JP2007132764A - マルチチャネルアナライザ - Google Patents

マルチチャネルアナライザ Download PDF

Info

Publication number
JP2007132764A
JP2007132764A JP2005325516A JP2005325516A JP2007132764A JP 2007132764 A JP2007132764 A JP 2007132764A JP 2005325516 A JP2005325516 A JP 2005325516A JP 2005325516 A JP2005325516 A JP 2005325516A JP 2007132764 A JP2007132764 A JP 2007132764A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
trigger signal
memory controller
histogram
unit
channel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005325516A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4784271B2 (ja
Inventor
Hiroshi Yagyu
浩 柳生
Takashi Asakawa
高史 浅川
Yuji Yamaguchi
雄二 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP2005325516A priority Critical patent/JP4784271B2/ja
Publication of JP2007132764A publication Critical patent/JP2007132764A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4784271B2 publication Critical patent/JP4784271B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

【課題】放射線源の時間的推移の解析を精度よく行なうことができるマルチチャネルアナライザを実現することにある。
【解決手段】放射線のエネルギーに対応したピーク値をもつパルス信号が入力され、このパルス信号のピーク値をピーク検出部によって検出し、放射線の解析を行なうマルチチャネルアナライザに改良を加えたものである。本装置は、ピーク検出部20のピーク値に対応するチャネルの計数を行なうヒストグラム解析部21と、ヒストグラム解析部21によるチャネルごとの計数結果を記憶する領域を、複数個有する記憶部と、トリガ信号を出力するトリガ信号出力部27と、記憶部の各領域にヒストグラム解析部の計数結果を書き込め、トリガ信号出力部27からのトリガ信号によって、書き込む領域を切り替えるメモリコントローラ25とを設けたことを特徴とするものである。
【選択図】図1

Description

本発明は、放射線のエネルギーに対応したピーク値をもつパルス信号が入力され、このパルス信号のピーク値をピーク検出部によって検出し、前記放射線のスペクトラム解析を行なうマルチチャネルアナライザに関し、詳しくは、放射線源の時間的推移の解析を精度よく行なうことができるマルチチャネルアナライザに関するものである。
マルチチャネルアナライザ(以下、MCA(Multicannel Analyzer)と略す)は、放射線の研究分野で用いられる計測器であり、試料から出力される放射線源それぞれの発生回数を計数して、放射線源の種類等の同定や放射線源の強度の時間変動、半減期等を解析するためのヒストグラムを作成する。
図4は、測定すべき試料からの放射線のエネルギーを測定し、放射線源の種類等を同定する従来の放射線測定装置の構成を示した図である(例えば、特許文献1、2参照)。図4において、試料10から出力される放射線が検出器11に入力される。そして、検出器11が、放射線のエネルギーに対応した、すなわち放射線源それぞれに固有の電荷量を検出し、検出した電荷量を出力する。さらに、前置増幅器(例えば、チャージアンプ)12が、検出器11からの電荷量を、この電荷量に比例した電圧値に変換する。さらに、波形整形増幅器13が、前置増幅器12からの信号を、幅の狭いパルス信号(一般的には、信号幅FWHM(full width half maximum)=〜1[μs]のガウス形状)に変換する。従って、波形整形増幅器13からのパルス信号のピーク値(波高値)と検出器11からの電荷量は比例している。
そして、MCA14が、波形整形増幅器13から入力されるパルス信号を測定することにより、試料の放射線源(核種)の種類等を同定する。すなわち、パルス信号のピーク値(電圧値)には、試料からの放射線のエネルギー等の情報が含まれるので、ピーク値を求めることにより、どの種類の放射線源からの出力であるかを判断する。
図5は、従来のMCAの構成を示した図である。
図5において、ピーク検出部20は、波形整形増幅器13からパルス信号が入力され、パルス信号のピーク値を求める。ヒストグラム解析部21は、パルス信号のピーク値が入力され、ピーク値を所定の範囲で区分けしたチャネルに振り分ける。メモリコントローラ22は、ヒストグラム解析部21と接続され、ヒストグラムメモリ23へのデータの読み書きを行なう。ヒストグラムメモリ23は、チャネルそれぞれの領域が割り当てられ、チャネルごとの度数を記憶する。通信部24は、メモリコントローラと相互に接続され、外部の機器とデータの送受信を行なう。
図5に示すMCAの動作を説明する。ここで、図6は、図5に示す装置の動作を説明した図である。
まず、測定を開始する前に、ヒストグラム解析部21が、メモリコントローラ22を介して、ヒストグラムメモリ23の各領域のカウント値(度数)をクリアする。
そして、クリアが終了すると第1回目の測定を行なう。なお、各回において測定を行なう時間は、所定の単位時間Δt(つまり、測定時間Δt)である。具体的には、ピーク検出部20が、単位時間Δt内に、波形整形増幅器13から順次入力されるパルス信号それぞれのピーク値を求め、ヒストグラム解析部21に出力する。
そして、ヒストグラム解析部21が、入力されたピーク値から、割り振る先のチャネルを判別し、判別したチャネル番号をメモリコントローラ22に出力する。これにより、メモリコントローラ22が、判別したチャネル番号に対応するメモリ23の領域を演算で求め、求めた領域からカウント値を読み出してヒストグラム解析部21に出力する。そして、ヒストグラム解析部21が、読み出したカウント値を”+1”インクリメントし、インクリメントしたカウント値をメモリコントローラ22に出力する。さらに、メモリコントローラ22が、新たなカウント値を読み出した領域に書き込む。このようなメモリ23のカウント値をインクリメントする動作を所定時間Δt行なう。従って、メモリ23には、各チャネルあたりのパルス信号の発生頻度のヒストグラム(横軸がチャネル(つまり、ピーク値)、縦軸が度数)が記憶される。
所定の単位時間Δt測定を行なった後、通信部24が、メモリコントローラ22を介して、各チャネルのカウント値を読み出し、1回目のヒストグラムのデータとして外部の計算機(図示せず)に送信する。さらに、ヒストグラム解析部21が、メモリコントローラ22を介して、ヒストグラムメモリ23の各領域のカウント値をクリアする。一方、外部の計算機にてデータ処理を行ない、ヒストグラムの表示、保存等を行なう。
そして、メモリクリアが終了すると、MCAが第2回目の測定を行ない、測定終了後にデータの出力、メモリクリアを行ない、所定の回数nまで測定を繰り返す。
さらに、計算機上にて、例えば、放射線源Bの度数のみを、n回分のヒストグラムのデータそれぞれから取り出し、横軸を時間、縦軸を度数とすれば、単位時間Tm(Δt×n)における放射線源Bの時間的推移を解析することもできる。ここで、図7は、放射線源Bから放射線が出力された度数の時間的推移を示した図である。
特許第2577386号 特許第2645196号 特開2002−55171号公報
放射線計測のデータ解析では、マルチチャネルアナライザ14が作成するヒストグラムが必須である。また、単位時間Δtで測定したヒストグラムの時系列の変化も、線源の強度の時間変動や半減期などを測定するために非常に重要である。
一般的に、所定の単位時間Δtが長時間(数時間〜数日)にわたることがある。そして、この単位時間Δtをn回測定するため、マルチチャネルアナライザ14には正確な測定が要求されている。
しかしながら、試料から出力される各放射線源の度数を予測することは困難であり、長時間計測の場合、計測結果(ヒストグラム)の一部がオーバーフローを起こし、全データが無駄になる場合があるという問題があった。
また、ヒストグラムの時系列変化を測定するには、所定の単位時間Δtを測定するごとに、ヒストグラムメモリ23の内容を外部の計算機に出力し、出力後にメモリ23の内容をクリアする必要があった、そのため、j回目の測定と(j+1)回目の測定の間には、測定を行なうことができない時間、いわゆるデッドタイムが生じ、放射線源の時間的推移の解析を精度よく行なうことが困難であるという問題があった。
そこで本発明の目的は、放射線源の時間的推移の解析を精度よく行なうことができるマルチチャネルアナライザを実現することにある。
請求項1記載の発明は、
放射線のエネルギーに対応したピーク値をもつパルス信号が入力され、このパルス信号のピーク値をピーク検出部によって検出し、前記放射線の解析を行なうマルチチャネルアナライザにおいて、
前記ピーク検出部のピーク値に対応するチャネルの計数を行なうヒストグラム解析部と、
前記ヒストグラム解析部によるチャネルごとの計数結果を記憶する領域を、複数個有する記憶部と、
トリガ信号を出力するトリガ信号出力部と、
前記記憶部の各領域に前記ヒストグラム解析部の計数結果を書き込め、前記トリガ信号出力部からのトリガ信号によって、書き込む領域を切り替えるメモリコントローラと
を設けたことを特徴とするものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、
トリガ信号出力部は、タイマを有し、所定の時間が経過するとトリガ信号を前記メモリコントローラに出力することを特徴とするものである。
請求項3記載の発明は、請求項1記載の発明において、
トリガ信号出力部は、前記メモリコントローラが書き込みしている前記記憶部の計数結果が所定の値を超えるとトリガ信号を前記メモリコントローラに出力することを特徴とするものである。
請求項4記載の発明は、請求項1記載の発明において、
トリガ信号出力部は、本装置の外部から外部信号が入力されるとトリガ信号を前記メモリコントローラに出力することを特徴とするものである。
本発明によれば、メモリコントローラが、トリガ信号出力部からのトリガ信号によって記憶部に書き込む領域を切り替えて、ヒストグラム解析部が計数した計数結果を書き込むので、j回目の測定と(j+1)回目の測定間に生じるデッドタイムを抑えることができる。これにより、放射線源の時間的推移の解析を精度よく行なうことができる。
以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
[第1の実施例]
図1は、本発明の第1の実施例を示した構成図である。ここで、図5と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。図1において、メモリコントローラ22の代わりにメモリコントローラ25が設けられ、ヒストグラムメモリ23の代わりにヒストグラムメモリ26が設けられる。また、トリガ信号出力部27が新たに設けられる。
メモリコントローラ25は、ヒストグラム解析部21、通信部24と相互に接続され、ヒストグラムメモリ26へのデータの読み書きを行なう。ヒストグラムメモリ26は、記憶部であり、ページp(1)〜p(n)と呼ばれる単位でメモリ内の領域が分割される。そして、メモリ26の各ページp(1)〜p(n)には、ヒストグラム解析部21が振り分けるチャネルそれぞれに対応する領域、具体的には、メモリ内の各アドレスが割り当てられ、チャネルごとの計数結果の度数を記憶する。
トリガ信号出力部27は、内部にタイマを有しており、所定の単位時間Δtが経過するごとに、メモリコントローラ25にトリガ信号を出力する。
図2は、図1に示す装置におけるメモリ26に格納されるヒストグラムのデータを示した図である。測定回数をn回とし、チャネル数をCN個とし、メモリ26の先頭アドレスをad[k]とする。なお、n、CNは自然数であり、kは、整数である。
例えば、メモリコントローラ25が、あらかじめメモリ26の領域をページp(1)〜p(n)に分割するが、ページp(1)には1回目の測定データを格納し、ページp(2)には2回目、以下同様にページp(n)にはn回目の測定データを格納する。もちろん、各ページp(1)〜p(n)のアドレス同士が重ならないように分割する。つまり、ページp(j)の先頭アドレスから次のページp(j+1)の先頭アドレスまでは、少なくともチャネル数分((p(j+1)の先頭アドレス)−(p(j)の先頭アドレス)≧CN)の領域を確保する。
例えば、
ページp(1)は、アドレスad[k]〜ad[k+CN−1],
ページp(2)は、アドレスad[k+CN]〜ad[k+2×CN−1],…,
ページp(j)は、アドレスad[k+(j−1)×CN]〜ad[k+j×CN−1],…,
ページp(n)は、アドレスad[k+(n−1)×CN]〜ad[k+n×CN−1]が割り付けられる。
このような装置の動作を説明する。
まず、測定を開始する前に、ヒストグラム解析部21が、メモリコントローラ25を介して、ヒストグラムメモリ26の全ページp(1)〜p(n)の各アドレスのカウント値(度数)をクリアする。
そして、クリアが終了すると1回目の測定を行なうが、1回目の測定を開始すると共にトリガ信号出力部27が、タイマを起動させると共に1回目のトリガ信号をメモリコントローラ25に出力する。このトリガ信号によって、メモリコントローラ26のページp(1)への読み書きを開始する。
具体的には、波形整形増幅器13から、放射線のエネルギーに対応したピーク値をもつパルス信号が、ピーク検出部20に順次入力される。そして、ピーク検出部20が、パルス信号それぞれのピーク値を求め、ヒストグラム解析部21に出力する。
さらに、ヒストグラム解析部21が、入力されたピーク値から、割り振る先のチャネルを判別し、判別したチャネル番号をメモリコントローラ25に出力する。これにより、メモリコントローラ25が、判別したチャネル番号に対応するページp(1)内のアドレス(例えば、1番目のチャネルであれば、アドレスad[k])を算出し、メモリ26内のページp(1)のアドレスに記憶されるカウント値を読み出してヒストグラム解析部21に出力する。
そして、ヒストグラム解析部21が、読み出したカウント値を”+1”インクリメントし、インクリメントしたカウント値をメモリコントローラ25に出力する。さらに、メモリコントローラ25が、インクリメントされたカウント値を、読み出したアドレスに書き込む。このようなメモリ26のカウント値をインクリメントする動作を所定時間Δt繰り返す。従って、メモリ26のページp(1)の領域には、1回目の測定における各チャネルのパルス信号の発生頻度のヒストグラム(横軸がチャネル(つまり、ピーク値)、縦軸が度数)を記憶される。
そして、トリガ信号出力部27が、タイマの時刻を監視し、所定の単位時間Δtが過ぎると、2回目のトリガ信号をメモリコントローラ25に出力する。このトリガ信号が入力されると、2回目の測定の開始であり、次のトリガ信号(3回目)が入力されるまでに得られる結果は2回目の測定結果になる。ただし、ピーク検出部20、ヒストグラム解析部21は、1回目の測定の動作と異なる部分が無く、メモリコントローラ25が、カウント値を書き込む領域を次の領域、すなわち、ページp(1)の代わりにページp(2)に切り替えて、チャネルに対応するページp(2)のアドレスに格納されるカウント値の読み書きを行なう。
以降同様に、トリガ信号出力部27が、タイマの時刻を監視し、所定の単位時間Δtが過ぎると、3回目のトリガ信号をメモリコントローラ25に出力し、メモリコントローラ25が、3回目の測定の測定結果として、カウント値を読み書きする領域を、ページp(2)の代わりにページp(3)に切り替えて行なう。このような動作を、n回目の測定が終了するまで行なう。
そして、n回目の測定が終了すると、通信部24が、メモリコントローラ25を介して、1回目〜n回目の測定結果を外部の計算機(図示せず)に出力する。さらに、外部の計算機上にて、例えば、放射線源Bの度数のみをn回分のヒストグラムのデータそれぞれから取り出し、横軸を時間、縦軸を度数とすれば、単位時間Tm(Δt×n)における放射線源Bの時間的推移を解析する。
ここで、j回目と(j+1)回目の測定で生ずるデッドタイムについて説明する。ピーク検出部20、ヒストグラム解析部21は、ページp(j)、p(j+1)の切り替えに関わらず測定を行なっているので、デッドタイムは、メモリコントローラ25でのページp(j)、p(j+1)切替で生ずるのみである。通常、メモリコントローラ25をハードウェアで構成すれば、数十[ns]での切替を実現できるので、時系列的にデータ欠損がないとみなせ、ヒストグラムの作成が行なわれる。
このように、メモリコントローラ25が、トリガ信号出力部28からのトリガ信号によってメモリ26にアクセスするページp(1)〜p(n)を切り替えて、ヒストグラム解析部21が計数した計数結果を書き込むので、図5に示す装置のように、所定の単位時間Δtが経過するごとに測定を中断する必要が無い。これにより、j回目の測定と(j+1)回目の測定間に生じるデッドタイムを抑えることができる。従って、放射線源の時間的推移の解析を精度よく行なうことができる。
また、メモリ26に既に時系列のヒストグラムのデータが格納されるので、後段の計算機で統計的なデータ処理を行なう際に、データ処理時間を大幅に短縮することができる。
[第2の実施例]
図3は、本発明の第2の実施例を示した構成図である。ここで、図1と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。図3において、トリガ信号出力部27の代わりに、トリガ信号出力部28が設けられ、メモリコントローラ25と相互に接続される。トリガ信号出力部28は、メモリコントローラ25が読み書きしているメモリ26のカウント値を監視し、ヒストグラムの一部が所定のカウント値を超えるとメモリコントローラ25にトリガ信号を出力する。また、トリガ信号を出力した時刻を、メモリ26に記憶させる。
このような装置の動作を説明する。図1に示す装置とほぼ同じだが、異なる動作を主に説明する。
トリガ信号出力部28が、メモリコントローラ25が、書き込むカウント値または読み出したカウント値を監視し、所定のカウント値を超えるとトリガ信号をメモリコントローラ25に出力する。このトリガ信号によって、メモリコントローラ25が、カウント値を読み書きするページp(1)〜p(n)を切り替える。その他の動作は、図1に示す装置と同様なので説明を省略する。
このように、トリガ信号出力部28が、メモリ26に格納されるカウント値を監視するので、長時間の測定でカウント値が大きくなりすぎてヒストグラムの一部がオーバーフローを起こすことがない。これにより、データが無駄になることがなく、放射線源のスペクトラム解析、さらには、時間的推移の解析を精度よく行なうことができる。
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、以下に示すようなものでもよい。
図1、図3に示す装置において、各ページの領域は、チャネル数CNと同じ数のアドレスとする構成を示したが、割り振るアドレスの個数は、チャネル数CNより多くしてもよい。
図1、図3に示す装置において、表示部を設け、ヒストグラムメモリ26のヒストグラムをメモリコントローラ25を介して読み出して、表示部にヒストグラムを表示してもよい。
図1に示す装置において、トリガ信号出力部27がタイマの時刻によって所定の単位時間Δtが経過するとトリガ信号を出力する構成を示したが、以下のように構成してもよい。トリガ信号出力部27を通信部24と接続し、通信部24が、MCAとは別に設けられる外部機器からの所定の外部信号を受信したら、受信したことをトリガ信号出力部27に出力する。そしてトリガ信号出力部27が、通信部24からの出力に基づいてトリガ信号をメモリコントローラ25に出力する構成としてもよい。
図3に示す装置において、トリガ信号出力部27に、図1に示す装置と同様にタイマを設け、タイマの時刻を監視して所定の単位時間Δtが経過した場合、カウント値が所定の値を超えた場合の両方で、トリガ信号を出力してもよい。なお、カウント値がオーバーフローしたのか、単位時間Δtが経過したかを判断するため、トリガ信号を出力したときのタイマの時刻もメモリ26に格納するとよい。
本発明の第1の実施例を示した構成図である。 図1に示す装置のメモリ26に格納されるヒストグラムのデータを示した図である。 本発明の第2の実施例を示した構成図である。 従来の放射線測定装置の構成を示した図である。 従来のMCAの構成を示した図である。 図5に示す装置の動作を説明した図である。 特定の放射線源から放射線が出力された度数の時間的推移を示した図である。
符号の説明
20 ピーク検出部
21 ヒストグラム解析部
25 メモリコントローラ
26 ヒストグラムメモリ(記憶部)
27、28 トリガ信号出力部

Claims (4)

  1. 放射線のエネルギーに対応したピーク値をもつパルス信号が入力され、このパルス信号のピーク値をピーク検出部によって検出し、前記放射線の解析を行なうマルチチャネルアナライザにおいて、
    前記ピーク検出部のピーク値に対応するチャネルの計数を行なうヒストグラム解析部と、
    前記ヒストグラム解析部によるチャネルごとの計数結果を記憶する領域を、複数個有する記憶部と、
    トリガ信号を出力するトリガ信号出力部と、
    前記記憶部の各領域に前記ヒストグラム解析部の計数結果を書き込め、前記トリガ信号出力部からのトリガ信号によって、書き込む領域を切り替えるメモリコントローラと
    を設けたことを特徴とするマルチチャネルアナライザ。
  2. トリガ信号出力部は、タイマを有し、所定の時間が経過するとトリガ信号を前記メモリコントローラに出力することを特徴とする請求項1記載のマルチチャネルアナライザ。
  3. トリガ信号出力部は、前記メモリコントローラが書き込みしている前記記憶部の計数結果が所定の値を超えるとトリガ信号を前記メモリコントローラに出力することを特徴とする請求項1記載のマルチチャネルアナライザ。
  4. トリガ信号出力部は、本装置の外部から外部信号が入力されるとトリガ信号を前記メモリコントローラに出力することを特徴とする請求項1記載のマルチチャネルアナライザ。
JP2005325516A 2005-11-10 2005-11-10 マルチチャネルアナライザ Expired - Fee Related JP4784271B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005325516A JP4784271B2 (ja) 2005-11-10 2005-11-10 マルチチャネルアナライザ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005325516A JP4784271B2 (ja) 2005-11-10 2005-11-10 マルチチャネルアナライザ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007132764A true JP2007132764A (ja) 2007-05-31
JP4784271B2 JP4784271B2 (ja) 2011-10-05

Family

ID=38154555

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005325516A Expired - Fee Related JP4784271B2 (ja) 2005-11-10 2005-11-10 マルチチャネルアナライザ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4784271B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010203863A (ja) * 2009-03-02 2010-09-16 Toshiba Corp 放射性廃棄物検査方法及び放射性廃棄物検査装置
CN104224209A (zh) * 2013-06-14 2014-12-24 株式会社东芝 电磁波信号处理器和电磁波检测器
CN106597520A (zh) * 2016-12-13 2017-04-26 中国科学院电工研究所 一种纳秒脉冲放电下三通道逃逸电子能谱测量装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57101768A (en) * 1980-12-16 1982-06-24 Toshiba Corp Data processor
JPS6457189A (en) * 1987-08-28 1989-03-03 Sumitomo Heavy Industries Method for counting discrete pulse
JPH0194285A (ja) * 1987-10-07 1989-04-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 携帯用マルチチャンネルアナライザ
JPH06180369A (ja) * 1992-10-14 1994-06-28 Fuji Electric Co Ltd 多重波高分析装置および放射線監視装置
JPH0720247A (ja) * 1993-06-30 1995-01-24 Toshiba Corp 連続核種モニタ用放射線測定方法およびその装置
JPH076784U (ja) * 1993-07-03 1995-01-31 株式会社堀場製作所 放射線測定器

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57101768A (en) * 1980-12-16 1982-06-24 Toshiba Corp Data processor
JPS6457189A (en) * 1987-08-28 1989-03-03 Sumitomo Heavy Industries Method for counting discrete pulse
JPH0194285A (ja) * 1987-10-07 1989-04-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 携帯用マルチチャンネルアナライザ
JPH06180369A (ja) * 1992-10-14 1994-06-28 Fuji Electric Co Ltd 多重波高分析装置および放射線監視装置
JPH0720247A (ja) * 1993-06-30 1995-01-24 Toshiba Corp 連続核種モニタ用放射線測定方法およびその装置
JPH076784U (ja) * 1993-07-03 1995-01-31 株式会社堀場製作所 放射線測定器

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010203863A (ja) * 2009-03-02 2010-09-16 Toshiba Corp 放射性廃棄物検査方法及び放射性廃棄物検査装置
CN104224209A (zh) * 2013-06-14 2014-12-24 株式会社东芝 电磁波信号处理器和电磁波检测器
EP2814241A3 (en) * 2013-06-14 2015-09-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Electromagnetic wave signal processor and electromagnetic wave detector
US9257156B2 (en) 2013-06-14 2016-02-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Electromagnetic wave signal processor and electromagnetic wave detector
CN106597520A (zh) * 2016-12-13 2017-04-26 中国科学院电工研究所 一种纳秒脉冲放电下三通道逃逸电子能谱测量装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4784271B2 (ja) 2011-10-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4787989B2 (ja) ピーク検出回路、マルチチャネルアナライザおよび放射線測定システム
JP4784271B2 (ja) マルチチャネルアナライザ
JP2007121189A (ja) ピーク検出回路および放射線測定装置
JP5024598B2 (ja) マルチチャネルアナライザ
CN111413725B (zh) 一种利用虚拟仪器技术实现γ-γ数字符合测量的系统及方法
JP2018054468A (ja) 放射線測定装置及び方法
JP2009175042A (ja) 線量率測定装置
CN110347965A (zh) 核脉冲信号处理方法及装置
JP2006058046A (ja) 超伝導x線分析装置及びx線分析方法
JP7266376B2 (ja) 波形表示装置及び波形表示プログラム
Arneodo et al. Performance evaluation of a hit finding algorithm for the ICARUS detector
JP2007093523A (ja) 波形測定装置
JP2003337142A (ja) 波形解析装置
JP5751646B2 (ja) 放射能測定装置
JP4627650B2 (ja) 放射線測定器
JP2014219280A (ja) 放射能測定装置
CN113406396B (zh) 电容检测电路及电容检测方法
Barros et al. Application of a computer sound card for measurement of mechanical vibrations
JPH03229179A (ja) 荷電ビーム装置
JP3477499B2 (ja) 装置保守情報の記憶機能を備えたx線分析装置
JP5440044B2 (ja) 波形表示装置
KR100360279B1 (ko) 데이터 측정장치
JP2017116342A (ja) 放射能検出システム、及び放射能検出方法
JPH0720247A (ja) 連続核種モニタ用放射線測定方法およびその装置
KR20210124076A (ko) 입자경 측정 방법, 입자경 측정 장치 및 입자경 측정 프로그램

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080526

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100830

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110105

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110304

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110614

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110627

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140722

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees