JP2007311394A - 半導体レーザ装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 製造工程で生じる半導体レーザ素子の光出力特性のバラツキを調節し、歩止まりを向上させることを可能にする可変濃度フィルタを有する半導体レーザ装置を提供する。
【解決手段】 本発明に係る半導体レーザ装置10は、出射光が透過するパッケージのキャップ130の窓132に回転型濃度フィルタ150を設けている。回転型濃度フィルタ150を回転させることで、所望の光透過率の濃度フィルタ150a〜150dを窓132上に位置させる。これにより、製造工程で生じるVCSELの光出力特性のバラツキを調整することができ、歩止まりを改善することができる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、光情報処理あるいは高速光通信の光源として利用される半導体レーザ装置に関し、特に、複数の半導体レーザ装置の光出力特性を均一化する技術に関する。
光通信や光記録等の技術分野において、面発光型半導体レーザ(Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser diode:以下VCSELと呼ぶ)への関心が高まっている。VCSELは、しきい値電流が低く消費電力が小さい、円形の光スポットが容易に得られる、ウエハ状態での評価や光源の二次元アレイ化が可能であるといった、端面発光型半導体レーザにはない優れた特長を有する。これらの特長を生かし、通信分野における光源としての需要がとりわけ期待されている。
VCSELを通信分野等の光源に用いる場合、通信エラー等を抑制せるためには一定以上の光出力が必要であり、その反面、アイセーフの観点から光出力を一定以下に抑える必要がある。VCSELの駆動方法には、定電流駆動(ACC)と定電力駆動(APC)の2種類がある。ACC駆動は、駆動電流が一定であるため、レーザ光の発振が安定化させるが、温度変化により光出力が変動するという欠点がある。APC駆動は、光出力が一定であるため、通常、VCSELの温度補償に用いられる。すなわち、APC駆動は、VCSELの温度が上昇すると、光出力が低下するため、駆動電流を増加させて光出力を上げ、温度が低下すると、光出力が上昇するため、駆動電流を低下させて光出力を下げるような駆動制御を行う。
このようなAPC駆動に関する技術は、例えば特許文献1に開示されている。この文献によれば、半導体レーザ装置は、半導体レーザ素子からの出射光のうち窓ガラスで反射された反射光を受光する受光素子を有し、受光素子の出力に基づき駆動電流の制御を行っている。
特開2004−72072
VCSELは、他の半導体レーザ装置と同様に、製造工程において、個々の光出力特性にバラツキが生じる。そのバラツキの幅が著しく大きい場合には不良品と判定される。すなわち、光出力が一定のレベルよりも高すぎれば、アイセーフの観点より問題となり、また、光出力が一定のレベルよりも低すぎれば、周波数応答が低下するという問題があるためである。仮に特許文献1に示されるように、バラツキのあるVCSELを、APC駆動する場合であっても、駆動回路の許容範囲を超えたものは是正できない。バラツキの幅が大きなVCSELを良品として使用することができれば、製造歩止まりは飛躍的に向上し、製造コストを大幅に削減することができる。
本発明は、このような課題を解決するものであり、半導体レーザ素子光出力特性のバラツキを調整し、歩止まりを向上させ、低コスト化を図ることができる半導体レーザ装置を提供することを目的とする。
本発明に係る半導体レーザ装置は、半導体レーザ素子と、前記半導体レーザ素子を搭載する搭載手段と、前記半導体レーザ素子を封止する封止手段とを含み、前記封止手段は、前記半導体レーザ素子から発せられるレーザ光を通過させる光出射領域を有し、光透過率が異なる複数の領域を含む可変濃度フィルタが前記光出射領域を覆うように備えている。
好ましくは、前記可変濃度フィルタは、回転軸を中心に回転させて前記光出射領域を通過するレーザ光に対する光透過率を可変可能な回転型濃度フィルタを含み、選択された光透過率の領域を光出射領域に位置合わせする。前記可変濃度フィルタは、直線的にスライドさせて前記光出射領域を通過するレーザ光に対する光透過率を可変可能なスライド式濃度フィルタを含み、選択された光透過率の領域を光出射領域に位置合わせする。また、前記可変濃度フィルタは、段階的に透過率が異なる領域を含み、連続的に濃度勾配のある領域を含む。
さらに好ましくは、半導体レーザ装置は、半導体レーザ素子が発したレーザ光のうち前記濃度フィルタから反射されたレーザ光を受光する受光素子と、受光素子からの出力に基づき半導体レーザ素子の駆動を制御する駆動制御回路とを含み、可変濃度フィルタを透過したレーザ光を入射するレンズを含む。前記半導体レーザ素子は、面発光型半導体レーザ素子からなる。
本発明によれば、半導体レーザ装置の光出射領域を覆うように可変濃度フィルタを設けたことにより、光出力特性のバラツキを調整するようにしたので、良品と判定されるレンジが広がり、半導体レーザ装置の歩止まりを向上させ、製造コストを削減することができる。
以下、本発明を実施するための最良の形態について図面を参照して説明する。
図1は本発明の実施例に係る半導体レーザ装置10の概略構成を示す上面図および側面断面図である。本実施例に係る半導体レーザ装置10は、金属製の円盤状のステム100と、ステム100に搭載されたVCSEL110および受光素子120と、ステム100を覆うキャップ130と、ステム100に取り付けられた複数の導電性金属からなるリード端子140、142、144と、光透過率が異なる複数の濃度フィルタを備えた回転型濃度フィルタ150を含んでいる。
ステム100の中央に、サブマウント102を介してVCSEL110が固定されている。VCSEL110は、図2に示すように、n型のGaAs基板210の裏面にn側電極220を含み、基板210上に、n型のGaAsバッファ層224、n型のAlGaAsの半導体多層膜からなる下部DBR(Distributed Bragg Reflector:分布ブラッグ型反射鏡)226、活性領域228、p型のAlAsの外縁を酸化させた層からなる電流狭窄層230、p型のAlGaAsの半導体多層膜からなる上部DBR232、p型のGaAsコンタクト層234を含む半導体層が積層されている。基板210には、コンタクト層234から下部DBR226の一部に到達する深さのリング状の溝236が形成され、この溝236によりレーザ光の発光部である円筒状のポストPとパッド形成領域238とが規定されている。ポストPの頂部には、コンタクト層234にオーミック接続されたp側電極242が設けられ、p側電極242の中央には、レーザ光の出射領域を規定する円形状の出射口244が形成されている。また、パッド形成領域238には、層間絶縁膜240を介して円形状の電極パッド246が形成され、電極パッド246はp側電極242に電気的に接続されている。このように形成されたVCSEL110は、ポストPの出射口244から約850nmの波長のレーザを出射する。
図1に戻り、ステム100には、図示しない複数の貫通孔が形成されており、それぞれの貫通孔内にリード端子140、142、144が挿入される。リード140、142、144は、ガラス樹脂等により貫通孔内においてステム100と電気的に絶縁されている。VCSEL110のn側電極220は、導電性接着剤等を介してサブマウント102上に固定され、サブマウント102は、リード142に電気的に接続されている。またp側電極242に接続される電極パッド246は、ボンディングワイヤ112によりリード端子140に電気的に接続されている。リード端子140および142間に駆動電圧を印加することで、VCSEL110が駆動され、ポストPの出射口244からレーザ光が出射され、出射されたレーザ光はキャップ130の中央から回転型濃度フィルタ150を介して外部に出力される。
VCSEL110から一定距離だけ離された位置に受光素子120が取り付けられている。受光素子120は、VCSEL110から出射されたレーザ光のうち回転型濃度フィルタ150で反射されたレーザ光の光の一部を受光する。受光素子120は、例えば、フォトダイオードまたはフォトトランジスタから構成される。受光素子120のカソード電極は、リード端子142に電気的に接続され、アノード電極はリード端子144に電気的に接続される。受光素子120の出力信号はリード端子142と144の間に出力され、APC駆動に用いられる。
キャップ130は円形状の金属部材であり、その周縁の脚部134がステム100に溶接等により固定されている。キャップ130の内部空間内にVCSEL110および受光素子120が封止されている。なお、封止は、完全な気密状態であることは要しない。
キャップ130上部中央には、円形状の窓132が形成され、窓132の中心からオフセットされた位置に回転軸152を有する、円形状の回転型濃度フィルタ150が設けられている。回転型濃度フィルタ150は、光透過率の異なる4つの濃度フィルタ150a、150b、150c、150dから成り、例えば、波長850nmのレーザ光に対して15%、20%、25%、30%の4段階の光透過率を持つ。それぞれの濃度フィルタ150a、150b、150c、150dは、内角が均等に90度の領域を含み、その領域は、窓132を覆うのに十分な大きさである。これにより、選択された光透過率の濃度フィルタが窓132を覆うことができる。VCSEL110の表面から出射されたレーザ光は窓132を通過し、回転型濃度フィルタ150を透過し外部に出射される。ここでは、回転型濃度フィルタ150は、光透過率の異なる複数の濃度フィルタで構成される例を示したが、勿論、光透過率が連続的に変化しているような可変濃度フィルタであってもよい。
次に、第1の実施例において、回転型濃度フィルタ150による光透過率を調整する方法について図3のフローチャートおよび図4の適応例を参照し、説明する。まず、VCSEL110の製造工程において、ウエハ上に製造された多数のVCSEL110の端子にプローブピンを接触させ、各VCSEL110の光出力特性を測定する(ステップS101)。ウエハ上の各VCSEL110は、測定された光出力特性によって4段階に選別される(ステップS102)。選別された結果は、例えば、ウエハ上のVCSEL110の位置に対応つけてメモリに記憶したり、チップ上にマーキングすることによって識別できるようにしておく。次に、ウエハ上のVCSEL110は、個々のチップに切り落とされ、各VCSEL110は、回転型濃度フィルタ150を含む、キャップ130でパッケージされる(ステップS103)。次に、選別された4段階に従い、個々の半導体レーザ装置10の回転型濃度フィルタ150で調整する(ステップS104)。次に面発光レーザ装置は、APC駆動される(ステップS105)。
例えば、仮に図4に示すようにVCSEL110の光出力特性が0.9(mW)、1.08(mW)、1.35(mW)、1.8(mW)の4段階で選別され、これらを光出力特性が270(μW)となるように調整する。光出力特性が0.9(mW)と選別されたVCSEL110の場合には、回転型濃度フィルタ150で、光透過率30%の濃度フィルタを選択し、これを窓132に合わせる。光出力特性が1.08(mW)であれば、光透過率25%の濃度フィルタが選択され、光出力特性が1.35(mW)であれば、光透過率20%の濃度フィルタが選択され、光出力特性が1.8(mW)であれば、光透過率15%の濃度フィルタが選択され、これが窓132に合わせられる。こうして、VCSEL110から出射される光出力を270(μW)に調整する。このように光出力特性にバラツキを持つVCSEL110から出射する光であっても、可変濃度フィルタを透過することで、光出力特性を調整することができる。
さらに、第1の実施例において、図5に示すように回転型濃度フィルタ150の外側に、VCSEL110の光偏光方向を示すための偏光方向指示マーカーベゼル170を装着し、それらがそれぞれ独立に回転する機構を備えてもよい。回転型濃度フィルタ150によって、光出力のバラツキを調整するとともに、偏光指示マーカー172によってVCSEL110の偏光方向を示すことができる。
次に、本発明の第2の実施例に係る半導体レーザ装置について説明する。第2の実施例は、回転型濃度フィルタ150に代わり、スライド式濃度フィルタ160を用いている。図6は、第2の実施例に係る半導体レーザ装置12の概略構成を示す上面図および側面断面図である。第1の実施例と共通する部分には同一番号を付してある。キャップ130の上部には、窓132を覆うように、長方形状のスライド式濃度フィルタ160が設けられている。スライド式濃度フィルタ160は、窓132から近接する位置に一対の平行なリニアガイド162、164によって支持されている。スライド式濃度フィルタ160は、第1の実施例の回転型濃度フィルタ150と同様に、光透過率が異なる4つの濃度フィルタ160a、160b、160c、160dから成り、スライド位置を可変することにより、任意の光透過率を選択できる。VCSEL110の表面から出射されたレーザ光は窓132を通過し、スライド濃度フィルタを透過することで、ロットごとの光出力特性を調整し、APC駆動回路の許容範囲内に光出力特性を収めることができる。
次に、本発明の第3の実施例に係る半導体レーザ装置14について説明する。第3の実施例では、図7に示すようにキャップ130上部中央の開口部にボールレンズ180が固定されている。この場合、VCSEL110とボールレンズ180の間に回転型濃度フィルタ150を設置するような構造にしてもよい。回転型濃度フィルタ150の外縁の一部がキャップ130の側面の開口から外側に突出していて、その突出部分を回転させるで、任意の光透過率を選択する。このとき、ボールレンズ180の光軸は、VCSEL110のほぼ中心と一致するように位置決めされている。VCSEL110から発せられたレーザ光は、回転型濃度フィルタ150を通過した後、ボールレンズ180に入射し、外部に出射される。
図8は、図7に示す半導体レーザ装置を光送信装置に適用したときの構成を示す断面図である。光送信装置400は、ステム100に固定された円筒状の筐体410、筐体410の端面に一体に形成されたスリーブ420、スリーブ420の開口422内に保持されるフェルール430、およびフェルール430によって保持される光ファイバ440を含んで構成される。ステム330の円周方向に形成されたフランジ332には、筐体410の端部が固定される。フェルール430は、スリーブ420の開口422に正確に位置決めされ、光ファイバ440の光軸がボールレンズ460の光軸に整合される。フェルール430の貫通孔432内に光ファイバ440の芯線が保持されている。
VCSEL110の表面から出射されたレーザ光は、ボールレンズ180によって集光され、集光された光は、光ファイバ440の芯線に入射され、送信される。上記例ではボールレンズ460を用いているが、これ以外にも両凸レンズや平凸レンズ等の他のレンズを用いることができる。さらに、光送信装置400は、リード140、142、144に電気信号を印加するための駆動回路を含むものであってもよい。さらに、光送信装置400は、光ファイバ440を介して光信号を受信するための受信機能を含むものであってもよい。
図9は、空間伝送システムに用いたときの構成を示す図である。空間伝送システム500は、図1に示す半導体レーザ装置10と、集光レンズ510と、拡散板520と、反射ミラー530とを含んでいる。集光レンズ510によって集光された光は、反射ミラー530の開口532を介して拡散板520で反射され、その反射光が反射ミラー530へ向けて反射される。反射ミラー530は、その反射光を所定の方向へ向けて反射させ、光伝送を行う。
図10は、VCSELを光源に利用した光伝送システムの一構成例を示す図である。光伝送システム600は、VCSELが形成されたチップ310を含む光源610と、光源610から放出されたレーザ光の集光などを行う光学系620と、光学系620から出力されたレーザ光を受光する受光部630と、光源610の駆動を制御する制御部640とを有する。制御部640は、VCSELを駆動するための駆動パルス信号を光源610に供給する。光源610から放出された光は、光学系620を介し、光ファイバや空間伝送用の反射ミラーなどにより受光部630へ伝送される。受光部630は、受光した光をフォトディテクターなどによって検出する。受光部630は、制御信号650により制御部640の動作(例えば光伝送の開始タイミング)を制御することができる。
次に、光伝送システムに利用される光伝送装置の構成について説明する。図11は、光伝送装置の外観構成を示す図であり、図12はその内部構成を模式的に示す図である。光伝送装置700は、ケース710、光信号送信/受信コネクタ接合部720、発光/受光素子730、電気信号ケーブル接合部740、電源入力部750、動作中を示すLED760、異常発生を示すLED770、DVIコネクタ780、送信回路基板/受信回路基板790を有している。
光伝送装置700を用いた映像伝送システムを図13示す。これらの図において、映像伝送システム800は、映像信号発生装置810で発生された映像信号を、液晶ディスプレイなどの画像表示装置820に伝送するため、図10に示す光伝送装置を利用している。すなわち、映像伝送システム800は、映像信号発生装置810、画像表示装置820、DVI用電気ケーブル830、送信モジュール840、受信モジュール850、映像信号伝送光信号用コネクタ860、光ファイバ870、制御信号用電気ケーブルコネクタ880、電源アダプタ890、DVI用電気ケーブル900を含んでいる。
上記映像伝送システムでは、映像信号発生装置810と送信モジュール840、および受信モジュール850と画像表示装置820の間を電気ケーブル830、900による電気信号の伝送としたが、これらの間の伝送を光信号により行うことも可能である。例えば、電気−光変換回路および光−電気変換回路をコネクタに含む信号送信用ケーブルを電気ケーブル830、900の代わりに用いるようにしてもよい。
上記実施例は例示的なものであり、これによって本発明の範囲が限定的に解釈されるべきものではなく、本発明の構成要件を満足する範囲内で他の方法によっても実現可能であることは言うまでもない。
本発明に係る半導体レーザ装置は、光情報処理や光高速データ通信の分野で利用することができる。
本発明の第1の実施例に係る半導体レーザ装置の概略上面図および断面図である。 図1のVCSELの構成を示す断面図である。 本発明の実施例に係る半導体レーザ装置の光透過率調整を示すフローチャートである。 本発明の実施例に係る半導体レーザ装置の適応例である。 図1の回転型濃度フィルタ外縁に偏光方向指示マーカーベゼルを設けた面発光半導体型レーザ装置の概略上面図である。 本発明の第2の実施例に係る半導体レーザ装置の概略上面図および断面図である。 本発明の第3の実施例に係る半導体レーザ装置の概略上面図および断面図である。 図7に示す半導体レーザ装置を用いた光送信装置の構成を示す断面図である。 空間伝送システムの構成を示す図である。 光伝送システムの構成を示すブロック図である。 光伝送装置の外観構成を示す図である。 光伝送装置の内部構成を示し、同図(a)は上面を切り取ったときの内部構造を示し、同図(b)は側面を切り取ったときの内部構造を示している。 図11の光伝送装置を利用した映像伝送システムを示す図である。
符号の説明
10:半導体レーザ装置 100:ステム
110:VCSEL 112:ボンディングワイヤ
120:受光素子 130:キャップ
132:窓 140、142、144:リード端子
150:回転型濃度フィルタ 150a〜150d:濃度フィルタ
152:回転軸 160:スライド式濃度フィルタ
160a〜160d:濃度フィルタ 162、164:リニアガイド
170:偏光方向指示マーカーベゼル 172:偏光指示マーカー
180:ボールレンズ

Claims (12)

  1. 半導体レーザ素子と、
    前記半導体レーザ素子を搭載する搭載手段と、
    前記半導体レーザ素子を封止する封止手段とを含み、
    前記封止手段は、前記半導体レーザ素子から発せられるレーザ光を通過させる光出射領域を有し、光透過率が異なる複数の領域を含む可変濃度フィルタが前記光出射領域を覆うように備えられた半導体レーザ装置。
  2. 前記可変濃度フィルタは、回転軸を中心に回転させて前記光出射領域を通過するレーザ光に対する光透過率を可変可能な回転型濃度フィルタを含み、選択された光透過率の領域を光出射領域に位置合わせする、請求項1の半導体レーザ装置。
  3. 前記可変濃度フィルタは、直線的にスライドさせて前記光出射領域を通過するレーザ光に対する光透過率を可変可能なスライド式濃度フィルタを含み、選択された光透過率の領域を光出射領域に位置合わせする、請求項1に記載の半導体レーザ装置。
  4. 前記可変濃度フィルタは、段階的に透過率が異なる領域を含む、請求項1ないし3いずれか一つに記載の半導体レーザ装置。
  5. 前記可変濃度フィルタは、連続的に濃度勾配のある領域を含む、請求項1ないし3いずれか一つに記載の半導体レーザ装置。
  6. 半導体レーザ装置はさらに、半導体レーザ素子が発したレーザ光のうち前記濃度フィルタから反射されたレーザ光を受光する受光素子と、受光素子からの出力に基づき半導体レーザ素子の駆動を制御する駆動制御回路とを含む、請求項1ないし5いずれか一つに記載の半導体レーザ装置。
  7. 半導体レーザ装置はさらに、可変濃度フィルタを透過したレーザ光を入射するレンズを含む、請求項1ないし6いずれか一つに記載の半導体レーザ装置。
  8. 前記半導体レーザ素子は、面発光型半導体レーザ素子からなる、請求項1ないし7いずれか一つに記載の半導体レーザ装置。
  9. 請求項1ないし8いずれか1つに記載された半導体レーザ装置と、当該半導体レーザ装置から発せられたレーザ光を光媒体を介して送信する送信手段とを備えた、光送信装置。
  10. 請求項1ないし8いずれか1つに記載された半導体レーザ装置と、当該半導体レーザ装置から発せられたレーザ光を空間伝送する伝送手段とを備えた、光空間伝送装置。
  11. 請求項1ないし8いずれか1つに記載された半導体レーザ装置と、当該半導体レーザ装置から発せられたレーザ光を送信する送信手段とを備えた、光送信システム。
  12. 請求項1ないし8いずれか1つに記載された半導体レーザ装置と、当該半導体レーザ装置から発せられたレーザ光を空間伝送する伝送手段とを備えた、光空間伝送システム。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101194332B1 (ko) 2010-07-06 2012-10-24 성균관대학교산학협력단 지능형 인지 반사경을 이용한 자연 채광 시스템
JP2018206809A (ja) * 2017-05-30 2018-12-27 シャープ株式会社 半導体レーザ装置
JP2021052204A (ja) * 2020-12-15 2021-04-01 富士ゼロックス株式会社 発光装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03106587A (ja) * 1989-09-20 1991-05-07 Fanuc Ltd 多関節レーザロボット用アライメント装置及びその調整方法
JPH09304668A (ja) * 1996-05-20 1997-11-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光送信モジュール
JP2004072072A (ja) * 2002-06-10 2004-03-04 Nichia Chem Ind Ltd 半導体レーザ装置
JP2005019881A (ja) * 2003-06-27 2005-01-20 Fuji Xerox Co Ltd 半導体レーザ装置
JP2006049829A (ja) * 2004-06-29 2006-02-16 Fuji Xerox Co Ltd 表面発光型半導体レーザおよびその製造方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03106587A (ja) * 1989-09-20 1991-05-07 Fanuc Ltd 多関節レーザロボット用アライメント装置及びその調整方法
JPH09304668A (ja) * 1996-05-20 1997-11-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光送信モジュール
JP2004072072A (ja) * 2002-06-10 2004-03-04 Nichia Chem Ind Ltd 半導体レーザ装置
JP2005019881A (ja) * 2003-06-27 2005-01-20 Fuji Xerox Co Ltd 半導体レーザ装置
JP2006049829A (ja) * 2004-06-29 2006-02-16 Fuji Xerox Co Ltd 表面発光型半導体レーザおよびその製造方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101194332B1 (ko) 2010-07-06 2012-10-24 성균관대학교산학협력단 지능형 인지 반사경을 이용한 자연 채광 시스템
JP2018206809A (ja) * 2017-05-30 2018-12-27 シャープ株式会社 半導体レーザ装置
JP2021052204A (ja) * 2020-12-15 2021-04-01 富士ゼロックス株式会社 発光装置
JP7095728B2 (ja) 2020-12-15 2022-07-05 富士フイルムビジネスイノベーション株式会社 発光装置

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