JP2007335707A - Carrier tool - Google Patents

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JP2007335707A
JP2007335707A JP2006167064A JP2006167064A JP2007335707A JP 2007335707 A JP2007335707 A JP 2007335707A JP 2006167064 A JP2006167064 A JP 2006167064A JP 2006167064 A JP2006167064 A JP 2006167064A JP 2007335707 A JP2007335707 A JP 2007335707A
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dicing tape
semiconductor wafer
cutting
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Kiyobumi Tanaka
清文 田中
Satoshi Odajima
智 小田嶋
Noriyoshi Hosono
則義 細野
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Shin Etsu Polymer Co Ltd
Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a carrier tool that suppresses contamination in a semiconductor wafer caused by the occurrence of cut refuse from a formed frame when removing an excess section of a dicing tape by using an edge tool, and reduces a possibility that the cut refuse adheres to a mark cut by the edge tool. <P>SOLUTION: The carrier tool has a hollow frame 1 for storing the semiconductor wafer thinned by backgrinding, and a dicing tape 10 that is bonded onto a backside 4 of the frame 1 and adheres and holds the semiconductor wafer. A soft cut refuse occurrence prevention layer 20 bonded to the dicing tap 10 is laminated onto the backside 4 of the frame 1 for suppressing and preventing the occurrence of the cut refuse following the removal of an excess section 11 of the dicing tape 10 by the cut refuse occurrence prevention layer 20. A cutter edge 31 comes into contact with, not the frame 1, but the cut refuse occurrence prevention layer 20 for protecting the backside 4, and no foreign matters occur, thus preventing the backside 4 of the frame 1 from being cut with the cutter edge 31. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、半導体ウェーハのダイシング工程で使用されるキャリア治具に関するものである。   The present invention relates to a carrier jig used in a dicing process of a semiconductor wafer.

半導体ウェーハのダイシング工程では半導体ウェーハを保護・固定するキャリア治具が使用されるが、このキャリア治具は、図示しないが、バックグラインドにより薄片化された半導体ウェーハを収容するフレームと、このフレームの裏面に接着され、バックグラインドされた半導体ウェーハを粘着保持するダイシングテープとを備えて構成され、半導体ウェーハが高速で回転するブレードにより個々のチップに分離される(特許文献1、2参照)。   In the semiconductor wafer dicing process, a carrier jig for protecting and fixing the semiconductor wafer is used. Although not shown, this carrier jig includes a frame for housing the semiconductor wafer thinned by back grinding, The semiconductor wafer is separated into individual chips by a blade that rotates at high speed (see Patent Documents 1 and 2).

フレームは、例えばSUS等の材料を使用して中空のリングに形成され、300g程度の重量を有している。また、ダイシングテープは、例えば紫外線の照射により硬化したり、接着力が低下するUVテープ等からなり、使用後にフレームの裏面から剥離される。   The frame is formed into a hollow ring using a material such as SUS, and has a weight of about 300 g. The dicing tape is made of, for example, a UV tape that is cured by irradiation with ultraviolet rays or has a reduced adhesive force, and is peeled off from the back surface of the frame after use.

このようなキャリア治具を製造する場合には、ダイシングテープ貼付装置にフレームをセットしてその裏面にダイシングテープを接着し、フレームの裏面外周部から食み出たダイシングテープの余剰部をダイシングテープ貼付装置のカッタ刃により切断して除去すれば、キャリア治具を製造することができる。
特開2005‐251986号公報 特開2005‐203540号公報
When manufacturing such a carrier jig, a frame is set on a dicing tape attaching device, the dicing tape is bonded to the back surface thereof, and the excess portion of the dicing tape protruding from the outer peripheral portion of the back surface of the frame is dicing tape. If it cuts and removes with the cutter blade of a sticking apparatus, a carrier jig can be manufactured.
JP 2005-251986 A Japanese Patent Laid-Open No. 2005-203540

従来におけるキャリア治具は、以上のように構成され、フレームが通信特性に悪影響を及ぼす重いSUS等を使用して製造されているので、半導体ウェーハ収納時のカセットが全体として重く(例えば、約18kg)なり、しかも、近年注目されているRFIDシステムを活用して履歴管理することができないという問題がある。   The conventional carrier jig is configured as described above, and the frame is manufactured using heavy SUS or the like that adversely affects the communication characteristics. Therefore, the cassette for housing the semiconductor wafer is heavy as a whole (for example, about 18 kg). In addition, there is a problem that history management cannot be performed using an RFID system that has been attracting attention in recent years.

係る問題を解消するには、樹脂を含む成形材料によりフレームを成形すれば良いが、単なる成形では、フレームの裏面外周部から食み出たダイシングテープの余剰部をカッタ刃により切断する際、フレームをもカッタ刃により切削してしまい、切削屑が発生して半導体ウェーハの汚染を招くという大きな問題が新たに生じることとなる。また、使用済みのダイシングテープを剥離する際、カッタ刃による切削跡に切削屑の付着するおそれが少なくない。   To solve this problem, the frame may be molded from a molding material containing resin, but in simple molding, when cutting the excess part of the dicing tape that protrudes from the outer periphery of the back surface of the frame with a cutter blade, the frame In this case, a large problem arises in that cutting is generated by the cutter blade, and chips are generated to cause contamination of the semiconductor wafer. Further, when the used dicing tape is peeled off, there is a high possibility that the cutting waste adheres to the cutting trace by the cutter blade.

さらに、フレームは、場合によりリユースされるが、リユースの際、カッタ刃による切削跡に次に貼ったダイシングテープの粘着剤が食い込み、使用後のダイシングテープを剥離したときに切削跡に粘着剤残りの発生することがある。この粘着剤の残存は、ダイシングテープの密着不良の原因になったり、あるいはフレームを重ねたときにその表面に転移し、半導体ウェーハ上に異物となって付着する等の原因となる。このため、一度使用したフレームは、リユースの度にブラシ等で洗浄し、粘着剤残りを除去しなければならないという問題がある。   In addition, the frame is reused in some cases, but when reused, the adhesive of the dicing tape applied to the cutting trace by the cutter blade bites into the cutting trace, and the adhesive remains on the cutting trace when the used dicing tape is peeled off. May occur. This residual adhesive may cause poor adhesion of the dicing tape, or may be transferred to the surface of the frame when it is overlapped and adhered as a foreign matter on the semiconductor wafer. For this reason, there is a problem that the frame once used must be cleaned with a brush or the like every time it is reused to remove the adhesive residue.

本発明は上記に鑑みなされたもので、ダイシングテープの余剰部を刃物により除去する際、成形されたフレームから切削屑が発生して半導体ウェーハを汚染させるのを抑制することができ、しかも、刃物による切削跡に切削屑の付着するおそれの少ないキャリア治具を提供することを目的としている。   The present invention has been made in view of the above, and when removing the excess portion of the dicing tape with a blade, it can suppress the generation of cutting waste from the molded frame and contaminate the semiconductor wafer, and the blade. An object of the present invention is to provide a carrier jig that is less likely to cause cutting scraps to adhere to the cutting trace by the above.

本発明においては上記課題を解決するため、半導体ウェーハを収容する中空のフレームと、このフレームの裏面に貼り付けられ、半導体ウェーハを粘着保持するダイシングテープとを備え、このダイシングテープの余剰部を刃物により除去するものであって、
フレームを、樹脂を含む成形材料により成形し、このフレームの裏面に、軟質の切削屑発生防止層を設け、この切削屑発生防止層により、ダイシングテープの余剰部除去に伴う切削屑の発生を抑制するようにしたことを特徴としている。
なお、フレームの裏面の外周部を切り欠いて刃物回避用の段差部を形成し、このフレームの裏面の内周部と段差部のうち、少なくとも内周部に切削屑発生防止層を設けることができる。
In order to solve the above-described problems, the present invention includes a hollow frame that accommodates a semiconductor wafer, and a dicing tape that is attached to the back surface of the frame and holds the semiconductor wafer in an adhesive manner. Is to be removed by
The frame is molded from a resin-containing molding material, and a soft cutting dust generation prevention layer is provided on the back of the frame. This cutting dust generation prevention layer suppresses the generation of cutting scraps due to the removal of excess parts of the dicing tape. It is characterized by doing so.
Note that a stepped portion for avoiding the cutter is formed by cutting out the outer peripheral portion of the back surface of the frame, and a cutting waste generation preventing layer is provided on at least the inner peripheral portion of the inner peripheral portion and the stepped portion of the rear surface of the frame. it can.

また、薄片化された半導体ウェーハを収容する中空のフレームと、このフレームの中空部に収容された半導体ウェーハを粘着保持するダイシングテープとを備え、フレームの裏面にダイシングテープを貼り付けてその余剰部を刃物により除去するものであって、
フレームを、樹脂を含む成形材料により成形し、このフレームの裏面に、ダイシングテープと貼り付く軟質の切削屑発生防止層を設け、この切削屑発生防止層により、ダイシングテープの余剰部除去に伴う切削屑の発生を抑制するようにしたことを特徴としても良い。
Also, a hollow frame for accommodating the thinned semiconductor wafer and a dicing tape for adhering and holding the semiconductor wafer accommodated in the hollow portion of the frame, and a surplus portion by attaching the dicing tape to the back surface of the frame Is removed with a blade,
The frame is molded from a molding material containing resin, and a soft cutting dust generation prevention layer that sticks to the dicing tape is provided on the back surface of the frame, and this cutting dust generation prevention layer allows cutting accompanying removal of excess portions of the dicing tape. It may be characterized by suppressing generation of waste.

また、樹脂を含む成形材料により成形された中空のフレームの裏面に、バックグラインドされた半導体ウェーハを粘着保持するダイシングテープを貼り付け、このダイシングテープの余剰部を刃物により除去するキャリア治具の製造方法であって、
フレームの裏面に、ダイシングテープと貼り付く軟質の切削屑発生防止層を設け、この切削屑発生防止層により、ダイシングテープの余剰部除去に伴う切削屑の発生を抑制することを特徴としても良い。
Also, manufacturing a carrier jig that attaches a dicing tape that adheres and holds a back-ground semiconductor wafer to the back surface of a hollow frame molded from a resin-containing molding material, and removes excess portions of the dicing tape with a blade. A method,
A soft cutting dust generation preventing layer that sticks to the dicing tape may be provided on the back surface of the frame, and the generation of cutting scraps associated with the removal of excess portions of the dicing tape may be suppressed by the cutting dust generation preventing layer.

また、フレームに、RFIDシステムのRFタグを貼り付けることができる。
また、フレームと切削屑発生防止層とをインサート成形により一体化することができる。
また、切削屑発生防止層を軟質塩化ビニル樹脂、ポリオレフィン系エラストマー、及び又はウレタン系エラストマーを用いて形成することができる。
さらに、切削屑発生防止層のショアーA硬度を70Hs以下とすることが好ましい。
さらにまた、切削屑発生防止層をエンドレスに形成することも可能である。
An RF tag of the RFID system can be attached to the frame.
Moreover, a flame | frame and the cutting waste generation prevention layer can be integrated by insert molding.
Moreover, the cutting waste generation preventing layer can be formed using a soft vinyl chloride resin, a polyolefin-based elastomer, and / or a urethane-based elastomer.
Furthermore, it is preferable that the Shore A hardness of the cutting waste generation preventing layer is 70 Hs or less.
Furthermore, it is possible to endlessly form the cutting waste generation preventing layer.

ここで、特許請求の範囲におけるフレームは、中空であれば、リング形でも良いし、枠形等でも良い。また、半導体ウェーハは、200mm、300mm、450mmタイプ等を特に問うものではない。ダイシングテープは、PVC系型や紫外線硬化型等の種類を特に問うものではない。さらに、成形材料には、樹脂の他、帯電防止剤等の各種のフィラーを必要に応じて添加することができる。   Here, the frame in the claims may be a ring shape or a frame shape as long as it is hollow. Further, the semiconductor wafer is not particularly limited to 200 mm, 300 mm, 450 mm type and the like. A dicing tape does not ask | require in particular types, such as a PVC type | mold type and an ultraviolet curing type. In addition to the resin, various fillers such as an antistatic agent can be added to the molding material as necessary.

本発明によれば、通信特性に悪影響を及ぼさない樹脂を含む成形材料によりフレームを成形するので、半導体ウェーハ収納時のカセットの軽量化を図ることができ、しかも、RFIDシステムを有効に活用して履歴管理等することができる。また、ダイシングテープの余剰部を刃物により切断する際、刃物がフレームではなく、フレームの裏面を保護する軟質の切削屑発生防止層に接触するので、切削屑等からなる異物の発生を防ぐことができる。   According to the present invention, since the frame is formed of a molding material containing a resin that does not adversely affect the communication characteristics, it is possible to reduce the weight of the cassette when storing the semiconductor wafer, and to effectively utilize the RFID system. History management can be performed. In addition, when cutting the excess part of the dicing tape with a blade, the blade contacts the soft cutting dust generation prevention layer that protects the back surface of the frame, not the frame, thus preventing the generation of foreign substances such as cutting dust. it can.

本発明によれば、ダイシングテープの余剰部を刃物により除去する際、成形されたフレームから切削屑が発生して半導体ウェーハを汚染させるのを抑制することができるという効果がある。また、刃物による切削跡に切削屑の付着するおそれを低減することができる。また、ダイシングテープの粘着剤残りを防ぐことができるので、使用の度にフレームを洗浄等する必要がない。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, when removing the excess part of a dicing tape with a cutter, there exists an effect that it can suppress that a cutting waste generate | occur | produces from the shape | molded flame | frame and contaminates a semiconductor wafer. In addition, it is possible to reduce the risk of cutting chips adhering to the cutting trace by the blade. Further, since the adhesive remaining on the dicing tape can be prevented, it is not necessary to clean the frame each time it is used.

以下、図面を参照して本発明の好ましい実施の形態を説明すると、本実施形態におけるキャリア治具は、図1ないし図3に示すように、薄片化された半導体ウェーハWを収容するフレーム1と、このフレーム1に収容された半導体ウェーハWを保持するダイシングテープ10とを備え、フレーム1の裏面4に、軟質材料からなる切削屑発生防止層20を積層するようにしている。   Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. As shown in FIGS. 1 to 3, a carrier jig in the present embodiment includes a frame 1 for housing a thinned semiconductor wafer W, and A dicing tape 10 for holding the semiconductor wafer W accommodated in the frame 1 is provided, and a cutting dust generation preventing layer 20 made of a soft material is laminated on the back surface 4 of the frame 1.

半導体ウェーハWは、例えば口径300mm(12インチ)に丸くスライスされ、表面に回路パターンが描画形成されており、半導体パッケージの薄型化に鑑み、前工程のバックグラインドにより750μm程度の厚さから100μm以下の厚さに薄片化される。   The semiconductor wafer W is, for example, sliced into a round shape with a diameter of 300 mm (12 inches), and a circuit pattern is drawn and formed on the surface. Is sliced to a thickness of

フレーム1は、図1ないし図3に示すように、所定の樹脂を含む成形材料により半導体ウェーハWよりも大きい中空の平面略リング形に射出成形され、平坦な表面に矩形の収納穴2が凹み形成されており、この収納穴2内に、表面に面一に揃えられるRFIDシステムのRFタグ3が貼着される。   As shown in FIGS. 1 to 3, the frame 1 is injection-molded into a hollow flat substantially ring shape larger than the semiconductor wafer W by a molding material containing a predetermined resin, and a rectangular storage hole 2 is recessed on a flat surface. The RFID tag RF tag 3 of the RFID system that is formed flush with the surface of the housing hole 2 is attached.

所定の樹脂は、特に限定されるものではないが、例えば機械的強度に優れるPPS、PA、PEI、PAI、PEEK、PES、LCP、PBT等があげられる。この樹脂には、強度や剛性を確保するガラス繊維、炭素繊維、炭酸カルシウム等のフィラーが必要に応じて配合される。   The predetermined resin is not particularly limited, and examples thereof include PPS, PA, PEI, PAI, PEEK, PES, LCP, and PBT which are excellent in mechanical strength. The resin is blended with fillers such as glass fiber, carbon fiber, calcium carbonate and the like to ensure strength and rigidity as necessary.

RFIDシステムは、電波により内部メモリがアクセスされ、フレーム1と共に移動するRFタグ3と、このRFタグ3との間で電波や電力を送受信するアンテナユニットと、RFタグ3との交信を制御するリーダ/ライタと、このリーダ/ライタを制御するコンピュータとを備えて構成される。アンテナユニットとリーダ/ライタとは、別々に構成されるが、必要に応じて一体化される。また、リーダ/ライタの制御に支障を来たさなければ、コンピュータの代わりに各種のコントローラが使用される。   The RFID system is a reader that controls communication between the RF tag 3, an RF tag 3 that moves with the frame 1 when an internal memory is accessed by radio waves, an antenna unit that transmits and receives radio waves and power between the RF tag 3, and the RF tag 3. / Writer and a computer that controls the reader / writer. The antenna unit and the reader / writer are configured separately, but are integrated as necessary. If the reader / writer control is not hindered, various controllers are used instead of the computer.

ダイシングテープ10は、図1や図3に示すように、例えば紫外線の照射により硬化したり、接着力が低下する可撓性のUVテープ等からなり、半導体ウェーハWよりも大きい平面円形の薄膜に形成されてフレーム1の平坦な裏面4に切削屑発生防止層20を介し接着されており、フレーム1の中空部に収容された半導体ウェーハWを粘着保持するとともに、使用後にフレーム1の切削屑発生防止層20から剥離される。   As shown in FIGS. 1 and 3, the dicing tape 10 is made of, for example, a flexible UV tape that is cured by irradiation of ultraviolet rays or has a reduced adhesive force. The dicing tape 10 is a flat circular thin film larger than the semiconductor wafer W. It is formed and bonded to the flat back surface 4 of the frame 1 through a cutting waste generation preventing layer 20 to stick and hold the semiconductor wafer W accommodated in the hollow portion of the frame 1 and to generate cutting waste of the frame 1 after use. It peels from the prevention layer 20.

切削屑発生防止層20は、図2や図3に示すように、例えばショアーA硬度が70Hs以下の軟質塩化ビニル樹脂、ポリオレフィン系エラストマー、あるいはウレタン系エラストマーを用いて平坦な平面略リング形に形成され、フレーム1の裏面4、換言すれば、裏面4のカッタ刃接触領域に接着剤を介して接着されており、ダイシングテープ10の対向面周縁部に接着する。   As shown in FIG. 2 and FIG. 3, the cutting waste generation preventing layer 20 is formed into a flat planar substantially ring shape using, for example, a soft vinyl chloride resin having a Shore A hardness of 70 Hs or less, a polyolefin elastomer, or a urethane elastomer. Then, it is bonded to the back surface 4 of the frame 1, in other words, to the cutter blade contact region of the back surface 4 via an adhesive, and is bonded to the peripheral portion of the facing surface of the dicing tape 10.

上記において、キャリア治具を製造する場合には、既存のダイシングテープ貼付装置30に成形されたフレーム1をセットしてその裏面4と切削屑発生防止層20とを上方に向け、この露出したフレーム1の裏面4に大き目のダイシングテープ10を平坦な切削屑発生防止層20を介して接着し、その後、フレーム1の裏面外周部から食み出るダイシングテープ10の余剰部11をダイシングテープ貼付装置30のカッタ刃31により切断して除去すれば、キャリア治具を製造することができる。カッタ刃31は、フレーム1の周面に沿って移動するようダイシングテープ貼付装置30に支持されている。   In the above, when manufacturing the carrier jig, the frame 1 formed in the existing dicing tape attaching device 30 is set, the back surface 4 and the cutting dust generation preventing layer 20 are directed upward, and the exposed frame A large dicing tape 10 is bonded to the back surface 4 of 1 through a flat cutting waste generation preventing layer 20, and then the surplus portion 11 of the dicing tape 10 protruding from the outer periphery of the back surface of the frame 1 is attached to the dicing tape attaching device 30. The carrier jig can be manufactured by cutting and removing with the cutter blade 31. The cutter blade 31 is supported by the dicing tape attaching device 30 so as to move along the peripheral surface of the frame 1.

上記構成によれば、フレーム1を、重いSUS等を使用して製造するのではなく、絶縁性の樹脂を含む成形材料により薄く軽く射出成形するので、半導体ウェーハ収納時のカセット全体の著しい軽量化(例えば、約13kg)を図ることができ、しかも、RFIDシステムを有効に活用して履歴管理することができる。   According to the above configuration, the frame 1 is not manufactured using heavy SUS or the like, but is thinly and lightly injection-molded with a molding material containing an insulating resin. (For example, about 13 kg) can be achieved, and the history can be managed by effectively utilizing the RFID system.

また、フレーム1から食み出るダイシングテープ10の不要な余剰部11をカッタ刃31により切断する際、カッタ刃31が樹脂製のフレーム1の裏面4ではなく、裏面4を覆う別体の切削屑発生防止層20に接触し、異物が発生しないので、フレーム1の裏面4をカッタ刃31により切削してしまうことがない。したがって、切削屑が発生して半導体ウェーハWの汚染を招いたり、使用済みのダイシングテープ10を剥離する際、カッタ刃31による切削跡に切削屑の付着するのをきわめて有効に抑制防止することができる。   Further, when the unnecessary surplus portion 11 of the dicing tape 10 that protrudes from the frame 1 is cut by the cutter blade 31, the cutter blade 31 is not the back surface 4 of the resin frame 1 but a separate cutting waste covering the back surface 4. Since no foreign matter is generated in contact with the generation preventing layer 20, the back surface 4 of the frame 1 is not cut by the cutter blade 31. Accordingly, it is possible to extremely effectively suppress and prevent the cutting dust from being attached to the cutting trace by the cutter blade 31 when the cutting waste is generated to cause contamination of the semiconductor wafer W or when the used dicing tape 10 is peeled off. it can.

また、薄いフレーム1の裏面4に切削屑発生防止層20を積層して接着する以外、構造的に何ら従来と異なるものではないから、既存のダイシングテープ貼付装置30や後工程装置を改良することなく、そのまま有効利用することが可能になる。また、フレーム1の表面にRFIDシステムのRFタグ3を面一の高さに揃えて貼着することができるので、フレーム1の平滑性を維持・向上させることができ、しかも、RFタグ3を貼着したまま繰り返して使用することが可能になる。   In addition, since the cutting dust generation prevention layer 20 is laminated and bonded to the back surface 4 of the thin frame 1, there is nothing structurally different from the conventional one, so that the existing dicing tape attaching device 30 and the post-processing device are improved. It is possible to use it as it is. Further, since the RF tag 3 of the RFID system can be attached to the surface of the frame 1 so as to be flush with each other, the smoothness of the frame 1 can be maintained and improved. It becomes possible to use it repeatedly while sticking.

さらに、フレーム1のリユースの際、カッタ刃31による切削跡に次に貼ったダイシングテープ10の粘着剤が食い込み、使用後のダイシングテープ10を剥離したときに切削跡に粘着剤残りの発生するのを有効に防止することができる。したがって、粘着剤の残存に伴い、ダイシングテープ10の密着不良が生じたり、半導体ウェーハW上に異物となって付着することがない。さらにまた、一度使用したフレーム1をリユースの度にブラシ等で洗浄し、粘着剤残りを除去する必要もない。   Further, when the frame 1 is reused, the adhesive of the dicing tape 10 applied next to the cutting trace by the cutter blade 31 bites in, and when the used dicing tape 10 is peeled off, the adhesive remains in the cutting trace. Can be effectively prevented. Therefore, the adhesion of the dicing tape 10 does not occur with the remaining adhesive, and it does not adhere to the semiconductor wafer W as foreign matter. Furthermore, it is not necessary to wash the used frame 1 with a brush or the like every time it is reused, and to remove the adhesive residue.

次に、図4は本発明の第2の実施形態を示すもので、この場合には、フレーム1の裏面外周部を切り欠いてカッタ刃回避用の段差部5を平坦に形成し、このフレーム1の裏面4における内周部と凹んだ段差部5のうち、内周部に切削屑発生防止層20を積層して接着するようにしている。その他の部分については、上記実施形態と同様であるので説明を省略する。   Next, FIG. 4 shows a second embodiment of the present invention. In this case, a stepped portion 5 for avoiding a cutter blade is formed flat by cutting out the outer peripheral portion of the back surface of the frame 1, and this frame. The cutting waste generation preventing layer 20 is laminated and bonded to the inner peripheral portion of the inner peripheral portion and the recessed step portion 5 on the back surface 4 of 1. The other parts are the same as those in the above embodiment, and the description thereof is omitted.

本実施形態においても上記実施形態と同様の作用効果が期待でき、しかも、ダイシングテープ10をカッタ刃31により切断する際、カッタ刃31が凹んだ段差部5に接触しないので、フレーム1の裏面をカッタ刃31により切削してしまうことがないのは明らかである。また、フレーム1の裏面内周部にのみ切削屑発生防止層20を接着すれば良いから、切削屑発生防止層20の材料節約を図ることができるのは明らかである。   In this embodiment, the same effect as that of the above embodiment can be expected. Moreover, when the dicing tape 10 is cut by the cutter blade 31, the cutter blade 31 does not come into contact with the stepped portion 5 that is recessed. It is clear that the cutter blade 31 does not cut. In addition, since it is only necessary to adhere the cutting dust generation preventing layer 20 only to the inner peripheral portion of the back surface of the frame 1, it is obvious that the material saving of the cutting dust generation preventing layer 20 can be achieved.

次に、図5は本発明の第3の実施形態を示すもので、この場合には、フレーム1の裏面外周部を切り欠いてカッタ刃回避用の段差部5を平坦に形成し、このフレーム1の裏面4における内周部と凹んだ段差部5に、屈曲した切削屑発生防止層20を積層して接着するようにしている。その他の部分については、上記実施形態と同様であるので説明を省略する。
本実施形態においても上記実施形態と同様の作用効果が期待でき、しかも、切削屑発生防止層20の形状の多様化を図ることができるのは明らかである。
Next, FIG. 5 shows a third embodiment of the present invention. In this case, a stepped portion 5 for avoiding a cutter blade is formed flat by cutting out the outer peripheral portion of the back surface of the frame 1, and this frame. The bent cutting waste generation preventing layer 20 is laminated and bonded to the inner peripheral portion and the recessed step portion 5 on the back surface 4 of the first substrate. The other parts are the same as those in the above embodiment, and the description thereof is omitted.
In the present embodiment, it is obvious that the same effects as those of the above-described embodiment can be expected, and that the shape of the cutting waste generation preventing layer 20 can be diversified.

なお、上記実施形態ではフレーム1の裏面4に切削屑発生防止層20を接着したが、何らこれに限定されるものではない。例えば、フレーム1と切削屑発生防止層20とをインサート成形により一体化し、製造の簡素化を図るようにしても良い。また、切削屑発生防止層20を、単一の軟質材料を使用して形成しても良いが、複数種の軟質材料を使用して多層構造に形成しても良い。さらに、ダイシングテープ貼付装置30は、自動でも半自動でも良い。   In the above embodiment, the cutting waste generation preventing layer 20 is bonded to the back surface 4 of the frame 1, but the present invention is not limited to this. For example, the frame 1 and the cutting waste generation preventing layer 20 may be integrated by insert molding to simplify the production. Moreover, although the cutting waste generation | occurrence | production prevention layer 20 may be formed using a single soft material, you may form in a multilayer structure using a multiple types of soft material. Further, the dicing tape attaching device 30 may be automatic or semi-automatic.

本発明に係るキャリア治具の実施形態を模式的に示す斜視説明図である。It is a perspective explanatory view showing typically an embodiment of a carrier jig concerning the present invention. 本発明に係るキャリア治具の実施形態を模式的に示す裏面説明図である。It is a back surface explanatory view showing typically an embodiment of a career jig concerning the present invention. 本発明に係るキャリア治具の実施形態を模式的に示す断面説明図である。It is a section explanatory view showing typically an embodiment of a carrier jig concerning the present invention. 本発明に係るキャリア治具の第2の実施形態を模式的に示す断面説明図である。It is a section explanatory view showing typically a 2nd embodiment of a career jig concerning the present invention. 本発明に係るキャリア治具の第3の実施形態を模式的に示す断面説明図である。It is a section explanatory view showing typically a 3rd embodiment of a carrier jig concerning the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 フレーム
2 収納穴
3 RFタグ
4 裏面
5 段差部
10 ダイシングテープ
11 余剰部
20 切削屑発生防止層
30 ダイシングテープ貼付装置
31 カッタ刃(刃物)
W 半導体ウェーハ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Frame 2 Storage hole 3 RF tag 4 Back surface 5 Step part 10 Dicing tape 11 Excess part 20 Cutting waste generation prevention layer 30 Dicing tape sticking apparatus 31 Cutter blade (cutlery)
W Semiconductor wafer

Claims (2)

半導体ウェーハを収容する中空のフレームと、このフレームの裏面に貼り付けられ、半導体ウェーハを粘着保持するダイシングテープとを備え、このダイシングテープの余剰部を刃物により除去するキャリア治具であって、
フレームを、樹脂を含む成形材料により成形し、このフレームの裏面に、軟質の切削屑発生防止層を設け、この切削屑発生防止層により、ダイシングテープの余剰部除去に伴う切削屑の発生を抑制するようにしたことを特徴とするキャリア治具。
A carrier jig for removing a surplus portion of the dicing tape with a blade, comprising a hollow frame for housing the semiconductor wafer and a dicing tape that is attached to the back surface of the frame and holds the semiconductor wafer in an adhesive manner.
The frame is molded from a resin-containing molding material, and a soft cutting dust generation prevention layer is provided on the back side of the frame. This cutting dust generation prevention layer suppresses the generation of cutting scraps due to the removal of excess parts of the dicing tape. A carrier jig characterized by that.
フレームの裏面の外周部を切り欠いて刃物回避用の段差部を形成し、フレームの裏面の内周部と段差部のうち、少なくとも内周部に切削屑発生防止層を設けた請求項1記載のキャリア治具。   2. A step for avoiding the cutter is formed by cutting out the outer peripheral portion of the back surface of the frame, and a cutting dust generation preventing layer is provided on at least the inner peripheral portion of the inner peripheral portion and the step portion of the rear surface of the frame. Carrier jig.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2010098062A (en) * 2008-10-15 2010-04-30 Disco Abrasive Syst Ltd Support table
JP2010192510A (en) * 2009-02-16 2010-09-02 Disco Abrasive Syst Ltd Method and device for transferring workpiece
CN103762194A (en) * 2014-01-26 2014-04-30 上海交通大学 Method for manufacturing flexible display device
JP2017220628A (en) * 2016-06-10 2017-12-14 株式会社秋本製作所 Dicing frame of semiconductor wafer and method of manufacturing dicing frame

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010098062A (en) * 2008-10-15 2010-04-30 Disco Abrasive Syst Ltd Support table
JP2010192510A (en) * 2009-02-16 2010-09-02 Disco Abrasive Syst Ltd Method and device for transferring workpiece
CN103762194A (en) * 2014-01-26 2014-04-30 上海交通大学 Method for manufacturing flexible display device
JP2017220628A (en) * 2016-06-10 2017-12-14 株式会社秋本製作所 Dicing frame of semiconductor wafer and method of manufacturing dicing frame

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