JP2008073626A - Part inspection device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce a disposing space for a part inspection device which enables appearance inspection from various directions. <P>SOLUTION: The part inspection device 1 is provided with a first disk 17, a second disk 57, a transfer mechanism 5, inspection units 13, 53, and sorting units 14, 54. The first disc 17 can carry a work W in the rotation direction while placing it thereon. The second disk 57 can carry the work W in the rotation direction while placing it thereon, and is disposed on the axially lower side of the first disk 17. The transfer mechanism 5 transfers the work W from the first disk 17 to second disk 57 so that the work W is turned upside down. The inspection units 13, 53 inspect the work W placed on and carried by the first and second disks 17, 57. The sorting units 14, 54 sort the works W into a non-defective product and a defective product according to the inspection results of the inspection units 13, 53. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、各種部品の検査を行う部品検査装置に関し、特に、ナットのような平型の部品を検査する部品検査装置に関する。   The present invention relates to a part inspection apparatus that inspects various parts, and more particularly to a part inspection apparatus that inspects flat parts such as nuts.

ねじやリベット等の機械部品を検査するための従来の部品検査装置は、例えば、被検査部品を搬送する搬送ユニットと、搬送過程において被検査部品の外観検査(傷、寸法計測、形状確認等)を行って良否を判断する検査ユニットとを有している。搬送ユニットとしては、例えば直進フィーダやベルトコンベアが用いられる。検査ユニットとしては、エリアセンサやラインセンサ等のCCDカメラが用いられる。   A conventional parts inspection apparatus for inspecting mechanical parts such as screws and rivets includes, for example, a conveyance unit that conveys a part to be inspected, and an appearance inspection (scratches, dimension measurement, shape confirmation, etc.) And an inspection unit for judging pass / fail. For example, a linear feeder or a belt conveyor is used as the transport unit. A CCD camera such as an area sensor or a line sensor is used as the inspection unit.

部品検査装置は、さらには、検査ユニットの検査結果に応じて披検査品を良品と不良品とを選別する選別ユニットを備えている。選別ユニットは、例えば、不良品を搬送ユニットから排除する。   The component inspection apparatus further includes a sorting unit that sorts the inspection product into a non-defective product and a defective product according to the inspection result of the inspection unit. For example, the sorting unit excludes defective products from the transport unit.

部品検査装置には、搬送ユニットとして回転円盤を用いたものが知られている。その装置では、部品は円盤上に拘束されない状態で載置される。検査ユニットとしてのCCDカメラは、例えば、部品の側面と上面を撮影可能な位置にそれぞれ配置されている。選別ユニットは、間欠回転可能な羽根車を有している(例えば、特許文献1を参照。)。
特開平2001−246520号公報
A component inspection apparatus using a rotating disk as a transport unit is known. In the apparatus, the parts are placed on the disk without being restrained. The CCD camera as the inspection unit is disposed at a position where the side surface and the upper surface of the component can be photographed, for example. The sorting unit has an impeller capable of intermittent rotation (see, for example, Patent Document 1).
JP 2001-246520 A

前記従来の部品検査装置では、ナットのような平型の被検査部品は、ボウルフィーダによって検査面が上側を向くように整列させられ、回転円盤上に搬送される。部品は、回転円盤上に移載された状態で、上面及び側面を検査される。一方、この被検査部品は、移載状態での底面を検査することも要請されている。   In the conventional parts inspection apparatus, flat parts to be inspected such as nuts are aligned by a bowl feeder so that the inspection surface faces upward, and are conveyed onto a rotating disk. The parts are inspected on the upper and side surfaces while being transferred onto the rotating disk. On the other hand, this part to be inspected is also required to inspect the bottom surface in the transferred state.

この要請に対しては、第一に、ボウルフィーダからのワークWの排出姿勢を変更して再度検査を行うことが考えられる。しかし、上記検査方法では、部品の検査装置への再投入の作業、部品の姿勢制御機構の変更等があるため、作業効率が悪く、その結果検査費用が高くなってしまう。また、第二に、回転円盤から良品として取り出された部品を再度ボウルフィーダで受けて別のディスク検査ユニットに供給し、ここで部品の異なる面を上側に向けて検査する方法も考えられる。しかし、この場合は2つの検査装置が必要となって、機器の数が増えると共に、配置スペースが大きくなる。   In response to this request, first, it is conceivable to perform the inspection again after changing the discharge posture of the workpiece W from the bowl feeder. However, in the above inspection method, there are operations such as re-injection of the parts into the inspection apparatus, change of the posture control mechanism of the parts, etc., so that the work efficiency is poor, and as a result, the inspection cost becomes high. Secondly, a method in which a part taken out as a non-defective product from the rotating disk is again received by the bowl feeder and supplied to another disk inspection unit, where a different surface of the part is inspected upward is also conceivable. However, in this case, two inspection devices are required, and the number of devices increases and the arrangement space increases.

本発明の課題は、部品の複数の方向からの外観検査が可能な部品検査装置の配置スペースを小さくすることにある。   An object of the present invention is to reduce an arrangement space of a component inspection apparatus capable of inspecting appearance of components from a plurality of directions.

請求項1に記載の部品検査装置は、第1円盤と、第2円盤と、移載機構と、検査ユニットと、選別ユニットとを備えている。第1円盤は、被検査部品を載置して回転方向に搬送可能である。第2円盤は、被検査部品を載置して回転方向に搬送可能であり、第1円盤の軸方向下側に配置されている。移載機構は、第1円盤から第2円盤に対して被検査部品を上下反転させて移載させる。検査ユニットは、第1及び第2円盤に載置されて搬送される被検査部品を検査する。選別ユニットは、検査ユニットの検査結果に応じて被検査部品を良品と不良品を選別する。ここで、「円盤」とは、いわゆるディスクのことをいい、円状や環状を含み、少なくとも回転方向に延びる部品搭載面を有するものをいう。   A component inspection apparatus according to a first aspect includes a first disk, a second disk, a transfer mechanism, an inspection unit, and a sorting unit. The first disk can carry the component to be inspected and convey it in the rotation direction. The second disk is capable of placing the component to be inspected and transporting it in the rotational direction, and is disposed on the lower side in the axial direction of the first disk. The transfer mechanism moves the component to be inspected upside down from the first disk to the second disk. The inspection unit inspects the parts to be inspected that are placed on and transported by the first and second disks. The sorting unit sorts the inspected parts into non-defective products and defective products according to the inspection result of the inspection unit. Here, the “disk” refers to a so-called disk, which includes a circular or annular shape and has a component mounting surface extending at least in the rotation direction.

この部品検査装置では、第1円盤に載置されて回転する被検査部品は上面を検査ユニットによって検査され、選別ユニットによって良品と不良品とに選別される。さらに被検査部品は移載機構によって上下反転されて第2円盤に移載される。この結果、第2円盤に載置されて回転する被検査部品は上面(第1円盤上での底面)を検査ユニットによって検査され、選別ユニットによって良品と不良品を選別される。このように、同軸上に並んだ2つの円盤によって被検査部品の両面を検査できるため、省スペース構造が実現できる。   In this component inspection apparatus, the inspection target component mounted on the first disk and rotating is inspected on the upper surface by the inspection unit, and is sorted into a non-defective product and a defective product by the sorting unit. Further, the part to be inspected is turned upside down by the transfer mechanism and transferred to the second disk. As a result, the inspection target component placed on the second disk and rotating is inspected by the inspection unit on the upper surface (the bottom surface on the first disk), and the non-defective product and the defective product are sorted by the sorting unit. In this way, since both surfaces of the component to be inspected can be inspected by two disks arranged on the same axis, a space-saving structure can be realized.

請求項2に記載の部品検査装置では、請求項1において、第1円盤及び第2円盤は同軸に配置されており、第2円盤は第1円盤より外径が大きい。   According to a second aspect of the present invention, the first disk and the second disk are arranged coaxially, and the second disk has a larger outer diameter than the first disk.

この部品検査装置では、第2円盤は第1円盤と同軸ではあるが第1円盤より外径が大きいため、例えば検査ユニットのカメラを第2円盤の外周部の鉛直方向上側に配置して真下への撮影が可能である。   In this component inspection apparatus, since the second disk is coaxial with the first disk but has an outer diameter larger than that of the first disk, for example, the camera of the inspection unit is disposed vertically above the outer peripheral portion of the second disk. Can be taken.

請求項3に記載の部品検査装置は、請求項2において、第1円盤及び第2円盤を駆動する単独の駆動部をさらに備えている。   According to a third aspect of the present invention, the component inspection apparatus according to the second aspect further includes a single drive unit that drives the first disk and the second disk.

この部品検査装置では、単独の駆動部によって第1円盤と第2円盤を駆動しているため、簡単な構造で被検査部品の両面を検査できる。   In this component inspection apparatus, since the first disk and the second disk are driven by a single drive unit, both surfaces of the component to be inspected can be inspected with a simple structure.

請求項4に記載の部品検査装置では、請求項1〜3のいずれかにおいて、移載機構は、第2円盤に対して、第2円盤の回転方向と同じ方向に被検査部品を供給する。   In a component inspection apparatus according to a fourth aspect, in any one of the first to third aspects, the transfer mechanism supplies the component to be inspected to the second disk in the same direction as the rotation direction of the second disk.

この部品検査装置では、被検査部品が第2円盤に対して回転方向と同じ方向に供給されるため、被検査部品は第2円盤にスムーズに移行する。このため、第2円盤における被検査部品の動きや供給位置が安定する。   In this component inspection apparatus, since the component to be inspected is supplied to the second disk in the same direction as the rotation direction, the component to be inspected smoothly transitions to the second disk. For this reason, the movement and supply position of the component to be inspected in the second disk are stabilized.

請求項5に記載の部品検査装置では、請求項4において、移載機構は、反転シュートを有している。   In a component inspection apparatus according to a fifth aspect, the transfer mechanism according to the fourth aspect includes a reversing chute.

この部品検査装置では、簡単な構造で被検査部品の上下を反転できる。   In this component inspection apparatus, the top and bottom of the component to be inspected can be reversed with a simple structure.

請求項6に記載の部品検査装置では、請求項5において、移載機構は、第1円盤に載置されて搬送される被検査部品を反転シュートの入口に誘導するための誘導部材をさらに有している。   According to a sixth aspect of the present invention, there is provided the component inspection apparatus according to the fifth aspect, wherein the transfer mechanism further includes a guide member for guiding the component to be inspected that is placed on the first disk and conveyed to the entrance of the reversing chute. is doing.

この部品供給装置では、誘導部材によって被検査部品は確実に反転シュートの入口に誘導される。   In this component supply apparatus, the component to be inspected is reliably guided to the entrance of the reversing chute by the guide member.

請求項7に記載の部品検査装置では、請求項1〜6のいずれかにおいて、検査ユニットは、第1円盤に載置されて搬送される被検査部品を検査する第1検査ユニットを有している。選別ユニットは、第1検査ユニットの検査結果に応じて被検査部品の不良品を移載機構に到達する前に第1円盤から取り除く第1選別ユニットを有している。   The component inspection apparatus according to claim 7, wherein the inspection unit includes a first inspection unit that inspects a component to be inspected that is placed on the first disk and conveyed. Yes. The sorting unit has a first sorting unit that removes defective products of parts to be inspected from the first disk before reaching the transfer mechanism in accordance with the inspection result of the first inspection unit.

この部品検査装置では、第1検査ユニットが第1円盤上の被検査部品を検査して、第1選別ユニットが不良品を第1円盤から取り除く。したがって、第1円盤上で不良品と判定された被検査部品は第2円盤には移行しない。つまり、第2円盤での検査は、第1円盤で良品と判定された被検査部品にのみ実施される。   In this component inspection apparatus, the first inspection unit inspects the component to be inspected on the first disk, and the first sorting unit removes defective products from the first disk. Therefore, the part to be inspected determined to be defective on the first disk does not move to the second disk. That is, the inspection with the second disk is performed only on the inspected parts determined as non-defective products with the first disk.

請求項8に記載の部品検査装置では、請求項7において、検査ユニットは、第2円盤上の被検査部品を検査する第2検査ユニットをさらに有している。選別ユニットは、第2検査ユニットの検査結果に応じて被検査部品の不良品を第2円盤から取り除く第2選別ユニットをさらに有している。   In a component inspection apparatus according to an eighth aspect, in the seventh aspect, the inspection unit further includes a second inspection unit for inspecting a component to be inspected on the second disk. The sorting unit further includes a second sorting unit that removes defective products of the inspected part from the second disk according to the inspection result of the second inspection unit.

この部品検査装置では、第2検査ユニットが第2円盤上の被検査部品を検査して、第2選別ユニットが不良品を第2円盤から取り除く。したがって、第1円盤及び第2円盤の両方で良品と判定された被検査部品のみが最終的に良品として残る。   In this component inspection apparatus, the second inspection unit inspects the component to be inspected on the second disk, and the second sorting unit removes defective products from the second disk. Therefore, only the parts to be inspected determined to be non-defective in both the first disk and the second disk finally remain as non-defective.

本発明に係る部品検査装置では、同軸上に並んだ2つの円盤によって被検査部品の両面を検査できるため、省スペース構造が実現できる。   In the component inspection apparatus according to the present invention, since both surfaces of a component to be inspected can be inspected by two disks arranged on the same axis, a space-saving structure can be realized.

図1に、本発明の一実施形態としての部品検査装置1を示す。部品検査装置1は、例えばボルト、ねじ、リベット等のワークWの外観検査を行うための装置である。より具体的には、この実施形態ではワークWはナットのような平形の部材であり、部品検査装置1はワークWの軸方向両端面を検査するための装置である。   FIG. 1 shows a component inspection apparatus 1 as an embodiment of the present invention. The component inspection apparatus 1 is an apparatus for performing an appearance inspection of a workpiece W such as a bolt, a screw, and a rivet. More specifically, in this embodiment, the workpiece W is a flat member such as a nut, and the component inspection apparatus 1 is an apparatus for inspecting both axial end surfaces of the workpiece W.

部品検査装置1は、主に、ボウルフィーダ2と、第1直進フィーダ3と、第1ディスク検査装置4と、移載機構5と、第2ディスク検査装置6とを備えている。なお、これらの機構は機台8上に搭載されている。   The component inspection apparatus 1 mainly includes a bowl feeder 2, a first linear feeder 3, a first disk inspection apparatus 4, a transfer mechanism 5, and a second disk inspection apparatus 6. These mechanisms are mounted on the machine base 8.

ボウルフィーダ2は、ワークWを整列供給するための装置である。ボウルフィーダ2は、複数のワークWを貯留可能な円筒形状の貯留部を有しており、ナットのような平形のワークWが多数投入される。なお、この実施例では、ワークWは、座面側に薄いフランジが形成されたナット(フランジナット)であり、ボウルフィーダ2からフランジが上側を向いた姿勢で第1直進フィーダ3に整送される。   The bowl feeder 2 is an apparatus for aligning and feeding the workpieces W. The bowl feeder 2 has a cylindrical storage portion that can store a plurality of workpieces W, and a large number of flat workpieces W such as nuts are charged therein. In this embodiment, the workpiece W is a nut (flange nut) having a thin flange formed on the seat surface side, and is fed from the bowl feeder 2 to the first linear feeder 3 with the flange facing upward. The

第1直進フィーダ3は、ボウルフィーダ2から第1ディスク検査装置4にワークWを給送するための装置である。図2に示すように、第1直進フィーダ3は、一方向に長く延びる部品搬送面11を有しており、ワークWは部品搬送面11の長手方向(図の矢印Y1方向)に移動可能となっている。部品搬送面11は、ワークWの搬送方向を後述する第1ディスク17の回転方向に合わせるように、第1ディスク17の接線方向に一致するように延びている。   The first linear feeder 3 is a device for feeding the workpiece W from the bowl feeder 2 to the first disk inspection device 4. As shown in FIG. 2, the first rectilinear feeder 3 has a component conveying surface 11 that extends long in one direction, and the workpiece W can move in the longitudinal direction of the component conveying surface 11 (in the direction of arrow Y1 in the figure). It has become. The component conveyance surface 11 extends so as to coincide with the tangential direction of the first disk 17 so that the conveyance direction of the workpiece W matches the rotation direction of the first disk 17 described later.

第1ディスク検査装置4は、ワークWの端面を検査するための装置である。第1ディスク検査装置4は、ワークWを搬送する第1搬送ユニット12と、ワークWを検査するための第1検査ユニット13と、ワークWの良品と不良品を選別するための第1選別ユニット14とを備えている。   The first disk inspection device 4 is a device for inspecting the end face of the workpiece W. The first disk inspection device 4 includes a first transport unit 12 that transports the workpiece W, a first inspection unit 13 that inspects the workpiece W, and a first sorting unit that sorts non-defective and defective products of the workpiece W. 14.

第1搬送ユニット12は、主に、第1ディスク17と、それを回転駆動するためのサーボモータ(図示せず)とから構成されている。第1ディスク17は、ワークWを回転方向に搬送するための部材である。第1ディスク17は、円板状部材であり、環状の部品載置面19を有している。部品載置面19は平面となっている。なお、サーボモータ(図示せず)にはロータリエンコーダ(図示せず)が設けられており、第1ディスク17の回転はロータリエンコーダによって検出される。   The first transport unit 12 is mainly composed of a first disk 17 and a servo motor (not shown) for rotationally driving the first disk 17. The first disk 17 is a member for transporting the workpiece W in the rotation direction. The first disk 17 is a disk-like member and has an annular component placement surface 19. The component placement surface 19 is a flat surface. The servo motor (not shown) is provided with a rotary encoder (not shown), and the rotation of the first disk 17 is detected by the rotary encoder.

以上の構成によって、第1ディスク17は、サーボモータの駆動を受けて図2の矢印Y2方向に等速回転するようになっている。なお、第1ディスク17は、ボウルフィーダ2及び第1直進フィーダ3の供給速度や第1ディスク検査装置4における検査速度に適した速度で回転させることが可能である。また、ワークWは第1ディスク17の回転に従って第1直進フィーダ3から速やかに分離可能である。以上より、ワークWの検査を高速に行うことができる。   With the above configuration, the first disk 17 rotates at a constant speed in the direction of arrow Y2 in FIG. The first disk 17 can be rotated at a speed suitable for the supply speed of the bowl feeder 2 and the first linear feeder 3 and the inspection speed of the first disk inspection apparatus 4. Further, the workpiece W can be quickly separated from the first linear feeder 3 according to the rotation of the first disk 17. As described above, the workpiece W can be inspected at high speed.

図2に、第1検査ユニット13の概要を示す。第1検査ユニット13は、主に、ワークWを斜め上方から撮影するための第1カメラ31と、ワークWを真上から撮影するための第2カメラ32と、各カメラからの画像情報に基づいてワークWの良否を判断するための判断ユニット(図示せず)を備えている。第1カメラ31は、ワークWの内周面を検査するための装置である。なお、第1カメラ31と第1ディスク17との間にはリングライト34が配置されている。第2カメラ32は、ワークWのフランジ側端面を検査するための装置であり、第1ディスク17の第1カメラ31の撮像ポイントより搬送方向下流側を撮影可能なように配置されている。なお、第2カメラ32と第1ディスク17との間にはリングライト35が配置されている。判断ユニット(図示せず)は、第1カメラ31と第2カメラ32からの画像に基づいてワークWの良否を判断するための装置であり、CPU、RAM、ROMからなるコンピュータを含んでいる。   FIG. 2 shows an outline of the first inspection unit 13. The first inspection unit 13 is mainly based on the first camera 31 for photographing the workpiece W from obliquely above, the second camera 32 for photographing the workpiece W from directly above, and image information from each camera. And a determination unit (not shown) for determining the quality of the workpiece W. The first camera 31 is a device for inspecting the inner peripheral surface of the workpiece W. A ring light 34 is disposed between the first camera 31 and the first disk 17. The second camera 32 is an apparatus for inspecting the flange-side end surface of the workpiece W, and is arranged so that the downstream side in the transport direction can be imaged from the imaging point of the first camera 31 of the first disk 17. A ring light 35 is disposed between the second camera 32 and the first disk 17. The determination unit (not shown) is a device for determining the quality of the work W based on images from the first camera 31 and the second camera 32, and includes a computer including a CPU, a RAM, and a ROM.

第1選別ユニット14は、第1検査ユニット13の判断結果に基づいて、ワークWを良品と不良品を選別するための装置であり、具体的には、不良品を第1ディスク17の部品載置面19から排除するための機構である。図2に示すように、第1選別ユニット14は、第1ディスク17の第2カメラ32の撮像ポイントから搬送方向下流側に配置されている。第1選別ユニット14は、ワークWをはじき出すための羽根車(図示せず)と、この羽根車よりワークWの搬送方向下流側に配置された排出板37と、この排出板37を所定角度回転させるためのサーボモータ38とから構成されている。排出板37は、第1ディスク17の上方に第1ディスク17の回転とは独立して配置されている。この排出板37は、常時は、ワークWの搬送を妨げない位置に待機しており、サーボモータ38の駆動を受けてワークWの搬送軌道と斜めに交差する位置に回動する。   The first sorting unit 14 is a device for sorting the work W from a non-defective product and a defective product based on the determination result of the first inspection unit 13. This is a mechanism for removing from the placement surface 19. As shown in FIG. 2, the first sorting unit 14 is arranged on the downstream side in the transport direction from the imaging point of the second camera 32 on the first disk 17. The first sorting unit 14 has an impeller (not shown) for ejecting the workpiece W, a discharge plate 37 disposed downstream of the impeller in the conveyance direction of the workpiece W, and rotates the discharge plate 37 by a predetermined angle. And a servo motor 38. The discharge plate 37 is disposed above the first disk 17 independently of the rotation of the first disk 17. The discharge plate 37 normally stands by at a position that does not hinder the conveyance of the workpiece W, and rotates to a position that obliquely intersects the conveyance track of the workpiece W under the drive of the servo motor 38.

不良と判定されたワークWの具体的な排出動作について、判断ユニットによる判定が「不良」である場合は、該当するワークWが羽根車の回動移動路上に達すると、羽根車が回転して当該不良判定を受けたワークWを第1ディスク17の外周側へはじき飛ばす。これにより、当該ワークWは、不良品排出路40を通って不良品回収ボックス(図示せず)に収容される。また、羽根車で不良品が排出できなかった場合には、サーボモータ38が駆動して、排出板37がワークWの搬送軌道上に回動する。これにより不良判定を受けたワークWは、排出板37に沿って第1ディスク17外周方向に移動し、第1ディスク17外周縁からこぼれ落ちて排除される。このようにして、第1選別ユニット14においては、不良判定を受けたワークWを第1ディスク17から取り除く。   When the determination by the determination unit is “bad” regarding the specific discharge operation of the work W determined to be defective, the impeller rotates when the corresponding work W reaches the rotation movement path of the impeller. The workpiece W that has received the defect determination is repelled to the outer peripheral side of the first disk 17. As a result, the workpiece W passes through the defective product discharge path 40 and is accommodated in a defective product collection box (not shown). When the defective product cannot be discharged by the impeller, the servo motor 38 is driven and the discharge plate 37 is rotated on the work track of the workpiece W. Accordingly, the workpiece W that has been judged to be defective moves along the discharge plate 37 toward the outer periphery of the first disk 17 and is spilled from the outer periphery of the first disk 17 and eliminated. In this way, in the first sorting unit 14, the work W that has been judged to be defective is removed from the first disk 17.

第1ディスク検査装置4は、さらに、軌道修正部36を有している。軌道修正部36は、第1直進フィーダ3からの整送後にワークWを第1ディスク17上の所定半径方向位置に導くための部材である。軌道修正部36は、第1ディスク17の上方に第1ディスク17の回転から独立して設けられた円板からなる。軌道修正部36は、第1直進フィーダ3からの供給位置からディスク搬送方向下流側に配置されており、第1ディスク17の第1カメラ撮像ポイントよりディスク搬送方向上流側に配置されている。   The first disk inspection device 4 further includes a trajectory correction unit 36. The trajectory correcting unit 36 is a member for guiding the workpiece W to a predetermined radial position on the first disk 17 after feeding from the first linear feeder 3. The trajectory correcting unit 36 is formed of a disc provided above the first disk 17 independently of the rotation of the first disk 17. The trajectory correcting unit 36 is disposed on the downstream side in the disk transport direction from the supply position from the first linear feeder 3, and is disposed on the upstream side in the disk transport direction from the first camera imaging point of the first disk 17.

第2ディスク検査装置6は、ワークWのフランジ側と反対側の面を検査するための装置である。第2ディスク検査装置6は、ワークWを搬送する第2搬送ユニット52と、ワークWを検査するための第2検査ユニット53と、ワークWの良品と不良品を選別するための第2選別ユニット54とを備えている。   The second disk inspection device 6 is a device for inspecting the surface of the workpiece W opposite to the flange side. The second disk inspection apparatus 6 includes a second transport unit 52 that transports the workpiece W, a second inspection unit 53 that inspects the workpiece W, and a second sorting unit that sorts non-defective and defective products of the workpiece W. 54.

第2搬送ユニット52は、主に、第2ディスク57と、それを回転駆動するためのモータ(図示せず)とから構成されている。なお、このモータは第1ディスク17を駆動するモータと同一である。つまり、第1ディスク17と第2ディスク57とは単独のモータによって駆動されている。以上の構成によって、第2ディスク57は、サーボモータ(図示せず)の駆動を受けて第1ディスク17と同じく図の矢印Y2方向に等速回転するようになっている。   The second transport unit 52 is mainly composed of a second disk 57 and a motor (not shown) for rotationally driving it. This motor is the same as the motor that drives the first disk 17. That is, the first disk 17 and the second disk 57 are driven by a single motor. With the above-described configuration, the second disk 57 is driven at a constant speed in the direction of the arrow Y2 in the drawing similarly to the first disk 17 by being driven by a servo motor (not shown).

第2ディスク57は、第1ディスク17から移載機構5(後述)によって供給されたワークWを回転方向に搬送するための部材である。第2ディスク57は、円板状部材であり、環状の部品載置面59を有している。部品載置面59は平面形状となっている。第2ディスク57は、第1ディスク17の鉛直方向下側に配置されている。第2ディスク57は、第1ディスク17と同軸ではあるが第1ディスク17より外径の大きな部材であるため、第2ディスク57の部品載置面59の全体又は外周側の一部の鉛直方向上側は第1ディスク17に覆われない。   The second disk 57 is a member for transporting the workpiece W supplied from the first disk 17 by the transfer mechanism 5 (described later) in the rotation direction. The second disk 57 is a disk-like member and has an annular component placement surface 59. The component placement surface 59 has a planar shape. The second disk 57 is disposed below the first disk 17 in the vertical direction. Since the second disk 57 is a member that is coaxial with the first disk 17 but has a larger outer diameter than the first disk 17, the entire part mounting surface 59 of the second disk 57 or a part of the outer peripheral side in the vertical direction. The upper side is not covered by the first disk 17.

第2検査ユニット53は、主に、ワークWのフランジと反対側の面を撮影するための第3カメラ61と、第3カメラ61からの画像情報に基づいてワークWの良否を判断するための判断ユニット(図示せず)を備えている。第3カメラ61は、第2ディスク57の上方、すなわち第1ディスク17に覆われていない第2ディスク57の外周部分上方に配置されている。第3カメラ61と第2ディスク57との間にはリングライト64が配置されている。なお、第1ディスク検査装置4のコントロールユニット(判断ユニットを含む)と第2ディスク検査装置6のコントロールユニット(判断ユニットを含む)は共通であっても良いし、別個独立であっても良い。   The second inspection unit 53 mainly determines the quality of the workpiece W based on the third camera 61 for photographing the surface of the workpiece W opposite to the flange and the image information from the third camera 61. A determination unit (not shown) is provided. The third camera 61 is disposed above the second disk 57, that is, above the outer peripheral portion of the second disk 57 that is not covered by the first disk 17. A ring light 64 is disposed between the third camera 61 and the second disk 57. The control unit (including the determination unit) of the first disk inspection apparatus 4 and the control unit (including the determination unit) of the second disk inspection apparatus 6 may be common or may be independent.

第2選別ユニット54は、第2検査ユニット53の判断結果に基づいて、ワークWを良品と不良品を選別するための装置であり、具体的には、不良品を第2ディスク57の載置面から排除するための装置である。第2選別ユニット54は、第2ディスク57の第3カメラ61の撮像ポイントより搬送方向下流側に配置されている。第2選別ユニット54は、ワークWをはじき出すための排除板(図示せず)と、排除板を所定角度回転させるためのサーボモータ68とから構成されている。第2選別ユニット54の構成と動作は前述の第1選別ユニット14と同様であるため、ここでは説明を省略する。   The second sorting unit 54 is a device for sorting the work W from a non-defective product and a defective product based on the determination result of the second inspection unit 53. Specifically, the defective product is placed on the second disk 57. It is an apparatus for removing from the surface. The second sorting unit 54 is disposed on the downstream side in the transport direction from the imaging point of the third camera 61 on the second disk 57. The second sorting unit 54 includes an exclusion plate (not shown) for ejecting the workpiece W, and a servo motor 68 for rotating the exclusion plate by a predetermined angle. Since the configuration and operation of the second sorting unit 54 are the same as those of the first sorting unit 14 described above, description thereof is omitted here.

第2ディスク検査装置6は、さらに、第2選別ユニット54より搬送方向下流側に、排出プレート77及び良品排出路78を有している。排出プレート77は、ワークWを良品排出路78に案内するための案内面を有している。良品排出路78は、良品回収ボックス(図示せず)につながっており、良品のワークWは良品回収ボックスに収容される。   The second disk inspection device 6 further includes a discharge plate 77 and a non-defective product discharge path 78 on the downstream side in the transport direction from the second sorting unit 54. The discharge plate 77 has a guide surface for guiding the workpiece W to the non-defective product discharge path 78. The non-defective product discharge path 78 is connected to a non-defective product collection box (not shown), and the non-defective workpiece W is accommodated in the non-defective product collection box.

図3に移載機構5の詳細を示す。移載機構5は、ワークWを第1ディスク検査装置4から第2ディスク検査装置6に反転供給するための装置である。移載機構5は、主に、反転シュート70と、回転円板72と、誘導板73と、外周板74とから構成されている。   FIG. 3 shows details of the transfer mechanism 5. The transfer mechanism 5 is a device for reversing and supplying the work W from the first disk inspection device 4 to the second disk inspection device 6. The transfer mechanism 5 is mainly composed of a reversing chute 70, a rotating disc 72, a guide plate 73, and an outer peripheral plate 74.

反転シュート70は、第2ディスク57の部品載置面59外周部上側に配置されており、入口70aが第1ディスク17の外周側近傍に配置されており、出口70bが第2ディスク57の部品載置面59外周部上面に沿うように配置されている。反転シュート70は、第1ディスク17および第2ディスク57の回転からは独立して設けられている。反転シュート70の入口70aと出口70bは矢印Y2方向を向いて開口している。   The reversing chute 70 is disposed on the upper part of the outer periphery of the component placement surface 59 of the second disk 57, the inlet 70 a is disposed in the vicinity of the outer periphery of the first disk 17, and the outlet 70 b is a component of the second disk 57. It arrange | positions so that the mounting surface 59 outer peripheral part upper surface may be met. The reversing chute 70 is provided independently from the rotation of the first disk 17 and the second disk 57. An inlet 70a and an outlet 70b of the reversing chute 70 are opened in the direction of the arrow Y2.

回転円板72は、ワークWを第1ディスク17から反転シュート70の入口70aに搬送するための部材である。回転円板72は、第1ディスク17の外周側で反転シュート70の入口70a近傍に配置されている。回転円板72は回転自在に支持されており、外周面が第1ディスク17の外周面に当接している。したがって、第1ディスク17が矢印Y2方向に回転すると、当接部分の摩擦によって回転円板72は矢印Y3方向に回転する。   The rotating disk 72 is a member for conveying the workpiece W from the first disk 17 to the inlet 70 a of the reversing chute 70. The rotating disk 72 is disposed in the vicinity of the inlet 70 a of the reversing chute 70 on the outer peripheral side of the first disk 17. The rotating disk 72 is rotatably supported, and the outer peripheral surface is in contact with the outer peripheral surface of the first disk 17. Therefore, when the first disk 17 rotates in the direction of the arrow Y2, the rotating disk 72 rotates in the direction of the arrow Y3 due to the friction of the contact portion.

誘導板73は、ワークWを第1ディスク17から回転円板72側に誘導するための部材であり、第1ディスク17上に第1ディスク17の回転から独立して配置されている。誘導板73は、ワークWを第1ディスク17の外周側に移動させるために第1ディスク17の回転方向に対して斜めに交差して配置されている。   The guide plate 73 is a member for guiding the workpiece W from the first disk 17 to the rotating disk 72 side, and is disposed on the first disk 17 independently of the rotation of the first disk 17. The guide plate 73 is arranged obliquely intersecting the rotation direction of the first disk 17 in order to move the workpiece W to the outer peripheral side of the first disk 17.

外周板74は、ワークWが回転円板72から脱落するのを防止するための部材である。外周板74は、回転円板72の外周縁に沿って設けられた弧状の部材であり、両端が誘導板73と反転シュート70の入口70aにそれぞれ連続している。   The outer peripheral plate 74 is a member for preventing the workpiece W from falling off the rotating disc 72. The outer peripheral plate 74 is an arc-shaped member provided along the outer peripheral edge of the rotating disc 72, and both ends are continuous with the guide plate 73 and the inlet 70 a of the reversing chute 70, respectively.

以上の構成により、第1ディスク17の回転に伴って移動してきたワークWは、誘導板73によって回転円板72に誘導される。この時、誘導板73は、ワークWが第1ディスク17と回転円板72との接点部分を通過するよう、ワークWを誘導する。続いて、ワークWは、回転円板72と共に回転して反転シュート70の入口70aまで運ばれる。そこから、ワークWは、反転シュート70の入口70aに入り、表裏を反転された姿勢で出口70bから排出される。なお、ワークWの排出方向は第2ディスク57の回転方向(矢印Y2方向)と同じである。   With the above configuration, the workpiece W that has moved along with the rotation of the first disk 17 is guided to the rotating disc 72 by the guide plate 73. At this time, the guide plate 73 guides the workpiece W so that the workpiece W passes through the contact portion between the first disk 17 and the rotating disc 72. Subsequently, the workpiece W rotates with the rotating disc 72 and is carried to the inlet 70 a of the reversing chute 70. From there, the workpiece W enters the inlet 70a of the reversing chute 70 and is discharged from the outlet 70b in a posture in which the front and back are reversed. The discharge direction of the workpiece W is the same as the rotation direction (arrow Y2 direction) of the second disk 57.

ワークWは、回転円板72上では遠心力によって外周側に移動しており、外周板74に当接した状態で矢印Y3方向に移動する。したがって、ワークWは、反転シュート70の入口70a近傍に到達すると速やかに入口70a内に移動する。この実施例では、反転シュート70の入口70aの矢印Y3方向下流側に規制部75が設けられている。規制部75は、反転シュート70の入口70aから連続して形成されている。規制部75は、ワークWが万一反転シュート70の入口70aに入らずに回転円板72に載ったままさらに移送されそうになった場合に、これを規制してワークWを反転シュート70の入口70aに誘導するための部材である。なお、規制部75は必ずしも無くても良い。また、別の実施例として、ワークWを確実に回転円板72の外周部に移行させるための誘導部材や、ワークWの回転円板72上での軌道を規制する規制部材をさらに設けても良い。   The workpiece W is moved to the outer peripheral side by centrifugal force on the rotating disc 72 and moves in the direction of the arrow Y3 while being in contact with the outer peripheral plate 74. Accordingly, when the workpiece W reaches the vicinity of the inlet 70a of the reversing chute 70, it quickly moves into the inlet 70a. In this embodiment, a restricting portion 75 is provided downstream of the inlet 70a of the reversing chute 70 in the direction of arrow Y3. The restricting portion 75 is formed continuously from the inlet 70 a of the reversing chute 70. The restricting unit 75 restricts the work W when the work W is about to be transferred while remaining on the rotating disk 72 without entering the inlet 70 a of the reversing chute 70. It is a member for guiding to the inlet 70a. Note that the restriction unit 75 is not necessarily required. Further, as another embodiment, a guide member for reliably moving the workpiece W to the outer peripheral portion of the rotating disc 72 or a regulating member for regulating the trajectory of the workpiece W on the rotating disc 72 may be further provided. good.

また、第2ディスク検査装置6は、さらに、軌道修正部76を有している。軌道修正部76は、ワークWを第2ディスク57上の所定検査軌道に導くための部材である。軌道修正部76は、第2ディスク57の上方に第2ディスク57から独立して設けられた円板からなり、移載機構5からの排出位置から搬送方向下流側近傍に配置されている。
(動作)
Further, the second disk inspection device 6 further includes a trajectory correcting unit 76. The trajectory correcting unit 76 is a member for guiding the workpiece W to a predetermined inspection trajectory on the second disk 57. The trajectory correcting unit 76 is formed of a disc provided independently of the second disk 57 above the second disk 57, and is disposed near the downstream side in the transport direction from the discharge position from the transfer mechanism 5.
(Operation)

部品検査装置1の動作について説明する。なお、各装置の詳細の構成及び動作についてはすでに説明しているため、ここでは概略についてのみ説明する。   The operation of the component inspection apparatus 1 will be described. Since the detailed configuration and operation of each device have already been described, only the outline will be described here.

ワークWは、ボウルフィーダ2によってナット座面が上を向く姿勢に整列されて、次に第1直進フィーダ3によって第1ディスク検査装置4に供給される。ワークWは、第1ディスク17の部品載置面19に載置された状態で、第1ディスク17の回転に伴って移動する。ワークWは、第1検査ユニット13の第1カメラ31と第2カメラ32によってナット座面を撮影される。そして、ワークWは、不良品と判定されると、第1選別ユニット14によって第1ディスク17から排除される。   The workpiece W is aligned in a posture in which the nut seat surface faces upward by the bowl feeder 2, and then supplied to the first disk inspection device 4 by the first rectilinear feeder 3. The workpiece W moves with the rotation of the first disk 17 in a state where it is placed on the component placement surface 19 of the first disk 17. The workpiece W is photographed on the nut seating surface by the first camera 31 and the second camera 32 of the first inspection unit 13. If the work W is determined to be defective, it is removed from the first disk 17 by the first sorting unit 14.

ワークW(第1ディスク検査装置4で良品と判定された部品)は、移載機構5によって、上下反転されながら第2ディスク検査装置6に供給される。ワークWは、移載機構5から排出された後、第2ディスク57の部品載置面59に載置された状態で第2ディスク57と共に回転移動する。ワークWは、第2検査ユニット53の第3カメラ61によってナット座面と反対側の面を撮影される。そして、ワークWは、不良品と判定されると、第2選別ユニット54によって第2ディスク57から排除される。この結果、ワークW(第2ディスク検査装置6で良品と判定された部品)は、良品排出路78から良品回収部(図示せず)に回収される。
(発明の効果)
The workpiece W (part determined to be a non-defective product by the first disk inspection apparatus 4) is supplied to the second disk inspection apparatus 6 while being turned upside down by the transfer mechanism 5. After the workpiece W is discharged from the transfer mechanism 5, the workpiece W rotates together with the second disk 57 while being placed on the component placement surface 59 of the second disk 57. The surface of the workpiece W opposite to the nut seat surface is photographed by the third camera 61 of the second inspection unit 53. When the work W is determined to be defective, it is removed from the second disk 57 by the second sorting unit 54. As a result, the workpiece W (part determined to be a non-defective product by the second disk inspection device 6) is collected from the non-defective product discharge path 78 to a non-defective product collecting unit (not shown).
(The invention's effect)

部品検査装置1では、ワークWは第1ディスク17に載置されて回転する際に上面を第1検査ユニット13によって検査され、第1選別ユニット14によって良品と不良品とに選別される。さらにワークWは移載機構5によって上下反転されて第2ディスク57に移載される。この結果、ワークWは第2ディスク57に載置されて回転する際に上面(第1ディスク17上での底面)を第2検査ユニット53によって検査され、第2選別ユニット54によって良品と不良品とに選別される。このように、軸方向に並んだ2つのディスク17,57によってワークWの両面を検査できるため、省スペース構造が実現できる。   In the component inspection apparatus 1, when the workpiece W is placed on the first disk 17 and rotates, the upper surface is inspected by the first inspection unit 13, and is sorted into a non-defective product and a defective product by the first sorting unit 14. Further, the workpiece W is turned upside down by the transfer mechanism 5 and transferred to the second disk 57. As a result, when the workpiece W is placed on the second disk 57 and rotates, the upper surface (the bottom surface on the first disk 17) is inspected by the second inspection unit 53, and the non-defective product and the defective product are inspected by the second sorting unit 54. And sorted. Thus, since both surfaces of the workpiece W can be inspected by the two disks 17 and 57 arranged in the axial direction, a space-saving structure can be realized.

部品検査装置1では、第1ディスク17及び第2ディスク57は同軸に配置されているが、第2ディスク57は第1ディスク17より外径が大きいため、第2検査ユニット53の第3カメラ61を第2ディスク57の外周部の鉛直方向上側に配置して真下に向けて撮影可能である。   In the component inspection apparatus 1, the first disk 17 and the second disk 57 are arranged coaxially. However, since the second disk 57 has a larger outer diameter than the first disk 17, the third camera 61 of the second inspection unit 53. Can be photographed so as to be located directly below the outer periphery of the second disk 57 in the vertical direction.

部品検査装置1では、単独の駆動モータ(図示せず)によって第1ディスク17と第2ディスク57を駆動しているため、簡単な構造でワークWの両面を検査できる。   In the component inspection apparatus 1, since the first disk 17 and the second disk 57 are driven by a single drive motor (not shown), both surfaces of the workpiece W can be inspected with a simple structure.

部品検査装置1では、ワークWが第2ディスク57に対して回転方向と同じ方向に供給されるため、ワークWは第2ディスク57にスムーズに移行する。このため、第2ディスク57におけるワークWの動きや供給位置が安定する。   In the component inspection apparatus 1, since the workpiece W is supplied to the second disk 57 in the same direction as the rotation direction, the workpiece W smoothly moves to the second disk 57. For this reason, the movement and supply position of the workpiece W on the second disk 57 are stabilized.

部品検査装置1では、第1検査ユニット13が第1ディスク17上のワークWを検査して、第1選別ユニット14が不良品を第1ディスク17から取り除く。したがって、第1ディスク17上で不良と判定されたワークWは第2ディスク57には移行しない。つまり、第2ディスク57での検査は、第1ディスク17で良品と判定されたワークWにのみ実施される。次に、第2検査ユニット53が第2ディスク57上のワークWを検査して、第2選別ユニット54が不良品を第2ディスク57から取り除く。したがって、第1ディスク17及び第2ディスク57の両方で良品と判定されたワークWのみが最終的に良品として残る。
(他の実施例)
In the component inspection apparatus 1, the first inspection unit 13 inspects the workpiece W on the first disk 17, and the first sorting unit 14 removes defective products from the first disk 17. Therefore, the work W determined to be defective on the first disk 17 does not move to the second disk 57. In other words, the inspection with the second disk 57 is performed only on the workpiece W determined as a non-defective product with the first disk 17. Next, the second inspection unit 53 inspects the workpiece W on the second disk 57, and the second sorting unit 54 removes defective products from the second disk 57. Therefore, only the work W determined to be non-defective on both the first disk 17 and the second disk 57 finally remains as non-defective.
(Other examples)

前記実施形態は本発明の一実施例にすぎず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で様々な変更が可能である。   The above embodiment is merely an example of the present invention, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

図4に反転シュートの他の実施形態を示す。この実施形態では、第2ディスク検査装置の第2ディスクは矢印Y4方向(Y2方向と反対向き)に回転するようになっている。この場合、前記実施形態と同様に単独のモータを用いるためには、動力の反転機構が必要になる。   FIG. 4 shows another embodiment of the reversing chute. In this embodiment, the second disk of the second disk inspection apparatus rotates in the arrow Y4 direction (opposite to the Y2 direction). In this case, in order to use a single motor as in the above embodiment, a power reversing mechanism is required.

移載機構85は、ワークWを第1ディスク検査装置4から第2ディスク検査装置6に反転供給するための装置である。移載機構85は、第1ディスク17,57の回転からは独立して設けられている。移載機構85は、主に、反転シュート86と、誘導板87とから構成されている。   The transfer mechanism 85 is a device for reversing and supplying the workpiece W from the first disk inspection device 4 to the second disk inspection device 6. The transfer mechanism 85 is provided independently of the rotation of the first disks 17 and 57. The transfer mechanism 85 is mainly composed of a reversing chute 86 and a guide plate 87.

反転シュート86は、第2ディスク57の部品載置面59外周部上側に配置されており、入口86aが第1ディスク17の外周側近傍に配置されており、出口86bが第2ディスク57の部品載置面59外周部上面に沿うように配置されている。反転シュート86の入口86aと出口86bは矢印Y4方向を向いて開口している。   The reversing chute 86 is disposed on the upper part of the outer periphery of the component placement surface 59 of the second disk 57, the inlet 86 a is disposed in the vicinity of the outer periphery of the first disk 17, and the outlet 86 b is a component of the second disk 57. It arrange | positions so that the mounting surface 59 outer peripheral part upper surface may be met. The inlet 86a and the outlet 86b of the reversing chute 86 are open in the direction of the arrow Y4.

誘導板87は、ワークWを第1ディスク17から反転シュート86の入口86a側に誘導するための部材であり、第1ディスク17上に配置されている。誘導板87はワークWを外周側に移動させるために第1ディスク17の回転方向に対して斜めに交差して配置されている。   The guide plate 87 is a member for guiding the workpiece W from the first disk 17 toward the inlet 86 a of the reversing chute 86, and is disposed on the first disk 17. The guide plate 87 is disposed obliquely intersecting the rotation direction of the first disk 17 in order to move the workpiece W to the outer peripheral side.

以上の構成により、ワークWは、第1ディスク17から誘導板87によって反転シュート86の入口86aまで運ばれる。そこから、ワークWは反転シュート86の入口86aに入り、表裏を反転された姿勢で出口86bから排出される。なお、ワークWの排出方向は第2ディスク57の回転方向(矢印Y4方向)と同じである。   With the above configuration, the workpiece W is carried from the first disk 17 to the inlet 86a of the reversing chute 86 by the guide plate 87. From there, the workpiece W enters the inlet 86a of the reversing chute 86, and is discharged from the outlet 86b with the front and back reversed. The discharge direction of the work W is the same as the rotation direction of the second disk 57 (arrow Y4 direction).

この実施形態では、ワークWの反転シュート86への進入方向が第1ディスク17の回転方向(矢印Y2方向)と同じであるため、簡単な構造で確実にワークWが反転シュート86の入口86aに運ばれる。   In this embodiment, since the approach direction of the work W to the reversing chute 86 is the same as the rotation direction of the first disk 17 (the direction of the arrow Y2), the work W surely enters the reversing chute 86 at the inlet 86a with a simple structure. Carried.

以上の結果、本実施形態でも前記実施形態と同様の効果が得られる。   As a result, the present embodiment can provide the same effects as those of the previous embodiment.

なお、本発明に係る部品検査装置に用いられるワークWの形状は、前記実施形態のナットに限定されない。   In addition, the shape of the workpiece | work W used for the components inspection apparatus which concerns on this invention is not limited to the nut of the said embodiment.

本発明は、部品検査装置、特に、部品を連続して検査する検査装置に適用可能である。   The present invention is applicable to a component inspection apparatus, in particular, an inspection apparatus that continuously inspects components.

本発明の一実施形態としての部品検査装置の全体構成の斜視図。The perspective view of the whole structure of the components inspection apparatus as one Embodiment of this invention. 図1の部分拡大図であり、第1ディスク検査装置と第2ディスク検査装置の斜視図。It is the elements on larger scale of FIG. 1, and is a perspective view of the 1st disk inspection apparatus and the 2nd disk inspection apparatus. (a)は移載機構の斜視図であり、(b)はその要部拡大図。(A) is a perspective view of a transfer mechanism, (b) is the principal part enlarged view. 他の実施形態における移載機構の斜視図。The perspective view of the transfer mechanism in other embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1 部品検査装置
2 ボウルフィーダ
3 第1直進フィーダ
4 第1ディスク検査装置
5 移載機構
6 第2ディスク検査装置
13 第1検査ユニット
14 第1選別ユニット
17 第1ディスク(第1円盤)
53 第2検査ユニット
54 第2選別ユニット
57 第2ディスク(第2円盤)
70 反転シュート
73 誘導板(誘導部材)
86 反転シュート
87 誘導板(誘導部材)
W ワーク(被検査部品)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Parts inspection apparatus 2 Bowl feeder 3 1st linear feeder 4 1st disk inspection apparatus 5 Transfer mechanism 6 2nd disk inspection apparatus 13 1st inspection unit 14 1st selection unit 17 1st disk (1st disk)
53 Second inspection unit 54 Second selection unit 57 Second disc (second disc)
70 Reversing chute 73 Guide plate (guide member)
86 Reversing chute 87 Guide plate (guide member)
W Workpiece (inspected part)

Claims (8)

被検査部品を載置して回転方向に搬送可能な第1円盤と、
前記被検査部品を載置して回転方向に搬送可能であり、前記第1円盤の軸方向下側に配置された第2円盤と、
前記第1円盤から前記第2円盤に対して前記被検査部品を上下反転させて移載させる移載機構と、
前記第1及び第2円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を検査する検査ユニットと、
前記検査ユニットの検査結果に応じて前記被検査部品を良品と不良品を選別する選別ユニットとを備えている、
部品検査装置。
A first disk on which a part to be inspected can be placed and transported in the rotational direction;
A second disk disposed on the lower side in the axial direction of the first disk;
A transfer mechanism for transferring the inspected part upside down from the first disk to the second disk;
An inspection unit for inspecting the parts to be inspected that are placed and conveyed on the first and second disks;
A sorting unit that sorts non-defective products and defective products according to the inspection result of the inspection unit;
Parts inspection device.
前記第1円盤及び前記第2円盤は同軸に配置されており、
前記第2円盤は前記第1円盤より外径が大きい、請求項1に記載の部品検査装置。
The first disk and the second disk are arranged coaxially;
The component inspection apparatus according to claim 1, wherein the second disk has an outer diameter larger than that of the first disk.
前記第1円盤及び前記第2円盤を駆動する単独の駆動部をさらに備える、請求項2に記載の部品検査装置。   The component inspection apparatus according to claim 2, further comprising a single drive unit that drives the first disk and the second disk. 前記移載機構は、前記第2円盤に対して、前記第2円盤の回転方向と同じ方向に前記被検査部品を供給する、請求項1〜3のいずれかに記載の部品検査装置。   The said transfer mechanism is a components inspection apparatus in any one of Claims 1-3 which supplies the said to-be-inspected component with respect to the said 2nd disk in the same direction as the rotation direction of the said 2nd disk. 前記移載機構は、反転シュートを有している、請求項4に記載の部品検査装置。   The component inspection apparatus according to claim 4, wherein the transfer mechanism has a reversing chute. 前記移載機構は、前記第1円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を前記反転シュートの入り口に誘導するための誘導部材をさらに有している、請求項5に記載の部品検査装置。   6. The component inspection according to claim 5, wherein the transfer mechanism further includes a guide member for guiding the component to be inspected placed on the first disk and conveyed to an entrance of the reversing chute. apparatus. 前記検査ユニットは、前記第1円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を検査する第1検査ユニットを有しており、
前記選別ユニットは、前記第1検査ユニットの検査結果に応じて前記被検査部品の不良品を前記移載機構に到達する前に前記第1円盤から取り除く第1選別ユニットを有している、請求項1〜6のいずれかに記載の部品検査装置。
The inspection unit includes a first inspection unit that inspects the component to be inspected that is placed and transported on the first disk,
The sorting unit includes a first sorting unit that removes defective products of the inspected part from the first disk before reaching the transfer mechanism according to an inspection result of the first inspection unit. Item inspection device in any one of claim | item 1 -6.
前記検査ユニットは、前記第2円盤に載置されて搬送される前記被検査部品を検査する第2検査ユニットをさらに有しており、
前記選別ユニットは、前記第2検査ユニットの検査結果に応じて前記被検査部品の不良品を前記第2円盤から取り除く第2選別ユニットをさらに有している、請求項7に記載の部品検査装置。
The inspection unit further includes a second inspection unit that inspects the part to be inspected that is placed and transported on the second disk,
The component inspection apparatus according to claim 7, wherein the selection unit further includes a second selection unit that removes defective products of the component to be inspected from the second disk according to an inspection result of the second inspection unit. .
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