JP2007280571A - 光ディスク装置及び再生信号処理方法 - Google Patents

Abstract

【課題】高いリードリトライ能力を具備し、かつ、他機種に対して適切なベリファイを行うことにより、高い互換性を有する光ディスク装置を提供する。
【解決手段】再生性能を任意に変更可能な再生系を有する。また、リードエラーの要因を検出及び判別する手段５を有する。また、リードエラーの要因に対応した再生パラメータを用いてリードリトライを行う。更に、ベリファイ時には、再生系の再生性能を低下させてベリファイを行う。
【選択図】 図１

Description

本発明は、光ディスク装置及び光ディスク装置における再生信号の処理方法に関する。

DVDやBlu-ray Discなどの規格に準拠している光ディスク装置及びディスクの際立った特徴の一つは記録媒体が可換であり、異なる機種間相互でディスクを交換して記録及び再生が可能なことである。互換性は、光ディスクにとって極めて重要な事項であり、そのための要件は、規格に定められている。しかし、現実には様々な事由により互換性が低下することがある。例えば、何らかの原因で記録時のレーザパワーが適正値から大きく外れて記録されてしまうこともあれば、記録したディスクの表面に傷や汚れが付いてしまい、結果として互換性を低下させることもある。

互換性を維持するためには、記録時に於いては、他機種が再生できない、若しくは、再生し難いディスクを出さないことである。また、再生時に於いては、欠陥や汚れがある場合を含めて状態の悪いディスクでも極力最終的にリードエラーを出さないような工夫をすることである。従って、光ディスク装置の再生性能を向上することは、互換性を高めるために必須要件である。このため、例えば特許文献１に記載されている適応ターゲット方式ヴィタビデコーダによって再生信号のアシンメトリが大きい場合に対応するなど、各種技術を導入することにより再生能力を高めてきた。

また、ストリーム再生時などを除き、一般に、リードエラーが発生した場合には、当該クラスターのデータを取得するためにリードリトライを行う。従来、リードリトライに際しては、リードエラーの要因を特定することなく、予め用意されたリトライパラメータリストに従って試行を行っていた。

特開平１１−２９６９８７号公報

光ディスク装置の再生性能を向上した結果、通常の再生と同じ条件で記録後の確認再生（ベリファイ）を行うと、記録時に問題を生じたために記録品質が著しく劣っている場合でも検出されるシンボルエラー数が少ないため、そのことを判別することが出来ない場合が増加する。その結果、異なる機種で当該ディスクの当該記録領域を再生させた場合にリードエラーを起こす可能性が高くなる。即ち、互換性が低下することになる。

また、リードエラーの原因となる事象は多岐にわたる。多くの場合、例外的事象による。その度合いが軽微な場合、通常の再生条件で再度再生を試みれば相当な確率で再生に成功する（単純リトライ）。しかし、その度合いが重大である場合、リードリトライ時にドライブの動作パラメータを変更しないと十分に高い成功確率を望めないケースもある。また、一般にリード命令を発行したホストは、命令発行から一定時間内にデータを取得できないとリードが出来ないものと判断する（タイムアウト）。このため、実行可能なリードリトライ回数には制約がある。

リードエラーを引き起こす主要な要因は、欠陥、デビエーション、SNR不足の３つに大別することが出来る。そして、各要因に対応するリードリトライ時の再生パラメータの設定方針は異なる。従来、リードリトライに際しては、リードエラーの要因を特定することなく、予め用意されたリトライパラメータリストに従って試行を行っていた（以下では、このようなパラメータリストをリトライリストと呼ぶ）。このため、要因によっては、全く無効であったり、逆効果でさえあるパラメータを使用した試行を行ってしまっていた。また、実行可能な試行回数に制限があることから有効な試行パラメータのバリエーションが限られるという問題があった。具体的には、デビエーションが原因である場合には、トラッキングまたはフォーカシングゲインの増減及び倍速を下げることが有効であるのに対し、欠陥が原因である場合にはこれらの処置は逆効果となる可能性が高い。

本発明の目的は、高いリードリトライ能力を具備し、かつ、他機種に対して高い互換性を有する光ディスク装置を提供することである。

本発明の光ディスク装置は、再生性能を任意に変更可能な再生系を有し、ベリファイ時には再生性能を低下させる。また、リードエラーの要因を検出及び判別する手段を有し、リードエラーの要因に対応した再生パラメータを用いてリードリトライを行う手段を有する。

本発明により、高いリードリトライ能力を具備し、かつ、他機種に対して適切なベリファイを行うことが可能になり、また、例外的事象によるリードエラーに対処する能力を高めることが可能になる。その結果、互換性の高い光ディスク装置を提供することが出来る。

以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
（要因別リスト方式と要因検出）
リードエラーが発生した際に、その要因を推定し、その結果に基づいたリトライ処理を行う方法について説明する。リードエラー要因は、前述のように欠陥、デビエーション、SNR不足に３大別している。そして、これらのうち欠陥及びデビエーションに関しては、十分な信頼性を持って検出することが出来る。よって、これらの結果を用いることによりリードエラー要因を３つに分類している。以下では、特に断らない限りリードエラーの要因とは、欠陥、デビエーション、SNR不足のいずれかを指すものとする。そして、各要因毎に用意したリトライパラメータリストを適用することにより従来よりも効果的なリトライ動作を行うものである。

図１に、本発明に基づく光ディスク装置（ドライブ）の構成概略を示す。ここでは、本発明に関連して説明する必要のある部分のみを示し、他の部分は省略されている。同様に、各部の詳細に関しても当業者なら容易に理解可能な部分に関しては省略されている。

ディスク１に記録されている情報は、ピックアップ２を用いて光学的に再生し、電気信号に変換された後に信号処理系であるリードチャネル３に入力される。リードチャネルで２値化された後、エラー訂正符号復号器４でエラー訂正処理などを行い、ユーザデータを取り出す。これが通常の再生動作の概要で、一般的にはこれらの作業はLSIが内蔵するシーケンスにより自動的に行われる。

次に、要因検出とその後のリードリトライの動作について説明する。ここでは、簡単のために、検出すべき要因は欠陥のみとして説明する。図２は、その際のリードパラメータの設定及びその契機を説明するものである。最上段の図は、再生を行っているRUB(recording unit block)を示し、その下の図は欠陥検出フラグの状態を表し、一番下の図は、その時に使用する再生パラメータのセットを示している。

今、RUB(n-2)、RUB(n-1), RUB(n)と連続して再生する間にRUB(n)でリードエラーが発生したとする。リードエラーが発生するとコントローラ６は、リトライ動作を開始する。１回目のリトライは、単純リトライを行う。再度RUB(n)を読むためには、シークを行う必要がある。シーク動作では、 目的のクラスターよりも数クラスター前までピックアップの位置を戻し、そこからトラックを辿って目的のクラスターに達する。その際、図２に示すようにシーク終了時に欠陥検出フラグをリセットする。そして、１回目のリトライ終了時点で欠陥検出フラグを参照することにより対象領域内の欠陥の有無を判別する。

欠陥検出は、欠陥検出器５を用いて行う。これは、図３に示したように再生信号のトップエンベロープを監視し、その振幅が一定時間以上、閾値以下である場合に欠陥検出信号を出力する回路である。そして、欠陥検出信号が一定期間以上継続して出力された場合に欠陥検出フラグを立てる。尚、欠陥検出フラグは、欠陥を検出したらリセットされるまでの間はハイレベルを維持するものとする。これにより、１回目のリトライ終了時点での欠陥検出フラグの状態がシーク終了からリトライを行っている当該クラスターの終わりまでの間に欠陥検出の有無を反映することを保障可能としている。欠陥検出フラグをリセットするタイミングを当該クラスターより前に設定しているのは、当該クラスターより手前にある欠陥の影響で目的外のトラックにジャンプしてしまう結果リードエラーを起こすケースもあるからである。

１回目のリトライ（単純リトライ）でもリードエラーであった場合は、要因検出フラグの結果に基づいたリトライ動作を行う。今、検出する要因は欠陥だけであるので、欠陥とそれ以外という分類になる。要因別のリトライ時再生パラメータリストは、S((要因番号), (試行番号))と表記する。また、通常再生時の再生パラメータリストをS(0,0)と表記する。欠陥の要因番号を１、それ以外のものを２とすると、欠陥検出フラグが立っている場合は、２回目以降のリトライでは、パラメータリストS(1,0), S(1,1), S(1,2)という順でリードに成功するまで実行していく。

尚、コントローラ６は、ハードウェアとしてはマイクロコンピュータ、フィードバック制御用調節計、汎用メモリなどからなり、ファームウェアによって動作が制御されていて、また、リトライ時のリードパラメータセットなども内包していることは当業者であれば容易に理解できることである。

図１の例では、要因判別として欠陥のみを用いている。これにトラッキング及びフォーカシングのデビエーション検出器を追加したとしても上記の説明をほぼそのまま適用できる。この場合、要因の分類は、欠陥、デビエーション、SNR不足及びその他、となる。デビエーションは、トラッキングフィードバック制御回路中の誤差信号の振幅が一定値を超えた場合に検出される。トラッキングとフォーカシングのデビエーションは、個別に検出可能である。しかし、デビエーションが原因となるリードエラーの発生頻度は、トラッキングデビエーションの方が相当に多いので、ここではシステムの簡略化を考慮してトラッキング及びフォーカシングデビエーションに関するリトライリストを一つにまとめ、どちらを検出しても同一のリストを実行するようにしている。

検出対象の要因が複数あり、そして、それらが同時に検出される可能性がある。複数のリードエラー要因が同時に検出場合に備えて、検出優先順位が決められている。欠陥とデビエーションが同時に検出された場合は、欠陥を優先する。これは、長い欠陥を再生光スポットが通過し終わった直後に大きなトラッキング誤差を生じている場合が多く、本質的なリードエラー要因が欠陥であってもデビエーションも同時に検出されることがしばしば起こるためである。

また、指紋は、局所的な減光による欠陥的な要素と、読み出し光を屈折させるために生じるデビエーション的な要素を併せ持つ。欠陥的な減光は、継続期間は短いために、殆どの場合、欠陥検出フラグが立つことはない。ただし、局所的減光は数cmの中で複数回出現するという特色を有する。指紋によって再生信号が撹乱された一例を図４に示す。また、指紋によるデビエーションは、継続期間は長いものの振幅は比較的小さいために通常はデビエーション検出の対象とはならない。故に、指紋によるリードエラーに対処する再生パラメータは、SNR不足及びその他のパラメータリストの中に含めている。

（要因別リスト内容）
ここでは、要因別のリトライリストの内容について説明する。
図５に、デビエーションに対応するリトライリストの例（BD４X）を示す。前述のようにシステムの簡略化を考慮してトラッキング及びフォーカシングデビエーションに関するリトライリストを一つにまとめ、どちらを検出しても同一のリストを実行するようにしている。デビエーションに対応する有効なパラメータとしては、トラッキング及びフォーカシングのフィードバック制御ゲインの増加と再生倍速低下が主なものである。再生倍速は、ドライブの重要な性能であるので、リトライパラメータとして効果が見込めるものの倍速を下げるのは極力回避するためにリストの下位に配置している。リトライリストのパラメータは、リードに成功するまで、リストの上位に配置されたパラメータから順に適用される。

次に、欠陥への対応リストについて説明する。欠陥によるリードエラーの発生状況としては、欠陥の長さがエラー訂正限界に近いほどに長い場合と、欠陥によってトラッキングが外れて他のトラック上のクラスターを再生してしまう場合が主である。前者に関しては、試行の度にエラー数は統計的に揺らぐので単純リトライでも相当の効果が期待できる。後者に関しては、欠陥突入時のフィードバック系の過度の振れを押さえるためにフィードバックゲインを下げることで改善が期待できる。欠陥通過中は、トラッキング及びフォーカシングの制御系の動作をホールドする。しかし、ホールド可能な時間はハードウェアの制約により有限であることから倍速を下げることは反って不利になる場合があるので倍速を下げることはしない。

以上を考慮して作成したリトライリストの例を図６に示す。各試行内容について３回ずつ繰り返すものとする。通常、欠陥通過時は、適応イコライザや適応ヴィタビデコーダの適応動作もホールドさせる。欠陥通過直後は、過渡応答などの影響で再生信号波形の振幅や直流オフセットレベルが変化している。これらに対する対応を高速化するために適応等化器及び適応ヴィタビデコーダの学習時定数を小さくすることも一定の効果が期待できる。フォーカシングゲインは、効果が認められる場合もあるのでリストの下位に配置している。

次に、ＳＮＲ不足及びその他の要因へ対応するリトライリストについて説明する。ＢＤ４Ｘの例を図７に示す。

前述のように、このリトライリストの中には指紋対応も含まれる。このドライブの再生信号処理系には適応等化器とヴィタビデコーダが搭載されているのでＳＮＲ不足の際に最短マークスペース信号に対するブースト量を増大させても２値化系に対する直接的な効果は期待できない。しかし、特にＢＤのように最短マークスペース信号のジッターが悪い系に於いては最短マークスペース信号のブースト量を増加させることにより２値化系の動作クロックジッターが抑圧され、エラーレートを改善できる場合がある。これは、２値化系の動作クロックがデジタルＰＬＬを用いて再生信号から生成されるためである。

指紋は、図４に示したように局所的な減光を数cmの中で複数回出現するという特色を有する。その結果、再生信号のベースライン（アイパターンの中心）が変動する結果エラーが増大するという問題を生じる。これに対抗するために高域通過フィルタのカットオフ周波数を通常よりも高くしての試行を行う。これには、ラン長が長いマークスペース信号のエラーレート劣化が伴うが、バーストエラーの長さを短くする効果が期待できる。

再生倍速を落とすと、再生信号処理系の帯域幅が狭くなり、入力される雑音電力が減少する結果エラーレートが改善することが期待できる。ただし、装置性能の観点からは再生倍速を落とすのをなるべく回避すべきであるのでリストの下位に配置している。

（孤立ブロック再生）
ＤＶＤでは、ユーザデータを記録したブロックの直前が未記録状態ではないことが規格で保証されている。それに対し、ＢＤでは未記録領域の直後にユーザデータを含むＲＵＢが存在し得ることになっている。このように直前が未記録領域であるＲＵＢのことをここでは便宜上、孤立ブロックと呼ぶものとする。

孤立ブロックを再生する上で問題となるのは、直前が未記録状態であるためにデータ再生系のＰＬＬ(phase locked loop)が再生信号クロックに対してロックするまでに許容される時間が短いことである。チャネルクロック周期をＴとすると、ブロックの先頭から2700T程度でＰＬＬをロックさせる必要がある。再生信号のＳＮＲが良好である場合、この要件を満たすことは比較的容易である。しかし、当該ブロックからの再生信号のＳＮＲがそもそも悪く、再生限界に近い場合であっても再生することが求められる。このような状況下では、相当な確率でリードリトライが発生する。これは、再生信号のＳＮＲが劣化すると雑音の影響によって位相比較の精度が低下することによりＰＬＬがロックするまでの時間が著しく長くなることが大きく影響している。そこで、リトライ要因検出に直前ＲＵＢ未記録判定を行うことにより、リトライ時に於ける孤立ブロック再生成功率を向上することを行っている。

まず、当該ＲＵＢの直前ＲＵＢの未記録判定について説明する。相変化記録媒体の場合、未記録部は記録部に比較して反射率が高く、変調度は０である。これは、欠陥検出でエンベロープの上側と下側の関係を入れ替えたのと同じであるので同様の方法で検出が可能である。また、リトライ前のシーク終了位置は、当該ＲＵＢの数ＲＵＢ前になるので直前のＲＵＢが未記録であることを判定するためには、ＡＤＩＰ(address in pre-groove)を同時に監視しながら出現した未記録部が直前のＲＵＢであるか否かを判断する。直前のＲＵＢが未記録であると判断された場合、孤立ブロック用リトライリストを実行する。孤立ブロック再生に関するリトライリストの例を図８に示す。このリトライリストの特徴は、位相比較を行う信号を切り替えている点にある。以下にその詳細を述べる。

ここで用いている再生信号処理システムでは、図９に示すように、通常のＡＤＣ(analog to digital converter)２１出力を用いた位相比較の他に適応等化器を用いた位相比較も可能である。通常の位相比較は、スライサー２２を経たＡＤＣ出力を位相比較器Ａ（２４）で位相誤差を検出し、ループフィルタ２３を経由してＶＣＯ(voltage controlled oscillator)２６の出力クロックの周波数と位相を制御する。それに対し、適応等化器１２を用いた位相比較を行う場合は、位相比較器Ｂ（２５）を用いて適応等化器出力から位相検出を行う。適応等化器１２は、ＦＩＲ(finite impulse response)等化器の一種で、その出力は遅延時間が大きいので再生信号ＳＮＲが良い場合には、ＡＤＣ出力を用いた場合に比較してＰＬＬのロック時間は長くなる。しかし、ＦＩＲ等化器は、高次の低域通過フィルタとしての作用を有するので位相比較器への入力信号の雑音が減少するため、位相比較の精度が向上し、結果としてＰＬＬがロックするまでの時間を短くすることが出来る。

図１０に、両者を比較したシミュレーション結果を示す。横軸は、初期の位相誤差で、縦軸は初期の周波数誤差をあらわす。シミュレーションに用いた擬似再生信号は、光学ステップレスポンスを元に波形合成したものに白色雑音を重畳したものである。雑音振幅は、PR(1,2,2,1)MLチャネルで平均シンボルエラーレートが2×10^-2になるように調整した。これは、ドライブ間で互換を保障できるほぼ限界状態を意味する。一般に、初期位相誤差及び初期周波数誤差共に、その絶対値が大きいほどＰＬＬがロックするまでの時間が長くなる傾向にある。図１０には、ＰＬＬが引き込み動作を開始してから2700T以内にＰＬＬがロックできる限界の初期周波数誤差を各初期位相誤差に対して求めたものをプロットしたものである。実際には、同じ雑音振幅であっても重畳される雑音信号波形によってＰＬＬが許容時間内にロックできる初期周波数誤差は異なる。即ち、許容初期周波数誤差は分布を持つ。そのため、図１０の各プロットは、十分な数の異なる雑音波形について求めた値を平均したものである。よって、図中の曲線は、分布の中央を表す。即ち、曲線上では許容時間内にＰＬＬがロックできる確率が５０％である。

許容初期周波数差が最も小さくなる初期位相差±0.5Tに於ける分散は、ＡＤＣ出力で位相比較を行った場合は、0.15%、適応等化器出力を用いた場合は、0.038%であった。許容初期周波数誤差の大きさは、どちらの場合もほぼ同じ値である。従って、ドライブが許容する最大初期周波数誤差が0.25%であるとすると規定時間内にＰＬＬをロックできない確率は、ＡＤＣ出力を用いた場合約4%であるのに対し、適応等化器出力を用いた場合には事実上０である。以上により、雑音の影響が著しい場合に於いても、適応等化器出力を用いたリトライを行うことにより孤立ブロックを十分な信頼性をもって再生可能としている。

（ベリファイ）
図１１にベリファイを行う際のリードチャネル設定を示す。リードチャネルの主要構成ブロックは、７次等リップルイコライザ１１、適応等化器１２、適応ヴィタビデコーダ１３である。これらの通常再生時及びリードリトライに於ける設定に関しては、上記ならびに特許文献１に述べたとおりである。

上述のように、ベリファイ時には他機種が実現している最低レベルのチャネル性能を想定し、更に互換のためのマージンも確保する必要がある。ＢＤの場合、互換性確保に必要な記録品質などは、リミットイコライザを用いたリードチャネルを使用することが規定されている。しかし、実際のドライブに於いては復号性能に優れるＰＲＭＬが用いられるケースが多いことが予想される。そこで、最もプリミティブなＢＤ向けＰＲＭＬチャネルを用いてベリファイを行う。ＢＤ（25GByte/面）の場合、適合するPRクラスはPR(1,2,2,1)MLである。また、等化は７次等リップルイコライザのみを用いる。このため、適応等化器は、適応等化動作を停止させ、かつ、振幅と位相の周波数特性が平坦になるように設定する。これにより、例えば、記録パワー異常のためにアシンメトリの大きさが規定よりも大きくなった場合には確実にシンボルエラーレートが増加する。

BD-R単層(25GB)媒体の場合、図１１に示す設定が適正であることの一例を図１２に示す。この例では、BD-R単層(25GB)媒体のほぼ全面に対し故意に適正値よりも小さなパワーで記録したものを通常の設定と上記ベリファイと同じ設定で再生した場合、それぞれのシンボルエラーレートの測定結果である。媒体の記録感度などの特性には不均一性がある。通常再生の場合には、適応ヴィタビデコーダと適応等化器の作用により、その影響は殆ど排除されている。それに対し、ベリファイ設定で再生した場合は、媒体上の位置による記録信号品質の差が明らかに認められる。特に、最外周に於いてはベリファイエラーが観測される。その原因は、最外周に於いては媒体感度が特に低いためにアシンメトリが非常に大きくなっているためである。ベリファイエラーを起こした領域の再生信号アイパターンを図１３に示す。

記録すべきＲＵＢの数が多数である場合、一定数のＲＵＢを記録する毎に直前に記録した全ＲＵＢをまとめてベリファイする。図１４にベリファイを行う際のフローチャートを示す。１単位の記録が終了すると、ベリファイ用の再生パラメータを再生信号処理系にセットし、再生を開始する。通常の再生時は、リードエラーの発生を監視し、リードエラーを検出した時点で適当な処理を行う。ベリファイの場合は、リードエラーではなくベリファイエラーの発生を監視する。ＢＤの場合、シンボルエラーの数が１２以上のコードワードが１つ以上存在することがベリファイエラーの標準条件である。ベリファイエラーを検出した場合は、当該ＲＵＢのアドレスを登録する。以上の動作を記録した全てのＲＵＢについて行う。尚、ベリファイエラーを起こしたＲＵＢに関しては、オーバーライト可能な媒体の場合は再度記録を試み、それでもベリファイエラーを起こす場合には交代処理を行う。また、ライトワンス型の媒体の場合は直ちに交代処理を行う。

本発明に基づく光ディスク装置の構成概略を示す図。 リードエラー要因検出とリトライパラメータ設定タイミングを示す図。 欠陥検出方式の説明図。 指紋による再生信号撹乱の例を示す図。 デビエーションに対応するためのリトライリストの例を示す図。 欠陥に対応するためのリトライリストの例を示す図。 ＳＮＲ不足及び指紋に対応するためのリストの例を示す図。 孤立ブロック再生用リトライリストの例を示す図。 ＰＬＬの構成を説明する図。 孤立ブロック再生を可能とするＰＬＬ初期条件の限界曲線を示す図。 ベリファイ時のリードチャネル設定を示す図。 ベリファイ設定によるエラーレート測定結果を示す図。 ベリファイエラー時の再生信号アイパターンを示す図。 ベリファイの手順を説明する図。

符号の説明

1：ディスク、2：ピックアップ、３：リードチャネル、４：エラー訂正符号復号器、５：欠陥検出器、６：コントローラ、１１：７次等リップルイコライザ、１２：適応等化器、１３：適応ヴィタビデコーダ、２１：ＡＤＣ、２２：スライサー、２３：ループフィルタ、２４：位相比較器Ａ、２５：位相比較器Ｂ、２６：ＶＣＯ

Claims (11)

1. 適応ヴィタビデコーダと適応等化器を含むリードチャネルと、
   リードエラー要因を検出する検出手段と、
   リードエラー要因別にリードリトライ時に適用すべき再生動作パラメータを登録したリストとを有し、
   リードエラー発生時に、前記リストを参照し、前記検出手段によって検出したリードエラー要因に対応した再生動作パラメータを適用してリードリトライを行うことを特徴とする光ディスク装置。
2. 請求項１記載の光ディスク装置において、リードエラーの発生位置を特定するための手段を有することを特徴とする光ディスク装置。
3. 請求項１記載の光ディスク装置において、前記リードエラー要因として、欠陥、デビエーション、ＳＮＲ不足が含まれることを特徴とする光ディスク装置。
4. 請求項１記載の光ディスク装置において、孤立ブロックを検出する手段を有することを特徴とする光ディスク装置。
5. 請求項１記載の光ディスク装置において、孤立ブロックのリードリトライ時において、再生信号処理系のＰＬＬの位相比較をＦＩＲ等化器出力で行うことを特徴とする光ディスク装置。
6. 請求項５記載の光ディスク装置において、前記ＦＩＲ等化器が適応等化器であることを特徴とする光ディスク装置。
7. 再生信号を処理するリードチャネルと、
   前記リードチャネルのパラメータを設定するパラメータ設定手段とを有し、
   前記パラメータ設定手段は、通常再生時には、前記リードチャネルが適応等化器と適応ヴィタビデコーダの機能を有するようにパラメータを設定し、ベリファイ時には、前記リードチャネルの再生性能が前記通常再生時より低下するようにパラメータを設定することを特徴とする光ディスク装置。
8. 請求項７記載の光ディスク装置において、前記パラメータ設定手段は、ベリファイ時に、前記適応等化器の適応等化動作が停止され、振幅と位相の周波数特性が平坦になるように前記リードチャネルのパラメータを設定することを特徴とする光ディスク装置。
9. 通常の再生時には、再生信号を適応等化器と適応ヴィタビデコーダを用いたリードチャネルによって処理し、
   ベリファイ時には、リードチャネルの再生性能を前記通常の再生時より低く設定し、
   再生信号を前記再生性能を低く設定したリードチャネルで処理してベリファイを行うことを特徴とする光ディスク装置の再生信号処理方法。
10. 請求項９記載の再生信号処理方法において、前記ベリファイ時には前記適応等化器の適応等化動作を停止し、振幅と位相の周波数特性が平坦になるように設定することを特徴とする再生信号処理方法。
11. 請求項９記載の再生信号処理方法において、アシンメトリが規格値を超えた場合にベリファイエラーとなるように前記リードチャネルを設定することを特徴とする再生信号処理方法。

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