JP2007121452A - マスクブランク用ガラス基板の製造方法、マスクブランクの製造方法、露光用マスクの製造方法、及びリソグラフィー用ガラス部材の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】波長が200nm以下の短波長光(ArFエキシマレーザー光25)を、レーザー照射装置21の照射口28から光ファイバーバンドル41を経て合成石英ガラス基板4の端面2の面取り面49へ導入し、当該ガラス基板の内部欠陥16が発する上記短波長光よりも長い波長の光15を受光して内部欠陥を検出し、内部欠陥のない上記ガラス基板からマスクブランク用ガラス基板を製造し、光ファイバーバンドルは、照射口28から短波長光を入射する入射側端面42が照射口の形状に対応し、短波長光を出射する出射側端面43が面取り面49の形状に対応してそれぞれ形成され、これらの入射側端面と出射側端面が略同一面積に設定されたものである。
【選択図】図3
Description
また、光照射装置の照射口から照射される短波長光を、ガラス材料の一端面における光導入部へ導入する光伝送部材は、上記照射口から短波長光を入射する入射側端面が上記照射口の形状に対応し、上記短波長光を出射する出射側端面が上記光導入部の形状に対応してそれぞれ形成され、これらの入射側端面と出射側端面とが略同一面積に設定されている。このため、光照射装置の照射口から照射された短波長光を集光させることなく、ガラス材料の一端面における光導入部へ導入することができるので、この光導入部における短波長光の単位面積当たりのエネルギーが過大に上昇せず、この光導入部においてプラズマの発生を防止できる。この結果、光導入部に付着した汚れや異物が上記プラズマにより当該光導入部にダメージを与える事態を回避でき、且つ欠陥検出精度の低下も防止できる。
特開平8−31723号公報や特開2003−81654号公報に記載された製造方法により作製された合成石英ガラスインゴットから、約152.4mm×約152.4mm×約6.85mmに切り出して得られた合成石英ガラス板1(図1(a))に面取り加工を施す。次に、この合成石英ガラス板1の表面である主表面5及び6と、互いに対向する端面2及び3、端面18及び19(図2)とを、検査用の光である波長が200nm以下の短波長光(本実施の形態では露光波長の光(ArFエキシマレーザー光))を導入できる程度に鏡面研磨して、合成石英ガラス基板4を準備する(図1(b))。
次に、マスクブランク用ガラス基板7の主表面5上にマスクパターンとなる薄膜(ハーフトーン膜8)をスパッタリング法により形成して、マスクブランク9(ハーフトーン型位相シフトマスクブランク)を作製する(図1(d))。ハーフトーン膜8の成膜は、以下の構成を有するスパッタリング装置を使って行う。
次に、図1に示すように、上記マスクブランク9(ハーフトーン型位相シフトマスクブランク)のハーフトーン膜8の表面にレジストを塗布した後、加熱処理してレジスト膜10を形成する。(図1(e))。
得られた露光用マスク14を露光装置に装着し、この露光用マスク14を使用し、ArFエキシマレーザーを露光光として光リソグラフィー技術を用い、半導体基板(半導体ウェハ)に形成されているレジスト膜に露光用マスクのマスクパターンを転写して、この半導体基板上に所望の回路パターンを形成し、半導体デバイスを製造する。
上述のように構成されたことから、上記実施の形態によれば、次の効果(1)及び(7)を奏する。
(1)合成石英ガラス基板4に波長が200nm以下のArFエキシマレーザー光25を導入して、このArFエキシマレーザー光25を合成石英ガラス基板4の内部欠陥16の検査に用いることから、このガラス基板4から製造される露光用マスク14と、露光光として波長が200nm以下のArFエキシマレーザー光25を用いたパターン転写の際に転写パターン欠陥となる内部欠陥16を良好に検出できる。
例えば、図3に示すように、合成石英ガラス基板4の内部欠陥16を検出する検出工程において、ArFエキシマレーザー光25を光ファイバーバンドル41を介して導入する合成石英ガラス基板4の端面2に対向する端面3の面取り面49と50が、他の光伝送部材である光ファイバーバンドル51を用いて接続されてもよい。この場合には、端面2の面取り面49へ光ファイバーバンドル41を介して導入された合成石英ガラス基板4内のArFエキシマレーザー光25を、端面3の面取り面49及び50から当該ガラス基板4外へ放出させることなく、光ファイバーバンドル51を介して再び当該ガラス基板4内へ導くことができる。このため、合成石英ガラス基板4へ導入されたArFエキシマレーザー光25の有効利用を図ることができ、合成石英ガラス基板4の内部欠陥16により高いエネルギーの長波長光15を出射させるようにして、内部欠陥16の検出精度を向上させることができる。
2 端面(一端面)
3 端面
4 合成石英ガラス基板
5、6 主表面
7 マスクブランク用ガラス基板
8 ハーフトーン膜(薄膜)
9 マスクブランク
13 ハーフトーン膜パターン(マスクパターン)
14 露光用マスク
15、17 光(長波長光)
16 内部欠陥
21 レーザー照射装置(光照射装置)
25 ArFエキシマレーザー光(短波長光)
28 照射口
40 光ファイバー
41 光ファイバーバンドル(光伝送部材)
42 入射側端面
43 出射側端面
48 側面
49 面取り面(光導入部)
50 面取り面
51 光ファイバーバンドル(他の光伝送部材)
Claims (8)
- 波長が200nm以下の短波長光を導入する一端面を含む表面を有するガラス基板を準備する準備工程と、
このガラス基板の上記一端面から上記短波長光を導入し、当該ガラス基板の内部欠陥が発する、上記短波長光よりも長い波長の長波長光を上記表面の他方から受光し、この受光した長波長光に基づき上記内部欠陥を検出する検出工程とを有し、
上記検出工程でパターン転写に影響する上記内部欠陥が存在しない上記ガラス基板を用いてマスクブランク用ガラス基板を製造するマスクブランク用ガラス基板の製造方法であって、
上記検出工程では、光照射装置の照射口から照射される上記短波長光を光伝送部材を経て、上記ガラス基板の上記一端面における光導入部へ導入し、
上記光伝送部材は、上記照射口から短波長光を入射する入射側端面が上記照射口の形状に対応し、上記短波長光を出射する出射側端面が上記光導入部の形状に対応してそれぞれ形成され、これらの入射側端面と出射側端面とが略同一面積に設定されたことを特徴とするマスクブランク用ガラス基板の製造方法。 - 上記検出工程において、短波長光の光伝送部材を介してのガラス基板への導入は、当該ガラス基板の両主表面と当該主表面に直交する関係で配置された側面との間で全反射条件を満たす条件で実施することを特徴とする請求項1に記載のマスクブランク用ガラス基板の製造方法。
- 上記光伝送部材は、開口数が0.1以下の光ファイバーを用いたものであることを特徴とする請求項1または2に記載のマスクブランク用ガラス基板の製造方法。
- 上記検出工程において、短波長光を導入する光導入部が、ガラス基板の一端面における鏡面研磨された面取り面であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のマスクブランク用ガラス基板の製造方法。
- 上記検出工程では、清浄度がISOクラス4よりも高い清浄度の雰囲気で、ガラス基板へ短波長光を導入することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載のマスクブランク用ガラス基板の製造方法。
- 請求項1乃至5いずれかに記載のマスクブランク用ガラス基板の製造方法によって得られたマスクブランク用ガラス基板の主表面上に、マスクパターンとなる薄膜を形成してマスクブランクを製造することを特徴とするマスクブランクの製造方法。
- 請求項6に記載のマスクブランクにおける薄膜をパターニングして、マスクブランク用ガラス基板の主表面上にマスクパターンを形成し、露光用マスクを製造することを特徴とする露光用マスクの製造方法。
- 波長が200nm以下の短波長光を導入する一端面を有するガラス材料を準備する準備工程と、
このガラス材料の上記一端面から上記短波長光を導入し、当該ガラス材料の内部欠陥が発する、上記短波長光よりも長い波長の長波長光を上記表面の他方から受光し、この受光した長波長光に基づき上記内部欠陥を検出する検出工程とを有し、
上記検出工程で上記内部欠陥が実質的に存在しない上記ガラス材料を用いてリソグラフィー用ガラス部材を製造するリソグラフィー用ガラス部材の製造方法であって、
上記検出工程では、光照射装置の照射口から照射される上記短波長光を光伝送部材を経て、上記ガラス材料の上記一端面における光導入部へ導入し、
上記光伝送部材は、上記照射口から短波長光を入射する入射側端面が上記照射口の形状に対応し、上記短波長光を出射する出射側端面が上記光導入部の形状に対応してそれぞれ形成され、これらの入射側端面と出射側端面とが略同一面積に設定されたことを特徴とするリソグラフィー用ガラス部材の製造方法。
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