JP2007198762A - 欠陥検出方法および欠陥検出装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】投光装置22の光を透明または半透明の板状体10の側面に照射し、その反射光を撮像装置21によって撮像して得られた画像を、記憶・処理装置24に取り込んで画像処理を行う。撮像された画像は複数の枠で分割され、各枠領域の受光量の正規分布に対する標準偏差を算出し、隣接する枠領域との標準偏差の差分値を算出して基準値と比較する。基準値として、予め、目視によって判断される板状体側面の最小不良箇所を撮像して得られた画像における標準偏差の差分値を用いることで、製品ごとの表面粗さや反射率の差によるノイズを回避する。
【選択図】図1
Description
撮像された画像を分割する枠を設けずに二値化にて処理する方法で欠陥検査を行い、上記実施例と比較した。
21 撮像装置
21a レンズ
22 投光装置
24 記憶・処理装置
25 駆動装置
26 表示装置
Claims (4)
- 透明または半透明の板状体の側面の欠陥を検出する欠陥検出方法において、
投光装置の光を板状体の側面に照射し、その反射光による画像を撮像装置によって撮像する工程と、
撮像された画像を複数の演算領域に分割し、各演算領域における受光量の、正規分布に対する標準偏差を算出する工程と、
隣接する2つの演算領域ごとに標準偏差の差分値を算出し、基準値と比較する工程と、を有し、
前記基準値が、目視により判断される板状体の側面の最小不良箇所を撮像して得られた画像における標準偏差の差分値であることを特徴とする欠陥検出方法。 - 基準値が1.0ないし6.5であることを特徴とする請求項1記載の欠陥検出方法。
- 板状体が画像形成装置のブレードであることを特徴とする請求項2記載の欠陥検出方法。
- 撮像装置と、板状体の側面に光を照射し、その反射光を撮像装置に導入する投光装置と、前記撮像装置によって得られた前記反射光による画像を処理する画像処理装置と、を有し、前記画像処理装置において、前記画像を複数の演算領域に分割し、各演算領域における受光量の、正規分布に対する標準偏差を求めて、隣接する2つの演算領域ごとに標準偏差の差分値を算出し、目視により判断される前記板状体の側面の最小不良箇所を撮像して得られた画像に基づく基準値と比較することで、前記板状体の側面の欠陥を検出することを特徴とする欠陥検出装置。
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