JP2007121189A - ピーク検出回路および放射線測定装置 - Google Patents
ピーク検出回路および放射線測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007121189A JP2007121189A JP2005316182A JP2005316182A JP2007121189A JP 2007121189 A JP2007121189 A JP 2007121189A JP 2005316182 A JP2005316182 A JP 2005316182A JP 2005316182 A JP2005316182 A JP 2005316182A JP 2007121189 A JP2007121189 A JP 2007121189A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- signal
- peak
- detecting
- digital data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
【解決手段】被測定信号のピーク値を検出するピーク検出回路に改良を加えたものである。本回路は、被測定信号の振幅がしきい値を超えたことを検出するしきい値検出回路と、被測定信号をサンプリングしてデジタルデータを出力するAD変換器と、しきい値検出回路がしきい値を超えたことを検出してから所定の時間の間にAD変換器によってサンプリングされたデジタルデータのなかから最大値を検出する最大値検出回路とを設けたことを特徴とするものである。
【選択図】図1
Description
ここで、図5は、入力信号Viとピークホールド信号Voの関係を図示した図であり、横軸は時間であり、縦軸は振幅である。パルス信号が2個入力される例で説明する。図5(a)は、パルス信号の間隔が十分に離れている場合であり、(b)は、パルス信号の間隔が狭い場合であり、(c)は、パルス信号が(b)よりもさらに近接している場合である。
被測定信号のピーク値を検出するピーク検出回路において、
前記被測定信号の振幅がしきい値を超えたことを検出するしきい値検出回路と、
前記被測定信号をサンプリングしてデジタルデータを出力するAD変換器と、
前記しきい値検出回路がしきい値を超えたことを検出してから所定の時間の間に前記AD変換器によってサンプリングされたデジタルデータのなかから最大値を検出する最大値検出回路と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、
最大値検出回路は、
前記AD変換器からのデジタルデータと他方のデジタルデータとを比較するデジタル比較回路と、
前記AD変換器からデジタルデータが入力され、出力データを前記他方のデジタルデータとして前記デジタル比較回路に出力するデータ保持回路と、
このデータ保持回路の出力データを、前記デジタル比較回路の比較結果に基づいて、前記AD変換器からのデジタルデータに更新させる制御信号出力回路と
を有することを特徴とするものである。
請求項3記載の発明は、
試料から出力される放射線の測定を行なう放射線測定装置において、
試料からの放射線を検出する検出器と、
この検出器からの信号を、検出された物理量の大きさに対応するピーク値を持つパルス形状の被測定信号に変換する信号変換手段と、
この信号変換手段からの被測定信号のピーク値を検出する請求項1または2記載のピーク検出回路と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項1、2によれば、しきい値検出回路が、被測定信号の振幅がしきい値を超えたことを検出し、最大値検出回路が、しきい値検出回路が検出してから所定の時間内にAD変換器によってサンプリングされたデジタルデータのなかから最大値を検出するので、ピーク間隔が狭くとも、効率よく被測定信号のピーク値を検出し、測定することができる。
請求項3によれば、放射線測定装置に請求項1または2に示すピーク検出回路を用いるので、試料から出力される放射線の信号頻度が高く、事象の間隔が狭くとも、出力される放射線のほぼ全てを測定することができる。これにより、効率よく測定を行なうことができる。
[第1の実施例]
図1は、本発明の第1の実施例を示した構成図である。ここで、図3と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。図1において、ピークホールド回路22、AD変換器23の代わりに、バッファ30、しきい値検出回路31、AD変換器32、デジタル比較回路33、ラッチ回路34、35、制御信号出力回路36、クロック部37が設けられる。なお、メモリ24の図示は省略する。
パルス信号が入力端子21に入力される前に、制御信号出力回路36が、ラッチ回路34、35をリセットし、出力データの値を”0”にする。また、制御信号出力回路36が、ラッチ回路34、35のクロック入力端子にロウレベルの信号を出力する。
図1に示すピーク検出回路を、図3に示すMCAのデータ入力部に用いて、試料10から放射される放射線の測定を行なう放射線測定装置に適用してもよい。つまり、検出器11が、試料10からの放射線を検出し、信号変換手段(前置増幅器12、波形整形増幅器13)が、検出器11からの信号を、検出された電荷量の大きさに対応するピーク値を持つガウシアン型のパルス形状の被測定信号に変換し、ピーク検出回路が、信号変換手段からの被測定信号のピーク値を検出する。なお、信号変化手段から、パルス信号の信号幅(FWHM)が、あらかじめピーク検出回路に入力される。
32 AD変換器
33 デジタル比較回路
34、35 ラッチ回路
36 制御信号出力回路
Claims (3)
- 被測定信号のピーク値を検出するピーク検出回路において、
前記被測定信号の振幅がしきい値を超えたことを検出するしきい値検出回路と、
前記被測定信号をサンプリングしてデジタルデータを出力するAD変換器と、
前記しきい値検出回路がしきい値を超えたことを検出してから所定の時間の間に前記AD変換器によってサンプリングされたデジタルデータのなかから最大値を検出する最大値検出回路と
を設けたことを特徴とするピーク検出回路。 - 最大値検出回路は、
前記AD変換器からのデジタルデータと他方のデジタルデータとを比較するデジタル比較回路と、
前記AD変換器からデジタルデータが入力され、出力データを前記他方のデジタルデータとして前記デジタル比較回路に出力するデータ保持回路と、
このデータ保持回路の出力データを、前記デジタル比較回路の比較結果に基づいて、前記AD変換器からのデジタルデータに更新させる制御信号出力回路と
を有することを特徴とする請求項1記載のピーク検出回路。 - 試料から出力される放射線の測定を行なう放射線測定装置において、
試料からの放射線を検出する検出器と、
この検出器からの信号を、検出された物理量の大きさに対応するピーク値を持つパルス形状の被測定信号に変換する信号変換手段と、
この信号変換手段からの被測定信号のピーク値を検出する請求項1または2記載のピーク検出回路と
を設けたことを特徴とする放射線測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005316182A JP4895161B2 (ja) | 2005-10-31 | 2005-10-31 | ピーク検出回路および放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005316182A JP4895161B2 (ja) | 2005-10-31 | 2005-10-31 | ピーク検出回路および放射線測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007121189A true JP2007121189A (ja) | 2007-05-17 |
JP4895161B2 JP4895161B2 (ja) | 2012-03-14 |
Family
ID=38145184
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005316182A Expired - Fee Related JP4895161B2 (ja) | 2005-10-31 | 2005-10-31 | ピーク検出回路および放射線測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4895161B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013073071A1 (ja) * | 2011-11-15 | 2013-05-23 | 富士電機株式会社 | パルス処理装置および放射線分析装置 |
EP2799377A1 (en) | 2013-05-02 | 2014-11-05 | Pfu Limited | Paper conveying apparatus |
JP2017049190A (ja) * | 2015-09-03 | 2017-03-09 | 東亜ディーケーケー株式会社 | 紫外線光源を用いる測定装置 |
KR101733092B1 (ko) * | 2015-01-07 | 2017-05-08 | 한국해양과학기술원 | 휴대용 방사능 검출기의 시간 영역에서의 최고값 검출 장치 및 그 방법 |
JP2017083249A (ja) * | 2015-10-27 | 2017-05-18 | セイコー・イージーアンドジー株式会社 | パルス波高分析装置 |
JP2019521335A (ja) * | 2016-06-16 | 2019-07-25 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | スペクトル放射線ディテクターにおける改善された光子カウント |
JP2021518624A (ja) * | 2018-03-20 | 2021-08-02 | ウィスカー ラブズ インコーポレイテッドWhisker Labs,Inc. | 電気配線における火災に先行する放電の検出 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03185384A (ja) * | 1989-12-14 | 1991-08-13 | Seiko Instr Inc | 放射線計測用ad変換器 |
JPH03269371A (ja) * | 1990-03-20 | 1991-11-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 波形記憶装置 |
JPH06214039A (ja) * | 1993-01-18 | 1994-08-05 | Toshiba Corp | 放射線測定装置 |
JPH10213609A (ja) * | 1997-01-28 | 1998-08-11 | Toshiba Microelectron Corp | ピーク検出回路及び電気特性測定装置 |
JP2002055171A (ja) * | 2000-08-11 | 2002-02-20 | Shimadzu Corp | 放射線計測装置 |
JP2003511949A (ja) * | 1999-10-08 | 2003-03-25 | キャンベラ インダストリーズ インコーポレイテッド | ノイズ閾値を有するデジタルピーク検出装置及びそれを用いる方法 |
JP2005049144A (ja) * | 2003-07-30 | 2005-02-24 | Toshiba Corp | 放射線計測方法 |
JP2005121392A (ja) * | 2003-10-14 | 2005-05-12 | Seiko Eg & G Co Ltd | 信号処理装置およびその調整方法 |
-
2005
- 2005-10-31 JP JP2005316182A patent/JP4895161B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03185384A (ja) * | 1989-12-14 | 1991-08-13 | Seiko Instr Inc | 放射線計測用ad変換器 |
JPH03269371A (ja) * | 1990-03-20 | 1991-11-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 波形記憶装置 |
JPH06214039A (ja) * | 1993-01-18 | 1994-08-05 | Toshiba Corp | 放射線測定装置 |
JPH10213609A (ja) * | 1997-01-28 | 1998-08-11 | Toshiba Microelectron Corp | ピーク検出回路及び電気特性測定装置 |
JP2003511949A (ja) * | 1999-10-08 | 2003-03-25 | キャンベラ インダストリーズ インコーポレイテッド | ノイズ閾値を有するデジタルピーク検出装置及びそれを用いる方法 |
JP2002055171A (ja) * | 2000-08-11 | 2002-02-20 | Shimadzu Corp | 放射線計測装置 |
JP2005049144A (ja) * | 2003-07-30 | 2005-02-24 | Toshiba Corp | 放射線計測方法 |
JP2005121392A (ja) * | 2003-10-14 | 2005-05-12 | Seiko Eg & G Co Ltd | 信号処理装置およびその調整方法 |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103748481A (zh) * | 2011-11-15 | 2014-04-23 | 富士电机株式会社 | 脉冲处理装置和放射线分析装置 |
US8930155B2 (en) | 2011-11-15 | 2015-01-06 | Fuji Electrict Co., Ltd. | Pulse processing device and radiation measuring device |
EP2728379A4 (en) * | 2011-11-15 | 2015-03-04 | Fuji Electric Co Ltd | PULSE PROCESSING DEVICE AND RADIATION ANALYSIS DEVICE |
WO2013073071A1 (ja) * | 2011-11-15 | 2013-05-23 | 富士電機株式会社 | パルス処理装置および放射線分析装置 |
EP2799377A1 (en) | 2013-05-02 | 2014-11-05 | Pfu Limited | Paper conveying apparatus |
US8934115B2 (en) | 2013-05-02 | 2015-01-13 | Pfu Limited | Paper conveying apparatus |
KR101733092B1 (ko) * | 2015-01-07 | 2017-05-08 | 한국해양과학기술원 | 휴대용 방사능 검출기의 시간 영역에서의 최고값 검출 장치 및 그 방법 |
JP2017049190A (ja) * | 2015-09-03 | 2017-03-09 | 東亜ディーケーケー株式会社 | 紫外線光源を用いる測定装置 |
JP2017083249A (ja) * | 2015-10-27 | 2017-05-18 | セイコー・イージーアンドジー株式会社 | パルス波高分析装置 |
JP2019521335A (ja) * | 2016-06-16 | 2019-07-25 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | スペクトル放射線ディテクターにおける改善された光子カウント |
JP7041079B2 (ja) | 2016-06-16 | 2022-03-23 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | スペクトル放射線ディテクターにおける改善された光子カウント |
JP7041079B6 (ja) | 2016-06-16 | 2022-05-30 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | スペクトル放射線ディテクターにおける改善された光子カウント |
JP2021518624A (ja) * | 2018-03-20 | 2021-08-02 | ウィスカー ラブズ インコーポレイテッドWhisker Labs,Inc. | 電気配線における火災に先行する放電の検出 |
US11754607B2 (en) | 2018-03-20 | 2023-09-12 | Whisker Labs, Inc. | Detection of electric discharges that precede fires in electrical wiring |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4895161B2 (ja) | 2012-03-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4787989B2 (ja) | ピーク検出回路、マルチチャネルアナライザおよび放射線測定システム | |
JP4895161B2 (ja) | ピーク検出回路および放射線測定装置 | |
US9182500B2 (en) | Method and system for amplitude digitization of nuclear radiation pulses | |
Stricker-Shaver et al. | Novel calibration method for switched capacitor arrays enables time measurements with sub-picosecond resolution | |
US7079060B2 (en) | Test circuit for evaluating characteristic of analog signal of device | |
KR20140106586A (ko) | 정전용량 센서 인터페이스 및 방법 | |
CN106802372B (zh) | 一种检测电容容值变化的方法 | |
CN110708047B (zh) | 一种基于tdc芯片测量高速比较器精度的结构及方法 | |
US7184908B2 (en) | Calibration method of time measurement apparatus | |
US20080048641A1 (en) | Peak voltage detector circuit and binarizing circuit including the same circuit | |
CN111413725B (zh) | 一种利用虚拟仪器技术实现γ-γ数字符合测量的系统及方法 | |
US20080103727A1 (en) | Multichannel analyzer | |
JP2008145201A (ja) | 距離計測装置 | |
JP5174433B2 (ja) | Ad変換器及び秤 | |
JPH05180944A (ja) | 放射線測定装置 | |
JPH10221455A (ja) | X線発生検出装置 | |
US9684022B2 (en) | Sensor device and sensing method using the same | |
PL1769289T3 (pl) | Sposób i urządzenie do bardzo precyzyjnego cyfrowego pomiaru sygnału analogowego | |
JP7040156B2 (ja) | 放射線測定装置 | |
EP4270035A1 (en) | Magnetic sensor and biomagnetic measurement device | |
JP3830366B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置用データ収集方法および装置 | |
RU2241236C1 (ru) | Преобразователь параметров электромагнитных датчиков | |
Markovic et al. | 15bit Time-to-Digital Converters with 0.9% DNL rms and 160ns FSR for single-photon imagers | |
JP2006098308A (ja) | 磁気測定装置 | |
JPS5814062A (ja) | 波高分析装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080812 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101125 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110201 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110404 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111202 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111215 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150106 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |