JP2007188933A - 複数の素子の実装方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】本発明は、基板に複数の素子を電気的に接続すると共に、これら複数の素子を冷却するヒートシンクを取り付ける、複数の素子の実装方法に関し、複数の素子の取り付けコストを低減すると共に、これら複数の素子を効率良く確実に冷却することができるように実装する、複数の素子の実装方法を提供することを目的とする。
【解決手段】素子接続工程よりも前の素子固着工程で、本発明にいう複数の素子の一例に相当する受発光素子11及び駆動用LSI12を、受発光素子11及び駆動用LSI12の接続面11b,12bに対する裏面11c,12cを向けて、ヒートシンク30の放熱面30bに対する裏面30cに固着させる。
【選択図】 図2

Description

本発明は、基板に複数の素子を電気的に接続すると共に、これら複数の素子を冷却するヒートシンクを取り付ける、複数の素子の実装方法に関する。
電子機器の中には、各種の機能を実現するCPUやメモリなどといったLSI(Large Scale Integration:大規模集積回路)に代表される複数の素子が基板上に実装されたマルチチップモジュールを内蔵した電子機器がある。
近年、LSIの製造技術が向上し、より集積度の高いLSIが製造されている。集積度の高いLSIが電子機器に実装されることによって、情報処理能力の拡大や記憶容量の拡大や装置の小型化・軽量化などが図られる反面、LSIの高集積化に伴って消費電力が増加し、電子機器を駆動した際にLSIが強く発熱する。LSIが強く発熱すると電子機器の筐体内の温度が上昇してLSIの動作が不安定になったり、その筐体内の温度がさらに上昇するとLSI自体が熱によって損傷を受けて電子機器が使用不可能となるおそれがある。
また、電子機器の中には、LSIと共に、信号光を発光する発光素子や信号光を受光する受光素子などといった、電気信号と光信号との間での変換を担う光通信素子が実装された光マルチチップモジュールを内蔵した電子機器もある。
一般に、このような光通信素子は、高速な信号伝送のために駆動用LSIの直近に配置する必要がある。光通信素子自体は強く発熱しないものの、電子機器を駆動して駆動用LSIが強く発熱すると、この駆動用LSIの直近に配置された光通信素子も熱を帯びることとなる。ところが、光通信素子の動作温度上限は、LSIの動作温度上限(通常100℃程度)よりも低く(通常80℃程度)、光通信素子が強く熱を帯びると発光量が変化し信号授受に悪影響を及ぼすおそれがある。
従来より、発熱したLSIや熱を帯びた光通信素子を冷却する手段として、マルチチップモジュールに実装されたLSIや光通信素子などといった複数の素子それぞれに対して個別にヒートシンクを取り付け、このヒートシンクを介して放熱することによって各素子を冷却する手段が知られている。このようにヒートシンクを用いて各素子を冷却することによって、各素子の温度上昇が抑制され、各素子の動作が安定するものの、複数の素子それぞれに対して個別にヒートシンクを取り付ける手段によると、取り付けコストが嵩むこととなる。
ここで、マルチチップモジュールに実装された厚みの異なる複数の素子を1つのヒートシンクを用いて一括冷却する技術が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。具体的には、放熱フィンを有するヒートシンクの、放熱フィンに対する裏面に、基板に実装された複数の素子の厚さに応じた段差や凹みを設け、複数の素子とヒートシンクとの接着層厚さを均一にした技術である。
特開平6−224334号公報
上述した特許文献1に提案された技術によれば、冷却すべき複数の素子に対して1つのヒートシンクを取り付ければよいため、組立工程が短縮され、取り付けコストが低減される。ところが、同一素子におけるロット間の製造誤差等の要因によって、ヒートシンクに設けられた段差や凹みが、この段差や凹みに嵌合することを想定した素子の厚さと一致しない場合がある。このような場合は、素子とヒートシンクとの間に隙間が生じることとなり、この素子の放熱効率が低下してしまう。
本発明は、上記事情に鑑み、複数の素子の取り付けコストを低減すると共に、これら複数の素子を効率良く確実に冷却することができるように実装する、複数の素子の実装方法を提供することを目的とするものである。
上記目的を達成する本発明の複数の素子の実装方法は、
放熱フィンが形成された放熱面を有するヒートシンクの、その放熱面に対する裏面に、それぞれに電気接点が形成された接続面を有する複数の素子を、その接続面に対する裏面を向けて固着させる素子固着工程と、
上記素子固着工程で上記ヒートシンクに固着させた複数の素子を、複数の導電パターンを有する所定の基板に、それら複数の素子の接続面を向けてそのヒートシンクと共に配置する素子配置工程と、
上記素子配置工程で上記基板上に配置された複数の素子の接続面に形成された電気接点とその基板上の導電パターンとを電気的に接続する素子接続工程とを有することを特徴とする。
本発明の複数の素子の実装方法は、上記素子接続工程よりも前の上記素子固着工程で、上記複数の素子を、複数の素子の接続面に対する裏面を向けて、上記ヒートシンクの放熱面に対する裏面に固着させるものであるため、ヒートシンクと複数の素子それぞれとが確実に密着される。従って、本発明の複数の素子の実装方法によれば、複数の素子それぞれからヒートシンクへの熱伝導性が非常に良いマルチチップモジュールを得ることができ、上記基板に実装された複数の素子が強く発熱したとしても、複数の素子それぞれを効率良く確実に冷却することができる。また、本発明の複数の素子の実装方法は、1つのヒートシンクを用いるものであるため、組立工程が短縮され、取り付けコストが低減される。
ここで、上記本発明の複数の素子の実装方法は、
「上記複数の素子それぞれの接続面に形成された各電気接点上に、各素子の厚さに応じた径を有する半田ボールを配設する半田ボール配設工程を有し、
上記素子接続工程が、上記複数の素子を、上記基板上に、上記半田ボール配設工程で配設された半田ボールの溶融により半田接続するものである」
ことが好ましい。
このような半田ボール配設工程を有する複数の素子の実装方法によれば、上記複数の素子それぞれの厚さが異なる場合や、同一素子におけるロット間の製造誤差等の要因によって同一種類の素子の厚さが異なる場合などであっても、各素子の厚さに応じた径を有する半田ボールの溶融によってこれらのバラツキを吸収することができる。
また、上記本発明の複数の素子の実装方法のうちの半田ボール配設工程を有する複数の素子の実装方法は、
「上記基板上の、上記導電パターンが形成された導電面、及び上記ヒートシンクの、上記放熱面に対する裏面の、少なくともいずれか一方の面に、その導電面とその裏面との間隔を所定の間隔に保つための支持部材を配設する支持部材配設工程を有し、
上記素子接続工程が、上記複数の素子を、上記基板上に、上記支持部材配設工程で配設された支持部材により上記基板と上記ヒートシンクとの間を所定間隔に保った状態に接続するものである」
ことがさらに好ましい。
このような支持部材配設工程を有する複数の素子の実装方法によれば、半田ボールが溶融しても、上記基板と上記ヒートシンクとの間を所定間隔に保った状態に接続することができる。
さらに、上記本発明の複数の素子の実装方法は、上記複数の素子が、少なくとも、電気信号と光信号との間での変換を担う光通信素子と、この光通信素子と電気的に接続され信号処理を担う半導体回路素子とを含むものであることも好ましい形態である。
ここで、上記光通信素子は、一般に、高速な信号伝送のために上記半導体回路素子の直近に配置する必要がある。光通信素子自体は強く発熱しないものの、半導体回路素子が強く発熱すると、この半導体回路素子の直近に配置された光通信素子も熱を帯びることとなり、半導体回路素子の動作温度上限よりも低い動作温度上限を有する光通信素子は強く熱を帯びると発光量が変化し信号授受に悪影響を及ぼすおそれがある。ところが、本発明の複数の素子の実装方法は、複数の素子それぞれを効率良く確実に冷却することができるため、上記光通信素子と上記半導体回路素子とを含む複数の素子の実装方法に本発明を適用すると好適である。
本発明によれば、複数の素子の取り付けコストを低減すると共に、これら複数の素子を効率良く確実に冷却することができるように実装する、複数の素子の実装方法が提供される。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明の一実施形態が適用された複数の素子の実装方法における半田ボール配設工程及び素子固着工程を示す図である。尚、本実施形態では、本発明にいう複数の素子として、電気信号と光信号との間での変換を担う受発光素子、及びこの光通信素子と電気的に接続され信号処理を担う駆動用LSI(Large Scale Integration:大規模集積回路)を例に挙げて説明する。この受発光素子は、本発明にいう光通信素子の一例に相当し、この駆動用LSIは、本発明にいう半導体回路素子の一例に相当する。
まず、電気接点11aが形成された接続面11bを有する受発光素子11、及び電気接点12aが形成された接続面12bを有する駆動用LSI12それぞれの、接続面11b,12bに形成された各電気接点11a,12a上に、受発光素子11及び駆動用LSI12それぞれの厚さに応じた径を有する半田ボール21,22を配設する(半田ボール配設工程)。
次に、放熱フィン30aが形成された放熱面30bを有するヒートシンク30の、その放熱面30bに対する裏面30cに、上記半田ボール配設工程で半田ボール21,22が配設された受発光素子11及び駆動用LSI12を、接続面11b,12bに対する裏面11c,12cを向けて固着させる(素子固着工程)。尚、受発光素子11及び駆動用LSI12をヒートシンク30に固着させるにあたっては、例えば高熱伝導接着剤や鑞付けなどといった高熱伝導な接続方法を用いて固着させる。
図2は、本実施形態の複数の素子の実装方法における素子配置工程を示す図である。
次に、上記素子固着工程でヒートシンク30に固着させた受発光素子11及び駆動用LSI12を、複数の導電パターン40aを有する基板40に、受発光素子11及び駆動用LSI12の接続面11b,12bを向けてヒートシンク30と共に配置する(素子配置工程)。
図3は、本実施形態の複数の素子の実装方法における素子接続工程を示す図である。
次に、上記素子配置工程で基板40上に配置された受発光素子11の接続面11bに形成された電気接点11a及び駆動用LSI12の接続面12bに形成された電気接点12aと、基板40上の導電パターン40aとを電気的に接続する(素子接続工程)。ここでは、上記素子配置工程で受発光素子11及び駆動用LSI12が配置された基板40を、図示しないリフロー炉に搬入し、上記半田ボール配設工程で配設された半田ボール21,22の溶融により、受発光素子11及び駆動用LSI12を基板40上に半田接続する。
以上説明したように、本実施形態の複数の素子の実装方法は、上記素子接続工程よりも前の上記素子固着工程で、本発明にいう複数の素子の一例に相当する受発光素子11及び駆動用LSI12を、受発光素子11及び駆動用LSI12の接続面11b,12bに対する裏面11c,12cを向けて、ヒートシンク30の放熱面30bに対する裏面30cに固着させるものであるため、受発光素子11及び駆動用LSI12と、ヒートシンク30とが、確実に密着される。
図4は、本実施形態の複数の素子の実装方法によって、基板に受発光素子及び駆動用LSIを電気的に接続すると共に、受発光素子及び駆動用LSIを冷却するヒートシンクを取り付けたマルチチップモジュールの側面図である。
本実施形態の複数の素子の実装方法によれば、図4に示すように、受発光素子11及び駆動用LSI12それぞれからヒートシンク30への熱伝導性が非常に良いマルチチップモジュールを得ることができ、基板40に実装された駆動用LSI12が強く発熱したとしても効率良く確実に冷却することができる。
ここで、受発光素子11は、一般に、高速な信号伝送のために駆動用LSI12の直近に配置する必要がある。受発光素子11自体は強く発熱しないものの、駆動用LSI12が強く発熱すると、この駆動用LSI12の直近に配置された受発光素子11も熱を帯びることとなり、駆動用LSI12の動作温度上限よりも低い動作温度上限を有する受発光素子11は強く熱を帯びると発光量が変化し信号授受に悪影響を及ぼすおそれがある。ところが、本実施形態のの複数の素子の実装方法は、複数の素子それぞれを効率良く確実に冷却することができるため、受発光素子11と駆動用LSI12とを含む複数の素子の実装方法に本実施形態を適用すると好適である。
また、本実施形態の複数の素子の実装方法は、1つのヒートシンク30を用いるものであるため、組立工程が短縮され、取り付けコストが低減される。
さらに、本実施形態の複数の素子の実装方法は、上記半田ボール配設工程で、受発光素子11及び駆動用LSI12それぞれの厚さに応じた径を有する半田ボール21,22を上記各電気接点11a,12a上に配設するため、受発光素子11及び駆動用LSI12それぞれの厚さが異なる場合や、同一素子におけるロット間の製造誤差等の要因によって同一種類の素子の厚さが異なる場合などであっても、上記素子接続工程における、各素子の厚さに応じた径を有する半田ボールの溶融によってこれらのバラツキを吸収することができる。
次に、本発明の他の実施形態について説明する。
尚、以下説明する実施形態では、上述した実施形態で説明した構成とほぼ同じ構成を有するため、上述した実施形態との相違点に注目し、同じ要素については同じ符号を付して説明を省略する。
図5は、本実施形態の複数の素子の実装方法における支持部材配設工程を示す図である。
ヒートシンク30の、放熱面30bに対する裏面30cに、基板40上の、導電パターン40aが形成された導電面40bとその裏面30cとの間隔を所定の間隔に保つための支持部材50を配設する(支持部材配設工程)。
図6は、本実施形態の複数の素子の実装方法における素子配置工程を示す図である。
上記素子固着工程でヒートシンク30に固着させた受発光素子11及び駆動用LSI12を、複数の導電パターン40aを有する基板40に、受発光素子11及び駆動用LSI12の接続面11b,12bを向けてヒートシンク30と共に配置する(素子配置工程)。
図7は、本実施形態の複数の素子の実装方法における素子接続工程を示す図である。
素子接続工程では、受発光素子11及び駆動用LSI12を、基板40上に、上記支持部材配設工程で配設された支持部材50により基板40とヒートシンク30との間を所定間隔に保った状態に接続する。
支持部材配設工程で、上記裏面30cに、上記導電面40bとこの裏面30cとの間隔を所定の間隔に保つための支持部材50を配設する。一般に、素子接続工程で溶融する半田ボールは、径の大きな半田ボールのほうが、径の小さな半田ボールよりも溶融時の沈み込み量が大きく、傾きの原因となってしまう。しかし、このような支持部材50を用いることにより、半田ボール21,22が溶融しても、基板40とヒートシンク30との間を所定間隔に保った状態に接続することができる。
次に、本発明のさらに他の実施形態について説明する。
図8は、本実施形態の複数の素子の実装方法における支持部材配設工程を示す図である。
基板40上の、上記導電パターン40aが形成された導電面40bに、その導電面40bと、ヒートシンク30の、放熱面30bに対する裏面30cとの間隔を所定の間隔に保つための支持部材50を配設する(支持部材配設工程)。
図5を参照して説明した例では、支持部材50をヒートシンク30側に配設する例を示したが、図8に示すように、支持部材50は、基板40側に配設してもよい。
次に、本発明のさらに他の実施形態について説明する。
図9は、本実施形態の複数の素子の実装方法における支持部材配設工程を示す図である。
基板40上の、上記導電パターン40aが形成された導電面40bに、その導電面40bと、ヒートシンク30の、放熱面30bに対する裏面30cとの間隔を所定の間隔に保つためのコア入り半田ボール60を配設する(支持部材配設工程)。このコア入り半田ボール60は、本発明にいう支持部材の一例に相当するものである。
コア入り半田ボール60を本発明にいう支持部材として用いることもできる。
尚、上述した各実施形態では、本発明にいうヒートシンクが、放熱フィンが形成された放熱面に対する裏面が平らである例について説明したが、本発明にいうヒートシンクは、これに限られるものではなく、例えばその裏面に、基板に実装する複数の素子の厚さに応じた段差や凹みを設けたものであってもよい。
また、上述した各実施形態では、本発明にいう複数の素子が、受発光素子及び駆動用LSIである例について説明したが、本発明にいう複数の素子は、これに限られるものではなく、動作時に冷却すべき素子であればどのような種類の素子であってもよい。
本発明の一実施形態が適用された複数の素子の実装方法における半田ボール配設工程及び素子固着工程を示す図である。 本実施形態の複数の素子の実装方法における素子配置工程を示す図である。 本実施形態の複数の素子の実装方法における素子接続工程を示す図である。 本実施形態の複数の素子の実装方法によって、基板に受発光素子及び駆動用LSIを電気的に接続すると共に、受発光素子及び駆動用LSIを冷却するヒートシンクを取り付けたマルチチップモジュールの側面図である。 本実施形態の複数の素子の実装方法における支持部材配設工程を示す図である。 本実施形態の複数の素子の実装方法における素子配置工程を示す図である。 本実施形態の複数の素子の実装方法における素子接続工程を示す図である。 本実施形態の複数の素子の実装方法における支持部材配設工程を示す図である。 本実施形態の複数の素子の実装方法における支持部材配設工程を示す図である。
符号の説明
11 受発光素子
11a,12a 電気接点
11b,12b 接続面
11c,12c,30c 裏面
12 駆動用LSI
21,22 半田ボール
30 ヒートシンク
30a 放熱フィン
30b 放熱面
40 基板
40a 導電パターン
40b 導電面
50 支持部材
60 コア入り半田ボール

Claims (4)

  1. 放熱フィンが形成された放熱面を有するヒートシンクの、該放熱面に対する裏面に、それぞれに電気接点が形成された接続面を有する複数の素子を、該接続面に対する裏面を向けて固着させる素子固着工程と、
    前記素子固着工程で前記ヒートシンクに固着させた複数の素子を、複数の導電パターンを有する所定の基板に、該複数の素子の接続面を向けて該ヒートシンクと共に配置する素子配置工程と、
    前記素子配置工程で前記基板上に配置された複数の素子の接続面に形成された電気接点と該基板上の導電パターンとを電気的に接続する素子接続工程とを有することを特徴とする複数の素子の実装方法。
  2. 前記複数の素子それぞれの接続面に形成された各電気接点上に、各素子の厚さに応じた径を有する半田ボールを配設する半田ボール配設工程を有し、
    前記素子接続工程が、前記複数の素子を、前記基板上に、前記半田ボール配設工程で配設された半田ボールの溶融により半田接続するものであることを特徴とする請求項1記載の複数の素子の実装方法。
  3. 前記基板上の、前記導電パターンが形成された導電面、及び前記ヒートシンクの、前記放熱面に対する裏面の、少なくともいずれか一方の面に、該導電面と該裏面との間隔を所定の間隔に保つための支持部材を配設する支持部材配設工程を有し、
    前記素子接続工程が、前記複数の素子を、前記基板上に、前記支持部材配設工程で配設された支持部材により前記基板と前記ヒートシンクとの間を所定間隔に保った状態に接続するものであることを特徴とする請求項2記載の複数の素子の実装方法。
  4. 前記複数の素子が、少なくとも、電気信号と光信号との間での変換を担う光通信素子と、該光通信素子と電気的に接続され信号処理を担う半導体回路素子とを含むものであることを特徴とする請求項1記載の複数の素子の実装方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2010182799A (ja) * 2009-02-04 2010-08-19 Hitachi Cable Ltd 光伝送モジュール
JP2010245212A (ja) * 2009-04-03 2010-10-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置およびその製造方法

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