JP2007504728A - 光伝送システムのｐｍｄ誘導性の障害確率の決定のための処理法およびデバイス - Google Patents

Abstract

本発明は具体的には光伝送システムのＰＭＤ誘導性障害の確率を決定するための処理法に関する。
この目的に関して、本発明は、伝送線の少なくとも１つの位置（１０、１１、１２、１３ａ、１３ｂ、１４、１５、２０）、ならびにこの光伝送線（１０、１１、１２、１３ａ、１３ｂ、１４、１５、２０）の第１の位置から下流方向の少なくとも１つの場所にある第２の位置にターゲット式仲介物を適用することによって、指定の／指定可能な観測時間（Ｔ_{ｔｏｔａｌ}）中に光伝送システムの偏波状態および／またはこの光伝送システムによって送信された光学信号が変更されており、指定の／指定可能な信号特性（ＢＥＲ）が定量的に計測されると共に指定の／指定可能なしきい値条件（ＢＥＲ_ｔｈ）に適合するか否かがチェックされており、かつ光伝送システムのＰＭＤ誘導性障害の確率が、計測された信号特性がしきい値条件（ＢＥＲ_ｔｈ）を満足できない期間である時間の（Ｔ_ｏｕｔ）の部分の長さと観測時間長（Ｔ_{ｔｏｔａｌ}）の比に基づいて計算されているような処理法を提唱する。

Description

本発明は光伝送システムのＰＭＤ誘導性の障害確率の決定のための処理法に関し、さらにこの処理法を実現するためのデバイスおよびシステムに関する。

偏波モード分散（ＰＭＤ）はたとえば、光ファイバ、光学マルチプレクサおよび光増幅器などの光学素子に関するよく知られた特性の１つである。
偏波モード分散の重要な原因の１つは、光学素子内に光学信号を送り出した際に、異なる速度で伝播する一般に幾つかのいわゆる偏波モードが発生するという現象に依拠している。幾つかの偏波モードの発生はさらにたとえば、直交偏波モードのうちの１つをそれ以外のモードと比べてより高速で送信させるための手段である光学素子のたとえば曲率、圧力、張力および／または温度による単一方向内への屈折率の機械的な不整性に対する応答とした変更の結果であることもある。全体として、幾つかの偏波モードの速度が異なることによって、その光学素子の出力の位置に光学信号の歪みが生じ、このため信号劣化の原因となる。

ここで、光伝送システムにおいて幾つかの光学素子がカスケード接続されていると、個々の光学素子の内部で生じたＰＭＤ誘導性の信号歪みがこれに応じて累積されることになる。これらの信号の歪みがある種の許容誤差限界内に維持されている限り、光伝送システムは基本的には依然として容認可能な域内で動作する。

たとえば、ディジタル光学信号では、符号誤り率（ｂｉｔ ｅｒｒｏｒ ｒａｔｅ：ＢＥＲ）は、容認可能な信号変化の１つの典型的な尺度をなしており、これによれば、ある符号率しきい値（Ｂ_ＴＨ）を超えると、生じる信号劣化は光信号伝送をその完全性に欠陥があると分類すべき比率に達したとされることになる。

個々の光学素子の偏波モード分散を計測するための処理法は、たとえば勧告「ＩＴＵ−Ｔ−Ｇ．６５０．２」（ここで、ＩＴＵ−Ｔとは、通信技術の分野における標準化に専念すると共に対応する勧告を発行している国際組織である「国際電気通信連合（Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｔｅｌｅｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ Ｕｎｉｏｎ）」内のある特定の委員会を意味している）によって知られている。

さらに、その偏波モード分散値がすでに計測済みである場合に、群遅延時間差（ＤＧＤ）の発生する確率をいわゆるＤＧＤ値の形で示している利用可能な基本モデルが存在している。

このコンテキストにある刊行物としてはたとえば、ＩＴＵ−Ｔ勧告Ｎｏ．Ｇ．６９１、および国際電気標準会議（Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｅｌｅｃｔｒｏｔｅｃｈｎｉｃａｌ Ｃｏｍｍｉｓｓｉｏｎ：ＩＥＣ）によって発行されている技術レポート（ＴＲ） ＩＥＣ／ＴＲ６１２８２−３が含まれる。このコンテキストにおいて欠点であると見なされることは、群遅延時間差を利用することによってのみ、その影響のうち偏波モード分散に基づく部分を表すことが常に可能であることである。
勧告ＩＴＵ−Ｔ−Ｇ．６５０．２、国際電気通信連合 勧告ＩＴＵ−Ｔ−Ｇ．６９１、国際電気通信連合 技術レポート（ＴＲ） ＩＥＣ／ＴＲ６１２８２−３、国際電気標準会議

このため、本発明の課題は、偏波モード分散に基づいて光伝送システムの障害確率を決定できるようにする計測テクノロジーの一様式を提供することにある。

驚くべきことに、本発明による課題の解決法は、本独立請求項のうちの１つの特性の形態とした特許対象によってすでに与えられるものである。
本発明に関する有利なおよび／または好ましい実施形態、ならびにさらなる展開は、それぞれの従属請求項の特許対象である。

したがって本発明によれば、少なくとも１つの光学入力および１つの光学出力を備える光伝送システムのＰＭＤ誘導性の障害確率の決定のためのある特定の処理法であって、指定の／指定可能な観測時間中に光伝送線の少なくとも１つの位置において、光伝送システムの偏波状態および／または該光伝送システムを介して送信される光学信号をターゲット式仲介物を加えることによって特異的に変更している処理法が想起される。その光伝送線の第１の位置から下流方向にある少なくとも１つの場所にある第２の位置において、指定の／指定可能な信号特性は定量的に計測されると共にある指定の／指定可能なしきい値条件との適合がチェックされる。次いで、光伝送システムのＰＭＤ誘導性の障害確率が、計測された信号特性がしきい値条件を満たしていない間の時間にあたる時間長の観測時間長に対する比に基づいて計算される。

好ましい実施形態では、その処理法は、第１の光学素子および第２の光学素子を組み込むと共にこれら第１の光学素子と第２の光学素子の間に介在させた多数の光学素子を含むことがある光伝送線に対して適用されており、これによって光伝送システムの偏波状態および／または該光伝送システムを介して送信される光学信号に関する変更が第１の光学素子および／またはこれに続く光学素子の位置で実行され、かつ第２の光学素子の位置または該光学素子の近傍においてその信号特性の計測が実行される。

したがって、本発明は光伝送システムのＰＭＤ誘導性の障害確率に関する決定、ならびにこれに従ったそのより詳細な指定のために、光伝送システムおよび／または該光伝送システムを介して送信される光学信号に対してその影響を作用させることにより偏波状態に変更を生じさせる方式に依拠している。

従来では、光伝送システムに関するこうした偏波状態やこれに基づいて伝送される光学信号は、ミリ秒から数週間までの範囲の時定数をもつ局在的および時間的な揺動を受けており、これによって偏波状態の時間的変化は、たとえばとりわけ、振動や張力、温度によって加えられる影響、およびその他の物理的作用などの機械的作用の結果となることがあり、またたとえば、取り付ける光学素子の種類および数、あるいは広範な環境条件に応じてかなり異なることがある。

光伝送システムのその他の偏波状態を一定に保持しながら個々の偏波（たとえば、光学信号の入力偏波）に対する特定の変動を介する場合であっても、本発明は先ず、光伝送システムの設計段階中と同程度に早期の受容可能な時間帯内において、光伝送システムの可能なまたは確からしい偏波状態ならびにシステムによって送信された信号が指定の／指定可能な許容誤差領域から外れるような偏波誘導性のシステム障害の比率を実験的にシミュレートすること、かつ／またはすでに動作状態にある光伝送システム内においてこれを計測することを可能とさせている。さらに、本発明の処理法は、こうした試験的計測を実行するためにある種の光伝送システムに対する試行の直前に適用されると有利である。

したがって、本発明の処理法は現実の光伝送線に利用するために適し、かつ光伝送線のモデルに対して適用するコンピュータ・シミュレーションに利用するために適するような構造とし、これによって本質的にあらゆる光伝送システムを共同選択して本処理法を実現するように使用することが可能である。本発明の処理法を実施するようにマッピングした装置では、その装置が、光伝送システムの偏波状態またはこの光伝送システムによって送信された光学信号が変更可能であるような方式によって、指定の／指定可能な観測時間の間に光伝送線に沿った少なくとも１つの位置において影響の作用が可能であるデバイスを少なくとも１つの位置に含む場合、かつその装置がさらに、指定の／指定可能な観測時間において指定の／指定可能な特性に対する定量的計測のために少なくとも１つの第２の後続の位置において指定の／指定可能なしきい値条件をチェックするためのデバイスと、計測された信号特性がしきい値条件を満足できなかった時間部分の観測時間に対する比を計算するためのデバイスと、を含むだけですでに十分である。

さらに好ましい実施形態では、送信された光学信号のある比率を第２の光学素子の前側に逸らすことによって（たとえば、光学結合によって）第２の光学素子の位置において直接的に信号特性を計測するかまたは信号特性を間接的に決定することが想起される。

本発明のさらに別の好ましい実施形態における偏波誘導性のシステム障害の比率に関するまた別の改良式かつ本質的に現実的なステートメントを保証するためには、その光伝送システムにおいて可変の偏波状態のすべてまたは少なくとも多くが指定の／指定可能な観測時間中に試験される。すべての偏波状態にわたって実施することによって、その光学信号が依然として許容誤差領域の範囲内にあるのかすでに該許容誤差領域の外にあるかのいずれであるかが各ケースにおいて検査されると共に、これに基づいて、その光伝送システムに関するＰＭＤ誘導性の（すなわち、偏波依存性の）障害確率が決定される。

このコンテキストでは、送信しようとする光学信号のさまざまな偏波状態による放出および／または引き渡しによって、光伝送システムの偏波状態および／または該光伝送システムを介して送信される光学信号を変更させることが特に推奨される。

さらに特に好ましい実施形態の枠組み内において、その観測時間中に多数の偏波状態が同時または連続して循環する（ｒｕｎ ｔｈｒｏｕｇｈ）場合、特にこれらが自動方式で変更されており、かつそれぞれの設定値または設定値の組み合わせにおいてその信号特性がしきい値条件を基準として対応して計測されてチェックを受ける場合、光伝送システムのＰＭＤ誘導性の障害確率は計測された信号特性がしきい値を満足できなかった時間のこれらすべての部分の和と観測時間長との間で形成される比に基づいて好都合に計算されることがある。

特に伝送システムのそれぞれの用途に応じてかつ／または送信しようとする信号がアナログ信号とディジタル信号のいずれであるかに応じて、符号誤り率、アイパターン図若しくは信号の振幅に関する計測が信号特性として適当であることが立証されている。

この目的のために、その信号特性に関する最大値または最小値としてそれぞれのしきい値条件を用途特異的な方式で指定することができる。
少なくとも１つの偏波アクチュエータを利用することおよび／または少なくとも１つの偏波スクランブラを利用することは、偏波状態の変更にとって、詳細には観測期間や計測期間の短縮にとって有利であることが立証されている。
たとえばこれらはすでに、伝送線内に組み込まれていたり、本発明の装置の一部として使用されることがある。

しかしさらに、修正式光伝送システムを使用する特に好ましい発展形態に関する補足または代替法として、対応する計測またはさらに追加的な計測を適用することによって障害確率を決定し、かつ引き続いて推定による修正を伴わずにその光伝送システムの障害確率を決定することが提唱されている。

したがって、このコンテキストでは、たとえば障害の確率が極めて低くかつ統計的手段によってほとんど計測不可能または全く不可能であるようなケースにおいて、観測時間を短縮するためにその処理法を実現する際に吸収性の減衰器を初めに利用することが有利であることが立証されている。

本発明は、好ましい実施形態を利用することならびに添付の図面をより詳しく参照することによって以下に示すように記述できる。
実際の光伝送線で実行されることがあり、あるいはさらにモデルを用いたコンピュータ・シミュレーションによることがある以下の例において記述しているＰＭＤ誘導性の障害確率（ＯＰ）を決定するための本発明の処理法は、その１つが第１の光学素子でありかつ２つ目が第２の光学素子であるような光伝送システムの少なくとも２つの光学素子間におけるアナログ光学信号またはディジタル光学信号のＰＭＤ誘導性の劣化によって生じる障害の確率に関連する。

このケースでは、これらの光学素子は隣り合っていることや、あるいはまた上述した伝送線の一部を形成していることがある。このため、本発明によって、送信器と受信器の間あるいは光伝送システムの２つの別の本質的に任意の光学素子間における光学信号のＰＭＤ誘導性劣化によって生じる障害の確率を決定することが可能となる。

このためにさらに、究極的に光伝送システムの障害確率の全体的な増大に大きな影響を及ぼす個々の光学素子を、たとえば対応する分離用試験シリーズ（ｉｓｏｌａｔｉｎｇ ｔｅｓｔ ｓｅｒｉｅｓ）を通じてターゲット式で位置特定すること、ならびにパラメータを最適化すること（該当する場合）によって、あるいは別の方策によってこれらを偏波分散に対してより影響を受けにくくすることが可能である。

本発明の処理法は、この特に好ましい実施形態では、第１の光学素子の位置、あるいは第１の光学素子のうちの幾つかの素子位置においてその光伝送システムの偏波状態が特異的に変更されるということ、指定の／指定可能な観測時間Ｔ_{ｔｏｔａｌ}内の光信号伝送中に第２の光学素子の位置、すなわちＰＭＤベースの信号劣化に関して特異的に観測された部分的なまたはシミュレーションした光伝送線の端部位置において、信号品質を表すある種の信号特性が計測され、かつ引き続き指定の／指定可能なしきい値に対してチェックを受けることに基づいている。

したがって図１に関しては、選択された第２の光学素子の位置における光学信号がしきい値条件にもはや適合しなくなっている期間、すなわち該光学信号が指定した最大信号特性しきい値を超えるか最小信号特性しきい値を下回っているかのいずれかとなっている期間である時間Ｔ_ｏｕｔの部分に関連させた観測期間Ｔ_{ｔｏｔａｌ}に基づいて、ＰＭＤ誘導性障害の確率値が計算されている。したがって、Ｔ_ｏｕｔ／Ｔ_{ｔｏｔａｌ}からＰＭＤ誘導性障害の確率を取得することが一般に可能である。

実際問題として、光伝送システムの可能な偏波状態のすべてまたはその多くについて、また特に光学信号の偏波ならびに観測中の光伝送線内に組み込まれた素子の偏波状態が１つ１つ試験される。群遅延時間差、またしたがって伝送線に沿った個々の偏波状態を通じた試験の際に生じる偏波モード分散は、時間と共に変化する。時間Ｔ_ｏｕｔの部分は、しきい値条件を満足していない時間である個々の時間間隔Ｔ_{ｏｕｔ−ｎ}の総和を、総観測時間と関連させて計算されることがある。Ｔ_{ｏｕｔ−ｎ}（ここで、ｎ∈Ｎ、ｎ≧１）が観測時間Ｔ_{ｔｏｔａｌ}内のしきい値条件を満足しないそれぞれ第ｎ番目の時間間隔を意味しているとすると、ＰＭＤ誘導性障害の確率は次式のようにして計算される。

これを実施する際に、個々の偏波状態の試験は同時に実行することが好ましいが、逐次式に実施することもあり得る。さらに、与えられたある瞬間に設定された偏波状態が短い観測時間Ｔ_{ｔｏｔａｌ}後にのみ実際上生じていること、たとえば、そのシステムによっては数秒または数分後であることとは無関係に、生じる障害確率はこの時間にわたって一定のままであることが立証されている。

したがって、光伝送システムの有効寿命の間に、その個々の光学素子に関して、その光伝送システム全体に関して、またその光学信号に関して生じることがある異なる偏波状態の本質的にすべてを、妥当な時間内に設定することができる。実際に、システムの後続の操作において考慮に入れる必要があるこれら可能な偏波状態がすべて生じ終わるまでには、数カ月間待機することを要することになる。これに加えて、本発明は、偏波の短期的揺動、ならびに光学信号に対するその影響（これを得ようとすれば、実行することが（可能であるとしても）ほとんど不可能であるような数カ月間にわたって継続する監視プログラムを実現することが必要となる）に関するステートメントを提供することを可能にしている。

このコンテキストでは、光学信号の偏波状態に関する試験ならびに個々の光学素子に関する試験は、外部からおよび／またはその特異的な用途に応じた仲介物によって変更されることがある。幾つかの偏波モードを起動するために既存のシステムについて想定される好ましい選択肢は送信しようとする光学信号を１つの異なる箇所または好ましくは多数の異なる箇所で送出することである。実際にまた、個々の光学素子の偏波状態に対する変更は、対象の光学素子の前で信号の入力偏波状態を変更することによって実施されるべきである。

たとえばさらに、結果として実現しようとする光伝送システムの開発段階における光学素子の事前選択／調整を、光伝送システムに対する対応するコンピュータ・シミュレーションの使用によって簡単な方式で保証することができる。

これによって生じた設定値のすべて、あるいは偏波状態の設定値の組み合わせにおいて、各ケースについて第２の選択された光学素子がしきい値条件を満足しているか否かが計測され、しかる後に伝送システムの障害確率が計算される。

この目的のための信号品質を表す信号特性は、たとえば、符号誤り率（ＢＥＲ）の形態、誤り防止符号化（順方向誤り訂正、ＦＥＣ）に関する補正済みの記号誤りの数の形態、Ｑ係数の形態、アイパターン図の形態および／または信号の振幅の形態で計測されることがある。信号品質の直接測定では、その光学素子は、たとえば対応する監視デバイスと結合させることがあり、この監視デバイスはその結果、ＢＥＲ、順方向誤り訂正に関する補正済みの記号誤りの数、Ｑ係数および／またはアイパターン図を計測するように構成することが好ましいことになる。さらに、たとえば第２の後続の光学素子の前で光学信号の一部を光学カプラによって逸れさせることによって信号特性の間接的な決定が可能である。結果として、第２の光学素子の位置で計測された信号特性がある種のしきい値を満たさなくなった場合、第１の光学素子と第２の光学素子の間でその光学転送システムは誤動作する。上で強調したような計測に関して好ましい信号特性では、こうしたしきい値条件に関して挙げられる例としては、最大符号誤り率ＢＥＲ_ｔｈ、アイの開きに関する最大劣化、またさらには容認可能な最大アナログ信号歪み（詳細には、振幅の最大増加）がある。

図２は、最大符号誤り率のしきい値条件ＢＥＲ_ｔｈがその範囲内ではもはや満足されないような、光学信号の符号誤り率に基づいて障害確率に対して影響を及ぼす時間間隔Ｔ_ｏｕｔ、Ｔ_ｏｕｔ−２、およびＴ_ｏｕｔ−３によって表されるＰＭＤ誘導性障害の確率を決定するための記録時間図を単に一例として表している。

上の説明から分かるように、本発明の処理法は原理的には、直列および／または並列に接続した光学素子を含む任意のトポロジー形態で構成されることがある多数の光学素子を備えたあらゆる光伝送システムに対して基本的に適用することができる。

それぞれの任意の光学素子は、ある任意の数の光学入力および光学出力を有することがある（ただし、少なくとも１つの入力と少なくとも１つの出力をもっている）。したがって、こうした素子の例には、光送信器、光受信器、ガラスファイバ、屋外ライン、光学マルチプレクサ、光学デマルチプレクサ、ならびに光増幅器やＰＭＤ補償装置がある。光伝送システムは多くの場合、直列に構成させた光学素子を備えており、送信器（Ｔｘ）１０で始まり受信器（Ｒｘ）２０で終わっている光伝送線を組み込んでいる。

図３は、本発明の処理法を実際の動作に近い方式で検査した２つの光伝送システムを極端に簡略化した方法で表したものである。
図２に従った光伝送システムは、直列に構成させた光学素子１０、１１、１２、１３ａまたは１３ｂ、１４、１５および２０をもつ光伝送線を備えており、これらの光ファイバ区域１２、１５とその他の光学素子１０、１１、１３ａまたは１３ｂ、１４、１５および２０とは大幅に交替する。詳細には、図１に従った光伝送システムは、光送信器（Ｔｘ）１０と光受信器（Ｒｘ）２０の間にある第１の偏波スクランブラ（Ｐ−ＳＣＲ１）と、第１の光ファイバ区域（Ｇｆ）１２と、初めに模式化した実施形態では偏波制御装置（Ｐ−ＣＯＮ）１３ａと、第１の模式化した実施形態では第２の偏波制御装置（Ｐ−ＳＣＲ２）１３ｂと、任意選択の光増幅器（ＯＡ）１４と、第２の光ファイバ区域（Ｇｆ）１５と、を備えている。

実際には偏波制御装置および／または偏波スクランブラの利用ならびにそのそれぞれの構成は、使用される別のそれぞれの光学素子やその特異的なパラメータ値によって大幅に支配されることを指摘しておくべきである。

入射光の偏波を意図的に変化させるための偏波制御装置や偏波アクチュエータ、および／または可能なすべての偏波状態および等級にわたる偏波の変動に関する偏波スクランブラを頻繁に利用することによってＰＭＤ誘導性障害の確率を決定するために要する時間の削減につながっており、このことはまた極めて有用であることが立証されている。さらにこうした偏波アクチュエータおよび／または偏波スクランブラを利用することによって、ある伝送線に沿った多数の異なる位置における偏波状態の同時および連続する変更を保証することができる。

ＰＭＤ誘導性障害の確率の決定に要する時間を短縮するための追加的な可能性はたとえば、実際に採用されている伝送システムと比較して光伝送システムをターゲット式で変更すること、ならびにこの変更を行うことなく光学系の障害確率に関して続いて結論を引き出せるように修正式光伝送システムに関する障害確率を決定すること、からなる。この可能性は、計測およびシミュレーションに要する時間が長すぎるような場合に（こうしたケースでは、障害確率が小さすぎで計測が（不可能でないにしても）困難であるため）特に有用であることが立証されている。

減衰性の部材を、たとえば光受信器２０の前に導入する（実際の動作では除去されることになる）ことによって、障害確率がこの追加的な減衰によって決定され、これにより追加的な減衰を伴わない計測と比較して計測に要する時間を大幅が削減された。実際の目的のためには、こうした計測を多様な追加的な減衰値によって実行し、これによってその個々の各減衰値ごとに、それぞれの障害確率を決定でき、またこの方式により引き続いて単に推定によって追加的な減衰性の部材を伴うことなく光伝送システムの障害確率を決定することが可能である。

光伝送システムに対して、ならびにこの光伝送システムを介して送信される信号に対して誘発した影響を作用させることによって多数の偏波状態を生成させることが可能な本発明の処理法によれば、光伝送システムに対するＰＭＤ誘導性障害の確率を実効的でありかつ現実により近い方式で決定することが可能である。

結果として、その偏波状態によって、光伝送システムによって送信された光学信号を指定の許容誤差領域から外れさせるような歪みにつながるような、光伝送システムの可能なおよび／または確からしい偏波状態、ならびにこうした偏波によって生じるシステム障害の比率は、実験的に計測可能であり、かつ／または妥当な時間以内にシミュレーションすることが可能である。

本発明の処理法に関する１つの例示的方式として提供している手法に関する極端に簡略化したフローチャートである。 ディジタル光学信号の符号誤り率に基づいて障害確率を表した図である。 偏波スクランブラと偏波制御装置の間に２つのガラスファイバ・セクションを介在させて備える光学障害確率を計測するための光伝送システムの極端に簡略化した例の図である。

Claims (16)

1. 少なくとも１つの光学入力および１つの光学出力を備えた光伝送線（１０、１１、１２、１３ａ、１３ｂ、１４、１５、２０）を含む光伝送システムのＰＭＤ誘導性障害の確率を決定するための処理法であって、指定の／指定可能な観測時間（Ｔ_{ｔｏｔａｌ}）中およびこの内部で該光伝送線（１０、１１、１２、１３ａ、１３ｂ、１４、１５、２０）の少なくとも１つの位置にターゲット式仲介物を加えることによって光伝送システムの偏波状態および／またはこの光伝送システムによって送信された光学信号が変更されており、かつ該光伝送線（１０、１１、１２、１３ａ、１３ｂ、１４、１５、２０）の第１の位置から下流方向にある少なくとも１つの場所の間にある第２の位置において、指定の／指定可能な信号特性（ＢＥＲ）が定量的に計測されて指定の／指定可能なしきい値条件（ＢＥＲ_ｔｈ）に適合するか否かがチェックされており、かつ光伝送システムのＰＭＤ誘導性障害の確率は計測された信号特性がしきい値条件（ＢＥＲ_ｔｈ）を満足しない期間である時間（Ｔ_ｏｕｔ）の長さと観測時間長（Ｔ_{ｔｏｔａｌ}）との比に基づいて計算されている処理法。
2. さらに、第１の光学素子（１０）および第２の光学素子（２０）と、この第１の光学素子と第２の光学素子の間に配置させた多数の追加的な光学素子（１１、１２、１３ａ、１３ｂ、１４、１５）と、を備える光伝送線（１０、１１、１２、１３ａ、１３ｂ、１４、１５、２０）に対して該処理法が適用されており、光伝送システムの偏波状態および／または光伝送システムによって送信される信号に対する変更が第１の素子（１０）および／または追加的な光学素子（１１、１２、１３ａ、１３ｂ、１４、１５）の位置で実行されること、ならびに信号特性（ＢＥＲ）の計測が第２の光学素子（２０）の位置または第２の光学素子（２０）の近傍で実行されることを特徴とする請求項１に記載の処理法。
3. さらに、前記信号特性（ＢＥＲ）は第２の光学素子（２０）の位置で直接的に計測されるか間接的に決定されるかのいずれかであることを特徴とする請求項２に記載の処理法。
4. さらに、前記間接的な決定において送信された光学信号の一部が第２の光学素子（２０）の上流側に進路変更されていることを特徴とする請求項３に記載の処理法。
5. さらに、光伝送の偏波状態および／またはこの光伝送システムによって送信された光学信号の変更が送信しようとするさまざまな偏波状態を有する光学信号に関する放出および／または伝送によって実現されていることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の処理法。
6. さらに、観測時間（Ｔ_{ｔｏｔａｌ}）の間において多数の偏波状態が同時にまたは観測時間中に連続して試験を受けている（特に、これらが自動方式で試験を受ける場合）こと、ならびにそれぞれの設定値または設定値の組み合わせに関して信号特性（ＢＥＲ）が対応して計測されてしきい値条件（ＢＥＲ_ｔｈ）に対してチェックを受けていること、ならびに計測される信号特性がしきい値条件（ＢＥＲ_ｔｈ）を満足していない時間である時間（Ｔ_{ｏｕｔ−ｎ}）の部分のすべての総和の観測時間（Ｔ_{ｔｏｔａｌ}）に対する比に基づいて光伝送システムのＰＭＤ誘導性障害の確率が計算されることがあることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の処理法。
7. さらに、その処理法の実行のためにディジタル信号またはアナログ信号が利用されていることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の処理法。
8. さらに、前記信号特性が符号誤り率（ＢＥＲ）、アイパターン図または信号の振幅として計測されていることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の処理法。
9. さらに、最大および／または最小信号特性値がしきい値として指定されていることを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の処理法。
10. さらに、その処理法を実行するための光伝送システムは、修正した伝送システムに対する障害確率が決定され、かつ光伝送システムの障害確率が推定による修正を伴わずに決定されるような方式で全体として修正されていることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の処理法。
11. さらに、その処理法を実行するために減衰器を導入して観測時間を短縮させていることを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の処理法。
12. さらに、偏波状態を変更するために少なくとも１つの偏波制御装置（Ｐ−ＣＯＮ １３ａ）および／または少なくとも１つの偏波スクランブラ（Ｐ−ＳＣＲ１、Ｐ−ＳＣＲ２、１１、１３ｂ）が使用されていることを特徴とする請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の処理法。
13. さらに、現実の光伝送線に対して適用されることを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の処理法。
14. さらに、光伝送線のモデルに対するコンピュータ・シミュレーションの形態で適用されることを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の処理法。
15. 請求項１乃至１４のいずれか１項に記載の処理法を実行するような光伝送システムの使用法。
16. 少なくとも１つの光学入力および１つの光学出力を備える光伝送線（１０、１１、１２、１３ａ、１３ｂ、１４、１５、２０）を有する光伝送システムのＰＭＤ誘導性障害の確率の決定のための処理法を実行するための装置であって、
    指定の／指定可能な観測時間（Ｔ_{ｔｏｔａｌ}）中に光伝送線（１０、１１、１２、１３ａ、１３ｂ、１４、１５、２０）の少なくとも１つの位置において光伝送システムの偏波状態および／または光学偏波システムによって送信された信号が修正可能であるような方式でターゲット式仲介物を適用するためにデバイスと、
    光伝送線（１０、１１、１２、１３ａ、１３ｂ、１４、１５、２０）の第１の位置から下流方向にある少なくとも１つの場所にある第２の位置において指定の／指定可能な信号特性（ＢＥＲ）の指定の／指定可能な観測時間（Ｔ_{ｔｏｔａｌ}）を定量的計測するためのデバイスと、
    前記計測された信号特性（ＢＥＲ）を指定の／指定可能なしきい値（ＢＥＲ_ｔｈ）を基準としてチェックするためのデバイスと、
    前記計測された信号特性がしきい値条件（ＢＥＲ_ｔｈ）を満足していない時間である時間（Ｔ_ｏｕｔ）の部分の観測時間（Ｔ_{ｔｏｔａｌ}）に対する比を計算するためのデバイスと、
    を有する装置。
    

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