JP2007129239A - チップ型電気素子及びそれを含む表示装置 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 42
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 29
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 29
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 4
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 62
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 28
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 24
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 24
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 8
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 8
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 6
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 6
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 3
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 description 1
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- XIKYYQJBTPYKSG-UHFFFAOYSA-N nickel Chemical compound [Ni].[Ni] XIKYYQJBTPYKSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- WOCIAKWEIIZHES-UHFFFAOYSA-N ruthenium(iv) oxide Chemical compound O=[Ru]=O WOCIAKWEIIZHES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013585 weight reducing agent Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/232—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
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- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/236—Terminals leading through the housing, i.e. lead-through
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- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/30—Stacked capacitors
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- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
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- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1345—Conductors connecting electrodes to cell terminals
- G02F1/13452—Conductors connecting driver circuitry and terminals of panels
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/5442—Marks applied to semiconductor devices or parts comprising non digital, non alphanumeric information, e.g. symbols
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/09—Shape and layout
- H05K2201/09818—Shape or layout details not covered by a single group of H05K2201/09009 - H05K2201/09809
- H05K2201/09918—Optically detected marks used for aligning tool relative to the PCB, e.g. for mounting of components
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
- H05K2201/10621—Components characterised by their electrical contacts
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Coils Or Transformers For Communication (AREA)
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Abstract
【課題】外部電極間の高さ偏差によるボンディング不良を防止することができるチップ型電気素子及びそれを含む表示装置を提供する。
【解決手段】チップ型電気素子は複数の誘電体層が積層された本体と、複数の誘電体層のうち少なくともいずれか一層を貫通するコンタクトホールと、コンタクトホール内に埋め込まれる連結電極対と、連結電極対と接続されるとともに本体の背面上に形成される外部電極対とを具備する。
【選択図】図5
【解決手段】チップ型電気素子は複数の誘電体層が積層された本体と、複数の誘電体層のうち少なくともいずれか一層を貫通するコンタクトホールと、コンタクトホール内に埋め込まれる連結電極対と、連結電極対と接続されるとともに本体の背面上に形成される外部電極対とを具備する。
【選択図】図5
Description
本発明はチップ型電気素子及びそれを含む液晶表示装置に関し、詳細には外部電極間の高さ偏差によるボンディング不良を防止することができるチップ型電気素子及びそれを含む表示装置に関する。
電子機器の小型化及び軽量化に対する要求が益々増大しており、回路基板の配線密度を高くするためにチップ形状の電気素子が多く使用される。このような電気素子はチップキャパシタ、チップ抵抗、チップインダクタなどを例に挙げることができる。
チップキャパシタ(MLCC)は誘電体層と内部電極を小型薄膜で多層化したチップ型のキャパシタであり、チップ抵抗は表面実装のための薄型の小型抵抗であり、チップインダクタは電子機器のノイズを除去するために使用する表面実装型インダクタである。
チップキャパシタ(MLCC)は誘電体層と内部電極を小型薄膜で多層化したチップ型のキャパシタであり、チップ抵抗は表面実装のための薄型の小型抵抗であり、チップインダクタは電子機器のノイズを除去するために使用する表面実装型インダクタである。
このような従来のチップ型電気素子は、半田付け工程を通じて印刷回路基板またはフレキシブル回路基板上に実装される。しかし、最近では、費用節減及び液晶表示装置の薄型化のために印刷回路基板またはフレキシブル回路基板を使用しない方向に向かっており、液晶表示パネル上に実装されるチップ型電気素子が要求されている。
従来の印刷回路基板またはフレキシブル回路基板上に実装されているチップ型電気素子2は、図1に示すように、複数の誘電体層が積層された本体4と、その本体4を間に置いて対向する外部電極対6、8を具備する。
従来の印刷回路基板またはフレキシブル回路基板上に実装されているチップ型電気素子2は、図1に示すように、複数の誘電体層が積層された本体4と、その本体4を間に置いて対向する外部電極対6、8を具備する。
外部電極対6、8は、本体4内に形成された内部電極と接続するために本体4の側面に形成されており、また、同時に液晶表示パネルの導電パッドと接続するために本体4の下部面にも形成される。このような外部電極対6、8をエッチング工程を含むフォトリソグラフィ工程で形成する場合、本体4の側面に外部電極対を形成した後、下部面に外部電極対を形成しなければならない。それにより、少なくとも2回のフォトリソグラフィ工程と少なくとも2回のエッチング工程が必要であるので、工程が複雑である問題点があった。このような問題点を解決するために、本体4に外部電極対6、8を形成する際に浸漬方式を用いることができる。浸漬方式は図2に示すように、本体4の側面4aと上部面4b、下部面4cを液状形態の導電ペースト10に浸漬した後、熱処理する方式である。この場合、本体4の下部面4cと上部面4bに塗布された外部電極対6、8は、図3に示したように、本体4の側面4aに塗布された外部電極対6、8に比べて薄く形成される。また、本体4の下部面4cが液晶表示パネル上に取り付けられる面であるが、この下部面4cに塗布される外部電極対6、8の高さと表面積が均一にすることが困難である。高さが一定でない外部電極対6、8を有するチップ型電気素子は、高さの差によって液晶表示パネルの下部基板上に安定して取り付けることができないという問題点があった。即ち、高さが高い外部電極6、8を基準にしてチップ型電気素子2を下部基板上に実装する場合、高さが高い外部電極6、8は下部基板上に形成された信号パッドと接続される反面、高さが低い外部電極6、8は下部基板上に形成された信号パッドと接続されない。また、表面積が一定でない外部電極6、8を有するチップ型電気素子2は、下部基板上に形成された信号パッドとの接触面積が異なって接触不良を起こすおそれがある。
従って、本発明は外部電極間の高さ及び面積偏差によるボンディング不良を防止することができるチップ型電気素子及びそれを含む表示装置を提供することにある。
本発明によるチップ型電気素子は、複数の誘電体層が積層された本体と、前記複数の誘電体層のうち少なくともいずれか1つの層を貫通するコンタクトホールと、前記コンタクトホール内に埋め込まれる連結電極対と、前記連結電極対と接続されると同時に前記本体の背面上に形成される外部電極対とを具備することを特徴とする。
本発明によるチップ型電気素子の第1実施例は、前記本体前面上に形成され前記電極対と接続される抵抗層をさらに具備することを特徴とする。
本発明によるチップ型電気素子の第1実施例は、前記本体前面上に形成され前記電極対と接続される抵抗層をさらに具備することを特徴とする。
本発明によるチップ型電気素子の第2実施例は、前記複数の誘電体層の間に交互に形成されるとともに前記誘電体層を間に挟んで互いに重畳され、前記外部電極対と電気的に接続される内部電極対をさらに具備することを特徴とする。
本発明によるチップ型電気素子の第3実施例は、前記複数の誘電体層上に螺旋形態に形成され、一端と他端が前記外部電極対と接続される内部電極をさらに具備することを特徴とする。
本発明によるチップ型電気素子の第3実施例は、前記複数の誘電体層上に螺旋形態に形成され、一端と他端が前記外部電極対と接続される内部電極をさらに具備することを特徴とする。
一方、本発明によるチップ型電気素子は前記本体の背面の両側外郭部に形成されるアラインマークをさらに具備することを特徴とする。
このような本発明によるチップ電気素子は、チップキャパシタ、チップ抵抗及びチップインダクタのうち少なくともいずれか1つであることを特徴とする。
また、本発明によるチップ型電気素子は、複数の誘電体層が積層された本体と、前記複数の誘電体層のうち少なくともいずれか一層を貫通するコンタクトホールと、前記コンタクトホール内に埋立される連結電極対と、前記連結電極対と接続されると同時に前記本体の背面上に所定間隔で離間し、絶縁基板の信号パッドと導電フィルムを介して接続される外部電極対とを具備することを特徴とする。
このような本発明によるチップ電気素子は、チップキャパシタ、チップ抵抗及びチップインダクタのうち少なくともいずれか1つであることを特徴とする。
また、本発明によるチップ型電気素子は、複数の誘電体層が積層された本体と、前記複数の誘電体層のうち少なくともいずれか一層を貫通するコンタクトホールと、前記コンタクトホール内に埋立される連結電極対と、前記連結電極対と接続されると同時に前記本体の背面上に所定間隔で離間し、絶縁基板の信号パッドと導電フィルムを介して接続される外部電極対とを具備することを特徴とする。
ここで、本発明によるチップ型電気素子は、チップキャパシタ、チップ抵抗、チップインダクタ、チップダイオード及びチップバリスタのうち少なくともいずれか1つであることを特徴とする。
また、本発明によるチップ型電気素子は前記本体の背面の両側外郭部に形成されるアラインマークをさらに具備することを特徴とする。
また、本発明によるチップ型電気素子は前記本体の背面の両側外郭部に形成されるアラインマークをさらに具備することを特徴とする。
また、本発明による液晶表示装置は、信号パッドが形成された液晶表示パネルと、前記表示パネル上に実装され、前記信号パッドと接続されるチップ型電気素子とを具備し、前記チップ型電気素子は複数の誘電体層が積層された本体と、前記複数の誘電体層を貫通するコンタクトホールと、前記コンタクトホール内に埋立される連結電極対と、前記連結電極対と接続されると同時に前記本体の背面上に形成され前記信号パッドと電気的に接続される電極対とを具備することを特徴とする。
ここで、本発明による液晶表示装置は前記信号パッドと前記チップ型電気素子との間に形成されこれらを接続する導電フィルムをさらに具備することを特徴とする。
前記技術的課題の他、本発明が具現しようとする他の技術的課題及び特徴は添付図面を参照した実施例を通じて明白に示す。
前記技術的課題の他、本発明が具現しようとする他の技術的課題及び特徴は添付図面を参照した実施例を通じて明白に示す。
以下、図面を参照して本発明の望ましい一実施例をより詳細に説明する。
図3は本発明によるチップ型電気素子の第1実施例であるチップキャパシタを示す背面斜視図であり、図4は図3に示されたチップキャパシタを示す断面図である。
図3及び図4に示されたチップキャパシタ102は、複数の誘電体層104と、複数の誘電体層104の間に交互に形成された第1及び第2内部電極110、112と、第1内部電極110と接続された第1外部電極106と、第2内部電極122と接続された第2外部電極108と、最外郭に位置する誘電体層104の両側外郭に形成されるアラインマーク162とを具備する。
図3は本発明によるチップ型電気素子の第1実施例であるチップキャパシタを示す背面斜視図であり、図4は図3に示されたチップキャパシタを示す断面図である。
図3及び図4に示されたチップキャパシタ102は、複数の誘電体層104と、複数の誘電体層104の間に交互に形成された第1及び第2内部電極110、112と、第1内部電極110と接続された第1外部電極106と、第2内部電極122と接続された第2外部電極108と、最外郭に位置する誘電体層104の両側外郭に形成されるアラインマーク162とを具備する。
複数の誘電体層104は、セラミック誘電部部で多層構造に形成されて本体を成し、誘電体層104の有電率と厚さによってキャパシタの容量値が決定される。
第1及び第2内部電極110、112は誘電体層104を間に置いて互いに対向するように形成される。このような第1及び第2内部電極110、112はパラジウムPd、ニケッルNiなどから形成される。
第1及び第2内部電極110、112は誘電体層104を間に置いて互いに対向するように形成される。このような第1及び第2内部電極110、112はパラジウムPd、ニケッルNiなどから形成される。
第1内部電極110は、それらの110の間に位置する誘電体層104を貫通する第1コンタクトホール120内に埋め込まれる第1連結電極116を通じて互いに接続される。第1連結電極116は、第1内部電極110形成と同時に第1内部電極110と同一金属から形成される。または、別途の工程を通じて第1内部電極110と異なる金属で形成することもでき、別途の工程を通じて第1内部電極110と同一金属で形成することもできる。
第2内部電極112は、第2内部電極112の間に位置する誘電体層104を貫通する第2コンタクトホール122内に埋め込まれる第2連結電極118を通じて互いに接続される。第2連結電極118は、第2内部電極112形成と同時に第2内部電極112と同一金属で形成される。または、別途の工程を通じて第2内部電極112と異なる金属で形成することができ、別途の工程を通じて第2内部電極112と同一金属で形成することもできる。
第1及び第2外部電極106、108は、最外郭の誘電体層104の背面上にエッチング工程を含むフォトリソグラフィ工程またはスクリーン印刷工程を通じて銀Ag、銅Cuなどの金属で形成される。
第1外部電極106は、図4に示されたように、第1コンタクトホール120内に埋め込まれた第1連結電極116を通じて第1内部電極110と接続されるように、最外郭の誘電体層104上に単層構造で形成される。または、図5に示されたように、第1コンタクトホール120内に埋め込まれた第1連結電極を通じて第1内部電極110と接続されるように、最外郭の誘電体層104上に多層構造で形成される。例えば、多層構造の第1外部電極106は最外郭の誘電体層104上に第1連結電極106と同一金属で形成される第1電極層106aと、第1電極層106a上にアラインマーク162と同一金属で形成される第1電極層106a、106bからなる。
第1外部電極106は、図4に示されたように、第1コンタクトホール120内に埋め込まれた第1連結電極116を通じて第1内部電極110と接続されるように、最外郭の誘電体層104上に単層構造で形成される。または、図5に示されたように、第1コンタクトホール120内に埋め込まれた第1連結電極を通じて第1内部電極110と接続されるように、最外郭の誘電体層104上に多層構造で形成される。例えば、多層構造の第1外部電極106は最外郭の誘電体層104上に第1連結電極106と同一金属で形成される第1電極層106aと、第1電極層106a上にアラインマーク162と同一金属で形成される第1電極層106a、106bからなる。
第2外部電極108は、図4に示されたように、第2コンタクトホール122内に埋め込まれた第2連結電極118を通じて第2内部電極112と接続されるように、最外郭の誘電体層104上に単層構造で形成される。または、図5に示されたように、第2コンタクトホール122内に埋め込まれた第2連結電極118を通じて第2内部電極112と接続されるように、最外郭の誘電体層104上に多層構造で形成される。例えば、多層構造の第2外部電極108は、最外郭の誘電体層104上に第2連結電極118と同一金属から形成される第1電極層108a、第1電極層108a上にアラインマーク162と同一金属で同時に形成される第2電極層108bからなる。
アラインマーク162は、外部電極106、108と同一平面上に外部電極106、108と同一金属で形成される。または、内部電極110、112のうち少なくともいずれか1つと同一平面上に内部電極110、112または連結電極116、118と同一金属で形成される。このようなアラインマーク162は、チップキャパシタ102が液晶表示パネル上に実装されるとき用いられる。即ち、チップキャパシタ102にそのチップキャパシタ102に形成されたアラインマーク162と、液晶表示パネルの下部基板上に形成されたアラインマークとが互いに一致するように整列した後、下部基板上に実装される。
このように、本発明によるチップキャパシタは、内部電極と外部電極が連結電極を通じて接続される。それにより、本発明によるチップキャパシタの外部電極は最外郭の誘電体層背面上に、一度のエッチング工程を含むフォトリソグラフィ工程またはスクリンプリンティング工程で形成可能である。このような本発明によるチップキャパシタと外部電極は、浸漬方式で本体の側面と下部面上に形成される従来外部電極に比べて、電極表面の平坦度を高くすることができる。また、本発明によるチップキャパシタは、多層の誘電体層を具備することで誘電体層の表面を平坦化することができ、その誘電体層上に形成される電極表面の平坦度を高くすることができる。それにより、本発明によるチップキャパシタは、外部電極間の高さ及び面積のうち少なくともいずれか1つの偏差による接触不良を防止することができる。また、本発明によるチップキャパシタは、最外郭の誘電体層の両側端にアラインマークが形成される。このアラインマークを有するチップキャパシタは、別途のアラインマークを用いて整列される集積回路と同様に液晶表示パネル上の正確な位置に整列される。
図6は本発明によるチップ型電気素子の第2実施例であるチップ抵抗を示す断面図である。
図6に示されたチップ抵抗130は、本体である誘電体層132前面上に形成された抵抗層134、抵抗層134と接続され誘電体層132背面上に形成された第1及び第2外部電極136、138、第1及び第2外部電極136、138それぞれと抵抗層134との間に形成された連結電極140、及び誘電体層132の背面の両側外郭に形成されるアラインマーク162を具備する。
図6に示されたチップ抵抗130は、本体である誘電体層132前面上に形成された抵抗層134、抵抗層134と接続され誘電体層132背面上に形成された第1及び第2外部電極136、138、第1及び第2外部電極136、138それぞれと抵抗層134との間に形成された連結電極140、及び誘電体層132の背面の両側外郭に形成されるアラインマーク162を具備する。
抵抗層134は酸化ルテニウム(RuO2)などの抵抗物質からなりチップ抵抗130の抵抗値を決定する。
第1及び第2外部電極136、138は、絶縁層132背面上にエッチング工程を含むフォトリソグラフィ工程またはスクリンプリンティング工程を通じて、銀Ag、銅Cu、ニケッルNi、アルミニウムAlなどの金属で単層または多層構造で形成される。このような第1及び第2外部電極136、138は、コンタクトホール142内に埋め込まれた連結電極140を通じて抵抗層134と接続される。
第1及び第2外部電極136、138は、絶縁層132背面上にエッチング工程を含むフォトリソグラフィ工程またはスクリンプリンティング工程を通じて、銀Ag、銅Cu、ニケッルNi、アルミニウムAlなどの金属で単層または多層構造で形成される。このような第1及び第2外部電極136、138は、コンタクトホール142内に埋め込まれた連結電極140を通じて抵抗層134と接続される。
連結電極140は、第1及び第2外部電極136、138の形成と同時に金属で形成される。または、別途の工程を通じて第1及び第2外部電極136、138と同一金属で形成することができ、別途の工程を通じて第1及び第2外部電極136、138と異なる金属で形成することもできる。
アラインマーク162は、外部電極106、108と同一平面上に外部電極106、108または連結電極140と同一金属で形成される。このようなアラインマーク162は、チップ抵抗130が液晶表示パネル上に実装されるとき用いられる。即ち、チップ抵抗130は、そのチップ抵抗130に形成されたアラインマーク162と、液晶表示パネルの下部基板上に形成されたアラインマークとが、互いに一致するように下部基板上に実装される。
アラインマーク162は、外部電極106、108と同一平面上に外部電極106、108または連結電極140と同一金属で形成される。このようなアラインマーク162は、チップ抵抗130が液晶表示パネル上に実装されるとき用いられる。即ち、チップ抵抗130は、そのチップ抵抗130に形成されたアラインマーク162と、液晶表示パネルの下部基板上に形成されたアラインマークとが、互いに一致するように下部基板上に実装される。
このように、本発明によるチップ抵抗は、内部電極と外部電極とが連結電極を介して連結される。それにより、本発明によるチップ抵抗の外部電極は、最外郭の誘電体層背面上に一度のエッチング工程を含むフォトリソグラフィ工程またはスクリーン印刷工程で形成可能である。このような本発明によるチップ抵抗の外部電極は、浸漬方式で本体の側面と下部面上に形成される従来の外部電極に比べて、電極表面の平坦度を高くすることができる。それにより、本発明によるチップ抵抗は、外部電極間の高さ及び面積のうち、少なくともいずれか1つの偏差による接触不良を防止することができる。また、本発明によるチップ抵抗は、最外郭の誘電体層の両側端にアラインマークが形成される。このアラインマークを有するチップ抵抗は、別途のアラインマークを用いて整列される集積回路と同様に、液晶表示パネル上の正確な位置に整列される。
図8は本発明によるチップ型電気素子の第3実施例であるチップインダクタを示す断面図である。
図8に示されたチップインダクタ150は、複数の誘電体層154上に螺旋形態に形成された内部電極152、及び内部電極110、112と接続された外部電極156、158を具備する。
図8に示されたチップインダクタ150は、複数の誘電体層154上に螺旋形態に形成された内部電極152、及び内部電極110、112と接続された外部電極156、158を具備する。
複数の誘電体層154はセラミック誘電物質で多層構造に形成されて本体を成す。
内部電極152は、内部電極152の間に位置する誘電体層154を貫通する第1コンタクトホール144内に埋め込まれる第1連結電極164を通じて互いに接続される。第1連結電極164は、内部電極152形成と同時に内部電極152と同一金属で形成される。または、別途の工程を通じて内部電極152と異なる金属で形成することもでき、別途の工程を通じて内部電極152と同一金属で形成することができる。内部電極152を間に置いて左右に交互にこのような第1連結電極164を形成することで、内部電極152は第1連結電極164を介して螺旋形態に形成される。
内部電極152は、内部電極152の間に位置する誘電体層154を貫通する第1コンタクトホール144内に埋め込まれる第1連結電極164を通じて互いに接続される。第1連結電極164は、内部電極152形成と同時に内部電極152と同一金属で形成される。または、別途の工程を通じて内部電極152と異なる金属で形成することもでき、別途の工程を通じて内部電極152と同一金属で形成することができる。内部電極152を間に置いて左右に交互にこのような第1連結電極164を形成することで、内部電極152は第1連結電極164を介して螺旋形態に形成される。
このような螺旋形態の内部電極152のスタート部である第1引出部170は、誘電体層154を貫通する第2コンタクトホール146を通じて第1外部電極156と接続される。即ち、第1引出部170は第2コンタクトホール146内に埋め込まれた第2連結電極166を通じて第1外部電極156と接続される。
内部電極152の終了部である第2引出部172は、誘電体層154を貫通する第3コンタクトホール148を通じて第2外部電極158と接続される。即ち、第2引出部172は、第3コンタクトホール148内に埋め込まれた第3連結電極168を通じて第2外部電極158と接続される。
内部電極152の終了部である第2引出部172は、誘電体層154を貫通する第3コンタクトホール148を通じて第2外部電極158と接続される。即ち、第2引出部172は、第3コンタクトホール148内に埋め込まれた第3連結電極168を通じて第2外部電極158と接続される。
一方、第1及び第2外部電極156、158は、最外郭の誘電体層154上にエッチング工程を含むフォトリソグラフィ工程またはスクリーン印刷工程を通じて、銀Ag、銅Cuなどの金属から単層または多層構造で形成される。
アラインマーク162は、外部電極156、158と同一平面上に外部電極156、158と同一金属で形成される。または、内部電極152のうち少なくともいずれか1つと同一平面上に、内部電極152または連結電極164、166、168と同一金属で形成される。このようなラインマーク162は、チップインダクタ150が液晶表示パネル上に実装されるとき用いられる。即ち、チップインダクタ150は、そのチップインダクタ150に形成されたアラインマーク162と液晶表示パネルの下部基板上に形成されたアラインマークとが互いに一致するように、下部基板上に実装される。
アラインマーク162は、外部電極156、158と同一平面上に外部電極156、158と同一金属で形成される。または、内部電極152のうち少なくともいずれか1つと同一平面上に、内部電極152または連結電極164、166、168と同一金属で形成される。このようなラインマーク162は、チップインダクタ150が液晶表示パネル上に実装されるとき用いられる。即ち、チップインダクタ150は、そのチップインダクタ150に形成されたアラインマーク162と液晶表示パネルの下部基板上に形成されたアラインマークとが互いに一致するように、下部基板上に実装される。
このように、本発明によるチップインダクタは、内部電極と外部電極とが連結電極を通じて接続される。それにより、本発明によるチップインダクタの外部電極は、最外郭の誘電体層背面上に、一度のエッチング工程を含むフォトリソグラフィ工程またはスクリーン印刷工程で形成可能である。このような本発明によるチップインダクタの外部電極は、浸漬方式で本体の側面と下部面上に形成される従来の外部電極に比べて、電極表面の平坦度を高くすることができる。また、本発明によるチップインダクタは、多層の誘電体層を具備することで誘電体層の表面を平坦にすることができ、その誘電体層上に形成される電極表面の平坦度を高くすることができる。それにより、本発明によるチップインダクタは、外部電極間の高さ及び面積偏差のうちいずれか1つによる接触不良を防止することができる。また、本発明によるチップインダクタは最外郭の誘電体層の両側端にアラインマークが形成される。このアラインマークを有するチップインダクタは、別途のアラインマークを用いて整列される集積回路と同様に液晶表示パネル上の正確な位置に整列される。
図9は本発明によるチップ型電気素子が実装された液晶表示装置を示す図面である。
図9に示すように、本発明によるチップ型電気素子が実装された液晶表示装置は、液晶を間に置き互いに対向して接合された薄膜トランジスタ基板126及びカラーフィルタ基板128を具備する。
カラーフィルタ基板128は、光漏れ防止のためのブラックマトリックス、カラーフィルタ具現のためのカラーフィルタ、画素電極と垂直電界を成す共通電極、及びそれらの上に液晶配向のために塗布された上部配向膜が上部基板上に形成される。
図9に示すように、本発明によるチップ型電気素子が実装された液晶表示装置は、液晶を間に置き互いに対向して接合された薄膜トランジスタ基板126及びカラーフィルタ基板128を具備する。
カラーフィルタ基板128は、光漏れ防止のためのブラックマトリックス、カラーフィルタ具現のためのカラーフィルタ、画素電極と垂直電界を成す共通電極、及びそれらの上に液晶配向のために塗布された上部配向膜が上部基板上に形成される。
薄膜トランジスタ基板126には互いに交差するように形成されたゲートラインGL及びデータラインDL、そのGL、DLの交差部に形成された薄膜トランジスタTFT、薄膜トランジスタTFTと接続されるとともに液晶を間に置いて共通電極と対向して液晶セルClcを形成する画素電極、それらの上に液晶配向のために塗布された下部配向膜が下部基板上に形成される。
このような薄膜トランジスタ基板126の下部基板176上には、図4及び図5に示された積層セラミックキャパシタ102、図6に示されたチップ抵抗130及び図7に示されたチップインダクタ150のうち少なくともいずれか1つのチップ型電気素子が実装される。このようなチップ型電気素子の外部電極106、108、136、138、156、158は、図10〜図12に示されたように、導電ボール124を有する異方性導電フィルムACF114を通じて、下部基板176上に形成された信号パッド174と接続される。
一方、本発明によるチップ型電気素子は、チップ抵抗、チップキャパシタ、チップインダクタを例にして説明したが、他にも、チップダイオード、チップバリスタなどにも適用可能である。
また、本発明によるチップ型電気素子は、ACF114を用いて下部基板176上に実装される場合を例にして説明したが、他にもACF114を用いて印刷回路基板PCB及びフレキシブル回路基板FPCにも実装可能である。また、本発明によるチップ型電気素子は、半田付け工程を通じて下部基板176、印刷回路基板PCB及びフレキシブル回路基板FPCのうち少なくともいずれか1つにも実装可能である。
また、本発明によるチップ型電気素子は、ACF114を用いて下部基板176上に実装される場合を例にして説明したが、他にもACF114を用いて印刷回路基板PCB及びフレキシブル回路基板FPCにも実装可能である。また、本発明によるチップ型電気素子は、半田付け工程を通じて下部基板176、印刷回路基板PCB及びフレキシブル回路基板FPCのうち少なくともいずれか1つにも実装可能である。
また、本発明によるチップ型電気素子は液晶表示装置だけではなく、プラズマ表示パネル、電界放出素子、電界発光素子にも適用可能である。
上述したように、本発明によるチップ型電気素子及びそれを含む表示装置は最外郭の誘電体層背面上に第1及び第2外部電極が形成されるとともに、最外郭の誘電体層の両側端にアラインマークが形成される。それにより、本発明によるチップ型電気素子及びそれを含む表示装置は、第1及び第2外部電極間の高さ偏差に起因する接触不良を防止することができる。また、本発明によるチップ型電気素子及びそれを含む表示装置は、アラインマークを用いてチップ型電気素子を表示パネル上の正確な位置に整列することができる。
以上、本発明の実施例によって詳細に説明したが、本発明はこれに限定されず、本発明が属する技術分野において通常の知識を有する者であれば、本発明の思想と精神を離れることなく、本発明を修正または変更できる。
102 チップキャパシタ
104、154 誘電体層
106、108、136、156、158 外部電極
110、112 内部電極
114 異方性導電フィルム
116、118、140、164、166、168 連結電極
120、122、142、144、146、148 コンタクトホール
124 導電ボール
126 薄膜トランジスタ基板
128 カラーフィルタ基板
130 チップ抵抗
132 セラミック基板
134 抵抗層
150 チップインダクタ
160 液晶表示パネル
162 アラインマーク
170、172 引出部
174 信号パッド
176 下部基板
104、154 誘電体層
106、108、136、156、158 外部電極
110、112 内部電極
114 異方性導電フィルム
116、118、140、164、166、168 連結電極
120、122、142、144、146、148 コンタクトホール
124 導電ボール
126 薄膜トランジスタ基板
128 カラーフィルタ基板
130 チップ抵抗
132 セラミック基板
134 抵抗層
150 チップインダクタ
160 液晶表示パネル
162 アラインマーク
170、172 引出部
174 信号パッド
176 下部基板
Claims (22)
- 複数の誘電体層が積層された本体と、
前記複数の誘電体層のうち少なくともいずれか1つの層を貫通するコンタクトホールと、
前記コンタクトホール内に埋め込まれる連結電極対と、
前記連結電極対と接続されると同時に前記本体の背面上に形成される外部電極対と、
を具備することを特徴とするチップ型電気素子。 - 前記本体前面上に形成され前記電極対と接続される抵抗層をさらに具備することを特徴とする請求項1に記載のチップ型電気素子。
- 前記複数の誘電体層の間に交互に形成されるとともに前記誘電体層を間に挟んで互いに重畳され前記外部電極対と電気的に接続される内部電極対をさらに具備することを特徴とする請求項1に記載のチップ型電気素子。
- 前記複数の誘電体層上に螺旋形態に形成され、一端と他端が前記外部電極対と接続される内部電極をさらに具備することを特徴とする請求項1に記載のチップ型電気素子。
- 前記本体の背面の両側外郭部に形成されるアラインマークをさらに具備することを特徴とする請求項1に記載のチップ型電気素子。
- 前記チップ型電気素子は、チップキャパシタ、チップ抵抗、チップインダクタ、チップダイオード、チップバリスタのうち少なくともいずれか1つであることを特徴とする請求項1記載のチップ型電気素子。
- 複数の誘電体層が積層された本体と、
前記複数の誘電体層のうち少なくともいずれか一層を貫通するコンタクトホールと、
前記コンタクトホール内に埋め込まれる連結電極対と、
前記連結電極対と接続されるとともに前記本体の背面上に所定間隔で離間して形成され、絶縁基板の信号パッドと導電フィルムを介して接続される外部電極対と、
を具備することを特徴とするチップ型電気素子。 - 前記チップ型電気素子は、チップキャパシタ、チップ抵抗、チップインダクタ、チップダイオード及びチップバリスタのうち少なくともいずれか1つであることを特徴とする請求項7に記載のチップ型電気素子。
- 前記本体の背面の両側外郭部に形成されるアラインマークをさらに具備することを特徴とする請求項7に記載のチップ型電気素子。
- 信号パッドが形成された表示パネルと、
前記表示パネル上に実装され前記信号パッドと接続されるチップ型電気素子と、
を具備し、前記チップ型電気素子は、
複数の誘電体層が積層された本体と、
前記複数の誘電体層を貫通するコンタクトホールと、
前記コンタクトホール内に埋め込まれる連結電極対と、
前記連結電極対と接続されると同時に前記本体の背面上に形成され前記信号パッドと電気的に接続される電極対と、
を具備することを特徴とする表示装置。 - 前記信号パッドと前記チップ型電気素子との間に形成され、これらを接続する導電フィルムをさらに具備することを特徴とする請求項10に記載の表示装置。
- 前記本体全面上に形成され前記電極対と接続される抵抗層をさらに具備することを特徴とする請求項10に記載の表示装置。
- 前記複数の誘電体層の間に交互に形成されるとともに前記誘電体層を間に挟んで互いに重畳され、前記外部電極対と電気的に接続される内部電極対をさらに具備することを特徴とする請求項10に記載の表示装置。
- 前記複数の誘電体層上に螺旋形態で形成され一端と他端が前記外部電極対と接続される内部電極をさらに具備することを特徴とする請求項10に記載の表示装置。
- 前記本体の背面の両側外郭部に形成されるアラインマークをさらに具備することを特徴とする請求項10に記載の表示装置。
- 前記チップ型電気素子は、チップキャパシタ、チップ抵抗、チップインダクタ、チップダイオード及びチップバリスタのうち少なくともいずれか1つであることを特徴とする請求項10に記載の表示装置。
- 複数の誘電体層を積層して本体を形成する段階と、
前記複数の誘電体層のうち少なくともいずれか1つの層を貫通する一対のコンタクトホールを形成する段階と、
前記各コンタクトホール内に連結電極を埋め込む段階と、
前記各連結電極に前記本体の背面に形成される外部電極を接続する段階と、
を含むことを特徴とするチップ型電気素子製造方法。 - 前記本体の前面に前記外部電極と接続される抵抗層を形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項17に記載のチップ型電気素子製造方法。
- 前記誘電体層を間に挟んで互いに重畳され、前記外部電極と電気的に接続される内部電極を前記複数の誘電体層間に交互に形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項17に記載のチップ型電気素子製造方法。
- その一端と他端が前記外部電極とそれぞれ接続される内部電極を前記複数の誘電体層上に螺旋形態で形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項17に記載のチップ型電気素子製造方法。
- 前記本体背面の両側外郭部にアラインマークを形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項17に記載のチップ型電気素子製造方法。
- 前記チップ型電気素子は、チップキャパシタ、チップ抵抗、チップインダクタ、チップダイオード及びチップバリスタのうち少なくともいずれか1つであることを特徴とする請求項17に記載のチップ型電気素子製造方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050105281A KR20070048330A (ko) | 2005-11-04 | 2005-11-04 | 칩형 전기 소자 및 이를 포함하는 표시 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007129239A true JP2007129239A (ja) | 2007-05-24 |
JP2007129239A5 JP2007129239A5 (ja) | 2009-11-05 |
Family
ID=38036427
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006300340A Withdrawn JP2007129239A (ja) | 2005-11-04 | 2006-11-06 | チップ型電気素子及びそれを含む表示装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20070102805A1 (ja) |
JP (1) | JP2007129239A (ja) |
KR (1) | KR20070048330A (ja) |
CN (1) | CN101013630A (ja) |
TW (1) | TW200729252A (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10128035B2 (en) | 2011-11-22 | 2018-11-13 | Volterra Semiconductor LLC | Coupled inductor arrays and associated methods |
US9281739B2 (en) * | 2012-08-29 | 2016-03-08 | Volterra Semiconductor LLC | Bridge magnetic devices and associated systems and methods |
DE102012222224B4 (de) * | 2012-12-04 | 2016-02-18 | SUMIDA Components & Modules GmbH | Magnetischer Kern und mehrteilige Kernanordnung |
US9083332B2 (en) | 2012-12-05 | 2015-07-14 | Volterra Semiconductor Corporation | Integrated circuits including magnetic devices |
CN103515093A (zh) * | 2013-07-24 | 2014-01-15 | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 | 一种具有内部互连结构的片式电容及其制备方法 |
KR102097325B1 (ko) * | 2014-09-23 | 2020-04-06 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 |
KR101792381B1 (ko) * | 2016-01-04 | 2017-11-01 | 삼성전기주식회사 | 전자부품 및 그 제조방법 |
US10068529B2 (en) * | 2016-11-07 | 2018-09-04 | International Business Machines Corporation | Active matrix OLED display with normally-on thin-film transistors |
CN109637764B (zh) * | 2018-12-29 | 2022-05-17 | 广东爱晟电子科技有限公司 | 高精度高可靠多层低阻热敏芯片及其制作方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0917165B1 (en) * | 1997-11-14 | 2007-04-11 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Multilayer capacitor |
US6218729B1 (en) * | 1999-03-11 | 2001-04-17 | Atmel Corporation | Apparatus and method for an integrated circuit having high Q reactive components |
US6970362B1 (en) * | 2000-07-31 | 2005-11-29 | Intel Corporation | Electronic assemblies and systems comprising interposer with embedded capacitors |
US20050012212A1 (en) * | 2003-07-17 | 2005-01-20 | Cookson Electronics, Inc. | Reconnectable chip interface and chip package |
TWI251313B (en) * | 2003-09-26 | 2006-03-11 | Seiko Epson Corp | Intermediate chip module, semiconductor device, circuit board, and electronic device |
-
2005
- 2005-11-04 KR KR1020050105281A patent/KR20070048330A/ko not_active Application Discontinuation
-
2006
- 2006-10-27 US US11/553,519 patent/US20070102805A1/en not_active Abandoned
- 2006-10-30 TW TW095140010A patent/TW200729252A/zh unknown
- 2006-11-06 JP JP2006300340A patent/JP2007129239A/ja not_active Withdrawn
- 2006-11-06 CN CNA2006100642598A patent/CN101013630A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101013630A (zh) | 2007-08-08 |
KR20070048330A (ko) | 2007-05-09 |
US20070102805A1 (en) | 2007-05-10 |
TW200729252A (en) | 2007-08-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090917 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090917 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100823 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20101215 |