JP2007220160A - 減衰量調整回路、光ディスクドライブ装置、減衰量調整方法およびアドレス情報取得方法 - Google Patents

Abstract

【課題】書込レベルのレーザ光の反射光に対応する再生信号の振幅レベルの最適な減衰量を容易に選択することができ、その結果、グルーブ内の物理アドレス情報を安定して的確に検出することの可能な減衰量調整回路を提供する。
【解決手段】再生信号（１０Ａ＋１０Ｄ）の書込波形Ｓ１の振幅レベルを減衰量制御信号３０Ｅに基づいて減衰する減衰器２１、再生信号（１０Ａ＋１０Ｄ）の読出波形Ｓ２の振幅レベルを増幅させる増幅器２２、減衰器２１で減衰された書込波形Ｓ１および増幅器２２で増幅された読出波形Ｓ２からなるスイッチ出力２３Ａの高周波成分を減衰させるローパスフィルタ２３、ローパスフィルタ２３の出力の利得を調整する利得調整器２４を備える。減衰量制御信号３０Ｅは減衰器２１の減衰量を徐々に大きくしていった時に利得調整器２４の増幅量が飽和し始めた時の減衰量から飽和しきった時の減衰量までの間の一の減衰量となるような信号である。
【選択図】図２

Description

本発明は、光ディスクの反射光（戻り光）に対応する再生信号の減衰量を調整するための減衰量調整回路および減衰量調整方法、ならびに光ディスク上の物理アドレス情報を検出するための光ディスクドライブ装置およびアドレス情報取得方法に関する。

一般に、記録可能な光ディスクでは、グルーブに対してレーザ光を照射してデータの書き込みを行う際に、各半径位置における線速度や、グルーブ内の物理的な位置を精確に検出することが必要である。線速度は、例えば、光ディスクの回転制御や記録用のマスタークロックの生成などに用いられ、グルーブ内の物理的な位置は、例えば、ビット単位の正確な記録位置の決定や、光ディスク上の物理アドレス情報の取得などに用いられる。

ここで、グルーブは一般に、螺旋状のグルーブおよびランドからなり、グルーブおよびランドは光ディスクの円周方向（トラッキング方向）に対して一定周期で蛇行するパターンとなっている。また、グルーブ内には、メディアのプリフォーマットの種類に応じて、上記蛇行パターンの周期よりも短い周期の蛇行パターンや、窪み状のプリピット、グルーブを横切る切れ目状のランドプリピットなどのマーカが形成されている。

このような構成の光ディスクに対応する光ディスクドライブ装置では、回転する光ディスクのグルーブに対してレーザ光を照射して、その反射光から、グルーブに記録されている（または記録した）データや、長周期の蛇行パターンに対応した情報（線速度）、マーカに対応した情報（グルーブ内の物理アドレス情報）などを検出する。

ここで、光ディスクにデータを書き込む場合には、記録データに基づいて、読み出しの場合と比べて出力の極めて高いレーザ光（書込レベルのレーザ光）と、読み出しの場合と同等の、出力の低いレーザ光（読出レベルのレーザ光）とを交互に切り換えて照射する。これにより、書込レベルのレーザ光が照射されたときにだけグルーブ内に、反射率の相対的に低いピットが形成され、データの書き込みが行われる。

このとき、光ディスクからの反射光の光強度は、照射光の光強度が大きいほど大きくなり、照射面の反射率が大きいほど大きくなる。しかし、グルーブ内の反射率の差と比べて、書込レベルおよび読出レベルのそれぞれのレーザ光の光強度の差の方が圧倒的に大きいので、光ディスクからの反射光の光強度の大きさについては、レーザ光の光強度の大きさが支配的である。そのため、書込レベルのレーザ光が照射されることによりピットが形成された期間の反射光（書込レベルのレーザ光の反射光）の光強度が、読出レベルのレーザ光が照射されることによりピットが形成されなかった期間の反射光（読出レベルのレーザ光の反射光）の光強度よりも極めて大きくなるので、書込レベルのレーザ光の反射光に対応する再生信号が飽和する虞があった。特に、近年、光ディスクの高速化や、大容量化に起因して書込レベルのレーザ光の光強度が増大しているため、書込レベルのレーザ光の反射光に対応する再生信号が飽和する虞が極めて大きかった。

そこで、例えば、ピックアップや、ピックアップの出力信号を処理するための集積回路などのダイナミックレンジの上限を拡大することが考えられる。しかし、ピックアップや集積回路などのダイナミックレンジの上限を拡大するには、これらに電力を供給する電源の電圧を上げることが必要となり、消費電力が増大してしまうという問題があった。

また、例えば、書込レベルのレーザ光の反射光および読出レベルのレーザ光の反射光に対応する再生信号の振幅レベルを一律に減衰させることが考えられる。しかし、その場合には、書込レベルのレーザ光がマーカを照射した場合の、その反射光に含まれるマーカに対応する光（書込時のマーカの反射光）に対応する再生信号の振幅レベルが、読出レベルのレーザ光がマーカを照射した場合の、その反射光に含まれるマーカに対応する光（読出時のマーカの反射光）に対応する再生信号の振幅レベルと等しくなることはない。そのため、所定のスライスレベルと比較して、これらの再生信号を２値化することが困難となり、その結果、グルーブ内の物理アドレス情報を検出することが極めて困難となるという問題があった。

そこで、従来は、例えば、特許文献１に記載されているように、書込レベルのレーザ光の反射光に対応する再生信号に対してだけアッテネータによる減衰処理を行っていた。

特開２００２−３３４４４６号公報

ところで、特許文献１では、書込レベルのレーザ光の反射光に対応する再生信号の振幅レベルを減衰させてグルーブ内の物理アドレス情報を安定して的確に検出することができる、としている。しかし、その振幅レベルをどのレベルまで減衰させればよいか、また、仮に最適なレベルがあるとした場合に、どのようにしてその最適なレベルを見つけ出すことができるか明らかにされていない。実際、現場では、その最適なレベルを見つけ出すための定性的な方策がなく、手探りでその最適なレベルを見つけ出しているのが現状である。このように、従来では、最適なレベルを容易に見つけ出すことができないために、グルーブ内の物理アドレス情報を安定して的確に検出することが困難であった。

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、書込レベルのレーザ光の反射光に対応する再生信号の振幅レベルの最適な減衰量を容易に選択することができ、その結果、グルーブ内の物理アドレス情報を安定して的確に検出することの可能な減衰量調整回路、光ディスクドライブ装置、減衰量調整方法およびアドレス情報取得方法を提供することにある。

本発明の減衰量調整回路は、蛇行パターンからなるグルーブ、およびグルーブ内の物理的な位置を示す複数のマーカを有する光ディスクに対応した光ディスクドライブ装置に用いられるものである。この減衰量調整回路は、上記した光ディスクに対して、書込レベルのレーザ光および読出レベルのレーザ光を交互に切り換えて照射する光照射部と、光ディスクに照射されたレーザ光の反射光を受光して再生信号に変換する受光部とを含んで構成されたピックアップを備える。減衰量調整回路はさらに、ピックアップの受光部から出力される再生信号の振幅レベルや周波数成分を調整するための調整回路、具体的には、書込波形減衰部、高周波減衰部、増幅部および減衰量制御信号生成部を備える。ここで、書込波形減衰部はピックアップの受光部から出力される再生信号のうち書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形の振幅レベルを減衰量制御信号に基づいて減衰させ、高周波減衰部は書込波形が減衰された再生信号の高周波成分を減衰させるようになっている。増幅部は、高周波成分が減衰された再生信号の振幅レベルを所定のレベルにまで増幅するようになっている。減衰量制御信号生成部は、書込波形減衰部の減衰量を制御するための減衰量制御信号を生成するものであり、書込波形減衰部の減衰量を徐々に大きくしていったときに増幅部の増幅量が飽和し始めたときの減衰量から飽和しきったときの減衰量までの間の一の減衰量となるような減衰量制御信号を生成するようになっている。

本発明の光ディスクドライブ装置は、上記した減衰量調整回路と、アドレス情報検出回路とを備えたものである。アドレス情報検出回路は、増幅部によって増幅された再生信号からマーカに対応した信号成分を抽出して、グルーブ内の物理アドレス情報を得るアドレス情報取得部と、アドレス情報取得部においてマーカに対応した信号成分を抽出する際に、高周波減衰部の機能をオンオフするための駆動制御信号を生成する駆動制御信号生成部とを有している。

本発明の減衰量調整回路および光ディスクドライブ装置では、書込波形減衰部において、受光部から出力される再生信号のうち書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形の振幅レベルが減衰量制御信号に基づいて減衰される。この減衰量制御信号は、書込波形減衰部の減衰量を徐々に大きくしていったときに、書込波形減衰部によって減衰されると共に高周波減衰部によって減衰された再生信号（以下、「処理後再生信号」と称する）を所定のレベルにまで増幅するのに必要な増幅量が飽和し始めた（一定値に落ち着き始めた）ときの減衰量（下限減衰量）から、飽和しきった（一定値に落ち着いた）ときの減衰量（上限減衰量）までの間の一の減衰量となるような制御信号である。ここで、処理後再生信号の増幅量の飽和は、処理後再生信号の書込波形の振幅レベルが処理後再生信号の読出波形の振幅レベルに極めて近づいたときに始まり、処理後再生信号の書込波形の振幅レベルが処理後再生信号の読出波形の振幅レベルと等しくなったときに完了する。なお、処理後再生信号の書込波形の振幅レベルが処理後再生信号の読出波形の振幅レベルよりも小さくなった場合でも、増幅部の増幅量は飽和したままである。

本発明の減衰量調整方法は、以下の（Ａ）〜（Ｇ）までのステップを含むものである。
（Ａ）蛇行パターンからなるグルーブ、およびグルーブ内の物理的な位置を示す複数のマーカを有する光ディスクを回転駆動させるステップ
（Ｂ）回転する光ディスクに対して、書込レベルのレーザ光および読出レベルのレーザ光を交互に切り換えて照射するステップ
（Ｃ）光ディスクに照射されたレーザ光の反射光を受光して再生信号に変換するステップ
（Ｄ）再生信号のうち書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形の振幅レベルを、減衰量を前記書込波形ごとに徐々に増やしながら減衰させるステップ
（Ｅ）書込波形の振幅レベルが前記書込波形ごとに徐々に小さくなる再生信号の高周波成分を減衰させるステップ
（Ｆ）高周波成分が減衰された再生信号の振幅レベルを所定のレベルにまで増幅するステップ
（Ｇ）高周波成分が減衰された再生信号に対する増幅量が飽和し始めたときの、高周波成分が減衰される前の減衰量と、飽和しきったときの、高周波成分が減衰される前の減衰量とを求めるステップ

本発明のアドレス取得方法は、上記した減衰量調整方法の（Ａ）〜（Ｇ）までのステップを含むと共に、そのステップに引き続いて、以下の（Ｈ）〜（Ｊ）までのステップを含むものである。
（Ｈ）反射光から変換された再生信号のうち書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形の振幅レベルを、上記ステップで求めた減衰量の上限および下限の範囲内の一の減衰量で減衰させるステップ
（Ｉ）一の減衰量で減衰された再生信号の振幅レベルを所定のレベルにまで増幅するステップ
（Ｊ）一の減衰量で減衰されたのちに増幅された再生信号からマーカに対応した信号成分を抽出して、グルーブ内の物理アドレス情報を得るステップ

本発明の減衰量調整方法およびアドレス取得方法では、再生信号のうち書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形の振幅レベルを、減衰量を前記書込波形ごとに徐々に増やしながら減衰させたのち、その減衰された再生信号の高周波成分を減衰させることにより、処理後再生信号が生成される。続いて、処理後再生信号の振幅レベルを所定のレベルにまで増幅することにより、処理後再生信号に対する増幅量が飽和し始めた（一定値に落ち着き始めた）ときの、高周波成分が減衰される前の減衰量（下限減衰量）と、飽和しきった（一定値に落ち着いた）ときの、高周波成分が減衰される前の減衰量（上限減衰量）が求められる。ここで、処理後再生信号の増幅量の飽和は、処理後再生信号の書込波形の振幅レベルが処理後再生信号の読出波形の振幅レベルに極めて近づいたときに始まり、処理後再生信号の書込波形の振幅レベルが処理後再生信号の読出波形の振幅レベルと等しくなったときに完了する。なお、処理後再生信号の書込波形の振幅レベルが処理後再生信号の読出波形の振幅レベルよりも小さくなった場合でも、増幅部の増幅量は飽和したままである。

本発明の減衰量調整回路および光ディスクドライブ装置によれば、書込波形減衰部において、受光部から出力される再生信号のうち書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形の振幅レベルを減衰させる際に、減衰量を設定するために用いる減衰量制御信号として、書込波形減衰部の減衰量を徐々に大きくしていったときに、処理後再生信号を所定のレベルにまで増幅するのに必要な増幅量が飽和し始めたときの下限減衰量から、飽和しきったときの上限減衰量までの間の一の減衰量となるような制御信号を用いるようにしたので、書込波形を最適なレベルに減衰させることができる。このように、書込波形の振幅レベルの最適な減衰量を容易に選択することができ、その結果、グルーブ内の物理アドレス情報を安定して的確に検出することが可能となる。

本発明の減衰量調整方法およびアドレス取得方法によれば、処理後再生信号の振幅レベルを所定のレベルにまで増幅することにより、処理後再生信号に対する増幅量が飽和し始めたときの、高周波成分が減衰される前の下限減衰量と、飽和しきったときの、高周波成分が減衰される前の上限減衰量を求めるようにしたので、下限減衰量から上限減衰量までの間の一の減衰量を選択するだけで、最適なレベルの減衰量で減衰させることができる。このように、書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形の振幅レベルの最適な減衰量を容易に選択することができ、その結果、グルーブ内の物理アドレス情報を安定して的確に検出することが可能となる。

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。

図１は、本発明の一実施の形態に係る光ディスクドライブ装置を機能ブロックごとに表すものである。図２は、後述のフォトディテクタ１２および信号処理部２０の内部構成を表すものである。この光ディスクドライブ装置は、光ディスク１００上の物理的な位置を示す物理アドレス（絶対番地）を検出しつつ、有機色素変化記録方式の追記可能型の光ディスク１００ （例えば、ＤＶＤ±Ｒ）に記録データを書き込んだり、光ディスク１００に記録されている記録データを読み出すことの可能な装置である。

図３（Ａ）は、光ディスク１００のうち記録データが書き込まれていない部分の径方向の断面構成（図３（Ｂ）のＢ−Ｂ矢視方向の断面構成）を、図３（Ｂ）は、光ディスク１００のうち記録データが書き込まれている部分の円周方向（トラッキング方向）の断面構成（図３（Ａ）のＡ−Ａ矢視方向の断面構成）を、図４（Ａ），（Ｂ）は、光ディスク１００の平面構成の一例を表すものである。

光ディスク１００は、図３（Ａ）に示したように、例えば、データ面（レーザ光の照射される側の面）から順に、基板１１０、有機色素からなる記録層１１１、反射層１１２、保護層１１３により構成されている。基板１１０には、レーザ光を案内するための案内溝、いわゆるグルーブ１１４が螺旋状に形成されており、そのグルーブ１１４の両側に沿ってランド１１５が形成されている。グルーブ１１４およびランド１１５は、光ディスク１００のトラッキング方向に対して一定周期で蛇行したパターンとなっている。この蛇行パターンは、例えば、レーザ光がデータ面を走査する速度（線速度）の検出に利用されるものであり、検出された線速度は、例えば、光ディスクの回転制御や記録用のマスタークロックの生成などに用いられる。

光ディスク１００には、例えば、図４（Ａ）では、上記した蛇行パターンの蛇行周期よりも短い周期の蛇行パターン（ＦＭ変調部１１６）が形成されており、図４（Ｂ）では、ランド１１５に小さな窪み（ランドプリピット１１７）が形成されている。これらＦＭ変調部１１６およびランドプリピット１１７は、光ディスク１００上の物理アドレスを得るためのマーカの一形態である。マーカをグルーブ１１４と共にレーザ光のビームスポットで走査すると、それにより得られる反射光（戻り光）には、マーカに対応した鋭いパルス状の成分が含まれるので、このパルス状の成分を抽出することにより、グルーブ１１４の物理アドレスを得ることが可能である。

ところで、書き込み前の光ディスク１００では、グルーブ１１４はトラッキング方向に一様な底面を有しているが、書き込み後の光ディスク１００では、図３（Ｂ）のように、グルーブ１１４の底面に、凹部１１４Ａと、凸部１１４Ｂとが形成されている。ここで、凸部１１４Ｂおよび凹部１１４Ａにおける反射層１１２の高低差は、例えばレーザ光の波長の１／４となっている。また、凸部１１４Ｂは、後述のピックアップ１０との関係で、凸部１１４Ｂに入射した光をほとんど減衰させることなく反射させることの可能な位置に配置されるようになっている。これにより、凹部１１４Ａは、凹部１１４Ａで反射した光を、凹部１１４Ａに隣り合う凸部１１４Ｂで反射した光との干渉効果により減衰させるようになっている。

光ディスクドライブ装置は、ピックアップ１０、信号処理部２０、制御部３０およびスピンドルモータ４０を備えている。

ピックアップ１０は、光ディスク１００にレーザ光を照射すると共に、照射したレーザ光の反射光を受光して再生信号（後述）に変換するためのものであり、例えば、レーザ１１（光照射部）、フォトディテクタ１２（受光部）、対物レンズ（図示せず）および光学系（図示せず）を有している。

レーザ１１は、例えば、６０５ｎｍの赤色半導体レーザや、４０５ｎｍの青紫色半導体レーザであり、記録データに対応したレーザドライブ信号３０Ｄにより、光ディスク１００にレーザ光を照射するようになっている。このレーザ１１は、光ディスク１００への記録データの書き込みの際に、レーザドライブ信号３０Ｄに基づいて、読出時の強度（読出レベル）よりも数倍強力な強度（書込レベル）のレーザ光と、読出レベルのレーザ光とを交互に切り換えて、基板１１０側からグルーブ１１４に照射するようになっている。これにより、レーザ１１は、グルーブ１１４に書込レベルのレーザ光を照射して、記録層１１１に含まれる有機色素にレーザ光を吸収させて局所的な発熱を生じさせ、その発熱により基板１１０を変形させ、その結果、グルーブ１１４内に凹部１１４Ａおよび凸部１１４Ｂを形成させることにより、光ディスク１００に書き込みを行うようになっている。

フォトディテクタ１２は、レーザ１１と同様の材料系で構成された受光素子１２Ａ〜１２Ｄを有している。このフォトディテクタ１２は、光ディスク１００に照射されたレーザ光の反射光を受光素子１２Ａ〜１２Ｄで４分割して受光して、受光素子１２Ａ〜１２Ｄごとに光電流に変換すると共にこれらの光電流から光電流の大きさに対応した電圧（再生信号１０Ａ〜１０Ｄ）を生成するようになっている。

対物レンズは、ピックアップ１０におけるレーザ光の出力端に設けられており、例えば、二軸機構（図示せず）によってトラッキング方向およびフォーカス方向（光ディスク１００のデータ面に垂直な方向）に可動な状態で保持されている。この二軸機構は、フォーカスドライブ信号３０Ａおよびトラッキングドライブ信号３０Ｂにより駆動されるようになっている。光学系は、対物レンズを介してレーザ光を光ディスク１００のデータ面に照射し、また、反射光をフォトディテクタ１２に導くようになっている。また、ピックアップ１０全体は、例えば、スレッド機構（図示せず）によって光ディスク１００の径方向に可動な状態で保持されている。このスレッド機構は、スレッドドライブ信号３０Ｃにより駆動されるようになっている。

ところで、上記した再生信号１０Ａ〜１０Ｄは、反射光の光強度に対応した信号波形を有している。ここで、反射光の光強度は、レーザ１１から照射されたレーザ光の光強度、および照射面（データ面）の反射率の関数となっている。レーザ光の光強度はレーザドライブ信号３０Ｄのパスル波形に対応しており、照射面の反射率はグルーブ１１４内の凹部１１４Ａおよび凸部１１４Ｂの反射率に対応している。しかし、照射面の反射率の差と比べて、書込レベルおよび読出レベルのそれぞれのレーザ光の光強度の差の方が圧倒的に大きいので、再生信号１０Ａ〜１０Ｄの大きさについては、照射光の光強度の大きさが支配的である。従って、図５（Ａ）〜（Ｃ）に示したように、再生信号（１０Ａ＋１０Ｄ）において、書込レベルのレーザ光がレーザドライブ信号３０Ｄに基づいて照射されることにより凹部１１４Ａが形成された期間の反射光（書込レベルのレーザ光の反射光）に対応した信号波形（書込波形Ｓ１）の振幅レベルは、読出レベルのレーザ光がレーザドライブ信号３０Ｄに基づいて照射されることにより凹部１１４Ａが形成されなかった期間の反射光（読出レベルのレーザ光の反射光）に対応した信号波形（読出波形Ｓ２）の振幅レベルよりも極めて大きくなる。なお、光ディスク１１０に書込レベルのレーザ光を照射し始めた初期の段階では、記録層１１１から熱が直ちに発生せず、グルーブ１１４内に直ちに凹部１１４Ａが形成されないので、光ディスク１００の反射率は凸部１１４Ｂと同様に高く、グルーブ１１４内に凹部１１４Ａが形成されるにつれて、光ディスク１００の反射率が徐々に低下していく傾向にある。そのため、再生信号（１０Ａ＋１０Ｄ），（１０Ｂ＋１０Ｃ）の書込波形Ｓ１は、図５（Ｃ）に示したように、振幅レベルが最初は大きく、徐々に低下していく波形になる。

なお、図５（Ｃ）に例示したように、ランドプリピット１１７に対応して発生している鋭いパルス状の波形Ｐ１は、上記したグルーブ１１４の物理アドレスを得るためのものである。ここで、波形Ｐ１は、書込波形Ｓ１に含まれる場合もあるし、読出波形Ｓ２に含まれる場合もあるが、書込波形Ｓ１に含まれる場合には、書込レベルのレーザ光がランドプリピット１１７に照射されることにより生じたことになるので、そのときの波形Ｐ１の振幅は極めて高い。一方、波形Ｐ１が読出波形Ｓ２に含まれる場合には、読出レベルのレーザ光がランドプリピット１１７に照射されることにより生じたことになるので、そのときの波形Ｐ１の振幅は書込波形Ｓ１に含まれる場合と比べて極めて低い。このように、再生信号（１０Ａ＋１０Ｄ）に含まれる波形Ｐ１の振幅には大きなバラツキがあるので、後述するように、再生信号（１０Ａ＋１０Ｄ）から再生信号（１０Ｂ＋１０Ｃ））を減算してプッシュプル信号２０Ｄを得た場合に、そのプッシュプル信号２０Ｄを単純に所定の振幅レベルで２値化しても波形Ｐ１を抽出することはできない。そこで、所定の振幅レベルで２値化することにより波形Ｐ１を抽出することができるようにするために、再生信号 （１０Ａ＋１０Ｄ），（１０Ｂ＋１０Ｃ）の波形をそれぞれ適切に調整することが必要となる。

信号処理部１１は、プッシュプル信号２０Ｄを所定の振幅レベルで２値化することにより波形Ｐ１を抽出することができるようにするために、再生信号（１０Ａ＋１０Ｄ），（１０Ｂ＋１０Ｃ）のそれぞれの波形を適切に調整するためのものであり、例えば、減衰器２１、増幅器２２、ローパスフィルタ２３、利得調整器２４およびスイッチＳＷからなるモジュールを２つ並列に有している。これら２つのモジュールの前段にフォトディテクタ１２が、２つのモジュールの後段に演算器２５がそれぞれ接続されている。

それぞれのモジュールにおいて、減衰器２１および増幅器２２のそれぞれの入力端が互いに接続され、それぞれの出力端がスイッチＳＷの２つの入力端に別個に接続されている。スイッチＳＷの出力端はローパスフィルタ２３の入力端に接続され、ローパスフィルタ２３の出力端は利得調整器２４の入力端に接続されている。それぞれのモジュールの演算器２５の出力端子は、演算器２５の２つの入力端子に別個に接続されている。また、一方のモジュールにおける、減衰器２１および増幅器２２のそれぞれの入力端は、フォトディテクタ１２の受光素子１２Ａ，１２Ｄに接続されており、他方のモジュールにおける、減衰器２１および増幅器２２のそれぞれの入力端は、フォトディテクタ１２の受光素子１２Ｂ，１２Ｃに接続されている。

ここで、スイッチＳＷは、例えば半導体スイッチからなり、減衰器２１および増幅器２２のいずれか一方の出力を、切換信号３０Ｇに基づいて時分割的に選択してローパスフィルタ２３に入力するようになっている。具体的には、スイッチＳＷは、書込波形Ｓ１が減衰器２１に入力される期間およびその前後のわずかな期間の間、減衰器２１側からの出力をローパスフィルタ２３に入力し、それ以外の期間の間、すなわち、読出波形Ｓ２のうち書込波形Ｓ１の近傍の波形を除く部分の波形が増幅器２２に入力される期間の間、増幅器２２側からの出力をローパスフィルタ２３に入力するようになっている。すなわち、減衰器２１で減衰された信号波形と増幅器２２で増幅された信号波形とを時間的に交互に結合してなるスイッチ出力２３Ａをローパスフィルタ２３に入力するようになっている。なお、可能であれば、書込波形Ｓ１が減衰器２１に入力される期間の間だけ減衰器２１側からの出力をローパスフィルタ２３に入力し、読出波形Ｓ２が増幅器２２に入力される期間の間だけ増幅器２２側からの出力をローパスフィルタ２３に入力するようにしてもよい。

減衰器２１は、例えば、減衰レベルが１，２，３，４の合計４種類のアッテネータを含んで構成され、フォトディテクタ１２からの再生信号（１０Ａ＋１０Ｄ），（１０Ｂ＋１０Ｃ）の書込波形Ｓ１を、減衰量制御信号３０Ｆ（後述）に基づいて選択された一のアッテネータにより減衰するようになっている（図６（Ａ），図６（Ｃ）〜（Ｆ）参照）。

増幅器２２は、例えば、増幅量が一定のアンプにより構成され、再生信号（１０Ａ＋１０Ｄ），（１０Ｂ＋１０Ｃ）の読出波形Ｓ２を、一定の増幅量で増幅するようになっている（図６（Ａ），図６（Ｃ）〜（Ｆ）参照）。

なお、図６（Ｃ）は、減衰レベルが１のアッテネータを用いた場合のスイッチ出力２３Ａの波形を示しており、減衰器２１によって減衰された書込波形Ｓ１の振幅レベルが増幅器２２によって増幅された読出波形Ｓ２の振幅レベルよりもかなり大きくなっている。図６（Ｄ）は、減衰レベルが２のアッテネータを用いた場合のスイッチ出力２３Ａの波形を示しており、減衰器２１によって減衰された書込波形Ｓ１の振幅レベルが増幅器２２によって増幅された読出波形Ｓ２の振幅レベルよりも少し大きくなっている。図６（Ｅ）は、減衰レベルが３のアッテネータを用いた場合のスイッチ出力２３Ａの波形を示しており、減衰器２１によって減衰された書込波形Ｓ１の振幅レベルが増幅器２２によって増幅された読出波形Ｓ２の振幅レベルとほぼ等しくなっている。図６（Ｆ）は、減衰レベルが４のアッテネータを用いた場合のスイッチ出力２３Ａの波形を示しており、減衰器２１によって減衰された書込波形Ｓ１の振幅レベルが増幅器２２によって増幅された読出波形Ｓ２の振幅レベルよりも少し小さくなっている。

ローパスフィルタ２３は、スイッチＳＷの出力（スイッチ出力２３Ａ，２３Ｃ）に含まれる高周波成分を減衰させると共に低周波成分を透過させる機能を、オンオフ信号３０Ｈに基づいてオンオフすることの可能な回路からなる。具体的には、オンオフ信号３０Ｈがオンのとき、ローパスフィルタ２３は、スイッチ出力２３Ａ，２３Ｃのうち、光ディスク１１０に書込レベルのレーザ光を照射し始めた時の反射光に対応する信号波形に含まれる高周波成分と、波形Ｐ１に含まれる高周波成分とを共に減衰させるようになっている（図７（Ａ）〜（Ｄ）参照）。一方、オンオフ信号３０Ｈがオフのとき、ローパスフィルタ２３は、スイッチ出力２３Ａ，２３Ｃを減衰させることなく透過するようになっている。このように、ローパスフィルタ２３はオンオフ信号３０Ｈがオンのときに、波形Ｐ１に含まれる高周波成分をも減衰させるようになっているので、減衰器２１の減衰レベルを調整する場合にだけローパスフィルタ２３の機能をオンし、後述するように、演算器２５においてプッシュプル信号２０Ｄから波形Ｐ１を抽出する場合にはローパスフィルタ２３の機能をオフすることが必要となる。

利得調整器２４は、例えば、ＡＧＣ（Auto Gain Controller）により構成され、ローパスフィルタ２３の出力（フィルタ出力２３Ｂ，２３Ｄ：処理後再生信号）が後段の演算器２５にとって最適な振幅レベル（例えば図７（Ａ）〜（Ｄ）に示した利得調整レベルＧ）となるように、その振幅レベルを最適なレベルまで増幅するようになっている。この利得調整器２４では、利得調整器２４に入力されたフィルタ出力２３Ｂ，２３Ｄの振幅レベルが最適な振幅レベルから遠ければ遠い程、増幅量ΔＧが大きくなり、逆に、利得調整器２４に入力されたフィルタ出力２３Ｂ，２３Ｄの振幅レベルが最適な振幅レベル近ければ近い程、増幅量ΔＧが小さくなる。従って、例えば図７（Ａ）〜（Ｄ）に例示したフィルタ出力２３Ｂでは、図７（Ａ）のフィルタ出力２３Ｂはわずかな増幅量（ΔＧ１）で、図７（Ｂ）のフィルタ出力２３ＢはΔＧ１よりも少し大きな増幅量（ΔＧ２）で、図７（Ｃ）のフィルタ出力２３ＢはΔＧ２よりも少し大きな増幅量（ΔＧ３）で、それぞれ最適なレベルにまで増幅することができる。ところが、図７（Ｄ）のフィルタ出力２３Ｂは、上記したΔＧ３とほぼ等しい増幅量（ΔＧ４）で最適なレベルにまで増幅することができる。つまり、減衰器２１によって減衰された書込波形Ｓ１の振幅レベルが増幅器２２によって増幅された読出波形Ｓ２の振幅レベルにほぼ等しいか、それよりも小さいときは、利得調整器２４における増幅量ΔＧが飽和することがわかる（図８参照）。

演算器２５は、一方のモジュールの利得調整器２４からの出力（調整出力２４）および他方のモジュールの利得調整器２４からの出力（調整出力２４Ｂ）から、記録データに相当するＲＦ信号２０Ａと、対物レンズを移動させる二軸機構の制御のためのフォーカスエラー信号２０Ｂおよびトラッキングエラー信号２０Ｃと、グルーブ１１４の蛇行パターンおよびマーカについての情報を含むプッシュプル信号２０Ｄとを生成するようになっている。

制御部３０は、例えばＤＳＰ（Digital Signal Processor）などにより構成され、演算器２５や他のルートからの種々の信号に対してそれぞれに適した処理を行うようになっている。具体的には、この制御部３０は、演算器２５からのＲＦ信号２０Ａを処理して光ディスク１００に記録された記録データを生成したり、演算器２５からのフォーカスエラー信号２０Ｂおよびトラッキングエラー信号２０Ｃを処理して、ピックアップ１０内の二軸機構を制御するためのフォーカスドライブ信号３０Ａおよびトラッキングドライブ信号３０Ｂや、スレッド機構を制御するためのスレッドドライブ信号３０Ｃを生成するようになっている。また、この制御部３０は、演算器２５からのプッシュプル信号２０Ｄを処理して、線速度および物理アドレス情報を生成すると共に、これらの情報からスピンドルモータ４０を制御するためのスピンドルドライブ信号３０Ｅを生成するようになっている。さらに、制御部３０は、他のルートからの記録データに基づいてレーザドライブ信号３０Ｄを生成するようになっている。

スピンドルモータ４０は、スピンドルドライブ信号３０Ｅに基づいて光ディスクを回転駆動させるためのものである。

以下、本実施の形態の光ディスクドライブ装置の書込み時の動作について説明する。なお、以下では、図４（Ｂ）の光ディスク１００に対して書き込む場合について説明するが、図４（Ａ）の光ディスク１００に対しても同様にして書き込みが可能である。

まず、記録データを光ディスク１００に書き込む前に、減衰器２１の減衰量を設定する。具体的には、制御部３０は、まず、テスト用のレーザドライブ信号３０Ｄを生成して、レーザ１１に出力する( 図５（Ａ）参照) 。すると、レーザ１１は、制御部３０からのテスト用のレーザドライブ信号３０Ｄに基づいて発光駆動されて、読出レベルよりも数倍強力な書込レベルのレーザ光と、読出レベルのレーザ光とが交互に切り換えられて、基板１１０側からテスト用のグルーブ１１４に照射される。これにより、記録層１１１に含まれる有機色素にレーザ光が吸収されて局所的な発熱が生じ、その発熱により基板１１０が変形して、その結果、グルーブ１１４内に凹部１１４Ａおよび凸部１１４Ｂが形成される( 図５（Ｂ）参照) 。このようにして、光ディスク１００にテスト用の記録データの書き込みが行われる。

このとき、反射光はフォトディテクタ１２に吸収され、再生信号（１０Ａ＋１０Ｄ），（１０Ｂ＋１０Ｃ）に変換される( 図５（Ｃ）参照) 。

次に、切替信号３０Ｇに基づくスイッチＳＷのスイッチング動作によって、再生信号（１０Ａ＋１０Ｄ），（１０Ｂ＋１０Ｃ）の経路が時分割的に切り替えられる( 図６（Ａ），（Ｂ）参照) 。具体的には、書込波形Ｓ１に対応する期間およびその前後のわずかな期間は減衰器２１側の経路が選択され、それ以外の期間、すなわち、読出波形Ｓ２のうち書込波形Ｓ１に隣接する部分の波形を除く部分の波形に対応する期間は増幅器２２側の経路が選択される。このとき、減衰器２１は、減衰量制御信号３０Ｆによって減衰量の最も小さなアッテネータ（減衰レベル＝１）から、減衰量の大きなアッテネータ（減衰レベル＝２，３，４）へと、書込波形Ｓ１ごとに徐々に切り替えられるので、書込波形Ｓ１，および読出波形Ｓ２のうち書込波形Ｓ１に隣接する部分の波形が減衰器２１によって各減衰レベルに対応した減衰量だけ減衰され、他方、読出波形Ｓ２のうち書込波形Ｓ１に隣接する部分の波形を除く部分の波形が増幅器２２によって一定量だけ増幅される( 図６（Ｃ）〜（Ｆ）参照) 。

続いて、スイッチ出力２３Ａ，２３Ｃはローパスフィルタ２３で高周波成分が減衰されたのち、利得調整器２４によって利得調整レベルＧまで増幅される（図６（Ｃ）〜（Ｆ），図７（Ａ）〜（Ｄ）参照）。このとき、演算器２５は、調整出力２４Ａ，２４Ｂに基づいて、フィルタ出力２３Ｂ，２３Ｄを利得調整レベルＧにまで増幅するのに要した増幅量ΔＧが飽和し始めたときの減衰量（下限減衰量）と、飽和しきったときの減衰量（上限減衰量）とを算出すると共に、下限減衰量から上限減衰量までの間の一の減衰量（例えば減衰レベル３のときの減衰量）となるような減衰量制御信号３０Ｆを生成して、その減衰量制御信号３０Ｆを減衰器２１に入力する。すると、減衰器２１のアッテネータは減衰レベル３のアッテネータに固定される。

ここで、「飽和し始めたとき」とは、図８において、減衰レベルを徐々に大きくしていったときに、減衰レベルと増幅量ΔＧとの正比例関係が崩れ始めたとき（図８の減衰レベル２のとき）のことであり、「飽和しきったとき」とは、図８において、減衰レベルを徐々に大きくしていったときに、増幅量ΔＧがほとんど変化しなくなったとき（図８の減衰レベル４のとき）のことである。

次に、減衰器２１のアッテネータを減衰レベル３のアッテネータに固定すると共に、ローパスフィルタ２３の機能をオフした状態で、実際の記録データを光ディスク１００に書き込む。具体的には、制御部３０は、まず、記録データに対応したレーザドライブ信号３０Ｄを生成して、レーザ１１に出力する( 図９（Ａ）参照) 。すると、レーザ１１は、制御部３０からのレーザドライブ信号３０Ｄに基づいて発光駆動されて、読出レベルよりも数倍強力な書込レベルのレーザ光と、読出レベルのレーザ光とが交互に切り換えられて、基板１１０側から記録用のグルーブ１１４に照射されるので、記録層１１１に含まれる有機色素にレーザ光が吸収されて局所的な発熱が生じ、その発熱により基板１１０が変形して、その結果、グルーブ１１４内に凹部１１４Ａおよび凸部１１４Ｂが形成される( 図９（Ｂ）参照) 。このようにして、光ディスク１００に実際の記録データの書き込みが行われる。

このとき、光ディスク１００の所定の領域に記録データが正確に書き込まれているか否かをリアルタイムに検出する。具体的には、まず、反射光はフォトディテクタ１２に吸収され、再生信号（１０Ａ＋１０Ｄ），（１０Ｂ＋１０Ｃ）に変換される（( 図９（Ｃ）) 参照）。

次に、切替信号３０Ｇに基づくスイッチＳＷのスイッチング動作によって、再生信号（１０Ａ＋１０Ｄ），（１０Ｂ＋１０Ｃ）の経路が時分割的に切り替えられる( 図９（Ｄ）参照) 。具体的には、書込波形Ｓ１に対応する期間およびその前後のわずかな期間は減衰器２１側の経路が選択され、それ以外の期間、すなわち、読出波形Ｓ２のうち書込波形Ｓ１に隣接する部分の波形を除く部分の波形に対応する期間は増幅器２２側の経路が選択される。このとき、減衰器２１は減衰レベル３のアッテネータに固定されているので、書込波形Ｓ１および読出波形Ｓ２のうち書込波形Ｓ１に隣接する部分の波形は、その減衰レベル３のアッテネータによって減衰され、他方、読出波形Ｓ２のうち書込波形Ｓ１に隣接する部分の波形を除く部分の波形が増幅器２２によって一定量だけ増幅される( 図９（Ｅ）参照) 。その結果、減衰器２１によって減衰された書込波形Ｓ１の振幅レベルが増幅器２２によって増幅された読出波形Ｓ２の振幅レベルとほぼ等しくなる。

続いて、スイッチ出力２３Ａ，２３Ｃは、オフ状態のローパスフィルタ２３を透過して、フィルタ出力２３Ｂ，２３Ｄとして、利得調整器２４に入力される( 図９（Ｆ）参照) 。フィルタ出力２３Ｂ，２３Ｄは、利得調整器２４によって利得調整レベルＧまで増幅され( 図９（Ｇ）参照) 、増幅された調整出力２４Ａ，２４Ｂが演算器２５に入力される。

次に、演算器２５は、調整出力２４Ａ，２４Ｂに基づいて、ＲＦ信号２０Ａ、フォーカスエラー信号２０Ｂ、トラッキングエラー信号２０Ｃおよびプッシュプル信号２０Ｄを生成して、これらを制御部３０へ出力する。

制御部３０は、演算器２５からのＲＦ信号２０Ａを処理して、光ディスク１００に記録された記録データを生成し、演算器２５からのフォーカスエラー信号２０Ｂおよびトラッキングエラー信号２０Ｃを処理して、フォーカスドライブ信号３０Ａ、トラッキングドライブ信号３０Ｂおよびスレッドドライブ信号３０Ｃを生成する。

さらに、制御部３０は、プッシュプル信号２０Ｄを処理して、線速度および物理アドレス情報を生成すると共に、これらの情報からスピンドルモータ４０を制御するためのスピンドルドライブ信号３０Ｅを生成する。具体的には、プッシュプル信号２０Ｄの基本周波数を検出して、その基本周波数に基づいて線速度を算出する。また、プッシュプル信号２０Ｄを所定の振幅レベル（例えば、図９（Ｇ）のスライスレベルＳ）で２値化することにより波形Ｐ１を抽出したのち、波形Ｐ１から所定のアルゴリズムに基づいて物理アドレス情報を算出する。

以上より、本実施の形態では、減衰器２１において、フォトディテクタ１２から出力される再生信号（１０Ａ＋１０Ｄ），（１０Ｂ＋１０Ｃ）のうち、書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形Ｓ１の振幅レベルを減衰させる際に、減衰量を設定するために用いる減衰量制御信号３０Ｆとして、減衰器２１の減衰量を徐々に大きくしていったときに、フィルタ出力２３Ｂ，２３Ｄを利得調整レベルＧにまで増幅するのに必要な増幅量が飽和し始めたときの下限減衰量から、飽和しきったときの上限減衰量までの間の一の減衰量となるような制御信号を用いるようにしたので、書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形Ｓ１を最適なレベルに減衰させることができる。このように、書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形Ｓ１の振幅レベルの最適な減衰量を容易に選択することができ、その結果、グルーブ１１４内の物理アドレス情報を安定して的確に検出することが可能となる。

また、書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形Ｓ１を減衰させる際に、読出レベルのレーザ光の反射光に対応する読出波形Ｓ２を増幅することにより、スイッチ出力２３Ａ，２３Ｃの信号レベルをノイズレベルから遠ざけることが可能となる。これにより、グルーブ１１４内の物理アドレス情報をより一層安定して的確に検出することが可能となる。

以上、実施の形態を挙げて本発明を説明したが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、種々変形が可能である。

例えば、上記実施の形態では、ローパスフィルタ２３と、利得調整器２４とを別個に設けていたが、これらの機能を内蔵した１つの回路部品を用いてもよい。

また、上記実施の形態では、増幅器２２を減衰器２１に並列に設けていたが、ノイズレベルが読出波形の振幅レベルよりも十分低い場合には、増幅器２２をなくして、増幅のない配線を減衰器２１に並列に設けるようにしてもよい。

また、上記実施の形態では、フォトディテクタ１２の出力（再生信号）を、１０Ａ＋１０Ｄ、１０Ｂ＋１０Ｃと合成した上で減衰器２１や増幅器２２に入力するようにしていたが、図１０に示したように、１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃおよび１０Ｄをそれぞれ別個に減衰器２１や増幅器２２に入力するようにしてもよい。

本発明の一実施の形態に係る光ディスクドライブ装置の機能ブロック図である。 図１のフォトディテクタおよび信号処理部の内部構成図である。 光ディスクのトラッキング方向および径方向の断面図である。 光ディスクの平面構成図である。 光ディスクドライブ装置の動作を説明するための波形図である。 図５に続く動作を説明するための波形図である。 図６に続く動作を説明するための波形図である。 減衰レベルと増幅量との関係を説明するための関係図である。 図７に続く動作を説明するための波形図である。 変形例に係る光ディスクドライブ装置の機能ブロック図である。

符号の説明

１０…ピックアップ、１０Ａ〜１０Ｄ…再生信号、１１…レーザ、１２…フォトディテクタ、１２Ａ〜１２Ｄ…受光素子、２０…信号処理部、２０Ａ…ＲＦ信号、２０Ｂ…フォーカスエラー信号、２０Ｃ…トラッキングエラー信号、２０Ｄ…プッシュプル信号、２１…減衰器、２２…増幅器、２３…ローパスフィルタ、２３Ａ，２３Ｃ…スイッチ出力、２３Ｂ，２３Ｄ…フィルタ出力、２４…利得調整器、２４Ａ，２４Ｃ…調整出力、２５…演算器、３０…制御部、３０Ａ…フォーカスドライブ信号、３０Ｂ…トラッキングドライブ信号、３０Ｃ…スレッドドライブ信号、３０Ｄ…レーザドライブ信号、３０Ｅ…スピンドルモータドライブ信号、３０Ｆ…減衰量制御信号、３０Ｇ…切換信号、３０Ｈ…オンオフ信号、４０…スピンドルモータ、１００…光ディスク、１１０…基板、１１１…記録層、１１２…反射層、１１３…保護層、１１４…グルーブ、１１４Ａ…凹部、１１４Ｂ…凸部、１１５…ランド、１１６…ＦＭ変調部、１１７…ランドプリピット、Ｓ１…書込波形、Ｓ２…読出波形。

Claims (6)

1. 蛇行パターンからなるグルーブ、および前記グルーブ内の物理的な位置を示す複数のマーカを有する光ディスクに対して、書込レベルのレーザ光および読出レベルのレーザ光を交互に切り換えて照射する光照射部と、
   前記光ディスクに照射されたレーザ光の反射光を受光して再生信号に変換する受光部と、
   前記再生信号のうち前記書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形の振幅レベルを、減衰量制御信号に基づいて減衰させる書込波形減衰部と、
   前記書込波形が減衰された再生信号の高周波成分を減衰させる高周波減衰部と、
   前記高周波成分が減衰された再生信号の振幅レベルを所定のレベルにまで増幅する増幅部と、
   前記書込波形減衰部の減衰量を徐々に大きくしていったときに前記増幅部の増幅量が飽和し始めたときの減衰量から飽和しきったときの減衰量までの間の一の減衰量となるような減衰量制御信号を生成する減衰量制御信号生成部と
   を備えたことを特徴とする減衰量調整回路。
2. 前記再生信号のうち前記読出レベルのレーザ光の反射光に対応する読出波形の振幅レベルを増幅させる読出波形増幅部をさらに備える
   ことを特徴とする請求項１に記載の減衰量調整回路。
3. 前記高周波減衰部は、前記受光部によって前記レーザ光の反射光から変換された再生信号に含まれる書込波形の高周波成分を減衰させる
   ことを特徴とする請求項１に記載の減衰量調整回路。
4. 減衰量調整回路およびアドレス情報検出回路を備えた光ディスクドライブ装置であって、
   前記減衰量調整回路は、
   蛇行パターンからなるグルーブ、および前記グルーブ内の物理的な位置を示す複数のマーカを有する光ディスクに対して、書込レベルのレーザ光および読出レベルのレーザ光を交互に切り換えて照射する光照射部と、
   前記光ディスクに照射されたレーザ光の反射光を受光して再生信号に変換する受光部と、
   前記再生信号のうち前記書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形の振幅レベルを、減衰量制御信号に基づいて減衰させる書込波形減衰部と、
   前記書込波形が減衰された再生信号の高周波成分を減衰させる高周波減衰部と、
   前記高周波成分が減衰された再生信号の振幅レベルを所定のレベルにまで増幅する増幅部と、
   前記書込波形減衰部の減衰量を徐々に大きくしていったときに前記増幅部の増幅量が飽和し始めたときの減衰量から飽和しきったときの減衰量までの間の一の減衰量となるような減衰量制御信号を生成する減衰量制御信号生成部と
   を有し、
   前記アドレス情報検出回路は、
   前記増幅部によって増幅された再生信号から前記マーカに対応した信号成分を抽出して、前記グルーブ内の物理アドレス情報を得るアドレス情報取得部と、
   前記アドレス情報取得部において前記マーカに対応した信号成分を抽出する際に、前記高周波減衰部の機能をオンオフするための駆動制御信号を生成する駆動制御信号生成部と
   を有する
   ことを特徴とする光ディスクドライブ装置。
5. 蛇行パターンからなるグルーブ、および前記グルーブ内の物理的な位置を示す複数のマーカを有する光ディスクを回転駆動させるステップと、
   前記回転する光ディスクに対して、書込レベルのレーザ光および読出レベルのレーザ光を交互に切り換えて照射するステップと、
   前記光ディスクに照射されたレーザ光の反射光を受光して再生信号に変換するステップと、
   前記再生信号のうち前記書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形の振幅レベルを、減衰量を前記書込波形ごとに徐々に増やしながら減衰させるステップと、
   前記書込波形の振幅レベルが前記書込波形ごとに徐々に小さくなる再生信号の高周波成分を減衰させるステップと、
   前記高周波成分が減衰された再生信号の振幅レベルを所定のレベルにまで増幅するステップと、
   前記高周波成分が減衰された再生信号に対する増幅量が飽和し始めたときの、前記高周波成分が減衰される前の減衰量と、飽和しきったときの、前記高周波成分が減衰される前の減衰量とを求めるステップと
   を含むことを特徴とする減衰量調整方法。
6. 蛇行パターンからなるグルーブ、および前記グルーブ内の物理的な位置を示す複数のマーカを有する光ディスクを回転駆動させるステップと、
   前記回転する光ディスクに対して、書込レベルのレーザ光および読出レベルのレーザ光を交互に切り換えて照射するステップと、
   前記光ディスクに照射されたレーザ光の反射光を受光して再生信号に変換するステップと、
   前記再生信号のうち前記書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形の振幅レベルを、減衰量を前記書込波形ごとに徐々に増やしながら減衰させるステップと、
   前記書込波形の振幅レベルが前記書込波形ごとに徐々に小さくなる再生信号の高周波成分を減衰させるステップと、
   前記高周波成分が減衰された再生信号の振幅レベルを所定のレベルにまで増幅するステップと、
   前記高周波成分が減衰された再生信号に対する増幅量が飽和し始めたときの、前記高周波成分が減衰される前の減衰量と、飽和しきったときの、前記高周波成分が減衰される前の減衰量とを求めるステップと、
   前記反射光から変換された再生信号のうち前記書込レベルのレーザ光の反射光に対応する書込波形の振幅レベルを、上記ステップで求めた減衰量の上限および下限の範囲内の一の減衰量で減衰させるステップと、
   前記一の減衰量で減衰された再生信号の振幅レベルを所定のレベルにまで増幅するステップと、
   前記一の減衰量で減衰されたのちに増幅された再生信号から前記マーカに対応した信号成分を抽出して、前記グルーブ内の物理アドレス情報を得るステップと
   を含むことを特徴とするアドレス情報取得方法。
   

Images