JP7040156B2 - 放射線測定装置 - Google Patents
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Description
図1は、放射線測定装置100を示す図である。放射線測定装置100は、高速波高弁別器(MCA: Multi Chanel Analyzer)である。
110 積分回路
115A ピークホールド回路
115B 加算器
115C DAC
115D ピーク検出回路
120 コンパレータ
130 放電回路
140 サンプル&ホールド回路
150 A/Dコンバータ
160 MCU
161 主制御部
162 測定処理部
163 メモリ
171A パルス発生器
171B DAC
172A パルス発生器
172B DAC
173A パルス発生器
173B DAC
174 DAC
180 OR回路
Claims (6)
- 光電子増倍管の出力信号を積分する積分回路と、
前記積分回路の積分出力のピーク値を保持するピーク値保持部と、
前記積分回路の積分出力のピークを検出するピーク検出部と、
前記ピーク値保持部によって保持されるピーク値と、前記積分出力と所定値との和とを比較し、前記和が前記ピーク値以下になると、出力が第1レベルになるコンパレータと、
前記積分回路の出力側に接続され、前記積分出力をサンプル及びホールドするサンプルアンドホールド部であって、前記ピーク検出部によって前記積分出力のピークが検出されると前記積分出力をサンプリングするサンプルアンドホールド部と、
前記積分出力のピークが検出されてから第1時間の経過時に前記サンプルアンドホールド部にサンプリング値をホールドさせる第1制御部と、
前記サンプルアンドホールド部の出力側に接続されるアナログデジタル変換部と、
前記積分出力のピークが検出されてから前記第1時間よりも長い第2時間の経過時に前記アナログデジタル変換部に前記サンプルアンドホールド部のホールド値をアナログ-デジタル変換させる第2制御部と、
前記積分回路と前記サンプルアンドホールド部とを接続する接続線路に接続され、前記積分出力のピークが検出されてから前記第2時間よりも長い第3時間の経過時以降に、前記コンパレータの出力の第1レベルに応じて前記接続線路を短絡するスイッチと
を含む、放射線測定装置。 - 前記積分出力のピークが検出されてから前記第3時間の経過時に前記コンパレータに前記第1レベルの出力を許可するイネーブル信号を出力するイネーブル信号出力部をさらに含み、
前記スイッチは、前記コンパレータの出力が前記第1レベルになった状態で、前記イネーブル信号出力部から前記イネーブル信号が前記コンパレータに入力されると、前記接続線路を短絡する、請求項1記載の放射線測定装置。 - 前記積分出力のピークが検出されてから前記第3時間の経過時に前記コンパレータに前記第1レベルの出力を許可するイネーブル信号を出力するイネーブル信号出力部をさらに含み、
前記スイッチは、前記イネーブル信号出力部から前記イネーブル信号が前記コンパレータに入力された状態で、前記コンパレータの出力が前記第1レベルになると、前記接続線路を短絡する、請求項1記載の放射線測定装置。 - 前記積分回路の時定数を設定する時定数設定部であって、前記アナログデジタル変換部がアナログ-デジタル変換を行う第1時間間隔を所定の第2時間間隔と比較し、前記第1時間間隔が前記第2時間間隔以上の場合には、前記時定数を大きく設定し、前記第1時間間隔が前記第2時間間隔未満の場合には、前記時定数を小さく設定する、時定数設定部をさらに含む、請求項1乃至3のいずれか一項記載の放射線測定装置。
- 前記第1時間を設定する第1時間設定部であって、前記アナログデジタル変換部がアナログ-デジタル変換を行う第1時間間隔を所定の第2時間間隔と比較し、前記第1時間間隔が前記第2時間間隔以上の場合には、前記第1時間を長くし、前記第1時間間隔が前記第2時間間隔未満の場合には、前記第1時間を短く設定する、第1時間設定部をさらに含む、請求項1乃至4のいずれか一項記載の放射線測定装置。
- 前記第2時間を設定する第2時間設定部であって、前記アナログデジタル変換部がアナログ-デジタル変換を行う第1時間間隔を所定の第2時間間隔と比較し、前記第1時間間隔が前記第2時間間隔以上の場合には、前記第2時間を長くし、前記第1時間間隔が前記第2時間間隔未満の場合には、前記第2時間を短く設定する、第2時間設定部をさらに含む、請求項1乃至5のいずれか一項記載の放射線測定装置。
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