にエネルギを照射する(図12(B))。より詳しくは、まず、環状の領域8を除いた領域にマスク17を形成し、その後マスク17を介して紫外線を照射する。これにより、環状の領域8に形成された撥液性薄膜18に紫外線が当たり、この部位の撥液性薄膜18(単分子膜)が分解して除去され、環状の領域8においては親液層12が露出する(図14(A))。すなわち、基板10の表面は、環状の領域8においては親液層12が、環状の領域8を除いた領域においては撥液性薄膜18が、それぞれ露出された状態となる。換言すれば、基板10の表面には、親液性の環状の領域8と、当該環状の領域8を囲む撥液性の領域とが分布する。このように、本ステップS3により、基板10の表面のうち環状の領域8における親液性を、環状の領域8を除いた領域における親液性より高めることができる。ここで、紫外線を照射するには、波長245nmの低圧水銀灯を用いることが好ましい。このステップS3は、本発明におけるステップAに対応する。
次に、ステップS4では、基板10の表面のうち環状の領域8に、液滴吐出法としてのインクジェット法により、撥液層13(図12(D))の材料を含む撥液材料溶液13Lを吐出する(図12(C))。より詳しくは、アクリルやポリイミド等の有機材料をエチレングリコール等の溶媒に溶解又は分散させた撥液材料溶液13Lを、インクジェットヘッド60から基板10上の環状の領域8に吐出する。ここで、撥液材料溶液13Lが吐出される環状の領域8には親液層12が露出しているとともに、環状の領域8を除いた領域には撥液性の撥液性薄膜18が形成されているため、撥液材料溶液13Lは、環状の領域8にのみ濡れ広がり、その他の領域には侵入しにくい。このため、吐出された撥液材料溶液13Lは、図12(C)に示すように、環状の領域8内で数十μm程度の高さを有して盛り上がった状態となる。
次に、ステップS5では、基板10上に吐出された撥液材料溶液13Lを乾燥させて、撥液部14からなる環状の撥液層13を形成する(図12(D)、図14(B))。より詳しくは、撥液材料溶液13Lを高温環境下で乾燥又は焼成して溶媒を蒸発させ、撥液材料溶液13Lに含まれる有機材料を固形化させることにより、環状の領域8に撥液層13を形成する。このステップS5における乾燥は、例えば200℃の環境下で基板10を10分間放置する工程とすることができる。この乾燥工程中も、撥液材料溶液13Lは、撥液性薄膜18の存在により環状の領域8の外部へは侵入しにくい。このため、撥液層13を容易に環状の領域8内に形成することができる。
次に、ステップS6では、環状の領域8に囲まれた領域、すなわち環状の領域8の内部の領域に形成された撥液性薄膜18及び親液層12を除去して、撥液性薄膜18及び親液層12のパターニングを行う(図13(A)、図14(C))。より詳しくは、環状の領域8(すなわち撥液層13の形成領域)及びその外側にマスクを形成し、ドライエッチング処理を行うことで、環状の領域8の内側に形成された撥液性薄膜18及び親液層12を除去して陽極11を露出させる。この後、マスクを除去してステップS6が完了する。このステップS6により、環状の領域8の内部に、陽極11を底部とし、親液層12及び撥液層13を側壁とする凹部が形成される。当該凹部は、続くステップS7において正孔注入層20及び発光層22が形成される領域であり、画素開口部50Aに対応する。
次に、ステップS7では、ステップS6において画素開口部50Aに形成された凹部の底部に、インクジェット法によって正孔注入層20、インターレイヤ21、発光層22をこの順に形成する(図13(B)、図14(D))。より詳しくは、まず正孔注入材料溶液をインクジェット法によって凹部に吐出し、乾燥させることで正孔注入層20を形成する。画素開口部50Aの内側端面には親液層12が露出しているため、正孔注入材料溶液が画素開口部50A全体に濡れ広がりやすくなり、正孔注入層20の形成不良を低減することができる。その後、発光材料溶液等の有機溶液をインクジェット法によって凹部に吐出し、乾燥させる、という作業を繰り返すことで、インターレイヤ21及び発光層22を順次形成する。
次に、ステップS8では、発光層22上を含む基板10上の略全面にカルシウム及びアルミニウムをこの順に積層させることにより、陰極30を形成する(図13(C))。
続くステップS9では、陰極30上に、酸化ケイ素、窒化ケイ素、酸化窒化ケイ素などの無機材料を蒸着し、基板10上の全面を覆う封止層(不図示)を形成する。なお、封止の方式は封止層を用いた薄膜封止に限られず、シール剤を介してガラス基板等を貼り合わせる缶封止の方式等とすることもできる。
以上のステップを経て、光ヘッド1Dが完成する。このような製造方法によれば、撥液層13の形成の際に撥液材料溶液13Lを環状の領域8にのみ吐出すればよいので、撥液材料溶液13Lの使用量を抑えることができる。また、このようにインクジェット法を用いて撥液層13を形成するため、フォトリソグラフィーによる諸工程を省略することができ、製造コストを低減することができるとともに、廃液量を抑えることで環境への影響を低減することができる。また、ステップS3において紫外線を照射する領域を調整することで、撥液性薄膜18を除去し、親液層12を露出させる領域を任意の領域に設定することができる。したがって、任意の領域に撥液層13を形成することができる。
そして、撥液層13を側壁とする凹部にのみ正孔注入層20、インターレイヤ21、発光層22を形成し、その後陰極30を積層させることにより、陰極30の下面において、水分を呼び込み易い撥液層13に接触する領域が狭くなる。よって、陰極30の酸化を遅くすることができるとともに、薄膜封止の場合の封止層の形成を容易とすることができる。また、撥液層13を形成する有機材料の量を少なく抑えることができるから、長寿命化を達成することができる。
(変形例)
上記第2の実施の形態では、親液層12上に撥液性薄膜18を形成した後、撥液性薄膜18の一部を紫外線によって除去し、親液層12を露出させることで基板10上に撥液性の領域と親液性の領域との分布を形成したが、これに代えて、次のような方法を用いてもよい。
すなわち、まず親液層12上に、撥液性の樹脂材料からなる撥液性薄膜18を形成する。この撥液性薄膜18は、例えばディップコート法を用いて成膜することができ、この方法で用いられる材料としては、例えばアクリル樹脂やポリイミド樹脂等を含む液体材料が採用される。次に、環状の領域8を除いた領域にマスクを形成し、その後全面に酸素プラズマ処理を施す。すなわち、環状の領域8に形成された撥液性薄膜18の表面にのみ酸素プラズマ処理を施すことで、環状の領域8に親液性を付与し、その他の領域は撥液性を保持させる。
この後、上記実施形態と同様に、親液性となった環状の領域8に、インクジェット法により、撥液層13の材料を含む撥液材料溶液13Lを吐出する。このとき、撥液材料溶液13Lが吐出される環状の領域8には、親液性が付与された撥液性薄膜18が形成されており、環状の領域8を除いた領域には撥液性の撥液性薄膜18が形成されている。このため、撥液材料溶液13Lは、環状の領域8にのみ濡れ広がり、その他の領域には侵入しにくい。この後、撥液材料溶液13Lを乾燥させれば、本変形例によってもインクジェット法を用いて容易に環状の領域8に撥液層13を形成することができる。
<第3の実施の形態>
図6は、本発明の第3の実施の形態に係る電気光学装置の平面図である。本実施の形態に係る電気光学装置は、RGBストライプ配列の表示装置1Cである。例えば、40インチディスプレイであって、基板81の上に1920×RGB×1080の画素(発光素子P2)を備える。表示装置1Cは、光ヘッド1Aと同様の構成を有する。すなわち、基板81の上には親液層82が形成され、親液層82の上には発光素子P2と同数の撥液部84のみを有する撥液層83が形成され、親液層82および撥液層83が個別バンクとして機能し、各発光素子P2の陽極(画素電極)と個別バンクとに画定される各画素開口部内には陽極側から正孔注入層、インターレイヤ、発光層が積層されており、すべての発光層を覆って共通陰極(陰極90)が形成されており、共通陰極および個別バンクは封止層に覆われている。
但し、表示装置1Cでは、画素サイズを、発光輝度や寿命などの要求仕様に基づいて発光色毎に相違させてあり、これに合わせて、画素開口部の形状、すなわち親液層82の開口部の形状および撥液層83(各撥液部84)の開口部の形状を発光色毎に相違させてある。例えば、画素開口の径が小さな画素に対応する画素開口部の径が小さくなり、画素開口の径が大きな画素に対応する画素開口部の径が大きくなるように、親液層82および撥液層83(各撥液部84)が形成されている。表示装置1Cの製造方法は、発光色毎に発光層を塗り分ける点を除いて、光ヘッド1Aの製造方法と同様である。
表示装置1Cによれば、光ヘッド1Aと同様の効果を得ることができる。また、表示装置1Cによれば、理想的な画素開口で発光させることができるから、表示画像の解像度を向上させることができる。また、表示装置1Cでは、画素開口の径が小さな画素に対応する画素開口部の径が小さくなる。したがって、この画素開口部を画定する撥液層83の体積が小さくなり、この撥液層83の上面の面積が狭くなる。これは、陰極の酸化を遅くすること、および薄膜封止の場合の封止層の形成を容易とすることに寄与する。なお、本実施の形態を変形し、画素の配列をデルタ配列としてもよい。また、本実施の形態に対して、第1の実施の形態と同様の変形を行うことも可能である。
<その他の変形例>
(1)上述した各実施の形態を変形し、正孔注入層と発光層との間にインターレイヤが存在しない形態としてもよいし、基板側の上に陰極、電子を輸送する電子注入層、発光層、陽極を順に積層して発光素子を形成してもよい。この場合にも、電子注入層を形成するための材料溶液を水系で構成することにより、画素開口部の内部に材料溶液を濡れ広げることができる。ただし、画素開口部内に形成される層は、採用する塗布方法(例えばインクジェット法)で形成可能なものでなければならない。
(2)図7に、表示装置1Cを用いた電子機器であるパーソナルコンピュータの構成を示す。パーソナルコンピュータ1030は、表示ユニットとしての表示部1031と本体部1032を備える。本体部1032には、電源スイッチ1033及びキーボード1034が設けられている。なお、本発明に係る電気光学装置の適用先の電子機器としては、他に、電子写真方式の画像形成装置が挙げられる。
本発明の第1の実施の形態に係る光ヘッド1Aの平面図である。 図1に示す光ヘッド1AのZ1−Z1’における断面図である。 図2に示す部分Mの斜視断面図である。 光ヘッド1Aの製造工程を示す説明図である。 本発明の第1の実施の形態の変形例に係る光ヘッド1Bの一部の断面図である。 本発明の第3の実施の形態に係る表示装置1Cの平面図である。 表示装置1Cを適用した電子機器たるパーソナルコンピュータの斜視図である。 従来の有機ELパネルCの一部の平面図である。 図8に示す有機ELパネルCのZ2−Z2’における断面図である。 図9に示す部分Nの斜視断面図である。 光ヘッド1Dの製造方法を示すフローチャートである。 光ヘッド1Dの製造方法の各工程における光ヘッド1Dの断面図である。 光ヘッド1Dの製造方法の各工程における光ヘッド1Dの断面図である。 光ヘッド1Dの製造方法の各工程における光ヘッド1Dの部分斜視図である。
符号の説明
1A,1B,1D…光ヘッド(電気光学装置)、1C…表示装置(電気光学装置)、10,81…基板、11…陽極(画素電極)、12,82…親液層、13,15,83…撥液層、14,16,84…撥液部、18…撥液性薄膜、20…正孔注入層、21…インターレイヤ、22…発光層(有機半導体層)、30,90…陰極、50A,50B…画素開口部、70A,70B…個別バンク、P1,P2…発光素子。

Claims (9)

  1. 複数の画素電極が形成された基板と、
    前記基板の上に形成され、前記複数の画素電極に各々対応する複数の画素開口部が設けられた個別バンクと、
    前記複数の画素開口部の各々内に形成され、電子又は正孔を注入する注入層と、
    前記複数の画素開口部の各々内であって前記注入層の上に形成された有機半導体層と、
    前記有機半導体層の上に形成された電極とを備え、
    前記個別バンクは、前記基板の上に形成された親液層と、前記親液層の上に形成された撥液層とを有し、
    前記複数の画素開口部の各々は、前記親液層および前記撥液層を貫通しており、
    前記撥液層は、前記親液層と比較して前記注入層を形成するための材料液に対する親和性が弱く、前記複数の画素開口部に各々対応する複数の撥液部から構成され、
    前記複数の撥液部は、互いに離間しており、
    前記複数の撥液部の各々は、当該撥液部に対応する前記画素開口部の周囲を囲んでいる、
    ことを特徴とする電気光学装置。
  2. 前記複数の画素開口部には、互いに形状の異なる2以上の画素開口部が含まれている、
    ことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。
  3. 前記画素開口部を前記親液層及び撥液層に同一形状で形成したことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。
  4. 前記親液層は、無機材料から形成されている、
    ことを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか1項に記載の電気光学装置。
  5. 前記撥液層は、有機材料から形成されている、
    ことを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれか1項に記載の電気光学装置。
  6. 請求項1乃至5のうちいずれか1項に記載の電気光学装置を有する電子機器。
  7. 複数の画素開口部を有する電気光学装置の製造方法であって、
    基板上の前記画素開口部に対応する領域に画素電極を形成するステップと、
    前記基板上に、前記画素電極を覆うように、親液層及び撥液性薄膜をこの順に積層するステップと、
    前記撥液性薄膜の表面の領域であって、前記画素開口部を囲む環状の領域にエネルギを照射することにより、前記基板の表面のうち前記環状の領域における親液性を、前記環状の領域を除いた領域における親液性より高めるステップAと、
    前記基板の表面のうち前記環状の領域に、液滴吐出法により環状の撥液層を形成するステップと、
    前記環状の領域に囲まれた領域に形成された前記撥液性薄膜及び前記親液層を除去するステップと、
    前記環状の領域に囲まれた領域に形成された凹部の底部に、液滴吐出法を用いて注入層及び有機半導体層をこの順に形成するステップと、
    前記有機半導体層上に陰極を形成するステップと、
    を有することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
  8. 請求項7に記載の電気光学装置の製造方法であって、
    前記撥液性薄膜は単分子膜であり、
    前記ステップAは、
    前記単分子膜上のうち前記環状の領域を除いた領域にマスクを配置するステップと、
    前記基板の表面に紫外線を照射して、前記環状の領域に形成された前記単分子膜を除去するステップと、
    を含むことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
  9. 請求項7に記載の電気光学装置の製造方法であって、
    前記ステップAは、
    前記撥液性薄膜上のうち前記環状の領域を除いた領域にマスクを配置するステップと、
    前記基板の表面をプラズマ処理するステップと、
    を含むことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
JP2006307543A 2006-09-14 2006-11-14 電気光学装置の製造方法および電子機器 Expired - Fee Related JP4333728B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006307543A JP4333728B2 (ja) 2006-09-14 2006-11-14 電気光学装置の製造方法および電子機器
US11/846,090 US7902750B2 (en) 2006-09-14 2007-08-28 Electro-optical device, electronic apparatus, and method of manufacturing the same

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006249409 2006-09-14
JP2006307543A JP4333728B2 (ja) 2006-09-14 2006-11-14 電気光学装置の製造方法および電子機器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008098130A true JP2008098130A (ja) 2008-04-24
JP4333728B2 JP4333728B2 (ja) 2009-09-16

Family

ID=39187641

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006307543A Expired - Fee Related JP4333728B2 (ja) 2006-09-14 2006-11-14 電気光学装置の製造方法および電子機器

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7902750B2 (ja)
JP (1) JP4333728B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016046142A (ja) * 2014-08-25 2016-04-04 パイオニア株式会社 発光装置
WO2017163347A1 (ja) * 2016-03-23 2017-09-28 パイオニア株式会社 発光装置
JP2020205140A (ja) * 2019-06-14 2020-12-24 パイオニア株式会社 発光装置及び発光装置の製造方法

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4466763B2 (ja) * 2008-05-14 2010-05-26 ソニー株式会社 パターン形成方法、半導体装置の製造方法、および表示装置の製造方法
GB0921707D0 (en) 2009-12-11 2010-01-27 Cambridge Display Tech Ltd Electronic devices
US8982444B2 (en) 2012-02-09 2015-03-17 Amazon Technologies, Inc. Electrowetting display device and manufacturing method thereof
CN103337594B (zh) 2013-05-30 2016-02-10 京东方科技集团股份有限公司 一种oled基板和显示装置
CN103996697B (zh) 2014-05-16 2016-06-15 京东方科技集团股份有限公司 一种像素单元及其制作方法、显示装置
CN104409653B (zh) * 2014-10-30 2017-07-18 京东方科技集团股份有限公司 一种像素界定层、有机致发光器件及显示装置
US20230276685A9 (en) * 2016-08-26 2023-08-31 Najing Technology Corporation Limited Manufacturing method for light emitting device, light emitting device, and hybrid light emitting device
KR20180032736A (ko) * 2016-09-22 2018-04-02 엘지디스플레이 주식회사 유기발광 다이오드 표시장치
CN109728030B (zh) * 2017-10-31 2024-05-21 合肥鑫晟光电科技有限公司 显示基板及其制备方法、显示面板
CN110551971A (zh) * 2018-06-01 2019-12-10 京畿大学校产学协力团 用于制造有机发光二极管面板的精细金属掩模
KR20200083700A (ko) * 2018-12-28 2020-07-09 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이의 제조 방법
KR20210086302A (ko) * 2019-12-31 2021-07-08 엘지디스플레이 주식회사 표시 패널
US11038150B1 (en) 2020-01-30 2021-06-15 Sharp Kabushiki Kaisha QLED/OLED pixel having reflective cavity electrode configuration
US11152538B1 (en) 2020-04-03 2021-10-19 Sharp Kabushiki Kaisha High on-axis brightness and low color shift QD-LED pixel
US11456443B2 (en) 2020-12-01 2022-09-27 Sharp Kabushiki Kaisha High on-axis brightness and low colour shift QD-LED pixel with equal layer thicknesses between colour pixels
US11785819B2 (en) 2021-04-01 2023-10-10 Sharp Kabushiki Kaisha Layers for improved extraction for transparent cathode emissive displays
TWI779631B (zh) * 2021-05-27 2022-10-01 友達光電股份有限公司 發光裝置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002372921A (ja) * 1998-03-17 2002-12-26 Seiko Epson Corp 表示装置の製造方法
JP2004527088A (ja) * 2001-04-26 2004-09-02 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ エレクトロルミネセント装置及びその製造方法
JP2005197228A (ja) * 2003-12-30 2005-07-21 Lg Phillips Lcd Co Ltd 有機電界発光素子とその製造方法
JP2008004290A (ja) * 2006-06-20 2008-01-10 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> 有機el表示装置および有機el表示装置の製造方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3915806B2 (ja) * 2003-11-11 2007-05-16 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置および電子機器
JP2005268202A (ja) * 2004-02-16 2005-09-29 Seiko Epson Corp 有機エレクトロルミネッセンス装置、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、及び電子機器
US7333080B2 (en) * 2004-03-29 2008-02-19 Eastman Kodak Company Color OLED display with improved power efficiency
JP4380552B2 (ja) * 2005-02-04 2009-12-09 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクス基板の製造方法、アクティブマトリクス基板、電気光学装置並びに電子機器
JP4466594B2 (ja) * 2005-03-30 2010-05-26 セイコーエプソン株式会社 有機el装置及び有機el装置の製造方法
JP4539518B2 (ja) * 2005-03-31 2010-09-08 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置及び電気光学装置の製造方法
JP4556838B2 (ja) * 2005-05-13 2010-10-06 セイコーエプソン株式会社 バンクの形成方法および膜パターンの形成方法
KR20070023454A (ko) * 2005-08-24 2007-02-28 삼성전자주식회사 유기전계발광표시장치 및 이에 구비되는유기박막트랜지스터

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002372921A (ja) * 1998-03-17 2002-12-26 Seiko Epson Corp 表示装置の製造方法
JP2004527088A (ja) * 2001-04-26 2004-09-02 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ エレクトロルミネセント装置及びその製造方法
JP2005197228A (ja) * 2003-12-30 2005-07-21 Lg Phillips Lcd Co Ltd 有機電界発光素子とその製造方法
JP2008004290A (ja) * 2006-06-20 2008-01-10 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> 有機el表示装置および有機el表示装置の製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016046142A (ja) * 2014-08-25 2016-04-04 パイオニア株式会社 発光装置
WO2017163347A1 (ja) * 2016-03-23 2017-09-28 パイオニア株式会社 発光装置
JP2020205140A (ja) * 2019-06-14 2020-12-24 パイオニア株式会社 発光装置及び発光装置の製造方法
JP7391548B2 (ja) 2019-06-14 2023-12-05 パイオニア株式会社 発光装置の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20080067506A1 (en) 2008-03-20
JP4333728B2 (ja) 2009-09-16
US7902750B2 (en) 2011-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4333728B2 (ja) 電気光学装置の製造方法および電子機器
JP4374073B2 (ja) 有機elディスプレイパネル
JP4526595B2 (ja) 有機elディスプレイパネル
JP4540747B2 (ja) 有機elデバイスおよび有機elディスプレイパネル
JP5256605B2 (ja) 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法
JP2005327674A (ja) 有機エレクトロルミネッセント表示素子、それを有する表示装置、及び、その製造方法
US20060099731A1 (en) Method of patterning a functional material on to a substrate
US8282436B2 (en) Light emitting device, electronic device, and method of manufacturing light emitting device
JP4317113B2 (ja) 平板表示装置の製造方法
JP2005331665A (ja) 電気光学装置及びその製造方法、並びに電子機器
KR20160009400A (ko) 유기 전계발광 표시장치 및 그 제조 방법
JP2006313652A (ja) 表示装置の製造方法
WO2011122481A1 (ja) 発光装置用基板の製造方法
JP2004319119A (ja) 表示装置及びその製造方法
WO2006046673A1 (ja) 有機エレクトロルミネセンス表示パネル及びその製造方法
JP2007103033A (ja) 発光装置、及び発光装置の製造方法
JP2006004743A (ja) 表示装置及びその製造方法
JP2005158584A (ja) パターン形成方法及び表示装置の製造方法
JP2007533091A (ja) 基板に機能材料をパターン形成する方法
JP2008066054A (ja) 電気光学装置およびその製造方法
JP6083122B2 (ja) 有機エレクトロルミネッセンス素子及びその製造方法
JP5543599B2 (ja) 発光素子の製造方法
JP2009231122A (ja) 有機エレクトロルミネセンス装置
JP4935599B2 (ja) 表示装置の製造方法
US20220208873A1 (en) Spatial light-modified grid to enhance display efficiency

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080213

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080710

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080805

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081001

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090106

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090302

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090602

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090615

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130703

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees