JP2008027548A - 磁気記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】非磁性支持体2上に、非磁性粉末が結合剤中に分散されてなる非磁性下層3aと、磁性粉末が結合剤中に分散されてなる磁性層3bとが、順次重層形成されてなる磁気記録媒体であって、前記非磁性支持体2は、ガラス転移点温度(Tg)値が125℃以上のポリエチレンテレフタレートであり、磁気記録媒体全厚(T)に占める非磁性支持体厚み(t)が70%以上85%以下であり、好ましくは前記非磁性支持体2は、長手方向のヤング率が6000N/mm2以上、幅方向のヤング率が4000N/mm2以上のポリエチレンテレフタレートである。
【選択図】図1
Description
非磁性支持体2として、本発明では高融点成分を含む強化PETを使用する。PETのガラス点移転温度(Tg)は通常樹脂単体では70℃から80℃であるが、磁気記録媒体の非磁性支持体に使用される厚さ4ミクロンから15ミクロンのフィルムでは、製膜時の延伸による分子の配向の影響や、他の高融点樹脂を加えることでポリマーアロイの効果やフィラー成分の効果などにより110℃から120℃となる。
本発明においてより有用な磁性粉は強磁性の微粒子メタル粉であり、σs=100Am2/kgから200Am2/kg、BET法による比表面積45から60m2/g、抗磁力150kA/mから300kA/mで顕著な効果がみられる。
(実施例)
以下、本発明の具体的な実施例について説明するが、本発明はこの実施例に限定されるものではない。
<磁性層の作製>
下記に示した組成に基づき、各磁性層を構成する各塗料を調製した。
メタル磁性粉 100重量部
(平均長軸長:65 nm、保磁力Hc:210kA/m、
飽和磁化σs:130Am2/kg
Co含有率 24at%、
Al含有率 4.7wt%
Y 含有率 7.9at%)
塩化ビニル系共重合体 10重量部
(日本ゼオン社製、商品名:MR−110)
ポリエステルポリウレタン樹脂 8重量部
(フタレート系ポリエステルポリウレタン、数分子量25000、
極性基=SO3Na、0.2wt%含有)
研磨剤 10重量部
(住友化学社製 HIT-50)
ポリイソシアネート 4重量部
(日本ポリウレタン社製、商品名:コロネートL。但し、ポリイソシアネートは塗布直前に混合した。)
ミリスチン酸 1重量部
ステアリン酸ブチル 1重量部
メチルエチルケトン 80重量部
シクロヘキサノン 80重量部
トルエン 80重量部
上述した磁性粉に塩ビとポリウレタン樹脂を加え、適宜、メチルエチルケトン/シクロヘキサノン/トルエン=1/1/1の溶剤で希釈し、固形分60%で三本ロールにて混練した。
α-Fe2O3(ヘマタイト) 100重量部
平均長軸長:70nm、比表面積:BET法で55m2/g
塩化ビニル系共重合体 15重量部
(日本ゼオン社製、商品名:MR−110)
ポリエステルポリウレタン樹脂 8重量部
(イソフタル酸/テレフタル酸/ネオペンチルグリコール−MDI系ポリウレタン 分子量25000、極性基=SO3Na=0.2wt%含有)
研磨剤 10重量部
(住友化学社製アルミナ:HIT-50)
カーボンブラック 20重量部
(昭和キャボット社製:BP-L)
ポリイソシアネート 4重量部
(日本ポリウレタン社製、商品名:コロネートL。但し、ポリイソシアネートは塗布直前に混合した。)
ミリスチン酸 2重量部
ステアリン酸ブチル 2重量部
メチルエチルケトン 120重量部
シクロヘキサノン 120重量部
上述した非磁性粉末とシランカップリング剤をプラネタリーミキサーで混合したのち、塩ビとポリウレタン樹脂を加え、二軸エクストルーダーにて混練した。
カーボンブラック 90重量部
(平均粒子径20nm)
カーボンブラック 10重量部
(平均粒子径70nm)
ポリウレタン樹脂 25重量部
(MDI系ポリエステルポリウレタン、分子量25000、
3級アミン=0.2wt%含有)
ニトロセルロース 25重量部
(旭化成社製、商品名:NC−1/2H)
ポリイソシアネート 20重量部
(日本ポリウレタン社製、商品名:コロネートL。但し、ポリイソシアネートは塗布直前に混合した。)
メチルエチルケトン 180重量部
シクロヘキサノン 180重量部
トルエン 180重量部
上述したバックコート塗料組成を三本ロールにて混練後、サンドミルを用いて分散し、ポリイソシアネート20重量部を加え、1μmの平均口径を有するフィルターで濾過し、バックコート用非磁性塗料液とした。
(電磁変換特性の測定)
電磁変換特性については、固定ヘッド式電特測定機を用いて測定した。この測定機は、回転するドラムとこれに接触するヘッドとから構成されており、磁気テープがこのドラムに巻き付けられる。
最短記録周波数:13MHz
線速度:100ips (2.53m/sec)
(表面粗度の測定)
作製した1/2インチのサンプルを5mm×5mmにサンプリングし、SII Nanotechnology 社製 AFM Nanopics2100 Compact Tabletop Probe Microscopeを用いて下記の条件で表面粗度を測定し、中心線平均粗さ(SRa)と十点平均粗さ(SRz)を測定した。
Spring Constant 40 N/m
Resonant Frequency 250-300 kHz
Cantilever Length 120 um
Cantilever Configuration Single Beam
Scanned Area 40um x 40um
Scan Line 256 Line/Scan Area
Scan Speed / Scan Area 90 sec
(耐久性測定)
作製したテープを用いてLTO3のカートリッジを作製しHP社製LTO3ドライブ(Ultrium960)を用いてテストモードにて記録・再生することにより走行前のエラーレート(ERT)を求め、さらに、40℃、80%RH環境下で、全長、全トラックを600時間走行させた後に再生してエラーレートを求めた。
作製したテープを用いてLTO3のカートリッジを作製しHP社製LTO3ドライブ(Ultrium960)を用いてテストモードにて常温で200GBのデータを記録した後、45℃80%RH環境の恒温槽で1週間保管した。(通常の環境での30年保存に当たる環境と考えられる)。保存後、室温で24時間放置した。その後、HP社製LTO3ドライブ(Ultrium960)を用いて再生し、データを確認した。
△;一部のトラックでテープの変形に伴うオフトラックによりエラーレートの悪化が見られるもの
×;ハードエラーの発生によりデータがすべて再生できなかったもの
(TDS(Transverse dimensional stability)の測定)
恒温槽にLTO3ドライブをいれ、LTO規格 Ultrium Generation3 16-Channel Format Specification Document U-316 Section 9.17 の方法に従いTDS(寸法安定性)を測定した。
テープの裁断後の断面の切り口を光学顕微鏡 200倍で確認し、以下の指標で評価した。
○;切り口部にクラックが少なく良好
△;クラックの発生があるものの、ハイエッジの発生はないもの
×;ハイエッジが発生し、メディアとして使用不可のもの
(ブロッキング特性)
塗布後の原反ロール(約1000m)を5℃で24時間保存後、40℃80%RH環境で結露を生じさせた。
×;ブロッキングの発生により、裁断途中で分割されたもの
(Tgの測定)
各々の非磁性支持体フィルムを5mm*40mmに切り出し、ORIENTEC社製 動的粘弾性測定器 RHEOVIBRON MODEL RHEO-2000で測定周波数3.5Hz、昇温速度2.0℃/minで測定し、Tgを求めた。
JIS-K7133、ASTM D882に基づき、サンプル幅6.25mm×サンプル実行長100mm、引っ張り速度200mm/minで測定し、1%伸びを与える抗張力を初期フィルム断面積で割った値をE(ヤング率)とした。
Claims (4)
- 非磁性支持体上に、非磁性粉末が結合剤中に分散されてなる非磁性下層と、磁性粉末が結合剤中に分散されてなる磁性層とが、順次重層形成されてなる磁気記録媒体であって、
前記非磁性支持体は、ガラス転移点温度(Tg)値が125℃以上のポリエチレンテレフタレートであり、磁気記録媒体全厚(T)に占める非磁性支持体厚み(t)が70%以上85%以下であることを特徴とする磁気記録媒体。 - 前記非磁性支持体は、長手方向のヤング率が6000N/mm2以上、幅方向のヤング率が4000N/mm2以上のポリエチレンテレフタレートであることを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記非磁性支持体の厚みが7ミクロン以下であることを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記非磁性支持体の厚みが7ミクロン以下であることを特徴とする請求項2に記載の磁気記録媒体。
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