JP2007194265A - Flexible printed wiring board, and its manufacturing method - Google Patents

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Yoichi Miura
陽一 三浦
Yuji Narita
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a flexible printed wiring board which is superior in adhesion property of a resin substrate and metal wiring. <P>SOLUTION: The printed wiring board has the resin substrate having a fine concave and convex surface, a base layer formed on the fine concave and convex surface, a seed layer formed on the base layer in a pattern shape and a wiring plating layer formed on the seed layer. The base layer comprises a metal for adhesion property improvement. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、樹脂基板と金属配線との密着性に優れたフレキシブルプリント配線板、およびその製造方法に関するものである。   The present invention relates to a flexible printed wiring board having excellent adhesion between a resin substrate and a metal wiring, and a method for manufacturing the same.

フレキシブルプリント配線板は、屈曲可能な薄い樹脂基板上に金属配線を施したもので、実装スペースの節約や信頼性の向上に役立ち、コンピュータ関連機器、オーディオ製品、通信機器等に広く利用されている。   Flexible printed wiring boards are metal wiring on a thin bendable resin substrate, helping to save mounting space and improving reliability, and are widely used in computer-related equipment, audio products, communication equipment, etc. .

現在、一般的なフレキシブルプリント配線板の製造方法として、サブトラクティブ法およびセミアディティブ法が知られている。サブトラクティブ法は、樹脂基板および金属箔を備えた積層体を用意し、金属箔上に金属配線のパターンと同様のマスクパターンを形成し、その後、マスキングされていない部分の金属箔を除去し、最後にマスクパターンを除去することにより、樹脂基板上に金属配線を得る方法である。サブトラクティブ法は簡便な方法である等の利点を有する反面、金属配線の微細化が困難であるという欠点を有している。   Currently, a subtractive method and a semi-additive method are known as a general method for manufacturing a flexible printed wiring board. In the subtractive method, a laminate including a resin substrate and a metal foil is prepared, a mask pattern similar to the pattern of the metal wiring is formed on the metal foil, and then the unmasked portion of the metal foil is removed. Finally, the metal pattern is obtained on the resin substrate by removing the mask pattern. The subtractive method has an advantage that it is a simple method, but has a drawback that it is difficult to miniaturize the metal wiring.

一方、セミアディティブ法は、樹脂基板上に無電解めっき法によりシード層を形成し、金属配線パターンを形成しないシード層上の領域にレジストパターンを形成し、その後、レジストパターンの間隙に電解めっき法により金属配線を形成し、最後に、レジストパターンおよび不要なシード層を除去することにより、樹脂基板上に金属配線を得る方法である。セミアディティブ法は、金属配線の微細化が可能であるという利点を有する反面、樹脂基板と金属配線との密着性に劣るという欠点を有している。そのため、密着性の向上が求められていた。   On the other hand, in the semi-additive method, a seed layer is formed on a resin substrate by an electroless plating method, a resist pattern is formed in a region on the seed layer where a metal wiring pattern is not formed, and then an electrolytic plating method is formed in the gap of the resist pattern. In this method, the metal wiring is formed on the resin substrate by forming the metal wiring and finally removing the resist pattern and the unnecessary seed layer. The semi-additive method has an advantage that the metal wiring can be miniaturized, but has a disadvantage that the adhesion between the resin substrate and the metal wiring is inferior. Therefore, improvement in adhesion has been demanded.

なお、例えば、樹脂基板と金属配線との間に、接着層を用いることにより、密着性の向上を図ることは可能であるが、耐熱性、屈曲性、耐マイグレーション性、ボンディング性等に劣る場合があった。   For example, it is possible to improve the adhesion by using an adhesive layer between the resin substrate and the metal wiring, but the heat resistance, flexibility, migration resistance, bonding property, etc. are poor. was there.

上記セミアディティブ法における密着性向上に関して、例えば、特許文献1においては、熱可塑性ポリイミド樹脂からなる材料であって、その表面に無電解めっき皮膜を形成した場合5N/cm以上の接着強度を有する表面処理を施されたことを特徴とする熱可塑性ポリイミド樹脂材料が開示されている。しかしながら、充分な密着性を得ることができない場合があった。   Regarding the adhesion improvement in the semi-additive method, for example, in Patent Document 1, a material made of a thermoplastic polyimide resin, which has an adhesive strength of 5 N / cm or more when an electroless plating film is formed on the surface thereof A thermoplastic polyimide resin material characterized by being treated is disclosed. However, there are cases where sufficient adhesion cannot be obtained.

また、特許文献2においては、絶縁層および無電解めっき層を加熱処理する工程を有するプリント配線板の製造方法が開示されている。加熱処理を行うことにより、樹脂基板と金属配線との密着性を図るものであるが、充分な密着性を得ることができない場合があった。   Patent Document 2 discloses a method for manufacturing a printed wiring board having a step of heat-treating an insulating layer and an electroless plating layer. By performing the heat treatment, adhesion between the resin substrate and the metal wiring is achieved, but there are cases where sufficient adhesion cannot be obtained.

また、例えばスパッタリング法を用いることにより、樹脂基板上に金属配線層を密着性良く形成することは可能であるが、スパッタリング法は真空プロセスを用いるため、コストが高く、生産性に劣るという欠点があった。   Further, for example, by using a sputtering method, it is possible to form a metal wiring layer on a resin substrate with good adhesion, but since the sputtering method uses a vacuum process, there is a disadvantage that the cost is high and the productivity is inferior. there were.

特開2004−189981公報JP 2004-189981 A 特開2005−135985公報JP-A-2005-135985

本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであり、樹脂基板と金属配線との密着性に優れたフレキシブルプリント配線板を提供することを主目的とするものである。   This invention is made | formed in view of the said situation, and it aims at providing the flexible printed wiring board excellent in the adhesiveness of a resin substrate and metal wiring.

上記課題を解決するために、本発明においては、微細凹凸表面を有する樹脂基板と、上記微細凹凸表面上に形成された下地層と、上記下地層上にパターン状に形成されたシード層と、上記シード層上に形成された配線めっき層とを有し、上記下地層が、密着性向上用金属を含有することを特徴とするものである。   In order to solve the above problems, in the present invention, a resin substrate having a fine uneven surface, an underlayer formed on the fine uneven surface, a seed layer formed in a pattern on the underlayer, And a wiring plating layer formed on the seed layer, wherein the underlayer contains a metal for improving adhesion.

本発明によれば、樹脂基板とシード層との間に、密着性向上用金属を含有する下地層を形成することによって、樹脂基板と金属配線との密着性に優れたフレキシブルプリント配線板とすることができる。   According to the present invention, a flexible printed wiring board having excellent adhesion between the resin substrate and the metal wiring is formed by forming the base layer containing the adhesion improving metal between the resin substrate and the seed layer. be able to.

また、上記発明においては、上記下地層が、上記密着性向上用金属として、Ni、Co、Cu、MoおよびFeからなる群から選択される少なくとも1種類の金属を含有することが好ましい。密着性に優れたフレキシブルプリント配線板を得ることができるからである。   Moreover, in the said invention, it is preferable that the said base layer contains at least 1 type of metal selected from the group which consists of Ni, Co, Cu, Mo, and Fe as said metal for adhesiveness improvement. This is because a flexible printed wiring board excellent in adhesion can be obtained.

また、上記発明においては、上記下地層が、耐熱処理用金属を含有することが好ましい。耐久性に優れたフレキシブルプリント配線板を得ることができるからである。   Moreover, in the said invention, it is preferable that the said base layer contains the metal for heat processing. This is because a flexible printed wiring board having excellent durability can be obtained.

また、上記発明においては、上記微細凹凸表面の表面粗さRzが、0.1μm〜5.0μmの範囲内であることが好ましい。表面粗さRzが上記範囲内にあれば、密着性に優れたフレキシブルプリント配線板を得ることができるからである。   Moreover, in the said invention, it is preferable that the surface roughness Rz of the said fine uneven | corrugated surface exists in the range of 0.1 micrometer-5.0 micrometers. This is because if the surface roughness Rz is within the above range, a flexible printed wiring board having excellent adhesion can be obtained.

また、上記発明においては、上記配線めっき層の線幅が3μm〜30μmの範囲内であることが好ましい。配線めっき層の線幅が上記範囲内にあれば、配線密度の高いフレキシブルプリント配線板を得ることができるからである。   Moreover, in the said invention, it is preferable that the line | wire width of the said wiring plating layer exists in the range of 3 micrometers-30 micrometers. This is because a flexible printed wiring board having a high wiring density can be obtained if the line width of the wiring plating layer is within the above range.

また、本発明においては、微細凹凸表面を有する支持金属箔と、上記微細凹凸表面上に形成され、密着性向上用金属を含有する下地層とを備えた賦型用金属箔を用い、上記賦型用金属箔の下地層上に樹脂基板を設けることにより積層体を形成する積層体形成工程と、上記積層体から上記支持金属箔を除去し、下地層付樹脂基板を形成する下地層付樹脂基板形成工程と、上記下地層付樹脂基板の下地層上に無電解めっき法によりシード層を形成するシード層形成工程と、上記シード層上にレジストパターンを形成するレジストパターン形成工程と、上記レジストパターンの間隙に、電解めっき法により配線めっき層を形成する配線めっき層形成工程と、上記配線めっき層形成工程後に、上記シード層と上記配線めっき層との密着性を向上させる加熱工程と、上記加熱工程後に、上記レジストパターンを除去するレジストパターン除去工程と、上記レジストパターン除去工程後に、金属配線形成領域以外の上記シード層をエッチングするフラッシュエッチング工程と、を有することを特徴とするフレキシブルプリント配線板の製造方法を提供する。   Further, in the present invention, using the forming metal foil provided with a supporting metal foil having a fine uneven surface and an underlayer containing the metal for improving adhesion formed on the fine uneven surface, Laminate forming step of forming a laminate by providing a resin substrate on the base layer of the mold metal foil, and a resin with the base layer forming the resin substrate with the base layer by removing the support metal foil from the laminate A substrate formation step, a seed layer formation step of forming a seed layer on the underlayer of the resin substrate with the underlayer by an electroless plating method, a resist pattern formation step of forming a resist pattern on the seed layer, and the resist A wiring plating layer forming step for forming a wiring plating layer in the pattern gap by an electrolytic plating method, and an adhesion between the seed layer and the wiring plating layer is improved after the wiring plating layer forming step. And a resist pattern removing step for removing the resist pattern after the heating step, and a flash etching step for etching the seed layer other than the metal wiring formation region after the resist pattern removing step. A method for producing a flexible printed wiring board is provided.

本発明によれば、密着性向上用金属を含有する下地層付樹脂基板を形成した後に、シード層を形成することにより、下地層とシード層との密着性に優れたフレキシブルプリント配線板を得ることができる。結果として、樹脂基板と金属配線との密着性に優れたものとすることができる。   According to the present invention, a flexible printed wiring board having excellent adhesion between the underlayer and the seed layer is obtained by forming the seed layer after forming the resin substrate with the underlayer containing the adhesion improving metal. be able to. As a result, the adhesiveness between the resin substrate and the metal wiring can be excellent.

また、本発明においては、微細凹凸表面を有する支持金属箔と、上記微細凹凸表面上に形成され、密着性向上用金属を含有する下地層とを備えた賦型用金属箔を用い、上記賦型用金属箔の下地層上に樹脂基板を設けることにより積層体を形成する積層体形成工程と、上記積層体の支持金属箔をエッチングすることにより、シード層を形成するシード層形成工程と、上記シード層上にレジストパターンを形成するレジストパターン形成工程と、上記レジストパターンの間隙に、電解めっき法により配線めっき層を形成する配線めっき層形成工程と、上記配線めっき層形成工程後に、上記シード層と上記配線めっき層との密着性を向上させる加熱工程と、上記加熱工程後に、上記レジストパターンを除去するレジストパターン除去工程と、上記レジストパターン除去工程後に、金属配線形成領域以外の上記シード層をエッチングするフラッシュエッチング工程と、を有することを特徴とするフレキシブルプリント配線板の製造方法を提供する。   Further, in the present invention, using the metal foil for shaping provided with a supporting metal foil having a fine uneven surface and an underlayer containing the metal for improving adhesion formed on the fine uneven surface, A laminated body forming step of forming a laminated body by providing a resin substrate on the base layer of the mold metal foil; a seed layer forming step of forming a seed layer by etching the supporting metal foil of the laminated body; A resist pattern forming step for forming a resist pattern on the seed layer; a wiring plating layer forming step for forming a wiring plating layer in the gap between the resist patterns by an electrolytic plating method; and the seed after the wiring plating layer forming step. A heating step for improving adhesion between the layer and the wiring plating layer, a resist pattern removing step for removing the resist pattern after the heating step, After strike pattern removal step, to provide a method of manufacturing a flexible printed wiring board characterized by having a flash etching process for etching the seed layer other than the metal wiring formation region.

本発明によれば、賦型用金属箔の支持金属箔を、シード層として利用することにより、より簡便に密着性に優れたフレキシブルプリント配線板を得ることができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the flexible printed wiring board excellent in adhesiveness can be obtained more simply by utilizing the support metal foil of the shaping metal foil as a seed layer.

本発明においては、樹脂基板と金属配線との密着性に優れたフレキシブルプリント配線板を提供することができるという効果を奏する。特に、金属配線を微細化した場合であっても、樹脂基板と金属配線との密着性に優れ、精度良く金属配線が形成されたフレキシブルプリント配線板を提供することができる。   In this invention, there exists an effect that the flexible printed wiring board excellent in the adhesiveness of a resin substrate and metal wiring can be provided. In particular, even when the metal wiring is miniaturized, it is possible to provide a flexible printed wiring board having excellent adhesion between the resin substrate and the metal wiring and having the metal wiring formed with high accuracy.

以下、本発明のフレキシブルプリント配線板、およびフレキシブルプリント配線板の製造方法について詳細に説明する。   Hereinafter, the flexible printed wiring board of this invention and the manufacturing method of a flexible printed wiring board are demonstrated in detail.

A.フレキシブルプリント配線板
まず、本発明のフレキシブルプリント配線板について説明する。本発明のフレキシブルプリント配線板は、微細凹凸表面を有する樹脂基板と、上記微細凹凸表面上に形成された下地層と、上記下地層上にパターン状に形成されたシード層と、上記シード層上に形成された配線めっき層とを有し、上記下地層が、密着性向上用金属を含有することを特徴とするものである。
A. First, the flexible printed wiring board of the present invention will be described. The flexible printed wiring board of the present invention includes a resin substrate having a fine uneven surface, an underlayer formed on the fine uneven surface, a seed layer formed in a pattern on the underlayer, and the seed layer And the undercoat layer contains a metal for improving adhesion.

本発明によれば、樹脂基板とシード層との間に、密着性向上用金属を含有する下地層を形成することによって、樹脂基板と金属配線との密着性に優れたフレキシブルプリント配線板とすることができる。また、上記の下地層を設けることで、粗度の低い樹脂基板を用いた場合であっても、樹脂基板と金属配線との密着性を優れたものとすることができ、微細な金属配線を精度良く形成することができる。さらには、上記の下地層を設けることで、高温・高湿条件においても密着性に優れたフレキシブルプリント配線板とすることができる。なお、本発明のフレキシブルプリント配線板は、後述するように、通常、セミアディティブ法により形成されるものであるため、シード層が必須の構成要素となる。従って、例えばサブトラクティブ法により形成されたフレキシブルプリント配線板は、シード層を有しないため、本発明のフレキシブルプリント配線板とは異なる。   According to the present invention, a flexible printed wiring board having excellent adhesion between the resin substrate and the metal wiring is formed by forming the base layer containing the adhesion improving metal between the resin substrate and the seed layer. be able to. In addition, by providing the above base layer, even when a low-roughness resin substrate is used, the adhesion between the resin substrate and the metal wiring can be improved, and a fine metal wiring can be formed. It can be formed with high accuracy. Furthermore, by providing the base layer, a flexible printed wiring board having excellent adhesion even under high temperature and high humidity conditions can be obtained. In addition, since the flexible printed wiring board of this invention is normally formed by a semi-additive method so that it may mention later, a seed layer becomes an essential component. Therefore, for example, a flexible printed wiring board formed by a subtractive method does not have a seed layer, and thus is different from the flexible printed wiring board of the present invention.

次に、本発明のフレキシブルプリント配線板について図面を用いて説明する。図1は、本発明のフレキシブルプリント配線板の一例を示す概略断面図である。図1に示すように、本発明のフレキシブルプリント配線板は、微細凹凸表面を有する樹脂基板1と、微細凹凸表面上にパターン状に形成された下地層2と、下地層2上に形成されたシード層3と、シード層3上に形成された配線めっき層4とを有するものである。さらに、下地層2は、シード層との密着性を向上させる密着性向上用金属を含有する。なお、本発明において「金属配線」とは、シード層3および配線めっき層4をいうものである。
以下、本発明のフレキシブルプリント配線板について、構成ごとに説明する。
Next, the flexible printed wiring board of this invention is demonstrated using drawing. FIG. 1 is a schematic sectional view showing an example of the flexible printed wiring board of the present invention. As shown in FIG. 1, the flexible printed wiring board of the present invention was formed on a resin substrate 1 having a fine uneven surface, an underlayer 2 formed in a pattern on the fine uneven surface, and an underlayer 2. It has a seed layer 3 and a wiring plating layer 4 formed on the seed layer 3. Further, the underlayer 2 contains an adhesion improving metal that improves the adhesion with the seed layer. In the present invention, the “metal wiring” refers to the seed layer 3 and the wiring plating layer 4.
Hereinafter, the flexible printed wiring board of this invention is demonstrated for every structure.

1.下地層
まず、本発明に用いられる下地層について説明する。本発明に用いられる下地層は、樹脂基板とシード層との間に形成される層である。さらに、上記下地層は、シード層との密着性を向上させる密着性向上用金属を含有する。また、上記下地層は、密着性向上用金属を含有するものであれば、疎な下地層であっても良く、密な下地層であっても良い。
1. Underlayer First, the underlayer used in the present invention will be described. The foundation layer used in the present invention is a layer formed between the resin substrate and the seed layer. Further, the underlayer contains an adhesion improving metal that improves adhesion with the seed layer. The underlayer may be a sparse underlayer or a dense underlayer as long as it contains a metal for improving adhesion.

まず、疎な下地層について説明する。図2は、疎な下地層の一例を示す概略断面図である。図2に示すように、本発明のフレキシブルプリント配線板は、樹脂基板1と、NiおよびCo等の密着性向上用金属の金属粒子が点在する疎な下地層2と、シード層3と、配線めっき層4と、を有するものであっても良い。なお、図3は、下地層が形成された樹脂基板(ポリイミド樹脂)の表面の一例を示すSEM(走査型電子顕微鏡)写真である。   First, a sparse underlayer will be described. FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing an example of a sparse underlayer. As shown in FIG. 2, the flexible printed wiring board of the present invention includes a resin substrate 1, a sparse underlayer 2 interspersed with metal particles of an adhesion improving metal such as Ni and Co, a seed layer 3, And a wiring plating layer 4. FIG. 3 is a SEM (scanning electron microscope) photograph showing an example of the surface of the resin substrate (polyimide resin) on which the base layer is formed.

上記密着性向上用金属としては、シード層との密着性を向上させることができるものであれば特に限定されるものではない。中でも、本発明においては、上記下地層が、密着性向上用金属として、Ni、Co、Cu、Mo、Fe、Cr、Zn、TaおよびInからなる群から選択される少なくとも1種類の金属を含有することが好ましく、中でもNi、Co、Cu、MoおよびFeからなる群から選択される少なくとも1種類以上の金属を含有することがより好ましく、NiおよびCoの少なくとも一方を含有することがさらに好ましい。   The metal for improving adhesion is not particularly limited as long as it can improve the adhesion with the seed layer. Among them, in the present invention, the underlayer contains at least one metal selected from the group consisting of Ni, Co, Cu, Mo, Fe, Cr, Zn, Ta, and In as the adhesion improving metal. It is preferable to include at least one metal selected from the group consisting of Ni, Co, Cu, Mo and Fe, and it is more preferable to include at least one of Ni and Co.

また、本発明においては、上記下地層が、密着性向上用金属として、少なくともCoを含有することが好ましい。Coは、シード層に用いられるCuまたはNi等と優れた密着性を発揮するからである。   In the present invention, the underlayer preferably contains at least Co as an adhesion improving metal. This is because Co exhibits excellent adhesion with Cu or Ni used for the seed layer.

また、下地層に含まれる密着性向上用金属の含有量としては、特に限定されるものではないが、金属以外の元素を除いた場合、例えば5原子%〜40原子%の範囲内、中でも25原子%〜35原子%の範囲内であることが好ましい。なお、上記含有量は、X線光電子分光分析装置を用いて測定することにより求める。   Further, the content of the adhesion improving metal contained in the underlayer is not particularly limited, but when elements other than metals are excluded, for example, within the range of 5 atomic% to 40 atomic%, especially 25. It is preferably in the range of atomic% to 35 atomic%. In addition, the said content is calculated | required by measuring using an X-ray photoelectron spectroscopy analyzer.

また、上記下地層は、上述した密着性向上用金属の他に、耐熱処理用金属を含有していても良い。上記耐熱処理用金属は、シード層の成分(例えば銅成分)が樹脂基板側に移行し、樹脂基板が劣化することを防止する機能を有する。   Moreover, the said base layer may contain the metal for heat processing other than the metal for an adhesive improvement mentioned above. The heat-resistant metal has a function of preventing the component of the seed layer (for example, a copper component) from moving to the resin substrate side and deteriorating the resin substrate.

上記耐熱処理用金属としては、シード層の成分のマイグレーションを防止することができるものであれば特に限定されるものではない。中でも、本発明においては、上記下地層が、耐熱処理用金属として、Zn、Cr、Ta、およびInからなる群から選択される少なくとも1種類の金属を含有することが好ましく、中でもZrおよびCrの少なくとも一方を含有することがより好ましい。シード層の成分が樹脂基板側に移行することを効率よく防止することができるからである。   The heat-resistant metal is not particularly limited as long as it can prevent migration of the components of the seed layer. In particular, in the present invention, the underlayer preferably contains at least one metal selected from the group consisting of Zn, Cr, Ta, and In as a heat-resistant treatment metal. It is more preferable to contain at least one. This is because it is possible to efficiently prevent the components of the seed layer from moving to the resin substrate side.

また、下地層に含まれる耐熱処理用金属の含有量としては、特に限定されるものではないが、金属以外の元素を除いた場合、例えば30原子%〜80原子%の範囲内、中でも50原子%〜70原子%の範囲内であることが好ましい。上記含有量は、上述した密着性向上用金属の場合と同様の方法で求めることができる。   Further, the content of the heat-resistant metal contained in the underlayer is not particularly limited, but when elements other than the metal are excluded, for example, in the range of 30 atomic% to 80 atomic%, especially 50 atoms. It is preferable to be within the range of% to 70 atomic%. The said content can be calculated | required by the method similar to the case of the metal for an adhesive improvement mentioned above.

また、上記下地層は、上述した密着性向上用金属の他に、Siを含有していても良い。例えば、後述するシランカップリング処理層を設けることにより、下地層と樹脂基板との密着性を向上させることができるからである。   The underlayer may contain Si in addition to the adhesion improving metal described above. For example, by providing a silane coupling treatment layer to be described later, the adhesion between the base layer and the resin substrate can be improved.

下地層に含まれるSiの含有量としては、特に限定されるものではないが、金属以外の元素を除いた場合、例えば3原子%〜30原子%の範囲内、中でも5原子%〜10原子%の範囲内であることが好ましい。上記含有量は、上述した密着性向上用金属の場合と同様の方法で求めることができる。   The content of Si contained in the underlayer is not particularly limited, but when elements other than metals are excluded, for example, in the range of 3 atomic% to 30 atomic%, especially 5 atomic% to 10 atomic%. It is preferable to be within the range. The said content can be calculated | required by the method similar to the case of the metal for an adhesive improvement mentioned above.

次に、密な下地層について説明する。図4は、密な下地層を例示する概略断面図である。図4(a)に示すように、本発明のフレキシブルプリント配線板は、樹脂基板1上と、NiおよびCo等の密着性向上用金属の金属粒子から構成される密着性向上層5(下地層2)と、シード層3と、配線めっき層4と、を有するものであっても良い。また、図4(b)に示すように、下地層2が、密着性向上層5の他に、耐熱処理層6およびシランカップリング処理層7等を有するものであっても良い。なお、後述するように、下地層2が導電性を有する場合は、下地層2は、シード層3および配線めっき層4と同様に、パターニングされていることが好ましい。   Next, a dense underlayer will be described. FIG. 4 is a schematic cross-sectional view illustrating a dense underlayer. As shown in FIG. 4 (a), the flexible printed wiring board of the present invention has an adhesion improving layer 5 (underlayer) composed of resin particles 1 and metal particles of an adhesion improving metal such as Ni and Co. 2), seed layer 3 and wiring plating layer 4 may be included. Further, as shown in FIG. 4B, the base layer 2 may include a heat-resistant treatment layer 6, a silane coupling treatment layer 7, and the like in addition to the adhesion improving layer 5. As will be described later, when the underlayer 2 has conductivity, the underlayer 2 is preferably patterned in the same manner as the seed layer 3 and the wiring plating layer 4.

なお、上記図4(b)に示される下地層の形成方法としては、例えば、図5(a)に示すように、微細凹凸表面を有する銅箔8と、上記微細凹凸表面上に形成され、NiおよびCo等の密着性向上用金属の金属粒子から構成される密着性向上層5と、密着性向上層5上に形成された耐熱処理層6と、耐熱処理層6上に形成されたシランカップリング処理層7と、を備えた賦型用銅箔9を用い、図5(b)に示すように、賦型用銅箔9と樹脂基板1とを積層させることにより、積層体10を形成し、その後、銅箔8のみを塩化第二鉄水溶液等で選択的にエッチングすることにより、図5(c)に示すような下地層2を形成する方法等を挙げることができる。   In addition, as a formation method of the foundation | substrate layer shown by the said FIG.4 (b), as shown to Fig.5 (a), it forms on the copper foil 8 which has a fine uneven surface, and the said fine uneven surface, Adhesion improvement layer 5 composed of metal particles for adhesion improvement metal such as Ni and Co, heat treatment layer 6 formed on adhesion improvement layer 5, and silane formed on heat treatment layer 6 Using the shaping copper foil 9 provided with the coupling treatment layer 7 and laminating the shaping copper foil 9 and the resin substrate 1 as shown in FIG. A method of forming the underlayer 2 as shown in FIG. 5C by forming and then selectively etching only the copper foil 8 with a ferric chloride aqueous solution or the like can be exemplified.

上記密着性向上層は、上述した密着性向上用金属を含有し、シード層との密着性を向上させる機能を有するものである。通常、上記密着性向上層は、シード層と接する、下地層の表面に形成される。上記密着性向上用金属の厚みとしては、特に限定されるものではないが、通常1nm〜10nmの範囲内である。   The adhesion improving layer contains the above-described adhesion improving metal and has a function of improving the adhesion with the seed layer. Usually, the adhesion improving layer is formed on the surface of the underlayer in contact with the seed layer. Although it does not specifically limit as thickness of the said metal for adhesive improvement, Usually, it exists in the range of 1 nm-10 nm.

また、上記下地層は、耐熱処理層を有していても良い。上記耐熱処理層は、上述した耐熱処理用金属を含有し、シード層の成分(例えば銅成分)が樹脂基板側に移行し、樹脂基板が劣化することを防止する機能を有するものである。通常、上記耐熱処理層は、樹脂基板と密着性向上用金属との間に設置される。上記耐熱処理層の厚みとしては、特に限定されるものではないが、通常1nm〜10nm程度である。   The underlayer may have a heat-resistant treatment layer. The heat-resistant treatment layer contains the heat-treating metal described above, and has a function of preventing the seed substrate component (for example, a copper component) from moving to the resin substrate side and deteriorating the resin substrate. Usually, the heat-resistant treatment layer is disposed between the resin substrate and the adhesion improving metal. Although it does not specifically limit as thickness of the said heat-resistant process layer, Usually, about 1 nm-10 nm.

また、上記下地層は、シランカップリング処理層を有していても良い。上記シランカップリング層は、下地層と樹脂基板との密着性を向上させる機能を有するものである。通常、上記シランカップリング処理層は、樹脂基板と接する、下地層の表面に形成される。上記シランカップリング処理層の厚みとしては、特に限定されるものではないが、通常1nm〜10nm程度である。   The underlayer may have a silane coupling treatment layer. The silane coupling layer has a function of improving the adhesion between the base layer and the resin substrate. Usually, the silane coupling treatment layer is formed on the surface of the base layer in contact with the resin substrate. The thickness of the silane coupling treatment layer is not particularly limited, but is usually about 1 nm to 10 nm.

また、上記下地層に含まれる金属以外の元素を除いた、各金属の割合は、特に限定されるものではないが、中でも、原子%換算で、Crを50%〜80%の範囲内、Coを2%〜30%、Niを2%〜5%の範囲内、Znを2%〜15%の範囲内で含有することが好ましい。   Moreover, the ratio of each metal except elements other than the metal contained in the underlayer is not particularly limited, but among them, Cr is within a range of 50% to 80% in terms of atomic%, Co It is preferable to contain 2 to 30% of Ni, 2 to 5% of Ni, and 2 to 15% of Zn.

また、上記下地層は、上述した密着性向上用金属等を有するものであることから、導電性を有する場合がある。上記下地層が導電性を有する場合は、後述するシード層と同様にパターン化されていることが好ましい。一方、上記下地層が導電性を有しない場合は、樹脂基板の微細凹凸表面全面に形成されていても良い。   Moreover, since the said base layer has the metal for adhesiveness improvement etc. which were mentioned above, it may have electroconductivity. When the said base layer has electroconductivity, it is preferable that it is patterned similarly to the seed layer mentioned later. On the other hand, when the said base layer does not have electroconductivity, you may form in the fine uneven surface whole surface of a resin substrate.

2.樹脂基板
次に、本発明に用いられる樹脂基板について説明する。本発明に用いられる樹脂基板は、微細凹凸表面を有するものである。また、上記樹脂基板は、通常、絶縁性、耐熱性および可撓性に優れている。
2. Resin Substrate Next, the resin substrate used in the present invention will be described. The resin substrate used in the present invention has a fine uneven surface. The resin substrate is usually excellent in insulation, heat resistance and flexibility.

上記微細凹凸表面の表面粗さRzとしては、特に限定されるものではないが、微細な金属配線を形成する場合は、より小さいことが好ましい。表面粗さRzが大きくなると微細な金属配線を精度良く形成することが困難になるからである。具体的には0.1μm〜5.0μmの範囲内、中でも0.5μm〜1.5μmの範囲内、特に0.5μm〜1.0μmの範囲内であることが好ましい。上記範囲に満たない場合は充分なアンカー効果を発現させることができない可能性があり、上記範囲を超える場合は、微細な金属配線を精度良く形成することができない可能性があるからである。なお、表面粗さRzは、JIS B0601に定義される十点平均粗さ(Rz)をいう。本発明において、上記表面粗さRzは、レーザー顕微鏡を用いて測定した値から算出する。   The surface roughness Rz of the fine uneven surface is not particularly limited, but is preferably smaller when forming fine metal wiring. This is because if the surface roughness Rz increases, it becomes difficult to form fine metal wirings with high accuracy. Specifically, it is preferably in the range of 0.1 μm to 5.0 μm, more preferably in the range of 0.5 μm to 1.5 μm, and particularly preferably in the range of 0.5 μm to 1.0 μm. This is because if it is less than the above range, a sufficient anchor effect may not be exhibited, and if it exceeds the above range, fine metal wiring may not be formed with high accuracy. The surface roughness Rz is a ten-point average roughness (Rz) defined in JIS B0601. In the present invention, the surface roughness Rz is calculated from a value measured using a laser microscope.

本発明においては、上記微細凹凸表面は上記樹脂基板の少なくとも一方の表面に形成されていれば良く、上記樹脂基板の両方の表面に形成されていても良い。樹脂基板が両面に微細凹凸表面を有していれば、両面配線型のフレキシブルプリント配線板とすることができる。   In the present invention, the fine uneven surface may be formed on at least one surface of the resin substrate, and may be formed on both surfaces of the resin substrate. If the resin substrate has fine uneven surfaces on both sides, a double-sided wiring type flexible printed wiring board can be obtained.

上記樹脂基板の厚みとしては、フレキシブルプリント配線板に必要な絶縁性を発揮することができるものであれば特に限定されるものではないが、可撓性の観点からは薄いことが好ましい。具体的には1μm〜100μmの範囲内、中でも10μm〜50μmの範囲内であることが好ましい。また、特に、樹脂基板が、非熱可塑性ポリイミド上に熱可塑性ポリイミドを有するものである場合は、賦型処理が容易になる。その場合、上記熱可塑性ポリイミド樹脂の厚みとしては、具体的には、1〜10μmの範囲内、中でも2〜5μmの範囲内であることが好ましい。   The thickness of the resin substrate is not particularly limited as long as the insulating properties necessary for the flexible printed wiring board can be exhibited, but it is preferably thin from the viewpoint of flexibility. Specifically, it is preferably in the range of 1 μm to 100 μm, and more preferably in the range of 10 μm to 50 μm. In particular, when the resin substrate has a thermoplastic polyimide on a non-thermoplastic polyimide, the forming process is facilitated. In that case, the thickness of the thermoplastic polyimide resin is specifically preferably in the range of 1 to 10 μm, more preferably in the range of 2 to 5 μm.

また、上記樹脂基板は絶縁性に優れていることが好ましい。絶縁性に優れていれば樹脂基板の厚みを薄くすることができ、可撓性に優れた樹脂基板とすることができるからである。上記樹脂基板の体積抵抗率としては、特に限定されるものではないが、例えば1×1012Ω・cm以上、中でも1×1015Ω・cm以上であることが好ましい。 The resin substrate is preferably excellent in insulation. This is because if the insulating property is excellent, the thickness of the resin substrate can be reduced and a resin substrate having excellent flexibility can be obtained. The volume resistivity of the resin substrate is not particularly limited. For example, it is preferably 1 × 10 12 Ω · cm or more, and more preferably 1 × 10 15 Ω · cm or more.

また、上記樹脂基板は耐熱性に優れていることが好ましい。微細凹凸表面を形成する際に、通常、熱圧着が行われることから、その熱圧着時の温度に対して適度な耐熱性を有することが好ましいのである。上記樹脂基板のガラス転移温度(Tg)としては、特に限定されるものではないが、例えば150℃以上、中でも200℃〜300℃の範囲内であることが好ましい。   Moreover, it is preferable that the said resin substrate is excellent in heat resistance. Since the thermocompression bonding is usually performed when the fine uneven surface is formed, it is preferable that the surface has moderate heat resistance with respect to the temperature during the thermocompression bonding. Although it does not specifically limit as glass transition temperature (Tg) of the said resin substrate, For example, it is preferable that it is in the range of 150 degreeC or more, especially 200 to 300 degreeC.

また、上記樹脂基板は可撓性に優れていることが好ましい。可撓性に優れていればシード層との密着性向上に寄与し得るからである。特に、上記樹脂基板あるいは、上記樹脂基板の表層の一部が熱可塑性ポリイミドである場合は、シード層との密着性向上に大きく寄与する。上記樹脂基板の貯蔵弾性率G´としては、特に限定されるものではないが、300℃において例えば0.1MPa〜10MPaの範囲内、中でも1MPa〜10MPaの範囲内であることが好ましい。   The resin substrate is preferably excellent in flexibility. This is because excellent flexibility can contribute to improvement in adhesion with the seed layer. In particular, when the resin substrate or a part of the surface layer of the resin substrate is a thermoplastic polyimide, it greatly contributes to improving the adhesion with the seed layer. The storage elastic modulus G ′ of the resin substrate is not particularly limited, but is preferably in the range of 0.1 MPa to 10 MPa, particularly in the range of 1 MPa to 10 MPa, at 300 ° C.

上記樹脂基板の材料としては、上記微細凹凸表面を形成することができる賦型性を有するものであれば特に限定されるものではないが、例えば、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂および液晶ポリマー等を挙げることができ、中でもポリイミド樹脂およびエポキシ樹脂が好ましく、特にポリイミド樹脂が好ましい。絶縁性、耐熱性および可撓性に優れた樹脂基板とすることができるからである。   The material of the resin substrate is not particularly limited as long as it has a moldability capable of forming the fine uneven surface, and examples thereof include a polyimide resin, an epoxy resin, and a liquid crystal polymer. Among them, polyimide resin and epoxy resin are preferable, and polyimide resin is particularly preferable. It is because it can be set as the resin substrate excellent in insulation, heat resistance, and flexibility.

さらに、上記ポリイミド樹脂は、熱可塑性ポリイミド樹脂であっても良く、非熱可塑性(熱硬化性)ポリイミド樹脂であっても良いが、本発明においては、上記ポリイミド樹脂が熱可塑性ポリイミド樹脂であることが好ましい。可撓性に優れているからである。   Furthermore, the polyimide resin may be a thermoplastic polyimide resin or a non-thermoplastic (thermosetting) polyimide resin, but in the present invention, the polyimide resin is a thermoplastic polyimide resin. Is preferred. It is because it is excellent in flexibility.

また、上記樹脂基板は、単層構造であっても良く、複層構造であっても良い。複層構造の樹脂基板としては、例えば、非熱可塑性ポリイミド樹脂の片方または両方の表面に熱可塑性ポリイミド樹脂を積層したもの等を挙げることができる。さらに、上記樹脂基板は、一方の表面に、金属層を有するものであっても良い。具体的には、ポリイミド樹脂が、一方の表面にSUS層を有するもの等を挙げることができる。   The resin substrate may have a single layer structure or a multilayer structure. As a resin substrate having a multilayer structure, for example, one obtained by laminating a thermoplastic polyimide resin on one or both surfaces of a non-thermoplastic polyimide resin can be exemplified. Furthermore, the resin substrate may have a metal layer on one surface. Specific examples include a polyimide resin having a SUS layer on one surface.

3.シード層
次に、本発明に用いられるシード層について説明する。本発明にシード層は、上述した下地層上に形成されるものである。本発明のフレキシブルプリント配線板は、後述するフレキシブルプリント配線板の製造方法で説明するように、通常、セミアディティブ法を用いて形成されるため、下地層上にシード層が形成され、その上に、電解めっき法により配線めっき層が形成される。
3. Next, the seed layer used in the present invention will be described. In the present invention, the seed layer is formed on the above-described underlayer. Since the flexible printed wiring board of the present invention is usually formed using a semi-additive method, as will be described later in the method of manufacturing a flexible printed wiring board, a seed layer is formed on the underlayer, and the A wiring plating layer is formed by electrolytic plating.

上記シード層の厚みとしては、特に限定されるものではないが、例えば0.2μm〜1.0μmの範囲内、中でも0.4μm〜0.8μmの範囲内であることが好ましい。特に、本発明のプリント配線板を、後述する第1態様の製造方法(無電解めっき法によりシード層を形成する方法)により作製する場合は、例えば0.2μm〜1.0μmの範囲内、中でも0.4μm〜0.8μmの範囲内であることが好ましい。
一方、本発明のプリント配線板を、後述する第2態様の製造方法(支持金属箔をエッチングすることによりシード層を形成する方法)により作製する場合は、例えば0.2μm〜1.5μmの範囲内、中でも0.5μm〜1.0μmの範囲内であることが好ましい。
Although it does not specifically limit as thickness of the said seed layer, For example, it is preferable to exist in the range of 0.2 micrometer-1.0 micrometer, especially 0.4 micrometer-0.8 micrometer. In particular, when the printed wiring board of the present invention is produced by the manufacturing method of the first aspect described later (method of forming a seed layer by electroless plating method), for example, within the range of 0.2 μm to 1.0 μm, It is preferable to be within the range of 0.4 μm to 0.8 μm.
On the other hand, when the printed wiring board of the present invention is produced by the production method of the second aspect described later (a method of forming a seed layer by etching the supporting metal foil), for example, a range of 0.2 μm to 1.5 μm Among these, it is preferable to be in the range of 0.5 μm to 1.0 μm.

また、上記シード層を構成する金属としては、特に限定されるものではないが、例えばCu、Ni、Sn、Ag、Au等を挙げることができ、中でもCuおよびNiが好ましく、特にCuが好ましい。汎用性があり安価だからである。   The metal constituting the seed layer is not particularly limited, and examples thereof include Cu, Ni, Sn, Ag, Au, and the like, among which Cu and Ni are preferable, and Cu is particularly preferable. This is because it is versatile and inexpensive.

4.配線めっき層
次に、本発明に用いられる配線めっき層について説明する。本発明に用いられる配線めっき層は、上述したシード層上に形成されるものである。なお、上記配線めっき層は、通常、電解めっき法等により形成される。
4). Wiring plating layer Next, the wiring plating layer used in the present invention will be described. The wiring plating layer used in the present invention is formed on the seed layer described above. The wiring plating layer is usually formed by an electrolytic plating method or the like.

上記配線めっき層の厚みとしては、充分な導電性を発揮することができれば特に限定されるものではないが、例えば3μm〜30μmの範囲内、中でも5μm〜20μmの範囲内である。   The thickness of the wiring plating layer is not particularly limited as long as sufficient conductivity can be exhibited. For example, the thickness is in the range of 3 μm to 30 μm, particularly in the range of 5 μm to 20 μm.

また、上記配線めっき層の線幅としては、特に限定されるものではないが、より小さいことが好ましい。配線めっき層の線幅が小さければ、より高密度な回路とすることができるからである。具体的には3μm〜30μmの範囲内、中でも5μm〜20μmの範囲内である。   The line width of the wiring plating layer is not particularly limited, but is preferably smaller. This is because if the line width of the wiring plating layer is small, a higher density circuit can be obtained. Specifically, it is in the range of 3 μm to 30 μm, especially in the range of 5 μm to 20 μm.

また、上記配線めっき層を構成する金属としては、導電性を有するものであれば特に限定されるものではないが、例えばCu、Ni、Au、Ag、Cr、Zn、Pt等を挙げることができ、中でもCuおよびNiが好ましく、特にCuが好ましい。汎用性があり安価だからである。   Further, the metal constituting the wiring plating layer is not particularly limited as long as it has conductivity, and examples thereof include Cu, Ni, Au, Ag, Cr, Zn, and Pt. Of these, Cu and Ni are preferable, and Cu is particularly preferable. This is because it is versatile and inexpensive.

5.フレキシブルプリント配線板
本発明のフレキシブルプリント配線板は、上述した樹脂基板、下地層、シード層および配線めっき層を少なくとも有するものである。
樹脂基板と金属配線とのピール強度としては、特に限定されるものではないが、初期強度として、例えば10kN/m以上、中でも15kN/m以上であることが好ましい。上記ピール強度は、引き剥がし方向90°、ピール速度50mm/min、パターン巾3mmまたは10mmの条件で得られる値とする。
5). Flexible printed wiring board The flexible printed wiring board of the present invention has at least the resin substrate, the base layer, the seed layer, and the wiring plating layer described above.
The peel strength between the resin substrate and the metal wiring is not particularly limited, but the initial strength is, for example, preferably 10 kN / m or more, and more preferably 15 kN / m or more. The peel strength is a value obtained under the conditions of a peeling direction of 90 °, a peel speed of 50 mm / min, and a pattern width of 3 mm or 10 mm.

また、本発明のフレキシブルプリント配線板は、通常、配線めっき層等上に絶縁性のカバー層を有する。また、本発明のフレキシブルプリント配線板は、片面配線型であっても良く、両面配線型であっても良い。両面配線型である場合は、フレキシブルプリント配線板の作製時に、樹脂基板の両面をレーザー等により導通させるビアホール形成工程を行う。また、本発明のフレキシブルプリント配線板を積層することによって、多層フレキシブルプリント配線板とすることができる。   Moreover, the flexible printed wiring board of this invention has an insulating cover layer normally on a wiring plating layer etc. The flexible printed wiring board of the present invention may be a single-sided wiring type or a double-sided wiring type. In the case of the double-sided wiring type, a via hole forming step for conducting both surfaces of the resin substrate with a laser or the like is performed during the production of the flexible printed wiring board. Moreover, it can be set as a multilayer flexible printed wiring board by laminating | stacking the flexible printed wiring board of this invention.

B.フレキシブルプリント配線板の製造方法
次に、本発明のフレキシブルプリント配線板の製造方法について説明する。本発明のフレキシブルプリント配線板の製造方法は、シード層の形成方法によって2態様に大別することができる。以下、態様毎に説明を行う。
B. Next, the manufacturing method of the flexible printed wiring board of this invention is demonstrated. The manufacturing method of the flexible printed wiring board of this invention can be divided roughly into two aspects by the formation method of a seed layer. Hereinafter, description will be made for each aspect.

1.第1態様
まず、本発明のフレキシブルプリント配線板の製造方法における第1態様について説明する。本態様のフレキシブルプリント配線板の製造方法は、微細凹凸表面を有する支持金属箔と、上記微細凹凸表面上に形成され、密着性向上用金属を含有する下地層とを備えた賦型用金属箔を用い、上記賦型用金属箔の下地層上に樹脂基板を設けることにより積層体を形成する積層体形成工程と、上記積層体から上記支持金属箔を除去し、下地層付樹脂基板を形成する下地層付樹脂基板形成工程と、上記下地層付樹脂基板の下地層上に無電解めっき法によりシード層を形成するシード層形成工程と、上記シード層上にレジストパターンを形成するレジストパターン形成工程と、上記レジストパターンの間隙に、電解めっき法により配線めっき層を形成する配線めっき層形成工程と、上記配線めっき層形成工程後に、上記シード層と上記配線めっき層との密着性を向上させる加熱工程と、上記加熱工程後に、上記レジストパターンを除去するレジストパターン除去工程と、上記レジストパターン除去工程後に、金属配線形成領域以外の上記シード層をエッチングするフラッシュエッチング工程と、を有することを特徴とするものである。
1. First Aspect First, a first aspect in the method for producing a flexible printed wiring board of the present invention will be described. The manufacturing method of the flexible printed wiring board of this aspect is a metal foil for shaping comprising a supporting metal foil having a fine uneven surface and an underlayer formed on the fine uneven surface and containing a metal for improving adhesion. And forming a laminated body by providing a resin substrate on the underlayer of the shaping metal foil, and removing the supporting metal foil from the laminated body to form a resin substrate with an underlayer Forming a resin layer with a base layer, forming a seed layer on the base layer of the resin substrate with the base layer by electroless plating, and forming a resist pattern on the seed layer A wiring plating layer forming step of forming a wiring plating layer in the gap between the resist pattern by an electrolytic plating method, and the seed layer and the wiring plating after the wiring plating layer forming step. A heating step for improving adhesion, a resist pattern removing step for removing the resist pattern after the heating step, and a flash etching step for etching the seed layer other than the metal wiring formation region after the resist pattern removing step It is characterized by having.

本態様によれば、密着性向上用金属を含有する下地層付樹脂基板を形成した後に、シード層を形成することにより、下地層とシード層との密着性に優れたフレキシブルプリント配線板を得ることができる。結果として、樹脂基板と金属配線との密着性に優れたものとすることができる。また、従来のスパッタリング法等と比較して、真空プロセスを必要としないことから、安価にフレキシブルプリント配線板を形成することができる。なお、本態様のフレキシブルプリント配線板の製造方法は、いわゆるセミアディティブ法を用いたものである。   According to this aspect, a flexible printed wiring board having excellent adhesion between the underlayer and the seed layer is obtained by forming the seed layer after forming the resin substrate with the underlayer containing the metal for improving adhesion. be able to. As a result, the adhesiveness between the resin substrate and the metal wiring can be excellent. Moreover, since a vacuum process is not required compared with the conventional sputtering method etc., a flexible printed wiring board can be formed cheaply. In addition, the manufacturing method of the flexible printed wiring board of this aspect uses what is called a semi-additive method.

次に、本態様のフレキシブルプリント配線板の製造方法について図面を用いて説明する。図6は、本態様のフレキシブルプリント配線板の製造方法の一例を示す工程図である。本態様のフレキシブルプリント配線板の製造方法は、微細凹凸表面を有する支持金属箔61と、微細凹凸表面上に形成され、密着性向上用金属を含有する下地層62とを備えた賦型用金属箔Aを用い(図6(a))、賦型用金属箔Aの下地層62上に樹脂基板63を設けることにより積層体Bを形成する積層体形成工程と(図6(b))、積層体Bから支持金属箔61を除去し、下地層付樹脂基板Cを形成する下地層付樹脂基板形成工程(図6(c))と、下地層付樹脂基板Cの下地層62上に無電解めっき法によりシード層64を形成するシード層形成工程と(図6(d))、シード層64上にレジスト層65を形成し(図6(e))、フォトマスク等を介して光を照射すること等により、レジストパターン65´を形成するレジストパターン形成工程と(図6(f))、レジストパターン65´の間隙に、電解めっき法により配線めっき層66を形成する配線めっき層形成工程と(図6(g))、配線めっき層形成工程後に、シード層64と配線めっき層66との密着性を向上させる加熱工程と(図6(h))、加熱工程後に、レジストパターン65´を除去するレジストパターン除去工程(図6(i))と、レジストパターン除去工程後に、金属配線形成領域以外のシード層64をエッチングするフラッシュエッチング工程と(図6(j))、を有するものである。
以下、本態様のフレキシブルプリント配線板の製造方法について、各工程ごとに説明する。
Next, the manufacturing method of the flexible printed wiring board of this aspect is demonstrated using drawing. FIG. 6 is a process diagram showing an example of a method for producing a flexible printed wiring board of this aspect. The manufacturing method of the flexible printed wiring board of this aspect includes a supporting metal foil 61 having a fine concavo-convex surface, and a shaping metal provided with a base layer 62 formed on the fine concavo-convex surface and containing a metal for improving adhesion. Using the foil A (FIG. 6A), a laminate forming step of forming the laminate B by providing the resin substrate 63 on the base layer 62 of the shaping metal foil A (FIG. 6B), The supporting metal foil 61 is removed from the laminate B, and a resin substrate with base layer forming step (FIG. 6C) for forming the resin substrate with base layer (FIG. 6 (c)) is performed on the base layer 62 of the resin substrate with base layer C. A seed layer forming step for forming the seed layer 64 by electrolytic plating (FIG. 6D), a resist layer 65 is formed on the seed layer 64 (FIG. 6E), and light is transmitted through a photomask or the like. Resist pattern for forming a resist pattern 65 'by irradiation or the like Forming step (FIG. 6 (f)), forming a wiring plating layer 66 by electrolytic plating in the gap between the resist patterns 65 '(FIG. 6 (g)), forming a wiring plating layer Later, a heating step for improving the adhesion between the seed layer 64 and the wiring plating layer 66 (FIG. 6 (h)), and a resist pattern removing step for removing the resist pattern 65 ′ after the heating step (FIG. 6 (i)). And a flash etching step of etching the seed layer 64 other than the metal wiring formation region after the resist pattern removal step (FIG. 6J).
Hereinafter, the manufacturing method of the flexible printed wiring board of this aspect is demonstrated for every process.

(1)積層体形成工程
まず、本態様における積層体形成工程について説明する。本態様における積層体形成工程は、微細凹凸表面を有する支持金属箔と、上記微細凹凸表面上に形成され、密着性向上用金属を含有する下地層とを備えた賦型用金属箔を用い、上記賦型用金属箔の下地層上に樹脂基板を設けることにより積層体を形成する工程である。
(1) Laminate formation process First, the laminate formation process in this aspect is demonstrated. The laminate forming step in this aspect uses a forming metal foil including a supporting metal foil having a fine uneven surface and an underlayer formed on the fine uneven surface and containing a metal for improving adhesion, This is a step of forming a laminate by providing a resin substrate on the base layer of the shaping metal foil.

(a)賦型用金属箔
まず、本態様に用いられる賦型用金属箔について説明する。本態様に用いられる賦型用金属箔は、微細凹凸表面を有する支持金属箔と、上記微細凹凸表面上に形成され、密着性向上用金属を含有する下地層とを備えるものである。なお、上記賦型用金属箔の具体例としては、上述した図5で説明したもの等を挙げることができる。また、図7は、賦型用金属箔の下地層表面の一例を示すSEM(走査型電子顕微鏡)写真である。
(A) Metal foil for shaping First, the metal foil for shaping used for this aspect is demonstrated. The metal foil for shaping used in this embodiment comprises a supporting metal foil having a fine uneven surface and an underlayer formed on the fine uneven surface and containing a metal for improving adhesion. In addition, what was demonstrated in FIG. 5 mentioned above etc. can be mentioned as a specific example of the said metal foil for shaping | molding. FIG. 7 is a SEM (scanning electron microscope) photograph showing an example of the surface of the underlayer of the shaping metal foil.

上記支持金属箔としては、特に限定されるものではないが、例えば銅箔またはニッケル箔等を挙げることができ、中でも銅箔が好ましい。汎用性に優れ安価だからである。また、上記銅箔は、圧延銅箔であっても良く、電解銅箔であってもよい。   Although it does not specifically limit as said support metal foil, For example, copper foil or nickel foil etc. can be mentioned, and copper foil is especially preferable. This is because it is versatile and inexpensive. The copper foil may be a rolled copper foil or an electrolytic copper foil.

上記支持金属箔は、表面に微細凹凸表面を有するものである。上記微細凹凸表面を形成する方法としては、特に限定されるものではないが、例えば、銅の金属粒子を電着させ、銅箔表面を粗面化する方法等を挙げることができる。   The supporting metal foil has a fine uneven surface on the surface. The method for forming the fine uneven surface is not particularly limited, and examples thereof include a method in which copper metal particles are electrodeposited to roughen the copper foil surface.

上記微細凹凸表面の表面粗さRzとしては、特に限定されるものではないが、上述した「A.フレキシブルプリント配線板」に記載した樹脂基板の表面粗さRzと同様であるので、ここでの説明は省略する。   The surface roughness Rz of the fine uneven surface is not particularly limited, but is the same as the surface roughness Rz of the resin substrate described in “A. Flexible printed wiring board” described above. Description is omitted.

上記支持金属箔の厚みとしては、特に限定されるものではないが、通常9μm〜18μm程度である。   Although it does not specifically limit as thickness of the said support metal foil, Usually, it is about 9 micrometers-about 18 micrometers.

上記下地層については、上記「A.フレキシブルプリント配線板」に記載した内容と同様であるので、ここでの説明は省略する。   About the said base layer, since it is the same as that of the content described in said "A. flexible printed wiring board", description here is abbreviate | omitted.

(b)積層体の形成方法
次に、積層体の形成方法について説明する。賦型用金属箔の微細凹凸表面上に樹脂基板を設ける方法としては、特に限定されるものではないが、例えば、微細凹凸表面上に、スピンコート法、キャスト法等の印刷法により樹脂基板を形成する方法、および賦型用金属箔と樹脂基板とを熱圧着する方法等を挙げることができる。
(B) Formation method of laminated body Next, the formation method of a laminated body is demonstrated. The method of providing the resin substrate on the fine uneven surface of the shaping metal foil is not particularly limited. For example, the resin substrate is formed on the fine uneven surface by a printing method such as a spin coating method or a cast method. Examples thereof include a method of forming, a method of thermocompression bonding of the shaping metal foil and the resin substrate, and the like.

(2)下地層付樹脂基板形成工程
次に、本態様における下地層付樹脂基板形成工程について説明する。本態様における下地層付樹脂基板形成工程は、上述した積層体から支持金属箔を除去し、下地層付樹脂基板を形成する工程である。
(2) Base layer-attached resin substrate forming step Next, the base layer-attached resin substrate forming step in this embodiment will be described. The base layer-attached resin substrate forming step in this aspect is a step of removing the supporting metal foil from the above-described laminate and forming the base layer-attached resin substrate.

上記積層体から支持金属箔を除去する方法としては、下地層を樹脂基板側に残すことができる方法であれば特に限定されるものではないが、例えば、エッチング液を用いて支持金属箔のみを選択的に除去する方法、支持金属箔を剥離する方法等を挙げることができ、中でもエッチング液を用いて支持金属箔のみを選択的に除去する方法が好ましい。   The method for removing the supporting metal foil from the laminate is not particularly limited as long as it can leave the base layer on the resin substrate side. For example, only the supporting metal foil is removed using an etching solution. A method of selectively removing, a method of peeling the supporting metal foil, and the like can be mentioned, and among them, a method of selectively removing only the supporting metal foil using an etching solution is preferable.

上記エッチング液としては、特に限定されるものではないが、例えば支持金属箔が銅箔である場合は、塩化第二鉄水溶液、アルカリエッチング液、過酸化水素水/硫酸エッチング液、過硫酸塩類エッチング液等を挙げることができ、中でも塩化第二鉄水溶液が好ましい。また、例えば支持金属箔がニッケル箔である場合は、塩化第二鉄水溶液、過酸化水素水/硫酸/硝酸エッチング液等を挙げることができ、中でも塩化第二鉄水溶液が好ましい。   The etching solution is not particularly limited. For example, when the supporting metal foil is a copper foil, ferric chloride aqueous solution, alkaline etching solution, hydrogen peroxide solution / sulfuric acid etching solution, persulfate etching Among them, an aqueous ferric chloride solution is preferable. For example, when the supporting metal foil is a nickel foil, a ferric chloride aqueous solution, a hydrogen peroxide solution / sulfuric acid / nitric acid etching solution, and the like can be mentioned, and among these, a ferric chloride aqueous solution is preferable.

(3)シード層形成工程
次に、本態様におけるシード層形成工程について説明する。本態様におけるシード層形成工程は、上述した下地層付樹脂基板の下地層上に無電解めっき法によりシード層を形成する工程である。通常、上記シード層は、本工程において下地層の全面に形成され、後述するフラッシュエッチング工程により、配線めっき層等のパターンに合わせてエッチングされる。また、上記シード層は、後述する配線めっき層を電解めっき法により作製するために形成されるものである。
(3) Seed layer formation process Next, the seed layer formation process in this mode is explained. The seed layer forming step in this embodiment is a step of forming a seed layer by an electroless plating method on the base layer of the resin substrate with the base layer described above. Usually, the seed layer is formed on the entire surface of the base layer in this step, and is etched in accordance with a pattern of a wiring plating layer or the like by a flash etching step described later. The seed layer is formed in order to produce a wiring plating layer to be described later by electrolytic plating.

本態様において、上記シード層は、無電解めっき法により形成されるものであるが、その無電解めっき法は、所望のシード層を得ることができれば特に限定されるものではなく、一般的な方法を用いることができる。   In this embodiment, the seed layer is formed by an electroless plating method, but the electroless plating method is not particularly limited as long as a desired seed layer can be obtained. Can be used.

上記シード層の材料や厚みについては、特に限定されるものではないが、上述した「A.フレキシブルプリント配線板 3.シード層」に記載した内容と同様であるので、ここでの説明は省略する。   The material and thickness of the seed layer are not particularly limited, but are the same as those described in “A. Flexible printed wiring board 3. Seed layer” described above, and thus the description thereof is omitted here. .

(4)レジストパターン形成工程
次に、本態様におけるレジストパターン形成工程について説明する。本態様におけるレジストパターン形成工程は、上述したシード層上にレジストパターンを形成する工程である。上記レジストパターンは、一般的なセミアディティブ法と同様に、得ようとする金属配線のパターン以外の領域に形成される。
(4) Resist pattern formation process Next, the resist pattern formation process in this aspect is demonstrated. The resist pattern forming step in this aspect is a step of forming a resist pattern on the seed layer described above. The resist pattern is formed in a region other than the metal wiring pattern to be obtained, as in the general semi-additive method.

上記レジストパターンの形成方法としては、特に限定されるものではないが、例えば、光硬化性樹脂を下地層に塗布することによりレジスト層を形成し、フォトマスクを介して露光し、さらに現像する方法等を挙げることができる。   The method of forming the resist pattern is not particularly limited. For example, a method of forming a resist layer by applying a photocurable resin to the underlayer, exposing through a photomask, and further developing the resist layer Etc.

上記レジストパターンの材料としては特に限定されるものではなく、一般的なレジスト材料を用いることができる。   The resist pattern material is not particularly limited, and a general resist material can be used.

(5)配線めっき層形成工程
次に、本態様における配線めっき層形成工程について説明する。本態様における配線めっき層形成工程は、上述したレジストパターンの間隙に、電解めっき法により配線めっき層を形成する工程である。
(5) Wiring plating layer formation process Next, the wiring plating layer formation process in this aspect is demonstrated. The wiring plating layer forming step in this aspect is a step of forming a wiring plating layer in the gap between the resist patterns described above by an electrolytic plating method.

本態様において、上記配線めっき層は、電解めっき法により形成されるものであるが、その電解めっき法は、所望の配線めっき層を得ることができれば特に限定されるものではなく、一般的な方法を用いることができる。   In this embodiment, the wiring plating layer is formed by an electrolytic plating method, but the electrolytic plating method is not particularly limited as long as a desired wiring plating layer can be obtained, and is a general method. Can be used.

また、上記配線めっき層を構成する金属、並びに、上記配線めっき層の厚み、および線幅等については、上述した「A.フレキシブルプリント配線板 4.配線めっき層」に記載した内容と同様であるので、ここでの説明は省略する。   The metal constituting the wiring plating layer and the thickness and line width of the wiring plating layer are the same as those described in “A. Flexible printed wiring board 4. Wiring plating layer”. Therefore, explanation here is omitted.

(6)加熱工程
次に、本態様における加熱工程について説明する。本態様における加熱工程は、配線めっき工程後に、シード層と配線めっき層との密着性を向上させる工程である。上記加熱工程は、いわゆるアニーリング処理を行う工程である。
(6) Heating process Next, the heating process in this aspect is demonstrated. The heating process in this embodiment is a process for improving the adhesion between the seed layer and the wiring plating layer after the wiring plating process. The heating step is a step of performing a so-called annealing process.

加熱温度としては、一般的なアニーリング処理を行う際の温度と同様であるが、通常100℃〜200℃の範囲内である。また、加熱方法としては、特に限定されるものではないが、例えば、オーブンを用いる方法等を挙げることができる。なお、上記加熱工程は、配線めっき工程後ではなく、後述するレジストパターン除去工程後またはフラッシュエッチング工程後に行うこともできる。   The heating temperature is the same as that at the time of general annealing treatment, but is usually in the range of 100 ° C to 200 ° C. Moreover, it does not specifically limit as a heating method, For example, the method of using oven etc. can be mentioned. In addition, the said heating process can also be performed after the resist pattern removal process mentioned later or a flash etching process not after a wiring plating process.

(7)レジストパターン除去工程
次に、本態様におけるレジストパターン除去工程について説明する。本態様におけるレジストパターン除去工程は、加熱工程後に、レジストパターンを除去する工程である。レジストパターンを除去することにより、シード層上にパターン状の配線めっき層を得ることができる。
(7) Resist pattern removal process Next, the resist pattern removal process in this aspect is demonstrated. The resist pattern removing step in this aspect is a step of removing the resist pattern after the heating step. By removing the resist pattern, a patterned wiring plating layer can be obtained on the seed layer.

上記レジストパターンを除去する方法としては、特に限定されるものではないが、例えばアルカリ溶液で分解除去する方法等を挙げることができる。   The method of removing the resist pattern is not particularly limited, and examples thereof include a method of decomposing and removing with an alkaline solution.

(8)フラッシュエッチング工程
次に、本態様におけるフラッシュエッチング工程について説明する。本態様におけるフラッシュエッチング工程は、レジストパターン除去工程後に、金属配線形成領域以外のシード層をエッチングする工程である。本工程により、金属配線形成領域以外のシード層が除去され、樹脂基板の微細凹凸表面が露出する。本態様において「金属配線形成領域」とは、金属配線(シード層および配線めっき層)が形成されるパターンと、平面視上同一となる領域をいう。
(8) Flash Etching Step Next, the flash etching step in this embodiment will be described. The flash etching step in this aspect is a step of etching the seed layer other than the metal wiring formation region after the resist pattern removal step. By this step, the seed layer other than the metal wiring formation region is removed, and the fine uneven surface of the resin substrate is exposed. In this aspect, the “metal wiring formation region” refers to a region that is the same as the pattern in which the metal wiring (seed layer and wiring plating layer) is formed in plan view.

シード層および下地層をエッチングする方法としては、特に限定されるものではなく、一般的なドライエッチングおよびウェットエッチング等を挙げることができる。シード層の材料等を考慮して選択することが好ましい。また、通常、本工程は、全面エッチングを行うことによりシード層を除去する。   The method for etching the seed layer and the underlayer is not particularly limited, and examples include general dry etching and wet etching. It is preferable to select in consideration of the material of the seed layer. In addition, this step usually removes the seed layer by etching the entire surface.

なお、本工程により、下地層を除去しても良く、除去しなくても良いが、下地層が導電性を有する場合は、除去することが必要である。   Note that in this step, the base layer may or may not be removed, but if the base layer has conductivity, it is necessary to remove it.

2.第2態様
次に、本発明のフレキシブルプリント配線板の製造方法における第2態様について説明する。本態様のフレキシブルプリント配線板の製造方法は、微細凹凸表面を有する支持金属箔と、上記微細凹凸表面上に形成され、密着性向上用金属を含有する下地層とを備えた賦型用金属箔を用い、上記賦型用金属箔の下地層上に樹脂基板を設けることにより積層体を形成する積層体形成工程と、上記積層体の支持金属箔をエッチングすることにより、シード層を形成するシード層形成工程と、上記シード層上にレジストパターンを形成するレジストパターン形成工程と、上記レジストパターンの間隙に、電解めっき法により配線めっき層を形成する配線めっき層形成工程と、上記配線めっき層形成工程後に、上記シード層と上記配線めっき層との密着性を向上させる加熱工程と、上記加熱工程後に、上記レジストパターンを除去するレジストパターン除去工程と、上記レジストパターン除去工程後に、金属配線形成領域以外の上記シード層をエッチングするフラッシュエッチング工程と、を有することを特徴とするものである。
2. Second Aspect Next, a second aspect in the method for producing a flexible printed wiring board of the present invention will be described. The manufacturing method of the flexible printed wiring board of this aspect is a metal foil for shaping comprising a supporting metal foil having a fine uneven surface and an underlayer formed on the fine uneven surface and containing a metal for improving adhesion. And forming a laminate by providing a resin substrate on the base layer of the shaping metal foil, and a seed for forming a seed layer by etching the supporting metal foil of the laminate A layer forming step, a resist pattern forming step for forming a resist pattern on the seed layer, a wiring plating layer forming step for forming a wiring plating layer in the gap between the resist patterns by an electrolytic plating method, and the wiring plating layer formation After the step, a heating step for improving the adhesion between the seed layer and the wiring plating layer, and a resist pattern for removing the resist pattern after the heating step. And over down removing step, after the resist pattern removal step, is characterized in that it has a, a flash etching process for etching the seed layer other than the metal wiring formation region.

本態様によれば、賦型用金属箔の支持金属箔を、シード層として利用することにより、より簡便に密着性に優れたフレキシブルプリント配線板を得ることができる。また、従来のスパッタリング法等と比較して、真空プロセスを必要としないことから、安価にフレキシブルプリント配線板を形成することができる。なお、本態様のフレキシブルプリント配線板の製造方法は、いわゆるセミアディティブ法を用いたものである。   According to this aspect, the flexible printed wiring board excellent in adhesiveness can be obtained more simply by using the supporting metal foil of the shaping metal foil as a seed layer. Moreover, since a vacuum process is not required compared with the conventional sputtering method etc., a flexible printed wiring board can be formed cheaply. In addition, the manufacturing method of the flexible printed wiring board of this aspect uses what is called a semi-additive method.

次に、本態様のフレキシブルプリント配線板の製造方法について図面を用いて説明する。図8は、本態様のフレキシブルプリント配線板の製造方法の一例を示す工程図である。本態様のフレキシブルプリント配線板の製造方法は、微細凹凸表面を有する支持金属箔81と、微細凹凸表面上に形成され、密着性向上用金属を含有する下地層82とを備えた賦型用金属箔Aを用い(図8(a))、賦型用金属箔Aの下地層82上に樹脂基板83を設けることにより積層体Bを形成する積層体形成工程と(図8(b))、積層体Bの支持金属箔81を所定の厚みを残すようにエッチングし、シード層84を形成するシード層形成工程と(図8(c)、図8(d))、シード層84上にレジスト層85を形成し(図8(e))、フォトマスク等を介して光を照射すること等により、レジストパターン85´を形成するレジストパターン形成工程と(図8(f))、レジストパターン85´の間隙に、電解めっき法により配線めっき層86を形成する配線めっき層形成工程と(図8(g))、配線めっき層形成工程後に、シード層84と配線めっき層86との密着性を向上させる加熱工程(図8(h))と、加熱工程後に、レジストパターン85´を除去するレジストパターン除去工程(図8(i))と、レジストパターン除去工程後に、金属配線形成領域以外のシード層84をエッチングするフラッシュエッチング工程と(図8(j))、を有するものである。   Next, the manufacturing method of the flexible printed wiring board of this aspect is demonstrated using drawing. FIG. 8 is a process diagram showing an example of a method for producing a flexible printed wiring board of this aspect. The manufacturing method of the flexible printed wiring board of this aspect includes a supporting metal foil 81 having a fine concavo-convex surface and a shaping metal provided on the fine concavo-convex surface and an underlayer 82 containing a metal for improving adhesion. Using the foil A (FIG. 8A), a laminate forming step of forming the laminate B by providing the resin substrate 83 on the base layer 82 of the shaping metal foil A (FIG. 8B), The supporting metal foil 81 of the laminated body B is etched so as to leave a predetermined thickness, and a seed layer forming step for forming the seed layer 84 (FIGS. 8C and 8D), and a resist on the seed layer 84 A resist pattern forming step for forming a resist pattern 85 ′ by forming a layer 85 (FIG. 8E) and irradiating light through a photomask or the like (FIG. 8F); In the gap between A wiring plating layer forming step for forming the layer 86 (FIG. 8G), and a heating step for improving the adhesion between the seed layer 84 and the wiring plating layer 86 after the wiring plating layer forming step (FIG. 8H). ), A resist pattern removing step (FIG. 8 (i)) for removing the resist pattern 85 ′ after the heating step, and a flash etching step for etching the seed layer 84 other than the metal wiring formation region after the resist pattern removing step ( 8 (j)).

(1)積層体形成工程
まず、本態様における積層体形成工程について説明する。本態様における積層体形成工程は、微細凹凸表面を有する支持金属箔と、前記微細凹凸表面上に形成され、密着性向上用金属を有する下地層とを備えた賦型用金属箔を用い、前記賦型用金属箔の下地層上に樹脂基板を設けることにより積層体を形成する工程である。本態様における積層体形成工程については、上述した第1態様と同様であるのでここでの説明は省略する。
(1) Laminate formation process First, the laminate formation process in this aspect is demonstrated. The laminate forming step in this embodiment uses a metal foil for shaping provided with a supporting metal foil having a fine uneven surface and an underlayer having an adhesion improving metal formed on the fine uneven surface, This is a step of forming a laminate by providing a resin substrate on the base layer of the shaping metal foil. Since the laminated body formation process in this aspect is the same as that of the 1st aspect mentioned above, description here is abbreviate | omitted.

(2)シード層形成工程
次に、本態様におけるシード層形成工程について説明する。本態様におけるシード層形成工程は、上述した積層体の支持金属箔をエッチングすることにより、シード層を形成する工程である。本態様においては、支持金属箔をシード層として利用することにより、より簡便にフレキシブルプリント配線板を作製することができる。
(2) Seed layer forming step Next, the seed layer forming step in this embodiment will be described. The seed layer forming step in this aspect is a step of forming a seed layer by etching the supporting metal foil of the above-described laminate. In this embodiment, a flexible printed wiring board can be more easily produced by using the supporting metal foil as a seed layer.

上記積層体の支持金属箔をエッチングする方法としては、特に限定されるものではないが、例えば、支持金属箔が銅箔である場合は、塩化第二鉄水溶液をエッチング液として用いる方法が挙げられる。   The method for etching the supporting metal foil of the laminate is not particularly limited. For example, when the supporting metal foil is a copper foil, a method using an aqueous ferric chloride solution as an etching solution can be mentioned. .

上記シード層の材料や厚みについては、特に限定されるものではないが、上述した「A.フレキシブルプリント配線板 3.シード層」に記載した内容と同様であるので、ここでの説明は省略する。   The material and thickness of the seed layer are not particularly limited, but are the same as those described in “A. Flexible printed wiring board 3. Seed layer” described above, and thus the description thereof is omitted here. .

(3)その他の工程
本態様のフレキシブルプリント配線板の製造方法は、さらに、レジストパターン形成工程、配線めっき層形成工程、加熱工程、レジストパターン除去工程、およびフラッシュエッチング工程を有する。これらの工程については、上述した第1態様と同様であるのでここでの説明は省略する。
(3) Other process The manufacturing method of the flexible printed wiring board of this aspect further has a resist pattern formation process, a wiring plating layer formation process, a heating process, a resist pattern removal process, and a flash etching process. Since these steps are the same as those in the first embodiment described above, description thereof is omitted here.

3.その他
また、本発明のフレキシブルプリント配線板の製造方法は、シード層を形成せずに配線めっき層を形成する、アディティブ法を用いた方法であっても良い。具体的には、微細凹凸表面を有する支持金属箔と、上記微細凹凸表面上に形成され、密着性向上用金属を含有する下地層とを備えた賦型用金属箔を用い、上記賦型用金属箔の下地層上に樹脂基板を設けることにより積層体を形成する積層体形成工程と、上記積層体から上記支持金属箔を除去し、下地層付樹脂基板を形成する下地層付樹脂基板形成工程と、上記下地層付樹脂基板の下地層上にレジストパターンを形成するレジストパターン形成工程と、上記レジストパターンの間隙に、電解めっき法により配線めっき層を形成する配線めっき層形成工程と、上記配線めっき層形成工程後に、上記シード層と上記配線めっき層との密着性を向上させる加熱工程と、上記加熱工程後に、上記レジストパターンを除去するレジストパターン除去工程と、上記レジストパターン除去工程後に、上記配線めっき層に沿って、上記下地層をエッチングし、上記樹脂基板の微細凹凸表面を露出させるフラッシュエッチング工程と、を有する方法等を挙げることができる。上記の各工程については、上述した第1態様と同様であるので、ここでの説明は省略する。
3. Others The method for producing a flexible printed wiring board of the present invention may be a method using an additive method in which a wiring plating layer is formed without forming a seed layer. Specifically, using a metal foil for shaping provided with a supporting metal foil having a fine irregular surface and an underlayer containing a metal for improving adhesion formed on the fine irregular surface, Laminate formation step of forming a laminate by providing a resin substrate on a base layer of metal foil, and formation of a resin substrate with a base layer by removing the supporting metal foil from the laminate and forming a resin substrate with a base layer A resist pattern forming step of forming a resist pattern on the base layer of the resin substrate with the base layer, a wiring plating layer forming step of forming a wiring plating layer by an electrolytic plating method in the gap of the resist pattern, A heating step for improving adhesion between the seed layer and the wiring plating layer after the wiring plating layer forming step; and a resist pattern removal step for removing the resist pattern after the heating step. The rear resist pattern removal step, along the wiring plating layer, the underlying layer by etching, and a method such as having a flash etching process for exposing the fine uneven surface of the resin substrate. Since each of the above steps is the same as that in the first aspect described above, description thereof is omitted here.

なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と、実質的に同一の構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなる場合であっても本発明の技術的範囲に包含される。   The present invention is not limited to the above embodiment. The above-described embodiment is an exemplification, and the technical idea described in the claims of the present invention has substantially the same configuration and exhibits the same function and effect regardless of the case. It is included in the technical scope of the invention.

以下、実施例を用いて、本発明をさらに具体的に説明する。   Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples.

[実施例1]
微細凹凸表面処理を有する支持金属箔として、日鉱マテリアルズ製の18μm厚のBHY−22B−Tを用い、ポリイミド樹脂として、両面に熱可塑性樹脂を有するユーピレックスVTの25μm厚を用いた。ユーピレックスVTの両面に前記Cu箔をラミネートした、松下電工製両面CCL材料R−F775を用いた。
[Example 1]
As the supporting metal foil having a fine uneven surface treatment, 18 μm-thick BHY-22B-T manufactured by Nikko Materials was used, and as the polyimide resin, 25 μm thickness of Upilex VT having a thermoplastic resin on both sides was used. A double-sided CCL material R-F775 made by Matsushita Electric Works, which had the Cu foil laminated on both sides of Upilex VT, was used.

両面Cu箔付CCLの片面の金属箔支持体を塩化第二鉄溶液40℃、37ボーメにてエッチングし、密着性向上金属を含有する下地層を残し、金属支持体を除去した。
下地層の全面に、無電解銅めっきを25分処理にて、厚みが約0.4μmとなるように処理し、湯洗、乾燥を行い、シード層を形成した。無電解Cuめっきは、表1に示すローム・アンド・ハース社製無電解Cuめっきプロセス条件に基づいて行った。
The metal foil support on one side of the CCL with double-sided Cu foil was etched with a ferric chloride solution at 40 ° C. and 37 Baume, leaving the base layer containing the adhesion improving metal, and removing the metal support.
The entire surface of the underlayer was treated with electroless copper plating for 25 minutes to a thickness of about 0.4 μm, washed with hot water and dried to form a seed layer. The electroless Cu plating was performed based on the electroless Cu plating process conditions manufactured by Rohm & Haas Co. shown in Table 1.

その後、ドライフィルムには、厚み15μmの、旭化成のSPG−152を用い、無電解Cuめっき面に温度105℃にてラミネートし、所望の配線パターンを反転したパターンを形成したガラスマスクを用いて、露光を行った。   After that, as a dry film, a 15 μm thick Asahi Kasei SPG-152 was used, laminated on the electroless Cu plating surface at a temperature of 105 ° C., and a glass mask formed with a reverse pattern of the desired wiring pattern, Exposure was performed.

その後、0.8%、28℃の炭酸ナトリウム溶液にて約20秒間現像を行い、レジストパターンを形成した。配線形成は、硫酸銅溶液の電解Cuめっき液にて、約10μmの配線めっき厚を得た。銅めっきの条件を表2に示す。   Thereafter, development was performed for about 20 seconds with a 0.8% sodium carbonate solution at 28 ° C. to form a resist pattern. For wiring formation, an electrolytic Cu plating solution of a copper sulfate solution was used to obtain a wiring plating thickness of about 10 μm. Table 2 shows the conditions of copper plating.

シード層のCuと、配線のCuの密着性を高める為、オーブンにて125℃60分加熱を行った後、ドライフィルムを3%の水酸化ナトリウム溶液にて剥離した。その後、過酸化水素、硫酸系の溶液にて、シード層、下地金属層をフラッシュエッチングで除去し、配線形成を完了し、フレキシブルプリント配線板を得た。フラッシュエッチング条件を表3に示す。   In order to enhance the adhesion between Cu of the seed layer and Cu of the wiring, after heating in an oven at 125 ° C. for 60 minutes, the dry film was peeled off with a 3% sodium hydroxide solution. Thereafter, the seed layer and the underlying metal layer were removed by flash etching with a hydrogen peroxide and sulfuric acid based solution to complete the wiring formation, and a flexible printed wiring board was obtained. Table 3 shows the flash etching conditions.

配線を形成した後に、IPC−TM−650−2.4.9に準じた方法で、パターン幅10mm、3mm、剥離角度90°、剥離速度50mm/min.にて配線のピール強度を測定した。測定器は、島津製作所株式会社製オートグラフAGS−Hを用いた。ピール強度は、初期、85℃、85%RH、72時間サンプルを放置後、及び177℃、72時間サンプルを放置後に測定を行った。   After the wiring was formed, the pattern width was 10 mm, 3 mm, the peeling angle was 90 °, and the peeling speed was 50 mm / min. By a method according to IPC-TM-650-2.4.9. The peel strength of the wiring was measured. The measuring instrument used was Autograph AGS-H manufactured by Shimadzu Corporation. The peel strength was measured at an initial stage after leaving the sample at 85 ° C. and 85% RH for 72 hours and after leaving the sample at 177 ° C. for 72 hours.

Figure 2007194265
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[実施例2]
支持金属箔として、日本電解株式会社製 18μm厚のUSLPとしたこと以外は、実施例1と同様にして、フレキシブルプリント配線板を得た。
[Example 2]
A flexible printed wiring board was obtained in the same manner as in Example 1 except that the supporting metal foil was 18 μm-thick USLP manufactured by Nippon Electrolytic Co., Ltd.

[実施例3]
支持金属箔として、日本電解株式会社製 18μm厚のSLPとしたこと以外は、実施例1と同様にして、フレキシブルプリント配線板を得た。
[Example 3]
A flexible printed wiring board was obtained in the same manner as in Example 1 except that the supporting metal foil was SLP having a thickness of 18 μm manufactured by Nippon Electrolytic Co., Ltd.

[実施例4]
支持金属箔として、日本電解株式会社製 18μm厚のGP−18としたこと以外は、実施例1と同様にして、フレキシブルプリント配線板を得た。
なお、実施例1〜4のピール強度の結果を表4にまとめた。
[Example 4]
A flexible printed wiring board was obtained in the same manner as in Example 1 except that the supporting metal foil was 18 μm-thick GP-18 manufactured by Nippon Electrolytic Co., Ltd.
In addition, the result of the peel strength of Examples 1-4 was put together in Table 4.

Figure 2007194265
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[PI表面の下地層の分析]
アルバック・ファイ株式会社製X線光電子分光分析装置Quantum2000にて、賦型用金属箔を樹脂基板に積層した後、支持金属箔をエッチングし、下地層を分析した結果を表5に示す。なお、下記数値は、C,N,Oを除いた元素の合計を100として算出した。
[Analysis of underlayer on PI surface]
Table 5 shows the results of analyzing the base layer after etching the supporting metal foil after laminating the shaping metal foil on the resin substrate with an X-ray photoelectron spectrometer Quantum 2000 manufactured by ULVAC-PHI. In addition, the following numerical value was computed by making the sum total of the element except C, N, and O into 100.

Figure 2007194265
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[実施例5]
微細凹凸表面処理を有する支持金属箔として、日鉱マテリアルズ製の12μm厚のBHY−22B−Tを用い、ポリイミド樹脂として、両面に熱可塑性樹脂を有するユーピレックスVTの25μm厚を用いた。ユーピレックスVTの両面に前記Cu箔をラミネートした、松下電工製両面CCL材料R−F775を用いた。
[Example 5]
As the supporting metal foil having a fine uneven surface treatment, 12 μm-thick BHY-22B-T manufactured by Nikko Materials was used, and as the polyimide resin, 25 μm thickness of Upilex VT having a thermoplastic resin on both sides was used. A double-sided CCL material R-F775 made by Matsushita Electric Works, which had the Cu foil laminated on both sides of Upilex VT, was used.

両面Cu箔付CCLの片面の金属箔支持体を30℃、40ボーメの塩化第二鉄溶液にて支持金属箔を1μm残してエッチングし、シード層を形成した。   A single-sided metal foil support of CCL with double-sided Cu foil was etched with a ferric chloride solution at 30 ° C. and 40 Baume, leaving 1 μm of the support metal foil to form a seed layer.

その後、ドライフィルムには、厚み15μmの、旭化成のSPG−152を用い、シード層のCu面に温度100℃にてラミネートし、所望の配線パターンを反転したパターンを形成したガラスマスクを用いて、露光を行った。   After that, as a dry film, a 15 μm thick Asahi Kasei SPG-152 was used, laminated on the Cu surface of the seed layer at a temperature of 100 ° C., and a glass mask formed with a pattern obtained by inverting the desired wiring pattern, Exposure was performed.

その後、0.8%の炭酸ナトリウム溶液にて約20秒間現像を行い、レジストパターンを形成した。配線形成は、硫酸銅溶液の電解Cuめっき液にて、約10umの配線めっき厚を得た。更にシード層のCuと、配線のCuの密着性を高める為、オーブンにて125℃60分加熱を行った後、ドライフィルムを3%の水酸化ナトリウム溶液にて剥離した。その後、過酸化水素、硫酸系の溶液にて、シード層、下地金属層をエッチングで除去し、配線形成を完了し、フレキシブルプリント配線板を得た。   Thereafter, development was performed with a 0.8% sodium carbonate solution for about 20 seconds to form a resist pattern. For wiring formation, an electrolytic Cu plating solution of a copper sulfate solution was used to obtain a wiring plating thickness of about 10 μm. Further, in order to enhance the adhesion between Cu of the seed layer and Cu of the wiring, after heating in an oven at 125 ° C. for 60 minutes, the dry film was peeled off with a 3% sodium hydroxide solution. Thereafter, the seed layer and the underlying metal layer were removed by etching with a hydrogen peroxide or sulfuric acid solution to complete the wiring formation to obtain a flexible printed wiring board.

配線を形成した後に、IPC−TM−650−2.4.9に準じた方法で、パターン幅10mm、3mm、剥離角度90°、剥離速度50mm/min.にて配線のピール強度を測定した。ピール強度は、初期、85℃、85%RH、72時間サンプルを放置後、及び177℃、72時間サンプルを放置後に測定を行った。ピール強度の測定結果を表6にまとめた。   After the wiring was formed, the pattern width was 10 mm, 3 mm, the peeling angle was 90 °, and the peeling speed was 50 mm / min. By a method according to IPC-TM-650-2.4.9. The peel strength of the wiring was measured. The peel strength was measured at an initial stage after leaving the sample at 85 ° C. and 85% RH for 72 hours and after leaving the sample at 177 ° C. for 72 hours. The measurement results of peel strength are summarized in Table 6.

Figure 2007194265
Figure 2007194265

[実施例6]
両面Cu箔付CCLの片面の金属箔支持体を、三菱瓦斯化学株式会社製SE−07にて支持金属箔を1μm残してエッチングし、シード層を形成したこと以外は、実施例1と同様にして、フレキシブルプリント配線板を得た。
[Example 6]
Except that the metal foil support on one side of CCL with double-sided Cu foil was etched using SE-07 manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd. leaving 1 μm of the support metal foil, and the seed layer was formed. Thus, a flexible printed wiring board was obtained.

本発明のフレキシブルプリント配線板の一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the flexible printed wiring board of this invention. 本発明に用いられる下地層を例示する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which illustrates the base layer used for this invention. 下地層が形成された樹脂基板(ポリイミド樹脂)の表面の一例を示すSEM写真である。It is a SEM photograph which shows an example of the surface of the resin substrate (polyimide resin) in which the base layer was formed. 本発明に用いられる下地層を例示する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which illustrates the foundation layer used for the present invention. 本発明に用いられる下地層の形成方法の一例を示す工程図である。It is process drawing which shows an example of the formation method of the base layer used for this invention. 第1態様のフレキシブルプリント配線板の製造方法の一例を示す工程図である。It is process drawing which shows an example of the manufacturing method of the flexible printed wiring board of a 1st aspect. 賦型用金属箔の下地層表面の一例を示すSEM写真である。It is a SEM photograph which shows an example of the base layer surface of the metal foil for shaping. 第2態様のフレキシブルプリント配線板の製造方法の一例を示す工程図である。It is process drawing which shows an example of the manufacturing method of the flexible printed wiring board of a 2nd aspect.

符号の説明Explanation of symbols

1 … 樹脂基板
2 … 下地層
3 … シード層
4 … 配線めっき層
5 … 密着性向上層
6 … 耐熱処理層
7 … シランカップリング処理層
8 … 銅箔
9 … 賦型用銅箔
10 … 積層体
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Resin substrate 2 ... Underlayer 3 ... Seed layer 4 ... Wiring plating layer 5 ... Adhesion improvement layer 6 ... Heat-resistant treatment layer 7 ... Silane coupling treatment layer 8 ... Copper foil 9 ... Molding copper foil 10 ... Laminate

Claims (7)

微細凹凸表面を有する樹脂基板と、前記微細凹凸表面上に形成された下地層と、前記下地層上にパターン状に形成されたシード層と、前記シード層上に形成された配線めっき層とを有し、
前記下地層が、密着性向上用金属を含有することを特徴とするフレキシブルプリント配線板。
A resin substrate having a fine uneven surface, an underlayer formed on the fine uneven surface, a seed layer formed in a pattern on the underlayer, and a wiring plating layer formed on the seed layer Have
The flexible printed wiring board, wherein the underlayer contains a metal for improving adhesion.
前記下地層が、前記密着性向上用金属として、Ni、Co、Cu、MoおよびFeからなる群から選択される少なくとも1種類の金属を含有することを特徴とする請求項1に記載のフレキシブルプリント配線板。   2. The flexible print according to claim 1, wherein the underlayer contains at least one metal selected from the group consisting of Ni, Co, Cu, Mo, and Fe as the metal for improving adhesion. Wiring board. 前記下地層が、耐熱処理用金属を含有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のフレキシブルプリント配線板。   The flexible printed wiring board according to claim 1, wherein the underlayer contains a heat-resistant metal. 前記微細凹凸表面の表面粗さRzが、0.1μm〜5.0μmの範囲内であることを特徴とする請求項1から請求項3までのいずれかの請求項に記載のフレキシブルプリント配線板。   The surface roughness Rz of the said fine uneven | corrugated surface exists in the range of 0.1 micrometer-5.0 micrometers, The flexible printed wiring board in any one of Claim 1 to 3 characterized by the above-mentioned. 前記配線めっき層の線幅が3μm〜30μmの範囲内であることを特徴とする請求項1から請求項4までのいずれかの請求項に記載のフレキシブルプリント配線板。   5. The flexible printed wiring board according to claim 1, wherein a line width of the wiring plating layer is in a range of 3 μm to 30 μm. 微細凹凸表面を有する支持金属箔と、前記微細凹凸表面上に形成され、密着性向上用金属を含有する下地層とを備えた賦型用金属箔を用い、前記賦型用金属箔の下地層上に樹脂基板を設けることにより積層体を形成する積層体形成工程と、
前記積層体から前記支持金属箔を除去し、下地層付樹脂基板を形成する下地層付樹脂基板形成工程と、
前記下地層付樹脂基板の下地層上に無電解めっき法によりシード層を形成するシード層形成工程と、
前記シード層上にレジストパターンを形成するレジストパターン形成工程と、
前記レジストパターンの間隙に、電解めっき法により配線めっき層を形成する配線めっき層形成工程と、
前記配線めっき層形成工程後に、前記シード層と前記配線めっき層との密着性を向上させる加熱工程と、
前記加熱工程後に、前記レジストパターンを除去するレジストパターン除去工程と、
前記レジストパターン除去工程後に、金属配線形成領域以外の前記シード層をエッチングするフラッシュエッチング工程と、
を有することを特徴とするフレキシブルプリント配線板の製造方法。
Using a metal foil for shaping comprising a supporting metal foil having a fine irregular surface and an underlayer containing an adhesion improving metal formed on the fine irregular surface, an underlayer of the shaping metal foil A laminated body forming step of forming a laminated body by providing a resin substrate thereon;
Removing the supporting metal foil from the laminate, and forming a resin substrate with a base layer, forming a resin substrate with a base layer;
A seed layer forming step of forming a seed layer by an electroless plating method on the base layer of the resin substrate with the base layer;
A resist pattern forming step of forming a resist pattern on the seed layer;
A wiring plating layer forming step of forming a wiring plating layer by electrolytic plating in the gap of the resist pattern;
A heating step for improving adhesion between the seed layer and the wiring plating layer after the wiring plating layer forming step;
A resist pattern removing step for removing the resist pattern after the heating step;
A flash etching step of etching the seed layer other than the metal wiring formation region after the resist pattern removal step;
A method for producing a flexible printed wiring board, comprising:
微細凹凸表面を有する支持金属箔と、前記微細凹凸表面上に形成され、密着性向上用金属を含有する下地層とを備えた賦型用金属箔を用い、前記賦型用金属箔の下地層上に樹脂基板を設けることにより積層体を形成する積層体形成工程と、
前記積層体の支持金属箔をエッチングすることにより、シード層を形成するシード層形成工程と、
前記シード層上にレジストパターンを形成するレジストパターン形成工程と、
前記レジストパターンの間隙に、電解めっき法により配線めっき層を形成する配線めっき層形成工程と、
前記配線めっき層形成工程後に、前記シード層と前記配線めっき層との密着性を向上させる加熱工程と、
前記加熱工程後に、前記レジストパターンを除去するレジストパターン除去工程と、
前記レジストパターン除去工程後に、金属配線形成領域以外の前記シード層をエッチングするフラッシュエッチング工程と、
を有することを特徴とするフレキシブルプリント配線板の製造方法。
Using a metal foil for shaping comprising a supporting metal foil having a fine irregular surface and an underlayer containing an adhesion improving metal formed on the fine irregular surface, an underlayer of the shaping metal foil A laminated body forming step of forming a laminated body by providing a resin substrate thereon;
A seed layer forming step of forming a seed layer by etching the supporting metal foil of the laminate;
A resist pattern forming step of forming a resist pattern on the seed layer;
A wiring plating layer forming step of forming a wiring plating layer by electrolytic plating in the gap of the resist pattern;
A heating step for improving adhesion between the seed layer and the wiring plating layer after the wiring plating layer forming step;
A resist pattern removing step for removing the resist pattern after the heating step;
A flash etching step of etching the seed layer other than the metal wiring formation region after the resist pattern removal step;
A method for producing a flexible printed wiring board, comprising:
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