JP2007129245A - 高速コネクタ - Google Patents

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Abstract

【課題】第1の複数の信号線を第2の複数の信号線に接続するシステムを提供する。
【解決手段】試験中のデバイスアセンブリは、DUTボードの平面から出てその上に配置された複数の尾根部アセンブリを有するDUTボードを含む。各尾根部アセンブリは第1外側面等の少なくとも1つの上の第1信号線のサブセットと電気的に接触する。コネクタアセンブリは、複数の尾根部アセンブリを受け取るよう配置された複数のクランプアセンブリを含む。各クランプアセンブリは、第1内側面等の少なくとも1つの上の第2信号線のサブセットと電気的に接触する。これらの電気的接続は、各クランプアセンブリの第1第2内側面が、対応する尾根部アセンブリの第1第2外側面にクランプされるときに形成される。
【選択図】図3

Description

本発明は、2つの回路間に多数の高速な電気的接続を信頼性高く作る技術に関する。より具体的には本発明は、高いサイクル寿命を持つそのような接続を確立しつつ、接続−切断サイクルを促進するために非常に低い外部で発生された力しか必要としないさまざまな技術を提供する。
高速電気システム(例えば半導体試験システム)においてますます高い平行性が必要とされるに従って、回路間の接続を確立するのに必要な力の総和は機械的な手段によっては克服するのが困難になりつつある。加えて、高接触力および金属対金属の摩耗によって特徴付けられる従来の相互接続スキームのまさにその性質のために、電気的に接点上の貴金属メッキへの結果として生じるダメージのために比較的短いサイクル寿命になってしまう。
したがって上述の欠点の影響を受けない高速接続を確立する技術を提供することが望まれる。
本発明のさまざまな実施形態によれば、第1の複数の信号線を第2の複数の信号線に接続する方法および装置が提供される。試験中のデバイス(DUT)アセンブリは、DUTボードの平面から出てその上に配置された複数の尾根部アセンブリを有するDUTボードを含む。それぞれの尾根部アセンブリは第1外側面、第2外側面、および前記第1および第2外側面の少なくとも1つの上の前記第1信号線のサブセットと電気的に接触する第1の複数の接点を有する。DUTアセンブリはまた第1機械的アライメントフィーチャを含む。コネクタアセンブリは、前記複数の尾根部アセンブリに対応し、それらを受け取るよう配置された複数のクランプアセンブリを含む。それぞれのクランプアセンブリは、第1内側面、前記第1内側面と実質的に平行な第2内側面、および前記第1および第2内側面の少なくとも1つの上の前記第2信号線のサブセットと電気的に接触する第2の複数の接点を有する。それぞれのクランプアセンブリはコネクタアセンブリ内で独立して懸架され、第2機械的アライメントフィーチャを含む。それぞれのクランプアセンブリの前記第2接点は、前記第1および第2機械的アライメントフィーチャの相互作用を通して前記対応する尾根部アセンブリの前記第1接点とアラインする。前記第1および第2接点間の電気的接続は、それぞれのクランプアセンブリの前記第1および第2内側面が、前記対応する尾根部アセンブリの前記第1および第2外側面にクランプされるときに形成され、それにより前記第1および第2信号線を電気的に接続する。
他の実施形態によれば、第1の複数の信号線を第2の複数の信号線に接続する方法および装置が提供される。デバイス(DUT)アセンブリは、複数のDUTボードを含む。それぞれのDUTボードは、前記DUTボードの端部におけるその一方の側の上の第1外側面、前記DUTボードの前記端部におけるその他方の側の上の第2外側面、および前記第1および第2外側面の少なくとも1つの上の前記第1信号線のサブセットと電気的に接触する第1の複数の接点を有する。DUTアセンブリはまた第1機械的アライメントフィーチャを含む。コネクタアセンブリは、前記複数のDUTボードに対応し、それらを受け取るよう配置された複数のクランプアセンブリを含む。それぞれのクランプアセンブリは、第1内側面、前記第1内側面と実質的に平行な第2内側面、および前記第1および第2内側面の少なくとも1つの上の前記第2信号線のサブセットと電気的に接触する第2の複数の接点を有する。それぞれのクランプアセンブリはコネクタアセンブリ内で独立して懸架され、第2機械的アライメントフィーチャを含む。それぞれのクランプアセンブリの前記第2接点は、前記第1および第2機械的アライメントフィーチャの相互作用を通して前記対応するDUTボードの前記第1接点とアラインする。前記第1および第2接点間の電気的接続は、それぞれのクランプアセンブリの前記第1および第2内側面が、前記対応するDUTボードの前記第1および第2外側面にクランプされるときに形成され、それにより前記第1および第2信号線を電気的に接続する。
本発明の性質および優位性のさらなる理解は、明細書の残りの部分および図面を参照して実現されよう。
発明を実施するために発明者によって考えられるベストモードを含む本発明の具体的な実施形態がこれから詳細に参照される。これら具体的な実施形態の例は添付の図面に示される。本発明は、これら具体的な実施形態について記載されるが、これは本発明を記載された実施形態に限定するよう意図されないことが理解されよう。むしろ、添付の特許請求の範囲によって定義される本発明の精神および範囲に含まれえるように、代替物、改変物、および等価物を包含するように意図される。以下の説明において、多くの具体的な詳細が述べられるが、これは本発明の完全な理解を促すためである。本発明はこれらの具体的な詳細の一部または全てなしでも実施されえる。加えて、よく知られた特徴は、本発明を不必要にぼかさないために詳細には説明されていない。
図1に示される本発明の具体的な実施形態によれば、自動化試験装置(不図示)および少なくとも1つの試験中のデバイス(DUT)(不図示)の間の多数高速接続を確立するシステム100が提供される。DUTアセンブリ102は、その下側が1つ以上のDUTへの多数電気接点(不図示)であるものの上に提供される。そのような電気接点は例えば、もしDUTアセンブリ102がウェーハソート内で用いられるプローブカードならプローブニードルでありえ、もしDUTボード102がパッケージ試験で用いられる接触器ボードであるならソケットでありえる。DUTアセンブリ102の主要な機能は、ボード104の平面から電気的な信号を取り出し、それらが接続メカニズム、すなわちインタフェースタワーアセンブリ106にアクセス可能なようにすることである。
今度は図2を参照して、DUTアセンブリ102は、ボード104上で半径方向に配置された複数の「尾根状(spine)」構造202を有し、これらが信号伝達を担う。尾根202の具体的な実現例は図3に示される。それぞれの尾根部202は、細かいアライメントスロット304および305を含む剛性のある支持アセンブリ302を備える。アセンブリ302に締め付けられ、支持される可撓性回路306は、信号線(不図示)を含み、これが信号をアセンブリ302の底部における接点308からアセンブリ302の片側上の接点310間で伝達する。尾根部202が定位置に固定されるとき、接点308は、ボード104の表面上の対応する接点(不図示)と係合する。
具体的な実施形態によれば、支持アセンブリ302は、示されるようにアセンブリ302内に配置された可撓性材料312を含みえ、これが接点308のための接触の支援力(backup)を提供する。ある実施形態によれば、同様の接点支援が接点310のために提供されえる。実施形態は、このような接点支援が、アセンブリ302が構築される剛性のある材料によって提供されるよう想定されているが、材料312の可撓性の特性は、接点の高さにおける起こりえる軽微なバラツキにもかかわらず、接点308となされる電気的接続が充分な完全性を有することを確実にする。すなわち、接続アレイの全体にわたって接続を信頼性あるものにするために、システム中に圧縮性部材が存在してもよく、または要素の平坦性の交差が非常に厳しい交差に制御されてもよい。
図3の実施形態において、圧縮性部材は、接点の後ろの尾根部に挿入されたシリコーンラバーの部品である。他の実施形態において(図19A〜19Cを参照)、圧縮性部材はそれぞれの可撓性回路を支持し、尾根部上の接点に押し付けるシリコーンラバーの部品である。さらに他の代替の実施形態において、この締め付けメカニズムそのものが、可撓性/圧縮性部材として倍増する。すなわち、シリコーンまたはウレタン(すなわち弾性のある)可撓性空気袋(bladders)が可撓性回路の背面で直接に支え、必要とされる圧縮力を作るように膨張する。
再び図2を参照して、DUTアセンブリ102は、アセンブリ102のアセンブリ106への初期アライメントが達成される中央アセンブリ204を含む。すなわちアセンブリ204は、DUTアセンブリ102が上下に移動されえる中央持ち上げ点206を含む。加えて、円筒シャフト208によって定義されるキネマティック結合アライメントチャネルが提供され、これらはタワーアセンブリ106(後述)上のキネマティック構造に対応し、2つのアセンブリが互いに係合されるときに、DUTアセンブリ102およびタワーアセンブリ106の相対的位置の確保を促す。このキネマティック結合の性質については後でさらに記述される。
図1〜3のDUTアセンブリおよび尾根部の具体的な実現例は単に例示的であって、これら基本構造の多くのバリエーションが本発明の範囲内に存在することが理解されよう。例えば、ボード104は、図に示される円形の幾何学形状に限定されない。むしろ特定の応用例に適切な任意の形状、例えば四角形が採用されえる。加えて、尾根部の構成は示されるようなものでなくてもよい。すなわち例えば、図1〜3に図示される半径方向の分布ではなく、尾根部は直線上分布で配分されえる。実際には特定の応用例について、尾根部または等価な構造の任意の分布が適切なものとして採用されえる。
さらに尾根部の構造そのものも本発明の範囲から逸脱することなく大幅に変化しえる。例えば、DUTボードの平面から信号を取り出して引き回すために記載された可撓性回路を採用する代わりに、信号線は、例えばプリント回路基板を備えうる支持構造そのものと一体化されえる。DUTボードの平面から信号を取り出して引き回せる任意の物理的構造が本発明のこの局面のために採用されえる。
今度は図4を参照して、インタフェースタワーアセンブリ106は、タワーアセンブリフレーム404上に半径方向に配置された複数のクランプコネクタアセンブリ402を含む。DUTアセンブリ102を参照して上述のように、示される半径方向のパターンは、単に例示的である。判るように、コネクタアセンブリ402は、尾根部202として多くの異なるやり方で配置されえ、実際、関連するDUTアセンブリ上の尾根部の分布に対応しなければならない。
それぞれのコネクタアセンブリ402は、DUTアセンブリ102上の尾根部202の1つに対応する。タワーアセンブリ106およびDUTアセンブリ102が係合されるとき、尾根部202のそれぞれは、対応するコネクタアセンブリ402に嵌り、その内壁は可撓性回路306上の接点310に対応し、接続する電気的な接触を有する。
具体的な実施形態によれば、DUTアセンブリ102およびタワーアセンブリ106の間の係合および粗いアライメントは、図5により詳しく示される空気圧ラッチメカニズムおよびキネマティックアライメントシステムを用いて促進される。空気圧で動力が与えられるラッチ502は、持ち上げ点206をDUTアセンブリ102上で受け取り、スプリングの入ったキネマティックアライメントボール504をDUTアセンブリ上のキネマティックアライメントシャフト208に接触させる。シャフトの周りでボール504に接続されるスプリング(図10、12、および14を参照)が充分に圧縮されるとき、ボール504は、アセンブリ106上のキネマティックアライメントシャフト508にも接触する。このキネマティック構成は、6つの自由度全てを解消し、それによりDUTアセンブリ102およびタワーアセンブリ106間の相対的動きを抑制する。これら図に示されるこのキネマティックシステムはこの目的のために用いられえる多くのあり得るメカニズムのうちの1つに過ぎない。
図6は、コネクタアセンブリ402の内壁上の接点602が見えるインタフェースタワーアセンブリ106の一部の詳細図を示す。尾根部アセンブリ202上の接点602および対応する接点310間の接続は、空気シリンダ604によって促進され、これはいったん尾根部202がコネクタアセンブリ402に挿入されると、それぞれのアセンブリ402の対向する壁面(すなわち接続ボード606)を対応する尾根部202の対向する側に対して押し付ける。接続ボード606にわたって空気圧シリンダ604によって加えられる力の均一な分布を確かにするために押圧板608が提供される。シリンダ604から付近の板を通って伸び、反対側の板に取り付けられたシャフト612を介して、締め付け力が加えられる。代替として、クランプシリンダ604は、例えば伸長可能なシリンダまたはシリコーンまたはウレタンでできた空気袋のような他のメカニズムと置き換えられえる。これらのアプローチは、ホッピングスタック(pogo stack)接触し、カードの平面に法線方向にプローブまたは接触器カード上のパッドに強制的に押し付けられる従来のアプローチと対比されるべきである。
さまざまな実施形態によれば、接点308、310、および602は、さまざまなやり方で実現されえる。すなわち、「接点」という語は、他の導体終端、例えばパッドおよびバンプと電気的接続を形成しえる導体の終端を一般に指すために前の記載において用いられている。採用される接点の特定のタイプは、特定の応用例について充分な接続の完全性が維持される限り、重要ではないことが理解されよう。
また図6は、接続ボード606をクランプシリンダ604の動作から離して維持するよう働くスプリング610を示す。よって空気圧がなくなった場合には、クランプコネクタアセンブリ402は、自動的に開く。代替の実施形態によれば、この機能を実行するために弾性スペーサが用いられえる。
図7は、先の視点の反対側からのタワーアセンブリ106を示す。空気シリンダ702はラッチ502に動力を与える。空気圧が放出されることを必要とする非常ブレーキ704は、いったんアセンブリ102および106が互いに固定されると、仮に電力および/または空気圧がなくなっても、それらが一緒のままであることを確かにする。実際、具体的な実施形態によれば、アセンブリがドッキングされているとき、空気シリンダ702から電力は除かれ、ブレーキ704は係合され、したがってアセンブリ群を外すことは電力を再印加しない限り事実上不可能になる。
タワーアセンブリ106のこの側の部分の詳細な図が図8に示される。この図において、接続ボード606の上部が見られ、そこには自動化された試験装置(不図示)に関連する試験ボードから、かつそれからさまざまな高速信号をルーティングする複数の遮蔽された伝送線路802が取り付けられている。遮蔽されない導体804も示され、これは接続およびユーティリティ信号を接続ボード606へ、かつそれから与える。エアホース806はクランプシリンダ604に空気圧を与える。
接続ボード606および伝送線路802によって供される機能は、本発明の範囲から逸脱することなくさまざまなやり方で提供されえる。具体的な実施形態によれば、接続ボード606は可撓性回路を用いて実現されえる。さらにより具体的な実施形態によれば、接続ボード606および伝送線路802の両方は、2003年2月11日に出願されたLEX-CIRCUIT-BASED HIGH SPEED TRANSMISSION LINEという共通して譲受された同時係属中の米国特許出願第10/365,262号(弁護士整理番号XANDP003)に記載されるように設計される可撓性回路で置き換えられ、この出願はその全体の開示が参照によって援用される。
上述のシステムはさまざまな応用例について反復可能な接続を提供するために用いられえ、そのいくつかは半導体ウェーハまたは電子回路の高速試験に関することにここで注意されたい。上述のシステムによって表される平行性は、本発明を完全に活用するためにさまざまなやり方で利用されえることにも注意されたい。例えば、このようなシステムによって提供される接続性のほとんどまたは全ては、ウェーハ(例えば8インチまたはそれより大きい)全体を同時に試験するために用いられえる。代替として、多数の分離した個別のDUTがDUTアセンブリ上のそれぞれの尾根部に接続され、何百という装置の同時の試験および検証を可能にする。
上述のキネマティック結合は、DUTアセンブリおよびタワーアセンブリ間の精密で反復可能なアライメントを確かにする。本発明のさまざまな実施形態によれば、「独立したサスペンション」の度合いが、その一部を成すタワーアセンブリについてのそれぞれのクランプコネクタアセンブリのために提供される。これは、クランプコネクタアセンブリのある程度のセルフアライメントをDUTアセンブリの尾根部に対して可能にし、後述されるようにこのことは全体の設計を簡略化すると共に、両方のアセンブリ上の接点の信頼性が高く反復可能なアライメントを確実にする。本発明の具体的な実施形態によってこの独立サスペンションが達成されるやり方は図16〜19を参照して下に記載される。
具体的な実施形態によれば、図9〜15を参照して記載されるように、この独立サスペンションは、それぞれのクランプコネクタアセンブリが全ての軸において「浮く」ことを可能にする。図9〜15は、ここで記載された本発明の実施形態のアライメント、ドッキング、およびクランプ機能を示す。
タワーアセンブリおよびDUTアセンブリ間の初期アライメント(図9に示される)は、DUTアセンブリの持ち上げ点206を持ち上げ点受け取り器502に挿入すること、および図10に示されるようにタワーアセンブリ上のキネマティックアライメントボール504をDUTアセンブリ上のキネマティックアライメントチャネルと接触させることによって達成される。図9に示されるように、これは尾根部アセンブリ202をクランプコネクタアセンブリ402と大まかにアライメントさせる。
図11のプリドッキング位置において、尾根部202は、アセンブリ402の対応するコネクタに、より近く接近させられる。図12に示されるように、持ち上げ点206の上部がラッチボール1202の上にあるように、DUTアセンブリが充分に持ち上げられているときにこれは達成される。この時点で、持ち上げ点空気シリンダ702は加圧され、それによりラッチボール1202は内側に動かされ、持ち上げ点206の上部の下に動かされる。それぞれのキネマティックアライメントボール504に関連付けられたシャフト1206の周りのスプリング1205は示されるように圧縮され、シャフト1206の対向する端部を上に押しやる。
上述のように、この実施形態のキネマティックシステムは、2つの主要なアセンブリ間の精密かつ反復可能なアライメントを可能にする。しかし平行性のレベルおよび精密にアライメントされなければならないそれぞれのアセンブリ上のサブアセンブリの個数を考えて、それぞれのクランプコネクタアセンブリをその対応する尾根部アセンブリと独立してアラインさせるアライメントシステムが提供される。すなわち、それぞれのクランプコネクタアセンブリ402は、尾根部202上の対応するアライメントスロット304および305と対になる2つのシャフト(図6のシャフト612)を有することによって、図13のドッキングされた位置を達成する。クランプコネクタアセンブリ402が全ての軸について独立に動くことが可能である事実によって、これらのシャフトのペアが係合されるとき、独立した正確なアライメントがそれぞれの尾根部202上の接点および関連付けられたクランプコネクタアセンブリ402の接続ボードまたは可撓性回路上の対応する接点の間で達成される。
いずれの場合も、それぞれのクランプコネクタ/尾根部ペアについての局所的アライメントメカニズムと併せた動きのこの自由度およびクランプ装置によって提供されるクランプアクションは、x、y、z、ピッチ、ロール、またはヨーの任意のものについての尾根部の向きにおける小さなバラツキを補償し、それにより各尾根部上の接点を、対応する各クランプコネクタ上の接点にアラインさせるためのキネマティックシステムへの依存性を減らす。
図13のドッキングされた位置は、持ち上げ点206上の持ち上げ点空気シリンダ702のアクションおよびキネマティックシステムの結果として生じるアクションによって達成される。図14に示されるように、空気シリンダ702は、それぞれのキネマティックアライメントボール504が底部および上部キネマティックアライメントチャネル(すなわち図2のシャフト208および図5のシャフト508によって定義されるチャネル)に当たって止まることによって、さらに持ち上がるのをやめるまで、DUTアセンブリを持ち上げる。空気シリンダ702は底が付いていないので、持ち上げ点206(よってDUTアセンブリ)は、空気シリンダの持ち上げアクションによってこの時点で所定位置に保持されており、この空気シリンダは、キネマティックアライメントボールをキネマティックアライメント溝内に維持する連続的な圧力のために、DUTアセンブリおよびタワーアセンブリ間のアライメントを維持する。
いったんアセンブリが図13のドッキングされた位置になると、緊急ブレーキ704への空気信号が除去されブレーキが掛かる。よってシステムへの空気圧力が失われたとしてもDUTアセンブリは所定位置に留まったままであり、安全の観点およびコストの観点の両方から望ましい結果が得られる。
いったんDUTアセンブリおよびタワーアセンブリが図13および14のドッキングされた位置になると、クランプシリンダ604への空気信号が有効にされ、これはシャフト612を介して力を与え、それによってそれぞれのクランプコネクタアセンブリが挿入された尾根部アセンブリ上へ締め付けるようにし、尾根部の可撓性回路上の接点(例えばパッドまたはバンプ)および接続ボード上の対応する接点(例えばバンプおよびパッド)間の電気的接続を確立する。このクランプされた位置の状態は図15に示される。
個々のクランプアセンブリの独立サスペンションを達成する具体的なメカニズムのより詳細な記載がこれから図16〜19を参照して提供される。図16A〜16Cは、それぞれ図11、13、および15に対応する相対位置におけるクランプアセンブリ402および尾根部アセンブリ202の分離された図を示す。クランプアセンブリ402のそれぞれの板608は、それを通してシャフト1606が伸びるプラスチックブッシング1604上に中心を定められた可撓性スポークを有する弾性グロメット1602を含む。グロメット1602およびブッシング1604は、シャフト1606に沿って滑ることができ、シャフトはアセンブリ404の外側エッジにおいて対応する溝内で保持される。
アセンブリ402は、ウレタン構造1608を介してアセンブリ404の内側エッジに固定される。グロメット1602および構造1608の可撓性の性質は、独立したサスペンションを提供し、これが上述の局所的機械的アライメントの特徴と併せて、アセンブリ202および402のそれぞれの個別のペアの正確なアライメントを可能にする。
図17A〜17Cおよび図18A〜18Cは、ドッキングのさまざまな段階における同じ孤立したアセンブリのペアの端部から見た図を示す。図17の視点は、その中心に向かって見るアセンブリ404の外側エッジからであり、図18のそれらは中心から外を見たものである。アセンブリ202の局所アライメントフィーチャ304および305は、シリンダ604(図17Aにおいてシャフト1606によって隠されているもの)に結合された下部シャフト612に係合し、それぞれのアセンブリ上での電気的な接続のアライメントを行う。図17Bおよび18Bにおいて見られるように、アセンブリ402の独立したサスペンション(可撓性構造1608の変形によって図17Bにおいて最もはっきりと示される)は、アセンブリが図17Aおよび18Aにおけるその前の位置に対してわずかに持ち上げられることを生じる。図18Cにおいて見られるように、構造1608は、クランプシリンダ604がアセンブリ402をアセンブリ202上で挟むときに、さらに変形される。
図19A〜19Cは、図17A〜17Cの図の断面図を与える。この実施形態において、クランプシリンダ604は、膨張可能な空気袋(bladder)1902を採用し、これは膨張すると、右の板を通して伸び左の板に取り付けられたシャフト612のアクションを介して共に左の板608Aを引き、右の板608Bを押す。これらの図に示されるのは、接続ボード606上の接点のための裏当てを提供するための、接続ボード606の背後の板608における可撓性材料1904の使用である。図3を参照して上述のようにこれは、接点の高さにおけるありえる軽微なバラツキにもかかわらず、アセンブリ202上の接点でなされる電気的接続が充分な完全性を有することを確かにする。
本発明は具体的に示され、その具体的な実施形態を参照して記載されてきたが、当業者には開示された実施形態の形態および詳細の変更が本発明の精神または範囲からの逸脱なしになされえることが理解されよう。例えば、ここでの実施形態の一部の記載は、システムが構築されるさまざまなアセンブリのある方向づけを示唆する。しかし本発明の原理は、さまざまな空間的な方向づけを有するシステムで採用されえ、したがって本発明は示された具体的な方向づけに限定されるべきではないことが理解されよう。
具体的な代替によれば、水平に配置されたボード上の複数の尾根部アセンブリの代わりに、DUTアセンブリは複数の垂直に配置されたDUTボード(例えばプリント回路基板)を備えうる。このアプローチによれば、それぞれのボードの端部は、上述の実施形態において尾根部の1つの位置を占める。タワー内のそれぞれのクランプアセンブリは、垂直ボードの対応する1つの端部においてクランプする。そのような実施形態の例は図20に示される。
加えて本発明のさまざまな効果、局面、および目的がさまざまな実施形態を参照してここで述べられてきたが、本発明の範囲はそのような効果、局面、および目的を参照して限定されるべきではない。むしろ本発明の範囲は添付の特許請求の範囲を参照して決定されるべきである。
本発明の具体的な実施形態によって設計された試験中のデバイス(DUT)プリント回路基板アセンブリおよび対応するタワーアセンブリを示す図である。 図1のDUTアセンブリの詳細な図である。 その上に配置された複数の尾根部アセンブリの詳細な特徴を示す図1のDUTアセンブリのさらなる詳細な図である。 図1のタワーアセンブリの詳細な図である。 タワーアセンブリがDUTアセンブリに固定され、それとアラインされるメカニズムを示す図1のタワーアセンブリのさらなる詳細な図である。 タワーアセンブリが構成される複数のクランプアセンブリの詳細な特徴を示す図1のタワーアセンブリのさらなる詳細な図である。 タワーアセンブリの反対側の図である。 信号線およびクランプアセンブリ間のインタフェースが示される図7のタワーアセンブリの側部の詳細な図である。 クランプアセンブリおよび対応する尾根部アセンブリがアラインされるシステムの図である。 図9の位置に対応する持ち上げおよびアライメントメカニズムの切り欠き図である。 クランプアセンブリおよび対応する尾根部アセンブリが前ドッキング位置にあるシステムの図である。 図11の位置に対応する持ち上げおよびアライメントメカニズムの切り欠き図である。 クランプアセンブリおよび対応する尾根部アセンブリがドッキングされたシステムの図である。 図13の位置に対応する持ち上げおよびアライメントメカニズムの切り欠き図である。 クランプアセンブリが対応する尾根部アセンブリにクランプされているシステムの図である。 ドッキングプロセスのさまざまな段階におけるクランプアセンブリおよび尾根部アセンブリの透視図である。 ドッキングプロセスのさまざまな段階におけるクランプアセンブリおよび尾根部アセンブリの第1端における図である。 ドッキングプロセスのさまざまな段階におけるクランプアセンブリおよび尾根部アセンブリの第2端における図である。 ドッキングプロセスのさまざまな段階におけるクランプアセンブリおよび尾根部アセンブリの断面図である。 本発明の他の具体的な実施形態によって設計された試験中のデバイス(DUT)プリント回路基板アセンブリおよび対応するタワーアセンブリを示す図である。
符号の説明
100…システム
104…ボード
106…インタフェースタワーアセンブリ
202…尾根部アセンブリ
204…中央アセンブリ
208…キネマティックアライメントシャフト
302…支持アセンブリ
304…局所アライメントフィーチャ
312…可撓性材料
402…クランプコネクタアセンブリ
404…タワーアセンブリフレーム
502…ラッチ
504…キネマティックアライメントボール
508…キネマティックアライメントシャフト
604…空気圧シリンダ
606…接続ボード
608…押圧板
610…スプリング
612…下部シャフト
702…空気シリンダ
704…非常ブレーキ
802…伝送線路
804…導体
806…エアホース
1202…ラッチボール
1205…スプリング
1206…シャフト
1602…弾性グロメット
1604…プラスチックブッシング
1608…ウレタン構造

Claims (43)

  1. 第1の複数の信号線を第2の複数の信号線に接続するシステムであって、
    DUTボードの平面から出てその上に配置された複数の尾根部アセンブリを有するDUTボードを備える試験中のデバイス(DUT)アセンブリであって、それぞれの尾根部アセンブリは第1外側面、第2外側面、および前記第1および第2外側面の少なくとも1つの上の前記第1信号線のサブセットと電気的に接触する第1の複数の接点を有し、DUTアセンブリはまた第1機械的アライメントフィーチャを含む、DUTアセンブリ、および
    前記複数の尾根部アセンブリに対応し、それらを受け取るよう配置された複数のクランプアセンブリを備えるコネクタアセンブリであって、それぞれのクランプアセンブリは、第1内側面、前記第1内側面と実質的に平行な第2内側面、および前記第1および第2内側面の少なくとも1つの上の前記第2信号線のサブセットと電気的に接触する第2の複数の接点を有し、それぞれのクランプアセンブリはコネクタアセンブリ内で独立して懸架され、第2機械的アライメントフィーチャを含む、コネクタアセンブリ
    を備え、
    それぞれのクランプアセンブリの前記第2接点は、前記第1および第2機械的アライメントフィーチャの相互作用を通して前記対応する尾根部アセンブリの前記第1接点とアラインし、前記第1および第2接点間の電気的接続は、それぞれのクランプアセンブリの前記第1および第2内側面が、前記対応する尾根部アセンブリの前記第1および第2外側面にクランプされるときに形成され、それにより前記第1および第2信号線を電気的に接続する
    システム。
  2. 請求項1に記載のシステムであって、前記DUTボードは円形であるシステム。
  3. 請求項2に記載のシステムであって、前記尾根部アセンブは前記円形DUTボード上で半径方向に配置されるシステム。
  4. 請求項1に記載のシステムであって、前記DUTボードは四角形であるシステム。
  5. 請求項4に記載のシステムであって、前記尾根部アセンブリは前記四角形DUTボード上で直線状パターンで配置されるシステム。
  6. 請求項1に記載のシステムであって、前記尾根部アセンブリのそれぞれは、前記第1接点および前記第1信号線を接続するそこに埋め込まれた複数の導体を有する剛性のある回路ボードを備えるシステム。
  7. 請求項1に記載のシステムであって、前記尾根部アセンブリのそれぞれは、前記第1接点および前記第1信号線を接続するそこに埋め込まれた複数の導体を有する可撓性の回路ボードを備えるシステム。
  8. 請求項7に記載のシステムであって、前記剛性のあるアセンブリは、前記第1接点のための裏当てを提供し、前記第1および第2接点間の接触を促進する可撓性部分を含むシステム。
  9. 請求項7に記載のシステムであって、DUTボードは、前記可撓性回路中の前記導体をインタフェースする前記第1信号線に対応するその上の第3接点を備えるシステム。
  10. 請求項9に記載のシステムであって、それぞれの剛性のある構造が前記第3接点の上で前記DUTボードに設けられ、前記可撓性回路の一部は前記剛性のある構造および前記DUTボード間に設けられるシステム。
  11. 請求項10に記載のシステムであって、前記剛性のあるアセンブリは、前記剛性のある構造および前記DUTボード間の前記可撓性回路の前記部分のための裏当てを提供し、前記可撓性回路および前記第3接点間の接触を促進する可撓性部分を含むシステム。
  12. 請求項1に記載のシステムであって、前記第1接点は、それぞれの尾根部アセンブリの前記第1および第2外側面の両方の上に設けられるシステム。
  13. 請求項1に記載のシステムであって、前記第1接点は、パッドまたはバンプのうちのいずれかを備えるシステム。
  14. 請求項1に記載のシステムであって、それぞれの尾根部アセンブリは、前記DUTボードの前記平面に実質的に法線方向に配置される実質的に平坦な部分を備えるシステム。
  15. 請求項14に記載のシステムであって、第1機械的アライメントフィーチャは、前記第2機械的アライメントフィーチャを前記対応するクランプアセンブリ内で受け入れる少なくとも1つのスロットを前記尾根部アセンブリの前記平坦な部分内に備えるシステム。
  16. 請求項15に記載のシステムであって、前記第1機械的アライメントフィーチャは、前記尾根部アセンブリの前記平坦な部分の対向する端部において2つのスロットを備えるシステム。
  17. 請求項1に記載のシステムであって、コネクタアセンブリは円形であるシステム。
  18. 請求項17に記載のシステムであって、前記クランプアセンブリは前記円形コネクタアセンブリ上で半径方向に配置されるシステム。
  19. 請求項1に記載のシステムであって、前記コネクタアセンブリは四角形であるシステム。
  20. 請求項19に記載のシステムであって、前記クランプアセンブリは前記四角形コネクタアセンブリ上に直線状パターンで配置されるシステム。
  21. 請求項1に記載のシステムであって、それぞれのクランプアセンブリの前記第1および第2内側面は、前記第2接点および前記第2信号線を接続するそれぞれその中に埋め込まれた複数の導体を有する剛性のある回路ボードを備えるシステム。
  22. 請求項1に記載のシステムであって、それぞれのクランプアセンブリの前記第1および第2内側面は、前記第2接点および前記第2信号線を接続するそれぞれその中に埋め込まれた複数の導体を有する可撓性の回路ボードを備えるシステム。
  23. 請求項1に記載のシステムであって、前記コネクタアセンブリは、それぞれのクランプアセンブリの前記第1および第2内側面を互いに向けて押圧し、それにより前記第1および第2内側面を、前記対応する尾根部アセンブリの前記第1および第2外側面にクランプする動作可能である複数のアクチュエータをさらに備えるシステム。
  24. 請求項23に記載のシステムであって、前記アクチュエータは空気圧装置を備えるシステム。
  25. 請求項24に記載のシステムであって、それぞれのクランプアセンブリは、前記空気圧装置のうちの対応するものからの圧力を分配する2つの圧力板をさらに備え、それぞれの圧力板は前記第1および第2内側面の1つと関連付けられているシステム。
  26. 請求項1に記載のシステムであって、前記第2接点は、それぞれのクランプアセンブリの前記第1および第2内側面の両方の上に設けられるシステム。
  27. 請求項1に記載のシステムであって、前記第2接点はパッドまたはバンプのうちのいずれかを備えるシステム。
  28. 請求項1に記載のシステムであって、それぞれのクランプアセンブリ上の前記第2機械的アライメントフィーチャは、前記対応する尾根部アセンブリ上の前記第1機械的アライメントフィーチャと係合する少なくとも1つのアライメント部材を備えるシステム。
  29. 請求項28に記載のシステムであって、前記それぞれのアライメント部材は溝を備え、前記第1機械的アライメントフィーチャは前記対応する尾根部アセンブリ内に少なくとも1つのスロットを備えるシステム。
  30. 請求項1に記載のシステムであって、前記尾根部アセンブリが前記クランプアセンブリとアラインされるように前記DUTアセンブリおよび前記コネクタアセンブリをアラインさせるキネマティックアライメントシステムをさらに備えるシステム。
  31. 請求項30に記載のシステムであって、前記キネマティックシステムは、3つのキネマティックアライメント溝を前記DUTアセンブリ、前記コネクタアセンブリ上の3つの対応するキネマティックアライメント溝、および3つのキネマティックアライメントボールを備え、これらのそれぞれが、前記コネクタアセンブリおよび前記DUTアセンブリがドッキングされるときに、前記DUTアセンブリ上の前記キネマティックアライメント溝および前記コネクタアセンブリ上の前記対応するキネマティックアライメント溝のうちの1つと同時に接触するシステム。
  32. 請求項31に記載のシステムであって、前記キネマティックボールは、前記コネクタおよびDUTアセンブリのうちの1つにスライド可能に結合される対応するシャフト上にそれぞれマウントされるシステム。
  33. 請求項1に記載のシステムであって、前記DUTおよびコネクタアセンブリのドッキングを促進する持ち上げメカニズムをさらに備えるシステム。
  34. 請求項33に記載のシステムであって、前記持ち上げメカニズムは、前記DUTアセンブリ上の持ち上げポストおよび持ち上げポスト受け入れ器開口を有する前記コネクタアセンブリ上の空気シリンダを備え、前記持ち上げポストが前記開口に挿入されるとき、前記空気シリンダのアクチュエーションは前記DUTおよびコネクタアセンブリのドッキングを可能にするシステム。
  35. 請求項34に記載のシステムであって、前記空気シリンダは、もし前記空気シリンダへの空気圧が失われると、前記DUTおよびコネクタアセンブリがドッキングされたままになることを確かにする緊急ブレーキをさらに備えるシステム。
  36. 請求項1に記載のシステムであって、前記DUTアセンブリは、前記尾根部アセンブリに対向する前記DUTボード上に配置された前記第1信号線に対応する複数のプローブニードルを備えるシステム。
  37. 請求項36に記載のシステムであって、前記プローブニードルは単一の半導体ウェーハと接触するよう構成されるシステム。
  38. 請求項36に記載のシステムであって、前記プローブニードルは複数の半導体ウェーハと接触するよう構成されるシステム。
  39. 請求項1に記載のシステムであって、前記DUTアセンブリは、前記尾根部アセンブリに対向する前記DUTボード上に配置された前記第1信号線に対応する複数のソケットを備えるシステム。
  40. 請求項1に記載のシステムであって、それぞれのクランプアセンブリは、前記クランプアセンブリがそれによって前記コネクタアセンブリに固定される可撓性要素を備え、前記可撓性要素は、複数の自由度において前記クランプアセンブリが前記コネクタアセンブリに相対的に移動することを可能にするシステム。
  41. 請求項1に記載のシステムを備える半導体ウェーハを試験する試験システム。
  42. 請求項1に記載のシステムを備える集積回路パッケージを試験する試験システム。
  43. 第1の複数の信号線を第2の複数の信号線に接続するシステムであって、
    複数のDUTボードを備える試験中のデバイス(DUT)アセンブリであって、それぞれのDUTボードは、前記DUTボードの端部におけるその一方の側の上の第1外側面、前記DUTボードの前記端部におけるその他方の側の上の第2外側面、および前記第1および第2外側面の少なくとも1つの上の前記第1信号線のサブセットと電気的に接触する第1の複数の接点を有し、DUTアセンブリはまた第1機械的アライメントフィーチャを含む、DUTアセンブリ、および
    前記複数のDUTボードに対応し、それらを受け取るよう配置された複数のクランプアセンブリを備えるコネクタアセンブリであって、それぞれのクランプアセンブリは、第1内側面、前記第1内側面と実質的に平行な第2内側面、および前記第1および第2内側面の少なくとも1つの上の前記第2信号線のサブセットと電気的に接触する第2の複数の接点を有し、それぞれのクランプアセンブリはコネクタアセンブリ内で独立して懸架され、第2機械的アライメントフィーチャを含む、コネクタアセンブリ
    を備え、
    それぞれのクランプアセンブリの前記第2接点は、前記第1および第2機械的アライメントフィーチャの相互作用を通して前記対応するDUTボードの前記第1接点とアラインし、前記第1および第2接点間の電気的接続は、それぞれのクランプアセンブリの前記第1および第2内側面が、前記対応するDUTボードの前記第1および第2外側面にクランプされるときに形成され、それにより前記第1および第2信号線を電気的に接続する
    システム。
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