JP2003202274A - 偏波モード分散測定装置、方法、プログラムおよび該プログラムを記録した記録媒体 - Google Patents
偏波モード分散測定装置、方法、プログラムおよび該プログラムを記録した記録媒体Info
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- JP2003202274A JP2003202274A JP2002316593A JP2002316593A JP2003202274A JP 2003202274 A JP2003202274 A JP 2003202274A JP 2002316593 A JP2002316593 A JP 2002316593A JP 2002316593 A JP2002316593 A JP 2002316593A JP 2003202274 A JP2003202274 A JP 2003202274A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 偏光成分の偏りを防止した偏波モード分散の
測定装置を提供する。 【解決手段】 波長可変光源１０の生成する入射光を偏
波分離器２０におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸１６ａに
あわせて光ファイバ１８に入射した場合、偏波分離器２
０の出力のｐ偏光成分およびｓ偏光成分におけるパワー
の偏りが生ずる場合がある。ここで、入射光をｐ偏光軸
およびｓ偏光軸をある角度θ回転した直交偏光軸１６ｂ
（ｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸）にあわせて光ファイバ
１８に入射する。これにより、偏波分離器２０の出力の
ｐ偏光成分およびｓ偏光成分におけるパワーの偏りを防
止できる。しかも、このときの偏波モード分散の測定法
は入射光をｐ偏光軸およびｓ偏光軸１６ａにあわせた場
合と同様であり、偏波モード分散を測定することが可能
である。
測定装置を提供する。 【解決手段】 波長可変光源１０の生成する入射光を偏
波分離器２０におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸１６ａに
あわせて光ファイバ１８に入射した場合、偏波分離器２
０の出力のｐ偏光成分およびｓ偏光成分におけるパワー
の偏りが生ずる場合がある。ここで、入射光をｐ偏光軸
およびｓ偏光軸をある角度θ回転した直交偏光軸１６ｂ
（ｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸）にあわせて光ファイバ
１８に入射する。これにより、偏波分離器２０の出力の
ｐ偏光成分およびｓ偏光成分におけるパワーの偏りを防
止できる。しかも、このときの偏波モード分散の測定法
は入射光をｐ偏光軸およびｓ偏光軸１６ａにあわせた場
合と同様であり、偏波モード分散を測定することが可能
である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光通信に用いられ
る光ファイバなど被測定物（DUT：Device UnderTest）
の偏波モード分散の測定に関する。
る光ファイバなど被測定物（DUT：Device UnderTest）
の偏波モード分散の測定に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバの偏波モード分散を測定する
ことは従来より行われている。例えば、特許文献１に
も、光ファイバの偏波モード分散測定装置についての記
載がある。図７を参照して、特許文献１に記載の光ファ
イバの偏波モード分散測定装置を説明する。
ことは従来より行われている。例えば、特許文献１に
も、光ファイバの偏波モード分散測定装置についての記
載がある。図７を参照して、特許文献１に記載の光ファ
イバの偏波モード分散測定装置を説明する。
【０００３】まず、被測定光ファイバ１０４の偏波モー
ド分散τPMDを式（１）のように定義する。
ド分散τPMDを式（１）のように定義する。
【０００４】
【数１】
ただし、θは偏光角、ψ1は光の進行方向に垂直な面内
のある方向の位相推移、ψ2はψ1に直交する方向の位相
推移である。ここで、被測定光ファイバ１０４の伝達関
数行列［Ｔ］を式（２）のように定義する。
のある方向の位相推移、ψ2はψ1に直交する方向の位相
推移である。ここで、被測定光ファイバ１０４の伝達関
数行列［Ｔ］を式（２）のように定義する。
【０００５】
【数２】
ただし、｜Ｔij｜は各行列要素の振幅、φijは各行列要
素の位相推移であり、ともに光角周波数ωの関数であ
る。すると、式（１）のパラメータθ、ψ1、ψ2はそれ
ぞれ式（３）、（４）、（５）のようにして求めること
ができる。
素の位相推移であり、ともに光角周波数ωの関数であ
る。すると、式（１）のパラメータθ、ψ1、ψ2はそれ
ぞれ式（３）、（４）、（５）のようにして求めること
ができる。
【０００６】
θ(ω)=0.5cos-1(|T11|2−|T21|2) …（３）
ψ1(ω)=(φ11−φ22)／2 …（４）
ψ2(ω)=(φ21−φ12＋π)／2 …（５）
よって、被測定光ファイバ１０４の伝達関数行列［Ｔ］
を求めることにより、被測定光ファイバ１０４の偏波モ
ード分散τPMDを求めることができる。
を求めることにより、被測定光ファイバ１０４の偏波モ
ード分散τPMDを求めることができる。
【０００７】被測定光ファイバ１０４の伝達関数行列
［Ｔ］を求める方法を図７を参照して説明する。まず、
制御部１０９は偏波コントローラ１０３の出力光を偏光
ビームスプリッタ１０５のｐ方向に一致する直線偏波と
して被測定光ファイバ１０４へ入射させる。このときの
被測定光ファイバ１０４の出力光は以下の式（６）によ
り表わされる。
［Ｔ］を求める方法を図７を参照して説明する。まず、
制御部１０９は偏波コントローラ１０３の出力光を偏光
ビームスプリッタ１０５のｐ方向に一致する直線偏波と
して被測定光ファイバ１０４へ入射させる。このときの
被測定光ファイバ１０４の出力光は以下の式（６）によ
り表わされる。
【０００８】
【数３】
上記の出力光は偏光ビームスプリッタ１０５によりｓ偏
光成分およびｐ偏光成分に分離されてＯ／Ｅ変換器１０
６1，１０６2に入射されて
光成分およびｐ偏光成分に分離されてＯ／Ｅ変換器１０
６1，１０６2に入射されて
【０００９】
【数４】
が測定される。
【００１０】上記の測定が終了すると、制御部１０９は
偏波コントローラ１０３の出力光を９０゜回転させて偏
光ビームスプリッタ１０５のｓ方向に一致する直線偏波
として被測定光ファイバ１０４へ入射させる。このとき
の被測定光ファイバ１０４の出力光は以下の式（７）に
より表わされる。
偏波コントローラ１０３の出力光を９０゜回転させて偏
光ビームスプリッタ１０５のｓ方向に一致する直線偏波
として被測定光ファイバ１０４へ入射させる。このとき
の被測定光ファイバ１０４の出力光は以下の式（７）に
より表わされる。
【００１１】
【数５】
上記の出力光は偏光ビームスプリッタ１０５によりｓ偏
光成分およびｐ偏光成分に分離されてＯ／Ｅ変換器１０
６1，１０６2に入射されて、
光成分およびｐ偏光成分に分離されてＯ／Ｅ変換器１０
６1，１０６2に入射されて、
【００１２】
【数６】
が測定される。
【００１３】ネットワークアナライザ１０７は上記のよ
うにして測定された各パラメータと式（３）、（４）、
（５）から、θ，ψ1，ψ2を求める。なお、ネットワー
クアナライザ１０７は、増幅器１０８を介して光強度変
調器１０２における強度変調比を制御している。
うにして測定された各パラメータと式（３）、（４）、
（５）から、θ，ψ1，ψ2を求める。なお、ネットワー
クアナライザ１０７は、増幅器１０８を介して光強度変
調器１０２における強度変調比を制御している。
【００１４】この後、上記の測定が波長可変光源１０１
の出力波長を掃引して行われ、各測定結果からθ
（ω），ψ1（ω），ψ2（ω）が求められる。そして、
制御部１０９は式（１）から偏波モード分散τPMDを求
める。
の出力波長を掃引して行われ、各測定結果からθ
（ω），ψ1（ω），ψ2（ω）が求められる。そして、
制御部１０９は式（１）から偏波モード分散τPMDを求
める。
【００１５】
【特許文献１】特開平９−２６４８１４号公報
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような方法では、被測定光ファイバ１０４の出力光が偏
光ビームスプリッタ１０５によりｓ偏光成分およびｐ偏
光成分に分離される際に、パワーが偏る場合がある。す
なわち、偏光ビームスプリッタ１０５から出力されたｓ
偏光成分およびｐ偏光成分の内の一方が他方よりも極め
て大きくなる場合がある。極端な例としては、ｐ偏光成
分だけが出力され、ｓ偏光成分が出力されないことすら
ある。
ような方法では、被測定光ファイバ１０４の出力光が偏
光ビームスプリッタ１０５によりｓ偏光成分およびｐ偏
光成分に分離される際に、パワーが偏る場合がある。す
なわち、偏光ビームスプリッタ１０５から出力されたｓ
偏光成分およびｐ偏光成分の内の一方が他方よりも極め
て大きくなる場合がある。極端な例としては、ｐ偏光成
分だけが出力され、ｓ偏光成分が出力されないことすら
ある。
【００１７】このような場合、パワーが小さい方の成分
の位相におけるＳ／Ｎ比が悪化するため、位相の測定が
不正確になる。よって、被測定光ファイバ１０４の群遅
延時間および偏波モード分散にもノイズが混入し、測定
が不正確になる。
の位相におけるＳ／Ｎ比が悪化するため、位相の測定が
不正確になる。よって、被測定光ファイバ１０４の群遅
延時間および偏波モード分散にもノイズが混入し、測定
が不正確になる。
【００１８】そこで、本発明は、偏光成分の偏りを防止
した偏波モード分散の測定装置等を提供することを課題
とする。
した偏波モード分散の測定装置等を提供することを課題
とする。
【００１９】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード分
散測定装置であって、被測定物から出射された光を受け
て、ｐ偏光およびｓ偏光に分離して出力する偏波分離手
段と、入射光を生成する光生成手段と、入射光を強度変
調して出射する光変調手段と、強度変調された入射光を
偏波分離手段におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸を所定角
度回転させた直交偏光軸にあわせて被測定物に入射する
光入射手段と、偏波分離手段の出力に基づき入射光の位
相推移相当値および振幅相当値を計測する計測手段と、
計測手段の計測結果に基づき被測定物の偏波モード分散
を測定する偏波モード分散測定手段とを備えるように構
成される。
は、被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード分
散測定装置であって、被測定物から出射された光を受け
て、ｐ偏光およびｓ偏光に分離して出力する偏波分離手
段と、入射光を生成する光生成手段と、入射光を強度変
調して出射する光変調手段と、強度変調された入射光を
偏波分離手段におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸を所定角
度回転させた直交偏光軸にあわせて被測定物に入射する
光入射手段と、偏波分離手段の出力に基づき入射光の位
相推移相当値および振幅相当値を計測する計測手段と、
計測手段の計測結果に基づき被測定物の偏波モード分散
を測定する偏波モード分散測定手段とを備えるように構
成される。
【００２０】上記のように構成された偏波モード分散測
定装置によれば、入射光を偏波分離手段におけるｐ偏光
軸およびｓ偏光軸を所定角度回転させた直交偏光軸にあ
わせて被測定物に入射する。これにより、偏波分離手段
の出力のｐ偏光成分およびｓ偏光成分におけるパワーの
偏りを防止できる。
定装置によれば、入射光を偏波分離手段におけるｐ偏光
軸およびｓ偏光軸を所定角度回転させた直交偏光軸にあ
わせて被測定物に入射する。これにより、偏波分離手段
の出力のｐ偏光成分およびｓ偏光成分におけるパワーの
偏りを防止できる。
【００２１】しかも、入射光を直交偏光軸にあわせて被
測定物に入射した結果に基づき偏波モード分散を測定す
る方法は、入射光を偏波分離手段におけるｐ偏光軸およ
びｓ偏光軸にあわせて被測定物に入射した結果に基づき
偏波モード分散を測定する方法と同様であり、偏波モー
ド分散を測定することが可能である。
測定物に入射した結果に基づき偏波モード分散を測定す
る方法は、入射光を偏波分離手段におけるｐ偏光軸およ
びｓ偏光軸にあわせて被測定物に入射した結果に基づき
偏波モード分散を測定する方法と同様であり、偏波モー
ド分散を測定することが可能である。
【００２２】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の発明であって、光入射手段は、入射光を直交偏光軸に
あわせ、さらにｐ偏光軸およびｓ偏光軸にあわせて被測
定物に入射するように構成される。
の発明であって、光入射手段は、入射光を直交偏光軸に
あわせ、さらにｐ偏光軸およびｓ偏光軸にあわせて被測
定物に入射するように構成される。
【００２３】請求項３に記載の発明は、請求項１に記載
の発明であって、所定角度は、計測手段の計測結果に基
づき定められるように構成される。
の発明であって、所定角度は、計測手段の計測結果に基
づき定められるように構成される。
【００２４】請求項４に記載の発明は、請求項１ないし
３のいずれか一項に記載の発明であって、位相推移相当
値は位相推移を光角周波数で微分したものであるように
構成される。
３のいずれか一項に記載の発明であって、位相推移相当
値は位相推移を光角周波数で微分したものであるように
構成される。
【００２５】請求項５に記載の発明は、請求項１ないし
３のいずれか一項に記載の発明であって、振幅相当値は
振幅を二乗したものであるように構成される。
３のいずれか一項に記載の発明であって、振幅相当値は
振幅を二乗したものであるように構成される。
【００２６】請求項６に記載の発明は、被測定物の偏波
モード分散を測定する偏波モード分散測定方法であっ
て、被測定物から出射された光を受けて、ｐ偏光および
ｓ偏光に分離して出力する偏波分離工程と、入射光を生
成する光生成工程と、入射光を強度変調して出射する光
変調工程と、強度変調された入射光を偏波分離工程にお
けるｐ偏光軸およびｓ偏光軸を所定角度回転させた直交
偏光軸にあわせて被測定物に入射する光入射工程と、偏
波分離工程の出力に基づき入射光の位相推移相当値およ
び振幅相当値を計測する計測工程と、計測工程の計測結
果に基づき被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モ
ード分散測定工程と、を備えるように構成される。
モード分散を測定する偏波モード分散測定方法であっ
て、被測定物から出射された光を受けて、ｐ偏光および
ｓ偏光に分離して出力する偏波分離工程と、入射光を生
成する光生成工程と、入射光を強度変調して出射する光
変調工程と、強度変調された入射光を偏波分離工程にお
けるｐ偏光軸およびｓ偏光軸を所定角度回転させた直交
偏光軸にあわせて被測定物に入射する光入射工程と、偏
波分離工程の出力に基づき入射光の位相推移相当値およ
び振幅相当値を計測する計測工程と、計測工程の計測結
果に基づき被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モ
ード分散測定工程と、を備えるように構成される。
【００２７】請求項７に記載の発明は、請求項６に記載
の偏波モード分散測定方法であって、直交偏光軸は複数
あり、偏波モード分散測定工程において、各直交偏光軸
に対応した計測結果のＳ／Ｎ比を比べて、偏波モード分
散の測定に利用する計測結果を選択するように構成され
る。
の偏波モード分散測定方法であって、直交偏光軸は複数
あり、偏波モード分散測定工程において、各直交偏光軸
に対応した計測結果のＳ／Ｎ比を比べて、偏波モード分
散の測定に利用する計測結果を選択するように構成され
る。
【００２８】請求項８に記載の発明は、請求項６に記載
の偏波モード分散測定方法であって、光入射工程は、入
射光を直交偏光軸にあわせて被測定物に入射する工程
と、ｐ偏光軸およびｓ偏光軸にあわせて被測定物に入射
する工程とを有し、偏波モード分散測定工程において、
直交偏光軸にあわせたときの計測結果のＳ／Ｎ比と、ｐ
偏光軸およびｓ偏光軸にあわせたときのＳ／Ｎ比とを比
べて、偏波モード分散の測定に利用する計測結果を選択
するように構成される。
の偏波モード分散測定方法であって、光入射工程は、入
射光を直交偏光軸にあわせて被測定物に入射する工程
と、ｐ偏光軸およびｓ偏光軸にあわせて被測定物に入射
する工程とを有し、偏波モード分散測定工程において、
直交偏光軸にあわせたときの計測結果のＳ／Ｎ比と、ｐ
偏光軸およびｓ偏光軸にあわせたときのＳ／Ｎ比とを比
べて、偏波モード分散の測定に利用する計測結果を選択
するように構成される。
【００２９】請求項９に記載の発明は、被測定物から出
射された光を受けてｐ偏光およびｓ偏光に分離して出力
する偏波分離手段と、入射光を生成する光生成手段と、
入射光を強度変調して出射する光変調手段と、強度変調
された入射光を偏波分離手段におけるｐ偏光軸およびｓ
偏光軸を所定角度回転させた直交偏光軸にあわせて被測
定物に入射する光入射手段とを有する偏波モード分散測
定装置における偏波モード分散測定処理をコンピュータ
に実行させるためのプログラムであって、偏波分離手段
の出力に基づき入射光の位相推移相当値および振幅相当
値を計測する計測処理と、計測処理の計測結果に基づき
被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード分散測
定処理とをコンピュータに実行させるためのプログラム
である。
射された光を受けてｐ偏光およびｓ偏光に分離して出力
する偏波分離手段と、入射光を生成する光生成手段と、
入射光を強度変調して出射する光変調手段と、強度変調
された入射光を偏波分離手段におけるｐ偏光軸およびｓ
偏光軸を所定角度回転させた直交偏光軸にあわせて被測
定物に入射する光入射手段とを有する偏波モード分散測
定装置における偏波モード分散測定処理をコンピュータ
に実行させるためのプログラムであって、偏波分離手段
の出力に基づき入射光の位相推移相当値および振幅相当
値を計測する計測処理と、計測処理の計測結果に基づき
被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード分散測
定処理とをコンピュータに実行させるためのプログラム
である。
【００３０】請求項１０に記載の発明は、被測定物から
出射された光を受けてｐ偏光およびｓ偏光に分離して出
力する偏波分離手段と、入射光を生成する光生成手段
と、入射光を強度変調して出射する光変調手段と、強度
変調された入射光を偏波分離手段におけるｐ偏光軸およ
びｓ偏光軸を所定角度回転させた直交偏光軸にあわせて
被測定物に入射する光入射手段とを有する偏波モード分
散測定装置における偏波モード分散測定処理をコンピュ
ータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュ
ータによって読み取り可能な記録媒体であって、偏波分
離手段の出力に基づき入射光の位相推移相当値および振
幅相当値を計測する計測処理と、計測処理の計測結果に
基づき被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード
分散測定処理と、をコンピュータに実行させるためのプ
ログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能
な記録媒体である。
出射された光を受けてｐ偏光およびｓ偏光に分離して出
力する偏波分離手段と、入射光を生成する光生成手段
と、入射光を強度変調して出射する光変調手段と、強度
変調された入射光を偏波分離手段におけるｐ偏光軸およ
びｓ偏光軸を所定角度回転させた直交偏光軸にあわせて
被測定物に入射する光入射手段とを有する偏波モード分
散測定装置における偏波モード分散測定処理をコンピュ
ータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュ
ータによって読み取り可能な記録媒体であって、偏波分
離手段の出力に基づき入射光の位相推移相当値および振
幅相当値を計測する計測処理と、計測処理の計測結果に
基づき被測定物の偏波モード分散を測定する偏波モード
分散測定処理と、をコンピュータに実行させるためのプ
ログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能
な記録媒体である。
【００３１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。
を参照して説明する。
【００３２】第一の実施形態
図１は、本発明の第一の実施形態にかかる偏波モード分
散測定装置の構成を示すブロック図である。本発明の第
一の実施形態にかかる偏波モード分散測定装置は、被測
定物（DUT：Device Under Test）である光ファイバ１８
の偏波モード分散τPMDを求めるためのものである。本
発明の第一の実施形態にかかる偏波モード分散測定装置
は、波長可変光源（光生成手段）１０、光変調器１２、
偏波コントローラ（光入射手段）１４、偏波状態設定部
１６、偏波分離器２０、光電（O/E）変換器２２ｐ、
ｓ、計測部２４、偏波モード分散測定部２６を備える。
散測定装置の構成を示すブロック図である。本発明の第
一の実施形態にかかる偏波モード分散測定装置は、被測
定物（DUT：Device Under Test）である光ファイバ１８
の偏波モード分散τPMDを求めるためのものである。本
発明の第一の実施形態にかかる偏波モード分散測定装置
は、波長可変光源（光生成手段）１０、光変調器１２、
偏波コントローラ（光入射手段）１４、偏波状態設定部
１６、偏波分離器２０、光電（O/E）変換器２２ｐ、
ｓ、計測部２４、偏波モード分散測定部２６を備える。
【００３３】波長可変光源１０は、波長を変化させなが
ら入射光を生成する。なお、光角周波数ω＝２πｆ＝２
πｃ／λである。ただし、ｃは光速、λは波長である。
よって、波長λを変化させることは、光角周波数ωを変
化させることにつながる。
ら入射光を生成する。なお、光角周波数ω＝２πｆ＝２
πｃ／λである。ただし、ｃは光速、λは波長である。
よって、波長λを変化させることは、光角周波数ωを変
化させることにつながる。
【００３４】光変調器１２は、入射光の強度変調を行っ
て偏波コントローラ１４へ出射する。
て偏波コントローラ１４へ出射する。
【００３５】偏波コントローラ（光入射手段）１４は入
射光の偏波状態を偏波状態設定部１６の制御を受けて制
御する。
射光の偏波状態を偏波状態設定部１６の制御を受けて制
御する。
【００３６】偏波状態設定部１６は、入射光の偏波状態
を設定する。すなわち、入射光を偏波分離器２０におけ
るｐ偏光軸およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわせる。すな
わち、入射光をｐ偏光軸およびｓ偏光軸に一致する直線
偏波とする。さらに、入射光をｐ’偏光軸およびｓ’偏
光軸すなわち直交偏光軸１６ｂにあわせる。すなわち、
入射光をｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸に一致する直線偏
波とする。ただし、ｐ’偏光軸はｐ偏光軸を所定角度θ
回転させたものであり、ｓ’偏光軸はｓ偏光軸を所定角
度θ回転させたものである。なお、所定角度θは偏波モ
ード分散測定装置のユーザが任意に定めてもよいし、固
定してもよい（例、θ＝45°、60°に固定）。
を設定する。すなわち、入射光を偏波分離器２０におけ
るｐ偏光軸およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわせる。すな
わち、入射光をｐ偏光軸およびｓ偏光軸に一致する直線
偏波とする。さらに、入射光をｐ’偏光軸およびｓ’偏
光軸すなわち直交偏光軸１６ｂにあわせる。すなわち、
入射光をｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸に一致する直線偏
波とする。ただし、ｐ’偏光軸はｐ偏光軸を所定角度θ
回転させたものであり、ｓ’偏光軸はｓ偏光軸を所定角
度θ回転させたものである。なお、所定角度θは偏波モ
ード分散測定装置のユーザが任意に定めてもよいし、固
定してもよい（例、θ＝45°、60°に固定）。
【００３７】入射光を被測定物である光ファイバ１８に
入射すると、入射光が光ファイバ１８を透過する。偏波
分離器２０は、光ファイバ１８を透過した光すなわち光
ファイバ１８から出射された光を受けて、ｐ偏光および
ｓ偏光に分離して出力する。
入射すると、入射光が光ファイバ１８を透過する。偏波
分離器２０は、光ファイバ１８を透過した光すなわち光
ファイバ１８から出射された光を受けて、ｐ偏光および
ｓ偏光に分離して出力する。
【００３８】光電（O/E）変換器２２ｐは、偏波分離器
２０の出力のｐ偏光成分を光電変換して計測部２４に出
力する。光電（O/E）変換器２２ｓは、偏波分離器２０
の出力のｓ偏光成分を光電変換して計測部２４に出力す
る。
２０の出力のｐ偏光成分を光電変換して計測部２４に出
力する。光電（O/E）変換器２２ｓは、偏波分離器２０
の出力のｓ偏光成分を光電変換して計測部２４に出力す
る。
【００３９】計測部２４は、偏波分離器２０の出力に基
づき入射光の位相推移相当値および振幅相当値を計測す
る。位相推移相当値とは、位相推移に相当する値であ
る。位相推移相当値は、位相推移そのものでもよいが、
例えば、位相推移を光角周波数で微分した値（群遅延時
間）が、位相推移相当値である。振幅相当値とは、振幅
に相当する値である。振幅相当値は、振幅そのものでも
よいが、例えば、振幅を二乗した値が、振幅相当値であ
る。
づき入射光の位相推移相当値および振幅相当値を計測す
る。位相推移相当値とは、位相推移に相当する値であ
る。位相推移相当値は、位相推移そのものでもよいが、
例えば、位相推移を光角周波数で微分した値（群遅延時
間）が、位相推移相当値である。振幅相当値とは、振幅
に相当する値である。振幅相当値は、振幅そのものでも
よいが、例えば、振幅を二乗した値が、振幅相当値であ
る。
【００４０】偏波モード分散測定部２６は計測部２４の
計測結果に基づき、光ファイバ１８の偏波モード分散τ
PMDを求める。
計測結果に基づき、光ファイバ１８の偏波モード分散τ
PMDを求める。
【００４１】次に、本発明の第一の実施形態にかかる偏
波モード分散測定装置の動作を図２のフローチャートを
参照しながら説明する。
波モード分散測定装置の動作を図２のフローチャートを
参照しながら説明する。
【００４２】まず、入射光を偏波分離器２０におけるｐ
偏光軸およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわせたときの位相
推移相当値および振幅相当値を計測する（Ｓ１０）。こ
の計測の手順については図３のフローチャートを参照し
て説明する。
偏光軸およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわせたときの位相
推移相当値および振幅相当値を計測する（Ｓ１０）。こ
の計測の手順については図３のフローチャートを参照し
て説明する。
【００４３】まず、波長可変光源１０の出力する光の光
角周波数をωとする（Ｓ１２）。図１を参照して、波長
可変光源１０は、光角周波数ωの入射光を出射する。入
射光は、光変調器１２により強度変調され、偏波コント
ローラ１４へ出射される。ここで、偏波状態設定部１６
は、入射光を偏波分離器２０におけるｐ偏光軸にあわせ
る（Ｓ１４ａ）。すなわち、入射光をｐ偏光軸に一致す
る直線偏波とする。そして、入射光は光ファイバ１８に
入射される。
角周波数をωとする（Ｓ１２）。図１を参照して、波長
可変光源１０は、光角周波数ωの入射光を出射する。入
射光は、光変調器１２により強度変調され、偏波コント
ローラ１４へ出射される。ここで、偏波状態設定部１６
は、入射光を偏波分離器２０におけるｐ偏光軸にあわせ
る（Ｓ１４ａ）。すなわち、入射光をｐ偏光軸に一致す
る直線偏波とする。そして、入射光は光ファイバ１８に
入射される。
【００４４】光ファイバ１８を透過した合成入射光は、
偏波分離器２０によりｐ偏光およびｓ偏光に分離され
る。偏波分離器２０が出力したｐ偏光成分は光電（O/
E）変換器２２ｐにより光電変換されて計測部２４に出
力される。偏波分離器２０が出力したｓ偏光成分は光電
（O/E）変換器２２ｓにより光電変換されて計測部２４
に出力される。そして、計測部２４により位相推移相当
値および振幅相当値が計測される（Ｓ１４ｂ）。
偏波分離器２０によりｐ偏光およびｓ偏光に分離され
る。偏波分離器２０が出力したｐ偏光成分は光電（O/
E）変換器２２ｐにより光電変換されて計測部２４に出
力される。偏波分離器２０が出力したｓ偏光成分は光電
（O/E）変換器２２ｓにより光電変換されて計測部２４
に出力される。そして、計測部２４により位相推移相当
値および振幅相当値が計測される（Ｓ１４ｂ）。
【００４５】ここで、位相推移相当値の求め方および振
幅相当値の求め方（Ｓ１４ｂ）を説明する。
幅相当値の求め方（Ｓ１４ｂ）を説明する。
【００４６】まず、光ファイバ１８の伝達関数行列
［Ｔ］を式（１０）のように定義する。
［Ｔ］を式（１０）のように定義する。
【００４７】
【数７】
ただし、伝達関数行列［Ｔ］の各要素は以下の式（１
１）の通りである。
１）の通りである。
【００４８】
【数８】
ただし、φ（ω）は直交する２つの成分ψ1（ω）、ψ2
（ω）の位相推移の差成分であり、ψ（ω）は直交する
２つの成分ψ1（ω）、ψ2（ω）の位相推移の同相成分
である。なお、ψ1（ω）は光の進行方向に垂直な面内
のある方向の位相推移、ψ2（ω）はψ1に直交する方向
の位相推移である。具体的には、φ（ω）＝（ψ
1（ω）−ψ2（ω））／２、ψ（ω）＝（ψ1（ω）＋
ψ2（ω））／２である。また、Θ（ω）は、光ファイ
バ１８から出射される光の偏光角である。
（ω）の位相推移の差成分であり、ψ（ω）は直交する
２つの成分ψ1（ω）、ψ2（ω）の位相推移の同相成分
である。なお、ψ1（ω）は光の進行方向に垂直な面内
のある方向の位相推移、ψ2（ω）はψ1に直交する方向
の位相推移である。具体的には、φ（ω）＝（ψ
1（ω）−ψ2（ω））／２、ψ（ω）＝（ψ1（ω）＋
ψ2（ω））／２である。また、Θ（ω）は、光ファイ
バ１８から出射される光の偏光角である。
【００４９】ここで、入射光を偏波分離器２０における
ｐ偏光軸にあわせてある。よって、偏波分離器２０の出
力は、以下の式（１２）のようになる。
ｐ偏光軸にあわせてある。よって、偏波分離器２０の出
力は、以下の式（１２）のようになる。
【００５０】
【数９】
計測部２４には、光電（O/E）変換器２２ｐを介して、
Ｔ11e-jθ11の光が入射される。しかも、計測部２４に
は、光電（O/E）変換器２２ｓを介して、Ｔ21e-j θ21の
光が入射される。よって、計測部２４は、Ｔ11e-jθ11
およびＴ21e-jθ21の位相推移θ11、θ21に相当する
値、例えば位相推移θ11、θ21を光角周波数ωで微分し
た値であるところの群遅延時間τ11（＝dθ11／dω）、
τ21（＝dθ21／dω）、ならびに振幅|Ｔ11|、|Ｔ21|に
相当する値、例えば振幅を二乗した値|Ｔ11|2、|Ｔ
21|2、を計測できる。すなわち、計測部２４は、光ファ
イバ１８の伝達関数行列の第一列の位相推移相当値およ
び振幅相当値を計測できる。
Ｔ11e-jθ11の光が入射される。しかも、計測部２４に
は、光電（O/E）変換器２２ｓを介して、Ｔ21e-j θ21の
光が入射される。よって、計測部２４は、Ｔ11e-jθ11
およびＴ21e-jθ21の位相推移θ11、θ21に相当する
値、例えば位相推移θ11、θ21を光角周波数ωで微分し
た値であるところの群遅延時間τ11（＝dθ11／dω）、
τ21（＝dθ21／dω）、ならびに振幅|Ｔ11|、|Ｔ21|に
相当する値、例えば振幅を二乗した値|Ｔ11|2、|Ｔ
21|2、を計測できる。すなわち、計測部２４は、光ファ
イバ１８の伝達関数行列の第一列の位相推移相当値およ
び振幅相当値を計測できる。
【００５１】次に、偏波状態設定部１６は、入射光を偏
波分離器２０におけるｓ偏光軸にあわせる（Ｓ１６
ａ）。すなわち、入射光をｓ偏光軸に一致する直線偏波
とする。そして、入射光は光ファイバ１８に入射され
る。
波分離器２０におけるｓ偏光軸にあわせる（Ｓ１６
ａ）。すなわち、入射光をｓ偏光軸に一致する直線偏波
とする。そして、入射光は光ファイバ１８に入射され
る。
【００５２】光ファイバ１８を透過した合成入射光は、
偏波分離器２０によりｐ偏光およびｓ偏光に分離され
る。偏波分離器２０が出力したｐ偏光成分は光電（O/
E）変換器２２ｐにより光電変換されて計測部２４に出
力される。偏波分離器２０が出力したｓ偏光成分は光電
（O/E）変換器２２ｓにより光電変換されて計測部２４
に出力される。そして、計測部２４により位相推移相当
値および振幅相当値が計測される（Ｓ１６ｂ）。
偏波分離器２０によりｐ偏光およびｓ偏光に分離され
る。偏波分離器２０が出力したｐ偏光成分は光電（O/
E）変換器２２ｐにより光電変換されて計測部２４に出
力される。偏波分離器２０が出力したｓ偏光成分は光電
（O/E）変換器２２ｓにより光電変換されて計測部２４
に出力される。そして、計測部２４により位相推移相当
値および振幅相当値が計測される（Ｓ１６ｂ）。
【００５３】ここで、位相推移相当値の求め方および振
幅相当値の求め方（Ｓ１６ｂ）を説明する。入射光を偏
波分離器２０におけるｓ偏光軸にあわせてある。よっ
て、偏波分離器２０の出力は、以下の式（１３）のよう
になる。
幅相当値の求め方（Ｓ１６ｂ）を説明する。入射光を偏
波分離器２０におけるｓ偏光軸にあわせてある。よっ
て、偏波分離器２０の出力は、以下の式（１３）のよう
になる。
【００５４】
【数１０】
計測部２４には、光電（O/E）変換器２２ｐを介して、
Ｔ12e-jθ12の光が入射される。しかも、計測部２４に
は、光電（O/E）変換器２２ｓを介して、Ｔ22e-j θ22の
光が入射される。よって、計測部２４は、Ｔ12e-jθ12
およびＴ22e-jθ22の位相推移θ12、θ22に相当する
値、例えば位相推移θ12、θ22を光角周波数ωで微分し
た値であるところの群遅延時間τ12（＝dθ12／dω）、
τ22（＝dθ22／dω）、ならびに振幅|Ｔ12|、|Ｔ22|に
相当する値、例えば振幅を二乗した値|Ｔ12|2、|Ｔ
22|2、を計測できる。すなわち、計測部２４は、光ファ
イバ１８の伝達関数行列の第二列の位相推移相当値およ
び振幅相当値を計測できる。
Ｔ12e-jθ12の光が入射される。しかも、計測部２４に
は、光電（O/E）変換器２２ｓを介して、Ｔ22e-j θ22の
光が入射される。よって、計測部２４は、Ｔ12e-jθ12
およびＴ22e-jθ22の位相推移θ12、θ22に相当する
値、例えば位相推移θ12、θ22を光角周波数ωで微分し
た値であるところの群遅延時間τ12（＝dθ12／dω）、
τ22（＝dθ22／dω）、ならびに振幅|Ｔ12|、|Ｔ22|に
相当する値、例えば振幅を二乗した値|Ｔ12|2、|Ｔ
22|2、を計測できる。すなわち、計測部２４は、光ファ
イバ１８の伝達関数行列の第二列の位相推移相当値およ
び振幅相当値を計測できる。
【００５５】そして、光角周波数が上限に達したか否か
を判定し（Ｓ１７）、上限に達していなければ（Ｓ１
７、Ｎｏ）、光角周波数をΔω増やし（Ｓ１８）、入射
光を偏波分離器２０におけるｐ偏光軸にあわせる工程
（Ｓ１４ａ）に戻る。光角周波数が上限に達したならば
（Ｓ１７、Ｙｅｓ）、入射光を偏波分離器２０における
ｐ偏光軸およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわせたときの位
相推移相当値および振幅相当値の計測（Ｓ１０：図２参
照）が終了する。
を判定し（Ｓ１７）、上限に達していなければ（Ｓ１
７、Ｎｏ）、光角周波数をΔω増やし（Ｓ１８）、入射
光を偏波分離器２０におけるｐ偏光軸にあわせる工程
（Ｓ１４ａ）に戻る。光角周波数が上限に達したならば
（Ｓ１７、Ｙｅｓ）、入射光を偏波分離器２０における
ｐ偏光軸およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわせたときの位
相推移相当値および振幅相当値の計測（Ｓ１０：図２参
照）が終了する。
【００５６】ここで、図２に戻り、入射光を偏波分離器
２０におけるｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸すなわち直交
偏光軸１６ｂにあわせたときの位相推移相当値および振
幅相当値を計測する（Ｓ２０）。この計測の手順につい
ては図４のフローチャートを参照して説明する。
２０におけるｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸すなわち直交
偏光軸１６ｂにあわせたときの位相推移相当値および振
幅相当値を計測する（Ｓ２０）。この計測の手順につい
ては図４のフローチャートを参照して説明する。
【００５７】まず、波長可変光源１０の出力する光の光
角周波数をωとする（Ｓ２２）。図１を参照して、波長
可変光源１０は、光角周波数ωの入射光を出射する。入
射光は、光変調器１２により強度変調され、偏波コント
ローラ１４へ出射される。ここで、偏波状態設定部１６
は、入射光を偏波分離器２０におけるｐ’偏光軸にあわ
せる（Ｓ２４ａ）。すなわち、入射光をｐ’偏光軸に一
致する直線偏波とする。そして、入射光は光ファイバ１
８に入射される。
角周波数をωとする（Ｓ２２）。図１を参照して、波長
可変光源１０は、光角周波数ωの入射光を出射する。入
射光は、光変調器１２により強度変調され、偏波コント
ローラ１４へ出射される。ここで、偏波状態設定部１６
は、入射光を偏波分離器２０におけるｐ’偏光軸にあわ
せる（Ｓ２４ａ）。すなわち、入射光をｐ’偏光軸に一
致する直線偏波とする。そして、入射光は光ファイバ１
８に入射される。
【００５８】光ファイバ１８を透過した合成入射光は、
偏波分離器２０によりｐ偏光およびｓ偏光に分離され
る。偏波分離器２０が出力したｐ偏光成分は光電（O/
E）変換器２２ｐにより光電変換されて計測部２４に出
力される。偏波分離器２０が出力したｓ偏光成分は光電
（O/E）変換器２２ｓにより光電変換されて計測部２４
に出力される。そして、計測部２４により位相推移相当
値および振幅相当値が計測される（Ｓ２４ｂ）。
偏波分離器２０によりｐ偏光およびｓ偏光に分離され
る。偏波分離器２０が出力したｐ偏光成分は光電（O/
E）変換器２２ｐにより光電変換されて計測部２４に出
力される。偏波分離器２０が出力したｓ偏光成分は光電
（O/E）変換器２２ｓにより光電変換されて計測部２４
に出力される。そして、計測部２４により位相推移相当
値および振幅相当値が計測される（Ｓ２４ｂ）。
【００５９】ここで、位相推移相当値の求め方および振
幅相当値の求め方（Ｓ２４ｂ）を説明する。
幅相当値の求め方（Ｓ２４ｂ）を説明する。
【００６０】入射光を偏波分離器２０におけるｐ’偏光
軸にあわせてある。よって、偏波分離器２０の出力は、
以下の式（１４）のようになる。ただし、式（１４）に
おいては、Ｔ11e‐jθ11等を単にＴ11（ω）と記載して
いる。
軸にあわせてある。よって、偏波分離器２０の出力は、
以下の式（１４）のようになる。ただし、式（１４）に
おいては、Ｔ11e‐jθ11等を単にＴ11（ω）と記載して
いる。
【００６１】
【数１１】
計測部２４には、光電（O/E）変換器２２ｐを介して、
Ｔ’11の光が入射される。しかも、計測部２４には、光
電（O/E）変換器２２ｓを介して、Ｔ’21の光が入射さ
れる。よって、計測部２４は、Ｔ’11およびＴ’21の位
相推移θθ11、θθ21に相当する値、例えば位相推移θ
θ11、θθ21を光角周波数ωで微分した値であるところ
の群遅延時間τθ11（＝dθθ11／ｄω）、τθ21（＝d
θθ21／ｄω）、ならびに振幅|Ｔθ11|、|Ｔθ21|に相
当する値、例えば振幅を二乗した値|Ｔθ11|2、|Ｔθ21
|2、を計測できる。
Ｔ’11の光が入射される。しかも、計測部２４には、光
電（O/E）変換器２２ｓを介して、Ｔ’21の光が入射さ
れる。よって、計測部２４は、Ｔ’11およびＴ’21の位
相推移θθ11、θθ21に相当する値、例えば位相推移θ
θ11、θθ21を光角周波数ωで微分した値であるところ
の群遅延時間τθ11（＝dθθ11／ｄω）、τθ21（＝d
θθ21／ｄω）、ならびに振幅|Ｔθ11|、|Ｔθ21|に相
当する値、例えば振幅を二乗した値|Ｔθ11|2、|Ｔθ21
|2、を計測できる。
【００６２】次に、偏波状態設定部１６は、入射光を偏
波分離器２０におけるｓ’偏光軸にあわせる（Ｓ２６
ａ）。すなわち、入射光をｓ’偏光軸に一致する直線偏
波とする。そして、入射光は光ファイバ１８に入射され
る。
波分離器２０におけるｓ’偏光軸にあわせる（Ｓ２６
ａ）。すなわち、入射光をｓ’偏光軸に一致する直線偏
波とする。そして、入射光は光ファイバ１８に入射され
る。
【００６３】光ファイバ１８を透過した合成入射光は、
偏波分離器２０によりｐ偏光およびｓ偏光に分離され
る。偏波分離器２０が出力したｐ偏光成分は光電（O/
E）変換器２２ｐにより光電変換されて計測部２４に出
力される。偏波分離器２０が出力したｓ偏光成分は光電
（O/E）変換器２２ｓにより光電変換されて計測部２４
に出力される。そして、計測部２４により位相推移相当
値および振幅相当値が計測される（Ｓ２６ｂ）。
偏波分離器２０によりｐ偏光およびｓ偏光に分離され
る。偏波分離器２０が出力したｐ偏光成分は光電（O/
E）変換器２２ｐにより光電変換されて計測部２４に出
力される。偏波分離器２０が出力したｓ偏光成分は光電
（O/E）変換器２２ｓにより光電変換されて計測部２４
に出力される。そして、計測部２４により位相推移相当
値および振幅相当値が計測される（Ｓ２６ｂ）。
【００６４】ここで、位相推移相当値の求め方および振
幅相当値の求め方（Ｓ２６ｂ）を説明する。入射光を偏
波分離器２０におけるｓ’偏光軸にあわせてある。よっ
て、偏波分離器２０の出力は、以下の式（１５）のよう
になる。ただし、式（１５）においては、Ｔ11e‐jθ11
等を単にＴ11（ω）と記載している。
幅相当値の求め方（Ｓ２６ｂ）を説明する。入射光を偏
波分離器２０におけるｓ’偏光軸にあわせてある。よっ
て、偏波分離器２０の出力は、以下の式（１５）のよう
になる。ただし、式（１５）においては、Ｔ11e‐jθ11
等を単にＴ11（ω）と記載している。
【００６５】
【数１２】
計測部２４には、光電（O/E）変換器２２ｐを介して、
Ｔ’12の光が入射される。しかも、計測部２４には、光
電（O/E）変換器２２ｓを介して、Ｔ’22の光が入射さ
れる。よって、計測部２４は、Ｔ’12およびＴ’22の位
相推移θθ12、θθ22に相当する値、例えば位相推移θ
θ12、θθ22を光角周波数ωで微分した値であるところ
の群遅延時間τθ12（＝dθθ12／ｄω）、τθ22（＝d
θθ22／ｄω）、ならびに振幅|Ｔθ12|、|Ｔθ22|に相
当する値、例えば振幅を二乗した値|Ｔθ12|2、|Ｔθ22
|2、を計測できる。
Ｔ’12の光が入射される。しかも、計測部２４には、光
電（O/E）変換器２２ｓを介して、Ｔ’22の光が入射さ
れる。よって、計測部２４は、Ｔ’12およびＴ’22の位
相推移θθ12、θθ22に相当する値、例えば位相推移θ
θ12、θθ22を光角周波数ωで微分した値であるところ
の群遅延時間τθ12（＝dθθ12／ｄω）、τθ22（＝d
θθ22／ｄω）、ならびに振幅|Ｔθ12|、|Ｔθ22|に相
当する値、例えば振幅を二乗した値|Ｔθ12|2、|Ｔθ22
|2、を計測できる。
【００６６】そして、光角周波数が上限に達したか否か
を判定し（Ｓ２７）、上限に達していなければ（Ｓ２
７、Ｎｏ）、光角周波数をΔω増やし（Ｓ２８）、入射
光を偏波分離器２０におけるｐ’偏光軸にあわせる工程
（Ｓ２４ａ）に戻る。光角周波数が上限に達したならば
（Ｓ２７、Ｙｅｓ）、入射光を偏波分離器２０における
ｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸（直交偏光軸１６ｂ）にあ
わせたときの位相推移相当値および振幅相当値の計測
（Ｓ２０：図２参照）が終了する。
を判定し（Ｓ２７）、上限に達していなければ（Ｓ２
７、Ｎｏ）、光角周波数をΔω増やし（Ｓ２８）、入射
光を偏波分離器２０におけるｐ’偏光軸にあわせる工程
（Ｓ２４ａ）に戻る。光角周波数が上限に達したならば
（Ｓ２７、Ｙｅｓ）、入射光を偏波分離器２０における
ｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸（直交偏光軸１６ｂ）にあ
わせたときの位相推移相当値および振幅相当値の計測
（Ｓ２０：図２参照）が終了する。
【００６７】ここで、図２に戻り、入射光を偏波分離器
２０におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわ
せたときの位相推移相当値および振幅相当値のＳ／Ｎ比
（Signal to Noise Ratio）と、入射光を偏波分離器２
０におけるｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸（直交偏光軸１
６ｂ）にあわせたときの位相推移相当値および振幅相当
値のＳ／Ｎ比（Signal to Noise Ratio）とを比較する
（Ｓ３０）。
２０におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわ
せたときの位相推移相当値および振幅相当値のＳ／Ｎ比
（Signal to Noise Ratio）と、入射光を偏波分離器２
０におけるｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸（直交偏光軸１
６ｂ）にあわせたときの位相推移相当値および振幅相当
値のＳ／Ｎ比（Signal to Noise Ratio）とを比較する
（Ｓ３０）。
【００６８】例えば、入射光を偏波分離器２０における
ｐ偏光軸およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわせたとき、偏
波分離器２０においてｐ偏光成分のみが出力され、ｓ偏
光成分が全く出力されなかったとする。すると、ｓ偏光
成分における出力のＳ／Ｎ比が悪化する。しかし、入射
光を偏波分離器２０におけるｐ’偏光軸およびｓ’偏光
軸（直交偏光軸１６ｂ）にあわせれば（ただしθ＝４５
°）、偏波分離器２０においてｐ偏光成分およびｓ偏光
成分のパワーは同程度になる。そこで、ｐ偏光成分およ
びｓ偏光成分における出力のＳ／Ｎ比が悪化が防止でき
る。よって、入射光を偏波分離器２０におけるｐ’偏光
軸およびｓ’偏光軸（直交偏光軸１６ｂ）にあわせたと
きの位相推移相当値および振幅相当値のＳ／Ｎ比の方が
良い。
ｐ偏光軸およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわせたとき、偏
波分離器２０においてｐ偏光成分のみが出力され、ｓ偏
光成分が全く出力されなかったとする。すると、ｓ偏光
成分における出力のＳ／Ｎ比が悪化する。しかし、入射
光を偏波分離器２０におけるｐ’偏光軸およびｓ’偏光
軸（直交偏光軸１６ｂ）にあわせれば（ただしθ＝４５
°）、偏波分離器２０においてｐ偏光成分およびｓ偏光
成分のパワーは同程度になる。そこで、ｐ偏光成分およ
びｓ偏光成分における出力のＳ／Ｎ比が悪化が防止でき
る。よって、入射光を偏波分離器２０におけるｐ’偏光
軸およびｓ’偏光軸（直交偏光軸１６ｂ）にあわせたと
きの位相推移相当値および振幅相当値のＳ／Ｎ比の方が
良い。
【００６９】ここで、Ｓ／Ｎ比が良い方、すなわちノイ
ズの少ない方の位相推移相当値および振幅相当値を計測
部２４が偏波モード分散測定部２６に出力して、偏波モ
ード分散τPMDの測定を行なう（Ｓ４０）。
ズの少ない方の位相推移相当値および振幅相当値を計測
部２４が偏波モード分散測定部２６に出力して、偏波モ
ード分散τPMDの測定を行なう（Ｓ４０）。
【００７０】入射光を偏波分離器２０におけるｐ偏光軸
およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわせたときの位相推移相
当値および振幅相当値を利用する場合、偏波モード分散
τPM Dは以下のようにして求められる。
およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわせたときの位相推移相
当値および振幅相当値を利用する場合、偏波モード分散
τPM Dは以下のようにして求められる。
【００７１】
【数１３】
また、入射光を偏波分離器２０におけるｐ’偏光軸およ
びｓ’偏光軸（直交偏光軸１６ｂ）にあわせたときの位
相推移相当値および振幅相当値を利用する場合も、偏波
モード分散τPMDは式（１６）ないし（１９）のように
して求められる。すなわち、式（１８）ないし（１９）
において、τ11、τ22、τ12、τ21に、τθ11、
τθ22、τθ12、τθ21を代入してβ、γを求める。そ
して、式（１７）において、|Ｔ11|2、|Ｔ21|2に|Ｔ
θ11|2、|Ｔθ21|2を代入してαを求める。このように
して求めたα、β、γを式（１６）に代入すれば偏波モ
ード分散τPM Dを求められる。すなわち、τ11、τ22、
τ12、τ21、|Ｔ11|2、|Ｔ21|2のかわりにτθ11、τ
θ22、τθ12、τθ21、|Ｔθ11|2、|Ｔθ21|2を用いれ
ば偏波モード分散τPMDを求められる。なお、このよう
にして偏波モード分散τPMDを求められることの証明
は、後で詳述する。
びｓ’偏光軸（直交偏光軸１６ｂ）にあわせたときの位
相推移相当値および振幅相当値を利用する場合も、偏波
モード分散τPMDは式（１６）ないし（１９）のように
して求められる。すなわち、式（１８）ないし（１９）
において、τ11、τ22、τ12、τ21に、τθ11、
τθ22、τθ12、τθ21を代入してβ、γを求める。そ
して、式（１７）において、|Ｔ11|2、|Ｔ21|2に|Ｔ
θ11|2、|Ｔθ21|2を代入してαを求める。このように
して求めたα、β、γを式（１６）に代入すれば偏波モ
ード分散τPM Dを求められる。すなわち、τ11、τ22、
τ12、τ21、|Ｔ11|2、|Ｔ21|2のかわりにτθ11、τ
θ22、τθ12、τθ21、|Ｔθ11|2、|Ｔθ21|2を用いれ
ば偏波モード分散τPMDを求められる。なお、このよう
にして偏波モード分散τPMDを求められることの証明
は、後で詳述する。
【００７２】なお、本実施形態では、入射光を偏波分離
器２０におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸（１６ａ）にあ
わせたときと、ｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸（直交偏光
軸１６ｂ）にあわせたときの計測値の内、Ｓ／Ｎ比が良
い方を選択する。しかし、ｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸
を複数用意し（例えば、θ＝45°および60°として双方
の条件で計測）、その内からＳ／Ｎ比が良い方を選択す
るようにしてもよい。
器２０におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸（１６ａ）にあ
わせたときと、ｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸（直交偏光
軸１６ｂ）にあわせたときの計測値の内、Ｓ／Ｎ比が良
い方を選択する。しかし、ｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸
を複数用意し（例えば、θ＝45°および60°として双方
の条件で計測）、その内からＳ／Ｎ比が良い方を選択す
るようにしてもよい。
【００７３】また、入射光を偏波分離器２０におけるｐ
偏光軸およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわせたときの位相
推移相当値および振幅相当値の計測（Ｓ１０）よりも前
に、入射光を偏波分離器２０におけるｐ’偏光軸および
ｓ’偏光軸にあわせたときの位相推移相当値および振幅
相当値を計測（Ｓ２０）を行うことも可能である。
偏光軸およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわせたときの位相
推移相当値および振幅相当値の計測（Ｓ１０）よりも前
に、入射光を偏波分離器２０におけるｐ’偏光軸および
ｓ’偏光軸にあわせたときの位相推移相当値および振幅
相当値を計測（Ｓ２０）を行うことも可能である。
【００７４】本発明の実施形態によれば、入射光を偏波
分離器２０におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸をある角度
θ回転したｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸である直交偏光
軸１６ｂにあわせて光ファイバ１８に入射する。これに
より、偏波分離器２０の出力のｐ偏光成分およびｓ偏光
成分におけるパワーの偏りを防止できる。
分離器２０におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸をある角度
θ回転したｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸である直交偏光
軸１６ｂにあわせて光ファイバ１８に入射する。これに
より、偏波分離器２０の出力のｐ偏光成分およびｓ偏光
成分におけるパワーの偏りを防止できる。
【００７５】しかも、入射光を直交偏光軸１６ｂにあわ
せて光ファイバ１８に入射した結果に基づき偏波モード
分散τPMDを測定する方法は、入射光を偏波分離器２０
におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸にあわせて光ファイバ
１８に入射した結果に基づき偏波モード分散τPMDを測
定する方法と同様であり、偏波モード分散τPMDを測定
することが可能である。
せて光ファイバ１８に入射した結果に基づき偏波モード
分散τPMDを測定する方法は、入射光を偏波分離器２０
におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸にあわせて光ファイバ
１８に入射した結果に基づき偏波モード分散τPMDを測
定する方法と同様であり、偏波モード分散τPMDを測定
することが可能である。
【００７６】第二の実施形態
第二の実施形態は、所定角度θ（偏光軸の回転角度）を
計測部２４の計測結果である入射光の振幅相当値に基づ
き設定する点が、第一の実施形態と異なる。
計測部２４の計測結果である入射光の振幅相当値に基づ
き設定する点が、第一の実施形態と異なる。
【００７７】図５は、本発明の第二の実施形態にかかる
偏波モード分散測定装置の構成を示すブロック図であ
る。本発明の第二の実施形態にかかる偏波モード分散測
定装置は、被測定物（DUT：Device Under Test）である
光ファイバ１８の偏波モード分散τPMDを求めるための
ものである。本発明の第二の実施形態にかかる偏波モー
ド分散測定装置は、波長可変光源（光生成手段）１０、
光変調器１２、偏波コントローラ（光入射手段）１４、
偏波状態設定部１６、偏波分離器２０、光電（O/E）変
換器２２ｐ、ｓ、計測部２４、偏波モード分散測定部２
６を備える。以下、第一の実施形態と同様な部分は同一
の番号を付して説明を省略する。
偏波モード分散測定装置の構成を示すブロック図であ
る。本発明の第二の実施形態にかかる偏波モード分散測
定装置は、被測定物（DUT：Device Under Test）である
光ファイバ１８の偏波モード分散τPMDを求めるための
ものである。本発明の第二の実施形態にかかる偏波モー
ド分散測定装置は、波長可変光源（光生成手段）１０、
光変調器１２、偏波コントローラ（光入射手段）１４、
偏波状態設定部１６、偏波分離器２０、光電（O/E）変
換器２２ｐ、ｓ、計測部２４、偏波モード分散測定部２
６を備える。以下、第一の実施形態と同様な部分は同一
の番号を付して説明を省略する。
【００７８】波長可変光源（光生成手段）１０、光変調
器１２および偏波コントローラ（光入射手段）１４は第
一の実施形態と同様であり、説明を省略する。
器１２および偏波コントローラ（光入射手段）１４は第
一の実施形態と同様であり、説明を省略する。
【００７９】偏波状態設定部１６は、第一の実施形態と
同様である。ただし、所定角度θは、計測部２４の計測
結果である入射光の振幅相当値に基づき設定される。計
測部２４は、入射光の振幅相当値である、振幅を二乗し
た値|Ｔθ11|2、|Ｔθ21|2、および|Ｔθ12|2、|Ｔθ22
|2を計測する。ここで、偏波状態設定部１６は、振幅相
当値のｐ成分とｓ成分との比|Ｔθ11|2／|Ｔθ21|2ある
いは|Ｔθ12|2／|Ｔθ 22|2を求める。この比が大き過ぎ
れば、ｐ成分が大き過ぎるということである。この比が
小さ過ぎれば、ｓ成分が大き過ぎるということである。
そこで、偏波状態設定部１６は、|Ｔθ11|2／|Ｔθ21|2
あるいは|Ｔθ12|2／|Ｔθ22|2を上限しきい値および下
限しきい値と比較する。|Ｔθ11|2／|Ｔθ21|2あるいは
|Ｔθ12| 2／|Ｔθ22|2が上限しきい値以上である（ある
いは、超える）ならば大き過ぎ、下限しきい値以下であ
る（あるいは、未満である）ならば小さ過ぎる。ここ
で、ｐ成分あるいはｓ成分が大き過ぎるのならば、所定
角度θを増やす（あるいは減らす）。このようにして所
定角度θを変化させていけば、そのうちｐ成分もｓ成分
も大き過ぎない状態になる。
同様である。ただし、所定角度θは、計測部２４の計測
結果である入射光の振幅相当値に基づき設定される。計
測部２４は、入射光の振幅相当値である、振幅を二乗し
た値|Ｔθ11|2、|Ｔθ21|2、および|Ｔθ12|2、|Ｔθ22
|2を計測する。ここで、偏波状態設定部１６は、振幅相
当値のｐ成分とｓ成分との比|Ｔθ11|2／|Ｔθ21|2ある
いは|Ｔθ12|2／|Ｔθ 22|2を求める。この比が大き過ぎ
れば、ｐ成分が大き過ぎるということである。この比が
小さ過ぎれば、ｓ成分が大き過ぎるということである。
そこで、偏波状態設定部１６は、|Ｔθ11|2／|Ｔθ21|2
あるいは|Ｔθ12|2／|Ｔθ22|2を上限しきい値および下
限しきい値と比較する。|Ｔθ11|2／|Ｔθ21|2あるいは
|Ｔθ12| 2／|Ｔθ22|2が上限しきい値以上である（ある
いは、超える）ならば大き過ぎ、下限しきい値以下であ
る（あるいは、未満である）ならば小さ過ぎる。ここ
で、ｐ成分あるいはｓ成分が大き過ぎるのならば、所定
角度θを増やす（あるいは減らす）。このようにして所
定角度θを変化させていけば、そのうちｐ成分もｓ成分
も大き過ぎない状態になる。
【００８０】偏波分離器２０、光電（O/E）変換器２２
ｐ、ｓ、計測部２４および偏波モード分散測定部２６は
第一の実施形態と同様であり、説明を省略する。ただ
し、計測部２４は、入射光の振幅相当値|Ｔθ11|2、|Ｔ
θ21|2あるいは|Ｔθ12|2、|Ｔ θ22|2を偏波状態設定部
１６に送る。
ｐ、ｓ、計測部２４および偏波モード分散測定部２６は
第一の実施形態と同様であり、説明を省略する。ただ
し、計測部２４は、入射光の振幅相当値|Ｔθ11|2、|Ｔ
θ21|2あるいは|Ｔθ12|2、|Ｔ θ22|2を偏波状態設定部
１６に送る。
【００８１】次に、本発明の第二の実施形態にかかる偏
波モード分散測定装置の動作を図６のフローチャートを
参照しながら説明する。
波モード分散測定装置の動作を図６のフローチャートを
参照しながら説明する。
【００８２】まず、入射光を偏波分離器２０における
ｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸すなわち直交偏光軸１６ｂ
にあわせたときの位相推移相当値および振幅相当値を計
測する（Ｓ２０）。これは、第一の実施形態と同様であ
り、説明を省略する。
ｐ’偏光軸およびｓ’偏光軸すなわち直交偏光軸１６ｂ
にあわせたときの位相推移相当値および振幅相当値を計
測する（Ｓ２０）。これは、第一の実施形態と同様であ
り、説明を省略する。
【００８３】振幅相当値|Ｔθ11|2、|Ｔθ21|2あるいは
|Ｔθ12|2、|Ｔθ22|2は偏波状態設定部１６に送られ
る。偏波状態設定部１６は、|Ｔθ11|2／|Ｔθ21|2ある
いは|Ｔθ12|2／|Ｔθ22|2を上限しきい値および下限し
きい値で規定される範囲内にあるか否かを判定する（Ｓ
３２）。|Ｔθ11|2／|Ｔθ21|2あるいは|Ｔθ12|2／|Ｔ
θ22|2が範囲外ならば（Ｓ３２、Ｎｏ）、上限しきい値
を超えている（以上である）か、下限しきい値未満であ
る（以下である）。そこで、ｐ成分（ｓ成分）へのパワ
ーの偏りを避けるために、偏波状態設定部１６は、所定
角度θを増やす（Ｓ３４）。なお、所定角度θを減らし
てもよい。そして、入射光を直交偏光軸１６ｂにあわせ
たときの位相推移相当値および振幅相当値の計測（Ｓ２
０）に戻る。
|Ｔθ12|2、|Ｔθ22|2は偏波状態設定部１６に送られ
る。偏波状態設定部１６は、|Ｔθ11|2／|Ｔθ21|2ある
いは|Ｔθ12|2／|Ｔθ22|2を上限しきい値および下限し
きい値で規定される範囲内にあるか否かを判定する（Ｓ
３２）。|Ｔθ11|2／|Ｔθ21|2あるいは|Ｔθ12|2／|Ｔ
θ22|2が範囲外ならば（Ｓ３２、Ｎｏ）、上限しきい値
を超えている（以上である）か、下限しきい値未満であ
る（以下である）。そこで、ｐ成分（ｓ成分）へのパワ
ーの偏りを避けるために、偏波状態設定部１６は、所定
角度θを増やす（Ｓ３４）。なお、所定角度θを減らし
てもよい。そして、入射光を直交偏光軸１６ｂにあわせ
たときの位相推移相当値および振幅相当値の計測（Ｓ２
０）に戻る。
【００８４】上記のように、所定角度θを変化させてい
けば、やがて|Ｔθ11|2／|Ｔθ21|2あるいは|Ｔθ12|2
／|Ｔθ22|2が上限しきい値および下限しきい値で規定
される範囲内にあるようになる（Ｓ３２、Ｙｅｓ）。こ
の場合は、ｐ成分（ｓ成分）へのパワーの偏りが少ない
ため、偏波モード分散τPMDの測定を行なう（Ｓ４
０）。偏波モード分散τPMDの測定は第一の実施形態と
同様であるため、説明を省略する。
けば、やがて|Ｔθ11|2／|Ｔθ21|2あるいは|Ｔθ12|2
／|Ｔθ22|2が上限しきい値および下限しきい値で規定
される範囲内にあるようになる（Ｓ３２、Ｙｅｓ）。こ
の場合は、ｐ成分（ｓ成分）へのパワーの偏りが少ない
ため、偏波モード分散τPMDの測定を行なう（Ｓ４
０）。偏波モード分散τPMDの測定は第一の実施形態と
同様であるため、説明を省略する。
【００８５】第二の実施形態によれば、所定角度θをい
わゆるフィードバックにより適切な値、すなわちｐ成分
またはｓ成分にパワーが過度に偏らない値に設定できる
ため、偏波分離器２０の出力のｐ偏光成分およびｓ偏光
成分におけるパワーの偏りを防止できる。
わゆるフィードバックにより適切な値、すなわちｐ成分
またはｓ成分にパワーが過度に偏らない値に設定できる
ため、偏波分離器２０の出力のｐ偏光成分およびｓ偏光
成分におけるパワーの偏りを防止できる。
【００８６】なお、第二の実施形態と第一の実施形態と
を組み合わせることも可能である。例えば、図２のＳ３
０と同様に、入射光を偏波分離器２０におけるｐ偏光軸
およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわせたときの計測値と、
所定角度θをいわゆるフィードバックにより適切な値に
設定したときの計測値との内で、Ｓ／Ｎ比の良い方を選
択するようにしてもよい。
を組み合わせることも可能である。例えば、図２のＳ３
０と同様に、入射光を偏波分離器２０におけるｐ偏光軸
およびｓ偏光軸（１６ａ）にあわせたときの計測値と、
所定角度θをいわゆるフィードバックにより適切な値に
設定したときの計測値との内で、Ｓ／Ｎ比の良い方を選
択するようにしてもよい。
【００８７】また、上記の実施形態は、以下のようにし
て実現できる。ＣＰＵ、ハードディスク、メディア（フ
ロッピー（登録商標）ディスク、ＣＤ−ＲＯＭなど）読
み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装
置に、上記の各部分、例えば計測部２４、偏波モード分
散測定部２６を実現するプログラムを記録したメディア
を読み取らせて、ハードディスクにインストールする。
このような方法でも、上記の機能を実現できる。
て実現できる。ＣＰＵ、ハードディスク、メディア（フ
ロッピー（登録商標）ディスク、ＣＤ−ＲＯＭなど）読
み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装
置に、上記の各部分、例えば計測部２４、偏波モード分
散測定部２６を実現するプログラムを記録したメディア
を読み取らせて、ハードディスクにインストールする。
このような方法でも、上記の機能を実現できる。
【００８８】[τのかわりにτθ、|Ｔ|2のかわりに|Ｔ
θ|2を用いて偏波モード分散τPMDを求められることの
証明]τ11、τ22、τ12、τ21、|Ｔ11|2、|Ｔ21|2のか
わりにτθ11、τθ22、τθ 12、τθ21、|Ｔθ11|2、|
Ｔθ21|2を用いても偏波モード分散τPMDを求められ
る。このことは以下のようにして証明される。
θ|2を用いて偏波モード分散τPMDを求められることの
証明]τ11、τ22、τ12、τ21、|Ｔ11|2、|Ｔ21|2のか
わりにτθ11、τθ22、τθ 12、τθ21、|Ｔθ11|2、|
Ｔθ21|2を用いても偏波モード分散τPMDを求められ
る。このことは以下のようにして証明される。
【００８９】式（１１）を式（１４）および式（１５）
に代入すると、式（２０）ないし（２３）のような結果
が得られる。
に代入すると、式（２０）ないし（２３）のような結果
が得られる。
【００９０】
【数１４】
式（２０）ないし（２３）は行列のパラメータであり、
これらの振幅相当値（振幅の２乗）は式（２４）ないし
（２７）の通りである。また、位相は式（２８）ないし
（３１）の通りである。
これらの振幅相当値（振幅の２乗）は式（２４）ないし
（２７）の通りである。また、位相は式（２８）ないし
（３１）の通りである。
【００９１】
【数１５】
式（２４）ないし（２７）から次の式（３２）ないし
（３５）が成り立つ。
（３５）が成り立つ。
【００９２】
【数１６】
式（３２）ないし（３５）から式（３６）のように、振
幅の二乗をおくことができる。
幅の二乗をおくことができる。
【００９３】
【数１７】
ここで、式（３７）のような公式を用いて、群遅延時間
τθ11、τθ12、τθ 21、τθ22を式（３８）ないし
（４１）のように表す。
τθ11、τθ12、τθ 21、τθ22を式（３８）ないし
（４１）のように表す。
【００９４】
【数１８】
ここで、Ａは式（４２）に示すようなものである。
【００９５】
【数１９】
計測部２４で計測されるパワーは、式（２４）ないし
（２７）に透過パワー特性Ｕ2をかけたたものとなる。
同様に、群遅延時間は式（２８）ないし（３１）に群遅
延時間Φ1を加えたものとなる。
（２７）に透過パワー特性Ｕ2をかけたたものとなる。
同様に、群遅延時間は式（２８）ないし（３１）に群遅
延時間Φ1を加えたものとなる。
【００９６】これらのＴθ11、Ｔθ12、Ｔθ21、
Ｔθ22、τθ11、τθ12、τθ21、τθ22を用いて偏波
モード分散の計算式（式（１６））に代入してみる。す
ると、偏波モード分散は以下のようになる。
Ｔθ22、τθ11、τθ12、τθ21、τθ22を用いて偏波
モード分散の計算式（式（１６））に代入してみる。す
ると、偏波モード分散は以下のようになる。
【００９７】
【数２０】
ここで、偏波モード分散を式（４７）のように変形して
計算する。
計算する。
【００９８】
【数２１】
まず、式（４７）の、αθ 2＋γθ 2sin2２Θθを求め
る。
る。
【００９９】
【数２２】
式（４８）のような公式を用いると、αθは式（４９）
のようになる。
のようになる。
【０１００】
【数２３】
また、γθsin２Θθは、式（５０）のようになる。
【０１０１】
【数２４】
よって、αθ 2＋γθ 2sin2２Θθは、式（５１）のよう
になる。
になる。
【０１０２】
【数２５】
式（５１）の右辺の分子第一項は、式（５２）のように
なる。
なる。
【０１０３】
【数２６】
式（５１）の右辺の分子第二項は、式（５３）のように
なる。
なる。
【０１０４】
【数２７】
式（５１）の右辺の分母は、式（５４）のようになる。
【０１０５】
【数２８】
よって、αθ 2＋γθ 2sin2２Θθは、式（５５）のよう
になる。
になる。
【０１０６】
【数２９】
次に、式（４７）の、βθ＋γθcos２Θθを求める
と、式（５６）のようになる。
と、式（５６）のようになる。
【０１０７】
【数３０】
よって、式（５７）が成り立つ。
【０１０８】
【数３１】
τPMDθ＝τPMDとなり、入力の直線偏波状態が任意の角
度であっても、導出される偏波モード分散は等しい。よ
って、τ11、τ22、τ12、τ21、|Ｔ11|2、|Ｔ 21|2のか
わりにτθ11、τθ22、τθ12、τθ21、|Ｔθ11|2、|
Ｔθ21|2を用いても偏波モード分散τPMDを求められ
る。[証明終わり]
度であっても、導出される偏波モード分散は等しい。よ
って、τ11、τ22、τ12、τ21、|Ｔ11|2、|Ｔ 21|2のか
わりにτθ11、τθ22、τθ12、τθ21、|Ｔθ11|2、|
Ｔθ21|2を用いても偏波モード分散τPMDを求められ
る。[証明終わり]
【発明の効果】本発明によれば、入射光を偏波分離手段
におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸をある角度回転した直
交偏光軸にあわせて被測定物に入射する。これにより、
偏波分離手段の出力のｐ偏光成分およびｓ偏光成分にお
けるパワーの偏りを防止できる。
におけるｐ偏光軸およびｓ偏光軸をある角度回転した直
交偏光軸にあわせて被測定物に入射する。これにより、
偏波分離手段の出力のｐ偏光成分およびｓ偏光成分にお
けるパワーの偏りを防止できる。
【０１０９】しかも、入射光を直交偏光軸にあわせて被
測定物に入射した結果に基づき偏波モード分散を測定す
る方法は、入射光を偏波分離手段におけるｐ偏光軸およ
びｓ偏光軸にあわせて被測定物に入射した結果に基づき
偏波モード分散を測定する方法と同様であり、偏波モー
ド分散を測定することが可能である。
測定物に入射した結果に基づき偏波モード分散を測定す
る方法は、入射光を偏波分離手段におけるｐ偏光軸およ
びｓ偏光軸にあわせて被測定物に入射した結果に基づき
偏波モード分散を測定する方法と同様であり、偏波モー
ド分散を測定することが可能である。
【図１】本発明の第一の実施形態にかかる偏波モード分
散測定装置の構成を示すブロック図である。
散測定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第一の実施形態にかかる偏波モード分
散測定装置の動作を示すフローチャートである。
散測定装置の動作を示すフローチャートである。
【図３】入射光を偏波分離器２０におけるｐ偏光軸およ
びｓ偏光軸（１６ａ）にあわせたときの位相推移相当値
および振幅相当値の計測の手順を示すフローチャートで
ある。
びｓ偏光軸（１６ａ）にあわせたときの位相推移相当値
および振幅相当値の計測の手順を示すフローチャートで
ある。
【図４】入射光を偏波分離器２０におけるｐ’偏光軸お
よびｓ’偏光軸すなわち直交偏光軸１６ｂにあわせたと
きの位相推移相当値および振幅相当値の計測の手順を示
すフローチャートである。
よびｓ’偏光軸すなわち直交偏光軸１６ｂにあわせたと
きの位相推移相当値および振幅相当値の計測の手順を示
すフローチャートである。
【図５】本発明の第二の実施形態にかかる偏波モード分
散測定装置の構成を示すブロック図である。
散測定装置の構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の第二の実施形態にかかる偏波モード分
散測定装置の動作を示すフローチャートである。
散測定装置の動作を示すフローチャートである。
【図７】従来技術の特開平９−２６４８１４号公報に記
載の光ファイバの偏波モード分散測定装置の構成を示す
ブロック図である。
載の光ファイバの偏波モード分散測定装置の構成を示す
ブロック図である。
１０ 波長可変光源（光生成手段）
１２ 光変調器
１４ 偏波コントローラ（光入射手段）
１６ 偏波状態設定部
１６ａ ｐ偏光軸およびｓ偏光軸
１６ｂ 直交偏光軸
１８ 光ファイバ（DUT：Device Under Test）
２０ 偏波分離器
２２ｐ、ｓ 光電（O/E）変換器
２４ 計測部
２６ 偏波モード分散測定部
Claims (10)
- 【請求項１】被測定物の偏波モード分散を測定する偏波
モード分散測定装置であって、 前記被測定物から出射された光を受けて、ｐ偏光および
ｓ偏光に分離して出力する偏波分離手段と、 入射光を生成する光生成手段と、 前記入射光を強度変調して出射する光変調手段と、 当該強度変調された入射光を、前記偏波分離手段におけ
る前記ｐ偏光軸および前記ｓ偏光軸を所定角度回転させ
た直交偏光軸にあわせて前記被測定物に入射する光入射
手段と、 前記偏波分離手段の出力に基づき前記入射光の位相推移
相当値および振幅相当値を計測する計測手段と、 前記計測手段の計測結果に基づき被測定物の偏波モード
分散を測定する偏波モード分散測定手段と、 を備えた偏波モード分散測定装置。 - 【請求項２】請求項１に記載の偏波モード分散測定装置
であって、 前記光入射手段は、前記入射光を前記直交偏光軸にあわ
せ、さらに前記ｐ偏光軸および前記ｓ偏光軸にあわせて
前記被測定物に入射する偏波モード分散測定装置。 - 【請求項３】請求項１に記載の偏波モード分散測定装置
であって、 前記所定角度は、前記計測手段の計測結果に基づき定め
られる、 偏波モード分散測定装置。 - 【請求項４】請求項１ないし３のいずれか一項に記載の
偏波モード分散測定装置であって、 前記位相推移相当値は位相推移を光角周波数で微分した
ものである偏波モード分散測定装置。 - 【請求項５】請求項１ないし３のいずれか一項に記載の
偏波モード分散測定装置であって、 前記振幅相当値は振幅を二乗したものである偏波モード
分散測定装置。 - 【請求項６】被測定物の偏波モード分散を測定する偏波
モード分散測定方法であって、 前記被測定物から出射された光を受けて、ｐ偏光および
ｓ偏光に分離して出力する偏波分離工程と、 入射光を生成する光生成工程と、 前記入射光を強度変調して出射する光変調工程と、 当該強度変調された入射光を、前記偏波分離工程におけ
る前記ｐ偏光軸および前記ｓ偏光軸を所定角度回転させ
た直交偏光軸にあわせて前記被測定物に入射する光入射
工程と、 前記偏波分離工程の出力に基づき前記入射光の位相推移
相当値および振幅相当値を計測する計測工程と、 前記計測工程の計測結果に基づき被測定物の偏波モード
分散を測定する偏波モード分散測定工程と、 を備えた偏波モード分散測定方法。 - 【請求項７】請求項６に記載の偏波モード分散測定方法
であって、 前記直交偏光軸は複数あり、 前記偏波モード分散測定工程において、各直交偏光軸に
対応した計測結果のＳ／Ｎ比を比べて、偏波モード分散
の測定に利用する前記計測結果を選択する偏波モード分
散測定方法。 - 【請求項８】請求項６に記載の偏波モード分散測定方法
であって、 前記光入射工程は、前記入射光を前記直交偏光軸にあわ
せて前記被測定物に入射する工程と、前記ｐ偏光軸およ
び前記ｓ偏光軸にあわせて前記被測定物に入射する工程
とを有し、 前記偏波モード分散測定工程において、前記直交偏光軸
にあわせたときの計測結果のＳ／Ｎ比と、前記ｐ偏光軸
および前記ｓ偏光軸にあわせたときのＳ／Ｎ比とを比べ
て、偏波モード分散の測定に利用する前記計測結果を選
択する偏波モード分散測定方法。 - 【請求項９】被測定物から出射された光を受けてｐ偏光
およびｓ偏光に分離して出力する偏波分離手段と、入射
光を生成する光生成手段と、前記入射光を強度変調して
出射する光変調手段と、当該強度変調された入射光を前
記偏波分離手段における前記ｐ偏光軸および前記ｓ偏光
軸を所定角度回転させた直交偏光軸にあわせて前記被測
定物に入射する光入射手段とを有する偏波モード分散測
定装置における偏波モード分散測定処理をコンピュータ
に実行させるためのプログラムであって、 前記偏波分離手段の出力に基づき前記入射光の位相推移
相当値および振幅相当値を計測する計測処理と、 前記計測処理の計測結果に基づき被測定物の偏波モード
分散を測定する偏波モード分散測定処理と、 をコンピュータに実行させるためのプログラム。 - 【請求項１０】被測定物から出射された光を受けてｐ偏
光およびｓ偏光に分離して出力する偏波分離手段と、入
射光を生成する光生成手段と、前記入射光を強度変調し
て出射する光変調手段と、当該強度変調された入射光を
前記偏波分離手段における前記ｐ偏光軸および前記ｓ偏
光軸を所定角度回転させた直交偏光軸にあわせて前記被
測定物に入射する光入射手段とを有する偏波モード分散
測定装置における偏波モード分散測定処理をコンピュー
タに実行させるためのプログラムを記録したコンピュー
タによって読み取り可能な記録媒体であって、 前記偏波分離手段の出力に基づき前記入射光の位相推移
相当値および振幅相当値を計測する計測処理と、 前記計測処理の計測結果に基づき被測定物の偏波モード
分散を測定する偏波モード分散測定処理と、 をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録し
たコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
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| JP2008139111A (ja) * | 2006-11-30 | 2008-06-19 | Anritsu Corp | 偏波モード分散測定装置 |
| JP2014027467A (ja) * | 2012-07-26 | 2014-02-06 | Fujitsu Ltd | 光伝送システムおよび光伝送路の偏波依存特性をモニタする方法 |
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2002
- 2002-10-30 JP JP2002316593A patent/JP4101019B2/ja not_active Expired - Fee Related
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