JP2008054469A - 昇圧回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】本発明は、コンデンサの接続端子に地絡が生じた場合でも、回路素子の破壊を防止することが可能な昇圧回路を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る昇圧回路は、ダイオードD1、D2への電流供給経路に設けられたスイッチSW1と;昇圧動作の起動に先立ち、スイッチSW1をオフとしてダイオードD1、D2に電流Irefを流し、端子電圧Vaに基づいてCP2端子とVG端子の地絡を検出し、非地絡時にはスイッチSW1をオンして昇圧動作を起動する起動時保護手段(I1、E1、CMP1、CTRL)と;端子電圧VGに基づいて昇圧動作の起動を検出する起動確認手段(E4、CMP4、CTRL)と;昇圧動作の起動後、端子電圧Va、Vbに基づいてCP2端子とVG端子の地絡を検出し、地絡時にはスイッチSW1をオフする動作時保護手段(E2、CMP2、E3、CMP3、CTRL)と;を有して成る。
【選択図】図1

Description

本発明は、所望の昇圧電圧を生成する昇圧回路に関するものであり、特に、その地絡保護技術に関するものである。
図7は、昇圧回路の一従来例を示す回路ブロック図である。
本図に示す昇圧回路は、ダイオードD1、D2を電荷転送用スイッチとして用い、コンデンサC1、C2による電荷の蓄積・転送を繰り返すことにより、VG端子から所望の昇圧電圧を引き出すチャージポンプ型の昇圧回路である。
なお、本願発明に関連する従来技術(地絡保護技術)としては、特許文献1などを挙げることができる。
特開平8−294227号公報
確かに、図7に示した上記従来の昇圧回路であれば、極めて簡易な構成で、所望の昇圧電圧を生成することが可能である。
しかしながら、上記従来の昇圧回路では、CP2端子またはVG端子に地絡(例えば、接地ラインへの短絡)を生じた場合、ダイオードD1、D2に大電流が流れて、半導体集積回路装置ICが破壊されるおそれがあった。
本発明は、上記の問題点に鑑み、コンデンサの接続端子に地絡が生じた場合でも、回路素子の破壊を防止することが可能な昇圧回路を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明に係る昇圧回路は、第1、第2ダイオードを電荷転送用スイッチとして用い、第1、第2コンデンサによる電荷の蓄積・転送を繰り返すことにより、所望の昇圧電圧を生成する昇圧回路であって、第1、第2ダイオードへの電流供給経路に設けられたスイッチと;昇圧動作の起動に先立ち、前記スイッチをオフ状態とした上で、第1、第2ダイオードに試験電流を流し、このときに得られる第1コンデンサの端子電圧に基づいて、第1、第2コンデンサの接続端子に地絡が生じているか否かを検出し、地絡が生じていないことを確認したときに、前記スイッチをオン状態として昇圧動作を起動する起動時保護手段と;第2コンデンサの端子電圧に基づいて、昇圧動作が起動されたか否かを検出する起動確認手段と;昇圧動作の起動が確認された後、第1、第2コンデンサの端子電圧に基づいて、第1、第2コンデンサの接続端子に地絡が生じているか否かを検出し、地絡が生じていることを確認したときに、前記スイッチをオフ状態とする動作時保護手段と;を有して成る構成(第1の構成)とされている。
なお、上記第1の構成から成る昇圧回路にて、前記起動時保護手段は、前記試験電流を生成する定電流源と、第1コンデンサの端子電圧と第1閾値電圧を比較する第1コンパレータと、第1コンパレータの出力信号に応じて前記スイッチの開閉制御を行う手段と、を有して成り、前記動作時保護手段は、第1コンデンサの端子電圧と第2閾値電圧を比較する第2コンパレータと、第2コンデンサの端子電圧と第3閾値電圧を比較する第3コンパレータと、第2、第3コンパレータの出力信号に応じて前記スイッチの開閉制御を行う手段と、を有して成り、前記起動確認手段は、第2コンデンサの端子電圧と第4閾値電圧とを比較する第4コンパレータと、第4コンパレータの出力信号に応じて前記動作時保護手段の動作可否を制御する手段と、を有して成る構成(第2の構成)にするとよい。
また、上記第2の構成から成る昇圧回路は、第1、第2閾値電圧を排他的に切り換えることで第1、第2コンパレータを一元化し、及び/または、第3、第4閾値電圧を排他的に切り換えることで第3、第4コンパレータを一元化して成る構成(第3の構成)にするとよい。
また、上記第3の構成から成る昇圧回路は、各閾値電圧を排他的に切り換える手段として、一端が検出すべき端子電圧の印加端に接続される第1トランジスタと、前記端子電圧の印加端と第1トランジスタの制御端との間に接続される第1抵抗と、第1トランジスタの他端と接地端との間に直列接続され、互いの接続ノードがコンパレータの一入力端に接続される第2、第3抵抗と、第1トランジスタの制御端と接地端との間に接続され、所定の制御信号に応じてオン/オフ制御される第1定電流源と、一端が電源電圧の印加端に接続される第2トランジスタと、前記電源電圧の印加端と第2トランジスタの制御端との間に接続される第4抵抗と、第2トランジスタの他端と接地端との間に直列接続され、互いの接続ノードがコンパレータの他入力端に接続される第5、第6抵抗と、第2トランジスタの制御端と接地端との間に接続され、所定の制御信号に応じて第1定電流源とは相補的にオン/オフ制御される第2定電流源と、を有する構成(第4の構成)にするとよい。
本発明に係る昇圧回路であれば、コンデンサの接続端子に地絡が生じた場合でも、回路素子の破壊を防止することができるので、信頼性を向上することが可能となる。
まず、本発明に係る昇圧回路の第1実施形態について、図1を参照しながら説明する。
図1は、本発明に係る昇圧回路の第1実施形態を示す回路ブロック図である。
本図に示すように、本実施形態の昇圧回路は、半導体集積回路装置ICと、コンデンサC1、C2と、直流電圧源E0と、を有して成る。
なお、半導体集積回路装置ICは、外部端子として、VCC端子と、CP1端子と、CP2端子と、VG端子と、を有して成る。
VCC端子には、直流電圧源E0の正極端とコンデンサC2の一端が外部接続されている。CP1端子には、コンデンサC1の一端が外部接続されている。CP2端子には、コンデンサC1の他端が外部接続されている。VG端子には、コンデンサC2の他端が外部接続されている。
また、半導体集積回路装置ICは、ダイオードD1、D2と、内部回路INTと、スイッチSW1、SW2と、定電流源I1と、ロジック回路CTRLと、コンパレータCMP1〜CMP4と、直流電圧源E1〜E4と、を集積化して成る。
スイッチSW1の一端は、VCC端子に接続されている。スイッチSW1の他端は、ダイオードD1のアノードに接続されている。スイッチSW2の一端は、定電流源I1を介して、VCC端子に接続されている。スイッチSW2の他端は、ダイオードD1のアノードに接続されている。ダイオードD1のカソード及びダイオードD2のアノードは、いずれも、CP2端子に接続されている。ダイオードD2のカソードは、VG端子に接続される一方、内部回路INTにも接続されている。
コンパレータCMP1の一入力端は、CP2端子に接続されており、端子電圧Vaが印加されている。コンパレータCMP1の他入力端は、直流電圧源E1の正極端に接続されており、閾値電圧Vth1が印加されている。
コンパレータCMP2の一入力端は、CP2端子に接続されており、端子電圧Vaが印加されている。コンパレータCMP2の他入力端は、直流電圧源E2の正極端に接続されており、閾値電圧Vth2が印加されている。
コンパレータCMP3の一入力端は、VG端子に接続されており、端子電圧Vbが印加されている。コンパレータCMP3の他入力端は、直流電圧源E3の正極端に接続されており、閾値電圧Vth3が印加されている。
コンパレータCMP4の一入力端は、VG端子に接続されており、端子電圧Vbが印加されている。コンパレータCMP4の他入力端は、直流電圧源E4の正極端に接続されており、閾値電圧Vth4が印加されている。
上記構成から成る昇圧回路において、CP2端子或いはVG端子が地絡するモードとしては、半導体集積回路装置ICの起動時に端子がすでに地絡しているモードと、半導体集積回路装置ICの動作時に端子が地絡するモードの2通りが考えられる。
そこで、本実施形態の昇圧回路は、上記2モードのいずれについても、適切な保護動作を行い得る構成、すなわち、「起動時の保護機能」と「動作時の保護機能」を両方とも備えた構成とされている。
なお、「起動時の保護機能」を実現する起動時保護手段は、試験電流Irefを生成する定電流源I1と、コンデンサC1の端子電圧Vaと閾値電圧Vth1を比較するコンパレータCMP1と、コンパレータCMP1の出力信号に応じてスイッチSW1の開閉制御を行う手段(本実施形態ではロジック回路CTRL)と、を有して成る。
また、「動作時の保護機能」を実現する動作時保護手段は、コンデンサC1の端子電圧(CP2端子の端子電圧Va)と閾値電圧Vth2を比較するコンパレータCMP2と、コンデンサC2の端子電圧(VG端子の端子電圧Vb)と閾値電圧Vth3を比較するコンパレータCMP3と、コンパレータCMP2、CMP3の出力信号に応じてスイッチSW1の開閉制御を行う手段(本実施形態ではロジック回路CTRL)と、を有して成る。
また、「起動時の保護機能」と「動作時の保護機能」を切り替える起動確認手段は、コンデンサC2の端子電圧(VG端子の端子電圧Vb)と閾値電圧Vth4を比較するコンパレータCMP4と、コンパレータCMP4の出力信号に応じて上記した動作時保護手段の動作可否を制御する手段(本実施形態ではロジック回路CTRL)と、を有して成る。
まず、起動時の保護機能について、動作シーケンスを説明する。
第1のステップでは、半導体集積回路装置ICがスイッチSW1をオフ状態として起動される。このような動作シーケンスにより、半導体集積回路装置ICの起動時にCP2端子或いはVG端子がすでに地絡していた場合であっても、直流電圧源E0(電源電圧Vcc)からダイオードD1、D2に過大電流が流れ込むことはないので、半導体集積回路装置ICの破壊を防止することが可能となる。
第2のステップでは、ロジック回路CTRLの制御信号に応じてスイッチSW2がオン状態とされ、ダイオードD1、D2に試験電流Iref(例えば100[μA])が流し込まれる。
第3のステップでは、コンパレータCMP1によって、CP2端子の端子電圧Vaと所定の閾値電圧Vth1とが比較される。このとき、端子電圧Vaは、CP2端子の状態及びVG端子の状態によって、図2に示す通りとなる。
図2は、起動時におけるCP2端子及びVG端子の各状態と端子電圧Vaとの関係を説明するための表である。
本図に示すように、CP2端子が地絡している場合、VG端子の状態に依ることなく、端子電圧Vaは0[V]となる。一方、CP2端子は正常であるが、VG端子が地絡している場合、端子電圧Vaは、ダイオードD2の順方向降下電圧Vf(D2)となる。
これに対して、CP2端子及びVG端子がいずれも正常である場合、端子電圧Vaは、試験電流Irefと内部回路INTのインピーダンスRintとの積にダイオードD2の順方向降下電圧Vf(D2)を加えた値(Iref×Rint+Vf(D2))となる。
なお、試験電流Iref及び閾値電圧Vth1は、以下の(1)式を満たすように設定されている。
Vf(D2)<Vth1<Iref×Rint+Vf(D2) … (1)
第4のステップでは、ロジック回路CTRLによって、コンパレータCMP1の出力信号に基づく地絡検出が行われる。
すなわち、端子電圧Vaが閾値電圧Vth1よりも低い場合には、コンパレータCMP1の出力論理が切り替わらないため、ロジック回路CTRLでは、CP2端子及びVG端子の少なくとも一に地絡が生じていると判断され、スイッチSW1がオフ状態に維持される。一方、端子電圧Vaが閾値電圧Vth1に達した場合には、コンパレータCMP1の出力論理が切り替わるため、ロジック回路CTRLでは、CP2端子及びVG端子のいずれにも地絡は生じていないと判断され、スイッチSW1がオン状態とされ、スイッチSW2がオフ状態とされる。これによって昇圧動作が起動される。
なお、昇圧動作の起動に際して必ずしもスイッチSW2をオフ状態とする必要はなく、そのままオン状態を維持させても構わない。すなわち、スイッチSW2は、必ずしも必須の構成要素ではない。ただし、スイッチSW2を有する構成であれば、地絡検出時にスイッチSW1、SW2をいずれもオフ状態とすることで、ダイオードD1、D2への電流供給経路を完全に遮断することができるので、より安全性を高めることが可能となる。
以上が起動時の保護機能に関する動作シーケンスである。このように、昇圧動作の起動に先立ち、スイッチSW1をオフ状態とした上で、ダイオードD1、D2に試験電流Irefを流し、このとき得られるコンデンサC1の端子電圧(CP2端子の端子電圧Va)に基づいて、コンデンサC1、C2の接続端子(CP2端子及びVG端子)に地絡が生じているか否かを検出し、地絡が生じていないことを確認したときに、スイッチSW1をオン状態として昇圧動作を起動する構成であれば、地絡時の過大電流を未然に遮断して半導体集積回路装置ICを破壊から保護することが可能となる。
上記起動時の保護動作を経て、昇圧動作が起動されると、CP1端子に対して内部電圧Vrefと接地電圧GNDとの間でスイングされるパルス信号が不図示のパルス生成回路から印加され、ダイオードD1、D2を電荷転送用スイッチとして、コンデンサC1、C2による電荷の蓄積・転送が繰り返される。その結果、CP2端子の端子電圧Va、並びに、VG端子の端子電圧Vbは、図3に示すように上昇していく。
図3は、端子電圧Va、Vbと閾値電圧Vth2〜Vth4との関係を説明するための図である。なお、本図中において、実線は端子電圧Vaの挙動を示しており、破線は端子電圧Vbの挙動を示している。
起動直後の過渡期において、コンパレータCMP4では、端子電圧Vbと所定の閾値電圧Vth4とが比較される。なお、閾値電圧Vth4は、電源電圧Vccよりも高い電圧(例えば、電源電圧Vcc+(昇圧電圧)/2)に設定されている。そして、ロジック回路CTRLでは、端子電圧Vbが閾値電圧Vth4に達し、コンパレータCMP4の出力論理が切り替わったときに、コンパレータCMP2、CMP3の出力信号を受け付けるようになる。すなわち、以下で説明する動作時の保護機能が有効となる。
このように、端子電圧Vbに基づいて昇圧動作が起動されたか否かを検出する起動確認手段を有する構成であれば、起動直後の過渡期に動作時の保護機能を無効としておくことができるので、地絡の誤検出を回避して、その信頼性を高めることが可能となる。
なお、閾値電圧Vth4を高く設定し過ぎると、動作時の保護が遅れることになり、逆に、低く設定し過ぎると、昇圧動作が未だ定常状態に至らない間に、動作時の保護機能が働き出して、地絡の誤検出を生じるおそれがある。従って、閾値電圧Vth4は、上記でも例示したように、電源電圧Vcc+(昇圧電圧)/2程度に設定することが望ましい。
次に、動作時の保護機能について、動作シーケンスを説明する。
昇圧動作が行われている間、コンパレータCMP2では、CP2端子の端子電圧Vaと所定の閾値電圧Vth2とが比較され、コンパレータCMP3では、VG端子の端子電圧Vbと所定の閾値電圧Vth3とが比較される。このとき、端子電圧Va、Vbは、CP2端子の状態及びVG端子の状態によって、図4に示す通りとなる。
図4は、動作時におけるCP2端子及びVG端子の各状態と端子電圧Va、Vbとの関係を説明するための表である。
本図に示すように、CP2端子及びVG端子がいずれも地絡している場合、端子電圧Va、Vbはいずれも0[V]となる。また、CP2端子のみが地絡している場合、端子電圧Vaは0[V]となり、端子電圧Vbは徐々に低下する。一方、VG端子のみが地絡している場合、端子電圧Vaは、ダイオードD2の順方向降下電圧Vf(D2)となり、端子電圧Vbは0[V]となる。
これに対して、CP2端子及びVG端子がいずれも正常である場合、端子電圧Vaは、先出の図3でも示したように、電源電圧VccからダイオードD1の順方向降下電圧Vf(D1)を差し引いた値(Vcc−Vf(D1))と、これに内部電圧Vrefを加えた値(Vref+Vcc−Vf(D1))との間で発振する。また、端子電圧Vbは、端子電圧Vaのハイレベル電位からダイオードD2の順方向降下電圧Vf(D2)を差し引いた値(Vref+Vcc−Vf(D1)−Vf(D2))にほぼ維持される。
なお、閾値電圧Vth2、Vth3は、昇圧回路の正常動作時におけるCP2端子及びVG端子の最低電位以下であって、ダイオードD1、D2の順方向降下特性を考慮した電圧レベル(図3では、互いに同一レベル)に設定されている。
一方、昇圧動作が行われている間、ロジック回路CTRLでは、コンパレータCMP2及びコンパレータCMP3の各出力信号に基づく地絡検出が行われる。
すなわち、端子電圧Vaが閾値電圧Vth2よりも高く、かつ、端子電圧Vbが閾値電圧Vth3よりも高い場合には、コンパレータCMP2、及び、コンパレータCMP3の出力論理がいずれも切り替わらないため、ロジック回路CTRLでは、CP2端子及びVG端子のいずれにも地絡は生じていないと判断され、昇圧動作を継続すべく、スイッチSW1がオン状態に維持される。
一方、端子電圧Vaが閾値電圧Vth2よりも低くなった場合、或いは、端子電圧Vbが閾値電圧Vth3よりも低くなった場合には、コンパレータCMP2の出力論理、或いは、コンパレータCMP3の出力論理が切り替わる。このような状態が所定のマスク時間(数百[ns])以上続いたとき、ロジック回路CTRLでは、CP2端子及びVG端子の少なくとも一に地絡が生じていると判断され、スイッチSW1がオフ状態とされる。なお、スイッチSW1をオフした後、昇圧回路を復帰させるためには、半導体集積回路装置ICの電源を再投入すればよい。
以上が動作時の保護機能に関する動作シーケンスである。このように、昇圧動作の起動が確認された後、コンデンサC1、C2の端子電圧(CP2端子及びVG端子の端子電圧Va、Vb)に基づいて、コンデンサC1、C2の接続端子(CP2端子及びVG端子)に地絡が生じているか否かを検出し、地絡が生じていることを確認したときに、スイッチSW1をオフ状態とする構成であれば、動作開始後に地絡が生じた場合でも、地絡時の過大電流を未然に遮断して半導体集積回路装置ICを破壊から保護することが可能となる。
また、ロジック回路CTRLにおける地絡検出動作に関して、上記のマスク時間を設けたことにより、閾値電圧Vth2、Vth3を不必要に下げることなく、昇圧動作時のノイズ(充電時の突入電流)に起因する誤検出を防止することが可能となる。
次に、本発明に係る昇圧回路の第2実施形態について、図5を参照しながら説明する。
図5は、本発明に係る昇圧回路の第2実施形態を示す回路ブロック図である。
なお、本実施形態の昇圧回路は、先出の第1実施形態とほぼ同様の構成から成る。そこで、第1実施形態と同様の構成については、図1と同一符号を付すことで説明を省略し、以下では、本実施形態の特徴的な部分についてのみ重点的な説明を行う。
本図に示すように、本実施形態の昇圧回路は、ロジック回路CTRLの制御信号に応じて2値の電圧レベルを取り得る閾値電圧Vth5、Vth6を各々出力する直流電圧源E5、E6を有して成り、これを用いて図1に示した閾値電圧Vth1、Vth2、及び、閾値電圧Vth3、Vth4を各々排他的に切り換えることにより、コンパレータCMP1、CMP2を単一のコンパレータCMP5に一元化し、かつ、コンパレータCMP3、CMP4を単一のコンパレータCMP6に一元化して成る構成とされている。このような構成とすることにより、回路規模を縮小して、コストダウンを図ることが可能となる。なお、コンパレータの一元化については、一方のみとしてもよい。
図6は、閾値電圧を可変するための一構成例を示す回路図である。なお、本図では、閾値電圧Vth6の可変回路を例示して説明を行うが、閾値電圧Vth5の可変回路についても、同様の構成を採用することが可能である。
本図に示すように、本実施形態の昇圧回路は、閾値電圧を排他的に切り換える手段として、コレクタが検出すべき端子電圧Vbの印加端に接続されるトランジスタQaと、端子電圧Vbの印加端とトランジスタQaのベースとの間に接続される抵抗Raと、トランジスタQaのエミッタと接地端との間に直列接続され、互いの接続ノードがコンパレータCMP6の一入力端に接続される抵抗Rb、Rcと、トランジスタQaのベースと接地端との間に接続され、ロジック回路CTRLから与えられる所定の制御信号に応じてオン/オフ制御される定電流源Iaと、コレクタが電源電圧Vccの印加端に接続されるトランジスタQbと、電源電圧Vccの印加端とトランジスタQbのベースとの間に接続される抵抗Rdと、トランジスタQbのエミッタと接地端との間に直列接続され、互いの接続ノードがコンパレータCMP6の他入力端に接続される抵抗Re、Rfと、トランジスタQbのベースと接地端との間に接続され、ロジック回路CTRLから与えられる所定の制御信号に応じて定電流源Iaとは相補的にオン/オフ制御される定電流源Ibと、を有する構成とされている。
上記構成から成る閾値電圧可変回路において、定電流源Iaがオン状態とされ、定電流源Ibがオフ状態とされると、抵抗Rb、Rcの接続ノードで得られる電圧レベルは低くなり、抵抗Re、Rfの接続ノードで得られる電圧レベルは高くなる。すなわち、端子電圧Vbと比較参照される閾値電圧Vth6としては、より高い電圧レベル(図1で言えば閾値電圧Vth4)が選択された形となる。
一方、上記構成から成る閾値電圧可変回路において、定電流源Iaがオフ状態とされ、定電流源Ibがオン状態とされると、抵抗Rb、Rcの接続ノードで得られる電圧レベルは高くなり、抵抗Re、Rfの接続ノードで得られる電圧レベルは低くなる。すなわち、端子電圧Vbと比較参照される閾値電圧Vth6としては、より低い電圧レベル(図1で言えば閾値電圧Vth3)が選択された形となる。
このような構成とすることにより、簡易な構成で閾値電圧Vth6の可変制御を行い、コンパレータCMP6の一元化を実現することが可能となる。また、抵抗Ra、Rdに定電流を流すことによって、トランジスタQa、Qbのベース電位を制御する上記構成であれば、電源電圧Vccの変動に依らない閾値電圧を生成することが可能となる。
なお、本発明の構成は、上記実施形態のほか、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えることが可能である。
例えば、上記実施形態では、試験電流Irefを生成する手段として、定電流源I1を用いた構成を例示して説明を行ったが、本発明の構成はこれに限定されるものではなく、大きな抵抗値を有する抵抗素子を用いても構わない。
本発明は、例えば、昇圧回路を内蔵したモータドライバICやプリドライバIC、或いは、スイッチングレギュレータICの信頼性を高める上で有用な技術である。
は、本発明に係る昇圧回路の第1実施形態を示す回路ブロック図である。 は、起動時におけるCP2端子及びVG端子の各状態と端子電圧Vaとの関係を説明するための表である。 は、端子電圧Va、Vbと閾値電圧Vth2〜Vth4との関係を説明するための図である。 は、動作時におけるCP2端子及びVG端子の各状態と端子電圧Va、Vbとの関係を説明するための表である。 は、本発明に係る昇圧回路の第2実施形態を示す回路ブロック図である。 は、閾値電圧を可変するための一構成例を示す回路図である。 は、昇圧回路の一従来例を示す回路図である。
符号の説明
IC 半導体集積回路装置
D1、D2 ダイオード
C1、C2 コンデンサ
INT 内部回路
E0 直流電圧源
SW1、SW2 スイッチ
I1 定電流源
CTRL ロジック回路
CMP1、CMP2、CMP3、CMP4、CMP5、CMP6 コンパレータ
E1、E2、E3、E4、E5、E6 直流電圧源
Ra、Rb、Rc、Rd、Re、Rf 抵抗
Qa、Qb npn型バイポーラトランジスタ
Ia、Ib 定電流源

Claims (4)

  1. 第1、第2ダイオードを電荷転送用スイッチとして用い、第1、第2コンデンサによる電荷の蓄積・転送を繰り返すことにより、所望の昇圧電圧を生成する昇圧回路であって、
    第1、第2ダイオードへの電流供給経路に設けられたスイッチと;
    昇圧動作の起動に先立ち、前記スイッチをオフ状態とした上で、第1、第2ダイオードに試験電流を流し、このときに得られる第1コンデンサの端子電圧に基づいて、第1、第2コンデンサの接続端子に地絡が生じているか否かを検出し、地絡が生じていないことを確認したときに、前記スイッチをオン状態として昇圧動作を起動する起動時保護手段と;
    第2コンデンサの端子電圧に基づいて、昇圧動作が起動されたか否かを検出する起動確認手段と;
    昇圧動作の起動が確認された後、第1、第2コンデンサの端子電圧に基づいて、第1、第2コンデンサの接続端子に地絡が生じているか否かを検出し、地絡が生じていることを確認したときに、前記スイッチをオフ状態とする動作時保護手段と;
    を有して成ることを特徴とする昇圧回路。
  2. 前記起動時保護手段は、前記試験電流を生成する定電流源と、第1コンデンサの端子電圧と第1閾値電圧を比較する第1コンパレータと、第1コンパレータの出力信号に応じて前記スイッチの開閉制御を行う手段と、を有して成り、前記動作時保護手段は、第1コンデンサの端子電圧と第2閾値電圧を比較する第2コンパレータと、第2コンデンサの端子電圧と第3閾値電圧を比較する第3コンパレータと、第2、第3コンパレータの出力信号に応じて前記スイッチの開閉制御を行う手段と、を有して成り、前記起動確認手段は、第2コンデンサの端子電圧と第4閾値電圧とを比較する第4コンパレータと、第4コンパレータの出力信号に応じて前記動作時保護手段の動作可否を制御する手段と、を有して成ることを特徴とする請求項1に記載の昇圧回路。
  3. 第1、第2閾値電圧を排他的に切り換えることで第1、第2コンパレータを一元化し、及び/または、第3、第4閾値電圧を排他的に切り換えることで第3、第4コンパレータを一元化して成ることを特徴とする請求項2に記載の昇圧回路。
  4. 各閾値電圧を排他的に切り換える手段として、一端が検出すべき端子電圧の印加端に接続される第1トランジスタと、前記端子電圧の印加端と第1トランジスタの制御端との間に接続される第1抵抗と、第1トランジスタの他端と接地端との間に直列接続され、互いの接続ノードがコンパレータの一入力端に接続される第2、第3抵抗と、第1トランジスタの制御端と接地端との間に接続され、所定の制御信号に応じてオン/オフ制御される第1定電流源と、一端が電源電圧の印加端に接続される第2トランジスタと、前記電源電圧の印加端と第2トランジスタの制御端との間に接続される第4抵抗と、第2トランジスタの他端と接地端との間に直列接続され、互いの接続ノードがコンパレータの他入力端に接続される第5、第6抵抗と、第2トランジスタの制御端と接地端との間に接続され、所定の制御信号に応じて第1定電流源とは相補的にオン/オフ制御される第2定電流源と、を有して成ることを特徴とする請求項3に記載の昇圧回路。
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