JP2007506957A - 散乱媒質内の運動を解析する方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【選択図】図2
Description
−散乱媒質に向けてコヒーレント光を投射し、
−電磁場の画像を多数獲得するため、上記散乱媒質から散乱される光の電磁場を、空間的および時間的にサンプリングし、
−上記散乱媒質の運動を検出して解析するため、上記散乱光電磁場の時間的および空間的サンプリング画像から得られるスペックル粒子を解析する、
というステップからなり、
スペックル粒子の解析ステップは、画像相互間の距離を解析するステップを含むことを特徴とする、散乱媒質内の運動を検出し解析する方法に関する。
−散乱媒質に向けてコヒーレント光を投射する手段と、
−電磁場の画像を多数獲得するため、上記散乱媒質から散乱される光の電磁場を、空間的および時間的にサンプリングするのに適した、マトリックスセンサ手段と、
−上記散乱光の電磁場の画像を観察する手段と、
−上記画像から得られるスペックル粒子を解析する手段と、
−画像相互間の距離を解析する手段とを含むことを特徴とする。
散乱媒質内の運動を探知し、解析する本発明の方法の第1の実施例は、以下のように構成される:
−全ての光線の散乱媒質表面とのインパクトが、散乱媒質の光伝送の長さl*と比べて、必ずしも小さい必要はない面積をカバーするようレーザビームを投射することにより、散乱媒質に向けてコヒーレント光を投射し、
−上記散乱媒質から散乱される光の電磁場を、必要に応じて伝送または後方散乱により、空間的および時間的にサンプリングして、電磁場の画像を多数獲得し、このステップは、マトリックスセンサを用いて実施され、これにより多数の連続画像を収集することができ、これらのデータをリアルタイムで扱うか扱わないかの如何により、必要に応じてこれらの画像をメモリに録画してもよいし、しなくてもよく、各画像は、電磁場の強度の空間的サンプリングであり、フィルム(連続画像)は、時の経過による電磁場の変化の時間サンプリングであり、従って、この信号をデータ全体と考えることが可能であり、各データは、3次元空間(すなわち、XおよびYの空間2次元と、時間次元)においてコード化され、
−散乱媒質内の運動を探知し、解析するため、散乱光の電磁場からの時間的、空間的サンプリング画像から得られるスペックル粒子を解析する。スペックル粒子の解析は、解析される散乱媒質により異なり、解析の目的により異なる。以下、本発明の方法の特殊な応用例として、様々な解析例を示す。
−l*(すなわち、散乱媒質の光伝送自由経路)よりも直径の小さいレーザビームを投射することにより、散乱媒質に向けてコヒーレント光を投射し、
−上記散乱媒質から散乱される光の電磁場を、実施例1に示した方法で、空間的および時間的にサンプリングし、
−散乱媒質内の運動を探知し、解析するため、連続画像の空間自己相関を実施して、散乱光の電磁場からの時間的、空間的サンプリング画像から得られるスペックル粒子を解析する。連続的画像の空間自己相関については、すでに上述した通りであり、画像光学を用いなくても、新しい手段により、後方散乱スポットのプロフィールに到達することが可能である。細いレーザ光を投射した場合におけるスペックル画像の空間自己相関により、散乱確率を知ることができ、また、粒子の散乱係数、粒子の2乗平均速度を取得することが可能となる。このためには、スッペクルの運動を測定する必要があるが、これは画像相互間の距離により実行可能である。後方散乱スポットの変化を表す曲線のおかげで、たとえば、散乱媒質が非吸収性(白の)化学製品である場合や、その製品の吸収が知られている場合などは、l*の経時的変化を、周知の方法で測定することが可能となる。また、必要があれば、同様に周知の方法で、散乱媒質内の散乱粒子の平均的サイズを求めることができる。これは、Stockes Einsteinのモデル(粒子の散乱係数から直径を計算することを可能とする)を用いて行う。あるいは、製品の光散乱容量を測定することもできるが、これはl*の測定により実現される。この数字により、たとえば、塗料のカバー力、不透明度を得ることが可能となる。
上述した本発明の方法の第2の実施例に応用可能な、スペックル粒子解析のもう1つの例は、さらに、サイズおよび輝度の基準に基づき、スペックル粒子を分けるステップを含む。この種の解析の応用例の1つは、層皮を形成しつつ乾燥する塗料における運動解析である。この方法により、表面に近い粒子の速度と、表面からもっと離れた粒子の速度とを区別することが可能となる。これに関しては、散乱媒質の表面に光を投射すると、後方散乱スポットが形成されるということを思い出していただきたい。非常に輝きが強く、直径の小さい(およそl*)スポットの中心部は、主として「短い光子」−すなわち、媒質上をわずかな深さ(およそl*の深さ)で通過した光子−を発する。また、輝きが非常に弱く、直径の大きな(l*のおよそ10倍〜100倍)スポットの縁部は、主として「長い光子」−すなわち、媒質上をかなりの深さ(l*のおよそ10倍〜100倍)で通過した光子−を発する。ここで、輝きの強い小さなスポットは、大きなサイズで輝きの強いスペックル粒子を生み出すということを、指摘しておく必要がある。反対に、輝きの弱い大きなスポットは、小さなサイズで輝きの弱いスペックル粒子を生み出す。このことから、輝きが強く大きなサイズの粒子と、輝きが弱く小さなサイズの粒子とを分けて観測すれば、散乱媒質の表面および深部における微視的構造の移動速度を、それぞれ測定できるという結論が導かれる。上述した応用例において、次のことが確認された:乾燥し、表面に層皮を形成する塗料に関しては、最初は、すべてのスペックル粒子が運動状態にあることが観測されたが、その後少しずつ、輝きの強い大きなスペックル粒子は、運動を弱め、輝きの弱い小さなスペックル粒子よりも先に運動を停止した。実験の最後には、すべてのスペックル粒子が、運動を停止した。このことから導かれるのは、塗料は、まず表面から乾燥し、次に深部が乾燥するということである。従って、信号処理は、この基準(サイズ、輝度)によってスペックル粒子を分類分けするものであるということ、すなわち、輝きが弱く小さな粒子を、輝きが強く大きな粒子、およびその他の中間的カテゴリから区別することであることが理解される。また、カテゴリ毎に、同じだけの新しいフィルム(連続画像)を作成することも可能であり、各カテゴリについて、たとえば後に示すような処理を、新たに適用することもできる。従って、単に1つの測定を得るだけでなく、測定のヒストグラムを得ることが可能である。
−たとえばレーザビーム(従来的なレーザによるものであれ、ダイオードレーザによるものであれ)のような、散乱媒質に投射するのに適したコヒーレント光(光線の束がインパクト点においてl*以下、またはおよそl*の大きさのもの)を、散乱媒質5に向けて投射する手段1と、
−散乱媒質からの散乱光6の電磁場を、空間的および時間的にサンプリングして、電磁場の画像を多数を得るのに適した、たとえばマルチピクセル平面センサのような、マトリックスセンサ手段2と、
−たとえば電磁場の画像表示を提供するモニタのような、散乱光からの電磁場を観察する手段3と、
−上述したスペックル粒子の解析を実行可能とする計算手段により構成される、画像から得られるスペックル粒子を解析する手段4、とを含む。計算手段は、コンピュータプログラム、ケーブル論理(たとえば、FPGAまたはASIC)、あるいはマイクロプロセッサなどを搭載したコンポーネント、によって実現されることが好ましく、また必要に応じて、サイズおよび輝度の基準に従いスペックル粒子を分別する手段、マトリックスセンサの画像面積の一部を解析する手段、スペックル粒子の面積を解析する手段、画像相互間の距離を解析する手段、スペックル粒子全体の移動方向および移動速度を解析する手段、連続画像の空間自己相関を実施する手段、後方散乱スポットのプロフィールを特定する手段、散乱確率を決定するために、後方散乱スポットの形状の変化を解析する手段、散乱媒質の光伝送自由経路l*を特定するために、後方散乱スポットのサイズの変化解析する手段、を備えることもある。
Claims (20)
- −散乱媒質に向けてコヒーレント光を投射し、
−電磁場の画像を多数獲得するため、上記散乱媒質から散乱される光の電磁場を、空間的および時間的にサンプリングし、
−上記散乱媒質の運動を検出して解析するため、上記散乱光電磁場の時間的および空間的サンプリング画像から得られるスペックル粒子を解析する、
というステップからなり、スペックル粒子の解析ステップは、画像相互間の距離を解析するステップを含むことを特徴とする、散乱媒質内の運動を検出し解析する方法。 - スペックル粒子の解析ステップは、上記空間的サンプリング画像の面積の一部を解析するステップを含むことを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 上記空間的サンプリング画像の面積の一部は、スペックル粒子の表面積に等しいことを特徴とする、請求項2に記載の方法。
- スペックル粒子全体の移動方向および移動速度を特定することを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の方法。
- コヒーレント光を散乱媒質に向けて投射するステップは、散乱媒質の光伝送自由経路(l*)よりも直径の小さい光ビームを投射するステップであることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- スペックル粒子の解析ステップは、連続的画像の空間自己相関を実行するステップを含むことを特徴とする、請求項5に記載の方法。
- 後方散乱スポットのプロフィールを特定することを特徴とする、請求項6に記載の方法。
- 散乱確率を決定するため、後方散乱スポットの形状の変化を解析することを特徴とする、請求項7に記載の方法。
- 散乱媒質の光伝送自由経路(l*)、およびその変化を特定するため、後方散乱スポットのサイズの変化を解析しすることを特徴とする、請求項8に記載の方法。
- スペックル粒子の解析ステップは、サイズおよび輝度の基準に従って、スペックル粒子を分けるステップを含むことを特徴とする、請求項5に記載の方法。
- −散乱媒質に向けてコヒーレント光を投射する手段(1)と、
−電磁場の画像を多数獲得するため、上記散乱媒質から散乱される光電磁場の空間的および時間的サンプリングを可能とする、マトリックスセンサ手段(2)と、
−上記散乱光電磁場の画像を観察する手段(3)と、
−上記画像から得られるスペックル粒子を解析する手段(4)と、
−画像相互間の距離を解析する手段と、
を含むことを特徴とする、散乱媒質内の運動を探知し、解析する装置。 - 上記空間的サンプリング画像の面積の一部を解析する手段を含むことを特徴とする、請求項11に記載の装置。
- スペックル粒子の表面積を解析する手段を含むことを特徴とする、請求項12に記載の装置。
- スペックル粒子全体の移動方向および移動速度を計算する手段を含むことを特徴とする、請求項11〜13のいずれかに記載の装置。
- 散乱媒質の光伝送自由経路(l*)よりも直径の小さいコヒーレント光を、散乱媒質に向けて投射する手段を含むことを特徴とする、請求項11〜14のいずれかに記載の装置。
- 連続的画像の空間自己相関を実行する手段を含むことを特徴とする、請求項15に記載の装置。
- 後方散乱スポットのプロフィールを特定する装置を含むことを特徴とする、請求項16に記載の装置。
- 散乱確率を決定するため、後方散乱スポットの形状の変化を解析する手段を含むことを特徴とする、請求項17に記載の装置。
- 散乱媒質の光伝送自由経路(l*)を特定するため、後方散乱スポットのサイズの変化を解析しする手段を含むことを特徴とする、請求項17に記載の装置。
- サイズおよび輝度の基準に従って、スペックル粒子を分ける手段を含むことを特徴とする、請求項15〜19のいずれかに記載の装置。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102428358A (zh) * | 2009-05-15 | 2012-04-25 | 弗缪拉克逊公司 | 用于复杂介质的流变学表征方法 |
JP2021004869A (ja) * | 2019-06-27 | 2021-01-14 | 株式会社リコー | 計測装置、計測システム及び計測方法 |
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Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2938917B1 (fr) * | 2008-11-26 | 2018-05-18 | Formulaction | Dispositif d'analyse d'un melange polyphasique via un faisceau de lumiere retrodiffusee par celui-ci |
CZ302803B6 (cs) * | 2009-02-04 | 2011-11-16 | Univerzita Palackého | Zpusob detekce pohybu pole koherencní zrnitosti a zarízení k provádení tohoto zpusobu |
EP2713878B1 (en) | 2011-05-26 | 2021-07-07 | The General Hospital Corporation | Optical thromboelastography system and method for evaluation of blood coagulation metrics |
FR2991457B1 (fr) * | 2012-06-01 | 2014-07-18 | Commissariat Energie Atomique | Procede et systeme de caracterisation de la vitesse de deplacement de particules contenues dans un liquide, telles que des particules sanguines |
WO2014043609A1 (en) * | 2012-09-17 | 2014-03-20 | The General Hospital Corporation | Compensation for causes of temporal fluctuations of backscattered speckle patterns in laser speckle rheology of biological fluids |
ES2848673T3 (es) | 2012-12-19 | 2021-08-11 | Massachusetts Gen Hospital | Sensor óptico de coagulación sanguínea |
US10718934B2 (en) * | 2014-12-22 | 2020-07-21 | California Institute Of Technology | Epi-illumination Fourier ptychographic imaging for thick samples |
US10668007B2 (en) | 2015-02-17 | 2020-06-02 | Noxell Corporation | Method for providing a film comprising pigment on keratin fibres |
CN107427427B (zh) | 2015-02-17 | 2021-04-02 | 诺赛尔股份有限公司 | 用于在角蛋白纤维上形成薄膜的组合物 |
CN107249559B (zh) | 2015-02-17 | 2021-07-27 | 诺赛尔股份有限公司 | 用于在角蛋白纤维上形成薄膜的组合物 |
MX368181B (es) | 2015-02-17 | 2019-09-23 | Noxell Corp | Composición para formar una película sobre fibras de queratina. |
CA2976924A1 (en) | 2015-02-17 | 2016-08-25 | Noxell Corporation | Composition for providing a film on keratin fibres |
US11371878B2 (en) | 2016-08-29 | 2022-06-28 | Elbit Systems Land And C4I Ltd. | Optical detection of vibrations |
CN109358059A (zh) * | 2018-10-12 | 2019-02-19 | 东华大学 | 一种基于激光动态散斑技术的油漆干燥分析仪 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03274440A (ja) * | 1990-03-26 | 1991-12-05 | Kao Corp | 微粒子の粒径測定方法 |
JP2000149087A (ja) * | 1998-09-11 | 2000-05-30 | Chuo Electronics Co Ltd | レーザ反射光のスペックルパターンを利用したロット管理方法 |
JP2002055109A (ja) * | 2000-08-09 | 2002-02-20 | Hiroyuki Konno | レーザ反射光による粒状斑点模様を利用した血液凝固時間測定方法とその装置 |
JP2002162355A (ja) * | 2000-11-27 | 2002-06-07 | Hiroyuki Konno | レーザ反射光による粒状斑点模様の直接撮像方法とその装置 |
WO2002103332A2 (en) * | 2001-06-18 | 2002-12-27 | Infm Istituto Nazionale Per La Fisica Della Materia | A method of measuring properties of dispersed particles in a container and corresponding apparatus |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3809480A (en) * | 1972-07-24 | 1974-05-07 | Gen Dynamics Corp | Method and apparatus for surveying the velocities of a flow field |
US4629319A (en) * | 1984-02-14 | 1986-12-16 | Diffracto Ltd. | Panel surface flaw inspection |
JP2641220B2 (ja) * | 1987-10-28 | 1997-08-13 | 興和株式会社 | 速度分布測定装置 |
US5274361A (en) * | 1991-08-15 | 1993-12-28 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Laser optical mouse |
US5561515A (en) * | 1994-10-07 | 1996-10-01 | Tsi Incorporated | Apparatus for measuring particle sizes and velocities |
US7028899B2 (en) * | 1999-06-07 | 2006-04-18 | Metrologic Instruments, Inc. | Method of speckle-noise pattern reduction and apparatus therefore based on reducing the temporal-coherence of the planar laser illumination beam before it illuminates the target object by applying temporal phase modulation techniques during the transmission of the plib towards the target |
US6034760A (en) * | 1997-10-21 | 2000-03-07 | Flight Safety Technologies, Inc. | Method of detecting weather conditions in the atmosphere |
US7227531B2 (en) * | 2003-08-15 | 2007-06-05 | Microsoft Corporation | Data input device for tracking and detecting lift-off from a tracking surface by a reflected laser speckle pattern |
-
2003
- 2003-09-25 FR FR0311218A patent/FR2860300B1/fr not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-09-24 EP EP04787434.2A patent/EP1664744B1/fr active Active
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- 2004-09-24 WO PCT/FR2004/002408 patent/WO2005031324A1/fr active Application Filing
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03274440A (ja) * | 1990-03-26 | 1991-12-05 | Kao Corp | 微粒子の粒径測定方法 |
JP2000149087A (ja) * | 1998-09-11 | 2000-05-30 | Chuo Electronics Co Ltd | レーザ反射光のスペックルパターンを利用したロット管理方法 |
JP2002055109A (ja) * | 2000-08-09 | 2002-02-20 | Hiroyuki Konno | レーザ反射光による粒状斑点模様を利用した血液凝固時間測定方法とその装置 |
JP2002162355A (ja) * | 2000-11-27 | 2002-06-07 | Hiroyuki Konno | レーザ反射光による粒状斑点模様の直接撮像方法とその装置 |
WO2002103332A2 (en) * | 2001-06-18 | 2002-12-27 | Infm Istituto Nazionale Per La Fisica Della Materia | A method of measuring properties of dispersed particles in a container and corresponding apparatus |
JP2004532989A (ja) * | 2001-06-18 | 2004-10-28 | イエンネエッフェエンメ・イスティトゥト・ナツィオナーレ・ペル・ラ・フィシカ・デッラ・マテリア | ボディー内に浸入する粒子特性の測定方法、流動材料の特性測定方法、流動材料の粒子速度測定方法、および測定方法を実行するよう準備された装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102428358A (zh) * | 2009-05-15 | 2012-04-25 | 弗缪拉克逊公司 | 用于复杂介质的流变学表征方法 |
JP7377475B2 (ja) | 2015-11-17 | 2023-11-10 | 韓國科學技術院 | 混沌波センサを利用した試料特性探知装置 |
JP2021004869A (ja) * | 2019-06-27 | 2021-01-14 | 株式会社リコー | 計測装置、計測システム及び計測方法 |
JP7310359B2 (ja) | 2019-06-27 | 2023-07-19 | 株式会社リコー | 計測装置、計測システム及び計測方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2860300A1 (fr) | 2005-04-01 |
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