JP2007108078A

JP2007108078A - 不良検査装置および不良検査方法

Info

Publication number: JP2007108078A
Application number: JP2005300761A
Authority: JP
Inventors: Hideaki Kinoshita; 英明木下
Original assignee: Denso Ten Ltd
Current assignee: Denso Ten Ltd
Priority date: 2005-10-14
Filing date: 2005-10-14
Publication date: 2007-04-26

Abstract

【課題】検査時に履歴情報も参照することにより、見かけ上正常動作しているまたは規格値に入っている検査対象であっても、潜在的な故障や異常の兆候を発見できるようにして市場での不良発生を未然に防止することができる不良検査装置および不良検査方法を提供する。
【解決手段】履歴情報を、市場での不具合品の解析に利用するだけでなく、検査時に参照することによって、見かけ上正常に動いているデッキユニット２でも潜在的な故障や異常の兆候を発見できるようにして、不良品の市場流出を防止する。
【選択図】図１

Description

本発明は、不良検査装置および不良検査方法に関し、たとえば車載用機器の品質向上を図ることができる技術に関する。

本発明において「検査時」とは、製造工程における検査時、当該機器の製造メーカー出荷前における検査時、および製造メーカー出荷後にディーラ等の販売店における検査時の少なくともいずれか一つを含む。

製品の検査工程において、たとえば動作確認および性能検査などを実施している（たとえば特許文献１参照）。従来の検査工程では、単に正常動作するか否かを検出していた。（例１）たとえばディスクの「イジェクト」を何度もリトライした結果、正常動作した場合であっても正常品と判断されるし、リトライ動作を行うことなく一度のイジェクト指令で正常動作した場合であっても前記と同様に正常品と判断される。（例２）レーザダイオードの電流値を検査する際、このレーザダイオードが寿命末期で規格値ぎりぎりに入っている場合であっても正常品と判断される。このように従来の検査工程では、正常動作しないもの、規格値に入らないものを不良品として選別している。

特開２００４−２５３６０３号公報

従来の検査工程では、単に、正常動作しないもの、規格値に入らないものを不良品として選別しているので、一見、動作または性能上に現れてこないような問題に関しては、正常品として市場に流出してしまう。具体的に、前述の例１の場合には、正常動作していても、実際には何度もリトライした結果偶然何回目かに正常動作しただけかもしれない。それ故、潜在的な故障の兆候をつかむことができない。前述の例２の場合には、レーザーダイオードを含む製品が市場に出た直後に、このレーザーダイオードが寿命に至るおそれがある。

本発明の目的は、検査時に履歴情報も参照することにより、見かけ上正常動作しているまたは規格値に入っている検査対象であっても、潜在的な故障や異常の兆候を発見できるようにして市場での不良発生を未然に防止することができる不良検査装置および不良検査方法を提供することである。

本発明は、機器の良否を判断する検査方法において、
検査時に、当該機器に保持されている履歴情報に基づいて、当該機器の良否を判断する判断工程を有することを特徴とする不良検査方法である。

また本発明は、前記判断工程は、機器の動作上一旦正常と判断された当該機器の良否をさらに判断する段階を含むことを特徴とする。

また本発明は、機器の良否を判断する検査装置において、
検査時に、当該機器に保持されている履歴情報に基づいて、当該機器の良否を判断する判断手段を有することを特徴とする不良検査装置である。

本発明によれば、判断工程において、検査時に、機器に保持されている履歴情報に基づいて、当該機器の良否を判断するので、不良品となり得る機器が市場に流出することを防止できる。履歴情報を、市場での不具合品の解析に利用するだけでなく、検査時に参照することによって、見かけ上正常に動いている機器でも潜在的な故障や異常の兆候を発見できるようにして、不良品の市場流出を防止できる。

また本発明によれば、保持されている履歴情報によって、機器の動作上一旦正常と判断された当該機器であっても当該機器の良否をさらに判断した結果、不良品と判断されうる。このように不良品となり得る機器が市場に流出することをより確実に防止できる。

また本発明によれば、検査時に、機器に保持されている履歴情報に基づいて、当該機器の良否を判断するので、不良品となり得る機器が市場に流出することを防止できる。履歴情報を、市場での不具合品の解析に利用するだけでなく、検査時に参照することによって、機器の品質向上を図ることができる。

以下、図面を参照しながら本発明を実施するための形態を、複数の形態について説明する。各形態で先行する形態で説明している事項に対応している部分には同一の参照符を付し、重複する説明を略する場合がある。構成の一部のみを説明している場合、構成の他の部分は、先行して説明している形態と同様とする。実施の各形態で具体的に説明している部分の組合せばかりではなく、特に組合せに支障が生じなければ、実施の形態同士を部分的に組合せることも可能である。

図１は、本発明の実施形態に係る不良検査装置１等を示し、図１（ａ）はデッキユニット２との関係を概略示す図、図１（ｂ）はデッキユニット２の電気的構成を示すブロック図である。本実施形態では、良否を検査する機器として車載用のデッキユニットが適用される。ただし車載用以外の電子機器にも適用可能である。以下の説明は、不良検査方法の説明をも含む。本実施形態では、機器の半製品としてデッキユニットが適用される。デッキユニットの出荷後、たとえばデッキユニットとナビゲーション機能が一体型のナビゲーション装置に組み込まれる。

デッキユニット２は、たとえばデッキ制御マイクロコンピュータ３（デッキ制御マイコン３と称す）、電源４、ピックアップ装置５、駆動回路６、メカスイッチ７、サーマルセンサ８、記録手段としての不揮発性メモリ９、信号処理ＬＳＩ１０、過電流検知回路１１、図示外のＲＦアンプ、Ｄ／Ａコンバータおよびチェック用ランドなどを有する。デッキ制御マイコン３には、不良検査装置１が電気的に接続可能に構成されている。不良検査装置１を、検査機１または自動機１という場合がある。デッキ制御マイコン３は、中央演算処理装置（略称ＣＰＵ：Central Processing Unit）とＲＯＭ（ＲＯＭ：Read Only
Memory）とＲＡＭ（Random Access Memory）とを備えている。

検査機１は、検査用マイクロコンピュータ１２（検査マイコン１２と称す）と、駆動回路１５とを有する。検査マイコン１２は、判断手段としての中央演算処理装置１６（略称ＣＰＵ：Central Processing Unit）とＲＯＭ１７（ＲＯＭ：Read Only Memory）とＲＡＭ１８（Random Access Memory）とバス１３と入出力インタフェース１４とを備えている。入出力インタフェース１４に、駆動回路１５を介して出力手段としてのディスプレイなどが電気的に接続される。前記ロム１７に、後述する不良検査処理プログラムが格納されている。この不良検査処理プログラムの制御主体は、検査マイコン１２のＣＰＵ１６である。ただし、検査マイコン１２のＣＰＵ１６からの指令に基づいて、デッキ制御マイコン３のＣＰＵは、不揮発性メモリ９に所望の履歴情報が有るか否かを判断する。デッキ制御マイコン３のＣＰＵは、所望の履歴情報なしとの判断でその旨を検査マイコン１２のＣＰＵ１６に通知する。デッキ制御マイコン３のＣＰＵは、所望の履歴情報ありとの判断で、その履歴情報自体を検査マイコン１２のＣＰＵ１６に通知する。

図２は、メモリマップを示し、図２（ａ）は、履歴情報の発生箇所、音切れ回数および音飛ばし回数などを詳細に示す図、図２（ｂ）は、データエラー発生回数などを示す図である。前記不揮発性メモリ９には、電気的に消去（書き換え）できるＲＯＭ（
Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory：略称ＥＥＰＲＯＭ）が適用される。デッキユニット２に問題が発生したときに、このデッキユニット２の検査時における各種履歴情報がエラーコードとしてＥＥＰＲＯＭに記録される。本実施形態では、各種履歴情報が検査時においてＥＥＰＲＯＭに記録されるが、市場においても履歴情報としてＥＥＰＲＯＭに記録される。検査時の履歴情報か市場における履歴情報かは、たとえばコードの種類、フラグの有無、および記録されるべきアドレスの変更などの少なくともいずれか一つによって峻別される。

図３は、不良検査処理の例を表し、図３Ａは、傾向判断およびＬＤ電流値の絶対値判断を含むフローチャート、図３Ｂ（１）は傾向判断を含むフローチャート、図３Ｂ（２）はＬＤ電流値の絶対値判断を含むフローチャートである。本例においては、履歴情報として、レーザダイオード電流値の異常を判断している。レーザダイオード電流値を、フローチャートにおいて「ＬＤ電流値」と表記する。

この不良検査処理プログラムの制御主体は、検査マイコン１２のＣＰＵ１６である。検査マイコン１２のＣＰＵ１６からの指令に基づいて、デッキ制御マイコン３のＣＰＵは、不揮発性メモリ９に所望の履歴情報が有るか否かを判断する。デッキ制御マイコン３のＣＰＵは、所望の履歴情報なしとの判断でその旨を検査マイコン１２のＣＰＵ１６に通知する。デッキ制御マイコン３のＣＰＵは、所望の履歴情報ありとの判断で、その履歴情報自体を検査マイコン１２のＣＰＵ１６に通知するようになっている。前記検査マイコン１２のＣＰＵ１６を、「検査ＣＰＵ１６」と称す場合がある。前記デッキ制御マイコン３のＣＰＵを、「デッキＣＰＵ」と称す場合がある。

検査機１とデッキユニット２とが電気的に接続された検査時において、デッキユニット２の電源がオンとなることにより、この不良検査処理が開始する。開始後ステップｋ１に移行して、検査ＣＰＵ１６は、デッキユニット２の電源がオンで、かつ検査対象がＬＤ電流値であるか否かを判断する。これらの条件を満たすとステップｋ２に移行して、検査ＣＰＵ１６は、デッキＣＰＵに対して駆動回路６への駆動指令を行う。この駆動指令により、ピックアップ装置５のＬＤ電流値が記録可能となる。検査ＣＰＵ１６は、出力されるレーザダイオード電流値を、デッキ制御マイコン３の入出力インタフェース、および検査マイコン１２の入出力インタフェース１４を介してＲＡＭ１８に一時的に記録させる。ステップｋ１で前記条件を満たさないとき、本処理を終了する。

ステップｋ２の後、ステップｋ３に移行して、一時的に記録したＬＤ電流値が規定の良品の範囲内の値か否かを検査ＣＰＵ１６により判断する。ＬＤ電流値が良品の範囲内の値ならば（ステップｋ３：ＹＥＳ）、レーザダイオードは検査ＣＰＵ１６により一旦正常と判断されてステップｋ４に移行する。ステップｋ３で「否」と判断されると、レーザダイオードが不良品と判断された後、本処理を終了する。

ステップｋ４では、ＬＤ電流値の記録履歴があるか否かを、検査ＣＰＵ１６からの指令に基づいてデッキＣＰＵが判断する。デッキＣＰＵが所望の履歴情報なしと判断すると、その旨を検査ＣＰＵ１６に通知し、レーザダイオードは検査ＣＰＵ１６により正常と判断された後、本処理を終了する。ステップｋ４においてＬＤ電流値の記録履歴ありとの判断で、デッキＣＰＵはその履歴情報自体（つまり不揮発性メモリ９に記録された全てのＬＤ電流値）を検査ＣＰＵ１６に通知する。

次にステップｋ５（ａ）に移行して、検査ＣＰＵ１６は履歴情報自体から傾向判断する。具体的には、ＬＤ電流値が規定の良品の範囲内の値には現状入っているものの、時系列で（徐々に）良品の範囲内から外れるような傾向であるかが判断される。ここで「否」との判断でステップｋ６（ａ）に移行する。不良品となる傾向であると判断されると、一旦正常と判断されたレーザダイオードが不良品と判断された後、本処理を終了する。

ステップｋ６（ａ）では、検査ＣＰＵ１６は、不揮発性メモリ９に記録された全てのＬＤ電流値であって、読み出された全てのＬＤ電流値の絶対値（ΔＩ）が規定の良品の範囲内に入っているか否かを判断する。具体的には、ＬＤ電流値が規定の良品の範囲内の値に入っているが、前記ＬＤ電流値の±δ（δはそのＬＤ電流値のたとえば１０％の値）では、良品の範囲内から外れる場合があり得る判断手法である。このような読み出された各ＬＤ電流値からδを除した値から、各ＬＤ電流値にδを加えた値までを、ＬＤ電流値の絶対値（ΔＩ）と定義し、良品の範囲内から外れそうなレーザダイオードを未然に排除するようになっている。ステップｋ６（ａ）で「否」と判断されると、一旦正常と判断されたレーザダイオードが検査ＣＰＵ１６によって不良品と判断された後、本処理を終了する。絶対値（ΔＩ）が良品の範囲内であると判断されると、検査ＣＰＵ１６は、このレーザダイオードを正常と判断し、その後本処理を終了する。

本処理終了後、たとえば図４、図５に示す不良検査処理を続行する。検査ＣＰＵ１６がレーザダイオードを正常と判断すると、この検査ＣＰＵ１６は、駆動回路１５を介してディスプレイにその旨、たとえば「デッキユニット型番＊＊＊、レーザダイオード（正常）」を出力するように制御する。検査ＣＰＵ１６がレーザダイオードを不良品と判断とすると、この検査ＣＰＵ１６は、駆動回路１５を介してディスプレイにその旨、たとえば「デッキユニット型番＊＊＊、レーザダイオード（不良品）」を出力するように制御する。ただしディスプレイ以外の出力手段に出力制御するようにすることも可能である。

図３Ａのフローチャートは、傾向判断およびＬＤ電流値の絶対値判断を含んでいるが、必ずしもこの形態に限定されるものではなく、図３Ｂ（１）、図３Ｂ（２）に示すように、傾向判断およびＬＤ電流値の絶対値判断のいずれか一方を含むフローチャートにする場合もあり得る。図３Ｂ（１）では、ステップｋ４：ＹＥＳのとき、ステップｋ５（ｂ）に移行して、検査ＣＰＵ１６は履歴情報自体から傾向判断する。ここで「否」との判断で、検査ＣＰＵ１６は、このレーザダイオードを正常と判断し、その後本処理を終了する。不良品となる傾向であると判断されると、一旦正常と判断されたレーザダイオードが不良品と判断された後、本処理を終了する。図３Ｂ（２）では、ステップｋ４：ＹＥＳのとき、ステップｋ５（ｃ）に移行して、検査ＣＰＵ１６は、記録された全てのＬＤ電流値の絶対値（ΔＩ）が規定の良品の範囲内に入っているか否かを判断する。ここで「否」と判断されると、一旦正常と判断されたレーザダイオードが検査ＣＰＵ１６によって不良品と判断された後、本処理を終了する。絶対値（ΔＩ）が良品の範囲内であると判断されると、検査ＣＰＵ１６は、このレーザダイオードを正常と判断し、その後本処理を終了する。図３Ｂ（１）、図３Ｂ（２）に示すフローチャートでは、図３Ａに示すフローチャートよりも処理工程を簡単化でき、検査ＣＰＵ１６の処理負荷を軽減することができる。

図４は、不良検査処理の一例を表すフローチャートである。本例においては、ディスク排出不良を検出している。検査機１とデッキユニット２とが電気的に接続された検査時において、デッキユニット２の電源がオンとなることにより、このディスク排出検査処理が開始する。ステップｓ１において、検査ＣＰＵ１６は、デッキＣＰＵを介してデッキユニット２に対し、イジェクト指示を行う。具体的には、ディスク排出用駆動モータによって排出駆動が行われる。次にステップｓ２に移行して、検査ＣＰＵ１６は、デッキＣＰＵを介して、図示外のスイッチなどによるディスク排出完了信号の有無を判断する。検査ＣＰＵ１６が排出完了信号ありと判断すると、検査ＣＰＵ１６はディスク排出検査を一旦正常と判断したうえで、ステップｓ３に移行する。排出完了信号なしとの判断で、ステップｓ４に移行し、所定時間ｔ１（ｔ１はたとえば４秒）経過したか否かを検査ＣＰＵ１６により判断する。所定時間ｔ１経過していないと判断されると、ステップｓ２に戻り、所定時間ｔ１経過したと判断されると、検査ＣＰＵ１６はディスク排出不良と判断し、その後本処理を終了する。

ステップｓ３では、不揮発性メモリ９に排出記録履歴があるか否かを、検査ＣＰＵ１６からの指令に基づいてデッキＣＰＵが判断する。デッキＣＰＵが排出記録履歴なしと判断すると、その旨を検査ＣＰＵ１６に通知し、検査ＣＰＵ１６はディスク排出正常と判断した後本処理を終了する。排出記録履歴ありとの判断で、ステップｓ５に移行する。ここで検査ＣＰＵ１６は、ディスク排出のリトライ回数がＮ_０（Ｎ_０は予め定める回数）より大か否かを判断する。Ｎ_０はたとえば２回に設定されるが、２回に限定されるものではない。「大」との判断で、検査ＣＰＵ１６はディスク排出異常と判断した後本処理を終了する。「否」との判断で、検査ＣＰＵ１６はディスク排出正常と判断した後本処理を終了する。本処理終了後、たとえば図５に示す不良検査処理を続行する。

図５は、不良検査処理の一例を表すフローチャートである。検査機１とデッキユニット２とが電気的に接続された検査時において、デッキユニット２の電源がオンとなることにより、本処理が開始する。先ずステップａ１において、検査ＣＰＵ１６は、デッキＣＰＵを介してデッキユニット２に対し、再生指示を行う。具体的には、デッキユニット２の図示外のスピンドルモータ、ピックアップ装置５などによって再生駆動が行われる。次にステップａ２に移行して、検査ＣＰＵ１６は、デッキＣＰＵを介し、ピックアップ装置５などを用いて再生したか否かを判断する。「否」との判断でステップａ３に移行して、不揮発性メモリ９に再生不良の記録履歴があるか否かを、検査ＣＰＵ１６からの指令に基づいてデッキＣＰＵが判断する。ステップａ２で再生したと判断されると、検査ＣＰＵ１６は、ディスク再生正常と一旦判断した後ステップａ５に移行する。

デッキＣＰＵが再生不良の記録履歴なしと判断すると、その旨を検査ＣＰＵ１６に通知し、検査ＣＰＵ１６はディスク再生異常と判断した後本処理を終了する。再生不良の記録履歴ありとの判断で、ステップａ４に移行する。ここで検査ＣＰＵ１６は、不揮発性メモリ９の記録履歴がたとえば「ディスクなし」、「異なるディスク種別」などによる再生不良（ディスク原因等不良と称す）であるか否かを判断する。不揮発性メモリ９において、再生不良が、ディスク原因等不良か否か（ピックアップ装置５、センサなどデッキ固有の再生不良か）は、たとえばフラグの有無、アドレスの違いなどによって峻別して記録しておく。なおピックアップ装置５、センサなどに起因する再生不良が過去発生していた場合には、前記のように不揮発性メモリ９に、ディスク原因等不良以外の再生不良があった旨を記録するとともに、本不良検査処理前に、不良原因であるピックアップ装置５の交換、または修理を行っているものとする。ステップａ４で「否」との判断で、検査ＣＰＵ１６はディスク再生異常と判断し、その後本処理を終了する。ステップａ４でディスク原因等不良との判断で、検査ＣＰＵ１６はディスク再生正常と判断し、その後本処理を終了する。

ステップａ５において、不揮発性メモリ９に再生不良の記録履歴があるか否かを、検査ＣＰＵ１６からの指令に基づいてデッキＣＰＵが判断する。「否」との判断で、検査ＣＰＵ１６はディスク再生正常と判断し、その後本処理を終了する。ステップａ５において、再生不良の記録履歴ありとの判断で、ステップａ６に移行する。ここで検査ＣＰＵ１６は、不揮発性メモリ９は、不揮発性メモリ９の記録履歴がディスク原因等不良であるか否かを判断する。「否」との判断で、検査ＣＰＵ１６はディスク再生異常と判断した後本処理を終了する。ステップａ６でディスク原因等不良との判断で、検査ＣＰＵ１６はディスク再生正常と判断し、その後本処理を終了する。

以上説明した不良検査装置および不良検査方法によれば、検査時に、デッキユニット２の不揮発性メモリ９に記録されている履歴情報に基づいて、当該デッキユニット２の良否を判断するので、不良品となり得るデッキユニット２が市場に流出することを防止できる。したがって、見かけ上正常に動いているデッキユニット２でも潜在的な故障や異常の兆候を発見できるようにして、不良品の市場流出を防止できる。また不揮発性メモリ９に記録されている履歴情報によって、デッキユニット２の動作上一旦正常と判断されたデッキユニット２であっても当該デッキユニット２の良否をさらに判断した結果、不良品と判断されうる。このように不良品となり得るデッキユニット２が市場に流出することをより確実に防止できる。

図３Ａに示すように、不揮発性メモリ９に記録されるべきＬＤ電流値によって、ステップｋ５（ａ）に示す傾向判断および、ステップｋ６（ａ）に示すＬＤ電流値の絶対値判断を実行しているので、動作上一旦正常と判断されたレーザダイオードであっても、良品の範囲内から外れそうなレーザダイオードを未然に排除することができる。したがって市場に出荷された後、直ぐに不良品になりそうなデッキユニット２が市場に流出することを防止することができる。

図４に示すように、不揮発性メモリ９に記録されるべきイジェクトのリトライ回数によって、ディスク排出の良否を判断しているので、動作上一旦正常と判断されたディスク排出動作であっても、良品の範囲内から外れそうなものを未然に排除することができる。したがって市場に出荷された後、直ぐに不良品となりそうなデッキユニット２が市場に流出することを防止することができる。図５に示すように、不揮発性メモリ９の記録履歴がディスク原因等不良であった場合には、検査ＣＰＵ１６はディスク再生正常と判断するので、ピックアップ装置５、センサなどデッキユニット２自体に原因のある不良品の市場への流出を防止することができる。その他、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を付加した形態で実施することも可能である。

本発明の実施形態に係る不良検査装置１等を示し、図１（ａ）はデッキユニット２との関係を概略示す図、図１（ｂ）はデッキユニット２の電気的構成を示すブロック図である。メモリマップを示し、図２（ａ）は、エラーコードの発生箇所、音切れ回数および音飛ばし回数などを詳細に示す図、図２（ｂ）は、データエラー発生回数などを示す図である。不良検査処理の例を表し、傾向判断およびＬＤ電流値の絶対値判断を含むフローチャートである。不良検査処理の例を表し、図３Ｂ（１）は傾向判断を含むフローチャート、図３Ｂ（２）はＬＤ電流値の絶対値判断を含むフローチャートである。不良検査処理の一例を表すフローチャートである。不良検査処理の一例を表すフローチャートである。

符号の説明

１不良検査装置
２デッキユニット
３デッキ制御マイコン
９不揮発性メモリ
１２検査マイコン
１６ＣＰＵ
１７ロム

Claims

機器の良否を判断する検査方法において、
検査時に、当該機器に保持されている履歴情報に基づいて、当該機器の良否を判断する判断工程を有することを特徴とする不良検査方法。
前記判断工程は、機器の動作上一旦正常と判断された当該機器の良否をさらに判断する段階を含むことを特徴とする請求項１記載の不良検査方法。
機器の良否を判断する検査装置において、
検査時に、当該機器に保持されている履歴情報に基づいて、当該機器の良否を判断する判断手段を有することを特徴とする不良検査装置。