JP2008035076A - 光トランシーバ - Google Patents
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Abstract
【課題】送信光信号の伝送速度の精度の劣化を抑えることが可能な光トランシーバを提供する。
【解決手段】本発明の一実施形態に係る光トランシーバ1は、電気信号と参照クロック信号が入力され、電気信号を参照クロック信号に同期して出力する伝送速度補償手段20と、伝送速度補償手段の出力を光信号に変換する電気/光変換手段30と、参照クロック信号を生成する信号発生器40と、信号発生器の温度を検知して当該温度に対応した制御信号を出力する制御回路60とを有し、参照クロック信号の周波数が制御信号により安定化されていることを特徴とする。
【選択図】図1
【解決手段】本発明の一実施形態に係る光トランシーバ1は、電気信号と参照クロック信号が入力され、電気信号を参照クロック信号に同期して出力する伝送速度補償手段20と、伝送速度補償手段の出力を光信号に変換する電気/光変換手段30と、参照クロック信号を生成する信号発生器40と、信号発生器の温度を検知して当該温度に対応した制御信号を出力する制御回路60とを有し、参照クロック信号の周波数が制御信号により安定化されていることを特徴とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、光トランシーバに関する。
下記の非特許文献1には、光送信および光受信機能を備える光トランシーバが記載されている。
Product Brief、TXN17401:10Gbps OpticalSerializer/Deserializer XENPAK Transceiver、Intel Corporation、2002年
Product Brief、TXN17401:10Gbps OpticalSerializer/Deserializer XENPAK Transceiver、Intel Corporation、2002年
通信規格10Gigabit−Ethernet(登録商標)にはLAN用の物理層をサポートする10GBASE−Rに加えてWAN用の物理層をサポートする10GBASE−Wも標準化されている。10GBASE−Rは信号の伝送速度が10.3125Gbps±100ppmの範囲内にあることが規定されており、±100ppm以内の精度が確保されている。しかし、10GBASE−Wでは、信号伝送速度に±20ppm以内の精度が要求されている。一般に、光トランシーバの寿命が尽きる時点で±20ppm以内の精度を確保するためには、初期状態で約±10ppm以内の精度が必要とされる。
送信光信号の伝送速度の精度を高めるためには、±100ppm以内の精度を有する入力電気信号から、より高い周波数精度を有するクロック信号を用いてデータ信号を生成し、このデータ信号を送信光信号に変換することが考えられる。しかしながら、クロック信号を生成する発振器は、通常、温度特性を有するため、光トランシーバ内の温度が上昇すると、クロック周波数が変動してしまう。このため、送信光信号の伝送速度の精度が劣化し易く、±10ppm以内といった高い精度を維持することが難しい。
そこで、本発明は、送信光信号の伝送速度の精度の劣化を抑えることが可能な光トランシーバを提供することを課題とする。
本発明の光トランシーバは、(a)電気信号と参照クロック信号が入力され、電気信号を参照クロック信号に同期して出力する伝送速度補償手段と、(b)伝送速度補償手段の出力を光信号に変換する電気/光変換手段と、(c)参照クロック信号を生成する信号発生器と、(d)信号発生器の温度を検知して温度に対応した制御信号を出力する制御回路とを有し、(e)参照クロック信号の周波数が制御信号により安定化されていることを特徴とする。
参照クロック信号の周波数が信号発生器の温度に応じて安定化されるので、信号発生器の温度特性を補償し、信号発生器の温度に応じた参照クロック信号の周波数の変動を低減することが可能である。この参照クロック信号に同期した伝送速度補償手段の出力から光信号が生成されるので、光信号の伝送速度の精度が劣化し難い。
上記した伝送速度補償手段は、電気信号から再生クロック信号を抽出するクロック再生器を含んでいてもよく、上記した光トランシーバは、さいせいクロック信号と参照クロック信号の位相差を検出する位相比較器と、位相比較器の出力と制御信号の何れかを選択して信号発生器へ出力するセレクタとを更に備えていてもよい。
セレクタが制御信号を信号発生器へ出力する場合には、上記したように、光信号の伝送速度の劣化を抑えることが可能である。一方、セレクタが位相比較器の出力を信号発生器へ出力する場合には、位相比較器および信号発生器によってPLL(Phase Locked Loop)回路が構成される。この結果、伝送速度補償手段に入力される電気信号に同期した参照クロック信号が生成されるので、光信号を電気信号に同期させることができる。したがって、伝送速度の精度の劣化を抑えた光信号を出力するか、あるいは外部から入力される電気信号に同期した光信号を出力するかを選択することができる。
また、上記した光トランシーバは、受信した光信号を受信電気信号に変換する光/電気変換手段と、受信電気信号から再生クロック信号を再生するクロック再生器と、再生クロック信号と参照クロック信号の位相を比較する位相比較器と、位相比較器の出力と制御信号の何れかを選択して信号発生器へ出力するセレクタとを更に備えていてもよい。
セレクタが制御信号を信号発生器へ出力する場合には、上記したように、光信号の伝送速度の劣化を抑えることが可能である。一方、セレクタが位相比較器の出力を信号発生器へ出力する場合には、位相比較器および信号発生器によってPLL回路が構成される。この結果、受信した光信号に同期した参照クロックが生成されるので、光信号をその受信光信号に同期することができる。したがって、伝送速度の精度の劣化を抑えた光信号を出力するか、あるいは受信した光信号に同期した光信号を出力するかを選択することができる。
本発明によれば、光トランシーバにおける送信光信号の伝送速度の精度の劣化を抑えることが可能となる。
以下、図面を参照して本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、各図面において同一又は同等の部分に対しては同一の符号を付すこととする。
[第1の実施形態]
[第1の実施形態]
図1は、本発明の第1の実施形態に係る光トランシーバを示す回路図である。この光トランシーバ1は、伝送速度補償部5、電気/光変換回路30、電圧制御発振器(信号発生器)40、および制御回路60を備えている。なお、図1では、図面の簡単のため、光トランシーバ1のうち光送信部のみを図示し、光受信部は省略している。
伝送速度補償部5は、光トランシーバ1の外部から入力される電気信号TxE1の伝送速度の誤差を補償する。伝送速度補償部5は、クロック再生器10および伝送速度補償器20を含んでいる。電気信号TxE1は、伝送速度補償器20の入力端子20aに入力されると共に、クロック再生器10にも入力される。
クロック再生器10は、電気信号TxE1から再生クロック信号CLK1を抽出し、伝送速度補償器20の第1のクロック端子20bへ出力する。電気信号TxE1に含まれる入力データが10Gigabit−Ethernet(登録商標)に準拠している場合、電気信号TxE1の伝送速度は10.3125Gbps±100ppmの範囲内であり、再生クロック信号CLK1の周波数は10.3125GHz±100ppmの範囲内である。すなわち、入力信号の伝送速度および再生クロック周波数の双方とも、±100ppm以内の精度を有している。ここで、精度とは、目標値である10.3125Gbpsや10.3125GHzからのずれ量を表している。
伝送速度補償器20の第2のクロック端子20cには、電圧制御発振器40から参照クロック信号CLK2が供給される。伝送速度補償器20は、電気信号TxE1のデータを再生クロック信号CLK1に同期して順次に保持した後、参照クロック信号CLK2に同期して順次に出力することで、そのデータの伝送速度の精度を改善する。伝送速度補償器20の詳細は後述する。
伝送速度補償器20の出力端子20dは、電気/光変換回路30に接続されている。電気/光変換回路30は、伝送速度補償器20から出力される電気信号TxE2を送信光信号TxOに変換し、光トランシーバ1の外部に出力する。電気/光変換回路30には、レーザダイオード、レーザダイオード駆動回路およびオートパワーコントロール回路に加えて、光信号TxOを外部に送信するための光学系が含まれている。
電圧制御発振器40は、参照クロック信号CLK2を生成し、伝送速度補償器20の第2のクロック端子20cへ出力する。参照クロック信号CLK2の周波数は、制御回路60から供給される制御信号CTL1によって定まる。
制御回路60は、電圧制御発振器40の周囲温度に対応した制御信号CTL1を電圧制御発振器40に供給して、電圧制御発振器40の発振周波数、すなわち参照クロック信号CLK2の周波数を制御する。そのために、制御回路60は、温度センサ50、アナログ/ディジタル変換器(以下、「ADC」)61、発振周波数制御回路62、およびディジタル/アナログ変換器(以下、「DAC」)63を有している。
温度センサ50は、電圧制御発振器40の周囲温度を検知し、その周囲温度に応じた電圧値を有するアナログ温度信号をADC61へ出力する。温度センサ50の一例は、サーミスタである。
ADC61は、温度センサ50からのアナログ温度信号をディジタル温度値に変換し、発振周波数制御回路62へ送出する。発振周波数制御回路62は、このディジタル温度値に基づいて、電圧制御発振器40の発振周波数に対応するディジタル制御値を生成する。このディジタル制御値は、後述するように、周囲温度に応じた電圧制御発振器40の発振周波数の変動を低減するように決定される。このディジタル制御値は、DAC63に送出されて、アナログ制御信号に変換される。この制御信号は、電圧制御発振器40に供給され、参照クロック信号CLK2の周波数を決定する。
次に、伝送速度補償器20の詳細を説明する。図2は、伝送速度補償器20を示す回路図である。伝送速度補償器20は、シリアル/パラレル変換器(以下、「S/P」)23、デスタッフ回路24、FIFO(First In First Out)メモリ25、スタッフ回路26、パラレル/シリアル変換器(以下、「P/S」)27、分周器28、および逓倍器29を有する。
S/P23は、入力端子20aから電気信号TxE1を受けると共に、第1のクロック端子20bから再生クロック信号CLK1を受ける。S/P23は、再生クロック信号CLK1を用いて電気信号TxE1をシリアル/パラレル変換し、複数のパラレル信号TxE3を生成する。これらのパラレル信号TxE3は、デスタッフ回路24へ送出される。なお、電気信号TxE1から抽出された再生クロック信号CLK1を用いるのは、電気信号TxE1をエラーなくシリアル/パラレル変換するためである。
分周器28は、第1のクロック端子20bから再生クロック信号CLK1を受けて分周し、分周再生クロック信号CLK1dを生成する。伝送速度補償器20の内部データビット幅がnビット(nは2以上の整数)であれば、分周器28の分周率は1/nとなる。分周再生クロック信号CLK1dの周波数精度は、再生クロック信号CLK1と同様に±100ppm以内である。分周器28は、分周再生クロック信号CLK1dをデスタッフ回路24のクロック端子およびFIFOメモリ25の書き込みクロック端子へ出力する。
デスタッフ回路24は、パラレル信号TxE3からスタッフビットを除去した後、これらのパラレル信号のデータをデスタッフ回路24内のメモリに一時格納する。その後、デスタッフ回路24は、メモリ内のデータを分周再生クロック信号CLK1dに同期して読み出す。こうして、デスタッフ回路24から複数のパラレル信号TxE4が出力され、FIFOメモリ25に送られる。なお、分周再生クロック信号CLK1dは、パラレル信号TxE3をエラーなく読み出すために用いられている。
FIFOメモリ25の読み出しクロック端子には、第2のクロック端子20cから参照クロック信号CLK2が供給される。FIFOメモリ25には、デスタッフ回路24からのパラレル信号TxE4のデータが分周再生クロック信号CLK1dに同期して順次に書き込まれる。書き込まれたデータは、参照クロック信号CLK2に同期して順次に読み出される。こうして、複数のパラレル信号TxE5がFIFOメモリ25からスタッフ回路26へ出力される。なお、分周再生クロック信号CLK1dは、パラレル信号TxE4をエラーなく書き込むために、書き込みクロック信号として用いられている。一方、読み出しクロック信号としては、周波数の精度がより高い参照クロック信号CLK2が用いられる。これにより、パラレル信号TxE5の伝送速度の精度を入力信号TxE1の伝送速度の精度よりも改善することができる。
スタッフ回路26のクロック端子には、第2のクロック端子20cから参照クロック信号CLK2が入力される。スタッフ回路26は、FIFO25からのパラレル信号TxE5のデータをスタッフ回路26内のメモリに一時格納した後、これらのデータを参照クロック信号CLK2を用いて読み出し、スタッフビットを挿入する。これにより、参照クロック信号CLK2に同期した複数のパラレル信号TxE6が生成され、P/S27へ送出される。スタッフ回路26でも、分周再生クロック信号CLK1dではなく、参照クロック信号CLK2が用いられるので、パラレル信号TxE6は、入力信号TxE1よりも高い精度の伝送速度を有する。
なお、デスタッフ回路24およびスタッフ回路26は、FIFO25において書き込みクロック信号の周波数と読み出しクロック信号の周波数とが異なることによって書き込み速度と読み出し速度とが異なっても、書き込むべきメモリが不足する状況や読み出すべきデータが無くなる状況を生じさせないために設けられている。
逓倍器29は、第2のクロック端子20cから参照クロック信号CLK2を受けて逓倍し、逓倍参照クロック信号CLK2mを生成する。伝送速度補償器20の内部データビット幅がnビットであれば、逓倍器29の逓倍率はnとなる。逓倍参照クロック信号CLK2mの周波数精度は、参照クロック信号CLK2と同等の精度に保たれる。逓倍器29は、逓倍参照クロック信号CLK2mをP/S27のクロック端子へ出力する。
P/S27は、逓倍参照クロック信号CLK2mを用いてパラレル信号TxE6をシリアル信号に変換して電気信号TxE2を生成する。参照クロック信号CLK2と同等の精度を有する逓倍参照クロック信号CLK2mを用いることで、電気信号TxE2の伝送速度の精度は、入力信号TxE1の伝送速度の精度よりも高くなる。
本実施形態では、電圧制御発振器40として温度特性を有する水晶発振器を使用する。制御信号CTL1の電圧値が一定である場合、水晶発振器の発振周波数は周囲温度に応じて変動する。図3は、水晶発振器の発振周波数の温度特性を示している。図3には、異なる4つの水晶発振器の温度特性曲線40a,40b,40c,40dが示されている。ここで、横軸は周囲温度であり、縦軸は周囲温度25℃における発振周波数fに対する発振周波数の変動量Δfの比Δf/fである。図3によれば、例えば曲線40aでは、周囲温度が25℃から70℃まで上昇すると、発振周波数が約50ppm上昇することがわかる。
図4は、制御信号CTL1に対する電圧制御発振器40の発振周波数特性を示している。図4には、図3の温度特性曲線40aを有する電圧制御発振器40の周囲温度25℃における発振周波数曲線40e、および周囲温度70℃における発振周波数曲線40fが示されている。ここで、横軸は制御信号CTL1の電圧値であり、縦軸は発振周波数である。
本実施形態では、電圧制御発振器40から出力される参照クロック信号CLK2の周波数の変動を抑えるため、電圧制御発振器40の周囲温度の変化に応じて制御信号CTL1を調節する。図4によれば、制御信号CTL1がV1のときに周囲温度が25℃から70℃に上昇した場合、制御信号CTL1をV1からV2に低減すれば発振周波数の変動を+50ppmから+20ppmに低減できることがわかる。また、制御信号CTL1をV3まで低減すると発振周波数の変動を+10ppmに低減でき、制御信号CTL1をV4まで低減すると発振周波数の変動を打ち消すことができることがわかる。
発振周波数制御回路62は、ADC61から送られるディジタル温度値と電圧制御発振器40の発振周波数特性に基づいて、参照クロック信号CLK2の周波数の変動を妨げるように、ディジタル制御値を決定する。この決定方法としては、様々な方法が考えられる。例えば、このディジタル制御値は、図3に示される温度特性曲線から導かれる演算式にディジタル温度値を代入することにより決定されてもよい。また、事前の実験やシミュレーションによって様々なディジタル温度値にディジタル制御値を対応付けるデータテーブルを作成しておいてもよい。発振周波数制御回路62は、このテーブルに従ってADC61からのディジタル温度値に対応付けられたディジタル制御値を出力してもよい。また、発振周波数制御回路62は、PID制御やPD制御、PI制御によってディジタル制御値を決定してもよい。
このように、参照クロック信号CLK2の周波数が電圧制御発振器40の周囲温度に応じて制御されるので、電圧制御発振器40の温度特性を補償し、周囲温度に応じた参照クロック信号CLK2の周波数の変動を低減することが可能である。その結果、初期状態において設定された参照クロック信号CLK2の周波数の精度を、周囲温度の変動に拘らず維持することができる。光トランシーバ1は、このような参照クロック信号CLK2に同期した送信光信号TxOを生成するので、送信光信号TxOの伝送速度の精度の劣化を抑えることができる。これにより、±10ppm以内といった高い精度を維持することも可能になる。
[第2の実施形態]
[第2の実施形態]
図5は、本発明の第2の実施形態に係る光トランシーバを示す回路図である。この光トランシーバ1Aは、光トランシーバ1に位相比較部85およびセレクタ78を加えた構成を有している。本実施形態では、位相比較部85は、位相比較器74に加えて、分周器72およびローパスフィルタ(以下、「LPF」)76を有している。
分周器72は、クロック再生器10から再生クロック信号CLK1を受けて分周し、分周再生クロック信号CLK1d2を生成する。伝送速度補償器20内の分周器28と同様に、伝送速度補償器20の内部データビット幅がnであれば、分周器72の分周率は1/nである。分周器72は、分周再生クロック信号CLK1d2を位相比較器74の第1の入力端子へ出力する。
本実施形態では、参照クロック信号CLK2の周期が伝送速度補償器20の内部データビット幅に対応しているので、分周器72によって生成される分周再生クロック信号CLK1d2の周期は、参照クロック信号CLK2の周期と同一となる。これにより、位相比較器74は、高い精度で位相比較を行うことができる。ただし、クロック再生器10からの再生クロック信号CLK1の周期は、参照クロック信号CLK2の周期の整数倍であるので、分周器72を省略しても、十分に高い精度で位相比較を行うことは可能である。
位相比較器74の第2の入力端子には、電圧制御発振器40から参照クロック信号CLK2が入力される。位相比較器74は、分周再生クロック信号CLK1d2と参照クロック信号CLK2との位相差に応じたパルス幅を有する位相差信号を生成し、LPF76へ出力する。
LPF76は、位相比較器74からの位相差信号を平滑化する平滑化回路として機能する。平滑化された位相差信号は、第2の制御信号CTL2としてセレクタ78の第2の入力端子へ送出される。
セレクタ78の第1の入力端子には、制御回路60から第1の制御信号CTL1が入力される。セレクタ78は、二つの制御信号CTL1およびCTL2の何れか一方を選択的に電圧制御発振器40の制御端子へ出力する。セレクタ78にどちらの制御信号を出力するかは、光トランシーバ1外から供給される電気信号(図示せず)に従って決定される。
セレクタ78が第1の制御信号CTL1を電圧制御発振器40へ出力する場合には、第1の実施形態と同様の利点を得ることができる。一方、セレクタ78が第2の制御信号CTL2を電圧制御発振器40へ出力する場合には、位相比較部85(分周器72、位相比較器74、LPF76)および電圧制御発振器40によってPLL(Phase Locked Loop)回路が構成される。このため、参照クロック信号CLK2は入力電気信号TxE1に同期することとなり、その結果、送信光信号TxOを入力電気信号TxE1に同期させることができる。したがって、本実施形態では、伝送速度の精度の劣化を抑えた送信光信号TxOを出力するか、あるいは入力電気信号TxE1に同期した送信光信号TxOを出力するかを選択することができる。
[第3の実施形態]
[第3の実施形態]
図6は、本発明の第3の実施形態に係る光トランシーバを示す回路図である。図6では、図1および図5で省略されていた受信用の光/電気変換回路90が図示されている。この光トランシーバ1Bは、光トランシーバ1Aにクロック再生器80を加えた構成を有しており、分周器72の入力端子がクロック再生器10ではなくクロック再生器80の出力端子に接続されている。光トランシーバ1Bの他の構成は光トランシーバ1Aと同様である。
光/電気変換回路90は、外部から受信した光信号RxOを受信電気信号RxEに変換する。クロック再生器80は、この受信電気信号RxEから再生クロック信号CLK3を抽出し、分周器72へ出力する。分周器72は、再生クロック信号CLK3を分周して分周再生クロック信号CLK3dを生成し、位相比較器74は、この分周再生クロック信号CLK3dと参照クロック信号CLK2との位相差に応じたパルス幅を有する位相差信号を生成する。この位相差信号は、LPF66によって平滑化され、第2の制御信号CTL2としてセレクタ78の第2の入力端子へ送出される。
セレクタ78が第1の制御信号CTL1を電圧制御発振器40へ出力する場合には、第1の実施形態と同様な利点を得ることができる。一方、セレクタ78が第2の制御信号CTL2を電圧制御発振器40へ出力する場合には、位相比較部85(分周器72、位相比較器74、LPF76)および電圧制御発振器40によってPLL回路が構成される。このため、参照クロック信号CLK2は受信光信号RxOに同期することとなり、その結果、送信光信号TxOを受信光信号RxOに同期させることができる。したがって、本実施形態では、伝送速度の精度の劣化を抑えた送信光信号TxOを出力するか、あるいは受信光信号RxOに同期した送信光信号TxOを出力するかを選択することができる。光トランシーバが送信光信号を自身で受け取り、その送受の関係を検討するループバックテストでは、送信光信号を受信光信号に同期して出力する必要がある。光トランシーバ1Bによれば、セレクタ78に第2の制御信号CTL2を出力させることによって、ループバックテストを容易に実行することができる。
なお、本発明は上記した本実施形態に限定されることなく種々の変形が可能である。
1…光トランシーバ、5…伝送速度補償部(伝送速度補償手段)、10…クロック再生器、20…伝送速度補償器、23…シリアル/パラレル変換器(S/P)、24…デスタッフ回路、25…FIFOメモリ、26…スタッフ回路、27…パラレル/シリアル変換器(P/S)、28…分周器、29…逓倍器、30…電気/光変換回路(電気/光変換手段)、40…電圧制御発振器(信号発生器)、50…温度センサ、60…制御回路、61…アナログ/ディジタル変換器(ADC)、62…発振周波数制御回路、63…ディジタル/アナログ変換器(DAC)、72…分周器、74…位相比較器、76…平滑化回路、78…セレクタ、80…クロック再生器、85…位相比較部、90…光/電気変換回路(光/電気変換手段)。
Claims (3)
- 電気信号と参照クロック信号が入力され、前記電気信号を前記参照クロック信号に同期して出力する伝送速度補償手段と、
前記伝送速度補償手段の出力を光信号に変換する電気/光変換手段と、
前記参照クロック信号を生成する信号発生器と、
前記信号発生器の温度を検知して前記温度に対応した制御信号を出力する制御回路と、
を有し、
前記参照クロック信号の周波数が前記制御信号により安定化されている、
ことを特徴とする光トランシーバ。 - 前記伝送速度補償手段は、前記電気信号から再生クロック信号を抽出するクロック再生器を含み、
前記光トランシーバは、
前記再生クロック信号と前記参照クロック信号の位相差を検出する位相比較器と、
前記位相比較器の出力と前記制御信号の何れかを選択して前記信号発生器へ出力するセレクタと、
を更に備える請求項1に記載の光トランシーバ。 - 受信した光信号を受信電気信号に変換する光/電気変換手段と、
前記受信電気信号から再生クロック信号を再生するクロック再生器と、
前記再生クロック信号と前記参照クロック信号の位相を比較する位相比較器と、
前記位相比較器の出力と前記制御信号の何れかを選択して前記信号発生器へ出力するセレクタと、
を更に備える請求項1に記載の光トランシーバ。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006204872A JP2008035076A (ja) | 2006-07-27 | 2006-07-27 | 光トランシーバ |
US11/878,629 US20080025729A1 (en) | 2006-07-27 | 2007-07-25 | Optical transceiver precisely setting the transmission rate of the output optical signal |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006204872A JP2008035076A (ja) | 2006-07-27 | 2006-07-27 | 光トランシーバ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008035076A true JP2008035076A (ja) | 2008-02-14 |
Family
ID=38986431
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006204872A Pending JP2008035076A (ja) | 2006-07-27 | 2006-07-27 | 光トランシーバ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20080025729A1 (ja) |
JP (1) | JP2008035076A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009253842A (ja) * | 2008-04-09 | 2009-10-29 | Nec Corp | クロック同期システム |
JP2011199548A (ja) * | 2010-03-19 | 2011-10-06 | Fujitsu Ltd | 伝送装置及び信号伝送方法 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5049887B2 (ja) * | 2008-03-05 | 2012-10-17 | 株式会社フジクラ | 光伝送装置 |
JP5363143B2 (ja) * | 2009-03-02 | 2013-12-11 | オリンパス株式会社 | データ通信システム及び受信装置 |
JP5531513B2 (ja) * | 2009-09-01 | 2014-06-25 | 富士通株式会社 | デスタッフ回路および伝送装置 |
FR3005761B1 (fr) * | 2013-05-15 | 2015-06-05 | Sagemcom Broadband Sas | Dispositif et procede de recalage d'une frequence d'oscillation d'un oscillateur vctcxo |
US11133866B2 (en) * | 2014-02-25 | 2021-09-28 | Pharmaseq, Inc. | All optical identification and sensor system with power on discovery |
KR20160121204A (ko) * | 2015-04-10 | 2016-10-19 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 집적 회로 |
US10882258B1 (en) | 2016-01-22 | 2021-01-05 | Pharmaseq, Inc. | Microchip affixing probe and method of use |
US9768877B2 (en) | 2016-01-22 | 2017-09-19 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Multi-bit digital to analog-optical converter |
US10546647B2 (en) * | 2017-06-26 | 2020-01-28 | Sandisk Technologies Llc | Wide range zero temperature coefficient oscillators and related devices and methods |
JP2023522540A (ja) | 2020-02-14 | 2023-05-31 | ピー-チップ・アイピー・ホールディングス・インコーポレイテッド | 光トリガ式トランスポンダ |
CN113472442B (zh) * | 2020-03-31 | 2022-07-01 | 烽火通信科技股份有限公司 | 一种相干dsp芯片的时钟处理方法及系统 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08148996A (ja) * | 1994-11-22 | 1996-06-07 | Nec Eng Ltd | Pll回路 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IL120119A0 (en) * | 1997-01-31 | 1997-04-15 | Binder Yehuda | Method and system for calibrating a crystal oscillator |
JP3147038B2 (ja) * | 1997-05-12 | 2001-03-19 | 日本電気株式会社 | ビットレート選択型タイミング抽出器、ビットレート選択型識別再生器およびビットレート選択型光再生中継器 |
-
2006
- 2006-07-27 JP JP2006204872A patent/JP2008035076A/ja active Pending
-
2007
- 2007-07-25 US US11/878,629 patent/US20080025729A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08148996A (ja) * | 1994-11-22 | 1996-06-07 | Nec Eng Ltd | Pll回路 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009253842A (ja) * | 2008-04-09 | 2009-10-29 | Nec Corp | クロック同期システム |
JP2011199548A (ja) * | 2010-03-19 | 2011-10-06 | Fujitsu Ltd | 伝送装置及び信号伝送方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080025729A1 (en) | 2008-01-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090319 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110810 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A02 | Decision of refusal |
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