JP2007219354A - Electro-optical device and its driving method, and electronic equipment - Google Patents

Electro-optical device and its driving method, and electronic equipment Download PDF

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JP2007219354A JP2006042018A JP2006042018A JP2007219354A JP 2007219354 A JP2007219354 A JP 2007219354A JP 2006042018 A JP2006042018 A JP 2006042018A JP 2006042018 A JP2006042018 A JP 2006042018A JP 2007219354 A JP2007219354 A JP 2007219354A
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Hiroaki Mochizuki
宏明 望月
Kazuya Nakayama
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To inspect pixels of an electro-optical device such as a liquid crystal device without increasing the device size and to supply a precharge signal to data lines during normal display. <P>SOLUTION: The electro-optical device has scanning lines 11 and data lines 3, pixel parts 70 which are supplied with an image signal inverted in polarity in every horizontal scanning period, and a reference signal line ref which supplies a signal having the same polarity as the image signal as a precharging reference potential between high-potential power VDD and low-potential power VSS. Further, the electro-optical device is equipped with a differential amplifying circuit 4a which inputs the potential of the reference signal line ref as a node (so) and the potential of the data line 3 at a node (se), compares the potential of the node (so) with the potential of the node (se), and outputs the low-potential power VSS from the node (se) to the data line 3 in a horizontal blanking period when the potential of the node (se) is lower than the potential of the node (so) and the high-potential power VDD when the potential of the node (se) is higher than the potential of the node (so). <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、例えば液晶表示装置等の電気光学装置及びその駆動方法並びに電子機器の技術分野に関する。   The present invention relates to a technical field of an electro-optical device such as a liquid crystal display device, a driving method thereof, and an electronic apparatus.

この種の電気光学装置の一例である液晶装置は、薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor;以下「TFT」と称す。)が形成されたTFTアレイ基板を検査する工程と、TFTアレイ基板及び液晶を制御するための対向電極が形成された対向基板間に液晶を封入する工程とを経て形成される。TFTアレイ基板に形成されたTFTの不具合が、TFTアレイ基板を検査する工程で検出されずに、完成品である液晶装置で不具合が検出された場合には、TFTアレイ基板を形成した後の工程が無駄な工程となってしまい、液晶装置を製造する際の歩留まりの低下及びコストの増大を招く問題点がある。   A liquid crystal device, which is an example of this type of electro-optical device, includes a step of inspecting a TFT array substrate on which a thin film transistor (hereinafter referred to as “TFT”) is formed, and for controlling the TFT array substrate and the liquid crystal. And a step of sealing liquid crystal between the opposing substrates on which the opposing electrodes are formed. If defects in the TFT formed on the TFT array substrate are not detected in the process of inspecting the TFT array substrate, but are detected in the finished liquid crystal device, the process after forming the TFT array substrate However, this is a useless process, and there is a problem in that the yield and cost of the liquid crystal device are reduced.

このような問題点を解決する手段の一つとして、例えば特許文献1は、画素アレイ内においてコンパレータに電気的に接続された2本のデータ線及び走査線の全ての交差に対応して画素部が配置されており、TFTアレイ基板を形成した段階で2つの画素部に供給された電位情報を比較することによって画素部に不良が生じているか否かを検査する技術を開示している。   As one means for solving such a problem, for example, Patent Document 1 discloses a pixel unit corresponding to all intersections of two data lines and scanning lines electrically connected to a comparator in a pixel array. Is disclosed, and a technique for inspecting whether or not a defect occurs in the pixel portion by comparing potential information supplied to the two pixel portions at the stage of forming the TFT array substrate is disclosed.

他方、液晶装置の駆動方式には、液晶の焼付きや劣化を防ぐため、画像信号の極性を所定周期毎に反転させるライン反転、フレーム反転等の反転駆動方式が採用されている。このような反転駆動方式において、画像信号の極性を反転する際には、供給しようとする画像信号と常に反対極性の電位にあるデータ線を介して画像信号を書き込むのでは、大きな書き込み能力が必要となるため、例えば水平帰線期間中など、画像信号の供給に先行して所定電位のプリチャージ信号を、データ線に書き込むプリチャージが行われるのが一般的である。   On the other hand, in order to prevent liquid crystal burn-in and deterioration, a driving method for the liquid crystal device employs an inversion driving method such as line inversion or frame inversion that inverts the polarity of an image signal every predetermined period. In such an inversion driving method, when inverting the polarity of an image signal, writing the image signal through a data line that is always at the opposite polarity to the image signal to be supplied requires a large writing capability. Therefore, for example, during a horizontal blanking period, it is common to perform precharge in which a precharge signal having a predetermined potential is written to a data line prior to supply of an image signal.

特開2004―226551号公報JP 2004-226551 A

しかしながら、特許文献1に開示された技術では、基板上に、検査用のコンパレータに加えて、通常表示時にデータ線をプリチャージするためのプリチャージ回路を設けるのは、電気光学装置の小型化という観点から困難であるという問題点がある。更に、仮にコンパレータとは別にプリチャージ回路を設けた場合には、プリチャージ回路がコンパレータの近傍でデータ線と電気的に接続されることによって、微小な電位差を検出するコンパレータによる検査に悪影響を及ぼしてしまうという問題点もある。   However, in the technique disclosed in Patent Document 1, providing a precharge circuit for precharging data lines during normal display on the substrate in addition to the inspection comparator is a reduction in the size of the electro-optical device. There is a problem that it is difficult from the viewpoint. Furthermore, if a precharge circuit is provided separately from the comparator, the precharge circuit is electrically connected to the data line in the vicinity of the comparator, thereby adversely affecting the inspection by the comparator that detects a minute potential difference. There is also a problem that it ends up.

本発明は、例えば上述した問題点に鑑みなされたものであり、例えば、液晶装置等の電気光学装置のサイズを増大させることなく、画素部の検査を実行でき、且つ、通常表示時にデータ線にプリチャージ信号を供給できる電気光学装置及びその駆動方法、並びにこのような電気光学装置を具備してなる電子機器を提供することを課題とする。   The present invention has been made in view of, for example, the above-described problems. For example, the pixel portion can be inspected without increasing the size of an electro-optical device such as a liquid crystal device, and the data line is displayed during normal display. It is an object of the present invention to provide an electro-optical device that can supply a precharge signal, a driving method thereof, and an electronic apparatus including such an electro-optical device.

本発明の電気光学装置は上記課題を解決するために、基板上に、互いに交差する複数の走査線及び複数のデータ線と、前記複数の走査線及び前記複数のデータ線の交差に対応して配置されると共に、所定周期で電位が所定電位に対して高位側の正極性と低位側の負極性とで極性反転する画像信号が、前記データ線を介して供給される複数の画素部と、前記所定電位よりも高い電位を有する高電位基準信号及び低い電位を有する低電位基準信号のうち、前記所定電位に対して前記画像信号と同じ極性の信号を基準信号として供給する基準信号線と、第1ノードに前記基準信号線の電位が入力されると共に第2ノードに前記データ線の電位が入力され、前記第1ノードの電位と前記第2ノードの電位とを比較して、前記第2ノードの電位が前記第1ノードの電位より低い場合には、前記所定電位より低い電位を有する低電位信号を、前記第2ノードの電位が前記第1ノードの電位より高い場合には、前記所定電位より高い電位を有する高電位信号を、前記第2ノードから前記データ線に、前記データ線への前記画像信号の供給に先行する期間において出力する差動増幅回路とを備える。   In order to solve the above problem, an electro-optical device according to an aspect of the invention corresponds to a plurality of scanning lines and a plurality of data lines intersecting each other on a substrate, and corresponding to the intersection of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines. A plurality of pixel units that are arranged and supplied with an image signal whose polarity is inverted between a positive polarity on the higher side and a negative polarity on the lower side with respect to the predetermined potential in a predetermined cycle, via the data line; Among the high potential reference signal having a potential higher than the predetermined potential and the low potential reference signal having a low potential, a reference signal line that supplies a signal having the same polarity as the image signal to the predetermined potential as a reference signal; The potential of the reference signal line is input to the first node and the potential of the data line is input to the second node. The potential of the first node and the potential of the second node are compared, and the second node The node potential is A low potential signal having a potential lower than the predetermined potential when the potential is lower than the potential of the node, and a high potential having a potential higher than the predetermined potential when the potential of the second node is higher than the potential of the first node. A differential amplifier circuit that outputs a potential signal from the second node to the data line in a period preceding the supply of the image signal to the data line.

本発明の電気光学装置によれば、その動作時には、例えばデータ線駆動回路により画像信号が、データ線を介して各画素部に供給される。これと共に、走査線線駆動回路により走査線を介して走査信号が各画素部に供給される。画素部毎に設けられた例えば画素スイッチング用トランジスタは、走査線にゲートが接続されており、走査信号に応じて画像信号を画素電極へ選択的に供給する。これらにより、例えば、画素電極及び対向電極間に挟持された、例えば液晶等の電気光学物質を各画素部で制御或いは駆動することで、複数の画素部が例えばマトリックス状に平面配列された表示領域における画像表示が行われる。この際、蓄積容量によって、画素部における電位保持特性が向上し、表示の高コントラスト化が可能となる。尚、画素電極としては、例えば、入射光を透過する透過型の画素電極或いは入射光を反射する反射型又は半透過反射型の画素電極が用いられる。   According to the electro-optical device of the present invention, during the operation, for example, an image signal is supplied to each pixel unit via the data line by the data line driving circuit. At the same time, a scanning signal is supplied to each pixel portion via the scanning line by the scanning line line driving circuit. For example, a pixel switching transistor provided for each pixel portion has a gate connected to the scanning line, and selectively supplies an image signal to the pixel electrode in accordance with the scanning signal. Thus, for example, by controlling or driving an electro-optical material such as liquid crystal sandwiched between the pixel electrode and the counter electrode in each pixel unit, a plurality of pixel units are planarly arranged in a matrix, for example The image is displayed. At this time, the storage capacitor improves the potential holding characteristic in the pixel portion, and the display can have high contrast. For example, a transmissive pixel electrode that transmits incident light or a reflective or transflective pixel electrode that reflects incident light is used as the pixel electrode.

本発明では、画像信号は、例えば1水平走査期間等の所定周期で電位の極性が、例えば共通固定電位或いは接地電位等の所定電位に対して反転する。即ち、走査線の選択順序に応じて、例えばライン反転駆動や部分領域毎に反転駆動される領域反転駆動等が行われる。尚、走査線の選択順序は、任意の順序でよい。   In the present invention, the polarity of the potential of the image signal is inverted with respect to a predetermined potential such as a common fixed potential or a ground potential in a predetermined cycle such as one horizontal scanning period. That is, for example, line inversion driving, area inversion driving for inversion driving for each partial area, or the like is performed according to the selection order of the scanning lines. The scanning line may be selected in any order.

更に、本発明では、基板上に差動増幅回路を備える。差動増幅回路は、電気光学装置の動作時に先立って行われる検査時において、画素部の良否を検査するために用いられる。即ち、電気光学装置の動作時に先立って行われる検査時において、差動増幅回路の第1ノードには、基準信号線を介して例えば検査の基準となる検査用基準電位が供給される。一方、差動増幅回路の第2ノードには、画素部における例えば画素電極に入力された、即ち書き込まれた電位信号が読み出されて供給される。尚、このような検査は、電気光学装置が一対の基板が貼り合わされる前段階で好ましくは実施される。ここで、画素部から読み出される電位信号は、画素部の良否を反映した信号である。より具体的には、画素部には、例えば検査に先立ち予め検査信号が供給されており、画素部の良否に応じて検査信号の電位から変動した電位を有する信号が電位信号として出力される。「画素部の良否」とは、画素部が不具合を有しているか否かを意味し、検査用基準電位及び電位信号の電位の高低関係は、画素部に生じた不具合に応じて異なる。差動増幅回路は、例えば画素部から出力され第2ノードに供給される電位信号が第1ノードに供給される検査用基準電位より僅かに低い電位を有している場合には、検査基準電位よりも第2ノードに供給される電位信号の電位の低いことがデータ線等の配線に印加されるノイズによって不明瞭とならないように、第2ノードに低電位信号を出力する。反対に、例えば画素部から出力され第2ノードに供給される電位信号の電位が第1ノードに供給される検査用基準電位より僅かに高い電位を有している場合には、第2ノードに高電位信号を出力する。このように差動増幅回路から出力された低電位信号又は高電位信号は、上述した画素部の良否を反映した信号である。このような差動増幅回路からの出力に基づいて、例えば、予め画素部に供給された電位信号が検査用基準電位より高い場合に、差動増幅回路から低電位信号が出力されれば第2ノードに電気的に接続されたデータ線に対応する画素部に何らかの不具合が発生している等のように判断される。   Furthermore, in the present invention, a differential amplifier circuit is provided on the substrate. The differential amplifier circuit is used for inspecting the quality of the pixel portion at the time of inspection performed prior to the operation of the electro-optical device. That is, at the time of an inspection performed prior to the operation of the electro-optical device, an inspection reference potential serving as an inspection reference is supplied to the first node of the differential amplifier circuit through the reference signal line. On the other hand, to the second node of the differential amplifier circuit, for example, a potential signal input to, for example, a pixel electrode in the pixel portion is read and supplied. Such inspection is preferably performed before the electro-optical device is bonded to the pair of substrates. Here, the potential signal read from the pixel portion is a signal reflecting the quality of the pixel portion. More specifically, for example, an inspection signal is supplied to the pixel portion in advance prior to the inspection, and a signal having a potential that varies from the potential of the inspection signal according to the quality of the pixel portion is output as a potential signal. “Possibility of the pixel portion” means whether or not the pixel portion has a defect, and the level relationship between the reference potential for inspection and the potential of the potential signal varies depending on the defect that has occurred in the pixel portion. For example, when the potential signal output from the pixel unit and supplied to the second node has a potential slightly lower than the inspection reference potential supplied to the first node, the differential amplifier circuit has an inspection reference potential. The low potential signal is output to the second node so that the low potential of the potential signal supplied to the second node is not obscured by noise applied to the wiring such as the data line. On the other hand, for example, when the potential of the potential signal output from the pixel portion and supplied to the second node has a slightly higher potential than the inspection reference potential supplied to the first node, the second node Outputs a high potential signal. As described above, the low potential signal or the high potential signal output from the differential amplifier circuit is a signal reflecting the quality of the pixel portion described above. Based on the output from such a differential amplifier circuit, for example, if the potential signal supplied in advance to the pixel portion is higher than the inspection reference potential, if the low potential signal is output from the differential amplifier circuit, the second signal is output. It is determined that some defect has occurred in the pixel portion corresponding to the data line electrically connected to the node.

本発明では特に、差動増幅回路は、上述した検査時に検査回路として用いることができるのみならず、電気光学装置の動作時において、データ線にプリチャージ信号を供給するプリチャージ回路として用いることができる。即ち、差動増幅回路の第1ノードに電気的に接続された基準信号線は、所定電位よりも高い電位を有する高電位基準信号及び低い電位を有する低電位基準信号のうち、所定電位に対して画像信号と同じ極性の信号を基準信号として供給する。高電位基準信号及び低電位基準信号としては、例えばデータ線駆動回路或いは走査線線駆動回路等を駆動するための例えば高電位電源及び低電位電源等が用いられる。高電位基準信号の電位は、画像信号の電位のとり得る最大電位よりも高く、低電位基準信号の電位は、画像信号のとり得る最小電位よりも低くなるようにするのが望ましい。例えば、第i番目(但し、iは自然数)の水平走査期間に、画像信号が所定電位よりも低い電位(即ち、負極性の電位)を有している場合おいて、基準信号線は、第i番目の水平走査期間には、画像信号と反対の極性(即ち、正極性)である、即ち所定電位よりも高い高電位基準信号を第1ノードに供給し、第i+1番目の水平走査期間には、極性が反転される画像信号と反対の極性(即ち、負極性)である、即ち所定電位よりも低い低電位基準信号を第1ノードに供給する。他方、第2ノードには、第i+1番目の水平走査期間のうち例えば水平帰線期間等の非表示期間(即ち、正極性の画像信号の供給に先行する期間)においてデータ線から電位信号が供給される。この際、データ線から供給される電位信号は、第i番目の水平走査期間に供給された画像信号と同じ極性(即ち、負極性)を有している。このように第i+1番目の水平帰線期間において、第1ノードには、基準信号線を介して低電位基準信号が供給され、第2ノードには、データ線を介して負極性の電位信号が供給されることになる。そうすると、差動増幅回路は、第2ノードに供給される負極性の電位信号の電位が第1ノードに供給される低電位基準信号の電位よりも高いので、所定電位よりも高い電位を有する高電位信号を、第2ノードを介してデータ線に出力する。即ち、第i+1番目の水平走査期間のうち、正極性の画像信号が供給される期間に先立つ水平帰線期間において、データ線に予め正極性を有する高電位信号が供給される、即ち、データ線がプリチャージされる。   In the present invention, in particular, the differential amplifier circuit can be used not only as the inspection circuit during the above-described inspection but also as a precharge circuit that supplies a precharge signal to the data line during the operation of the electro-optical device. it can. That is, the reference signal line electrically connected to the first node of the differential amplifier circuit has a high potential reference signal having a potential higher than a predetermined potential and a low potential reference signal having a low potential with respect to the predetermined potential. Then, a signal having the same polarity as the image signal is supplied as a reference signal. As the high potential reference signal and the low potential reference signal, for example, a high potential power source and a low potential power source for driving a data line driving circuit, a scanning line driving circuit, or the like are used. It is desirable that the potential of the high potential reference signal is higher than the maximum potential that the image signal can take, and the potential of the low potential reference signal is lower than the minimum potential that the image signal can take. For example, when the image signal has a potential lower than a predetermined potential (that is, a negative potential) during the i-th (where i is a natural number) horizontal scanning period, the reference signal line is In the i-th horizontal scanning period, a high-potential reference signal having a polarity opposite to that of the image signal (that is, positive polarity), that is, higher than a predetermined potential is supplied to the first node, and in the i + 1-th horizontal scanning period. Supplies a low potential reference signal having a polarity opposite to that of the image signal whose polarity is inverted (that is, negative polarity), that is, lower than a predetermined potential, to the first node. On the other hand, the potential signal is supplied from the data line to the second node in the non-display period (that is, the period preceding the supply of the positive image signal) such as the horizontal blanking period in the (i + 1) th horizontal scanning period. Is done. At this time, the potential signal supplied from the data line has the same polarity (that is, negative polarity) as the image signal supplied in the i-th horizontal scanning period. In this way, in the (i + 1) th horizontal blanking period, the low potential reference signal is supplied to the first node via the reference signal line, and the negative potential signal is supplied to the second node via the data line. Will be supplied. Then, the differential amplifier circuit has a high potential that is higher than the predetermined potential because the potential of the negative potential signal supplied to the second node is higher than the potential of the low potential reference signal supplied to the first node. The potential signal is output to the data line via the second node. That is, a high potential signal having positive polarity is supplied to the data line in advance in the horizontal blanking period preceding the period in which the positive polarity image signal is supplied in the (i + 1) th horizontal scanning period. Is precharged.

以上説明したように、本発明の電気光学装置によれば、差動増幅回路によって、データ線をプリチャージできる。即ち、画素部の良否の検査に用いられる差動増幅回路をプリチャージ回路として機能させることができる。言い換えれば、差動増幅回路を、画素部の良否を検査する検査回路及びデータ線をプリチャージするプリチャージ回路の両方として用いる、即ち兼用することができる。よって、検査回路と別にプリチャージ回路を基板上に形成する必要がない。従って、基板サイズを小さくすることができ、電気光学装置の小型化を図ることが可能となる。更に、仮にプリチャージ回路を差動増幅回路とは別に設けた場合と比較して、プリチャージ信号の劣化や遅延が少なくて済む。即ち、仮にプリチャージ回路を別に設けた場合には、プリチャージ信号を供給するためのプリチャージ信号配線を基板上に引き回す必要があり、プリチャージ信号が、プリチャージ信号配線を伝播する間に、プリチャージ信号の劣化や遅延が生じてしまうおそれがある。しかるに本発明によれば、差動増幅回路からの出力がプリチャージ信号として供給されるので、プリチャージ信号の劣化や遅延は殆ど或いは全く発生しない。   As described above, according to the electro-optical device of the present invention, the data line can be precharged by the differential amplifier circuit. That is, a differential amplifier circuit used for checking the quality of the pixel portion can function as a precharge circuit. In other words, the differential amplifier circuit can be used as both an inspection circuit for inspecting pass / fail of the pixel portion and a precharge circuit for precharging the data line, that is, can also be used. Therefore, it is not necessary to form a precharge circuit on the substrate separately from the inspection circuit. Accordingly, the substrate size can be reduced, and the electro-optical device can be reduced in size. Further, as compared with the case where the precharge circuit is provided separately from the differential amplifier circuit, the deterioration and delay of the precharge signal can be reduced. That is, if a precharge circuit is provided separately, it is necessary to route a precharge signal wiring for supplying a precharge signal on the substrate, and while the precharge signal propagates through the precharge signal wiring, There is a risk of deterioration or delay of the precharge signal. However, according to the present invention, since the output from the differential amplifier circuit is supplied as the precharge signal, the precharge signal is hardly deteriorated or delayed.

本発明の電気光学装置の一態様では、前記所定周期は、前記画像信号の1水平走査期間であり、前記先行する期間は、前記1水平走査期間における水平帰線期間である。   In one aspect of the electro-optical device of the present invention, the predetermined period is one horizontal scanning period of the image signal, and the preceding period is a horizontal blanking period in the one horizontal scanning period.

この態様によれば、1本の走査線を走査する1水平走査期間のうち表示に寄与しない水平帰線期間或いは水平ブランキング期間毎に、データ線をプリチャージすることができる。   According to this aspect, the data line can be precharged for each horizontal blanking period or horizontal blanking period that does not contribute to display in one horizontal scanning period in which one scanning line is scanned.

本発明の電気光学装置の他の態様では、前記走査線を介して前記画素部に走査信号を供給する走査線駆動回路と、前記複数の画素部の各々に前記データ線を介して前記画像信号を供給する画像信号供給回路と、前記走査線駆動回路及び前記画像信号供給回路の少なくとも一方に前記所定電位よりも高い高電位電源及び低い低電位電源の各々を供給する複数の電源配線とを備え、前記高電位基準信号及び前記高電位信号は、前記高電位電源の電位と同電位であり、前記低電位基準信号及び前記低電位信号は、前記低電位電源の電位と同電位である。   In another aspect of the electro-optical device according to the aspect of the invention, a scanning line driving circuit that supplies a scanning signal to the pixel unit via the scanning line, and the image signal to each of the plurality of pixel units via the data line. And a plurality of power supply lines for supplying each of a high potential power source higher than the predetermined potential and a low potential power source lower than the predetermined potential to at least one of the scanning line driving circuit and the image signal supply circuit. The high potential reference signal and the high potential signal are the same potential as the potential of the high potential power source, and the low potential reference signal and the low potential signal are the same potential as the potential of the low potential power source.

この態様によれば、高電位基準信号、高電位信号、低電位基準信号及び低電位信号を、電源配線から供給できるので、これら信号を供給するための配線を電源配線とは別に配線する必要がない。よって、基板サイズを増大させることなく、或いは、基板上における積層構造を複雑化させることなく、差動増幅回路によってデータ線をプリチャージすることができる。   According to this aspect, since the high potential reference signal, the high potential signal, the low potential reference signal, and the low potential signal can be supplied from the power supply wiring, it is necessary to wire the wiring for supplying these signals separately from the power supply wiring. Absent. Therefore, the data line can be precharged by the differential amplifier circuit without increasing the substrate size or complicating the stacked structure on the substrate.

本発明の電気光学装置の他の態様では、前記高電位基準信号及び前記低電位基準信号の中間の電位を有する中間電位基準信号と、前記高電位基準信号及び前記低電位基準信号のうち前記同じ極性の信号とを選択的に前記基準信号線に供給する選択回路を備える。   In another aspect of the electro-optical device of the present invention, the intermediate potential reference signal having an intermediate potential between the high potential reference signal and the low potential reference signal, and the same among the high potential reference signal and the low potential reference signal. A selection circuit that selectively supplies a polarity signal to the reference signal line is provided.

この態様によれば、画素部の検査時には、中間電位基準信号を基準信号線に供給することで、差動増幅回路による画素部の検査を確実に行うことができる。更に、画素部による通常表示には、高電位基準信号又は低電位基準信号を基準信号線に供給することで、差動増幅回路による画素部のプリチャージを確実に行うことができる。   According to this aspect, when the pixel portion is inspected, the intermediate potential reference signal is supplied to the reference signal line, whereby the pixel portion can be reliably inspected by the differential amplifier circuit. Further, for normal display by the pixel portion, by supplying a high potential reference signal or a low potential reference signal to the reference signal line, the pixel portion can be reliably precharged by the differential amplifier circuit.

本発明の電子機器は上記課題を解決するために、上述した本発明の電気光学装置を具備してなる。   In order to solve the above-described problems, an electronic apparatus according to the present invention includes the above-described electro-optical device according to the present invention.

本発明の電子機器は、上述した本発明の電気光学装置を具備してなるので、高品質な画像表示を行うことが可能な、投射型表示装置、テレビ、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッサ、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルなどの各種電子機器を実現できる。また、本発明の電子機器として、例えば電子ペーパなどの電気泳動装置、電子放出装置(Field Emission Display及びConduction Electron-Emitter Display)、これら電気泳動装置、電子放出装置を用いた表示装置を実現することも可能である。   Since the electronic apparatus of the present invention includes the above-described electro-optical device of the present invention, a projection display device, a television, a mobile phone, an electronic notebook, a word processor, a view capable of performing high-quality image display. Various electronic devices such as a finder type or a monitor direct-view type video tape recorder, a workstation, a videophone, a POS terminal, and a touch panel can be realized. In addition, as an electronic apparatus of the present invention, for example, an electrophoretic device such as electronic paper, an electron emission device (Field Emission Display and Conduction Electron-Emitter Display), and a display device using these electrophoretic device and electron emission device are realized. Is also possible.

本発明の電気光学装置の駆動方法は上記課題を解決するために、基板上に、互いに交差する複数の走査線及び複数のデータ線と、前記複数の走査線及び前記複数のデータ線の交差に対応して配置された複数の画素部と、基準信号を供給する基準信号線と、第1ノードに前記基準信号線の電位が入力されると共に第2ノードに前記データ線の電位が入力される差動増幅回路とを備えた電気光学装置を駆動する電気光学装置の駆動方法であって、所定周期で電位が所定電位に対して高位側の正極性と低位側の負極性とで極性反転する画像信号を、前記データ線を介して前記複数の画素部に供給する画像信号供給過程と、前記所定電位よりも高い電位を有する高電位基準信号及び低い電位を有する低電位基準信号のうち電位が前記画像信号と同じ極性である信号を、前記基準信号として前記基準信号線に供給する基準信号供給過程と、前記第1ノードの電位と前記第2ノードの電位とを比較して、前記第2ノードの電位が前記第1ノードの電位より低い場合には、前記所定電位より低い電位を有する低電位信号を、前記第2ノードの電位が前記第1ノードの電位より高い場合には、前記所定電位より高い電位を有する高電位信号を、前記データ線への前記画像信号の供給に先行する期間において前記データ線をプリチャージするためのプリチャージ信号として、前記第2ノードを介して前記データ線に供給するプリチャージ過程とを備える。   In order to solve the above-described problem, a driving method of an electro-optical device according to an embodiment of the present invention includes a plurality of scanning lines and a plurality of data lines intersecting each other on a substrate, and the plurality of scanning lines and the plurality of data lines intersecting each other. A plurality of corresponding pixel portions, a reference signal line that supplies a reference signal, a potential of the reference signal line is input to the first node, and a potential of the data line is input to the second node An electro-optical device driving method for driving an electro-optical device including a differential amplifier circuit, wherein the potential is inverted between a positive polarity on a higher side and a negative polarity on a lower side with respect to a predetermined potential in a predetermined cycle. An image signal supply process for supplying an image signal to the plurality of pixel portions through the data line, and a potential of a high potential reference signal having a potential higher than the predetermined potential and a low potential reference signal having a low potential Same pole as the image signal The reference signal supply process of supplying the signal as the reference signal to the reference signal line is compared with the potential of the first node and the potential of the second node, and the potential of the second node is When the potential of the second node is lower than the potential of the first node, a low potential signal having a potential lower than the predetermined potential is received. When the potential of the second node is higher than the potential of the first node, the potential is higher than the predetermined potential. A precharge process for supplying a high potential signal to the data line through the second node as a precharge signal for precharging the data line in a period preceding the supply of the image signal to the data line. With.

本発明の電気光学装置の駆動方法によれば、上述した本発明の電気光学装置の場合と同様に、データ線への画像信号の供給に先行する期間において、差動増幅回路から低電位信号又は高電位信号をデータ線に供給することで、データ線をプリチャージすることができる。   According to the driving method of the electro-optical device of the present invention, as in the case of the above-described electro-optical device of the present invention, the low-potential signal or the signal from the differential amplifier circuit in the period preceding the supply of the image signal to the data line. By supplying a high potential signal to the data line, the data line can be precharged.

本発明の作用及び他の利得は次に説明する実施するための最良の形態から明らかにされよう。   The operation and other advantages of the present invention will become apparent from the best mode for carrying out the invention described below.

以下では、本発明の実施形態について図を参照しつつ説明する。以下の実施形態では、本発明の電気光学装置の一例である駆動回路内蔵型のアクティブマトリクス駆動方式の液晶装置を例にとる。
<第1実施形態>
第1実施形態に係る液晶装置について、図1から図8を参照して説明する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following embodiments, an active matrix driving type liquid crystal device with a built-in driving circuit, which is an example of the electro-optical device of the present invention, is taken as an example.
<First Embodiment>
The liquid crystal device according to the first embodiment will be described with reference to FIGS.

先ず、本実施形態に係る液晶装置の全体構成について、図1及び図2を参照して説明する。ここに図1は、本実施形態に係る液晶装置の構成を示す平面図であり、図2は、図1のH−H´線での断面図である。   First, the overall configuration of the liquid crystal device according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a plan view showing the configuration of the liquid crystal device according to this embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line H-H 'in FIG.

図1及び図2において、本実施形態に係る液晶装置では、TFTアレイ基板10と対向基板20とが対向配置されている。TFTアレイ基板10と対向基板20との間に液晶層50が封入されており、TFTアレイ基板10と対向基板20とは、画像表示領域10aの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材52により相互に接着されている。   1 and 2, in the liquid crystal device according to the present embodiment, a TFT array substrate 10 and a counter substrate 20 are arranged to face each other. A liquid crystal layer 50 is sealed between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20, and the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 are provided with a sealing material 52 provided in a seal region positioned around the image display region 10a. Are bonded to each other.

図1において、シール材52が配置されたシール領域の内側に並行して、画像表示領域10aの額縁領域を規定する遮光性の額縁遮光膜53が、対向基板20側に設けられている。周辺領域のうち、シール材52が配置されたシール領域の外側に位置する領域には、データ線駆動回路101及び外部回路接続端子102がTFTアレイ基板10の一辺に沿って設けられている。この一辺に沿ったシール領域よりも内側に、サンプリング回路7が額縁遮光膜53に覆われるようにして設けられている。尚、データ線駆動回路101及びサンプリング回路7は、本発明に係る「画像信号供給回路」の一例を構成する。また、走査線線駆動回路104は、この一辺に隣接する2辺に沿ったシール領域の内側に、額縁遮光膜53に覆われるようにして設けられている。また、TFTアレイ基板10上には、対向基板20の4つのコーナー部に対向する領域に、両基板間を上下導通材107で接続するための上下導通端子106が配置されている。これらにより、TFTアレイ基板10と対向基板20との間で電気的な導通をとることができる。   In FIG. 1, a light-shielding frame light-shielding film 53 that defines the frame area of the image display region 10a is provided on the counter substrate 20 side in parallel with the inside of the seal region where the sealing material 52 is disposed. A data line driving circuit 101 and an external circuit connection terminal 102 are provided along one side of the TFT array substrate 10 in a region located outside the sealing region in which the sealing material 52 is disposed in the peripheral region. The sampling circuit 7 is provided so as to be covered with the frame light shielding film 53 on the inner side of the seal region along the one side. The data line driving circuit 101 and the sampling circuit 7 constitute an example of the “image signal supply circuit” according to the present invention. The scanning line drive circuit 104 is provided so as to be covered with the frame light-shielding film 53 inside the seal region along two sides adjacent to the one side. On the TFT array substrate 10, vertical conduction terminals 106 for connecting the two substrates with the vertical conduction material 107 are arranged in regions facing the four corner portions of the counter substrate 20. Thus, electrical conduction can be established between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20.

TFTアレイ基板10上には、外部回路接続端子102と、データ線駆動回路101、走査線線駆動回路104、上下導通端子106等とを電気的に接続するための引回配線90が形成されている。   On the TFT array substrate 10, a lead wiring 90 for electrically connecting the external circuit connection terminal 102 and the data line driving circuit 101, the scanning line line driving circuit 104, the vertical conduction terminal 106, and the like is formed. Yes.

図2において、TFTアレイ基板10上には、駆動素子である画素スイッチング用のトランジスタや走査線、データ線等の配線が作り込まれた積層構造が形成されている。画像表示領域10aには、画素スイッチング用トランジスタや走査線、データ線等の配線の上層に画素電極9aが設けられている。他方、対向基板20におけるTFTアレイ基板10との対向面上に、ITO(Indium Tin Oxide)等の透明材料からなる対向電極21が複数の画素電極9aと対向して形成されている。また、液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で、所定の配向状態をとる。   In FIG. 2, on the TFT array substrate 10, a laminated structure in which wirings such as pixel switching transistors, scanning lines, and data lines as drive elements are formed is formed. In the image display area 10a, a pixel electrode 9a is provided in an upper layer of wiring such as a pixel switching transistor, a scanning line, and a data line. On the other hand, on the surface of the counter substrate 20 facing the TFT array substrate 10, a counter electrode 21 made of a transparent material such as ITO (Indium Tin Oxide) is formed to face the plurality of pixel electrodes 9a. Further, the liquid crystal layer 50 is made of, for example, a liquid crystal in which one or several types of nematic liquid crystals are mixed, and takes a predetermined alignment state between the pair of alignment films.

尚、ここでは図示しないが、TFTアレイ基板10上には、データ線駆動回路101、走査線線駆動回路104の他に、後述するように、本発明に係る「差動増幅回路」の一例としての差動増幅回路4a、選択回路200等が形成されている。   Although not shown here, on the TFT array substrate 10, in addition to the data line driving circuit 101 and the scanning line line driving circuit 104, as described later, as an example of the “differential amplifier circuit” according to the present invention. Differential amplifier circuit 4a, selection circuit 200, and the like are formed.

尚、画素電極9aとしては、例えば、入射光を透過する透過型の画素電極或いは入射光を反射する反射型又は半透過反射型の画素電極を用いることができる。   For example, a transmissive pixel electrode that transmits incident light or a reflective or transflective pixel electrode that reflects incident light can be used as the pixel electrode 9a.

次に、本実施形態に係る液晶装置の回路構成について、図3から図8を参照して説明する。ここに図3は、本実施形態に係る液晶装置の主要な回路構成を示したブロック図である。図4は、画素部の電気的な構成を示す回路図である。   Next, the circuit configuration of the liquid crystal device according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 3 is a block diagram showing the main circuit configuration of the liquid crystal device according to this embodiment. FIG. 4 is a circuit diagram showing an electrical configuration of the pixel portion.

図3において、本実施形態の液晶装置は、TFTアレイ基板10上に画素部70、サンプリング回路7、走査線線駆動回路104、データ線駆動回路101、差動増幅回路4a、トランスミッションゲート60及び選択回路200を備えている。   In FIG. 3, the liquid crystal device according to the present embodiment includes a pixel unit 70, a sampling circuit 7, a scanning line drive circuit 104, a data line drive circuit 101, a differential amplifier circuit 4a, a transmission gate 60, and a selection on a TFT array substrate 10. A circuit 200 is provided.

画素部70は、画像表示領域10aにn行×m列のマトリックス状に2次元に配置されている。ここで、m、nはそれぞれ自然数である。より具体的には、図3に示すように、画素部70は、画像表示領域10aにおける右側から第1列、第2列、・・・、第m列で、上側から第1行、第2行、・・・、第n行のマトリック状に配置されている。即ち、n本のデータ線3及びm本の走査線11の交点に対応して単位表示素子である画素部70が設けられている。   The pixel unit 70 is two-dimensionally arranged in a matrix of n rows × m columns in the image display area 10a. Here, m and n are natural numbers, respectively. More specifically, as shown in FIG. 3, the pixel unit 70 includes the first column, the second column,..., The m-th column from the right side in the image display region 10 a, the first row, the second column from the upper side. Are arranged in a matrix of rows,..., N-th row. That is, a pixel unit 70 that is a unit display element is provided corresponding to the intersection of the n data lines 3 and the m scanning lines 11.

図4に示すように、画素部70は、トランジスタ30、液晶容量Clc及び付加容量Csを備えている。   As shown in FIG. 4, the pixel unit 70 includes a transistor 30, a liquid crystal capacitor Clc, and an additional capacitor Cs.

液晶容量Clcは、画素電極9a、対向電極21及び液晶層50(図2参照)による容量である。   The liquid crystal capacitance Clc is a capacitance due to the pixel electrode 9a, the counter electrode 21, and the liquid crystal layer 50 (see FIG. 2).

付加容量Csは、液晶容量Clcに並列に電気的に接続されている。   The additional capacitor Cs is electrically connected in parallel with the liquid crystal capacitor Clc.

トランジスタ30は、ソース端子sがデータ線3に電気的に接続され、ゲート端子gが走査線11に電気的に接続されている。トランジスタ30は、走査線線駆動回路104から供給される走査信号によってオンオフが切り換えられる。   The transistor 30 has a source terminal s electrically connected to the data line 3 and a gate terminal g electrically connected to the scanning line 11. The transistor 30 is turned on and off by a scanning signal supplied from the scanning line driver circuit 104.

トランジスタ30のドレインは、液晶容量Clc及び付加容量Csの各々の一端に電気的に接続され、付加容量Csの他端は、共通固定電位LCCOMに電気的に接続されている。トランジスタ30のゲート端子gに走査信号が入力されてトランジスタ30がオンすると、データ線3に電気的に接続されたトランジスタ30のソース端子sに印加されている電圧が液晶容量Clc及び付加容量Csに印加され、供給されたデータ信号の電位が維持される。これにより、画像表示が行われる際に画素部70に供給されたデータ信号の電位を長時間保持することが可能となっている。   The drain of the transistor 30 is electrically connected to one end of each of the liquid crystal capacitor Clc and the additional capacitor Cs, and the other end of the additional capacitor Cs is electrically connected to the common fixed potential LCCOM. When the scanning signal is input to the gate terminal g of the transistor 30 and the transistor 30 is turned on, the voltage applied to the source terminal s of the transistor 30 electrically connected to the data line 3 is applied to the liquid crystal capacitor Clc and the additional capacitor Cs. The potential of the applied data signal is maintained. Thus, the potential of the data signal supplied to the pixel unit 70 when image display is performed can be held for a long time.

再び図3において、データ線駆動回路101は、クロック信号CLX(及びその反転信号CLXB)及びシフトレジスタスタート信号DXに基づいて、サンプリング回路7を駆動するためのサンプリング回路駆動信号Si(i=1、…、m)を出力するように構成されている。   In FIG. 3 again, the data line driving circuit 101 has a sampling circuit driving signal Si (i = 1, 1) for driving the sampling circuit 7 based on the clock signal CLX (and its inverted signal CLXB) and the shift register start signal DX. .., M) are output.

サンプリング回路7は、Pチャネル型又はNチャネル型の片チャネル型TFT若しくは相補型のTFTから構成されたサンプリングスイッチ71からなる。サンプリング回路7は、画像信号線6に供給される画像信号VIDを、基準クロック信号であるサンプリング回路駆動信号Siに応じてサンプリングし、夫々をデータ信号としてデータ線3に印加する。データ線3は、各列のn個の画素部70に夫々電気的に接続されており、データ線3からのデータ信号は、画素部70(より具体的には、各画素部70が有する液晶容量Clc及び付加容量Cs)に書き込まれるようになっている。   The sampling circuit 7 includes a sampling switch 71 composed of a P-channel or N-channel single-channel TFT or a complementary TFT. The sampling circuit 7 samples the image signal VID supplied to the image signal line 6 in accordance with the sampling circuit drive signal Si that is a reference clock signal, and applies each to the data line 3 as a data signal. The data line 3 is electrically connected to each of the n pixel units 70 in each column, and a data signal from the data line 3 is transmitted to the pixel unit 70 (more specifically, a liquid crystal included in each pixel unit 70). The capacity Clc and the additional capacity Cs) are written.

走査線線駆動回路104は、マトリクス状に配置された複数の画素部70をデータ信号及び走査信号により走査線11の配列方向に走査するように走査信号Gi(i=1、…、n)を走査線11に印加する。   The scanning line drive circuit 104 uses a scanning signal Gi (i = 1,..., N) so as to scan the plurality of pixel units 70 arranged in a matrix in the arrangement direction of the scanning lines 11 by using a data signal and a scanning signal. Applied to the scanning line 11.

図5に示すように、走査線線駆動回路104は、走査信号印加の基準クロックであるクロック信号CLY(及びその反転信号CLYB)及びシフトレジスタスタート信号DYに基づいて生成される走査信号Gi(i=1、…、n)を、複数の走査線11に印加する。ここに図5は、走査信号の供給タイミングを示すタイミングチャートである。より具体的には、垂直走査期間を規定するシフトレジスタスタート信号DYが入力されると、走査線線駆動回路104は、クロック信号CLYによって規定される1水平走査期間Th毎に、1本の走査線11に走査信号Giを順次供給する、即ち、1本の走査線11を順次選択する。1水平走査期間Th毎に選択された1本の走査線11とm本のデータ線と交点に対応する画素部70にデータ信号が書き込まれる。尚、m本の走査線11に走査信号Gi(i=1、…、n)を供給する順序は、任意の順序でよい。   As shown in FIG. 5, the scanning line drive circuit 104 includes a scanning signal Gi (i) generated based on a clock signal CLY (and its inverted signal CLYB) that is a reference clock for applying a scanning signal and a shift register start signal DY. = 1,..., N) are applied to the plurality of scanning lines 11. FIG. 5 is a timing chart showing scanning signal supply timing. More specifically, when the shift register start signal DY that defines the vertical scanning period is input, the scanning line drive circuit 104 scans one scan every one horizontal scanning period Th defined by the clock signal CLY. The scanning signal Gi is sequentially supplied to the line 11, that is, one scanning line 11 is sequentially selected. A data signal is written to the pixel portion 70 corresponding to the intersection of one scanning line 11 and m data lines selected every horizontal scanning period Th. The order of supplying the scanning signals Gi (i = 1,..., N) to the m scanning lines 11 may be an arbitrary order.

1水平走査期間Thの始まりには、表示に寄与しない水平帰線期間Tbが設けられている。   At the beginning of one horizontal scanning period Th, a horizontal blanking period Tb that does not contribute to display is provided.

本実施形態では、画像信号線6に供給される画像信号VIDは、1水平走査期間を所定周として電位が、共通固定電位LCCOMに対して高位側の正極性と、低位側の負極性とで極性反転する。即ち、選択された順番で、走査線11毎に交互にデータ信号の電位が反転する反転駆動が行われる。尚、反転駆動としては、例えばライン反転駆動であってもよいし、m本の走査線11を、例えば画像表示領域10aを複数の部分領域に分けて、異なる部分領域における走査線を順に選択するようにして、部分領域毎に反転駆動される領域反転駆動等を行うようにしてもよい。   In the present embodiment, the image signal VID supplied to the image signal line 6 has a positive potential on the higher side and a negative polarity on the lower side with respect to the common fixed potential LCCOM with one horizontal scanning period as a predetermined circumference. The polarity is reversed. That is, inversion driving is performed in which the potential of the data signal is alternately inverted for each scanning line 11 in the selected order. The inversion driving may be, for example, line inversion driving. For example, the m scanning lines 11 are divided into, for example, the image display area 10a into a plurality of partial areas, and scanning lines in different partial areas are sequentially selected. In this way, region inversion driving or the like in which inversion driving is performed for each partial region may be performed.

図3において、差動増幅回路4aは、TFTアレイ基板10上で平面的に見て、画像表示領域10aに対してデータ線駆動回路101とは反対側に、データ線3毎に1ずつ設けられている。画像表示領域10aに設けられた画素部70と差動増幅回路4aとの間には、トランスミッションゲート60が設けられている。   In FIG. 3, one differential amplifier circuit 4a is provided for each data line 3 on the side opposite to the data line driving circuit 101 with respect to the image display region 10a when viewed in plan on the TFT array substrate 10. ing. A transmission gate 60 is provided between the pixel unit 70 provided in the image display region 10a and the differential amplifier circuit 4a.

ここで、本実施形態に係る差動増幅回路の電気的な構成について、図3及び図6を参照して説明する。ここに図6は、差動増幅回路の電気的な構成を示す回路図である。   Here, the electrical configuration of the differential amplifier circuit according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 6 is a circuit diagram showing the electrical configuration of the differential amplifier circuit.

図6において、差動増幅回路4aは、pチャネル型のトランジスタTr1及びTr2と、nチャネル型のトランジスタTr3及びTr4とを備えた交差結合型の差動増幅回路である。より具体的には、トランジスタTr1及びTr2が電気的に直列に接続された直列回路と、トランジスタTr3及びTr4が電気的に直列に接続された直列回路とが電気的に並列に接続されている。トランジスタTr1及びTr3のゲートは、ノードsoに電気的に接続されている。トランジスタTr2及びTr4のゲートは、ノードseに電気的に接続されている。トランジスタTr1及びTr2のソース及びドレインの接続点はノードspに電気的に接続され、トランジスタTr3及びTr4のソース及びドレインの接続点はノードsnに電気的に接続されている。   In FIG. 6, a differential amplifier circuit 4a is a cross-coupled differential amplifier circuit including p-channel transistors Tr1 and Tr2 and n-channel transistors Tr3 and Tr4. More specifically, a series circuit in which transistors Tr1 and Tr2 are electrically connected in series and a series circuit in which transistors Tr3 and Tr4 are electrically connected in series are electrically connected in parallel. The gates of the transistors Tr1 and Tr3 are electrically connected to the node so. The gates of the transistors Tr2 and Tr4 are electrically connected to the node se. The connection points of the sources and drains of the transistors Tr1 and Tr2 are electrically connected to the node sp, and the connection points of the sources and drains of the transistors Tr3 and Tr4 are electrically connected to the node sn.

図3に示すように、ノードse及びsoは、これらのノードに電位を供給するse配線4f及びso配線4gに夫々電気的に接続されている。se配線4fは、トランスミッションゲート60を介してデータ線3と電気的に接続可能になっており、se配線4fには、画素部70から読み出したデータ信号の電位が供給される。so配線4gには、後述する選択回路200から基準信号線refを介して検査用基準電位或いはプリチャージ用基準電位が供給される。ノードspには、トランジスタ4dを介して高電位電源VDDが供給され、ノードsnには、トランジスタ4eを介して高電位電源VDDより低い低電位電源VSSが供給される。トランジスタ4d及び4eは夫々、端子4b及び4cを介して供給される駆動信号SAp−ch及びSAn−chによってオンオフ制御されるようになっている。   As shown in FIG. 3, the nodes se and so are electrically connected to a se wiring 4f and a so wiring 4g that supply potentials to these nodes, respectively. The se wiring 4f can be electrically connected to the data line 3 via the transmission gate 60, and the potential of the data signal read from the pixel unit 70 is supplied to the se wiring 4f. An inspection reference potential or a precharge reference potential is supplied to the so wiring 4g via a reference signal line ref from a selection circuit 200 described later. The node sp is supplied with the high potential power supply VDD through the transistor 4d, and the node sn is supplied with the low potential power supply VSS lower than the high potential power supply VDD through the transistor 4e. The transistors 4d and 4e are controlled to be turned on and off by drive signals SAp-ch and SAn-ch supplied via terminals 4b and 4c, respectively.

図6において、このように構成された差動増幅回路4aは、ノードse及びsoに供給された電位を、一方は高電位電源VDDの電位まで引き上げ、他方は低電位電源VSSの電位まで引き下げる。例えば、ノードseにノードsoに比べて僅かでも高い電位が供給された場合には、トランジスタTr1〜Tr4のうち、トランジスタTr4が最初にオンとなる。トランジスタTr4がオンとなるので、ノードsoの電位はノードsnの低電位電源VSSの電位まで低下する。そして、ノードsoがノードsnの低電位電源の電位まで低下するので、ゲートがノードsoに電気的に接続されたトランジスタTr1がオンになる。その結果、ノードseはノードspの高電位電源VDDの電位まで上昇する。逆に、ノードseにノードsoに比べて僅かでも低い電位が供給された場合には、トランジスタTr1〜Tr4のうち、トランジスタTr3が最初にオンとなる。トランジスタTr3がオンとなるので、ノードseの電位はノードsnの低電位電源VSSの電位まで低下する。そして、ノードseがノードsnの低電位電源VSSの電位まで低下するので、ゲートがノードseに電気的に接続されたトランジスタTr2がオンになる。その結果、ノードsoはノードspの高電位電源VDDの電位まで上昇する。   In FIG. 6, the differential amplifier circuit 4a configured in this manner raises the potential supplied to the nodes se and so to one of the potential of the high potential power supply VDD and the other to the potential of the low potential power supply VSS. For example, when a potential slightly higher than the node so is supplied to the node se, the transistor Tr4 is turned on first among the transistors Tr1 to Tr4. Since the transistor Tr4 is turned on, the potential of the node so decreases to the potential of the low potential power supply VSS of the node sn. Then, since the node so falls to the potential of the low potential power supply of the node sn, the transistor Tr1 whose gate is electrically connected to the node so is turned on. As a result, the node se rises to the potential of the high potential power supply VDD of the node sp. On the other hand, when a potential slightly lower than that of the node so is supplied to the node se, the transistor Tr3 is turned on first among the transistors Tr1 to Tr4. Since the transistor Tr3 is turned on, the potential of the node se is lowered to the potential of the low potential power supply VSS of the node sn. Then, since the node se is lowered to the potential of the low potential power supply VSS of the node sn, the transistor Tr2 whose gate is electrically connected to the node se is turned on. As a result, the node so rises to the potential of the high potential power supply VDD of the node sp.

このように、差動増幅回路4aは、ノードse及びsoに印加される電位のうち高い方の電位をより高くし、低い方の電位をより低くするように機能する。   As described above, the differential amplifier circuit 4a functions to increase the higher potential among the potentials applied to the nodes se and so, and lower the lower potential.

再び図3において、トランスミッションゲート60は、各データ線3に対応して設けられたトランジスタ60sによって構成されている。差動増幅回路4aのノードseに電気的に接続されたse配線4fは、トランジスタ60sのソースに電気的に接続され、トランジスタ60sのゲートは制御端子9bに電気的に接続されている。トランジスタ60sは、制御端子9bを介して入力されるHIGHの接続制御信号TEによってオンとなり、データ線3に差動増幅回路4aを電気的に接続するようになっている。   In FIG. 3 again, the transmission gate 60 is constituted by a transistor 60 s provided corresponding to each data line 3. The se wiring 4f electrically connected to the node se of the differential amplifier circuit 4a is electrically connected to the source of the transistor 60s, and the gate of the transistor 60s is electrically connected to the control terminal 9b. The transistor 60 s is turned on by a HIGH connection control signal TE input via the control terminal 9 b, and the differential amplifier circuit 4 a is electrically connected to the data line 3.

選択回路200は、複数の差動増幅回路4aのノードsoにso配線4g及び基準信号線refを介して電気的に接続されている。   The selection circuit 200 is electrically connected to the node so of the plurality of differential amplifier circuits 4a via the so wiring 4g and the reference signal line ref.

ここで、選択回路200の電気的な構成について、図7を参照して説明する。ここに図7は、選択回路の電気的な構成を示す回路図である。   Here, the electrical configuration of the selection circuit 200 will be described with reference to FIG. FIG. 7 is a circuit diagram showing an electrical configuration of the selection circuit.

図7において、選択回路200は、pチャネル型のトランジスタ211及び221と、nチャネル型のトランジスタ212及び222とを備えている。トランジスタ211及び212のゲートは、端子231に電気的に接続されている。トランジスタ221及び222のゲートは、端子232に電気的に接続されている。トランジスタ211のソースは、端子233に電気的に接続され、トランジスタ212のソースは、端子234に電気的に接続されている。トランジスタ222のソースは、端子235に電気的に接続されている。トランジスタ211及び222のドレインは、トランジスタ221のソースに電気的に接続されており、トランジスタ221及び222のドレインは端子236に電気的に接続されている。   In FIG. 7, the selection circuit 200 includes p-channel transistors 211 and 221 and n-channel transistors 212 and 222. The gates of the transistors 211 and 212 are electrically connected to the terminal 231. The gates of the transistors 221 and 222 are electrically connected to the terminal 232. A source of the transistor 211 is electrically connected to the terminal 233, and a source of the transistor 212 is electrically connected to the terminal 234. A source of the transistor 222 is electrically connected to the terminal 235. The drains of the transistors 211 and 222 are electrically connected to the source of the transistor 221, and the drains of the transistors 221 and 222 are electrically connected to the terminal 236.

端子231には、反転駆動される画像信号VIDの極性反転の周期を規定する反転周期規定信号FRPが供給されている。反転周期規定信号FRPは、画像信号VIDの極性反転の周期と同じ周期を有していると共に、画像信号VIDと同じ極性を有している。即ち、画像信号VIDが共通固定電位LCCOMよりも高い電位を有している期間は、反転周期規定信号FRPも、共通固定電位LCCOMよりも高い電位を有しており、画像信号VIDが共通固定電位LCCOMよりも低い電位を有している期間は、反転周期規定信号FRPも、共通固定電位LCCOMよりも低い電位を有している。   The terminal 231 is supplied with an inversion period defining signal FRP for defining the polarity inversion period of the image signal VID to be inverted. The inversion cycle defining signal FRP has the same cycle as the polarity inversion cycle of the image signal VID and the same polarity as the image signal VID. That is, during a period in which the image signal VID has a higher potential than the common fixed potential LCCOM, the inversion cycle defining signal FRP also has a higher potential than the common fixed potential LCCOM, and the image signal VID has a common fixed potential. During a period having a potential lower than LCCOM, the inversion cycle defining signal FRP also has a potential lower than the common fixed potential LCCOM.

端子232には、検査時と通常表示時との切り換えを制御する切換信号exが供給されている。切換信号exは、検査時にはHIGHであり、通常表示時にはLOWである。   The terminal 232 is supplied with a switching signal ex for controlling switching between inspection and normal display. The switching signal ex is HIGH during inspection and LOW during normal display.

端子233には、高電位電源VDDが供給されている。   A high potential power supply VDD is supplied to the terminal 233.

端子234には、低電位電源VSSが供給されている。   The terminal 234 is supplied with a low potential power supply VSS.

端子235には、検査用基準電位VMが供給されている。検査用基準電位VMは、高電位電源VDDとVSSとの間の電位を有している。   The terminal 235 is supplied with the inspection reference potential VM. The inspection reference potential VM has a potential between the high potential power supply VDD and VSS.

次に、本実施形態に係る差動増幅回路による画素部の検査について、図3、図6及び図7を参照して説明する。   Next, the inspection of the pixel portion by the differential amplifier circuit according to the present embodiment will be described with reference to FIGS.

図3及び図7において、画素部70の良否を検査する検査時には、HIGHの切換信号exが選択回路200の端子232に供給されることで、トランジスタ221がオフにされ且つトランジスタ222がオンにされる。これにより、選択回路200の端子235と端子236とが電気的に接続され、基準信号線refには、検査用基準電位VMが供給される。   3 and 7, when inspecting whether the pixel unit 70 is good or bad, the HIGH switching signal ex is supplied to the terminal 232 of the selection circuit 200, whereby the transistor 221 is turned off and the transistor 222 is turned on. The As a result, the terminal 235 and the terminal 236 of the selection circuit 200 are electrically connected, and the inspection reference potential VM is supplied to the reference signal line ref.

図3において、画素部70の良否を検査する検査時には、接続制御端子9bにHIGHの接続制御信号TEが供給されることで、トランジスタ60sがオンにされ、データ線3に差動増幅回路4aが電気的に接続される。   In FIG. 3, when inspecting the quality of the pixel unit 70, the transistor 60 s is turned on by supplying the HIGH connection control signal TE to the connection control terminal 9 b, and the differential amplifier circuit 4 a is connected to the data line 3. Electrically connected.

画素部の検査においては、各画素部70に例えばLOW又はHIGHのデータ信号を書き込み、画素部70に書き込まれたデータ信号を読み出して差動増幅回路4aのノードseに与える。一方、差動増幅回路4aのノードsoには、選択回路200から基準信号線ref及びso配線4gを介して検査用基準電位VMを与える。差動増幅回路4aは、図6を参照して上述したように、2入力(即ち、ノードso及びノードseへの入力)のうち低いレベルの電位を低電位電源VSSの電位まで低下させ、高いレベルの電位を高電位電源VDDの電位まで上昇させることで、微妙な2入力のレベル差を大きくして、2入力のレベルの大小の判定を容易にする。このような差動増幅回路4aからの出力に基づいて、例えば、予め画素部70に供給されたデータ信号が検査用基準電位VMより高い場合に、差動増幅回路4aから低電位電源VSSの電位が出力されればノードseに電気的に接続されたデータ線に対応する画素部70に何らかの不具合が発生している等のように判断することで、画素部70の良否を検査することができる。よって、製造工程において、TFTアレイ基板10及び対向基板20を貼り合わせて液晶を封入する前に、複数の画素部70の電気的特性の評価或いは検査をすることができる。   In the inspection of the pixel portion, for example, a LOW or HIGH data signal is written to each pixel portion 70, and the data signal written to the pixel portion 70 is read and applied to the node se of the differential amplifier circuit 4a. On the other hand, the inspection reference potential VM is supplied from the selection circuit 200 to the node so of the differential amplifier circuit 4a through the reference signal line ref and the so wiring 4g. As described above with reference to FIG. 6, the differential amplifier circuit 4 a reduces the low level potential of the two inputs (that is, the input to the node so and the node se) to the potential of the low potential power supply VSS and increases the level. By raising the level potential to the potential of the high-potential power supply VDD, a subtle level difference between the two inputs is increased to facilitate the determination of the level of the two inputs. Based on the output from the differential amplifier circuit 4a, for example, when the data signal supplied to the pixel unit 70 in advance is higher than the inspection reference potential VM, the potential of the low potential power supply VSS from the differential amplifier circuit 4a. Is output, it is possible to check the quality of the pixel unit 70 by determining that there is some malfunction in the pixel unit 70 corresponding to the data line electrically connected to the node se. . Therefore, in the manufacturing process, the electrical characteristics of the plurality of pixel portions 70 can be evaluated or inspected before the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 are bonded and the liquid crystal is sealed.

次に、本実施形態に係る差動増幅回路によるプリチャージについて、図3、及び図6から図8を参照して説明する。ここに図8は、差動増幅回路によってプリチャージされるデータ線の電位の変化を示すタイミングチャートである。   Next, precharging by the differential amplifier circuit according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 3 and 6 to 8. FIG. 8 is a timing chart showing changes in the potential of the data line precharged by the differential amplifier circuit.

本実施形態では特に、差動増幅回路4aは、上述したように検査時に検査回路として用いることができるのみならず、液晶装置の通常表示時において、データ線3にプリチャージ信号を供給するプリチャージ回路として用いることができる。   Particularly in the present embodiment, the differential amplifier circuit 4a can be used not only as an inspection circuit at the time of inspection as described above, but also as a precharge for supplying a precharge signal to the data line 3 at the time of normal display of the liquid crystal device. It can be used as a circuit.

図3及び図7において、通常表示時には、LOWの切換信号exが選択回路200の端子232に供給されることで、トランジスタ221がオンにされ且つトランジスタ222がオフにされる。これにより、選択回路200の端子236とトランジスタ211及び212のドレインとが電気的に接続され、基準信号線refには、反転周期規定信号FRPに基づくトランジスタ211及び212のオンオフの切換によって、高電位電源VDD又は低電位電源VSSの電位がプリチャージ用基準電位として供給される。即ち、図7及び図8に示すように、第i番目の水平走査期間Th(i)において反転周期規定信号FRPがHIGHの場合(即ち、画像信号の極性が共通固定電位LCCOMよりも高い場合)には、トランジスタ211がオフにされ且つトランジスタ212がオンにされ、基準信号線refには、低電位電源VSSの電位が供給される。続く第i+1番目の水平走査期間Th(i+1)では反転周期規定信号FRPがLOWに変化することにより、トランジスタ211がオンにされ且つトランジスタ212がオフにされ、基準信号線refには、高電位電源VDDの電位が供給される。即ち、通常表示時において、基準信号線refには、共通固定電位LCCOMに対して画像信号とは反対の極性で、高電位電源VDD及び低電位電源VSSの電位が、1水平走査期間Th毎に交互にプリチャージ用基準電位として供給される。プリチャージ用基準電位は、基準信号線refと電気的に接続されたso配線4gを介して差動増幅回路4aのノードsoに供給される。ここで、高電位電源VDD及び低電位電源VSSは、データ線駆動回路101或いは走査線線駆動回路104等を駆動するための電源であり、高電位電源VDDの電位は、画像信号VIDの電位のとり得る最大電位よりも高く、低電位電源VSSの電位は、画像信号VIDのとり得る最小電位よりも低い。   3 and 7, in the normal display, the LOW switching signal ex is supplied to the terminal 232 of the selection circuit 200, whereby the transistor 221 is turned on and the transistor 222 is turned off. As a result, the terminal 236 of the selection circuit 200 and the drains of the transistors 211 and 212 are electrically connected, and the reference signal line ref is switched to a high potential by switching on and off the transistors 211 and 212 based on the inversion period defining signal FRP. The potential of the power supply VDD or the low potential power supply VSS is supplied as a precharge reference potential. That is, as shown in FIGS. 7 and 8, when the inversion period defining signal FRP is HIGH in the i-th horizontal scanning period Th (i) (that is, when the polarity of the image signal is higher than the common fixed potential LCCOM). The transistor 211 is turned off and the transistor 212 is turned on, and the potential of the low potential power supply VSS is supplied to the reference signal line ref. In the subsequent (i + 1) th horizontal scanning period Th (i + 1), the inversion period defining signal FRP changes to LOW, whereby the transistor 211 is turned on and the transistor 212 is turned off, and the reference signal line ref has a high potential power supply. A potential of VDD is supplied. That is, during normal display, the reference signal line ref has a polarity opposite to that of the image signal with respect to the common fixed potential LCCOM, and the potentials of the high potential power supply VDD and the low potential power supply VSS are changed every horizontal scanning period Th. It is alternately supplied as a precharge reference potential. The precharge reference potential is supplied to the node so of the differential amplifier circuit 4a through the so wiring 4g electrically connected to the reference signal line ref. Here, the high potential power supply VDD and the low potential power supply VSS are power supplies for driving the data line driving circuit 101, the scanning line line driving circuit 104, or the like, and the potential of the high potential power supply VDD is the potential of the image signal VID. The potential of the low potential power supply VSS is higher than the maximum potential that can be taken, and is lower than the minimum potential that the image signal VID can take.

図3及び図8において、通常表示時には、水平帰線期間Tb内のプリチャージ期間TpにHIGHとなる接続制御信号TEが接続端子9b供給されることで、トランスミッションゲート60のトランジスタ60sがオンにされ、データ線3に差動増幅回路4aが電気的に接続される。この際、データ線3の電位であるデータ線電位Vdが差動増幅回路4aのノードseに供給されることになる。   3 and 8, during normal display, the connection control signal TE that goes HIGH during the precharge period Tp in the horizontal blanking period Tb is supplied to the connection terminal 9b, so that the transistor 60s of the transmission gate 60 is turned on. The differential amplifier circuit 4a is electrically connected to the data line 3. At this time, the data line potential Vd which is the potential of the data line 3 is supplied to the node se of the differential amplifier circuit 4a.

図8において、データ線電位Vdは、第i番目の水平帰線期間Tb(i)の始まりでは、負極性を有している(即ち、共通固定電位LCCOMよりも低い電位を有している)。つまり、第i−1番目の水平走査期間Th(i−1)において、画素部70に供給されたデータ信号の電位の極性が負極性であり、水平帰線期間T(i)では極性反転した正極性のデータ信号がまだデータ線3に供給されないため、データ線電位Vdは負極性に維持されている。   In FIG. 8, the data line potential Vd has a negative polarity at the beginning of the i-th horizontal blanking period Tb (i) (that is, has a potential lower than the common fixed potential LCCOM). . That is, the polarity of the potential of the data signal supplied to the pixel unit 70 is negative in the (i-1) th horizontal scanning period Th (i-1), and the polarity is inverted in the horizontal blanking period T (i). Since the positive data signal is not yet supplied to the data line 3, the data line potential Vd is kept negative.

時刻t1において画像信号の供給期間に先行するプリチャージ期間Tpが開始すると(即ち、接続制御信号TEがHIGHとなると)、トランジスタ60sがオンになり、この負極性を有するデータ線電位Vdが差動増幅回路4aのノードseに供給される。他方、上述したように、第i番目の水平走査期間Th(i)では、基準信号線refには、低電位電源VSSの電位が供給されている。このため、差動増幅回路4aは、ノードseに供給される負極性のデータ線電位Vdがノードsoに供給される低電位電源VSSの電位よりも高いので、高電位電源VDDの電位を、ノードseを介してデータ線3に出力する、即ちデータ線電位Vdが高電位電源VDDの電位とされる。よって、第i番目の水平走査期間Th(i)のうち、正極性のデータ信号が供給される期間に先立つ水平帰線期間Tb(i)(より正確には、プリチャージ期間Tp)において、データ線3に予め正極性を有する高電位電源VDDの電位を供給できる、即ち、データ線3をプリチャージすることができる。   When the precharge period Tp preceding the image signal supply period starts at time t1 (that is, when the connection control signal TE becomes HIGH), the transistor 60s is turned on, and the data line potential Vd having the negative polarity is differential. The signal is supplied to the node se of the amplifier circuit 4a. On the other hand, as described above, in the i-th horizontal scanning period Th (i), the potential of the low potential power supply VSS is supplied to the reference signal line ref. Therefore, the differential amplifier circuit 4a uses the potential of the high potential power supply VDD as the node because the negative data line potential Vd supplied to the node se is higher than the potential of the low potential power supply VSS supplied to the node so. It is output to the data line 3 via se, that is, the data line potential Vd is set to the potential of the high potential power supply VDD. Therefore, in the i-th horizontal scanning period Th (i), in the horizontal blanking period Tb (i) (more precisely, the precharge period Tp) preceding the period in which the positive data signal is supplied. The potential of the high potential power supply VDD having a positive polarity can be supplied to the line 3 in advance, that is, the data line 3 can be precharged.

以上説明したように、本実施形態の液晶装置によれば、差動増幅回路4aによって、データ線3をプリチャージすることができる。即ち、画素部70の良否の検査に用いられる差動増幅回路4aをプリチャージ回路として機能させることができる。言い換えれば、差動増幅回路4aを、画素部70の良否を検査する検査回路及びデータ線3をプリチャージするプリチャージ回路の両方として用いる、即ち兼用することができる。よって、検査回路としての差動増幅回路4aとは別に、プリチャージ回路をTFTアレイ基板10上に形成する必要がない。従って、仮に検査回路とプリチャージ回路とを別個に設けた場合と比較して、TFTアレイ基板10の基板サイズを小さくすることができ、液晶装置の小型化を図ることが可能となる。更に、仮にプリチャージ回路を差動増幅回路4aとは別個に設けた場合と比較して、プリチャージ信号の劣化や遅延が少なくて済む。即ち、仮にプリチャージ回路を差動増幅回路4aとは別個に設けた場合には、プリチャージ信号を供給するためのプリチャージ信号配線をTFTアレイ基板10上に引き回す必要があり、プリチャージ信号が、プリチャージ信号配線を伝播する間に、プリチャージ信号の劣化や遅延が生じてしまうおそれがある。しかるに実施形態の液晶装置によれば、差動増幅回路4aからの出力がプリチャージ信号として供給されるので、プリチャージ信号の劣化や遅延は殆ど或いは全く発生しない。
<電子機器>
次に、上述した電気光学装置である液晶装置を各種の電子機器に適用する場合について説明する。
As described above, according to the liquid crystal device of the present embodiment, the data line 3 can be precharged by the differential amplifier circuit 4a. That is, the differential amplifier circuit 4a used for checking the quality of the pixel unit 70 can function as a precharge circuit. In other words, the differential amplifier circuit 4 a can be used as both an inspection circuit for inspecting the quality of the pixel unit 70 and a precharge circuit for precharging the data line 3, that is, can also be used. Therefore, it is not necessary to form a precharge circuit on the TFT array substrate 10 separately from the differential amplifier circuit 4a as the inspection circuit. Therefore, the substrate size of the TFT array substrate 10 can be reduced as compared with the case where the inspection circuit and the precharge circuit are provided separately, and the liquid crystal device can be downsized. Furthermore, as compared with the case where the precharge circuit is provided separately from the differential amplifier circuit 4a, the deterioration and delay of the precharge signal can be reduced. That is, if the precharge circuit is provided separately from the differential amplifier circuit 4a, it is necessary to route the precharge signal wiring for supplying the precharge signal on the TFT array substrate 10, and the precharge signal is The precharge signal may be deteriorated or delayed while propagating through the precharge signal wiring. However, according to the liquid crystal device of the embodiment, since the output from the differential amplifier circuit 4a is supplied as a precharge signal, the precharge signal is hardly deteriorated or delayed.
<Electronic equipment>
Next, the case where the liquid crystal device which is the above-described electro-optical device is applied to various electronic devices will be described.

この液晶装置をライトバルブとして用いたプロジェクタについて説明する。図9は、プロジェクタの構成例を示す平面図である。この図9に示されるように、プロジェクタ1100内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット1102が設けられている。このランプユニット1102から射出された投射光は、ライトガイド1104内に配置された4枚のミラー1106及び2枚のダイクロイックミラー1108によってRGBの3原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル1110R、1110B及び1110Gに入射される。   A projector using this liquid crystal device as a light valve will be described. FIG. 9 is a plan view showing a configuration example of the projector. As shown in FIG. 9, a projector 1100 includes a lamp unit 1102 made up of a white light source such as a halogen lamp. The projection light emitted from the lamp unit 1102 is separated into three primary colors of RGB by four mirrors 1106 and two dichroic mirrors 1108 arranged in the light guide 1104, and serves as a light valve corresponding to each primary color. The light enters the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G.

液晶パネル1110R、1110B及び1110Gの構成は、上述した液晶装置と同等であり、画像信号処理回路から供給されるR、G、Bの原色信号でそれぞれ駆動されるものである。そして、これらの液晶パネルによって変調された光は、ダイクロイックプリズム1112に3方向から入射される。このダイクロイックプリズム1112においては、R及びBの光が90度に屈折する一方、Gの光が直進する。従って、各色の画像が合成される結果、投射レンズ1114を介して、スクリーン等にカラー画像が投写されることとなる。   The configurations of the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G are the same as those of the liquid crystal device described above, and are driven by R, G, and B primary color signals supplied from the image signal processing circuit. The light modulated by these liquid crystal panels enters the dichroic prism 1112 from three directions. In the dichroic prism 1112, R and B light is refracted at 90 degrees, while G light travels straight. Therefore, as a result of the synthesis of the images of the respective colors, a color image is projected onto the screen or the like via the projection lens 1114.

ここで、各液晶パネル1110R、1110B及び1110Gによる表示像について着目すると、液晶パネル1110Gによる表示像は、液晶パネル1110R、1110Bによる表示像に対して左右反転することが必要となる。   Here, paying attention to the display images by the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G, the display image by the liquid crystal panel 1110G needs to be horizontally reversed with respect to the display images by the liquid crystal panels 1110R and 1110B.

尚、液晶パネル1110R、1110B及び1110Gには、ダイクロイックミラー1108によって、R、G、Bの各原色に対応する光が入射するので、カラーフィルタを設ける必要はない。   In addition, since light corresponding to each primary color of R, G, and B is incident on the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G by the dichroic mirror 1108, it is not necessary to provide a color filter.

尚、図9を参照して説明した電子機器の他にも、モバイル型のパーソナルコンピュータや、携帯電話、液晶テレビ、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた装置等が挙げられる。そして、これらの各種電子機器に適用可能なのは言うまでもない。   In addition to the electronic device described with reference to FIG. 9, a mobile personal computer, a mobile phone, a liquid crystal television, a viewfinder type, a monitor direct view type video tape recorder, a car navigation device, a pager, and an electronic notebook , Calculators, word processors, workstations, videophones, POS terminals, devices with touch panels, and the like. Needless to say, the present invention can be applied to these various electronic devices.

また本発明は、上述の実施形態で説明した液晶装置以外にも、プラズマディスプレイ(PDP)、電界放出型ディスプレイ(FED、SED)、有機ELディスプレイ、デジタルマイクロミラーデバイス(DMD)、電気泳動装置等にも適用可能である。   In addition to the liquid crystal device described in the above embodiment, the present invention includes a plasma display (PDP), a field emission display (FED, SED), an organic EL display, a digital micromirror device (DMD), an electrophoresis device, and the like. It is also applicable to.

本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う電気光学装置及びその駆動方法、及び該電気光学装置を備えてなる電子機器もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be appropriately changed without departing from the spirit or concept of the invention that can be read from the claims and the entire specification. The driving method and the electronic apparatus including the electro-optical device are also included in the technical scope of the present invention.

第1実施形態に係る液晶装置の全体構成を示す平面図である。It is a top view which shows the whole structure of the liquid crystal device which concerns on 1st Embodiment. 図1のH−H´の断面図である。It is sectional drawing of HH 'of FIG. 第1実施形態に係る液晶装置の主要な回路構成を示したブロック図である。1 is a block diagram illustrating a main circuit configuration of a liquid crystal device according to a first embodiment. 画素部の電気的な構成を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the electrical structure of a pixel part. 走査信号の供給タイミングを示すタイミングチャートである。It is a timing chart which shows the supply timing of a scanning signal. 差動増幅回路の電気的な構成を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the electric constitution of a differential amplifier circuit. 選択回路の電気的な構成を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the electric constitution of a selection circuit. 差動増幅回路によってプリチャージされるデータ線の電位の変化を示すタイミングチャートである。6 is a timing chart showing a change in potential of a data line precharged by a differential amplifier circuit. 電気光学装置を適用した電子機器の一例たるプロジェクタの構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the projector which is an example of the electronic device to which the electro-optical apparatus is applied.

符号の説明Explanation of symbols

3…データ線、4a…差動増幅回路、6…画像信号線、9a…画素電極、7…サンプリング回路、10…TFTアレイ基板、10a…画像表示領域、11…走査線、20…対向基板、60…トランスミッションゲート、70…画素部、101…データ線駆動回路、104…走査線線駆動回路、200…選択回路、ex…切換信号、FRP…反転周期規定信号、ref…基準信号線、so、se…ノード、VDD…高電位電源、VSS…低電位電源   DESCRIPTION OF SYMBOLS 3 ... Data line, 4a ... Differential amplifier circuit, 6 ... Image signal line, 9a ... Pixel electrode, 7 ... Sampling circuit, 10 ... TFT array substrate, 10a ... Image display area, 11 ... Scanning line, 20 ... Counter substrate, 60 ... Transmission gate, 70 ... Pixel part, 101 ... Data line driving circuit, 104 ... Scanning line driving circuit, 200 ... Selection circuit, ex ... Switching signal, FRP ... Inversion period defining signal, ref ... Reference signal line, so, se ... node, VDD ... high potential power supply, VSS ... low potential power supply

Claims (6)

基板上に、
互いに交差する複数の走査線及び複数のデータ線と、
前記複数の走査線及び前記複数のデータ線の交差に対応して配置されると共に、所定周期で電位が所定電位に対して高位側の正極性と低位側の負極性とで極性反転する画像信号が、前記データ線を介して供給される複数の画素部と、
前記所定電位よりも高い電位を有する高電位基準信号及び低い電位を有する低電位基準信号のうち、前記所定電位に対して前記画像信号と同じ極性の信号を基準信号として供給する基準信号線と、
第1ノードに前記基準信号線の電位が入力されると共に第2ノードに前記データ線の電位が入力され、前記第1ノードの電位と前記第2ノードの電位とを比較して、前記第2ノードの電位が前記第1ノードの電位より低い場合には、前記所定電位より低い電位を有する低電位信号を、前記第2ノードの電位が前記第1ノードの電位より高い場合には、前記所定電位より高い電位を有する高電位信号を、前記第2ノードから前記データ線に、前記データ線への前記画像信号の供給に先行する期間において出力する差動増幅回路と
を備えたことを特徴とする電気光学装置。
On the board
A plurality of scan lines and a plurality of data lines intersecting each other;
An image signal which is arranged corresponding to the intersection of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines and whose potential is inverted at a predetermined cycle between a positive polarity on the higher side and a negative polarity on the lower side with respect to the predetermined potential. A plurality of pixel portions supplied via the data lines;
Among the high potential reference signal having a potential higher than the predetermined potential and the low potential reference signal having a low potential, a reference signal line that supplies a signal having the same polarity as the image signal to the predetermined potential as a reference signal;
The potential of the reference signal line is input to the first node and the potential of the data line is input to the second node. The potential of the first node and the potential of the second node are compared, and the second node When the potential of the node is lower than the potential of the first node, a low potential signal having a potential lower than the predetermined potential is received. When the potential of the second node is higher than the potential of the first node, the predetermined potential is determined. A differential amplifier circuit that outputs a high potential signal having a potential higher than a potential from the second node to the data line in a period preceding the supply of the image signal to the data line. An electro-optical device.
前記所定周期は、前記画像信号の1水平走査期間であり、
前記先行する期間は、前記1水平走査期間における水平帰線期間である
ことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置。
The predetermined period is one horizontal scanning period of the image signal,
The electro-optical device according to claim 1, wherein the preceding period is a horizontal blanking period in the one horizontal scanning period.
前記走査線を介して前記画素部に走査信号を供給する走査線駆動回路と、
前記複数の画素部の各々に前記データ線を介して前記画像信号を供給する画像信号供給回路と、
前記走査線駆動回路及び前記画像信号供給回路の少なくとも一方に前記所定電位よりも高い高電位電源及び低い低電位電源の各々を供給する複数の電源配線と
を備え、
前記高電位基準信号及び前記高電位信号は、前記高電位電源の電位と同電位であり、
前記低電位基準信号及び前記低電位信号は、前記低電位電源の電位と同電位である
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の電気光学装置。
A scanning line driving circuit for supplying a scanning signal to the pixel portion via the scanning line;
An image signal supply circuit for supplying the image signal to each of the plurality of pixel portions via the data line;
A plurality of power supply lines for supplying each of a high potential power source higher than the predetermined potential and a low low potential power source to at least one of the scanning line driving circuit and the image signal supply circuit;
The high potential reference signal and the high potential signal are the same potential as the potential of the high potential power source,
The electro-optical device according to claim 1, wherein the low-potential reference signal and the low-potential signal are the same potential as the potential of the low-potential power source.
前記高電位基準信号及び前記低電位基準信号の中間の電位を有する中間電位基準信号と、前記高電位基準信号及び前記低電位基準信号のうち前記同じ極性の信号とを選択的に前記基準信号線に供給する選択回路を備えたことを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の電気光学装置。   The reference signal line selectively selects an intermediate potential reference signal having an intermediate potential between the high potential reference signal and the low potential reference signal and a signal having the same polarity among the high potential reference signal and the low potential reference signal. 4. The electro-optical device according to claim 1, further comprising a selection circuit that supplies the selection circuit. 請求項1から4のいずれか一項に記載の電気光学装置を具備してなる電子機器。   An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 1. 基板上に、互いに交差する複数の走査線及び複数のデータ線と、前記複数の走査線及び前記複数のデータ線の交差に対応して配置された複数の画素部と、基準信号を供給する基準信号線と、第1ノードに前記基準信号線の電位が入力されると共に第2ノードに前記データ線の電位が入力される差動増幅回路とを備えた電気光学装置を駆動する電気光学装置の駆動方法であって、
所定周期で電位が所定電位に対して高位側の正極性と低位側の負極性とで極性反転する画像信号を、前記データ線を介して前記複数の画素部に供給する画像信号供給過程と、
前記所定電位よりも高い電位を有する高電位基準信号及び低い電位を有する低電位基準信号のうち電位が前記画像信号と同じ極性である信号を、前記基準信号として前記基準信号線に供給する基準信号供給過程と、
前記第1ノードの電位と前記第2ノードの電位とを比較して、前記第2ノードの電位が前記第1ノードの電位より低い場合には、前記所定電位より低い電位を有する低電位信号を、前記第2ノードの電位が前記第1ノードの電位より高い場合には、前記所定電位より高い電位を有する高電位信号を、前記データ線への前記画像信号の供給に先行する期間において前記データ線をプリチャージするためのプリチャージ信号として、前記第2ノードを介して前記データ線に供給するプリチャージ過程と
を備えたことを特徴とする電気光学装置の駆動方法。
A plurality of scanning lines and a plurality of data lines intersecting each other on a substrate, a plurality of pixel portions arranged corresponding to the intersection of the plurality of scanning lines and the plurality of data lines, and a reference for supplying a reference signal An electro-optical device for driving an electro-optical device, comprising: a signal line; and a differential amplifier circuit in which a potential of the reference signal line is input to a first node and a potential of the data line is input to a second node. A driving method comprising:
An image signal supply process for supplying an image signal whose polarity is inverted between a positive polarity on a higher side and a negative polarity on a lower side with respect to a predetermined potential in a predetermined cycle to the plurality of pixel portions via the data line;
A reference signal for supplying a signal having the same polarity as the image signal to the reference signal line as the reference signal among a high potential reference signal having a potential higher than the predetermined potential and a low potential reference signal having a low potential Supply process,
When the potential of the first node is compared with the potential of the second node, and the potential of the second node is lower than the potential of the first node, a low potential signal having a potential lower than the predetermined potential is When the potential of the second node is higher than the potential of the first node, a high potential signal having a potential higher than the predetermined potential is sent to the data in a period preceding the supply of the image signal to the data line. And a precharging process for supplying the data line via the second node as a precharge signal for precharging the line.
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CN111179807A (en) * 2019-04-09 2020-05-19 友达光电股份有限公司 Display panel and driving method thereof

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105954906A (en) * 2016-07-12 2016-09-21 武汉华星光电技术有限公司 Array substrate and liquid crystal display panel
CN105954906B (en) * 2016-07-12 2019-03-15 武汉华星光电技术有限公司 A kind of array substrate and liquid crystal display panel
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