JP2007532011A - 積分器リセット機構 - Google Patents

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Abstract

リセット機構付き積分器は、積分コンデンサと代わりの積分コンデンサとを有しており、積分コンデンサは、リセット動作中、代わりの積分コンデンサに置き換えられる。積分器をリセットする方法は、積分器のリセット動作中、積分コンデンサを一時的に切り離し、積分コンデンサをリセットコンデンサに置き換えることを有する。この方法は、積分器の単一のリセット動作中に、積分コンデンサを一時的に切り離し、積分コンデンサをリセットコンデンサに複数回置き換えることをさらに有していてもよい。

Description

本発明は概して積分回路に関し、特に差動積分回路のリセット機構に関する。
積分回路は、多くの用途の電子回路で広く使用されている。ある用途では、積分器は不安定状態になることがあるループの一部であり、回路が再び正常に機能するようにするリセットされる必要がある。例えば、通常高次であり、図1に示すように複数の積分段を有するデルタシグマ変調器が通常オーバーサンプリングアナログディジタル(A/D)コンバータで用いられている。変調器の状態変数を、変調器の積分器をリセットすることによって、ゼロのような、安定状態内の値にリセットする必要がある不安定状態が生じたとき、リセットする必要がある、条件付きで安定な単一ループの高次デルタシグマ変調器がある。
積分器をリセットする従来の方法が図2に示されている。図2の積分回路は、反転および非反転入力と、反転および非反転出力とを持つ差動演算増幅器(オペアンプ)を有している。第1の積分コンデンサが反転入力と非反転出力の間に接続され、第2の積分コンデンサが非反転入力と反転出力の間に接続されている。この積分回路は、第1の積分コンデンサに並列に接続された第1のリセットスイッチと、第2の積分コンデンサに並列に接続された第2のリセットスイッチも含んでいる。図2の積分回路の動作時、積分器は、第1および第2のリセットスイッチを閉じて第1および第2の積分コンデンサを短絡させることによって安定状態にリセットされる。
しかし、図2に示すような、積分器をリセットする従来の方法は多くの欠点を持っている。例えば、リセット動作が終了すると、入力状態の同相電圧が、出力段の同相電圧と同じになる。あるオペアンプ構成では、オペアンプの入力同相電圧は、オペアンプが正しく動作するように出力同相電圧と異なるように設計されている。そのようなオペアンプ構成では、入力同相電圧が、正しい動作のための値に到達するために、積分器の追加の動作サイクルがリセット後に必要になることがある。
したがって、積分回路をリセットする他の方法および回路手段がこの技術には必要とされる。
本発明の一態様では、リセット機構付き積分回路は、積分コンデンサと、リセットコンデンサと、積分器の入力と積分コンデンサの入力側の間に接続された第1の積分スイッチと、積分コンデンサの出力側と積分器の出力の間に接続された第2の積分スイッチと、入力同相電圧とリセットコンデンサの入力側の間に接続された第3の積分スイッチと、リセットコンデンサの出力側と出力同相電圧の間に接続された第4の積分スイッチとを有している。積分回路は、積分器の入力とリセットコンデンサの入力側の間に接続された第1のリセットスイッチと、リセットコンデンサの出力側と積分器の出力の間に接続された第2のリセットスイッチと、入力同相電圧と積分コンデンサの入力側の間に接続された第3のリセットスイッチと、積分コンデンサの出力側と出力同相電圧の間に接続された第4のリセットスイッチとをさらに有しており、積分スイッチは積分モード中に閉じてリセットモード中に開き、リセットスイッチはリセットモード中に閉じて積分モード中に開く。
本発明の他の態様では、リセット機構付き積分器は、積分器のリセットモード中、積分コンデンサに取って代わる代わりの積分コンデンサを有している。本発明の他の態様では、積分コンデンサはリセットモード中に所定の電圧にチャージされる。
本発明の他の態様では、積分器をリセットする方法は、積分器のリセット動作中、積分コンデンサを一時的に切り離し、該積分コンデンサをリセットコンデンサに置き換えることを有する。この方法は、リセット動作中、積分コンデンサを所定の電圧にチャージすることをさらに有することができる。本発明の他の態様では、積分コンデンサを一時的に切り離し、該積分コンデンサをリセットコンデンサに置き換えることが、1回または2回以上繰り返される。
本発明の他の態様は、複数の積分段を有し、該複数の積分段の少なくとも1つは、積分用の第1のコンデンサと、少なくとも1つの積分段をリセットする際に第1のコンデンサの代わりとなる第2のコンデンサとを有しているデルタシグマ変調器である。
本発明のさらに他の態様では、差動積分器が1対の通常の積分コンデンサと1対のリセット積分コンデンサとを有しており、通常の積分コンデンサが積分器から切り離され、リセット積分コンデンサが積分器に組み込まれて積分器をリセットする。
本発明の他の態様では、積分器の状態変数出力をリセットする回路が、閉じているときには積分器が通常モードで動作する複数の積分スイッチと、該複数の積分スイッチが閉じているときに開いている複数のリセットスイッチと、複数のリセットスイッチが閉じ、複数の積分スイッチが開いているときに、積分器の入力と出力の間の積分コンデンサの代わりとなる少なくとも1つのリセットコンデンサとを有している。
本発明の他の態様は、少なくとも1つの積分器の状態変数出力をリセットする回路を有し、少なくとも1つの積分器は、積分用の第1のコンデンサと、少なくとも1つの積分器をリセットする際に第1のコンデンサの代わりとなる第2のコンデンサとを有しているデジタルマイクロホンである。
本発明のさらに他の態様は、トランスジューサと、該トランスジューサに接続されたデルタシグマ変調器と、該デルタシグマ変調器を安定状態に維持する手段とを有するマイクロホンである。デルタシグマ変調器を安定状態に維持する手段は、該デルタシグマ変調器の積分器の状態変数出力をリセットする回路を有することができ、該リセットする回路は、閉じているときには積分器が通常モードで動作する複数の積分スイッチと、複数の積分スイッチが閉じているときに開いている複数のリセットスイッチと、複数のリセットスイッチが閉じ、複数の積分スイッチが開いているときに、積分器の入力と出力の間の積分コンデンサの代わりとなる少なくとも1つのリセットコンデンサとを有している。デルタシグマ変調器を安定状態に維持する手段は、トランスジューサとデルタシグマ変調器の間に接続されたリミタをさらに有している。
次に、本発明の実施形態を、全体を通して類似の参照番号が類似の構成要素を示す添付の図面を参照して説明する。ここに示した説明に使用している用語は、単にそれを本発明のある特定の実施形態の詳細な説明に関連して使用しているだけであるので、なんら制限または限定的に解釈されること意図するものではない。さらに、本発明の実施形態は、どの1つもその望ましい特質に対して単独では寄与しないか、またはここに説明している本発明を実施するのに不可欠ないくつかの新規な特徴を含んでいてもよい。
本発明の実施形態は、オペアンプ積分回路を安定状態にリセットする方法と、そのような方法を行う積分回路とを有しており、ここに記載している方法は、単一の積分器および差動積分器の両者の構成に対して実施することができる。さらに、本発明の方法および回路は、有利なことに、複数の積分器を有する高次のデルタシグマ変調器で実施することができる。一実施形態では、積分器をリセットする方法は、積分器から積分コンデンサを一時的に切り離し、積分コンデンサをリセットコンデンサに取り換えることを有している。積分コンデンサは、積分器から切り離されている間所望の電圧にチャージされ、その後安定した動作のために積分器に組み込まれる。この交替は、積分回路の構成要素に対する所望のリセット電圧と、対応する安定した積分器状態とを得るために数回繰り返されてもよい。
リセット機構を実施する積分回路100の一実施形態が図3に示されている。積分回路100は差動構成であり、回路100は、第1の入力112と、第1の出力114と、第2の入力116と、第2の出力118を持つオペアンプ110とを有している。入力信号(Vin)が、第1の入力112と第2の入力116でオペアンプ110の入力の両端に供給され、出力信号(Vout)が、入力信号Vinに応答して第1の出力114と第2の出力118でオペアンプの出力の両端に生成される。
積分回路100は、第1の入力112と第1の積分コンデンサ122間に接続された第1の積分スイッチ120をさらに有しており、第2の積分スイッチ124が、第1の積分コンデンサ122とオペアンプ110の第1の出力114間に接続されている。第3の積分スイッチ126が、第1の入力同相電圧(Vcm_in1)128と第1のリセットコンデンサ130間に接続されており、第4の積分スイッチ132が、第1のリセットコンデンサ130と第1の出力同相電圧(Vcm_out1)134間に接続されている。
積分回路100は、オペアンプ110の第1の入力112と第1のリセットコンデンサ130間に接続された第1のリセットスイッチ136と、第1のリセットコンデンサ130とオペアンプ110の第1の出力114間に接続された第2のリセットスイッチ138と、第1の入力同相電圧128と第1の積分コンデンサ122間に接続された第3のリセットスイッチ140と、第1の積分コンデンサ122と第1の出力同相電圧134間に接続された第4のリセットスイッチ142とをさらに有している。
同様に、第5の積分スイッチ150が、第2の入力116と第2の積分コンデンサ152間に接続されており、第6の積分スイッチ154が、第2の積分コンデンサ152とオペアンプ110の第2の出力118間に接続されている。第7の積分スイッチ156が、第2の入力同相電圧(Vcm_in2)158と第2のリセットコンデンサ160間に接続されており、第8の積分スイッチ162が、第2のリセットコンデンサ160と第2の出力同相電圧(Vcm_out1)164間に接続されている。
さらに、第5のリセットスイッチ166が、オペアンプ110の第2の入力116と第2のリセットコンデンサ160間に接続され、第6のリセットスイッチ168が、第2のリセットコンデンサ160とオペアンプ110の第2の出力118間に接続され、第7のリセットスイッチ170が、第2の入力同相電圧158と第2の積分コンデンサ152間に接続され、第8のリセットスイッチ172が、第2の積分コンデンサ152と第2の出力同相電圧164間に接続されている。
積分回路100の積分、すなわち通常の動作中、第1の積分コンデンサ122が第1の入力112とオペアンプ110の第1の出力114間に接続され、第2の積分コンデンサ152が第2の入力116とオペアンプ110の第2の出力118間に接続され、第1のリセットコンデンサ130が第1の入力同相電圧128と第1の出力同相電圧134間に接続され、第2のリセットコンデンサ160が第2の入力同相電圧158と第2の出力同相電圧164間に接続されるように、積分スイッチ120、124、126、132、150、154、156、162は閉じており、リセットスイッチ136、138、140、142、166、168、170、172は開いている。
積分回路100のリセット動作中、第1のリセットコンデンサ130がオペアンプ110の第1の入力112と第1の出力114間に接続され、第2のリセットコンデンサ160がオペアンプ110の第2の入力116と第2の出力118間に接続され、第1の積分コンデンサ122が第1の入力同相電圧128と第1の出力同相電圧134間に接続され、第2の積分コンデンサ152が第2の入力同相電圧158と第2の出力同相電圧164間に接続されるように、リセットスイッチ136、138、140、142、166、168、170、172は閉じており、積分スイッチ120、124、126、132、150、154、156、162は開いている。
このように、リセット動作中、積分コンデンサは積分器から切り離されて所望の電圧にチャージされ、その後積分器に組み込まれる。リセットコンデンサが積分器に組み込まれると、これらリセットコンデンサは、コンデンサの両端の電圧レベルが所望のリセット値に近づいていくように、例えばオペアンプの入力および出力においてオペアンプに接続された追加のコンデンサのチャージを行う。さらに、リセット動作中、積分コンデンサがリセットコンデンサに取って代わることによって、オペアンプのオープンループ状態での動作が防止され、その後オペアンプの出力が電源電圧(power supply rail)まで駆動されることが防止される。
図3の積分器をリセットする方法の一実施形態において、積分コンデンサ122、152は、単一のリセット動作中、積分器から切り離されてリセットコンデンサ130、160に複数回置き換えられる。リセットスイッチおよび積分スイッチは、図4のタイミングチャートに示すように、重ならないクロックでクロック制御され、積分スイッチは、積分クロック信号200がハイレベルのときは閉じ、積分クロック信号200がロウレベルのときは開き、リセットスイッチは、リセットクロック信号210がロウレベルのときは開き、リセットクロック信号210がハイレベルのときは閉じる。このように、積分コンデンサは、リセット動作中、積分スイッチに印加されたクロック信号に重ならない多くのパルスをリセットスイッチに印加することによって、積分器から切り離され、リセットコンデンサに複数回置き換えられる。
大きな値を持つコンデンサは通常、集積回路上でかなりの面積を占めるので、より小さな値を持つリセットコンデンサを使用した、ここに説明したリセット機構を実現することが有利になる。例えば、上記のように、リセットコンデンサを複数回、積分器に組み込みおよび積分器から切り離すことによって、リセットコンデンサの大きさを小さくすることができ、かつリセット動作の全期間にわたりより大きなリセットコンデンサを用いて積分器に組み込んだ場合と比較して、同じリセット電圧を得ることができる。さらに、リセットスイッチに印加されるリセットパルスの数および周波数は、リセット機構の動作を最適に調整するように、積分器の特性およびコンデンサの大きさに応じて変えることができる。
上記した積分器リセット機構は有利なことに、デジタルマイクロホンのデルタシグマ変調器に好都合に実装することができる。図5は、増幅器254を介してリミタ256に接続され、リミタ256の出力がデルタシグマ変調器258に接続されているエレクトレットマイクロフォン252を有するデジタルマイクロホン250の典型的なブロック図である。音圧はエレクトレットマイクロフォントランスジューサによってアナログ信号に変換され、アナログ信号は増幅器254によって増幅される。増幅された信号は、制限された信号をデジタル信号に変換するデルタシグマ変調器258の安定性を維持するようにリミタ256によって制限される。上記したように、条件付きで安定であるデルタシグマ変調器のなかには、ある条件下で不安定になるものがある。デルタシグマ変調器に出力される信号の振幅を制限することによって、変調器に生じる不安定状態の可能性は減るが、それでもなお不安定状態が起こることがあるので、上記した積分器リセット機構を追加的に実装することによって、変調器の積分値を有利なことに安定状態へリセットすることができる。あるいは、リミタを取り除きデルタシグマ変調器の積分器リセット機構によって安定性を維持することができる。
前述の説明は、本発明のある実施形態を詳述している。しかし、いかに本発明の実施形態を本明細書で詳述したとしても、本発明を多くの方法で実施できることが理解できるであろう。例えば、上記した積分器リセット方法は、特定の電圧に設定される必要があり、かつ長い時間の間回路から切り離すことができないコンデンサを持つ回路に実施することもできる。上述したように、本発明のある特徴または態様を説明する際に使用している特定の用語は、その用語がここで再定義されて、その用語が関連する本発明の特徴または態様のいかなる特定の特性を含むものと限定されることを意味するように解釈されるべきではないことに注意されたい。したがって、本発明の範囲は、添付の請求項およびそのあらゆる等価物に従って解釈されるべきである。
デルタシグマ変調器の概略ブロック図である。 従来技術によるリセット機構付き積分回路の概略ブロック図である。 本発明のリセット機構付き積分回路の一実施形態の概略ブロック図である。 図3の積分回路で使用されるタイミングチャートである。 デジタルマイクロホンのブロック図である。

Claims (13)

  1. リセット機構付き積分器であって、
    積分コンデンサと
    リセットコンデンサと、
    前記積分器の入力と前記積分コンデンサの入力側の間に接続された第1の積分スイッチと、
    前記積分コンデンサの出力側と前記積分器の出力の間に接続された第2の積分スイッチと、
    入力同相電圧と前記リセットコンデンサの入力側の間に接続された第3の積分スイッチと、
    前記リセットコンデンサの出力側と出力同相電圧の間に接続された第4の積分スイッチと、
    前記積分器の前記入力と前記リセットコンデンサの前記入力側の間に接続された第1のリセットスイッチと、
    前記リセットコンデンサの前記出力側と前記積分器の前記出力の間に接続された第2のリセットスイッチと、
    前記入力同相電圧と前記積分コンデンサの前記入力側の間に接続された第3のリセットスイッチと、
    前記積分コンデンサの前記出力側と前記出力同相電圧の間に接続された第4のリセットスイッチとを有し、前記積分スイッチ群は積分モード中に閉じてリセットモード中に開き、前記リセットスイッチ群は前記リセットモード中に閉じて前記積分モード中に開く、
    リセット機構付き積分器。
  2. 前記積分器のリセットモード中、積分コンデンサに取って代わる代わりの積分コンデンサを有するリセット機構付き積分器。
  3. 前記積分コンデンサは前記リセットモード中に所定の電圧に充電される、請求項2記載の積分器。
  4. 積分器のリセット方法であって、前記積分器のリセット動作中、積分コンデンサを一時的に切り離し、前記積分コンデンサをリセットコンデンサに置き換えることを有する、積分器のリセット方法。
  5. 前記リセット動作中、前記積分コンデンサを所定の電圧に充電することをさらに有する、請求項4記載の方法。
  6. 前記積分コンデンサを一時的に切り離し、前記積分コンデンサを前記リセットコンデンサに置き換えることを1回または2回以上繰り返す、請求項4記載の方法。
  7. 複数の積分段を有し、該複数の積分段の少なくとも1つが、積分用の第1のコンデンサと、前記少なくとも1つの積分段をリセットする際に前記第1のコンデンサに取って代わる第2のコンデンサとを有するデルタシグマ変調器。
  8. 差動積分器であって、1対の通常の積分コンデンサと1対のリセット積分コンデンサとを有し、前記積分器をリセットするために前記通常の積分コンデンサが前記積分器から切り離されるとともに、前記リセット積分コンデンサが前記積分器に組み込まれる差動積分器。
  9. 積分器の状態変数出力をリセットする回路であって、
    閉じているときには前記積分器が通常モードで動作する複数の積分スイッチと、
    前記複数の積分スイッチが閉じているときに開いている複数のリセットスイッチと、
    前記複数のリセットスイッチが閉じ、前記複数の積分スイッチが開いているときに、前記積分器の入力と出力の間の積分コンデンサの代わりとなる少なくとも1つのリセットコンデンサと、
    を有する回路。
  10. マイクロホンであって、少なくとも1つの積分器の状態変数出力をリセットする回路を有し、前記少なくとも1つの積分器が、積分用の第1のコンデンサと、前記少なくとも1つの積分器をリセットする際に第1のコンデンサの代わりとなる第2のコンデンサとを有するマイクロホン。
  11. トランスジューサと、
    前記トランスジューサに接続されたデルタシグマ変調器と、
    前記デルタシグマ変調器を安定状態に維持する手段と、
    を有するマイクロホン。
  12. 前記デルタシグマ変調器を安定状態に維持する前記手段が、前記デルタシグマ変調器の積分器の状態変数出力をリセットする回路を有する、請求項11に記載のマイクロホンであって、
    閉じているときには前記積分器が通常モードで動作する複数の積分スイッチと、
    前記複数の積分スイッチが閉じているときに開いている複数のリセットスイッチと、
    前記複数のリセットスイッチが閉じ、前記複数の積分スイッチが開いているときには、前記積分器の入力と出力の間の積分コンデンサの代わりとなる少なくとも1つのリセットコンデンサと、
    を有する請求項11記載のマイクロホン。
  13. 前記デルタシグマ変調器を安定状態に維持する前記手段が、前記トランスジューサと前記デルタシグマ変調器の間に接続されたリミタをさらに有する、請求項12記載のマイクロホン。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013229868A (ja) * 2012-04-25 2013-11-07 Freescale Semiconductor Inc サンプルホールド回路

Families Citing this family (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1861723B1 (en) * 2005-03-09 2017-04-19 Analog Devices, Inc. One terminal capacitor interface circuit
US7446686B2 (en) * 2006-09-22 2008-11-04 Cirrus Logic, Inc. Incremental delta-sigma data converters with improved stability over wide input voltage ranges
US11339430B2 (en) 2007-07-10 2022-05-24 Life Technologies Corporation Methods and apparatus for measuring analytes using large scale FET arrays
US8262900B2 (en) * 2006-12-14 2012-09-11 Life Technologies Corporation Methods and apparatus for measuring analytes using large scale FET arrays
US8349167B2 (en) 2006-12-14 2013-01-08 Life Technologies Corporation Methods and apparatus for detecting molecular interactions using FET arrays
EP2653861B1 (en) 2006-12-14 2014-08-13 Life Technologies Corporation Method for sequencing a nucleic acid using large-scale FET arrays
JP2008263258A (ja) * 2007-04-10 2008-10-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd デルタシグマ変調回路とそれを用いたデルタシグマad変換装置
US20100137143A1 (en) 2008-10-22 2010-06-03 Ion Torrent Systems Incorporated Methods and apparatus for measuring analytes
US20100301398A1 (en) 2009-05-29 2010-12-02 Ion Torrent Systems Incorporated Methods and apparatus for measuring analytes
KR101531877B1 (ko) * 2009-01-13 2015-06-26 삼성전자주식회사 리셋 시 플로팅 노드를 제거할 수 있는 스위치드-커패시터 적분기, 상기 스위치드-커패시터 적분기를 포함하는 장치들
DE102009000950A1 (de) * 2009-02-02 2010-08-05 Robert Bosch Gmbh Bauelement mit einer mikromechanischen Mikrofonstruktur und Verfahren zum Betreiben eines solchen Mikrofonbauelements
US8776573B2 (en) 2009-05-29 2014-07-15 Life Technologies Corporation Methods and apparatus for measuring analytes
US8673627B2 (en) 2009-05-29 2014-03-18 Life Technologies Corporation Apparatus and methods for performing electrochemical reactions
US20120261274A1 (en) 2009-05-29 2012-10-18 Life Technologies Corporation Methods and apparatus for measuring analytes
CN103154718B (zh) 2010-06-30 2015-09-23 生命科技公司 感测离子的电荷堆积电路和方法
US8415176B2 (en) 2010-06-30 2013-04-09 Life Technologies Corporation One-transistor pixel array
CN103080739B (zh) 2010-06-30 2016-12-21 生命科技公司 用于测试isfet阵列的方法和装置
US11307166B2 (en) 2010-07-01 2022-04-19 Life Technologies Corporation Column ADC
CN103168341B (zh) 2010-07-03 2016-10-05 生命科技公司 具有轻度掺杂的排出装置的化学敏感的传感器
EP2617061B1 (en) 2010-09-15 2021-06-30 Life Technologies Corporation Methods and apparatus for measuring analytes
US8685324B2 (en) 2010-09-24 2014-04-01 Life Technologies Corporation Matched pair transistor circuits
CN102035550B (zh) * 2010-11-23 2014-03-12 钜泉光电科技(上海)股份有限公司 解决sigma-delta模数转换电路上电过程不稳定的电路及方法
US8514014B2 (en) * 2011-02-09 2013-08-20 Analog Devices, Inc. Reset and resettable circuits
US9970984B2 (en) 2011-12-01 2018-05-15 Life Technologies Corporation Method and apparatus for identifying defects in a chemical sensor array
US8786331B2 (en) 2012-05-29 2014-07-22 Life Technologies Corporation System for reducing noise in a chemical sensor array
US9080968B2 (en) 2013-01-04 2015-07-14 Life Technologies Corporation Methods and systems for point of use removal of sacrificial material
US9841398B2 (en) 2013-01-08 2017-12-12 Life Technologies Corporation Methods for manufacturing well structures for low-noise chemical sensors
US8963216B2 (en) 2013-03-13 2015-02-24 Life Technologies Corporation Chemical sensor with sidewall spacer sensor surface
EP2972281B1 (en) 2013-03-15 2023-07-26 Life Technologies Corporation Chemical device with thin conductive element
WO2014149780A1 (en) 2013-03-15 2014-09-25 Life Technologies Corporation Chemical sensor with consistent sensor surface areas
US9835585B2 (en) 2013-03-15 2017-12-05 Life Technologies Corporation Chemical sensor with protruded sensor surface
US20140336063A1 (en) 2013-05-09 2014-11-13 Life Technologies Corporation Windowed Sequencing
US10458942B2 (en) 2013-06-10 2019-10-29 Life Technologies Corporation Chemical sensor array having multiple sensors per well
CN104345195B (zh) * 2013-08-09 2018-01-30 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 可复位的增量磁场消除装置
US10006987B2 (en) 2014-10-08 2018-06-26 Nxp Usa, Inc. Radar device utilizing phase shift
US10077472B2 (en) 2014-12-18 2018-09-18 Life Technologies Corporation High data rate integrated circuit with power management
TWI832669B (zh) 2014-12-18 2024-02-11 美商生命技術公司 具有傳輸器組態的高資料速率積體電路
WO2016100521A1 (en) 2014-12-18 2016-06-23 Life Technologies Corporation Methods and apparatus for measuring analytes using large scale fet arrays
US10120064B2 (en) 2015-03-19 2018-11-06 Nxp Usa, Inc. Radar system and method with saturation detection and reset
US11955897B2 (en) * 2021-02-04 2024-04-09 Texas Instruments Incorporated Resonant DC-DC converter with average half cycle control

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0295024A (ja) * 1988-09-30 1990-04-05 Yokogawa Electric Corp マルチプレクサ付σ△変調形a/d変換器
US5796848A (en) * 1995-12-07 1998-08-18 Siemens Audiologische Technik Gmbh Digital hearing aid
US6061009A (en) * 1998-03-30 2000-05-09 Silicon Laboratories, Inc. Apparatus and method for resetting delta-sigma modulator state variables using feedback impedance
US6169427B1 (en) * 1998-12-10 2001-01-02 National Semiconductor Corporation Sample and hold circuit having single-ended input and differential output and method
JP2001042014A (ja) * 1999-07-29 2001-02-16 Hitachi Ltd 信号積分回路
US6362763B1 (en) * 2000-09-15 2002-03-26 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for oscillation recovery in a delta-sigma A/D converter

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3216490B2 (ja) * 1995-09-07 2001-10-09 ヤマハ株式会社 スイッチドキャパシタフィルタ
US6285769B1 (en) * 1997-04-10 2001-09-04 Borealis Technical Limited Force balance microphone
JP3079368B2 (ja) * 1997-10-24 2000-08-21 セイコーインスツルメンツ株式会社 スイッチトキャパシタ増幅回路
US6194946B1 (en) * 1998-05-07 2001-02-27 Burr-Brown Corporation Method and circuit for compensating the non-linearity of capacitors
US6249237B1 (en) * 1998-10-09 2001-06-19 Lsi Logic Corporation System and method for bandpass shaping in an oversampling converter
JP4694687B2 (ja) * 2000-11-24 2011-06-08 セイコーNpc株式会社 サンプル・ホールド回路およびa/d変換器
US6570519B1 (en) * 2001-07-12 2003-05-27 Cirus Logic, Inc. Switched-capacitor summer circuits and methods and systems using the same
US6661283B1 (en) * 2002-10-03 2003-12-09 National Semiconductor Corporation Wide gain range and fine gain step programmable gain amplifier with single stage switched capacitor circuit

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0295024A (ja) * 1988-09-30 1990-04-05 Yokogawa Electric Corp マルチプレクサ付σ△変調形a/d変換器
US5796848A (en) * 1995-12-07 1998-08-18 Siemens Audiologische Technik Gmbh Digital hearing aid
US6061009A (en) * 1998-03-30 2000-05-09 Silicon Laboratories, Inc. Apparatus and method for resetting delta-sigma modulator state variables using feedback impedance
US6169427B1 (en) * 1998-12-10 2001-01-02 National Semiconductor Corporation Sample and hold circuit having single-ended input and differential output and method
JP2001042014A (ja) * 1999-07-29 2001-02-16 Hitachi Ltd 信号積分回路
US6362763B1 (en) * 2000-09-15 2002-03-26 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for oscillation recovery in a delta-sigma A/D converter

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013229868A (ja) * 2012-04-25 2013-11-07 Freescale Semiconductor Inc サンプルホールド回路

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CN1799199A (zh) 2006-07-05
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GB2418307B (en) 2006-11-15

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