JP2007219242A - コンタクト露光方法及びコンタクト露光装置 - Google Patents
コンタクト露光方法及びコンタクト露光装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007219242A JP2007219242A JP2006040696A JP2006040696A JP2007219242A JP 2007219242 A JP2007219242 A JP 2007219242A JP 2006040696 A JP2006040696 A JP 2006040696A JP 2006040696 A JP2006040696 A JP 2006040696A JP 2007219242 A JP2007219242 A JP 2007219242A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- mask
- wafer stage
- stage
- contact exposure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
【課題】従来のコンタクト露光装置に簡単な改造を施すだけで、マスクとウエハの密着性を向上できるコンタクト露光方法及びコンタクト露光装置の実現。
【解決手段】露光パターンを形成したマスク11を保持するマスクホルダ12と、レジスト71を塗布したウエハ21が載置され、ウエハの裏面を真空吸着するか又は裏面に圧力を印加するための気体経路29,60を有するウエハステージ22と、マスクホルダとウエハステージの相対位置を調整する移動機構30と、ウエハステージの気体経路の圧力を切り換える圧力切換機構51,52と、マスクに光を照射する光源15と、を備える。
【選択図】図3
【解決手段】露光パターンを形成したマスク11を保持するマスクホルダ12と、レジスト71を塗布したウエハ21が載置され、ウエハの裏面を真空吸着するか又は裏面に圧力を印加するための気体経路29,60を有するウエハステージ22と、マスクホルダとウエハステージの相対位置を調整する移動機構30と、ウエハステージの気体経路の圧力を切り換える圧力切換機構51,52と、マスクに光を照射する光源15と、を備える。
【選択図】図3
Description
本発明は、露光パターンを形成したマスクを、レジストを塗布したウエハに密着させた状態で露光を行うコンタクト露光方法及びコンタクト露光装置に関する。
光導波路は、コンタクト露光を利用したフォトエッチングなどにより形成される。コンタクト露光は、露光パターンを形成したマスクを、レジストを塗布したウエハに密着させた状態で、マスクに紫外線などを照射することにより行われる。コンタクト露光を利用した光導波路の形成は、特許文献1などに記載されており、広く知られているので、ここでは詳しい説明は省略する。
光導波路の製造においても、パターンの微細化及び高精度化が求められており、例えば、3μmの線路幅に対して+0.15μm、−0.25μmの誤差範囲が要求され、0.5μmのY分岐先端径の解像度が要求されている。
コンタクト露光で高解像度を得るには、マスクの暗部パターンの下部への光の回り込みを低減する必要があり、マスクとウエハの密着度を高める必要がある。
図1は、コンタクト露光装置の従来例の概略構成を示す図である。図示のように、従来のコンタクト露光装置は、マスク11を保持するマスクホルダ12と、ウエハ21を保持するウエハステージ22と、マスク11に照射する紫外線を出力する紫外線ランプ15と、を有する。マスクホルダ12には2重のリング状のガスケット13が設けられており、ガスケット13の2重リングの間が気体経路14を介して真空ポンプ20の吸気口S1に接続されている。ガスケット13にマスク11を接触させた状態で真空ポンプ20により気体経路14内を減圧すると、マスク11は真空吸着されてマスクホルダ12に保持される。なお、マスク11は真空吸着以外の方法でマスクホルダ12に固定することも可能である。更に、マスクホルダ12は、図示していないY軸移動機構により上下方向に移動可能である。
ウエハステージ22に表面には、気体経路29を介して真空ポンプ20の吸気口S2に接続される溝を有し、ウエハ21を載置した状態で真空ポンプ20により気体経路29内を減圧すると、ウエハ21は真空吸着されてウエハステージ22に保持される。ウエハステージ22は、ボール軸受23を介してステージベース25に保持されており、ウエハステージ22の載置面の向きが調整可能であり、ステージ固定ツマミ24により調整した向きで固定できるようになっている。ステージベース25は、XZθ調整機構30に保持されている。これにより、ステージベース25、すなわちウエハステージ22は、Z軸調整ツマミ26及びX軸調整ツマミ28を操作することによりXZ軸の2軸方向の位置を調整可能で、θ軸調整ツマミ27を操作することによりY軸に垂直な面内での回転位置を調整可能である。
露光を行う場合には、露光パターンが形成されたマスク11を、上記の方法でマスクホルダ12に保持する。次に、ウエハ21をウエハステージ22に載置して真空吸着により保持する。そして、Y軸移動機構によりマスクホルダ12を降下させてマスク11をウエハ21に近接させ、顕微鏡などでマスク11とウエハ21の位置合わせマークを確認しながら、XZθ調整機構30によりマークが一致するようにウエハステージ22のXZ軸方向の位置及び回転θを調整する。その後、マスクホルダ12を更に降下させてマスク11をウエハ21に接触させる。この時、ウエハステージ22はボール軸受23を介してステージベース25に保持されているので、ウエハ21がマスク11に面に沿うようにウエハステージ22の向きが調整されるので、その後固定ツマミ24を操作してウエハステージ22の向きを固定する。この状態で、紫外線ランプ15からの紫外線をマスク11に照射して、ウエハ21の表面に塗布されたレジストにマスク11のパターンを露光する。この間、マスク11はマスクホルダ12に真空吸着され、ウエハ21はウエハステージ22に真空吸着された状態が維持される。露光後、Y軸移動機構によりマスクホルダ12を上昇させて、マスク11とウエハ21を引き離す。マスク11はマスクホルダ12に真空吸着され、ウエハ21はウエハステージ22に真空吸着されているので、引き離すことが可能である。
図1の装置では、ウエハステージ22をボール軸受23を介してステージベース25に保持するいわゆる首振り機構が設けられており、ウエハ21がマスク11に面に沿うようにウエハステージ22の向きが調整される。しかし、マスク11は周辺のみが保持されているために、マスク11を降下させてウエハ21に押し当てた場合に、マスク11がたわんでウエハ21に均一に密着しない(主として中心が密着しない)という問題が生じる。また、ウエハステージ22の傾斜を首振り機構のみで補正するのは難しく、ウエハステージ22の首振り機構はマスク11の平面度やウエハ21の平面度の影響を除くことはできない。そのため、マスク11とウエハ21の密着を全面で均一に行うことができず、部分的な解像不良が発生する。そこで、ウエハステージ22の中心を機械的に持ち上げる機構なども考えられているが、十分な効果が得られていない。
特許文献1は、光導波路を製造するためのコンタクト露光方法において、マスクとウエハの密着圧力を高めるために、ウエハの裏面に不活性ガスの圧力を印加して密着性を向上することを記載している。しかし、特許文献1は、マスク及びウエハの保持については何ら記載しておらず、単に密着性を高めただけでは、露光後にマスク及びウエハを引き離すことができないという問題を生じる。
図2は、マスクとウエハの密着度をより向上させたコンタクト露光装置の従来例の概略構成を示す図である。このコンタクト露光装置は、マスク11を保持するマスクホルダ12と、ウエハ21を保持するウエハステージ22と、紫外線光源15と、を有する。マスクホルダ12は、中心に穴を有し、穴をふさぐようにマスク11が載置される。マスク11は、マスクホルダ12に設けられた位置決めピン16に当接させて配置され、図示していない保持機構でマスクホルダ12に固定される。なお、マスク11は、図示していないガスケットなどを使用してマスクホルダ12との接触部分が密閉されるように固定される。また、図1と同様に、マスクホルダ12は、図示していないY軸移動機構により上下方向に移動可能である。
ウエハステージ22に表面には、気体経路29を介して真空ポンプ20の吸気口S2に接続される溝を有し、ウエハ21を載置した状態で真空ポンプ20により気体経路29内を減圧すると、ウエハ21は真空吸着されてウエハステージ22に保持される。ウエハステージ22はステージベース25に保持されており、ステージベース25はステージ傾斜調整機構31を介してXZθ調整機構32に保持されている。これにより、ウエハステージ22の載置面の向きが調整可能であると共に、ステージベース25、すなわちウエハステージ22は、XZ軸の2軸方向の位置及びY軸に垂直な面内での回転位置を調整可能である。
ウエハステージ22は、マスクホルダ12の穴に移動して、載置したウエハ12をマスク11に接触させるようになっている。ウエハ12がマスク11に接触する状態では、マスクホルダ12とステージベース25がガスケット17を介して接触するようになっており、マスクホルダ12の穴の内部は密閉される。この部分は、気体経路18を介して真空ポンプ20の吸気口S1に接続されており、減圧することが可能である。
露光を行う場合には、図1の場合と同様に、マスク11及びウエハ21の位置合わせを行った後接触させる。その後、Z軸調整ツマミ26を回して一定量ウエハステージ22を押し上げ、強制的に加圧接触させる。
図2の従来のコンタクト露光装置は、マスクホルダ12の穴の内部を密閉して減圧する必要があり、その分装置が複雑でコスト増になるという問題がある。更に、マスクホルダ12の穴の内部を減圧しただけでは、マスク11の平面度やウエハ21の平面度の影響を十分に除去するのは難しいという問題がある。
本発明は、図1に示すような従来のコンタクト露光装置に簡単な改造を施すだけで、マスクとウエハの密着性を向上できるコンタクト露光方法及びコンタクト露光装置の実現を目的とする。
上記目的を実現するため、本発明は、図1に示すような従来のコンタクト露光装置において、ウエハをウエハステージに真空吸着するための気体経路を、減圧状態と加圧状態との間で切り換えられるようにして、マスクをウエハに接触させるまでの間は気体経路を減圧状態にしてウエハを真空吸着し、マスクとウエハが接触した後は気体経路を加圧状態にしてウエハをマスクに押し当て、その状態で露光した後、再び気体経路を減圧状態にしてウエハを真空吸着してマスクとウエハを引き離す。
すなわち、本発明のコンタクト露光方法は、露光パターンを形成したマスクをマスクホルダに保持し、レジストを塗布したウエハをウエハステージに載置し、前記ウエハステージの気体経路を介して前記ウエハの裏面を真空吸着して保持し、前記マスクと前記ウエハの露光位置を合わせ、前記マスクと前記ウエハを接触させ、前記ウエハの裏面の真空吸着を停止して、前記ウエハの裏面に圧力を印加するように、前記ウエハステージの気体経路を切り換え、前記マスクに光を照射して、前記露光パターンを前記ウエハに塗布された前記レジストに露光し、前記ウエハの裏面への圧力印加を停止して、前記ウエハの裏面を真空吸着するように、前記ウエハステージの気体経路を切り換え、前記マスクと前記ウエハを引き離す、ことを特徴とする。
また、本発明のコンタクト露光装置は、露光パターンを形成したマスクを保持するマスクホルダと、レジストを塗布したウエハが載置され、前記ウエハの裏面を真空吸着するか又は前記裏面に圧力を印加するための気体経路を有するウエハステージと、前記マスクホルダと前記ウエハステージの相対位置を調整する移動機構と、前記ウエハステージの前記気体経路の圧力を切り換える圧力切換機構と、前記露光パターンを前記ウエハに塗布された前記レジストに露光するために、前記マスクに光を照射する光源と、を備えることを特徴とする。
本発明によれば、マスクとウエハが接触した後ウエハの裏面に圧力を印加してマスクに押し当てるので、マスク及びウエハの平面度の差により密着性が十分でない部分にも圧力を加えて密着性を向上できる。
また、本発明のコンタクト露光装置は、図1の装置において、気体経路に減圧状態と加圧状態の切換機構を設けるだけでよく、構成が簡単で、現存する図1の装置を改造するのも容易である。
本発明によれば、簡単な構成で密着性を向上できるコンタクト露光方法及び装置が実現できる。
図3は、本発明の実施例のコンタクト露光装置の構成を示す図である。図1と比較して明らかなように、実施例のコンタクト露光装置は、図1の従来のコンタクト露光装置において、気体経路29を2つの経路に分岐し、一方の経路はバルブ51を介して真空ポンプ20の吸気口S2に接続し、他方の経路はバルブ52とレギュレータ53を介して窒素ガス源に接続される経路55に接続されるようにしたもので、他の部分は図1の従来例と同じである。参照番号54は、レギュレータ53により調整される気体の圧力を測定する圧力計である。
バルブ52を閉じて、バルブ51を開くと、図1の従来例と同じ構成になり、ウエハ21をウエハステージ22に真空吸着することができる。バルブ51を閉じて、バルブ52を開くと、真空経路29に所定の圧力の窒素ガスを供給して、ウエハ21の裏面に所定の圧力を印加することができる。
図4は、ウエハステージ22の上面図と断面図である。図示のように、ウエハステージ22の載置面には、十字形に溝60が設けられている。破線で示す円は、ウエハ21が載置される部分である。溝60は、ウエハステージ22の中心に設けられた穴につながっており、この穴はウエハステージ22の外部の気体経路29につながる。
図5は、実施例のコンタクト露光装置を使用して露光を行う時の動作を示すフローチャートである。
ステップ101では、マスク11をマスクホルダ12に接触させ、真空ポンプ20の吸気口S1から気体経路14を減圧してマスク11をマスクホルダ12に保持する。
ステップ102では、バルブ52を閉じ、バルブ51を開いた状態にした上で、ウエハ21をウエハステージ22に載置し、真空ポンプ20の吸気口S2から気体経路29を減圧してウエハ21をウエハステージ22に保持する。
ステップ103では、図示していないY軸移動機構によりマスクホルダ12を降下させてマスク11をウエハ21に近接させ、顕微鏡などでマスク11とウエハ21の位置合わせマークを確認しながら、XZθ調整機構30によりマークが一致するようにウエハステージ22のXZ軸方向の位置及び回転θを調整する。
ステップ104では、マスクホルダ12を更に降下させてマスク11をウエハ21に接触させる。この時、ウエハステージ22はボール軸受23を介してステージベース25に保持されているので、ウエハ21がマスク11に面に沿うようにウエハステージ22の向きが調整されるので、その後固定ツマミ24を操作してウエハステージ22の向きを固定する。
ステップ105では、バルブ51を閉じ、バルブ52を開いて、気体経路29に所定の圧力の窒素ガスを供給する。この圧力は、例えば、9.8×104Pa程度であり、圧力計54を見ながらレギュレータ53で調整する。これにより、ウエハ21の下面の溝60の部分からウエハ21を押し上げる力が働き、ウエハ21はマスク11に押し付けられ、全面で密着する。マスク11は、その周辺部のみがマスクホルダ12に真空吸着されるので、マスク11をウエハ21に押し当てると、マスク11の中心部が上方にたわむ。溝60は十字形であり、溝の密度は中心部の方が周辺部より大きいので、ウエハ21の中心部の方が押し上げる力が大きく、ウエハ21も中心部が上方にたわむのでウエハ21とマスク11の密着性は良好である。
ステップ106では、紫外線ランプ15から紫外線をマスク11に照射して露光を行う。これにより、ウエハ21の表面に塗布されたレジストにマスク11のパターンが露光される。
ステップ107では、バルブ52を閉じ、バルブ51を開いて、真空ポンプ20の吸気口S2から気体経路29を減圧してウエハ21を再びウエハステージ22に吸着する。
ステップ108では、Y軸移動機構によりマスクホルダ12を上昇させて、マスク11とウエハ21を引き離す。マスク11はマスクホルダ12に真空吸着され、ウエハ21はウエハステージ22に真空吸着されているので、引き離すことが可能である。
ステップ109では、ウエハ21の吸着を解除し、ステップ110では、マスク11の吸着を解除する。もし、続けて同じウエハに同じマスクのパターンを露光するのであれば、ステップ109及び110を行わずにステップ103に進む。
以上、本発明の実施例を説明したが、本実施例で実際に露光を行ったところでは、図1の従来例のコンタクト露光装置を使用した場合に比べて大幅に解像度が向上しただけでなく、高価な図2のコンタクト露光装置を使用した場合に比べてもより良好な解像度が得られた。
また、ウエハ21にレジスト71を塗布した場合、図6に示すように、ウエハ21の周辺部のレジストが盛り上がり、レジスト厚が大きくなるというビードが発生する。図1及び図2の従来のコンタクト露光装置を使用した場合、ビードがあるウエハ21をそのまま露光すると、露光後マスクとウエハを引き離すことができず、無理に引き離すと、レジストの一部や、ウエハ又はマスクが破損するという事故が発生する場合があった。そのため、図6のビードの部分を除去した後露光を行っており、煩雑であった。実施例のコンタクト露光装置を使用した場合、たとえビードのあるウエハをそのまま露光しても、良好な解像度が得られるだけでなく、露光後マスクとウエハを容易に引き離すことができた。
以上、本発明の実施例を説明したが、各種の変形例が可能なのはいうまでもない。
また、本発明は、光導波路を製造するために使用するコンタクト露光方法及び装置だけでなく、光導波路以外のものを製造するために使用するコンタクト露光方法及び装置にも適用可能である。
本発明は、現在はほとんど新しい機種が開発されていないが、以前から使用され、現在でも広く使用されているコンタクト露光装置であれば、どのような装置にも適用可能である。
11 マスク
12 マスクホルダ
15 紫外線ランプ
20 真空ポンプ
21 ウエハ
22 ウエハステージ
29 気体経路
51、52 バルブ
53 レギュレータ
12 マスクホルダ
15 紫外線ランプ
20 真空ポンプ
21 ウエハ
22 ウエハステージ
29 気体経路
51、52 バルブ
53 レギュレータ
Claims (2)
- 露光パターンを形成したマスクをマスクホルダに保持し、
レジストを塗布したウエハをウエハステージに載置して、前記ウエハステージの気体経路を介して前記ウエハの裏面を真空吸着して保持し、
前記マスクと前記ウエハの露光位置を合わせ、
前記マスクと前記ウエハを接触させ、
前記ウエハの裏面の真空吸着を停止して、前記ウエハの裏面に圧力を印加するように、前記ウエハステージの気体経路を切り換え、
前記マスクに光を照射して、前記露光パターンを前記ウエハに塗布された前記レジストに露光し、
前記ウエハの裏面への圧力印加を停止して、前記ウエハの裏面を真空吸着するように、前記ウエハステージの気体経路を切り換え、
前記マスクと前記ウエハを引き離す、ことを特徴とするコンタクト露光方法。 - 露光パターンを形成したマスクを保持するマスクホルダと、
レジストを塗布したウエハが載置され、前記ウエハの裏面を真空吸着するか又は前記裏面に圧力を印加するための気体経路を有するウエハステージと、
前記マスクホルダと前記ウエハステージの相対位置を調整する移動機構と、
前記ウエハステージの前記気体経路の圧力を切り換える圧力切換機構と、
前記露光パターンを前記ウエハに塗布された前記レジストに露光するために、前記マスクに光を照射する光源と、を備えることを特徴とするコンタクト露光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006040696A JP2007219242A (ja) | 2006-02-17 | 2006-02-17 | コンタクト露光方法及びコンタクト露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006040696A JP2007219242A (ja) | 2006-02-17 | 2006-02-17 | コンタクト露光方法及びコンタクト露光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007219242A true JP2007219242A (ja) | 2007-08-30 |
Family
ID=38496612
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006040696A Pending JP2007219242A (ja) | 2006-02-17 | 2006-02-17 | コンタクト露光方法及びコンタクト露光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007219242A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103901736A (zh) * | 2014-01-25 | 2014-07-02 | 保定来福光电科技有限公司 | 一种曝光机中工作软片深度贴紧的方法 |
KR101764836B1 (ko) | 2015-12-14 | 2017-08-14 | 한국기계연구원 | 바이오칩 제작용 자외선 노광 장치 |
CN112462575A (zh) * | 2019-09-06 | 2021-03-09 | 台湾恒基股份有限公司 | 光刻制程的方法及其板材定位装置 |
-
2006
- 2006-02-17 JP JP2006040696A patent/JP2007219242A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103901736A (zh) * | 2014-01-25 | 2014-07-02 | 保定来福光电科技有限公司 | 一种曝光机中工作软片深度贴紧的方法 |
KR101764836B1 (ko) | 2015-12-14 | 2017-08-14 | 한국기계연구원 | 바이오칩 제작용 자외선 노광 장치 |
CN112462575A (zh) * | 2019-09-06 | 2021-03-09 | 台湾恒基股份有限公司 | 光刻制程的方法及其板材定位装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3678079B2 (ja) | マスクとワークの間隔設定手段を備えたコンタクト露光装置 | |
US6232023B1 (en) | Contact exposure process and device | |
JP2007005335A (ja) | 基板接合方法および基板接合装置 | |
TWI714911B (zh) | 夾持基板至夾持系統之方法、基板固持器及基板支撐器 | |
JP2015138842A (ja) | インプリント装置及び物品の製造方法 | |
JP2007219242A (ja) | コンタクト露光方法及びコンタクト露光装置 | |
JP2003051535A (ja) | 基板保持装置、露光装置およびデバイス製造方法 | |
JP2007010697A (ja) | ペリクル装着装置、ペリクル装着方法及びパターン基板の製造方法 | |
JP5036645B2 (ja) | 露光装置及び露光装置のランプ交換方法 | |
JP2013038137A (ja) | モールド、インプリント装置、インプリント方法及び物品の製造方法 | |
JP2008111969A (ja) | 露光装置 | |
JP2017516302A (ja) | ナノ構造を型押しする方法及び装置 | |
JP2003167355A (ja) | マスクのたわみ補正方法およびたわみ補正機構を備えた露光装置 | |
JP5495094B2 (ja) | コンタクト露光装置及びコンタクト露光方法 | |
JP2010283108A (ja) | インプリント装置及び物品の製造方法 | |
KR101005582B1 (ko) | 기판 정렬 모듈 및 이를 구비하는 리소그래피 장치 | |
US7710672B2 (en) | Magnetic transfer holder unit, transfer apparatus, method of manufacturing a transfer medium, and magnetic recording medium | |
KR100539404B1 (ko) | 마스크 로더를 가진 노광장치 | |
TWI784550B (zh) | 能夠對準圖案的轉印裝置、製造圖案基板的方法及記錄介質 | |
JP3362653B2 (ja) | ハードコンタクト露光装置 | |
JP2007079103A (ja) | フィルム保持板、フィルム保持機構、露光機の整合装置 | |
JP2008276040A (ja) | マスクステージ | |
JP2006350192A (ja) | 露光機の整合装置及び露光機の整合方法 | |
TW202431525A (zh) | 用於夾取翹曲基板之真空台及方法 | |
JP2005093528A (ja) | 近接場露光用マスクの支持固定構造、該支持固定構造を有する近接場露光装置 |