JP2008063551A - Adhesive composition for electronic device, adhesive sheet for electronic device, and electronic component and device using the same - Google Patents

Adhesive composition for electronic device, adhesive sheet for electronic device, and electronic component and device using the same Download PDF

Info

Publication number
JP2008063551A
JP2008063551A JP2006315158A JP2006315158A JP2008063551A JP 2008063551 A JP2008063551 A JP 2008063551A JP 2006315158 A JP2006315158 A JP 2006315158A JP 2006315158 A JP2006315158 A JP 2006315158A JP 2008063551 A JP2008063551 A JP 2008063551A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
adhesive
group
adhesive composition
side chain
electronic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006315158A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2008063551A5 (en
JP5087910B2 (en
Inventor
Yoko Osawa
洋子 大澤
Yukitsuna Konishi
幸綱 小西
Hideki Shinohara
英樹 篠原
Michio Shimizu
宙夫 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toray Industries Inc
Original Assignee
Toray Industries Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toray Industries Inc filed Critical Toray Industries Inc
Priority to JP2006315158A priority Critical patent/JP5087910B2/en
Publication of JP2008063551A publication Critical patent/JP2008063551A/en
Publication of JP2008063551A5 publication Critical patent/JP2008063551A5/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5087910B2 publication Critical patent/JP5087910B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/4824Connecting between the body and an opposite side of the item with respect to the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73215Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/102Material of the semiconductor or solid state bodies
    • H01L2924/1025Semiconducting materials
    • H01L2924/10251Elemental semiconductors, i.e. Group IV
    • H01L2924/10253Silicon [Si]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3025Electromagnetic shielding

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an adhesive composition for an elecronic device excellent in long term resistance to high temperature and an adhesive sheet for electronic device, an electronic component and an electronic device using the same. <P>SOLUTION: The adhesive composition for the electronic device comprises (a) a thermosetting resin, (b) a curing agent, (c) a polymer having an organopolysiloxane at a side chain, and (d) a copolymer comprising an acrylate having a side chain with 1-8C and/or a methacrylate as essential copolymer components. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、電子機器用接着剤組成物、電子機器用接着剤シートおよびそれを用いた電子部品ならびに電子機器に関する。さらに詳しくは、半導体集積回路を実装する際に用いられる、テープオートメーテッドボンディング(TAB)方式のパターン加工テープ、ボールグリッドアレイ(BGA)パッケージ用インターポーザー等の半導体接続用基板、リードフレーム固定テープ、LOC固定テープ、半導体素子等の電子部品とリードフレームや絶縁性支持基板などの支持部材との接着に用いられるダイボンディング材、ヒートスプレッダー、補強板、シールド材の接着剤、ソルダーレジスト、異方導電性フィルム、銅張り積層板、カバーレイ、半導体用封止剤、回路間の絶縁層等各種の電子材料を作製するために適した電子機器用接着剤組成物、電子機器用接着剤シートおよびそれを用いた電子部品ならびに電子機器に関する。   The present invention relates to an adhesive composition for electronic equipment, an adhesive sheet for electronic equipment, an electronic component using the same, and an electronic equipment. More specifically, tape automated bonding (TAB) pattern processing tape, semiconductor grid connection substrates such as ball grid array (BGA) package interposers, lead frame fixing tape, which are used when mounting semiconductor integrated circuits, Die bonding materials, heat spreaders, reinforcing plates, shielding material adhesives, solder resists, anisotropic conductive materials used for bonding LOC fixing tapes, electronic components such as semiconductor elements, and supporting members such as lead frames and insulating support substrates Adhesive composition for electronic equipment, adhesive sheet for electronic equipment, and the like suitable for producing various electronic materials such as conductive films, copper-clad laminates, coverlays, semiconductor sealants, insulating layers between circuits The present invention relates to an electronic component and an electronic device using the.

半導体集積回路(IC)の実装には、金属製のリードフレームを用いた方式がもっとも多く用いられているが、近年ではガラスエポキシやポリイミド等の有機絶縁性フィルム上にIC接続用の導体パターンを形成した、インターポーザーと称する半導体接続用基板を介した方式が増加している。   A method using a metal lead frame is most often used for mounting a semiconductor integrated circuit (IC). In recent years, a conductive pattern for IC connection is formed on an organic insulating film such as glass epoxy or polyimide. An increasing number of systems are provided via a semiconductor connection substrate called an interposer.

パッケージ形態としては、デュアルインラインパッケージ(DIP)、スモールアウトラインパッケージ(SOP)、クアッドフラットパッケージ(QFP)等のパッケージ形態が用いられてきた。しかし、ICの多ピン化とパッケージの小型化に伴って、最もピン数を多くできるQFPにおいても限界に近づいている。そこで、パッケージの裏面に接続端子を配列するBGA(ボールグリッドアレイ)、CSP(チップスケールパッケージ)が用いられるようになってきた。   As a package form, a package form such as a dual in-line package (DIP), a small outline package (SOP), a quad flat package (QFP) has been used. However, with the increase in the number of pins of ICs and the miniaturization of packages, the QFP that can increase the number of pins is approaching the limit. Therefore, BGA (ball grid array) and CSP (chip scale package) in which connection terminals are arranged on the back surface of the package have been used.

半導体接続用基板の接続方式としては、テープオートメーテッドボンディング(TAB)方式、ワイヤーボンディング方式、フリップチップ方式等が挙げられ、TAB用接着剤付きテープを使用することができる。   Examples of the connection method of the substrate for semiconductor connection include a tape automated bonding (TAB) method, a wire bonding method, a flip chip method, and the like, and a tape with an adhesive for TAB can be used.

TAB方式は、インナーリードを有する接続方式に有利であることは当然であるが、BGA方式において半田ボール用の孔やIC用のデバイスホールを機械的に打ち抜いた後に銅箔をラミネートするプロセスに特に適している。一方、インナーリードを有しないワイヤーボンディングおよびフリップチップ接続の場合は、TAB用接着剤付きテープだけでなく、すでに銅箔を積層し接着剤を加熱硬化させた銅張り積層板を用いることも可能である。   Of course, the TAB method is advantageous for the connection method having the inner leads, but the BGA method is particularly suitable for the process of laminating the copper foil after mechanically punching the holes for solder balls and the device holes for IC. Is suitable. On the other hand, in the case of wire bonding and flip chip connection without an inner lead, it is possible to use not only a tape with an adhesive for TAB, but also a copper-clad laminate already laminated with copper foil and heat-cured adhesive. is there.

図1にBGA方式の半導体装置の例を示す。BGA方式は、半導体集積回路(1)を接続した半導体集積回路接続用基板の外部接続部として、半導体集積回路のピン数にほぼ対応する半田ボール(7)を格子上(グリッドアレイ)に有することを特徴としている。プリント基板への接続は、半田ボール面をすでに半田が印刷してあるプリント基板の導体パターン(4)上に一致するように乗せて、リフローにより半田を融解して行なわれる。最大の特徴は、インターポーザーの面を使用できるため、QFP等の周囲の辺しか使用できないパッケージと比較して多くの端子を少ないスペースに配置できることにある。この小型化機能をさらに進めたものに、チップスケールパッケージ(CSP)があり、マイクロBGA(μ−BGA)、ファインピッチBGA(FP−BGA)、メモリーBGA(m−BGA)、ボードオンチップ(BOC)等の構造が提案されている。これらの構造を有するパッケージの半導体集積回路とインターポーザーを接着する際に、接着剤が使用される。   FIG. 1 shows an example of a BGA type semiconductor device. The BGA system has solder balls (7) on the grid (grid array) corresponding to the number of pins of the semiconductor integrated circuit as an external connection part of the semiconductor integrated circuit connection substrate to which the semiconductor integrated circuit (1) is connected. It is characterized by. Connection to the printed circuit board is performed by placing the solder ball surface so as to coincide with the conductor pattern (4) of the printed circuit board on which the solder is already printed, and melting the solder by reflow. The greatest feature is that since the surface of the interposer can be used, many terminals can be arranged in a small space as compared with a package such as QFP that can use only the peripheral side. A chip scale package (CSP) is a further advancement of this miniaturization function. Micro BGA (μ-BGA), fine pitch BGA (FP-BGA), memory BGA (m-BGA), board on chip (BOC) ) Etc. have been proposed. An adhesive is used to bond the semiconductor integrated circuit of the package having these structures and the interposer.

また、半導体接続基板には剛性と平面性の付与のための補強板(スティフナー)あるいは放熱のための放熱板(ヒートスプレッダー)等の部品を積層することも行われるが、その際にも接着剤が使用される。また、特許文献1〜3に記載されているような封止剤用途、回路間の絶縁層としての用途にも接着剤が使用される。   The semiconductor connection board is also laminated with components such as a reinforcing plate (stiffener) for imparting rigidity and flatness or a heat radiating plate (heat spreader) for heat dissipation. Is used. Moreover, an adhesive agent is used also for the sealing agent use as described in patent documents 1-3, and the use as an insulating layer between circuits.

最近では、半導体チップとして用いられる従来のシリコーン(Si)ウエハに代わり、より電気特性の優れたSiC(炭化珪素)が注目されており、パワーデバイスなどの分野で使用が進んでいる。このSiCは電気特性に優れているので単位面積にかけられる電圧はSiよりも高くなり、それに伴い、単位面積にかかる温度も高くなる。従って、接着剤にかかる温度も非常に高くなり、150℃から200℃、さらに200℃を越える耐熱性が要求され、さらにそれらの温度で長期間(最大で1000時間程度)耐えることのできる長期高温耐性が要求されている。   Recently, SiC (silicon carbide) having more excellent electrical characteristics has attracted attention in place of the conventional silicone (Si) wafer used as a semiconductor chip, and is being used in the field of power devices and the like. Since this SiC has excellent electrical characteristics, the voltage applied to the unit area becomes higher than that of Si, and accordingly, the temperature applied to the unit area also increases. Therefore, the temperature applied to the adhesive is also extremely high, and heat resistance exceeding 150 ° C. to 200 ° C., and more than 200 ° C. is required. Tolerance is required.

これまでに、耐温度サイクル性に優れた接着剤組成物として、高温で酸化劣化しにくいアクリルゴム等を用いた接着剤組成物が提案されている(例えば、特許文献4、5参照)。また、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、無機フィラーおよびシリコーンオイルを含有する接着剤組成物が提案されている(例えば、特許文献6参照)。また、アディティブ法プリント配線板用接着剤として、シリコーンモノマーとアクリルモノマーを共重合した櫛形グラフトポリマーを含有する接着剤が提案されている(例えば、特許文献7参照)。しかしながら、これら公知の接着剤組成物も、上述のような長期間にわたる高温条件での耐熱性は不十分であった。
特開2004−327623号公報 特開2006−32478号公報 特開2003−277473号公報 特開平3−181580号公報 特開2001−49221号公報 特開2005−150421号公報 特開平10−265752号公報
So far, an adhesive composition using an acrylic rubber or the like that hardly undergoes oxidative degradation at high temperatures has been proposed as an adhesive composition excellent in temperature cycle resistance (see, for example, Patent Documents 4 and 5). Further, an adhesive composition containing a thermosetting resin, a thermoplastic resin, an inorganic filler, and silicone oil has been proposed (see, for example, Patent Document 6). Further, an adhesive containing a comb-shaped graft polymer obtained by copolymerizing a silicone monomer and an acrylic monomer has been proposed as an adhesive for an additive method printed wiring board (see, for example, Patent Document 7). However, these known adhesive compositions also have insufficient heat resistance under high temperature conditions for a long period as described above.
JP 2004-327623 A JP 2006-32478 A JP 2003-277473 A Japanese Patent Laid-Open No. 3-181580 JP 2001-49221 A JP-A-2005-150421 JP-A-10-265552

本発明は、このような問題点を解決し、長期高温耐性に優れた電子機器用接着剤組成物およびそれを用いた電子機器用接着剤シート、電子部品ならびに電子機器を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to solve such problems and to provide an adhesive composition for electronic equipment excellent in long-term high-temperature resistance, an adhesive sheet for electronic equipment using the same, an electronic component, and an electronic equipment. To do.

すなわち本発明は、a)熱硬化性樹脂、b)硬化剤、c)オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体、およびd)炭素数1〜8の側鎖を有するアクリル酸エステルおよび/またはメタクリル酸エステルを必須共重合成分とする共重合体を含有することを特徴とする電子機器用接着剤組成物、それを用いた電子機器用接着剤シート、電子部品ならびに電子機器である。   That is, the present invention relates to a) a thermosetting resin, b) a curing agent, c) a polymer having an organopolysiloxane in the side chain, and d) an acrylic ester and / or methacryl having a side chain having 1 to 8 carbon atoms. It is the adhesive composition for electronic devices characterized by including the copolymer which uses an acid ester as an essential copolymerization component, The adhesive sheet for electronic devices, electronic components, and an electronic device using the same.

本発明の電子機器用接着剤組成物は、長期間にわたる高温条件下でも優れた耐熱性を有するため、これを用いた半導体装置の信頼性を向上させることができる。   Since the adhesive composition for electronic devices of the present invention has excellent heat resistance even under a high temperature condition for a long time, the reliability of a semiconductor device using the same can be improved.

以下、本発明の構成を詳述する。   Hereinafter, the configuration of the present invention will be described in detail.

本発明の電子機器用接着剤組成物および電子機器用接着剤シートは、前述のスティフナー、ヒートスプレッダー、半導体素子や配線基板(インターポーザー)用半導体集積回路を実装する際に用いられる、テープオートメーテッドボンディング(TAB)方式のパターン加工テープ、ボールグリッドアレイ(BGA)パッケージ用インターポーザー等の半導体接続用基板、リードフレーム固定テープ、LOC固定テープ、半導体素子、光半導体等の電子部品とリードフレームや絶縁性支持基板などの支持部材との接着に用いられるダイボンディング材、ヒートスプレッダー、スティフナー、シールド材の接着剤、ソルダーレジスト、異方導電性フィルム、銅張り積層板、カバーレイ、半導体用封止剤、回路間の絶縁層、有機・無機ELの裏面保護層等各種の電子材料を作製するために適した接着剤組成物およびそれを用いた接着剤シートであり、被着体の形状および材料は特に限定されない。中でも、本発明の電子機器用接着剤組成物は、絶縁層としての用途、封止剤としての用途、図1に示すようなシリコーンなどの半導体基板上に素子が形成された後、切り分けられた半導体集積回路(ベアチップ)(1)が絶縁体層(3)および導体パターン(4)からなる配線基板層に接着剤層(2)で接着され、かつ半導体集積回路(1)と配線基板層がボンディングワイヤー(6)により接続された構造を有する半導体装置の接着剤層としての用途に有効である。   The adhesive composition for electronic devices and the adhesive sheet for electronic devices of the present invention are tape automated used when mounting the above-mentioned stiffener, heat spreader, semiconductor integrated circuit for semiconductor elements and wiring boards (interposers). Bonding (TAB) pattern processing tapes, semiconductor connection substrates such as ball grid array (BGA) package interposers, lead frame fixing tapes, LOC fixing tapes, electronic components such as semiconductor elements and optical semiconductors, lead frames and insulation Die bonding materials, heat spreaders, stiffeners, shield material adhesives, solder resists, anisotropic conductive films, copper-clad laminates, coverlays, and semiconductor sealants used for bonding to support members such as conductive support substrates , Insulation layer between circuits, back side of organic / inorganic EL The adhesive composition suitable for producing electronic materials such as various Mamoruso and a adhesive sheet using the same, the shape and material of the adherend is not particularly limited. Among them, the adhesive composition for electronic devices of the present invention was cut after an element was formed on a semiconductor substrate such as silicone as shown in FIG. A semiconductor integrated circuit (bare chip) (1) is bonded to a wiring board layer composed of an insulator layer (3) and a conductor pattern (4) with an adhesive layer (2), and the semiconductor integrated circuit (1) and the wiring board layer are This is effective for use as an adhesive layer of a semiconductor device having a structure connected by a bonding wire (6).

本発明の電子機器用接着剤組成物は、a)熱硬化性樹脂、b)硬化剤、c)オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体、およびd)炭素数1〜8の側鎖を有するアクリル酸エステルおよび/または炭素数1〜8の側鎖を有するメタクリル酸エステルを必須共重合成分とする共重合体を含有することを特徴とする。   The adhesive composition for electronic equipment of the present invention has a) a thermosetting resin, b) a curing agent, c) a polymer having an organopolysiloxane in a side chain, and d) a side chain having 1 to 8 carbon atoms. It contains a copolymer having an acrylic ester and / or a methacrylic ester having a side chain having 1 to 8 carbon atoms as an essential copolymerization component.

c)オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体は、側鎖にオルガノポリシロキサンを有する重合体であれば、主鎖の構造は特に制限されない。このような重合体(グラフトポリマー)は、主鎖と側鎖に異なる機能、例えば、軟/硬、結晶/非晶、離型/接着、親水/疎水などを組み合わせることにより、両立が困難といわれる物性を同時に発現することができる。例えば、主鎖にアクリル樹脂を用いた場合、アクリル樹脂の造膜性や硬度を保持しつつ、側鎖のオルガノポリシロキサンにより耐熱性を向上させることができる。側鎖となるオルガノポリシロキサンはポリジメチルシロキサンであることが好ましい。さらに、メチル基の代わりに、任意の割合でフェニル基を含有することが好ましい。フェニル基を含有することで、他の有機樹脂との相溶性、耐熱性をより一層向上させることができる。フェニル基の割合は、要求する相溶性、耐熱性により適宜調整できる。また、側鎖の分子量は数平均分子量1,000〜30,000であることが好ましい。側鎖の分子量をこの範囲にすることにより、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂、硬化剤と分離することなく組成物を作製することができる。主鎖の構造については、マクロモノマーの単独重合や、マクロモノマーと他のモノマーの共重合などにより様々な構造が得られる。例えば、ポリジメチルシロキサンの片末端にメタクリロイル基を有するマクロモノマーとスチレンモノマーを共重合させた場合には、主鎖にはメタクリロイル基由来のアクリル成分とスチレン由来の成分が含まれる。目的に応じて様々な構造が選択できるが、造膜性、他の樹脂成分との相溶性の点からアクリル樹脂が好ましい。   c) If the polymer having an organopolysiloxane in the side chain is a polymer having an organopolysiloxane in the side chain, the structure of the main chain is not particularly limited. Such a polymer (graft polymer) is said to be difficult to achieve compatibility by combining different functions in the main chain and side chain, such as soft / hard, crystalline / amorphous, release / adhesion, hydrophilic / hydrophobic, etc. Physical properties can be expressed simultaneously. For example, when an acrylic resin is used for the main chain, the heat resistance can be improved by the side chain organopolysiloxane while maintaining the film-forming property and hardness of the acrylic resin. The organopolysiloxane serving as the side chain is preferably polydimethylsiloxane. Furthermore, it is preferable to contain a phenyl group in an arbitrary ratio instead of a methyl group. By containing a phenyl group, compatibility with other organic resins and heat resistance can be further improved. The proportion of the phenyl group can be appropriately adjusted depending on the compatibility and heat resistance required. The molecular weight of the side chain is preferably a number average molecular weight of 1,000 to 30,000. By setting the molecular weight of the side chain within this range, the composition can be prepared without being separated from the thermosetting resin, the thermoplastic resin, and the curing agent. As for the structure of the main chain, various structures can be obtained by homopolymerization of a macromonomer or copolymerization of a macromonomer and another monomer. For example, when a macromonomer having a methacryloyl group at one end of polydimethylsiloxane and a styrene monomer are copolymerized, the main chain contains an acrylic component derived from a methacryloyl group and a component derived from styrene. Various structures can be selected according to the purpose, but an acrylic resin is preferable from the viewpoint of film-forming properties and compatibility with other resin components.

このようなオルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体は、例えば主鎖となるポリマーの存在下にオルガノシロキサンを重合させる方法や、シリコーンマクロモノマーの単独重合もしくは他のモノマーとの共重合により合成する方法がある。側鎖の長さ、数、立体規則性などの制御がし易い点で、シリコーンマクロモノマーを使って合成する方法が好ましい。ここで、マクロモノマー(またはマクロマー)とは、重合可能な官能基を持つ高分子量(通常数百〜数万程度)のモノマーを言う。重合可能な官能基は片末端、両末端どちらに有していてもよい。構造の制御されたグラフトポリマーが得られる点で、片末端シリコーンマクロモノマーを共重合成分とする共重合体がより好ましい。予めある程度高分子量化されたオリゴマーまたはポリマーの片末端に重合可能な官能基を導入したものを共重合成分とすることで、構造や分子量が制御されたグラフトポリマーを得ることができる。このような片末端シリコーンマクロモノマーの例としては、東亜合成(株)製、AK−5(セグメント部分がジメチルシロキサンで片末端がメタクリロイル基、数平均分子量5,000)、AK−32(セグメント部分がジメチルシロキサンで片末端がメタクリロイル基、数平均分子量20,000)、下記一般式(1)で表される、信越化学工業(株)製、X−24−8201(R=CH、n=25)、X−22−174DX(R=CH(CH、n=60)、X−22−2426(R=CH(CH、n=150)や、X−22−2404(構造:CH=C(CH)OCOCSi(OSiMe)等が挙げられる。 Such a polymer having an organopolysiloxane in the side chain is synthesized by, for example, a method of polymerizing an organosiloxane in the presence of a main chain polymer, a homopolymerization of a silicone macromonomer, or a copolymerization with another monomer. There is a way. In view of easy control of the side chain length, number, stereoregularity and the like, a synthesis method using a silicone macromonomer is preferred. Here, the macromonomer (or macromer) refers to a monomer having a high molecular weight (usually about several hundred to several tens of thousands) having a polymerizable functional group. The polymerizable functional group may have either one end or both ends. From the viewpoint of obtaining a graft polymer having a controlled structure, a copolymer having a one-end silicone macromonomer as a copolymerization component is more preferable. A graft polymer having a controlled structure and molecular weight can be obtained by using, as a copolymerization component, an oligomer that has been polymerized to some extent in advance or a polymer having a polymerizable functional group introduced at one end thereof. Examples of such one-end silicone macromonomers include AK-5 (segment part is dimethylsiloxane and one end is methacryloyl group, number average molecular weight 5,000), AK-32 (segment part), manufactured by Toa Gosei Co., Ltd. Is dimethylsiloxane, one end is a methacryloyl group, number average molecular weight 20,000), represented by the following general formula (1), manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., X-24-8201 (R = CH 3 , n = 25), X-22-174DX (R = CH 3 (CH 2) 3, n = 60), X-22-2426 (R = CH 3 (CH 2) 3, n = 150) or, X-22- 2404 (structure: CH 2 ═C (CH 3 ) OCOC 3 H 6 Si (OSiMe 3 ) 3 ) and the like.

Figure 2008063551
Figure 2008063551

また、両末端反応性シリコーンオイルや片末端反応性シリコーンオイルなどもマクロモノマーに含まれる。これらのマクロモノマーと他のモノマーを共重合することにより、グラフトポリマーすなわちオルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体を得ることができる。シリコーンマクロモノマーと共重合させる他のモノマーは特に制限されず、発現させたい物性を主鎖に有するよう適宜選択できる。モノマーの例としては、エチレン、プロピレン、スチレン、テトラフルオロエチレン、塩化ビニル、酢酸ビニル、アクリロニトリル、アクリルアミド、アリルアルコール、酢酸アリル、ホルムアルデヒド、トリオキサン、n−ブチルイソシアネート、エチレンオキシド、テトラヒドロフラン、ε−カプロラクタム、β−プロピオラクトン等の汎用的に使用されるものや、ビニル系モノマーとして(1)(メタ)アクリレート系:(メタ)アクリル酸イソボニル、(メタ)アクリル酸シクロヘキシル、(メタ)アクリル酸t−ブチル、ジシクロペンタニルメタクリレート、ジシクロペンテニルオキシエチル(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトール(ペンタ)ヘキサアクリレート、トリプロピレングリコールジアクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジアクリレート、メタクリル酸グリシジル、メタクリル酸メチル、炭素数1〜8の側鎖を有するアクリル酸エステルおよび/または炭素数1〜8の側鎖を有するメタクリル酸エステル等、(2)アクリルアミド誘導体:N−イソプロピルアクリルアミド、N,N−ジメチルアクリルアミド、N,N−ジメチルアミノプロピルアクリルアミド、(3)その他の不飽和化合物:イソプレンスルホン酸ソーダ、N−ビニルアセトアミド、N−ビニルホルムアミド、(ポリ)アリルアミン、(ポリ)p−ビニルフェノール等、非ビニル系モノマーとしては、(1)多価カルボン酸:1,4−シクロヘキサンカルボン酸、CIC酸/Bis−CIC酸、2,6−ナフタレンジカルボン酸(ジメチル)、(2)多価アルコール:1,4−シクロヘキサンジメタノール、4,4’−ジヒドロキシビフェニル、ジメチロールブタン酸、水素化ビスフェノールA、ネオペンチグリコール、1,3−プロパンジオール、(3)多価アミン:m−キシリレンジアミン、1,4−ジアミノブタン、ノルボルナンジアミン、1,3−ビス(アミノメチル)シクロヘキサン等、その他に2,2−ビス(p−シアナトフェニル)プロパン、また最近開発されたものとしては(メタ)アクリル系では、フッ素系モノマー、脂環系モノマー、反応性官能基を有するモノマー、生体適合性モノマー、各種ビニル化合物ではp−クロロスチレン、ビニルスルホン酸、ビニルオキサゾリン、その他にビスオキサジン(非ビニル系)等が挙げられる。これらのモノマーは2種以上共重合させてもよい。その中でも、アクリルモノマー、例えばメタクリル酸メチル、炭素数1〜8の側鎖を有するアクリル酸エステルおよび/または炭素数1〜8の側鎖を有するメタクリル酸エステルやアクリロニトリル、アクリルアミドなどが好ましい。これらのモノマーを用いることにより、オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体が他のアクリル樹脂(熱可塑性樹脂)と相溶し易くなるため、耐熱性や応力緩和効果を向上することができる。これらの共重合は、ラジカル共重合、イオン共重合などどのような方法を用いてもよい。   Further, the both-end reactive silicone oil and the one-end reactive silicone oil are also included in the macromonomer. By copolymerizing these macromonomers and other monomers, a polymer having a graft polymer, that is, an organopolysiloxane in the side chain can be obtained. Other monomers to be copolymerized with the silicone macromonomer are not particularly limited, and can be appropriately selected so as to have physical properties to be expressed in the main chain. Examples of monomers include ethylene, propylene, styrene, tetrafluoroethylene, vinyl chloride, vinyl acetate, acrylonitrile, acrylamide, allyl alcohol, allyl acetate, formaldehyde, trioxane, n-butyl isocyanate, ethylene oxide, tetrahydrofuran, ε-caprolactam, β -General-purpose ones such as propiolactone and (1) (meth) acrylates: isobornyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, t-butyl (meth) acrylate as vinyl monomers , Dicyclopentanyl methacrylate, dicyclopentenyloxyethyl (meth) acrylate, dipentaerythritol (penta) hexaacrylate, tripropylene glycol diacrylate, trimethylo Rupropane tri (meth) acrylate, polyethylene glycol diacrylate, glycidyl methacrylate, methyl methacrylate, acrylate ester having a side chain having 1 to 8 carbon atoms and / or methacrylate ester having a side chain having 1 to 8 carbon atoms, etc. (2) Acrylamide derivatives: N-isopropylacrylamide, N, N-dimethylacrylamide, N, N-dimethylaminopropylacrylamide, (3) Other unsaturated compounds: isoprenesulfonic acid soda, N-vinylacetamide, N-vinylformamide Non-vinyl monomers such as (poly) allylamine and (poly) p-vinylphenol include (1) polycarboxylic acid: 1,4-cyclohexanecarboxylic acid, CIC acid / Bis-CIC acid, 2,6- Naphthalenedicarboxylic acid ( Methyl), (2) polyhydric alcohol: 1,4-cyclohexanedimethanol, 4,4′-dihydroxybiphenyl, dimethylolbutanoic acid, hydrogenated bisphenol A, neopentyglycol, 1,3-propanediol, (3) Polyvalent amines: m-xylylenediamine, 1,4-diaminobutane, norbornanediamine, 1,3-bis (aminomethyl) cyclohexane, and other 2,2-bis (p-cyanatophenyl) propane, and recently Developed as (meth) acrylic, fluorine monomer, alicyclic monomer, monomer having reactive functional group, biocompatible monomer, and various vinyl compounds: p-chlorostyrene, vinyl sulfonic acid, vinyl oxazoline Other examples include bisoxazine (non-vinyl). Two or more of these monomers may be copolymerized. Among these, acrylic monomers such as methyl methacrylate, acrylic acid esters having a side chain having 1 to 8 carbon atoms, and / or methacrylic acid esters having a side chain having 1 to 8 carbon atoms, acrylonitrile, acrylamide and the like are preferable. By using these monomers, the polymer having an organopolysiloxane in the side chain is easily compatible with other acrylic resins (thermoplastic resins), so that the heat resistance and the stress relaxation effect can be improved. Such copolymerization may be performed using any method such as radical copolymerization or ionic copolymerization.

オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体は、エポキシ基、水酸基、カルボキシル基、アミノ基、アルコキシ基、ビニル基、シラノール基およびイソシアネート基からなる群より選ばれた少なくとも1種の官能基を有することが好ましい。これらの官能基を有することで接着剤組成物の硬化後の架橋構造をより密にすることができる。さらにその中でも、水酸基、エポキシ基、カルボキシル基を有するものが、接着力、耐リフロー性が向上するためより好ましい。これらの官能基を付与するには例えばグリシジルメタクリレート、2−ヒドロキシエチルメタクリレートなど官能基を有するモノマーを共重合すればよい。   The polymer having an organopolysiloxane in the side chain has at least one functional group selected from the group consisting of epoxy groups, hydroxyl groups, carboxyl groups, amino groups, alkoxy groups, vinyl groups, silanol groups and isocyanate groups. Is preferred. By having these functional groups, the crosslinked structure after curing of the adhesive composition can be made denser. Further, among them, those having a hydroxyl group, an epoxy group, or a carboxyl group are more preferable because the adhesive force and reflow resistance are improved. In order to impart these functional groups, for example, a monomer having a functional group such as glycidyl methacrylate or 2-hydroxyethyl methacrylate may be copolymerized.

本発明においては、このようなオルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体は、熱硬化性を有する樹脂あるいは熱可塑性を有する樹脂であってもc)に分類するものとする。   In the present invention, the polymer having such an organopolysiloxane in the side chain is classified as c) even if it is a thermosetting resin or a thermoplastic resin.

オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体としては、下記一般式(2)で表されるものが挙げられる。具体的には、信越化学工業(株)製、シリコーングラフトアクリル樹脂、品名:X−24−798A、X−22−8004(R:COH、官能基当量:3250(g/mol))、X−22−8009(R:Si(OCH含有アルキル基、官能基当量:6200(g/mol))、X−22−8053(R:H、官能基当量:900(g/mol))、X−22−8084、X−22−8084EM、X−22−8195(R:H、官能基当量:2700(g/mol))、東亞合成(株)製サイマックシリーズ(US−270、US−350、US−352、US−380、US−413、US−450等)、レゼタGS−1000シリーズ(GS−1015、GS−1302等)等が挙げられる。 Examples of the polymer having an organopolysiloxane in the side chain include those represented by the following general formula (2). Specifically, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., silicone graft acrylic resin, product names: X-24-798A, X-22-8004 (R 4 : C 2 H 4 OH, functional group equivalent: 3250 (g / mol) )), X-22-8009 (R 4: Si (OCH 3) 3 containing an alkyl group, the functional group equivalent: 6200 (g / mol)) , X-22-8053 (R 4: H, functional group equivalent: 900 (G / mol)), X-22-8084, X-22-8084EM, X-22-8195 (R 4 : H, functional group equivalent: 2700 (g / mol)), Toagosei Co., Ltd. Series (US-270, US-350, US-352, US-380, US-413, US-450, etc.), Reseta GS-1000 series (GS-1015, GS-1302, etc.) and the like.

Figure 2008063551
Figure 2008063551

上記式中、Rは同じでも異なっていてもよく、CH、C、CH(CHまたはCH(CHを示す。Rは同じでも異なっていてもよく、H、CH、C、CH(CHまたはCH(CHを示す。Rは同じでも異なっていてもよく、HまたはCHを示す。Rは同じでも異なっていてもよく、H、CH、C、CH(CH、CH(CH、またはエポキシ基、水酸基、カルボキシル基、アミノ基、アルコキシ基、ビニル基、シラノール基およびイソシアネート基からなる群より選ばれた少なくとも1種の官能基で置換された炭素数1〜6のアルキル基を示す。 In the above formula, R 1 may be the same or different, and represents CH 3 , C 2 H 5 , CH 3 (CH 2 ) 2 or CH 3 (CH 2 ) 3 . R 2 may be the same or different and represents H, CH 3 , C 2 H 5 , CH 3 (CH 2 ) 2 or CH 3 (CH 2 ) 3 . R 3 may be the same or different and represents H or CH 3 . R 4 may be the same or different, and H, CH 3 , C 2 H 5 , CH 3 (CH 2 ) 2 , CH 3 (CH 2 ) 3 , or an epoxy group, a hydroxyl group, a carboxyl group, an amino group, an alkoxy group An alkyl group having 1 to 6 carbon atoms substituted with at least one functional group selected from the group consisting of a group, a vinyl group, a silanol group and an isocyanate group.

c)オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体の含有量は、後述するa)熱硬化性樹脂100重量部に対し、好ましくは10重量部以上、より好ましくは40重量部以上であり、好ましくは600重量部以下、より好ましくは450重量部以下、さらに好ましくは300重量部以下である。この範囲であれば、可撓性、接着性を維持できるので好ましい。   c) The content of the polymer having an organopolysiloxane in the side chain is preferably 10 parts by weight or more, more preferably 40 parts by weight or more, and preferably 100 parts by weight or more, based on 100 parts by weight of the thermosetting resin described later. It is 600 parts by weight or less, more preferably 450 parts by weight or less, and still more preferably 300 parts by weight or less. If it is this range, since flexibility and adhesiveness can be maintained, it is preferable.

本発明の電子機器用接着剤組成物は、a)熱硬化性樹脂を少なくとも1種類含有するが、その種類は特に限定されない。熱硬化性樹脂は耐熱性、高温での絶縁性、耐薬品性、接着剤層強度等の物性のバランスを実現する機能を有する。   Although the adhesive composition for electronic devices of this invention contains at least 1 type of a) thermosetting resin, the kind is not specifically limited. The thermosetting resin has a function of realizing a balance of physical properties such as heat resistance, insulation at high temperature, chemical resistance, and adhesive layer strength.

熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、キシレン樹脂、フラン樹脂、シアン酸エステル樹脂等公知のものが例示される。特に、エポキシ樹脂およびフェノール樹脂は絶縁性に優れるので好適である。エポキシ樹脂は1分子内に2個以上のエポキシ基を有するものであれば特に制限されないが、ビスフェノールF、ビスフェノールA、ビスフェノールS、レゾルシノール、ジヒドロキシナフタレン、ジシクロペンタジエンジフェノール、ジシクロペンタジエンジキシレノール等のジグリシジルエーテル、エポキシ化フェノールノボラック、エポキシ化クレゾールノボラック、エポキシ化トリスフェニロールメタン、エポキシ化テトラフェニロールエタン、エポキシ化メタキシレンジアミン、シクロヘキサンエポキサイド等の脂環式エポキシ、フェノキシ樹脂等が挙げられる。その中でも、接着剤組成物の架橋密度を上げるために、1分子内に3個以上のエポキシ基を有するものが好ましく用いられる。これら多官能エポキシ樹脂としては、オルソクレゾールノボラック型:具体的にはJER(ジャパンエポキシレジン(株))製E180H65、住友化学(株)製ESCN195、日本化薬(株)製EOCN1020、EOCN102S、103S、104S等、DPPノボラック型:具体的にはJER製E157S65等、トリスヒドロキシフェニルメタン型:具体的には日本化薬(株)製EPPN501H、JER製E1032等、テトラフェニロールエタン型:具体的にはJER製E1031S等、ジシクロペンタジエンフェノール型:具体的にはDIC(大日本インキ化学工業(株))製HP7200等、その他ナフタレン構造を有する多官能型エポキシ樹脂、新日鐵化学(株)製ESN、特殊骨格を持つJER製YL6241等、市販されているエポキシ樹脂が挙げられる。これらのエポキシ樹脂は2種類以上用いてもよい。また、接着剤組成物の着色変化を低減して透明性を保つことができる点から、脂環式エポキシが好ましく用いられる。脂環式エポキシ樹脂としては、ダイセル化学工業(株)製セロキサイド2021、セロキサイド2080、セロキサイド3000、セロキサイド2000、エポリードGT300、GT400、EHPE3150、新日本理化(株)製リカレジンHBE−100、500、リカレジンDME−100、200、東都化成(株)製:ZX1702、ST−3000、ST−4000D、ERS−100、ZX−1658、JER製:YX−8034、YX−8000、RXE21、YL6753、YL7040、YL7170等が挙げられる。これらのエポキシ樹脂も2種類以上用いてもよい。取扱性の観点および高温放置後の変色が少ないことから、例えば、EHPE3150などの常温で固形の脂環式エポキシが好ましく用いられる。   Examples of the thermosetting resin include known resins such as epoxy resins, phenol resins, melamine resins, xylene resins, furan resins, and cyanate ester resins. In particular, an epoxy resin and a phenol resin are preferable because of excellent insulation. The epoxy resin is not particularly limited as long as it has two or more epoxy groups in one molecule, but bisphenol F, bisphenol A, bisphenol S, resorcinol, dihydroxynaphthalene, dicyclopentadiene diphenol, dicyclopentadienedixylenol, etc. Alicyclic epoxy such as diglycidyl ether, epoxidized phenol novolak, epoxidized cresol novolak, epoxidized trisphenylol methane, epoxidized tetraphenylol ethane, epoxidized metaxylene diamine, cyclohexane epoxide, etc. . Among them, those having three or more epoxy groups in one molecule are preferably used in order to increase the crosslinking density of the adhesive composition. As these polyfunctional epoxy resins, orthocresol novolak type: Specifically, E180H65 manufactured by JER (Japan Epoxy Resin Co., Ltd.), ESCN195 manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd., EOCN1020 manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., EOCN102S, 103S, 104S, etc., DPP novolak type: specifically, J157 E157S65, etc., trishydroxyphenylmethane type: specifically Nippon Kayaku Co., Ltd. EPPN501H, JER E1032, etc., tetraphenylolethane type: specifically E1031S made by JER, dicyclopentadienephenol type: Specifically, HP7200 made by DIC (Dainippon Ink Chemical Co., Ltd.), other polyfunctional epoxy resins having a naphthalene structure, ESN made by Nippon Steel Chemical Co., Ltd. , YL6241 made by JER with special skeleton, etc. Epoxy resins have been sales. Two or more of these epoxy resins may be used. Moreover, an alicyclic epoxy is preferably used from the point which can maintain the transparency by reducing the coloring change of an adhesive composition. Examples of the alicyclic epoxy resin include Daicel Chemical Industries, Ltd. Celoxide 2021, Celoxide 2080, Celoxide 3000, Celoxide 2000, Epolide GT300, GT400, EHPE3150, Shin Nippon Rika Co., Ltd. Rikaresin HBE-100, 500, Rikaresin DME -100, 200, manufactured by Toto Kasei Co., Ltd .: ZX1702, ST-3000, ST-4000D, ERS-100, ZX-1658, manufactured by JER: YX-8034, YX-8000, RXE21, YL6753, YL7040, YL7170, etc. Can be mentioned. Two or more of these epoxy resins may also be used. From the viewpoint of handleability and less discoloration after standing at high temperature, for example, a solid alicyclic epoxy such as EHPE3150 is preferably used.

さらに、難燃性付与のために、ハロゲン化エポキシ樹脂、特に臭素化エポキシ樹脂を用いることが有効である。接着剤組成物の耐熱性との両立の観点から、臭素化エポキシ樹脂と非臭素化エポキシ樹脂との混合系とすることが有効である。臭素化エポキシ樹脂の例としては、テトラブロモビスフェノールAとビスフェノールAの共重合型エポキシ樹脂、あるいは“BREN”−S(日本化薬(株)製)等の臭素化フェノールノボラック型エポキシ樹脂が挙げられる。これらの臭素化エポキシ樹脂は臭素含有量およびエポキシ当量を考慮して2種類以上用いてもよい。また、最近では環境影響の観点から、バロゲンを含まないタイプのエポキシ樹脂、具体的にはリン含有エポキシ樹脂、窒素含有エポキシ樹脂も多く用いられている。難燃性付与のために、これらのエポキシ樹脂を用いてもよい。   Furthermore, it is effective to use a halogenated epoxy resin, particularly a brominated epoxy resin, for imparting flame retardancy. From the viewpoint of coexistence with the heat resistance of the adhesive composition, it is effective to use a mixed system of a brominated epoxy resin and a non-brominated epoxy resin. Examples of brominated epoxy resins include copolymerized epoxy resins of tetrabromobisphenol A and bisphenol A, or brominated phenol novolac type epoxy resins such as “BREN” -S (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.). . Two or more of these brominated epoxy resins may be used in consideration of bromine content and epoxy equivalent. Recently, from the viewpoint of environmental impact, epoxy resins that do not contain barogen are also often used, specifically phosphorus-containing epoxy resins and nitrogen-containing epoxy resins. These epoxy resins may be used for imparting flame retardancy.

フェノール樹脂としては、ノボラック型フェノール樹脂、レゾール型フェノール樹脂等の公知のフェノール樹脂がいずれも使用できる。例えば、フェノール、クレゾール、p−t−ブチルフェノール、ノニルフェノール、p−フェニルフェノール等のアルキル置換フェノール、テルペン、ジシクロペンタジエン等の環状アルキル変性フェノール、ニトロ基、ハロゲン基、シアノ基、アミノ基等のヘテロ原子を含む官能基を有するもの、ナフタレン、アントラセン等の骨格を有するもの、ビスフェノールF、ビスフェノールA、ビスフェノールS、レゾルシノール、ピロガロール等の多官能性フェノールからなる樹脂が挙げられる。   As the phenol resin, any known phenol resin such as novolak type phenol resin and resol type phenol resin can be used. For example, alkyl-substituted phenols such as phenol, cresol, p-t-butylphenol, nonylphenol, p-phenylphenol, cyclic alkyl-modified phenols such as terpene and dicyclopentadiene, hetero groups such as nitro groups, halogen groups, cyano groups, and amino groups Examples thereof include those having functional groups containing atoms, those having a skeleton such as naphthalene and anthracene, and resins composed of polyfunctional phenols such as bisphenol F, bisphenol A, bisphenol S, resorcinol, and pyrogallol.

本発明の電子機器用接着剤組成物は、b)硬化剤を含有する。b)硬化剤の含有量は、a)熱硬化性樹脂100重量部に対して0.1〜100重量部であると好ましい。   The adhesive composition for electronic devices of this invention contains b) hardening | curing agent. b) The content of the curing agent is preferably 0.1 to 100 parts by weight with respect to 100 parts by weight of a) thermosetting resin.

硬化剤としては、例えば、3,3’,5,5’−テトラメチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,3’,5,5’−テトラエチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,3’−ジメチル−5,5’−ジエチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,3’−ジクロロ−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、2,2’,3,3’−テトラクロロ−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルスルフィド、3,3’−ジアミノベンゾフェノン、3,3’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、3,4’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、3,4,4’−トリアミノジフェニルスルホン等の芳香族ポリアミン、三フッ化ホウ素トリエチルアミン錯体等の三フッ化ホウ素のアミン錯体、2−アルキル−4−メチルイミダゾール、2−フェニル−4−アルキルイミダゾール等のイミダゾール誘導体、無水フタル酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸等の有機酸、ジシアンジアミド等公知のものが使用でき、これらを単独または2種以上用いてもよい。その中でも、透明性、着色の観点から酸無水物硬化剤が有用である。   Examples of the curing agent include 3,3 ′, 5,5′-tetramethyl-4,4′-diaminodiphenylmethane, 3,3 ′, 5,5′-tetraethyl-4,4′-diaminodiphenylmethane, 3, 3′-dimethyl-5,5′-diethyl-4,4′-diaminodiphenylmethane, 3,3′-dichloro-4,4′-diaminodiphenylmethane, 2,2 ′, 3,3′-tetrachloro-4, 4'-diaminodiphenyl methane, 4,4'-diaminodiphenyl sulfide, 3,3'-diaminobenzophenone, 3,3'-diaminodiphenyl sulfone, 4,4'-diaminodiphenyl sulfone, 3,4'-diaminodiphenyl sulfone, Aromatic polyamines such as 4,4′-diaminobenzophenone and 3,4,4′-triaminodiphenylsulfone, boron trifluoride Boron trifluoride amine complexes such as reethylamine complex, 2-alkyl-4-methylimidazole, imidazole derivatives such as 2-phenyl-4-alkylimidazole, phthalic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, etc. Known materials such as organic acids and dicyandiamide can be used, and these may be used alone or in combination of two or more. Among these, acid anhydride curing agents are useful from the viewpoints of transparency and coloring.

酸無水物硬化剤の含有量は(酸無水物基数)/(エポキシ樹脂由来のエポキシ基数)が好ましくは0.5〜1.5、より好ましくは0.6〜1.2、さらに好ましくは0.9〜1.0である。(酸無水物基数)/(エポキシ樹脂由来のエポキシ基数)を0.5以上とすることで保存性が安定し、1.5以下とすることで良好な接着力を発現することができる。   The content of the acid anhydride curing agent is preferably (acid anhydride group number) / (epoxy group-derived epoxy group number), preferably 0.5 to 1.5, more preferably 0.6 to 1.2, and still more preferably 0. .9 to 1.0. When (acid anhydride group number) / (epoxy resin-derived epoxy group number) is 0.5 or more, the storage stability is stabilized, and when it is 1.5 or less, good adhesive force can be expressed.

酸無水物としては、市販品では、テトラヒドロ無水フタル酸(新日本理化(株)製:TH)、ヘキサヒドロ無水フタル酸(新日本理化(株)製:HH)、メチルテトラヒドロ無水フタル酸(新日本理化(株)製:MT−500TZ、日立化成工業(株)製:HN−2200、日本ゼオン(株)製:QH−200)、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸(新日本理化(株)製:MH−700、日立化成工業(株)製:HN−5500、大日本インキ化学工業(株)製:B−650)、メチルナジック酸無水物(日本化薬(株)製:MCD、日立化成工業(株)製:MHAC−P)、水素化メチルナジック酸無水物(新日本理化(株)製:HNA、HNA−100)、トリアルキルテトラヒドロ無水フタル酸(JER(株)製:YH−306、YH−307)、メチルシクロヘキセンテトラカルボン酸二無水物(大日本インキ(株)製:B−4400)、ベンゾフェノンテトラカルボン酸二水和物、エチレングリコールビスアンヒドロトリメリテート、グリセリルビス(アンヒドロトリメリテート)モノアセテート、ドデセニル無水コハク酸、脂肪族二塩基酸ポリ無水物、クロレンド酸無水物等が挙げられる。酸無水物であればその効果は発揮されるが、その中でも、配合物や硬化物が低吸湿であり、無色透明性に優れる点で水素化メチルナジック酸無水物が好ましい。   As the acid anhydride, commercially available products are tetrahydrophthalic anhydride (manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd .: TH), hexahydrophthalic anhydride (manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd .: HH), methyltetrahydrophthalic anhydride (Shin Nippon) Rika Co., Ltd .: MT-500TZ, Hitachi Chemical Co., Ltd .: HN-2200, Nippon Zeon Co., Ltd .: QH-200), Methylhexahydrophthalic anhydride (Shin Nihon Rika Co., Ltd .: MH) -700, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd .: HN-5500, manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc .: B-650), methyl nadic acid anhydride (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd .: MCD, Hitachi Chemical Co., Ltd.) Co., Ltd .: MHAC-P), hydrogenated methyl nadic acid anhydride (Shin Nihon Rika Co., Ltd .: HNA, HNA-100), trialkyl tetrahydrophthalic anhydride (JER Co., Ltd .: YH-306, YH) 307), methylcyclohexene tetracarboxylic dianhydride (manufactured by Dainippon Ink Co., Ltd .: B-4400), benzophenone tetracarboxylic acid dihydrate, ethylene glycol bisanhydro trimellitate, glyceryl bis (anhydro trimelli Tate) monoacetate, dodecenyl succinic anhydride, aliphatic dibasic acid polyanhydride, chlorendic anhydride and the like. If it is an acid anhydride, the effect will be exhibited, but among them, a hydrogenated methyl nadic acid anhydride is preferable in that the blend or cured product has low moisture absorption and is excellent in colorless transparency.

また、トリフェニルフォスフィン、2−アルキル−4−メチルイミダゾール、2−フェニル−4−アルキルイミダゾール等のイミダゾール誘導体等公知の硬化促進剤も、本発明においてb)硬化剤に含まれるものとする。その中でも、下記一般式(3)に示すイミダゾールシランが有用である。   Further, known curing accelerators such as imidazole derivatives such as triphenylphosphine, 2-alkyl-4-methylimidazole, and 2-phenyl-4-alkylimidazole are also included in b) the curing agent in the present invention. Among them, imidazole silane represented by the following general formula (3) is useful.

Figure 2008063551
Figure 2008063551

上記式中、Rは水素または炭素数1〜20の飽和炭化水素基、Rは水素、ビニル基または炭素数1〜5のアルキル基を表す。R、R、RおよびR10はそれぞれ同じでも異なってもよく、炭素数1〜10のアルキル基を表す。XおよびXはそれぞれ同じでも異なってもよく、水素、アミノ基、カルボキシル基、エポキシ基、水酸基、メチロール基、イソシアネート基、ビニル基、シラノール基または炭素数が1〜3のアルキル基を表す。pおよびqは1〜10の整数、lは1〜3の整数、rは1〜5の整数を表す。 In the above formula, R 5 is a saturated hydrocarbon group having hydrogen or a C 1 to 20, R 6 represents hydrogen, a vinyl group or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. R 7 , R 8 , R 9 and R 10 may be the same or different and each represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. X 1 and X 2 may be the same or different and each represents hydrogen, an amino group, a carboxyl group, an epoxy group, a hydroxyl group, a methylol group, an isocyanate group, a vinyl group, a silanol group, or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms. . p and q are integers of 1 to 10, l is an integer of 1 to 3, and r is an integer of 1 to 5.

一般式(3)で表されるイミダゾール化合物は、イミダゾール基がエポキシ樹脂に対して硬化促進作用を有するとともに、銅および銅合金に対して錯体を形成して高い吸着能も有する。また、アルコキシシリル基が金属や無機材料からなる基材とも強く吸着するため基材との密着性が向上する。さらに、R10がエポキシ基と反応する官能基であると、さらに架橋密度が上がり、接着力および耐リフロー性が向上する。エポキシ基と反応する官能基としては、アミノ基、カルボキシル基、エポキシ基、水酸基、メチロール基、アルコキシ基、イソシアネート基、ビニル基、シラノール基等が挙げられる。 In the imidazole compound represented by the general formula (3), the imidazole group has a curing accelerating action on the epoxy resin, and also has a high adsorption ability by forming a complex with copper and a copper alloy. Further, since the alkoxysilyl group strongly adsorbs to a substrate made of a metal or an inorganic material, the adhesion with the substrate is improved. Furthermore, when R 10 is a functional group that reacts with an epoxy group, the crosslink density is further increased, and the adhesion and reflow resistance are improved. Examples of the functional group that reacts with the epoxy group include an amino group, a carboxyl group, an epoxy group, a hydroxyl group, a methylol group, an alkoxy group, an isocyanate group, a vinyl group, and a silanol group.

一般式(3)で表されるイミダゾール化合物の含有量は、接着剤組成物中に含まれるエポキシ基に対して0.1〜2.0mol%が好ましい。ここで、接着剤組成物中に含まれるエポキシ基とは、後述するd)炭素数1〜8の側鎖を有するアクリル酸エステルおよび/またはメタクリル酸エステルを必須共重合成分とする共重合体やc)成分にエポキシ基が含まれる場合には、これらの成分およびエポキシ樹脂に含まれるエポキシ基の総量を指す。0.1mol%以上とすることで、硬化促進作用が得られ、接着力が向上する。一方、2.0mol%以下とすることで、弾性率を高く保ち、接着剤膜の強度と耐熱性を向上させることができる。   As for content of the imidazole compound represented by General formula (3), 0.1-2.0 mol% is preferable with respect to the epoxy group contained in an adhesive composition. Here, the epoxy group contained in the adhesive composition is d) a copolymer containing an acrylic acid ester and / or methacrylic acid ester having a side chain having 1 to 8 carbon atoms as an essential copolymerization component, which will be described later. When the epoxy group is contained in the component c), it indicates the total amount of the epoxy group contained in these components and the epoxy resin. By setting it to 0.1 mol% or more, a curing accelerating action is obtained and the adhesive force is improved. On the other hand, by setting it as 2.0 mol% or less, the elasticity modulus can be kept high and the strength and heat resistance of the adhesive film can be improved.

また、イミダゾールシランとともに硬化速度の調整等のために上述のような公知のイミダゾール化合物を含有することができる。これら公知のイミダゾール化合物の含有量は、一般式(3)で表されるイミダゾール化合物100重量部に対して20〜100重量部が好ましい。   Moreover, the well-known imidazole compound as mentioned above can be contained for adjustment of a curing rate etc. with imidazole silane. The content of these known imidazole compounds is preferably 20 to 100 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the imidazole compound represented by the general formula (3).

また、硬化後および長期耐熱後の無色透明性に優れた硬化物を得るための硬化促進剤としては、4級アンモニウム塩、有機ホスホニウム塩化合物が有用である。市販品では、サンアプロ(株)製:U−CATシリーズ、U−CAT SAシリーズ、POLYCAT8、北興化学工業(株)製:有機ホスフィン、日本化学工業(株)製:ヒシコーリン(有機ホスホニウム塩化合物)等が挙げられる。   In addition, quaternary ammonium salts and organic phosphonium salt compounds are useful as a curing accelerator for obtaining a cured product having excellent colorless transparency after curing and after long-term heat resistance. Commercially available products include San Apro Co., Ltd .: U-CAT series, U-CAT SA series, POLYCAT8, Hokuko Chemical Co., Ltd .: Organic phosphine, Nippon Chemical Industry Co., Ltd .: Hishicolin (organic phosphonium salt compound), etc. Is mentioned.

本発明の電子機器用接着剤組成物は、d)炭素数1〜8の側鎖を有するアクリル酸エステルおよび/またはメタクリル酸エステルを必須共重合成分とする共重合体を含有する。これにより、c)オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体との相溶性、配線基板層(A)等の素材との接着性、可撓性、熱応力の緩和、低吸水性による絶縁性の向上等の機能を有する。これらの共重合体についても前述の熱硬化性樹脂との反応が可能な官能基を有していると好ましい。具体的には、アミノ基、カルボキシル基、エポキシ基、水酸基、アルコキシ基、イソシアネート基、ビニル基、シラノール基等である。さらにこの場合、官能基としてカルボキシル基および/または水酸基を有する共重合体に、他の官能基を有する共重合体を混合して用いるとさらに好ましい。上述した官能基含有量は、0.07eq/kg以上0.7eq/kg以下が好ましく、より好ましくは0.07eq/kg以上0.45eq/kg以下、さらに好ましくは、0.07eq/kg以上0.14eq/kg以下である。   The adhesive composition for electronic devices of this invention contains the copolymer which uses acrylic acid ester and / or methacrylic acid ester which have d) C1-C8 side chain as an essential copolymerization component. As a result, c) compatibility with a polymer having an organopolysiloxane in the side chain, adhesion to a material such as a wiring board layer (A), flexibility, relaxation of thermal stress, insulation due to low water absorption Has functions such as improvement. These copolymers also preferably have a functional group capable of reacting with the aforementioned thermosetting resin. Specific examples include an amino group, a carboxyl group, an epoxy group, a hydroxyl group, an alkoxy group, an isocyanate group, a vinyl group, and a silanol group. In this case, it is more preferable to use a copolymer having a carboxyl group and / or a hydroxyl group as a functional group in combination with a copolymer having another functional group. The functional group content described above is preferably 0.07 eq / kg or more and 0.7 eq / kg or less, more preferably 0.07 eq / kg or more and 0.45 eq / kg or less, and further preferably 0.07 eq / kg or more and 0 or less. .14 eq / kg or less.

d)炭素数1〜8の側鎖を有するアクリル酸エステルおよび/またはメタクリル酸エステルを必須共重合成分とする共重合体の含有量は、a)熱硬化性樹脂100重量部に対し、好ましくは50重量部以上、より好ましくは100重量部以上、さらに好ましくは200重量部以上であり、好ましくは800重量部以下、より好ましくは600重量部以下、さらに好ましくは500重量部以下、さらに好ましくは400重量部以下である。この範囲であれば、可撓性、耐熱性を維持できるので好ましい。   d) The content of the copolymer having an acrylic ester and / or methacrylic ester having a side chain of 1 to 8 carbon atoms as an essential copolymer component is preferably a) relative to 100 parts by weight of the thermosetting resin. 50 parts by weight or more, more preferably 100 parts by weight or more, further preferably 200 parts by weight or more, preferably 800 parts by weight or less, more preferably 600 parts by weight or less, still more preferably 500 parts by weight or less, and still more preferably 400 parts by weight. Less than parts by weight. If it is this range, since flexibility and heat resistance can be maintained, it is preferable.

また、前記d)成分に加えて他の熱可塑性樹脂を含有してもよい。熱可塑性樹脂としては、アクリロニトリル−ブタジエン共重合体(NBR)、アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン樹脂(ABS)、ポリブタジエン、スチレン−ブタジエン−エチレン樹脂(SEBS)、ポリビニルブチラール、ポリアミド、ポリエステル、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリウレタン等が例示される。また、これらの熱可塑性樹脂は前述の熱硬化性樹脂との反応が可能な官能基を有していてもよい。具体的には、アミノ基、カルボキシル基、エポキシ基、水酸基、アルコキシ基、イソシアネート基、ビニル基、シラノール基等である。これらの官能基により熱硬化性樹脂との結合が強固になり、耐熱性が向上するので好ましい。また、高温時の劣化性、電気特性がよいことからポリアミド樹脂も好ましく用いられる。ポリアミド樹脂は、公知の種々のものが使用できる。特に、接着剤層に可撓性を持たせ、かつ低吸水の炭素数が36であるジカルボン酸(いわゆるダイマー酸)を必須成分として含むものが好適である。ダイマー酸を含むポリアミド樹脂は、常法によるダイマー酸とジアミンの重縮合により得られるが、この際にダイマー酸以外のアジピン酸、アゼライン酸、セバシン酸等のジカルボン酸を共重合成分として含有してもよい。ジアミンはエチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、ピペラジン等の公知のものが使用でき、吸湿性、溶解性の点から2種以上用いてもよい。   Further, in addition to the component d), other thermoplastic resins may be contained. Examples of the thermoplastic resin include acrylonitrile-butadiene copolymer (NBR), acrylonitrile-butadiene-styrene resin (ABS), polybutadiene, styrene-butadiene-ethylene resin (SEBS), polyvinyl butyral, polyamide, polyester, polyimide, polyamideimide, Examples thereof include polyurethane. Moreover, these thermoplastic resins may have a functional group capable of reacting with the aforementioned thermosetting resin. Specific examples include an amino group, a carboxyl group, an epoxy group, a hydroxyl group, an alkoxy group, an isocyanate group, a vinyl group, and a silanol group. These functional groups are preferable because the bond with the thermosetting resin becomes stronger and the heat resistance is improved. In addition, polyamide resin is also preferably used because of its good deterioration at high temperatures and good electrical characteristics. Various known polyamide resins can be used. In particular, it is preferable that the adhesive layer has flexibility and a dicarboxylic acid (so-called dimer acid) having a low water absorption carbon number of 36 as an essential component. Polyamide resin containing dimer acid is obtained by polycondensation of dimer acid and diamine by a conventional method. At this time, dicarboxylic acid other than dimer acid, azelaic acid, sebacic acid and the like is contained as a copolymerization component. Also good. Known diamines such as ethylenediamine, hexamethylenediamine, and piperazine can be used, and two or more diamines may be used in terms of hygroscopicity and solubility.

本発明の電子機器用接着剤組成物には、酸化防止剤を含有することが好ましい。接着剤膜を高温で長期放置すると、樹脂の架橋が徐々に進行し、接着剤膜が脆くなる現象が見られ、着色も生じる。特に二重結合を有するNBR等は、この様な熱による酸化劣化が見られやすい。そこで酸化防止剤を含有することにより、電子機器用接着剤組成物の長期耐熱後の膜の脆化や着色を防ぐことができる。該酸化防止剤は、e)フェノール系酸化防止剤、リン系酸化防止剤およびイオウ系酸化防止剤からなる群より選ばれる少なくとも1種が好ましい。これらの中でも、フェノール系酸化防止剤とリン系酸化防止剤、フェノール系酸化防止剤とイオウ系酸化防止剤の組み合わせが好適である。   The adhesive composition for electronic equipment of the present invention preferably contains an antioxidant. When the adhesive film is left at a high temperature for a long period of time, the cross-linking of the resin gradually proceeds, the phenomenon that the adhesive film becomes brittle, and coloring occurs. In particular, NBR having a double bond is likely to be oxidatively deteriorated by such heat. Therefore, by containing an antioxidant, embrittlement and coloring of the film after long-term heat resistance of the adhesive composition for electronic equipment can be prevented. The antioxidant is preferably at least one selected from the group consisting of e) a phenolic antioxidant, a phosphorus antioxidant, and a sulfur antioxidant. Among these, a combination of a phenolic antioxidant and a phosphorus antioxidant, and a combination of a phenolic antioxidant and a sulfur antioxidant is preferable.

熱の影響で生じる接着剤組成物の酸化劣化によって、接着剤組成物は着色する傾向がある。フェノール系酸化防止剤は、酸化反応において発生した過酸化物ラジカルを捕捉し、過酸化物に変換する作用を持つ。すなわち酸化反応におけるラジカル連鎖を停止しうる機能を持つ。ただし、変換された過酸化物は、熱によってラジカルに再分解され易い。そこで過酸化物を安定なアルコール系化合物へ変換させる機能を持つのが、リン系酸化防止剤およびイオウ系酸化防止剤である。従って、フェノール系酸化防止剤とリン系酸化防止剤、フェノール系酸化防止剤とイオウ系酸化防止剤の組み合わせで用いることが、熱による酸化劣化を防ぎ、接着剤組成物の着色防止により効果的である。   Due to the oxidative degradation of the adhesive composition caused by the influence of heat, the adhesive composition tends to be colored. The phenolic antioxidant has an action of capturing peroxide radicals generated in the oxidation reaction and converting them into peroxides. That is, it has a function capable of terminating the radical chain in the oxidation reaction. However, the converted peroxide is easily decomposed into radicals by heat. Therefore, phosphorus antioxidants and sulfur antioxidants have the function of converting peroxides into stable alcohol compounds. Therefore, using a combination of a phenol-based antioxidant and a phosphorus-based antioxidant, or a phenol-based antioxidant and a sulfur-based antioxidant is more effective in preventing oxidative deterioration due to heat and preventing coloring of the adhesive composition. is there.

また、本発明の電子機器用接着剤組成物において、着色防止効果の観点より、e)フェノール系酸化防止剤、リン系酸化防止剤およびイオウ系酸化防止剤からなる群より選ばれた少なくとも1種の酸化防止剤の含有量は、接着剤組成物全体の0.1〜5重量%であることが好ましい。   Moreover, in the adhesive composition for electronic equipment of the present invention, from the viewpoint of the anti-coloring effect, at least one selected from the group consisting of e) a phenolic antioxidant, a phosphorus antioxidant, and a sulfur antioxidant. The content of the antioxidant is preferably 0.1 to 5% by weight of the entire adhesive composition.

フェノール系酸化防止剤としては、2,6−ジ−t−ブチル−4−メチルフェノール(吉富製薬(株)製:ヨシノックスBHT)、2,2’−メチレンビス−(4−メチル−6−t−ブチルフェノール)(吉富製薬(株)製:ヨシノックス2246)、2,2’−メチレンビス−(4−エチル−6−t−ブチルフェノール)(吉富製薬(株)製:ヨシノックス425)、4,4’−ブチリデンビス−(3−メチル−6−t−ブチルフェノール)(吉富製薬(株)製:ヨシノックスBB)、1,3,5−トリメチル−2,4,6−トリス(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシベンジル)ベンゼン(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGANOX1330)、オクタデシル−3−(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGANOX1076)、ペンタエリスリトールテトラキス[3−(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート](チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGANOX1010)、トリス(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシベンジル)イソシアヌレート(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGANOX3114)、2,4−ビス[(オクチルチオ)メチル]−o−クレゾール(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGANOX1520L)、4,6−ビス(ドデシルチオメチル)−o−クレゾール(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGANOX1726)、2,4−ビス−(n−オクチルチオ)−6−(4−ヒドロキシ−3,5−ジ−t−ブチルアニリノ)−1,3,5−トリアジン(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGANOX565)、トリエチレングリコール−ビス[3−(3−t−ブチル−5−メチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート](チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGANOX245)、1,6−ヘキサンジオール−ビス[3−(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート](チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGANOX259)、イソオクチル−3−(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGANOX1135)、2,2−チオ−ジエチレンビス[3−(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネート](チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGANOX1035)、N,N’−ヘキサン−1,6−ジイルビス[3−(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオンアミド](チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGANOX1098)3,9−ビス{2−[3−(3−t−ブチル−4−ヒドロキシ−5−メチルフェニル)プロピオニルオキシ]−1,1−ジメチルエチル}−2,4,8,10−テトラオキサスピロ[5,5]ウンデカン((株)ADEKA製:アデカスタブAO−80)等が挙げられる。   As the phenolic antioxidant, 2,6-di-t-butyl-4-methylphenol (manufactured by Yoshitomi Pharmaceutical Co., Ltd .: Yoshinox BHT), 2,2′-methylenebis- (4-methyl-6-t-) Butylphenol) (Yoshitomi Pharmaceutical Co., Ltd .: Yoshinox 2246), 2,2′-methylenebis- (4-ethyl-6-t-butylphenol) (Yoshitomi Pharmaceutical Co., Ltd .: Yoshinox 425), 4,4′-butylidenebis -(3-Methyl-6-tert-butylphenol) (Yoshitomi Pharmaceutical Co., Ltd .: Yoshinox BB), 1,3,5-trimethyl-2,4,6-tris (3,5-di-tert-butyl- 4-hydroxybenzyl) benzene (manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd .: IRGANOX 1330), octadecyl-3- (3,5-di-t-butyl-4-hydroxy Enil) propionate (Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd .: IRGANOX 1076), pentaerythritol tetrakis [3- (3,5-di-t-butyl-4-hydroxyphenyl) propionate] (Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.) Manufactured by: IRGANOX 1010), tris (3,5-di-t-butyl-4-hydroxybenzyl) isocyanurate (manufactured by Ciba Specialty Chemicals: IRGANOX 3114), 2,4-bis [(octylthio) methyl]- o-Cresol (Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd .: IRGANOX1520L), 4,6-bis (dodecylthiomethyl) -o-Cresol (Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd .: IRGANOX 1726), 2,4-bis (N-octylthio) -6- (4-hydroxy-3,5-di-t-butylanilino) -1,3,5-triazine (manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd .: IRGANOX565), triethylene glycol-bis [3- (3-t-butyl-5-methyl-4-hydroxyphenyl) propionate] (manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd .: IRGANOX245), 1,6-hexanediol-bis [3- (3,5 -Di-t-butyl-4-hydroxyphenyl) propionate] (manufactured by Ciba Specialty Chemicals, Inc .: IRGANOX259), isooctyl-3- (3,5-di-t-butyl-4-hydroxyphenyl) propionate ( Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd .: IRGANOX 1135), 2, 2-thio-diethylenebis [3- (3,5-di-t-butyl-4-hydroxyphenyl) propionate] (manufactured by Ciba Specialty Chemicals: IRGANOX1035), N, N′-hexane-1, 6-diylbis [3- (3,5-di-t-butyl-4-hydroxyphenyl) propionamide] (manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd .: IRGANOX 1098) 3,9-bis {2- [3- ( 3-t-butyl-4-hydroxy-5-methylphenyl) propionyloxy] -1,1-dimethylethyl} -2,4,8,10-tetraoxaspiro [5,5] undecane (manufactured by ADEKA Corporation) : ADK STAB AO-80) and the like.

リン系酸化防止剤としては、トリス−(ノニルフェニル)−ホスファイト(大内新興化学工業(株)製:ノクラックTNP)、トリス(2,4−ジ−t−ブチルフェニル)ホスファイト(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGAFOS168)、トリス[2−[[2,4,8,10−テトラ−t−ブチルジベンゾ[d,f][1,3,2]ジオキサフォスフェフィン−6−イル]オキシ]エチル]アミン(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGAFOS12)、ビス[2,4−ビス(1,1−ジメチルエチル)−6−メチルフェニル]エチルエステル亜リン酸(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGAFOS38)、ビス(2,4−ジ−t−ブチルフェニル)ペンタエリスリトール−ジ−ホスファイト(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGAFOS126)、テトラキス(2,4−ジ−t−ブチルフェニル)[1,1−ビフェニル]−4,4’−ジイルビスホスフォナイト(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGAFOSP−EPQ)、ビス(2,6−ジ−t−ブチル−4−メチルフェニル)ペンタエリスリトール−ジ−ホスファイト((株)ADEKA製:アデカスタブPEP−36)、ジステアリルペンタエリスリトール−ジ−ホスファイト((株)ADEKA製:アデカスタブPEP−8)等が挙げられる。   Examples of phosphorus-based antioxidants include tris- (nonylphenyl) -phosphite (manufactured by Ouchi Shinsei Chemical Co., Ltd .: Nocrack TNP), tris (2,4-di-t-butylphenyl) phosphite (Ciba Specialty Chemicals, Inc .: IRGAFOS 168), Tris [2-[[2,4,8,10-tetra-t-butyldibenzo [d, f] [1,3,2] dioxaphosphine-6 -Il] oxy] ethyl] amine (manufactured by Ciba Specialty Chemicals: IRGAFOS12), bis [2,4-bis (1,1-dimethylethyl) -6-methylphenyl] ethyl ester phosphorous acid (Ciba・ Specialty Chemicals Co., Ltd .: IRGAFOS38), bis (2,4-di-t-butylphenyl) pentaerythritol-di-phosphine Ito (Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd .: IRGAFOS 126), tetrakis (2,4-di-t-butylphenyl) [1,1-biphenyl] -4,4′-diylbisphosphonite (Ciba Specialty) Chemicals, Inc .: IRGAFOSP-EPQ), bis (2,6-di-t-butyl-4-methylphenyl) pentaerythritol-di-phosphite (manufactured by ADEKA, Inc .: ADK STAB PEP-36), di Stearyl pentaerythritol-di-phosphite (manufactured by ADEKA: ADK STAB PEP-8) and the like can be mentioned.

イオウ系酸化防止剤としては、テトラキス[メチレン−3−(ドデシルチオ)プロピオネート]メタン((株)ADEKA製:アデカスタブAO−412S)、ビス[2−メチル−4−(3−n−アルキル(炭素数12〜14)チオプロピオニルオキシ)−5−t−ブチルフェニル]スルフィド((株)ADEKA製:アデカスタブAO−23)、ジラウリル−3,3’−チオジプロピオネート(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGANOXPS800FL)、ジミリスチル−3,3’−チオジプロピオネート(吉富製薬(株)製:DMTP)、ジステアリル−3,3’−チオジプロピオネート(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ(株)製:IRGANOXPS802FL)、2−メルカプトベンズイミダゾール(大内新興化学工業(株)製:ノクラックMB)、2−メルカプトメチルベンズイミダゾール(大内新興化学工業(株)製:ノクラックMMB)等が挙げられる。   As the sulfur-based antioxidant, tetrakis [methylene-3- (dodecylthio) propionate] methane (manufactured by ADEKA: Adeka Stab AO-412S), bis [2-methyl-4- (3-n-alkyl (carbon number)) 12-14) Thiopropionyloxy) -5-t-butylphenyl] sulfide (manufactured by ADEKA: ADK STAB AO-23), dilauryl-3,3′-thiodipropionate (Ciba Specialty Chemicals) Manufactured by: IRGANOXPS800FL), dimyristyl-3,3′-thiodipropionate (manufactured by Yoshitomi Pharmaceutical Co., Ltd .: DMTP), distearyl-3,3′-thiodipropionate (manufactured by Ciba Specialty Chemicals): IRGANOXPS802FL), 2-mercaptobenzimidazole (Shin Ouchi) Chemical Co., Ltd.: NOCRAC MB), 2-mercaptomethyl benzimidazole (Ouchi Shinko Chemical Industrial Co., Ltd.: NOCRAC MMB), and the like.

本発明の電子機器用接着剤組成物に無機質充填剤を含有することにより、耐リフロー性、打ち抜き性等の加工性、熱伝導性、難燃性を一層向上させることができる。無機質充填剤は接着剤の特性を損なうものでなければ特に限定されないが、その具体例としては、シリカ、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、窒化珪素、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、金、銀、銅、鉄、ニッケル、炭化珪素、窒化アルミニウム、窒化チタン、炭化チタン等が挙げられる。中でも、シリカ、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、窒化珪素、炭化珪素、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウムが好ましく用いられる。これらを単独または2種以上用いてもよい。中でも熱分解温度が300℃を大きく超えるため接着剤の耐リフロー性に有利である点、接着剤シートの流動性を調整しやすい点、粒径の安定性からシリカが特に好ましい。ここで、シリカは非晶、結晶のいずれであってもよく、それぞれのもつ特性に応じて適宜使いわけることを限定するものではない。これらの無機質充填剤に耐熱性、接着性等の向上を目的としてシランカップリング剤等を用いて表面処理を施してもよい。シランカップリング剤は後述のものを用いることができる。また、無機質充填剤の形状は特に限定されず、破砕系、球状、鱗片状などが用いられるが、塗料への分散性の点から球状が好ましく用いられる。無機質充填剤の粒径は特に限定されないが、分散性および塗工性、耐リフロー、サーマルサイクル性および本発明の接着シートを基材へラミネートした際の接続不良等の信頼性の点で、平均粒径3μm以下、最大粒径10μm以下のものが好ましく用いられる。また、流動性、分散性の点から平均粒径の異なる充填剤を併用すると一層効果的である。なお、粒径の測定は、堀場LA500レーザー回折式粒度分布計で測定することができる。ここでいう平均粒径とは、球相当体積を基準とした粒度分布を測定し、累積分布をパーセント(%)で表した時の50%に相当する粒子径(メジアン径)で定義される。ここで言う粒度分布は、体積基準で粒子径表示が56分割片対数表示(0.1〜200μm)するものとする。また、最大粒径は平均粒径で定義した粒度分布において、累積分布をパーセント(%)で表した時の100%に相当する粒子径で定義される。また、測定試料は、イオン交換水中に、白濁する程度に粒子を入れ、10分間超音波分散を行なったものとする。また、屈折率1.1、光透過度を基準値(約70%程度、装置内で既に設定されている)に合わせて測定を行う。無機質充填剤の含有量は、a)熱硬化性樹脂100重量部に対して、5重量部以上が好ましく、10重量部以上がより好ましい。また、200重量部以下が好ましく、150重量部以下がより好ましく、100重量部以下がさらに好ましい。無機質充填剤の含有量を5重量部以上とすることで、耐リフロー性の向上効果が得られ、200重量部以下とすることで、接着力を向上させることができる。   By including an inorganic filler in the adhesive composition for electronic devices of the present invention, processability such as reflow resistance and punching property, thermal conductivity, and flame retardancy can be further improved. The inorganic filler is not particularly limited as long as it does not impair the properties of the adhesive. Specific examples thereof include silica, aluminum oxide, magnesium oxide, silicon nitride, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, gold, silver, copper, Examples thereof include iron, nickel, silicon carbide, aluminum nitride, titanium nitride, and titanium carbide. Of these, silica, aluminum oxide, magnesium oxide, silicon nitride, silicon carbide, aluminum hydroxide, and magnesium hydroxide are preferably used. These may be used alone or in combination of two or more. Of these, silica is particularly preferable because it has a thermal decomposition temperature greatly exceeding 300 ° C., which is advantageous for the reflow resistance of the adhesive, the fluidity of the adhesive sheet can be easily adjusted, and the particle size stability. Here, the silica may be either amorphous or crystalline, and it is not limited that the silica can be properly used according to the characteristics of each. These inorganic fillers may be subjected to surface treatment using a silane coupling agent or the like for the purpose of improving heat resistance, adhesiveness and the like. The following silane coupling agents can be used. In addition, the shape of the inorganic filler is not particularly limited, and a crushing system, a spherical shape, a scale shape, and the like are used, but a spherical shape is preferably used from the viewpoint of dispersibility in the paint. The particle size of the inorganic filler is not particularly limited, but it is an average in terms of reliability such as dispersibility and coating property, reflow resistance, thermal cycle property and poor connection when the adhesive sheet of the present invention is laminated to a substrate. Those having a particle size of 3 μm or less and a maximum particle size of 10 μm or less are preferably used. In addition, it is more effective to use fillers having different average particle diameters in combination from the viewpoint of fluidity and dispersibility. The particle diameter can be measured with a Horiba LA500 laser diffraction particle size distribution meter. The average particle diameter here is defined by a particle diameter (median diameter) corresponding to 50% when a particle size distribution is measured with reference to a sphere equivalent volume and the cumulative distribution is expressed in percent (%). The particle size distribution referred to here is such that the particle size display is a 56-segment piece logarithm display (0.1 to 200 μm) on a volume basis. The maximum particle size is defined by a particle size corresponding to 100% when the cumulative distribution is expressed in percent (%) in the particle size distribution defined by the average particle size. In addition, the measurement sample is obtained by putting particles in ion-exchanged water so as to become cloudy and performing ultrasonic dispersion for 10 minutes. In addition, the refractive index is 1.1 and the light transmittance is measured according to a reference value (about 70%, which is already set in the apparatus). The content of the inorganic filler is preferably 5 parts by weight or more, and more preferably 10 parts by weight or more with respect to 100 parts by weight of a) thermosetting resin. Moreover, 200 weight part or less is preferable, 150 weight part or less is more preferable, and 100 weight part or less is further more preferable. By making content of an inorganic filler into 5 weight part or more, the improvement effect of reflow resistance is acquired, and adhesive force can be improved by being 200 weight part or less.

本発明の電子機器用接着剤組成物にシランカップリング剤を含有することにより、銅をはじめとした種々の金属やガラスエポキシ基板等のリジッド基板などとの接着力の向上を計ることができる。シランカップリング剤としては、例えば下記一般式(4)で表されるものが挙げられる。   By including a silane coupling agent in the adhesive composition for electronic equipment of the present invention, it is possible to improve the adhesive force with various metals including copper and rigid substrates such as glass epoxy substrates. Examples of the silane coupling agent include those represented by the following general formula (4).

Figure 2008063551
Figure 2008063551

Xはそれぞれ同じでも異なっていてもよく、ビニル基、エポキシ基、スチリル基、アクリロキシ基、アミノ基、メタクリル基、メルカプト基、イソシアネート基およびそれらの少なくとも一つの官能基で置換された炭素数1〜6のアルキル基から選ばれる。その中でも、接着性の点からアミノ基、エポキシ基を含有しているものが好ましい。R11はCH、C、CHOCの中から選ばれ、その中でも、メチル基、エチル基が好ましい。 X's may be the same or different and each has 1 to 1 carbon atoms substituted with a vinyl group, an epoxy group, a styryl group, an acryloxy group, an amino group, a methacryl group, a mercapto group, an isocyanate group and at least one functional group thereof. Selected from 6 alkyl groups. Among them, those containing an amino group or an epoxy group are preferable from the viewpoint of adhesiveness. R 11 is selected from CH 3 , C 2 H 5 , and CH 3 OC 2 H 4 , and among them, a methyl group and an ethyl group are preferable.

以上の成分以外に、接着剤の特性を損なわない範囲で、微粒子状の有機成分または無機成分、イオン捕捉剤などを含有することは何ら制限されるものではない。   In addition to the above components, it is not limited at all to contain fine organic or inorganic components, ion scavengers and the like within a range that does not impair the properties of the adhesive.

微粒子状の無機成分としては、酸化ジルコニウム、酸化亜鉛、酸化チタン、酸化鉄、酸化コバルト、酸化クロム、タルク等の金属酸化物、炭酸カルシウム等の無機塩、アルミニウムなどの金属微粒子、あるいはカーボンブラック、ガラスが挙げられる。また、LED等の光半導体分野において用いられる蛍光体なども含有することができる。微粒子状の有機成分としてはスチレン、NBRゴム、アクリルゴム、ポリアミド、ポリイミド、シリコーン等の架橋ポリマーが例示される。   Examples of fine inorganic components include zirconium oxide, zinc oxide, titanium oxide, iron oxide, cobalt oxide, chromium oxide, inorganic oxides such as talc, inorganic salts such as calcium carbonate, metal fine particles such as aluminum, carbon black, Glass is mentioned. Moreover, the fluorescent substance etc. which are used in optical semiconductor fields, such as LED, can also be contained. Examples of the fine particle organic component include crosslinked polymers such as styrene, NBR rubber, acrylic rubber, polyamide, polyimide, and silicone.

イオン捕捉剤としては無機イオン交換体が多く使われる。無機イオン交換体は、(i)イオン選択性が大きく、2種以上のイオンが共存する系より特定のイオンを分離することができる、(ii)耐熱性に優れる、(iii)有機溶剤、樹脂に対して安定である、(iv)耐酸化性に優れることから、イオン性不純物の捕捉に有効であり、絶縁抵抗の低下抑制、アルミ配線の腐食防止、エレクトロマイグレーションの発生防止などが期待できる。種類は非常に多く、a)アルミノケイ酸塩(天然ゼオライト、合成ゼオライト等)、b)水酸化物または含水酸化物(含水酸化チタン、含水酸化ビスマス等)、c)酸性塩(リン酸ジルコニウム、リン酸チタン等)、d)塩基性塩、複合含水酸化物(ハイドロタルサイト類等)、e)ヘテロポリ酸類(モリブドリン酸アンモニウム等)、f)ヘキサシアノ鉄(III)塩等(ヘキサシアノ亜鉛等)、g)酸化アンチモン、h)その他、等に分類できる。商品名としては、東亜合成(株)のIXE−100、IXE−300、IXE−500、IXE−530、IXE−550、IXE−600、IXE−633、IXE−700、IXE−700F、IXE−800が挙げられる。陽イオン交換体、陰イオン交換体、両イオン交換体があるが、接着剤組成物中には陽、陰両方のイオン性不純物が存在することから、両イオン交換体が好ましい。これらを使用することにより、絶縁層用途で使用した場合、配線のマイグレーションを防ぐと共に、絶縁抵抗低下を抑制することができる。   Inorganic ion exchangers are often used as ion scavengers. Inorganic ion exchangers (i) have high ion selectivity and can separate specific ions from a system in which two or more ions coexist, (ii) excellent heat resistance, (iii) organic solvents and resins (Iv) It is effective in trapping ionic impurities, and can be expected to suppress reduction in insulation resistance, prevent corrosion of aluminum wiring, prevent occurrence of electromigration, and the like. There are many types, a) aluminosilicate (natural zeolite, synthetic zeolite, etc.), b) hydroxide or hydrous oxide (hydrous titanium oxide, hydrous bismuth oxide etc.), c) acid salt (zirconium phosphate, phosphorus Titanium oxide, etc.), d) basic salts, complex hydrous oxides (hydrotalcite, etc.), e) heteropoly acids (ammonium molybdate, etc.), f) hexacyanoiron (III) salts, etc. (hexacyanozinc, etc.), g ) Antimony oxide, h) other, etc. Product names include IXE-100, IXE-300, IXE-500, IXE-530, IXE-550, IXE-600, IXE-633, IXE-700, IXE-700F, IXE-800 from Toa Gosei Co., Ltd. Is mentioned. There are cation exchangers, anion exchangers, and both ion exchangers, but both ion exchangers are preferred because both positive and negative ionic impurities are present in the adhesive composition. By using these, when used for an insulating layer, it is possible to prevent migration of wiring and suppress a decrease in insulation resistance.

これらの成分は単独または2種以上用いてもよい。微粒子状の成分の平均粒子径は分散安定性を考慮すると、0.2〜5μmが好ましい。また、上記各成分の含有量は、a)熱硬化性樹脂100重量部に対して、0.1重量部以上が好ましく、0.5重量部以上がより好ましい。また、50重量部以下が好ましく、30重量部以下がより好ましく、10重量部以下がさらに好ましい。   These components may be used alone or in combination of two or more. In view of dispersion stability, the average particle size of the fine particle component is preferably 0.2 to 5 μm. Moreover, 0.1 weight part or more is preferable with respect to 100 weight part of a) thermosetting resin, and, as for content of said each component, 0.5 weight part or more is more preferable. Moreover, 50 weight part or less is preferable, 30 weight part or less is more preferable, and 10 weight part or less is further more preferable.

本発明の電子機器用接着剤シート(以下、接着剤シートという)は、本発明の電子機器用接着剤組成物からなる接着剤層と、少なくとも1層の剥離可能な保護フィルム層を有するものをいう。例えば、保護フィルム層/接着剤層の2層構成、あるいは図2に示す保護フィルム層/接着剤層/保護フィルム層の3層構成がこれに該当する。接着剤層、保護フィルム層以外の層を有してもよく、例えば、接着剤層/ポリイミドフィルム/接着剤層などの構成が挙げられる。接着剤シートは加熱処理により硬化度を調節してもよい。硬化度の調節は、接着剤シートを配線基板あるいはICに接着する際の接着剤のフロー過多を防止するとともに、加熱硬化時の水分による発泡を防止する効果がある。接着剤層の厚みは、弾性率および線膨張係数との関係で適宜選択できるが、2〜500μmが好ましく、より好ましくは20〜200μmである。   The adhesive sheet for electronic devices of the present invention (hereinafter referred to as an adhesive sheet) has an adhesive layer made of the adhesive composition for electronic devices of the present invention and at least one peelable protective film layer. Say. For example, a two-layer structure of protective film layer / adhesive layer or a three-layer structure of protective film layer / adhesive layer / protective film layer shown in FIG. You may have layers other than an adhesive bond layer and a protective film layer, for example, structures, such as an adhesive bond layer / polyimide film / adhesive layer, are mentioned. The adhesive sheet may be adjusted in degree of curing by heat treatment. The adjustment of the curing degree has an effect of preventing excessive flow of the adhesive when adhering the adhesive sheet to the wiring board or IC, and preventing foaming due to moisture during heat curing. Although the thickness of an adhesive bond layer can be suitably selected by the relationship with an elasticity modulus and a linear expansion coefficient, 2-500 micrometers is preferable, More preferably, it is 20-200 micrometers.

ここでいう保護フィルム層とは、絶縁体層および導体パターンからなる配線基板層(TABテープ等)あるいは導体パターンが形成されていない層(スティフナー等)に接着剤層を貼り合わせる前に、接着剤層の形態および機能を損なうことなく剥離できれば特に限定されないが、たとえばポリエステル、ポリオレフィン、ポリフェニレンスルフィド、ポリ塩化ビニル、ポリテトラフルオロエチレン、ポリフッ化ビニリデン、ポリフッ化ビニル、ポリビニルブチラール、ポリ酢酸ビニル、ポリビニルアルコール、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリイミド、ポリメチルメタクリレート、シリコーンゴム等のプラスチックフィルム、これらにシリコーンあるいはフッ素化合物等の離型剤のコーティング処理を施したフィルムおよびこれらのフィルムをラミネートした紙、離型性のある樹脂を含浸あるいはコーティングした紙等が挙げられる。保護フィルム層は着色されているとさらに好ましい。保護フィルムを剥離したかどうか目で見て確認することができるため、剥がし忘れを防ぐことができる。   The protective film layer as used herein refers to an adhesive before bonding an adhesive layer to a wiring board layer (TAB tape or the like) composed of an insulator layer and a conductor pattern or a layer (stiffener or the like) where no conductor pattern is formed. Although it will not specifically limit if it can peel without impairing the form and function of a layer, For example, polyester, polyolefin, polyphenylene sulfide, polyvinyl chloride, polytetrafluoroethylene, polyvinylidene fluoride, polyvinyl fluoride, polyvinyl butyral, polyvinyl acetate, polyvinyl alcohol Plastic films such as polycarbonate, polyamide, polyimide, polymethyl methacrylate, silicone rubber, etc., films obtained by coating these with a release agent such as silicone or fluorine compound, and these films Paper laminated with Lum, paper and the like impregnated or coated with a releasing property of a certain resin. More preferably, the protective film layer is colored. Since it can be confirmed visually whether the protective film has been peeled off, forgetting to peel off can be prevented.

接着剤層の両面に保護フィルム層を有する場合、それぞれの保護フィルム層の接着剤層に対する剥離力をF、F(F>F)としたとき、F−Fは好ましくは5Nm−1以上、さらに好ましくは15Nm−1以上である。この範囲にすることで、保護フィルム層を片側ずつ安定して剥離することができる。剥離力F、Fはいずれも好ましくは1〜200Nm−1 、さらに好ましくは3〜100Nm−1である。1Nm−1より低い場合は保護フィルム層の脱落が生じ、200Nm−1を超えると剥離が不安定であり、接着剤層が損傷する場合があり、いずれも好ましくない。ここで、保護フィルム層の接着剤層に対する剥離力とは、以下の方法で測定した値をいう。接着剤層の両面に保護フィルム層を有する接着剤シート(試験片サイズは30×200mm)を準備し、重剥離保護フィルム層側を下にして平面ガラス台の上に両面テープで貼り付ける。デジタルフォースゲージ(携帯型電子式バネ秤)を用い、軽剥離保護フィルム層を90°方向に引き剥がし、その際のゲージ値を軽剥離保護フィルム層剥離力(F)とする。続いて接着剤層単膜を同様に90°方向に引き剥がし、その際のゲージ値を重剥離保護フィルム層剥離力(F)とする。引き剥がし速度は350mm/分として測定した。 When the protective film layers are provided on both surfaces of the adhesive layer, when the peeling force of each protective film layer to the adhesive layer is F 1 and F 2 (F 1 > F 2 ), F 1 -F 2 is preferably It is 5 Nm −1 or more, more preferably 15 Nm −1 or more. By setting it as this range, a protective film layer can be peeled stably one side at a time. The peeling forces F 1 and F 2 are preferably 1 to 200 Nm −1 , more preferably 3 to 100 Nm −1 . When it is lower than 1 Nm −1 , the protective film layer falls off, and when it exceeds 200 Nm −1 , peeling is unstable and the adhesive layer may be damaged. Here, the peeling force with respect to the adhesive layer of a protective film layer means the value measured with the following method. An adhesive sheet having a protective film layer on both sides of the adhesive layer (test piece size is 30 × 200 mm) is prepared, and the double peeled protective film layer side is attached to a flat glass table with a double-sided tape. Using a digital force gauge (portable electronic spring balance), the light release protective film layer is peeled off in the 90 ° direction, and the gauge value at that time is defined as the light release protective film layer peeling force (F 2 ). Subsequently, the adhesive layer single film is similarly peeled off in the 90 ° direction, and the gauge value at that time is defined as the heavy peel protective film layer peel force (F 1 ). The peeling rate was measured as 350 mm / min.

また、本発明の接着剤シートにおいて、接着剤層の加熱後のシェア強度が好ましくは5MPa以上、さらに好ましくは10MPa以上であると好適である。加熱後のシェア強度が5MPa以上であると、パッケージの取扱時、リフロー時に剥離を生じにくいので好ましい。また、サーマルサイクル試験前後のシェア強度保持率は、60%以上が好ましく、さらに好ましくは80%以上である。この範囲であれば取扱時に脱落が生じない。このようなシェア強度を有する接着剤層を得るためには、例えば、d)炭素数1〜8の側鎖を有するアクリル酸エステルおよび/またはメタクリル酸エステルを必須共重合成分とする共重合体として、GPC(gel permeation chromatography)による重量平均分子量が好ましくは30万以上、より好ましくは50万以上、さらに好ましくは100万以上である共重合体を含有することが好ましい。さらに、これらの共重合体についても前述の熱硬化性樹脂との反応が可能な官能基を有しているとより好ましい。具体的には、アミノ基、カルボキシル基、エポキシ基、水酸基、アルコキシ基、イソシアネート基、ビニル基、シラノール基等である。さらにこの場合、官能基としてカルボキシル基および/または水酸基を有する共重合体に、他の官能基を有する共重合体を混合して用いるとさらに好ましい。ここで、シェア強度は、西進商事(株)製 ボンドテスターMODEL SS−30WD(ロードセル50kg)を使用し、速度0.120mm/秒の条件で室温にて測定できる。具体的には、図3に示すように、評価用パターンテープ(14)の裏面に、130℃、0.5MPa、0.3m/分の条件で本発明の接着剤シートをラミネートした後、保護フィルム層を剥離し、2mm角シリコーンウエハのポリイミドコーティング面を130℃、3MPa、10秒の条件で接着剤層(13)に加熱圧着する。引き続き、エアオーブン中で150℃で2時間加熱硬化処理を行い、得られたサンプルのシェア強度を前記条件で測定する。ここで、シリコーンウエハはダミーウエハ鏡面にポリイミドコーティング剤(東レ(株)製:SP341)で表面をコーティングし、350℃で1時間硬化させたものを使用する。   In the adhesive sheet of the present invention, the shear strength after heating of the adhesive layer is preferably 5 MPa or more, more preferably 10 MPa or more. It is preferable that the shear strength after heating is 5 MPa or more because peeling is unlikely to occur at the time of handling and handling the package. Further, the shear strength retention before and after the thermal cycle test is preferably 60% or more, and more preferably 80% or more. If it is this range, it will not drop out during handling. In order to obtain an adhesive layer having such a shear strength, for example, d) As a copolymer having an acrylic acid ester and / or methacrylic acid ester having a side chain having 1 to 8 carbon atoms as an essential copolymerization component It is preferable to contain a copolymer having a weight average molecular weight by GPC (gel permeation chromatography) of preferably 300,000 or more, more preferably 500,000 or more, and still more preferably 1,000,000 or more. Furthermore, it is more preferable that these copolymers have a functional group capable of reacting with the above-described thermosetting resin. Specific examples include an amino group, a carboxyl group, an epoxy group, a hydroxyl group, an alkoxy group, an isocyanate group, a vinyl group, and a silanol group. In this case, it is more preferable to use a copolymer having a carboxyl group and / or a hydroxyl group as a functional group in combination with a copolymer having another functional group. Here, the shear strength can be measured at room temperature using a bond tester MODEL SS-30WD (load cell 50 kg) manufactured by Seishin Shoji Co., Ltd. at a speed of 0.120 mm / sec. Specifically, as shown in FIG. 3, the adhesive sheet of the present invention was laminated on the back surface of the evaluation pattern tape (14) under the conditions of 130 ° C., 0.5 MPa, 0.3 m / min, and then protected. The film layer is peeled off, and the polyimide coating surface of the 2 mm square silicone wafer is heated and pressure-bonded to the adhesive layer (13) at 130 ° C., 3 MPa, and 10 seconds. Subsequently, heat curing is performed in an air oven at 150 ° C. for 2 hours, and the shear strength of the obtained sample is measured under the above conditions. Here, a silicone wafer is used in which a dummy wafer mirror surface is coated with a polyimide coating agent (manufactured by Toray Industries, Inc .: SP341) and cured at 350 ° C. for 1 hour.

本発明の接着剤シートの接着剤層を150℃で1時間加熱硬化した後のヘイズ値は15以下が好ましく、より好ましくは5以下である。15以下であれば光半導体、例えばLEDランプ、チップLED、半導体レーザー、フォトカメラ、フォトダイオードなどで使用される場合、効率よく光源からの光を取り入れることができる。さらに、150℃で1時間加熱硬化した後の接着剤層のヘイズが15以下であり、150℃で1時間加熱硬化後、さらに150℃で500時間加熱した後の接着剤層のヘイズが30以下であることがより好ましい。高温で長時間経過した時のヘイズ変化が少ないことで、先述したように効率よく光源からの光を取り入れることができるからである。ヘイズは厚みに影響されることもあるが、本発明においては、接着剤層の厚みに関わらず、接着剤層全体として上述のヘイズ値を満たすものが好ましい。なお本発明におけるヘイズは、透明性(曇価)の指標として用いている。ここでいうヘイズは、表面の凹凸による散乱の影響を除いたものであり、接着剤表面が平滑でない場合はガラス板に貼り合わせて測定する。測定方法については、JISK7105(1981)に準ずる。このような特性を有する接着剤層を得る方法としては、例えば、熱硬化性樹脂として脂環式エポキシ樹脂を含み、硬化剤として酸無水物硬化剤を含むものが挙げられる。また、このような用途では、上述のような理由で透明性に加えて着色しないことが重要となる。加熱硬化は通常はエアオーブン中で行われるが、高温で長期間保管した後の接着剤層の着色変化が少ない点から、窒素雰囲気下で加熱硬化することが好ましい。   As for the haze value after heat-hardening the adhesive bond layer of the adhesive sheet of this invention at 150 degreeC for 1 hour, 15 or less are preferable, More preferably, it is 5 or less. If it is 15 or less, when used in an optical semiconductor such as an LED lamp, a chip LED, a semiconductor laser, a photo camera, and a photodiode, light from the light source can be efficiently taken. Furthermore, the haze of the adhesive layer after heat curing at 150 ° C. for 1 hour is 15 or less, the haze of the adhesive layer after heating and curing at 150 ° C. for 1 hour, and further heated at 150 ° C. for 500 hours is 30 or less. It is more preferable that This is because the light from the light source can be taken in efficiently as described above because the change in haze at a high temperature for a long time is small. Although the haze may be affected by the thickness, in the present invention, it is preferable that the entire adhesive layer satisfies the above-described haze value regardless of the thickness of the adhesive layer. In addition, the haze in this invention is used as a parameter | index of transparency (cloudiness value). Haze here excludes the influence of the scattering by the unevenness | corrugation of a surface, and when the adhesive agent surface is not smooth, it bonds together and measures on a glass plate. About a measuring method, it applies to JISK7105 (1981). As a method for obtaining an adhesive layer having such characteristics, for example, an adhesive layer containing an alicyclic epoxy resin as a thermosetting resin and an acid anhydride curing agent as a curing agent can be mentioned. In such applications, it is important not to be colored in addition to transparency for the reasons described above. Heat curing is usually performed in an air oven, but it is preferable to perform heat curing in a nitrogen atmosphere from the viewpoint that there is little color change of the adhesive layer after long-term storage at a high temperature.

本発明の接着剤シートの接着剤層を150℃で1時間加熱硬化した後の波長330nm〜2000nm領域での透過率はいずれの波長においても70%以上であることが好ましく、より好ましくは80%以上、さらに好ましくは85%以上である。低波長領域から高波長領域での透過率が70%以上であることにより、効率よく光源からの光を取り入れることができ、高透過率が必要とされるLED封止用途、センサー用途で有用である。さらに、接着剤層を150℃で1時間加熱硬化した後の波長330nm〜2000nm領域での透過率がいずれの波長においても70%以上であり、150℃で1時間加熱硬化後、さらに紫外光を放射照度81mW/cmで88時間照射した後の波長330nm〜2000nm領域での透過率がいずれの波長においても70%以上であるこが好ましく、より好ましくは80%以上、さらに好ましくは85%以上である。例えばLED封止用途に用いる場合、紫外光を変換する方式を用いて白色化する場合には、紫外光が封止剤に何万時間もの間照射される。その場合、経時的に透過率が低下すると光源から効率よく光を取り入れることができなくなるため信頼性が低下するが、UV照射後の透過率が70%以上であることにより高信頼性を得ることができる。本発明においては、接着剤層の厚みに関わらず、接着剤層全体として上述の透過率を満たすものが好ましい。このような接着剤層を得るためには、a)熱硬化性樹脂として脂環式エポキシ樹脂、b)硬化剤として酸無水物硬化剤を含有することが好ましい。 The transmittance in the wavelength range of 330 nm to 2000 nm after the adhesive layer of the adhesive sheet of the present invention is heated and cured at 150 ° C. for 1 hour is preferably 70% or more, more preferably 80% at any wavelength. More preferably, it is 85% or more. Since the transmittance from the low wavelength region to the high wavelength region is 70% or more, the light from the light source can be taken in efficiently, which is useful for LED sealing applications and sensor applications that require high transmittance. is there. Furthermore, the transmittance in the wavelength range of 330 nm to 2000 nm after the adhesive layer is heat-cured at 150 ° C. for 1 hour is 70% or more at any wavelength, and after heat-curing at 150 ° C. for 1 hour, ultraviolet light is further emitted. The transmittance in the wavelength range of 330 nm to 2000 nm after irradiation for 88 hours at an irradiance of 81 mW / cm 2 is preferably 70% or more at any wavelength, more preferably 80% or more, and even more preferably 85% or more. is there. For example, when used for LED sealing applications, when whitening is performed using a system that converts ultraviolet light, the ultraviolet light is irradiated onto the sealant for tens of thousands of hours. In that case, if the transmittance decreases with time, it becomes impossible to efficiently take light from the light source, so the reliability decreases. However, the transmittance after UV irradiation is 70% or more, so that high reliability is obtained. Can do. In the present invention, it is preferable that the adhesive layer as a whole satisfies the above-described transmittance regardless of the thickness of the adhesive layer. In order to obtain such an adhesive layer, it is preferable that a) an alicyclic epoxy resin as a thermosetting resin and b) an acid anhydride curing agent as a curing agent.

本発明における電子部品とは、本発明の接着剤シートを用いて作製されるものをいい、例えば半導体集積回路接続用基板が挙げられる。図1に、本発明の電子部品を使用した例としてBGA方式の半導体装置の一態様の断面図を示す。半導体集積回路接続用基板とは、ベアチップの電極パッドとパッケージの外部(プリント基板、TABテープ等)を接続するための導体パターンを有する層であり、絶縁体層(3)の片面または両面に導体パターン(4)が形成されているものである。ここでいう絶縁体層は、ポリイミド、ポリエステル、ポリフェニレンスルフィド、ポリエーテルスルホン、ポリエーテルエーテルケトン、アラミド、ポリカーボネート、ポリアリレート等のプラスチックあるいはエポキシ樹脂含浸ガラスクロス等の複合材料からなる、厚さ10〜125μmの可撓性を有する絶縁性フィルム、アルミナ、ジルコニア、ソーダガラス、石英ガラス等のセラミック基板が好適であり、これらから選ばれる複数の層を積層して用いてもよい。また必要に応じて、絶縁体層に、加水分解、コロナ放電、低温プラズマ、物理的粗面化、易接着コーティング処理等の表面処理を施すことができる。   The electronic component in the present invention refers to an electronic component manufactured using the adhesive sheet of the present invention, for example, a semiconductor integrated circuit connection substrate. FIG. 1 shows a cross-sectional view of one embodiment of a BGA type semiconductor device as an example using the electronic component of the present invention. The substrate for connecting a semiconductor integrated circuit is a layer having a conductor pattern for connecting an electrode pad of a bare chip and the outside of the package (printed circuit board, TAB tape, etc.), and a conductor is provided on one or both sides of the insulator layer (3). A pattern (4) is formed. The insulator layer here is made of a composite material such as polyimide, polyester, polyphenylene sulfide, polyethersulfone, polyetheretherketone, aramid, polycarbonate, polyarylate, or a plastic or epoxy resin-impregnated glass cloth. A ceramic substrate such as an insulating film having a flexibility of 125 μm, alumina, zirconia, soda glass, and quartz glass is suitable, and a plurality of layers selected from these may be laminated and used. If necessary, the insulator layer can be subjected to surface treatment such as hydrolysis, corona discharge, low-temperature plasma, physical roughening, and easy adhesion coating treatment.

導体パターンの形成は、一般にサブトラクティブ法あるいはアディティブ法のいずれかで行なわれるが、本発明ではいずれを用いてもよい。サブトラクティブ法では、該絶縁体層に銅箔等の金属板を絶縁性接着剤(本発明の接着剤組成物も用いることができる。)により接着するか、あるいは金属板に該絶縁体層の前駆体を積層し、加熱処理などにより絶縁体層を形成する方法で作製した材料を、薬液処理でエッチングすることによりパターン形成する。ここでいう材料として具体的には、リジッドあるいはフレキシブルプリント基板用銅張り材料やTABテープを例示することができる。一方、アディティブ法では、該絶縁体層に無電解メッキ、電解メッキ、スパッタリング等により直接導体パターンを形成する。いずれの場合も、形成された導体に腐食防止のため耐食性の高い金属がメッキされていてもよい。このようにして作成された配線基板層には必要によりビアホールが形成され、メッキにより両面に形成された導体パターン間がメッキにより接続されていてもよい。   The conductor pattern is generally formed by either the subtractive method or the additive method, but any of them may be used in the present invention. In the subtractive method, a metal plate such as a copper foil is bonded to the insulator layer with an insulating adhesive (the adhesive composition of the present invention can also be used), or the insulator layer is bonded to the metal plate. A pattern is formed by etching a material prepared by a method in which precursors are stacked and an insulator layer is formed by heat treatment or the like by chemical treatment. Specific examples of the material herein include a rigid or copper-clad material for a flexible printed circuit board and a TAB tape. On the other hand, in the additive method, a conductor pattern is directly formed on the insulator layer by electroless plating, electrolytic plating, sputtering, or the like. In either case, the formed conductor may be plated with a metal having high corrosion resistance to prevent corrosion. The wiring board layer thus prepared may be provided with via holes as necessary, and the conductive patterns formed on both surfaces by plating may be connected by plating.

接着剤層(2)は、配線基板層(5)と半導体集積回路(1)の接着に主として用いられる接着剤層である。しかし、配線基板層と他の部材(たとえばICと放熱板等)との接着に用いることは何等制限されない。この接着剤層は半導体集積回路接続用基板に半硬化状態で積層される場合が通常であり、積層前あるいは積層後に30〜200℃の温度で適当な時間予備硬化反応を行なわせて硬化度を調節することができる。   The adhesive layer (2) is an adhesive layer mainly used for bonding the wiring board layer (5) and the semiconductor integrated circuit (1). However, it is not limited at all to be used for adhesion between the wiring board layer and other members (for example, an IC and a heat sink). This adhesive layer is usually laminated in a semi-cured state on a substrate for connecting a semiconductor integrated circuit. A pre-curing reaction is carried out at a temperature of 30 to 200 ° C. for an appropriate time before or after the lamination to increase the degree of curing. Can be adjusted.

次に本発明の電子機器用接着剤組成物を用いた電子機器用接着剤シートおよび電子部品の製造方法の例について説明する。   Next, the example of the manufacturing method of the adhesive sheet for electronic devices using the adhesive composition for electronic devices of this invention and an electronic component is demonstrated.

(1)電子機器用接着剤シート
(a)本発明の電子機器用接着剤組成物を溶剤に溶解した塗料を、離型性を有するポリエステルフィルム上に塗布、乾燥する。接着剤層の膜厚は10〜200μmが好ましい。乾燥条件は、100〜200℃、1〜5分が一般的である。溶剤は特に限定されないが、トルエン、キシレン、クロルベンゼン等の芳香族系、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等のケトン系、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、Nメチルピロリドン等の非プロトン系極性溶剤単独あるいは混合物が好適である。
(1) Adhesive sheet for electronic equipment (a) A paint obtained by dissolving the adhesive composition for electronic equipment of the present invention in a solvent is applied onto a polyester film having releasability and dried. The thickness of the adhesive layer is preferably 10 to 200 μm. The drying conditions are generally 100 to 200 ° C. and 1 to 5 minutes. Solvents are not particularly limited, but aromatics such as toluene, xylene and chlorobenzene, ketones such as methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone, and aprotic polar solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide and N-methylpyrrolidone alone or a mixture are preferred. It is.

(b)(a)のフィルムに上記よりさらに剥離強度の弱い離型性を有するポリエステルあるいはポリオレフィン系の保護フィルム層をラミネートして本発明の接着剤シートを得る。さらに接着剤厚みを増す場合は、該接着剤層を複数回積層すればよい。単膜以外にポリイミド等の絶縁性フィルムが積層された複合構造を作製する場合も、上述のように接着剤シートを絶縁性フィルムに積層するかもしくは、絶縁性フィルムの両面に直接コーティングして作製してもよい。ラミネート後に、たとえば30〜70℃で20〜200時間程度熱処理して硬化度を調節してもよい。   (B) The adhesive sheet of the present invention is obtained by laminating a polyester or polyolefin-based protective film layer having a releasability with a lower peel strength than the above to the film of (a). In order to further increase the adhesive thickness, the adhesive layer may be laminated a plurality of times. Even when producing a composite structure in which an insulating film such as polyimide is laminated in addition to a single film, the adhesive sheet is laminated on the insulating film as described above, or it is produced by directly coating both surfaces of the insulating film. May be. After lamination, for example, the degree of curing may be adjusted by heat treatment at 30 to 70 ° C. for about 20 to 200 hours.

(2)電子部品
(a)TAB用接着剤付きテープに12〜35μmの電解銅箔を、130〜170℃、0.1〜0.5MPaの条件でラミネートし、続いてエアオーブン中で80〜170℃、の順次加熱キュア処理を行い、銅箔付きTAB用テープを作製する。得られた銅箔付きTAB用テープの銅箔面に常法によりフォトレジスト膜形成、エッチング、レジスト剥離、電解ニッケルメッキ、電解金メッキ、ソルダーレジスト膜作製をそれぞれ行い、配線基板を作製する。
(2) Electronic component (a) 12-35 μm electrolytic copper foil is laminated on a tape with adhesive for TAB under the conditions of 130-170 ° C., 0.1-0.5 MPa, and then 80- A TAB tape with a copper foil is produced by sequentially heating and curing at 170 ° C. Photoresist film formation, etching, resist stripping, electrolytic nickel plating, electrolytic gold plating, and solder resist film fabrication are performed on the copper foil surface of the obtained TAB tape with copper foil by a conventional method to fabricate a wiring board.

(b)(a)の配線基板に、(1)で得られた電子機器用接着剤シートを加熱圧着し、さらに接着剤シートの反対面にICを加熱圧着する。この状態で120〜180℃の加熱硬化を行う。加熱硬化は通常エアオーブン中で行う。   (B) The electronic device adhesive sheet obtained in (1) is thermocompression bonded to the wiring board of (a), and the IC is thermocompression bonded to the opposite surface of the adhesive sheet. In this state, heat curing at 120 to 180 ° C. is performed. Heat curing is usually performed in an air oven.

(c)ICと配線基板を150〜250℃、100〜150kHz程度の条件でワイヤーボンディング接続した後、樹脂封止する。   (C) After the IC and the wiring board are connected by wire bonding under conditions of about 150 to 250 ° C. and about 100 to 150 kHz, they are sealed with resin.

(d)最後にハンダボールをリフローにて搭載し、本発明の電子部品を得ることができる。   (D) Finally, a solder ball can be mounted by reflow to obtain the electronic component of the present invention.

以下に実施例を挙げて本発明を説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。実施例の説明に入る前に評価用サンプル作製方法と評価方法について述べる。   EXAMPLES The present invention will be described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples. Prior to the description of the examples, an evaluation sample preparation method and an evaluation method will be described.

(1)評価用サンプル作製:TAB用接着剤付きテープ(#7100、(タイプ31N0−00FS)、東レ(株)製)に18μmの電解銅箔を、140℃、0.3MPa、0.3m/分の条件でラミネートした。続いてエアオーブン中で80℃で3時間、100℃で5時間、150℃で5時間の順次加熱キュア処理を行い、銅箔付きTAB用テープを作製した。得られた銅箔付きTAB用テープの銅箔面に常法によりフォトレジスト膜形成、エッチング、レジスト剥離を行い、導体幅25μm、導体間距離25μmのくし形状導体パターンを持つ、評価用パターンテープを作製した。   (1) Sample preparation for evaluation: 18 μm electrolytic copper foil was applied to a tape with adhesive for TAB (# 7100, (type 31N0-00FS), manufactured by Toray Industries, Inc.) at 140 ° C., 0.3 MPa, 0.3 m / Laminate on the condition of minutes. Subsequently, a heat-curing treatment was sequentially performed in an air oven at 80 ° C. for 3 hours, at 100 ° C. for 5 hours, and at 150 ° C. for 5 hours to produce a TAB tape with copper foil. An evaluation pattern tape having a comb-shaped conductor pattern with a conductor width of 25 μm and a conductor distance of 25 μm is formed by performing photoresist film formation, etching, and resist peeling on the copper foil surface of the obtained TAB tape with copper foil by a conventional method. Produced.

次いで、上記方法で作製した評価用パターンテープの裏面に、130℃、0.5MPa、0.3m/分の条件で本発明の電子機器用接着剤シート(厚さ25μm)をロールラミネートした。その後、ICに見立てたシリコーンウエハ(ダミーウエハ、20mm角)を用い、以下に記載する方法で評価用サンプルを作製した。なお、ここで用いたシリコーンウエハは、鏡面にポリイミドコーティング剤(東レ(株)製:SP341)で表面をコーティングし、350℃で1時間硬化させたものを使用した。シリコーンウエハのコーティング面と保護フィルム層を剥離した評価用パターンテープ裏面に張り合わせた接着剤シートを130℃、3MPa、10秒の条件で貼り付けた。なお、接着剤の硬化は150℃で2時間行った。   Next, the adhesive sheet for electronic equipment (thickness 25 μm) of the present invention was roll-laminated on the back surface of the pattern tape for evaluation produced by the above method under the conditions of 130 ° C., 0.5 MPa, 0.3 m / min. Then, the sample for evaluation was produced by the method described below using the silicone wafer (dummy wafer, 20 mm square) that looked like an IC. In addition, the silicone wafer used here coated the surface with a polyimide coating agent (manufactured by Toray Industries, Inc .: SP341) on the mirror surface, and used the one that was cured at 350 ° C. for 1 hour. The adhesive sheet bonded to the back surface of the evaluation pattern tape from which the coating surface of the silicone wafer and the protective film layer were peeled was attached under the conditions of 130 ° C., 3 MPa, and 10 seconds. The adhesive was cured at 150 ° C. for 2 hours.

(2)耐リフロー性:上記(1)の方法で作製した20mm角の評価用サンプルを各水準30個準備し、120℃で12時間加熱乾燥した後に30℃、70%RHの雰囲気下で168時間調湿した後、すみやかに最高温度260℃、15秒の赤外線リフロー炉を連続して2回通過させ、その剥離状態を超音波短傷機により観察した。30個中の剥離した個数を調べた。   (2) Reflow resistance: 30 samples each having a 20 mm square for evaluation prepared by the method of (1) above were prepared, heat-dried at 120 ° C. for 12 hours, and then 168 in an atmosphere of 30 ° C. and 70% RH. After adjusting the humidity for a period of time, the sample was immediately passed twice continuously through an infrared reflow furnace at a maximum temperature of 260 ° C. and 15 seconds, and the peeled state was observed with an ultrasonic short-cut machine. The number of peeled pieces out of 30 pieces was examined.

(3)サーマルサイクル性:上記(1)の方法で作製した20mm角の評価用サンプルを各水準30個用意し、熱サイクル試験器(タバイエスペック(株)製、PL−3型)中で、−65℃〜150℃、最低および最高温度で各40分保持の条件で処理し、剥がれの発生を評価した。100サイクル、300サイクル、500サイクル、800サイクルの各終了時点でサンプルを取り出し、超音波短傷機により剥がれの発生を評価した。30個中、一つでも剥がれを確認したらN.G.とした。   (3) Thermal cycle property: 30 samples each having a 20 mm square for evaluation prepared by the method of (1) above were prepared, and in a thermal cycle tester (Tabbayespekk Co., Ltd., PL-3 type), The treatment was carried out at −65 ° C. to 150 ° C. at the minimum and maximum temperatures for 40 minutes each, and the occurrence of peeling was evaluated. Samples were taken out at the end of each of 100 cycles, 300 cycles, 500 cycles, and 800 cycles, and the occurrence of peeling was evaluated using an ultrasonic short-cut machine. If it is confirmed that at least one of 30 pieces is peeled off, N. G. It was.

(4)シェア強度:上記(1)の方法で作製した評価用パターンテープの裏面に、130℃、0.5MPa、0.3m/分の条件で本発明の接着剤シートをラミネートした後、2mm角シリコーンウエハのポリイミドコーティング面を130℃、3MPa、10秒の条件で接着剤シートに加熱圧着した(図3)。引き続き、エアオーブン中で150℃で2時間加熱硬化処理を行った。得られたサンプルのシェア強度を測定した。なお、シェア強度は、西進商事(株)製 ボンドテスターMODEL SS−30WD(ロードセル50kg)を使用し、速度0.120mm/秒の条件で室温にてダイシェア強度を測定した。また、ここで用いたシリコーンウエハはダミーウエハ鏡面にポリイミドコーティング剤(東レ(株)製:SP341)で表面をコーティングし、350℃で1時間硬化させたものを使用した。   (4) Shear strength: 2 mm after laminating the adhesive sheet of the present invention on the back surface of the evaluation pattern tape produced by the method of (1) above at 130 ° C., 0.5 MPa, 0.3 m / min. The polyimide coated surface of the square silicone wafer was thermocompression bonded to the adhesive sheet under conditions of 130 ° C., 3 MPa, and 10 seconds (FIG. 3). Subsequently, heat curing treatment was performed in an air oven at 150 ° C. for 2 hours. The shear strength of the obtained sample was measured. The shear strength was measured using a bond tester MODEL SS-30WD (load cell 50 kg) manufactured by Seishin Shoji Co., Ltd. at a speed of 0.120 mm / sec at room temperature. The silicone wafer used here was a dummy wafer mirror surface coated with a polyimide coating agent (manufactured by Toray Industries, Inc .: SP341) and cured at 350 ° C. for 1 hour.

(5)サーマルサイクル後のシェア強度:上記(4)に記載の方法で評価用サンプルを作製し、150℃で2時間加熱硬化処理を行った。その後、上記(3)と同様な熱サイクル試験器で−65℃〜150℃、最低および最高温度で各40分保持の条件で1000サイクル処理した。処理後のシェア強度を上記(4)と同様の方法で測定した。   (5) Shear strength after thermal cycle: A sample for evaluation was prepared by the method described in (4) above, and heat-cured at 150 ° C. for 2 hours. Thereafter, 1000 cycles were performed in the same heat cycle tester as in (3) above, at -65 ° C to 150 ° C, with the minimum and maximum temperatures being held for 40 minutes each. The shear strength after the treatment was measured by the same method as in (4) above.

(6)シェア強度保持率:((上記(5)で求めたシェア強度)/(上記(4)で求めたシェア強度))×100(%)によりシェア強度保持率を求めた。   (6) Share strength retention ratio: ((Share strength determined in (5) above) / (Share strength determined in (4) above)) × 100 (%) was determined.

(7)長期高温耐性:電解銅箔(1/2オンス)をJPCA−BM02の銅箔面クリーニングの標準手順に従いクリーニングしたものの光沢面に、25μm厚の接着剤シートを130℃、0.5MPa、0.3m/分でラミネートし、銅箔/接着剤層の構成にし、150℃で2時間硬化させた。それらを175℃のエアオーブンに入れ、長期放置試験をおこなった。途中、10時間周期でサンプルを観察し、接着剤の剥がれが生じればN.G.とした。   (7) Long-term high-temperature resistance: The electrolytic copper foil (1/2 ounce) was cleaned according to the standard procedure of copper foil surface cleaning of JPCA-BM02, and a 25 μm thick adhesive sheet was applied at 130 ° C., 0.5 MPa, Lamination was performed at 0.3 m / min to form a copper foil / adhesive layer and cured at 150 ° C. for 2 hours. They were placed in an air oven at 175 ° C. and a long-term standing test was conducted. In the middle, the sample was observed at a cycle of 10 hours. G. It was.

(8)透明性:接着剤組成物を塗布して得られた20μm厚の接着剤層を50μm厚PESフィルム(全光線透過率:92%、ヘイズ:0.05%)に100℃でラミネートして、接着剤層/PESフィルムの構成になるようにサンプルを作製した。これを適宜、エアオーブン中で硬化、高温保管し測定サンプルを作製した。ヘイズ値は、JISK7105に準じて測定した。全光線透過率(%)をTt、拡散透過率(%)をTdとした場合、平行光線透過率(%)Tpは、Tp=Tt−Tdで表され、ヘイズ値(%)Hは、H=(Td/Tt)×100と表すことができる。なお、測定機器はスガ試験機(株)直読ヘーズコンピューター(型式:HGM−2DP)を使用した。   (8) Transparency: A 20 μm thick adhesive layer obtained by applying the adhesive composition was laminated to a 50 μm thick PES film (total light transmittance: 92%, haze: 0.05%) at 100 ° C. Thus, a sample was prepared so as to have an adhesive layer / PES film configuration. This was appropriately cured in an air oven and stored at a high temperature to prepare a measurement sample. The haze value was measured according to JISK7105. When the total light transmittance (%) is Tt and the diffuse transmittance (%) is Td, the parallel light transmittance (%) Tp is expressed by Tp = Tt−Td, and the haze value (%) H is H = (Td / Tt) × 100. In addition, Suga Test Instruments Co., Ltd. direct reading haze computer (model | form: HGM-2DP) was used for the measuring instrument.

(9)黄変度:上記(8)で作製した測定サンプルを目視で観察した。150℃で1時間加熱硬化したものと、150℃で1時間加熱硬化後さらに150℃で500時間加熱したものを目視比較した。評価結果を以下のとおり表記する。
◎:無色透明、○:黄変ほとんど無し、△:淡黄色、×:黄色、××:濃黄色、×××:茶色。
(9) Degree of yellowing: The measurement sample prepared in (8) above was visually observed. A visual comparison was made between what was heat-cured at 150 ° C. for 1 hour and what was heat-cured at 150 ° C. for 1 hour and then heated at 150 ° C. for 500 hours. The evaluation results are written as follows.
A: colorless and transparent, B: little yellowing, B: pale yellow, X: yellow, XX: dark yellow, XXX: brown.

(10)透過率:接着剤組成物を塗布して得られた50μm厚の接着剤層をエアオーブン中で150℃1時間加熱硬化し、透過率を測定した。また、50μm厚の接着剤層を150℃で1時間加熱硬化した後、88時間UV照射を行い、透過率を測定した。UV照射は、耐候性試験器(メタルウェザー、ダイプラ・ウィンテス(株)製、型式:KU−R5CI−A、光源:水冷ジャケット式メタルハライドランプ)を用い、ブラックパネル温度:63℃、放射照度81mW/cmで88時間照射した。なお、放射照度は365nmでの分光放射照度を4042μW/cmで設定し、波長域300nm〜400nm、光源中心軸からの距離240mmで測定したものである。透過率は、島津製作所(株)製、UV−3101PC型自記分光光度計(スリット幅30nm、光源(340nm以上:ハロゲンランプ、340nm以下:重水素ランプ)、検出器(860nm以下:PMT、860nm以上:PbS)、副白板:BaSO、入射角0度)を用いて測定した。 (10) Transmittance: The 50 μm thick adhesive layer obtained by applying the adhesive composition was heat cured in an air oven at 150 ° C. for 1 hour, and the transmittance was measured. Moreover, after 50-micrometer-thick adhesive layer was heat-hardened at 150 degreeC for 1 hour, UV irradiation was performed for 88 hours, and the transmittance | permeability was measured. For UV irradiation, a weather resistance tester (metal weather, manufactured by Daipura Wintes Co., Ltd., model: KU-R5CI-A, light source: water-cooled jacket type metal halide lamp) was used, black panel temperature: 63 ° C., irradiance 81 mW / Irradiated with cm 2 for 88 hours. The irradiance was measured at a spectral irradiance at 365 nm of 4042 μW / cm 2 and measured at a wavelength range of 300 nm to 400 nm and a distance of 240 mm from the central axis of the light source. Transmittance was manufactured by Shimadzu Corporation, UV-3101PC type self-recording spectrophotometer (slit width 30 nm, light source (340 nm or more: halogen lamp, 340 nm or less: deuterium lamp), detector (860 nm or less: PMT, 860 nm or more). : PbS), sub-white plate: BaSO 4 , incident angle 0 degree).

各実施例、比較例で用いた原料の詳細を以下に示す。   The detail of the raw material used by each Example and the comparative example is shown below.

a)熱硬化性樹脂
エポキシ樹脂
Ep1032S50:ジャパンエポキシレジン(株)製、3官能型(トリスヒドロキシフェニルメタン型)、エポキシ当量170
EOCN102S:日本化薬(株)製、オルソクレゾールノボラック型、エポキシ当量210
EOCN103S:日本化薬(株)製、オルソクレゾールノボラック型
EPICLON1055:大日本インキ化学工業(株)製、ビスA型エポキシ樹脂、エポキシ当量485
Ep828:ジャパンエポキシレジン(株)製、ビスA型エポキシ樹脂、エポキシ当量190
Ep1001:ジャパンエポキシレジン(株)製、ビスA型エポキシ樹脂、エポキシ当量470
EHPE3150:ダイセル化学工業(株)製、脂環式エポキシ樹脂、エポキシ当量180
YX−8034:ジャパンエポキシレジン(株)製、脂環式エポキシ樹脂、エポキシ当量295
Ep834:ジャパンエポキシレジン(株)製、ビスA型エポキシ樹脂、エポキシ当量250
フェノール樹脂
YLH129:ジャパンエポキシレジン(株)製、ビスAフェノールノボラック
KP−756P:荒川化学工業(株)製、ビスA系ノボラック、軟化点95℃
ヒタノール2500:日立化成工業(株)製、アルキルフェノールレゾール。
a) Thermosetting resin epoxy resin Ep1032S50: manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., trifunctional type (trishydroxyphenylmethane type), epoxy equivalent 170
EOCN102S: Nippon Kayaku Co., Ltd., orthocresol novolak type, epoxy equivalent 210
EOCN103S: manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., orthocresol novolac type EPICLON 1055: manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc., bis A type epoxy resin, epoxy equivalent 485
Ep828: Japan Epoxy Resin Co., Ltd., bis A type epoxy resin, epoxy equivalent 190
Ep1001: manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., bis A type epoxy resin, epoxy equivalent 470
EHPE3150: manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd., alicyclic epoxy resin, epoxy equivalent 180
YX-8034: Japan Epoxy Resin Co., Ltd., alicyclic epoxy resin, epoxy equivalent 295
Ep834: manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., bis A type epoxy resin, epoxy equivalent 250
Phenol resin YLH129: manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd., bis A phenol novolac KP-756P: manufactured by Arakawa Chemical Industries, Ltd., bis A novolak, softening point 95 ° C.
Hitanol 2500: Alkylphenol resol manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.

b)硬化剤
4,4’−DDS:4,4’−ジアミノジフェニルスルホン
IS−1000:(株)日鉱マテリアルズ製、イミダゾールシラン
C11Z:2−ウンデシルイミダゾール
HNA−100:新日本理化(株)製、水素化メチルナジック酸無水物、酸無水物当量184
MH−700:新日本理化(株)製、メチルヘキサヒドロ酸無水物、酸無水物当量163
PX−4MP:日本化学工業(株)製、有機ホスホニウム塩化合物
U−CAT−5003:サンアプロ(株)製、有機ホスホニウム塩化合物
2E4MZ:2−エチル−4−メチルイミダゾール。
b) Curing agent 4,4′-DDS: 4,4′-diaminodiphenylsulfone IS-1000: manufactured by Nikko Materials Co., Ltd., imidazolesilane C11Z: 2-undecylimidazole HNA-100: Shin Nippon Rika Co., Ltd. Manufactured, hydrogenated methyl nadic acid anhydride, acid anhydride equivalent 184
MH-700: manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd., methylhexahydroacid anhydride, acid anhydride equivalent 163
PX-4MP: manufactured by Nippon Chemical Industry Co., Ltd., organic phosphonium salt compound U-CAT-5003: manufactured by San Apro Co., Ltd., organic phosphonium salt compound 2E4MZ: 2-ethyl-4-methylimidazole.

c)オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体
X−24−798A:信越化学工業(株)製、シリコーングラフトアクリル樹脂、反応基なし
X−22−8004:信越化学工業(株)製、シリコーングラフトアクリル樹脂、反応基OH、Tg(ガラス転移温度)=80℃
X−22−8009:信越化学工業(株)製、シリコーングラフトアクリル樹脂、反応基Si(OCH
X−22−8053:信越化学工業(株)製、シリコーングラフトアクリル樹脂、反応基COOH
X−22−8195:信越化学工業(株)製、シリコーングラフトアクリル樹脂、反応基COOH
X−22−8287:信越化学工業(株)製、シリコーングラフトアクリル樹脂、反応基エポキシ基、Tg(ガラス転移温度)=40℃
US270:東亜合成(株)製、シリコーングラフトアクリル樹脂、反応基OH。
c) Polymer X-24-798A having an organopolysiloxane in the side chain: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., silicone graft acrylic resin, no reactive group X-22-8004: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., silicone graft Acrylic resin, reactive group OH, Tg (glass transition temperature) = 80 ° C.
X-22-8009: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., silicone graft acrylic resin, reactive group Si (OCH 3 ) 3
X-22-8053: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., silicone graft acrylic resin, reactive group COOH
X-22-8195: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., silicone graft acrylic resin, reactive group COOH
X-22-8287: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., silicone graft acrylic resin, reactive group epoxy group, Tg (glass transition temperature) = 40 ° C.
US270: Toa Gosei Co., Ltd., silicone graft acrylic resin, reactive group OH.

d)炭素数1〜8の側鎖を有するアクリル酸エステルおよび/またはメタクリル酸エステルを必須重合成分とする共重合体
SG−P3:ナガセケムテックス(株)製、ブチルアクリレートを主成分とするエポキシ基含有アクリル、エポキシ当量4700、Mw=850000
XF−3388:トウペ(株)製、エチルアクリレートを主成分とする水酸基含有アクリルゴム、Mw=1300000
XF−3677:トウペ(株)製、エチルアクリレートを主成分とする水酸基含有アクリルゴム、Mw=1300000
SG−811:ナガセケムテックス(株)製、ブチルアクリレートを主成分とするエポキシ基含有アクリルゴム、Mw=420000。
d) Copolymer SG-P3 having an acrylic acid ester and / or methacrylic acid ester having a side chain of 1 to 8 carbon atoms as an essential polymerization component: Epoxy based on butyl acrylate, manufactured by Nagase ChemteX Corporation Group-containing acrylic, epoxy equivalent 4700, Mw = 850000
XF-3388: Tope Co., Ltd., hydroxyl group-containing acrylic rubber mainly composed of ethyl acrylate, Mw = 1300,000
XF-3777: manufactured by Toupe Co., Ltd., hydroxyl group-containing acrylic rubber mainly composed of ethyl acrylate, Mw = 1300,000
SG-811: manufactured by Nagase ChemteX Corp., epoxy group-containing acrylic rubber mainly composed of butyl acrylate, Mw = 420,000.

e)酸化防止剤
アデカスタブAO−80:(株)ADEKA製、フェノール系酸化防止剤
アデカスタブPEP−36:(株)ADEKA製、リン系酸化防止剤
アデカスタブAO−412S:(株)ADEKA製、イオウ系酸化防止剤。
e) Antioxidant ADK STAB AO-80: manufactured by ADEKA Corporation, phenolic antioxidant ADK STAB PEP-36: manufactured by ADEKA Corporation, phosphorus antioxidant ADK STAB AO-412S: manufactured by ADEKA Corporation, sulfur series Antioxidant.

その他
無機質充填剤
SO−C2(表面処理品):(株)アドマテックス製、平均粒径0.5μm、球状シリカ、シランカップリング剤(信越化学工業(株)製、KBM403)を用いて乾式処理法により処理したもの
SO−C1:(株)アドマテックス製、平均粒径0.3μm、球状シリカ
SO−C2:(株)アドマテックス製、平均粒径0.5μm、球状シリカ
シリコーンオイル
KF−412:信越化学工業(株)製、アルキル変性シリコーンオイル
熱可塑性樹脂
ニポール1072J:日本ゼオン(株)製、カルボキシル基含有アクリロニトリルブタジエンゴム。
Other inorganic filler SO-C2 (surface treatment product): manufactured by Admatechs Co., Ltd., average particle size 0.5 μm, spherical silica, silane coupling agent (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., KBM403) is dry-treated. SO-C1: manufactured by Admatechs Co., Ltd., average particle size 0.3 μm, spherical silica SO-C2: manufactured by Admatechs Co., Ltd., average particle size 0.5 μm, spherical silica silicone oil KF-412 : Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., alkyl-modified silicone oil thermoplastic resin Nipol 1072J: Nippon Zeon Co., Ltd., carboxyl group-containing acrylonitrile butadiene rubber.

実施例1〜24、比較例1〜9
(接着剤シートの作製)
表1〜5に記載の各無機質充填剤をトルエンと混合した後、ボールミル処理して分散液を作製した。この分散液に、各熱硬化性樹脂、オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体、炭素数1〜8の側鎖を有するアクリル酸エステルおよび/またはメタクリル酸エステルを必須重合成分とする共重合体、硬化剤、硬化促進剤、その他添加剤および分散液と等重量のメチルエチルケトンをそれぞれ表1〜5の組成比となるように加え、30℃で撹拌、混合して接着剤溶液を作製した。無機質充填剤を含まない場合は、各熱硬化性樹脂、オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体、炭素数1〜8の側鎖を有するアクリル酸エステルおよび/またはメタクリル酸エステルを必須重合成分とする共重合体、硬化剤、硬化促進剤、その他添加剤に固形分20重量%となるようにメチルエチルケトンを添加し、それぞれ表1〜5の組成比となるようにし、30℃で撹拌、混合して接着剤溶液を作製した。この接着剤溶液をバーコータで、シリコーン離型剤付きの厚さ38μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(藤森工業(株)製“フィルムバイナ”GT)に必要な乾燥厚さとなるように塗布し、150℃で4分間乾燥し、保護フィルムを貼り合わせて、本発明の接着剤シートを作製した。それぞれの組成、特性を表1〜5に示す。なお、実施例13、14のイミダゾールシラン含有量は、接着剤組成物中に含まれるエポキシ基に対して1.6mol%である。
Examples 1-24, Comparative Examples 1-9
(Preparation of adhesive sheet)
Each inorganic filler listed in Tables 1 to 5 was mixed with toluene, and then ball milled to prepare a dispersion. In this dispersion, each thermosetting resin, a polymer having an organopolysiloxane in the side chain, a copolymer having an acrylic acid ester and / or methacrylic acid ester having a side chain having 1 to 8 carbon atoms as an essential polymerization component Then, an equal weight of methyl ethyl ketone and a curing agent, a curing accelerator, other additives and a dispersion were added so as to have the composition ratios shown in Tables 1 to 5, and stirred and mixed at 30 ° C. to prepare an adhesive solution. When an inorganic filler is not included, each thermosetting resin, a polymer having an organopolysiloxane in the side chain, an acrylate ester and / or a methacrylic ester having a side chain having 1 to 8 carbon atoms are essential polymerization components. Methyl ethyl ketone is added to the copolymer, curing agent, curing accelerator, and other additives so that the solid content is 20% by weight, so that the composition ratio is as shown in Tables 1 to 5, and stirred and mixed at 30 ° C. Thus, an adhesive solution was prepared. This adhesive solution was applied with a bar coater to a dry thickness necessary for a 38 μm-thick polyethylene terephthalate film with a silicone release agent (“Film Vina” GT manufactured by Fujimori Kogyo Co., Ltd.) It dried for minutes and bonded the protective film and produced the adhesive sheet of this invention. Each composition and characteristic are shown in Tables 1-5. In addition, imidazole silane content of Example 13 and 14 is 1.6 mol% with respect to the epoxy group contained in an adhesive composition.

(半導体装置の作製)
前記(1)評価サンプル作製の項に記載した方法で評価用パターンテープを作製した。ニッケルメッキ厚は3μm、金メッキ厚は1μmとした。前記方法で作製した接着剤シートの保護フィルムを剥離し、評価用パターンテープの裏面に、130℃、0.1MPaの条件でラミネートした。次いで、接着剤シートのPETフィルムを剥離し、アルミ電極パッドを有するICを170℃、0.3MPaの条件で接着剤層に加熱圧着した。次にエアオーブン中で150℃、2時間加熱硬化処理を行った。続いてこれに、25μmの金ワイヤーを180℃、110kHzでボンディングした。さらに液状封止樹脂(“チップコート”8118、ナミックス(株)製)で封止した。最後にハンダボールを搭載し、図1の構造の半導体装置を作製した。
(Fabrication of semiconductor devices)
A pattern tape for evaluation was prepared by the method described in the section (1) Preparation of evaluation sample. The nickel plating thickness was 3 μm, and the gold plating thickness was 1 μm. The protective film of the adhesive sheet produced by the above method was peeled off and laminated on the back surface of the pattern tape for evaluation under the conditions of 130 ° C. and 0.1 MPa. Subsequently, the PET film of the adhesive sheet was peeled off, and an IC having an aluminum electrode pad was thermocompression bonded to the adhesive layer under the conditions of 170 ° C. and 0.3 MPa. Next, heat curing treatment was performed in an air oven at 150 ° C. for 2 hours. Subsequently, a 25 μm gold wire was bonded to this at 180 ° C. and 110 kHz. Further, it was sealed with a liquid sealing resin (“Chip Coat” 8118, manufactured by NAMICS Co., Ltd.). Finally, a solder ball was mounted to manufacture a semiconductor device having the structure of FIG.

表1〜5に各実施例および比較例の接着剤層組成および評価結果を示す。   Tables 1 to 5 show the adhesive layer compositions and evaluation results of Examples and Comparative Examples.

Figure 2008063551
Figure 2008063551

Figure 2008063551
Figure 2008063551

Figure 2008063551
Figure 2008063551

Figure 2008063551
Figure 2008063551

Figure 2008063551
Figure 2008063551

表1〜5の実施例および比較例から、本発明により得られる電子機器用接着剤組成物は、長期高温耐性に優れることが分かる。さらに熱硬化性樹脂を脂環式エポキシ、硬化剤を酸無水物硬化剤の組み合わせにすることにより、透明性、耐UV性に優れ、黄変が少ない電子機器用接着剤組成物が得られる。実施例21および比較例7の150℃1時間硬化後および150℃で1時間加熱硬化した後、88時間UV照射した後の透過スペクトルを図4〜図7に示した。   From the Examples and Comparative Examples in Tables 1 to 5, it can be seen that the adhesive composition for electronic devices obtained by the present invention is excellent in long-term high-temperature resistance. Furthermore, by using a combination of a thermosetting resin as an alicyclic epoxy and a curing agent as an acid anhydride curing agent, an adhesive composition for electronic equipment having excellent transparency and UV resistance and little yellowing can be obtained. The transmission spectra of Example 21 and Comparative Example 7 after curing at 150 ° C. for 1 hour and after heat curing at 150 ° C. for 1 hour and after UV irradiation for 88 hours are shown in FIGS.

BGA方式の半導体装置の一態様の断面図。FIG. 14 is a cross-sectional view of one embodiment of a BGA semiconductor device. 本発明の電子機器用接着剤シートの一態様の断面図。Sectional drawing of the one aspect | mode of the adhesive agent sheet for electronic devices of this invention. 評価用サンプルの概略図。Schematic of the sample for evaluation. 実施例21の150℃1時間硬化後の透過スペクトル。The transmission spectrum of Example 21 after curing at 150 ° C. for 1 hour. 実施例21の150℃1時間硬化後、88時間UV照射した後の透過スペクトル。The transmission spectrum after carrying out UV irradiation for 88 hours after 150 degreeC 1-hour hardening of Example 21. FIG. 比較例7の150℃1時間硬化後の透過スペクトル。The transmission spectrum of Comparative Example 7 after curing at 150 ° C. for 1 hour. 比較例7の150℃1時間硬化後、88時間UV照射した後の透過スペクトル。Transmission spectrum after UV irradiation for 88 hours after curing at 150 ° C. for 1 hour in Comparative Example 7.

符号の説明Explanation of symbols

1 半導体集積回路
2、9 接着剤層
3 絶縁体層
4 導体パターン
5 配線基板層
6 ボンディングワイヤー
7 半田ボール
8 封止樹脂
10 保護フィルム層
11 シリコーンウエハ
12 ポリイミドコーティング層
13 接着剤層
14 評価用パターンテープ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor integrated circuit 2, 9 Adhesive layer 3 Insulator layer 4 Conductor pattern 5 Wiring board layer 6 Bonding wire 7 Solder ball 8 Sealing resin 10 Protective film layer 11 Silicone wafer 12 Polyimide coating layer 13 Adhesive layer 14 Evaluation pattern tape

Claims (11)

a)熱硬化性樹脂、b)硬化剤、c)オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体、およびd)炭素数1〜8の側鎖を有するアクリル酸エステルおよび/またはメタクリル酸エステルを必須共重合成分とする共重合体を含有することを特徴とする電子機器用接着剤組成物。 a) a thermosetting resin, b) a curing agent, c) a polymer having an organopolysiloxane in the side chain, and d) an acrylic acid ester and / or a methacrylic acid ester having a side chain having 1 to 8 carbon atoms. An adhesive composition for electronic equipment, comprising a copolymer as a polymerization component. c)オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体が、少なくとも片末端シリコーンマクロモノマーを共重合成分とする共重合体であることを特徴とする請求項1記載の電子機器用接着剤組成物。 The adhesive composition for electronic equipment according to claim 1, wherein the polymer having c) an organopolysiloxane in the side chain is a copolymer having at least one terminal-end silicone macromonomer as a copolymerization component. c)オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体が、エポキシ基、水酸基、カルボキシル基、アミノ基、アルコキシ基、ビニル基、シラノール基およびイソシアネート基からなる群より選ばれた少なくとも1種の官能基を有することを特徴とする請求項1記載の電子機器用接着剤組成物。 c) The polymer having an organopolysiloxane in the side chain has at least one functional group selected from the group consisting of epoxy groups, hydroxyl groups, carboxyl groups, amino groups, alkoxy groups, vinyl groups, silanol groups and isocyanate groups. The adhesive composition for electronic devices according to claim 1, comprising: c)オルガノポリシロキサンを側鎖に有する重合体がアクリル樹脂であることを特徴とする請求項1記載の電子機器用接着剤組成物。 2. The adhesive composition for electronic equipment according to claim 1, wherein the polymer having an organopolysiloxane in the side chain is an acrylic resin. a)熱硬化性樹脂が脂環式エポキシ樹脂を含有することを特徴とする請求項1記載の電子機器用接着剤組成物。 2. The adhesive composition for electronic equipment according to claim 1, wherein the a) thermosetting resin contains an alicyclic epoxy resin. e)フェノール系酸化防止剤、リン系酸化防止剤およびイオウ系酸化防止剤からなる群より選ばれた少なくとも1種の酸化防止剤を含有することを特徴とする請求項1記載の電子機器用接着剤組成物。 The adhesive for electronic equipment according to claim 1, comprising at least one kind of antioxidant selected from the group consisting of e) phenolic antioxidants, phosphorus antioxidants and sulfur antioxidants. Agent composition. 請求項1〜6のいずれか記載の電子機器用接着剤組成物からなる接着剤層と、少なくとも1層の剥離可能な保護フィルム層を有する電子機器用接着剤シート。 The adhesive agent sheet for electronic devices which has an adhesive bond layer which consists of an adhesive composition for electronic devices in any one of Claims 1-6, and an at least 1 layer of peelable protective film layer. 150℃で1時間加熱硬化した後の接着剤層のヘイズが15以下であることを特徴とする請求項7記載の電子機器用接着剤シート。 8. The adhesive sheet for electronic equipment according to claim 7, wherein the adhesive layer has a haze of 15 or less after being heated and cured at 150 [deg.] C. for 1 hour. 150℃で1時間加熱硬化した後、さらに150℃で500時間加熱した後の接着剤層のヘイズが30以下であることを特徴とする請求項7記載の電子機器用接着剤シート。 8. The adhesive sheet for electronic equipment according to claim 7, wherein the adhesive layer has a haze of 30 or less after being heated and cured at 150 [deg.] C. for 1 hour and further heated at 150 [deg.] C. for 500 hours. 請求項7〜9いずれか記載の電子機器用接着剤シートを用いた電子部品。 The electronic component using the adhesive agent sheet for electronic devices in any one of Claims 7-9. 請求項10記載の電子部品を用いた電子機器。 An electronic device using the electronic component according to claim 10.
JP2006315158A 2005-12-13 2006-11-22 Adhesive composition for electronic device, adhesive sheet for electronic device, and electronic component using the same Active JP5087910B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006315158A JP5087910B2 (en) 2005-12-13 2006-11-22 Adhesive composition for electronic device, adhesive sheet for electronic device, and electronic component using the same

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005358536 2005-12-13
JP2005358536 2005-12-13
JP2006215530 2006-08-08
JP2006215530 2006-08-08
JP2006315158A JP5087910B2 (en) 2005-12-13 2006-11-22 Adhesive composition for electronic device, adhesive sheet for electronic device, and electronic component using the same

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2008063551A true JP2008063551A (en) 2008-03-21
JP2008063551A5 JP2008063551A5 (en) 2009-12-03
JP5087910B2 JP5087910B2 (en) 2012-12-05

Family

ID=39286524

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006315158A Active JP5087910B2 (en) 2005-12-13 2006-11-22 Adhesive composition for electronic device, adhesive sheet for electronic device, and electronic component using the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5087910B2 (en)

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008063410A (en) * 2006-09-06 2008-03-21 Sumitomo Bakelite Co Ltd Resin composition and semiconductor device produced by using the same
WO2009008283A1 (en) * 2007-07-10 2009-01-15 Arakawa Chemical Industries, Ltd. Optical semiconductor-sealing composition
WO2011055588A1 (en) * 2009-11-09 2011-05-12 ソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社 Adhesive composition
JP2012015236A (en) * 2010-06-30 2012-01-19 Furukawa Electric Co Ltd:The Adhesive sheet for sticking wafer and processing method of wafer using the same
CN104946147A (en) * 2014-03-31 2015-09-30 日东电工株式会社 Chip bonding film, cutting-chip bonding film, and laminating film
WO2016068184A1 (en) * 2014-10-29 2016-05-06 学校法人関東学院 Biocompatible laminate and biocompatible electronic part
JP2016111210A (en) * 2014-12-08 2016-06-20 信越化学工業株式会社 Conductive connection method using die bond material, and optical semiconductor device
JPWO2014021450A1 (en) * 2012-08-02 2016-07-21 リンテック株式会社 Film adhesive, semiconductor bonding adhesive sheet, and method of manufacturing semiconductor device
WO2019150995A1 (en) * 2018-01-30 2019-08-08 日立化成株式会社 Thermosetting resin composition, film-form adhesive, adhesive sheet, and method for producing semiconductor device
WO2020137934A1 (en) * 2018-12-28 2020-07-02 リンテック株式会社 Film-like adhesive agent, layered sheet, composite sheet, and method for producing layered body
WO2020137944A1 (en) * 2018-12-28 2020-07-02 リンテック株式会社 Film-like adhesive, laminate sheet, composite sheet, and manufacturing method for laminate
WO2020137947A1 (en) * 2018-12-28 2020-07-02 リンテック株式会社 Film-like adhesive, laminate sheet, composite sheet, and manufacturing method for laminate
JP2020120073A (en) * 2019-01-28 2020-08-06 日立化成株式会社 Film adhesive, adhesive sheet, semiconductor device, and method of manufacturing the same
TWI832944B (en) 2018-12-28 2024-02-21 日商琳得科股份有限公司 Film adhesive, laminated sheet, composite sheet, and manufacturing method of laminate

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102375400B1 (en) * 2019-08-05 2022-03-17 주식회사 엘지화학 Adhesive film, manufacturing method of same and foldable display device comprising same

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02123182A (en) * 1988-11-01 1990-05-10 Nitto Denko Corp Re-releasing-type tack agent
JPH04103668A (en) * 1990-08-23 1992-04-06 Kansai Paint Co Ltd Curable resin composition
JPH0948957A (en) * 1995-08-07 1997-02-18 Sony Chem Corp Manufacture of double-face adhesive tape
JPH10178065A (en) * 1996-10-15 1998-06-30 Toray Ind Inc Adhesive composition for semiconductor device and adhesive sheet for semiconductor device using the same
JPH10265752A (en) * 1997-03-25 1998-10-06 Hitachi Chem Co Ltd Adhesive for additive-type printed circuit board
JP2003041226A (en) * 2001-08-01 2003-02-13 Mitsui Chemicals Inc Paste material for connecting circuit
JP2003165895A (en) * 2001-11-30 2003-06-10 Mitsui Chemicals Inc Resin paste composition for circuit connection and use thereof
JP2003165826A (en) * 2001-11-30 2003-06-10 Mitsui Chemicals Inc Paste resin composition for connecting circuit and method for using the same
JP2005298781A (en) * 2004-04-06 2005-10-27 Hitachi Kasei Polymer Co Ltd Adhesive composition for flexible wiring circuit board and adhesive film
JP2006001652A (en) * 2004-06-15 2006-01-05 Uwa:Kk Auxiliary device for suspension stabilization by crane
JP2006029689A (en) * 2004-07-16 2006-02-02 Daikin Ind Ltd Micro shunt

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02123182A (en) * 1988-11-01 1990-05-10 Nitto Denko Corp Re-releasing-type tack agent
JPH04103668A (en) * 1990-08-23 1992-04-06 Kansai Paint Co Ltd Curable resin composition
JPH0948957A (en) * 1995-08-07 1997-02-18 Sony Chem Corp Manufacture of double-face adhesive tape
JPH10178065A (en) * 1996-10-15 1998-06-30 Toray Ind Inc Adhesive composition for semiconductor device and adhesive sheet for semiconductor device using the same
JPH10265752A (en) * 1997-03-25 1998-10-06 Hitachi Chem Co Ltd Adhesive for additive-type printed circuit board
JP2003041226A (en) * 2001-08-01 2003-02-13 Mitsui Chemicals Inc Paste material for connecting circuit
JP2003165895A (en) * 2001-11-30 2003-06-10 Mitsui Chemicals Inc Resin paste composition for circuit connection and use thereof
JP2003165826A (en) * 2001-11-30 2003-06-10 Mitsui Chemicals Inc Paste resin composition for connecting circuit and method for using the same
JP2005298781A (en) * 2004-04-06 2005-10-27 Hitachi Kasei Polymer Co Ltd Adhesive composition for flexible wiring circuit board and adhesive film
JP2006001652A (en) * 2004-06-15 2006-01-05 Uwa:Kk Auxiliary device for suspension stabilization by crane
JP2006029689A (en) * 2004-07-16 2006-02-02 Daikin Ind Ltd Micro shunt

Cited By (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008063410A (en) * 2006-09-06 2008-03-21 Sumitomo Bakelite Co Ltd Resin composition and semiconductor device produced by using the same
WO2009008283A1 (en) * 2007-07-10 2009-01-15 Arakawa Chemical Industries, Ltd. Optical semiconductor-sealing composition
US8263686B2 (en) 2007-07-10 2012-09-11 Arakawa Chemical Industries, Ltd. Optical semiconductor-sealing composition
CN102598236A (en) * 2009-11-09 2012-07-18 索尼化学&信息部件株式会社 Adhesive composition
US20120168814A1 (en) * 2009-11-09 2012-07-05 Sony Chemical & Information Device Corporation Adhesive composition
JP2011100927A (en) * 2009-11-09 2011-05-19 Sony Chemical & Information Device Corp Bonding agent composition
WO2011055588A1 (en) * 2009-11-09 2011-05-12 ソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社 Adhesive composition
JP2012015236A (en) * 2010-06-30 2012-01-19 Furukawa Electric Co Ltd:The Adhesive sheet for sticking wafer and processing method of wafer using the same
JPWO2014021450A1 (en) * 2012-08-02 2016-07-21 リンテック株式会社 Film adhesive, semiconductor bonding adhesive sheet, and method of manufacturing semiconductor device
CN104946147A (en) * 2014-03-31 2015-09-30 日东电工株式会社 Chip bonding film, cutting-chip bonding film, and laminating film
JP2015198120A (en) * 2014-03-31 2015-11-09 日東電工株式会社 Die bond film, dicing die bond film, and laminate film
WO2016068184A1 (en) * 2014-10-29 2016-05-06 学校法人関東学院 Biocompatible laminate and biocompatible electronic part
JP2016083918A (en) * 2014-10-29 2016-05-19 学校法人関東学院 Biocompatible laminate and biocompatible electronic component
JP2016111210A (en) * 2014-12-08 2016-06-20 信越化学工業株式会社 Conductive connection method using die bond material, and optical semiconductor device
TWI785196B (en) * 2018-01-30 2022-12-01 日商昭和電工材料股份有限公司 Thermosetting resin composition, film adhesive, adhesive sheet and method for manufacturing semiconductor device
CN111630643A (en) * 2018-01-30 2020-09-04 日立化成株式会社 Thermosetting resin composition, film-like adhesive, adhesive sheet, and method for producing semiconductor device
JP7283399B2 (en) 2018-01-30 2023-05-30 株式会社レゾナック Thermosetting resin composition, film adhesive, adhesive sheet, and method for manufacturing semiconductor device
WO2019150995A1 (en) * 2018-01-30 2019-08-08 日立化成株式会社 Thermosetting resin composition, film-form adhesive, adhesive sheet, and method for producing semiconductor device
JPWO2019150995A1 (en) * 2018-01-30 2021-02-25 昭和電工マテリアルズ株式会社 Methods for manufacturing thermosetting resin compositions, film-like adhesives, adhesive sheets, and semiconductor devices
CN113165349A (en) * 2018-12-28 2021-07-23 琳得科株式会社 Film-like adhesive, laminate sheet, composite sheet, and method for producing laminate
CN113165347A (en) * 2018-12-28 2021-07-23 琳得科株式会社 Film-like adhesive, laminate sheet, composite sheet, and method for producing laminate
CN113165350A (en) * 2018-12-28 2021-07-23 琳得科株式会社 Film-like adhesive, laminate sheet, composite sheet, and method for producing laminate
WO2020137934A1 (en) * 2018-12-28 2020-07-02 リンテック株式会社 Film-like adhesive agent, layered sheet, composite sheet, and method for producing layered body
WO2020137947A1 (en) * 2018-12-28 2020-07-02 リンテック株式会社 Film-like adhesive, laminate sheet, composite sheet, and manufacturing method for laminate
WO2020137944A1 (en) * 2018-12-28 2020-07-02 リンテック株式会社 Film-like adhesive, laminate sheet, composite sheet, and manufacturing method for laminate
CN113165347B (en) * 2018-12-28 2023-07-25 琳得科株式会社 Film-like adhesive, laminate, composite sheet, and method for producing laminate
TWI825254B (en) * 2018-12-28 2023-12-11 日商琳得科股份有限公司 Film adhesive, laminated sheet, composite sheet, and manufacturing method of laminate
JP7421497B2 (en) 2018-12-28 2024-01-24 リンテック株式会社 Film adhesive, laminate sheet, composite sheet, and method for producing laminate
JP7421498B2 (en) 2018-12-28 2024-01-24 リンテック株式会社 Film adhesive, laminate sheet, composite sheet, and method for producing laminate
TWI832944B (en) 2018-12-28 2024-02-21 日商琳得科股份有限公司 Film adhesive, laminated sheet, composite sheet, and manufacturing method of laminate
JP2020120073A (en) * 2019-01-28 2020-08-06 日立化成株式会社 Film adhesive, adhesive sheet, semiconductor device, and method of manufacturing the same
JP7251167B2 (en) 2019-01-28 2023-04-04 株式会社レゾナック FILM ADHESIVE, ADHESIVE SHEET, SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Also Published As

Publication number Publication date
JP5087910B2 (en) 2012-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5087910B2 (en) Adhesive composition for electronic device, adhesive sheet for electronic device, and electronic component using the same
TWI804489B (en) resin composition
JP5109411B2 (en) Adhesive composition for electronic device, adhesive sheet for electronic device using the same, and electronic component
JP4961761B2 (en) Adhesive composition for semiconductor device, adhesive sheet for semiconductor device using the same, substrate for semiconductor connection, and semiconductor device
KR102336087B1 (en) Resin compositions
JP4961747B2 (en) Adhesive composition for semiconductor device, adhesive sheet for semiconductor device using the same, substrate for connecting semiconductor device, and semiconductor device
TW202020043A (en) Resin composition having excellent mechanical properties for preventing warpage and embrittlement
JP2019151716A (en) Sealing resin composition
JP2016213321A (en) Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device
JP2022189845A (en) resin composition
JP7222414B2 (en) resin composition
CN113442537A (en) Resin sheet
JP7302331B2 (en) resin composition
JP2009091566A (en) Adhesive composition and adhesive sheet using it
JP2023021385A (en) Manufacturing method for semiconductor device, and resin sheet
JP7367664B2 (en) Resin compositions, cured products, resin sheets, circuit boards, semiconductor chip packages, semiconductor devices, and structures
TW202225301A (en) Cured body
JP7151550B2 (en) resin composition
JP7243032B2 (en) resin composition
KR20200107819A (en) Resin composition
JP2021187923A (en) Resin composition
WO2018105662A1 (en) Method for producing semiconductor device
JP7298466B2 (en) resin composition
KR20230154763A (en) Resin composition
KR20230149742A (en) Resin composition

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091016

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20091016

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120328

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120417

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120611

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120814

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120827

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150921

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5087910

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150921

Year of fee payment: 3