JP2007106738A - エチレン及びプロピレンの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 炭化水素原料から接触転化によってエチレン及びプロピレンを製造するための、高収率、高選択性、耐コーキング劣化性、耐再生劣化性に優れた触媒の提供。
【解決手段】炭化水素原料を、反応器内で下記の(1)〜(6)の要件を満たすゼオライト含有成型体触媒と接触させて、該オレフィンの接触転化反応を行ってエチレン、プロピレンを製造する。
(1)該ゼオライトが、5〜6.5Åの細孔径を有する中間細孔径ゼオライトである。
(2)該ゼオライトが実質的にプロトンを含まない。
(3)該ゼオライトが周期律表第IB族に属する金属よりなる群から選ばれる少なくとも1種の金属を含有する。
(4)該ゼオライト含有成型体触媒がシリカをバインダーとするものである。
(5)該ゼオライト含有成型体触媒の圧潰強度が2.5N/mm以上である。
(6)該ゼオライト含有成型体触媒のH交換型でのナトリウム含有量が500ppm以下である。
【選択図】 なし
Description
しかしながら、オレフィン類を含有する炭化水素原料を、ゼオライトを含有する触媒を用いて接触転化し、エチレン及びプロピレンを効率よく、且つ長期間に亘り安定に製造することは、以下の理由により困難であった。
上記の通り、ゼオライトを含有する触媒を用いてオレフィン類を含有する炭化水素原料の接触転化反応を行うと、特にコーキングが起こり易く、その為再生操作を頻繁に行う必要があるので、再生劣化が非常に起こり易い。
特許文献3および4には、アルミノリン酸塩系モレキュラーシーブを用いて、ブテンをエチレンおよびプロピレンに転換する方法が開示されている。しかしこの方法においても、エチレンおよびプロピレンの収率が低い。
特許文献6には、リンを含有する特定のプロトン型ZSM5ゼオライトを用いて炭素数3〜20の炭化水素をエチレン及びプロピレンに転化する方法が開示されている。しかしこの方法では、オレフィンを原料とした場合に関しては、原料供給1分後の初期性能しか評価されていない。
この方法で用いられる触媒は、再生劣化を起こしにくい点では有効であるが、コーキング劣化に関する問題は解決されていない。従って、オレフィンを多く含有する炭化水素原料を用いた際には、コーキング劣化を起こし易い。
[1]少なくとも1種の炭素数4〜12のオレフィンを20質量%以上含有する炭化水素原料を、固定床型反応器内でゼオライト含有成型体触媒と接触させて、該少なくとも1種の炭素数4〜12のオレフィンの接触転化反応を行うことにより、エチレン及びプロピレンを製造する方法であって、該ゼオライト含有成型体触媒が、下記の要件(1)〜(6)を満たすことを特徴とするエチレン及びプロピレンの製造方法。
(1)該ゼオライトが、5〜6.5Åの細孔径を有する中間細孔径ゼオライトである。
(2)該ゼオライトが実質的にプロトンを含まない。
(3)該ゼオライトが周期律表第IB族に属する金属よりなる群から選ばれる少なくとも1種の金属を含有する。
(4)該ゼオライト含有成型体触媒がシリカをバインダーとするものである。
(5)該ゼオライト含有成型体触媒の圧潰強度が2.5N/mm以上である。
(6)該ゼオライト含有成型体触媒のH交換型でのナトリウム含有量が500ppm以下である。
[2]前記炭化水素原料が、少なくとも1種の炭素数4〜12のオレフィンを、該炭化水素原料の重量に対して50質量%以上含有することを特徴とする、上記[1]に記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
[3]前記ゼオライト含有成型体触媒中のゼオライトが、イオン交換により銀とアルカリ金属を担持し、且つ、実質的にプロトンを含まないことを特徴とする、上記[1],[2]に記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
[4]前記ゼオライト含有成型体触媒中のゼオライトが、ZSM−5型ゼオライトよりなる群から選ばれることを特徴とする、上記[1]〜[3]に記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
[5]前記ゼオライト含有成型体触媒中のゼオライトのシリカアルミナモル比が800以上2,000以下であることを特徴とする、上記[1]〜[4]に記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
[6]前記ゼオライト含有成型体触媒の成型に際して、シリカバインダー源として、5〜40nmの粒子径を有するシリカゾルを用いることを特徴とする上記[1]〜[5]に記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
[7]前記ゼオライト含有成型体触媒が、炭化水素原料との接触に先立ち、水蒸気の存在下、500℃以上の温度で加熱処理されていることを特徴とする、上記[1]〜[6]に記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
[8]前記固定床型反応器が、断熱型固定床型反応器であることを特徴とする、上記[1]〜[7]に記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
[9]前記接触転化反応の反応条件が、反応温度:500〜580℃、炭化水素原料の分圧:0.05〜0.3MPa、重量時間空間速度:2〜10hr−1であることを特徴とする、上記[1]〜[8]に記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
本発明の方法においては、少なくとも1種の炭素数4〜12のオレフィンを20質量%以上含有する炭化水素原料を、エチレンおよびプロピレンを製造するための原料として用いる。
本発明の方法において「炭化水素原料」とは、炭素数1〜12の炭化水素、例えば炭素数1〜12のノルマルパラフィン、イソパラフィン、オレフィン、シクロパラフィン(ナフテン)、側鎖アルキル基を有するシクロパラフィンよりなる群から選ばれる、少なくとも1種を主に含む原料を表わす。
尚、本発明の方法の構成要件である「オレフィン」という用語は、直鎖状、分岐状及び環状オレフィンに加え、シクロパラフィンをも含む用語として用いる。
オレフィンの含有量が20質量%未満では、エチレン及びプロピレンの収量が不充分になってしまうので、本発明においては、上記炭化水素原料は、少なくとも1種の炭素数4〜12のオレフィンを、20質量%以上、好ましくは30質量%以上、更に好ましくは40質量%以上、最も好ましくは50質量%以上含有する。
また上記の炭化水素原料は、ターシャリーブタノール、メチルターシャリーブチルエーテル、メタノール等の含酸素化合物を不純物として少量含んでいてもよい。
(1)ナフサなどの石油系炭化水素を熱分解して得られる生成物から分離されるC4留分及びC5留分、および該C4留分及びC5留分中のジオレフィンをオレフィンに部分水素化した留分、
(2)上記C4留分からブタジエンおよびイソブテンの一部若しくは全部を分離除去した留分、
(3)上記C5留分からイソプレンおよびシクロペンタジエンの一部若しくは全部を分離除去した留分、
(4)減圧軽油などの石油系炭化水素を流動接触分解(FCC)して得られる生成物から分離されるC4留分およびガソリン留分、および
(5)コーカーから分離されるC4留分およびガソリン留分。
またこれらは、単独で用いても、2種以上を混合して用いてもよい。
「中間細孔径ゼオライト」という用語は、「細孔径の範囲が、A型ゼオライトに代表される小細孔径ゼオライトの細孔径と、モルデナイトやX型やY型ゼオライトに代表される大細孔径ゼオライトの細孔径の中間にあるゼオライト」を意味し、その結晶構造中にいわゆる酸素10員環を有するゼオライトである。
また、P.A.Jacobs and J.A.Martens著“Stud.Surf.Sci.Catal.”33,P.167−215(1987、オランダ)に記載の、ZSM−5、ZSM−11に類似のゼオライトを用いることもできる。
これらのうち、ZSM−5が特に好ましい。
本発明の方法における「実質的にプロトンを含まない」とは、後述する液相イオン交換/濾液滴定法によって求めた、上記ゼオライト中のプロトン量(酸量)が、上記ゼオライト1グラムあたり0.02ミリモル以下であることを意味する。好ましくは、上記ゼオライト1グラムあたりのプロトン量が、0.01ミリモル以下のゼオライトである。
この方法を用いたプロトン量の測定は以下のようにして行うことができる。
尚、アンモニウムイオン型及び多価金属カチオン型ゼオライト(例えば希土類金属カチオン型ゼオライト)は、加熱処理によりプロトンを生成することが知られている。
従って、上記の方法によるプロトン量の測定に先立って、ゼオライト含有成型体触媒を焼成処理する必要がある。
尚、本発明において、「周期律表」とは、CRC Handbook of Chemistry and Physics,75th edition [(David R.Lideら著、CRC Press Inc.発行(1994−1995年)]、1−15頁に記載の周期律表を示すものとする。
ゼオライトにIB族金属を含有させる方法の例としては、IB族金属を含有していないゼオライトを、公知のイオン交換法により処理する方法にて含有させる。
イオン交換法によってゼオライトにIB族金属を含有させる場合、IB族金属の塩を使用する必要がある。IB族金属の塩としては、例えば硝酸銀、酢酸銀、硫酸銀、塩化銅、硫酸銅、硝酸銅、塩化金等が挙げられる。
なお、ゼオライト中のIB族金属の含有量は、公知の方法、例えばX線蛍光分析法などにより求めることができる。
即ち、本発明の方法におけるゼオライト含有成型体触媒のゼオライトは、アルカリ金属およびアルカリ土類金属から選ばれる少なくとも1種の金属と、IB族金属の両方を含有するゼオライトであることになる。
アルカリ金属およびアルカリ土類金属から選ばれる少なくとも1種の金属の含有量は金属の種類により異なるが、イオン交換により担持させるものであるので、交換容量、ゼオライト含有成型体触媒中のゼオライト含有量、IB族金属のイオン交換担持量から自ずと定まるものである。
例えば、本発明のゼオライト含有成型体触媒として、銀/ナトリウムカチオン交換型に調製する場合には、ゼオライト含有成型体触媒中にアルカリ成分が存在すると一部の銀が銀カチオンとして担持出来ないため、成型時にはゼオライトはプロトン型に転換しておくことが必要である。従って、プロトン型ゼオライトとして成型されたゼオライト含有成型体触媒を先ず、ナトリウム型に交換(好ましくは、硝酸ナトリウム水溶液を用いる)し、ナトリウム型(非プロトン型)にせしめた後、銀カチオンを交換導入(好ましくは硝酸銀水溶液を用いる)する方法が好ましい。
シリカアルミナモル比が800を下回ると、転化反応に伴うコーキングによってゼオライト含有成型体触媒の劣化が速くなり好ましくはない。
一方、シリカアルミナモル比が2,000を超えると触媒調製上の問題が大きい。高シリカアルミナ比ゼオライト含有成型体触媒の触媒活性を維持する為、同等量の銀含有量に調製する為には、ゼオライトのイオン交換率を高める必要がある。しかし、本発明のゼオライト含有成型体触媒をイオン交換によって、非プロトン、IB属金属交換型に調製する際、交換率が高くなるにつれてイオン交換効率が悪化するので、シリカアルミナモル比が2,000を超えるゼオライトは好ましくない。
ゼオライトのシリカアルミナモル比は、公知の方法、例えばゼオライトをアルカリ水溶液、或いは、フッ酸水溶液に完全に溶解し、得られた溶液をプラズマ発光分光分析法などにより分析し、求めることができる。
その場合、メタロアルミノシリケートまたはメタロシリケート中における上記の元素の含有量をアルミナのモル数に換算した上で、シリカアルミナモル比を算出する。
本発明の方法においてゼオライト含有成型体触媒のバインダーとして用いるシリカバインダーは、触媒に対して不活性であり、触媒性能に影響を与えない。これに対して、一般的に触媒バインダーに用いられるアルミナ、シリカ/アルミナ等を本発明において用いるシリカバインダーに替えて用いると、このバインダーは触媒に対して不活性では無く、コーキング劣化を促進させてしまい、ゼオライト触媒本来の極めて高い耐コーキング劣化性能を損なってしまう。
本発明の方法におけるゼオライト含有成型体触媒にマトリックスまたはバインダーとして用いられるシリカの含有量は、ゼオライトとマトリックスまたはバインダーの重量の合計に対して、好ましくは10〜90質量%、より好ましくは20〜50質量%の範囲である。
ナトリウムの量が触媒性能に影響する原因については定かではないが、バインダーであるシリカのシンタリング(凝集、凝結)を促進し、強固なネットワークが形成されるので、触媒強度は増すが、一方、ゼオライト細孔内への拡散が阻害され、反応活性の低下、耐コーキング劣化性の低下を引き起こすものと推定される。
本発明における触媒圧潰強度(サイドクラッシュストレングス)は、加圧面直径3mmのピンで押して横方向に置かれた触媒成型体が潰れた時の圧力を測定する硬度計(木屋式硬度計)での測定値(N)を加圧面直径(3mm)で除した値(N/mm)で示す。なお、圧潰強度はゼオライト含有成型体触媒の含水率によって変化するので、本発明のいう触媒圧潰強度は、ゼオライト含有成型体触媒を120℃×3Hr以上乾燥させた状態で上記方法で測定される圧潰強度である。
本発明の方法におけるゼオライト含有成型体触媒に本発明の所要圧潰強度を付与するには、勿論、押し出し成型時の水分管理等、成型方法の制御も重要であるが、バインダー源として用いられるシリカゾルの物性に拠るところが大きい。シリカゾル中に含まれるアルカリ成分(ナトリウム)は、触媒強度の発現に効果的ではあるが、既に述べたように、ナトリウムの存在は、触媒性能に影響するので本発明の方法には相応しくない。好ましくは、先に述べた様に成型時にバインダーとして用いるシリカゾルの粒子径を選択する事が挙げられる。本発明の方法の5〜40nmの粒子径を持つシリカゾルをバインダーに採用することで、触媒強度を向上せしめる事ができる。
本発明の方法において、炭化水素原料をゼオライト含有成型体触媒と接触させるための反応器は、固定床型反応器が用いられる。
尚、実施例及び比較例において行われた測定は以下の通りである。
乳鉢でらいかいし、空気中400〜600℃の温度で焼成したゼオライト含有成型体触媒2.5gを、3.4モル/リットルのNaCl水溶液25ml中で氷冷下10分間イオン交換を行う。得られる混合物を濾過した後、50mlの純水でゼオライトを洗浄し、洗浄に用いた水を含む濾液を全量回収する。この濾液(洗浄に用いた水を含む)を0.1NのNaOH水溶液により中和滴定し、中和点からプロトン量を求め、これをゼオライト含有成型体触媒中のゼオライト含有量から、ゼオライト重量基準として換算する。
ゼオライト0.2gを5NのNaOH水溶液50gに加える。これをテフロン(登録商標)製内管付きのステンレス製マイクロボンベに移し、マイクロボンベを密閉する。オイルバス中で15〜70時間保持することにより、ゼオライトを完全に溶解せしめる。得られたゼオライトの溶液をイオン交換水で希釈し、希釈液中の珪素、アルミニウム濃度をプラズマ発光分光分析計(ICP装置)にて測定し、その結果からゼオライトのシリカアルミナモル比を計算する。
ICP装置及び、測定条件
装置:JOBIN YVON(JY138 ULTRACE)理学電気社製
測定条件
珪素測定波長 : 251.60nm
アルミニウム測定波長: 396.152nm
プラズマパワー : 1.0kw
ネブライザーガス : 0.28L/min
シースガス : 0.3〜0.8L/min
クーラントガス : 13L/min
粉砕されたH交換型ゼオライト含有成型体触媒0.2gをテフロン(登録商標)容器に秤量し、硝酸(68%超高純度品)6ml、フッ酸(超高純度品)1mlを加えて、マイクロウェーブ試料前処理装置(マイルストーンゼネラル社製 ETHOS PLUS)を用い、分解温度190℃、マイクロ波パワー1000W、処理時間50分の条件下、分解溶解させた。
溶解後、得られたゼオライト含有成型体触媒の溶液にイオン交換水を加えて20gに希釈し、希釈液中のナトリウム濃度をプラズマ発光分光分析計(ICP装置)にて測定し、その結果からゼオライト含有成型体触媒中のナトリウム濃度を計算する。
ゼオライト含有成型体触媒を予め、120℃で3時間以上乾燥させておく。加圧面直径3mmのピンを持つ、自動木屋式硬度計((株)藤原製作所製)で横方向に置かれた触媒成型体が潰れた時の圧力を測定する。この測定値(N)を加圧面直径(3mm)で除した値(N/mm)で示す。
転化率(ブテン基準のオレフィン転化率)は次式によって算出する。
転化率=(原料中の炭素数4〜8のオレフィン濃度−生成物中のブテン濃度)/原料中の炭素数4〜8のオレフィン濃度
エチレン、プロピレン収率は、生成物中のエチレン、プロピレン濃度(質量%)で示す。
シリカアルミナモル比が1068(該ゼオライト含有成型体触媒を完全溶解させてICP法で測定して求めた。)であるH型ZSM5ゼオライトを、日産化学工業株式会社製のコロイダルシリカ、スノーテックスST−N(カタログ値:SiO2濃度20質量%、粒子径10〜20nm、Na2O含有量0.04質量%以下)と混合し、水分調整した後、押し出し成型した。得られた成型体を120℃で6時間乾燥後、550℃で6時間焼成し、ゼオライト含有成型体触媒(SiO2バインダー30質量%含有、1.6mmφ*5〜10mmL)を得た。得られたゼオライト含有成型体触媒を1N−硝酸水溶液中に(10cc/g−ゼオライト成型体)分散させ、室温、1時間のイオン交換処理を行った。次いで濾過、水洗、乾燥を行い、H交換型ZSM−5/SiO2成型体触媒を調製した。
得られたH交換型ZSM−5/SiO2成型体触媒をフッ酸溶解法にてナトリウム濃度を測定したところ、230wtppmであった。
得られたH交換型ZSM−5/SiO2成型体触媒を、1N硝酸ナトリウム水溶液(10cc/g−ゼオライト成型体)中に分散させ、室温、1時間のイオン交換処理を3回繰り返した。次いで濾過、水洗、乾燥を行い、Na交換型ZSM−5/SiO2成型体触媒を調製した。これを、0.00145N硝酸銀水溶液(10cc/g−ゼオライト成型体)中に分散させ、室温、2時間イオン交換処理する。次いで濾過、水洗、乾燥して触媒Aを調製した。
一方、木屋式硬度計で測定した触媒Aの30粒の平均圧潰強度は、6.3N/mmであった。
触媒Aを内径27.2mmφのハステロイC製反応器に充填し、温度650℃、スチーム流量218g/hr、窒素流量220NL/hrの条件で5時間スチーミングを行った。
スチーミング処理後の触媒Aのプロトン量を液相イオン交換/濾液滴定法により求めたところ0.0015mmol/g−ゼオライトであった。
スチーミング処理後の触媒A60gを、内径27.2mmφで、反応管出口に粉化触媒回収用として2μmのSUS焼結フィルターを付属したハステロイC製反応器に充填した。
表1に示すC4ラフィネート−2(ナフサをスチームクラッキングして得られるC4留分から、ブタジエン及びイソブテンを抽出して得られる)を原料とし、反応温度550℃、C4ラフィネート−2の供給量 435g/hr(WHSV=7.25hr−1)、0.1MPaGの条件で反応を行った。
尚、ガスクロマトグラフによる分析は以下の条件で行った。
(ガスクロマトグラフ分析条件)
装置: 島津製作所社製GC−17A
カラム:米国SUPELCO社製カスタムキャピラリーカラム SPB−1(内径 0.25mm、長さ 60m、フィルム厚 3.0μm)
サンプルガス量: 1ml(サンプリングラインは200〜300℃に保温)
昇温プログラム: 40℃で12分間保持し、次いで5℃/分で200℃まで昇湿した後、200℃で22分間保持する。
スプリット比: 200:1
キャリアーガス(窒素)流量:120ml/分
FID検出器:エアー供給圧 50kPa(約500ml/分)、水素供給圧 60kPa(約50ml/分)
測定方法:TCD検出器とFID検出器を直列に連結して、水素及び炭素数1及び2の炭化水素をTCD検出器で検出し、炭素数3以上の炭化水素をFID検出器で検出する。分析開始10分後に、検出の出力をTCDからFIDに切り替える。
適宜、反応生成物の分析を実施しながら、48時間継続して反応を行なった。結果を表2に示す。
48時間で原料の供給を停止したのち、暫く、窒素パージにより系内の置換を行いながら、触媒層温度を480℃まで降温した。しかるのち、1%酸素/99%窒素ガスを16.8NL/Hで供給し、触媒に付着したコークの燃焼除去(再生)を開始した。出口ガス中のCO,CO2濃度を測定しながら、燃焼温度、酸素濃度を徐々に上げて行き、最終的には12時間、処理温度580℃、酸素濃度5vol%にて再生を終了した。
再生後のゼオライト含有成型体触媒を再度、上記条件にて48時間の反応に供した。同様にして、48時間反応/12時間再生のサイクルを20回繰り返した。結果を表3に示す。触媒の性能(初期活性、耐コーキング劣化性能)が変化することは無かった。また、20サイクルの間、反応管入口と出口の差圧は変化しなかった。
本実施例から、本発明のゼオライト含有成型体触媒は、ゼオライトの触媒性能を損なう事が無く、高活性で極めて高い耐コーキング劣化性能と耐再生劣化性能を発現しており、また、頻繁な反応/再生の繰り返し運転でも触媒が粉化することが無いことが判る。
触媒成型用バインダーに、日産化学工業株式会社製のコロイダルシリカ、スノーテックスST30(カタログ値:SiO2濃度30質量%、粒子径10〜20nm、Na2O含有量0.6質量%以下)を用いた他は、実施例1と同様にしてゼオライト含有成型体触媒H交換型を調製した。
得られたH交換型ZSM−5/SiO2成型体触媒をフッ酸溶解法にてナトリウム濃度を測定したところ、2200wtppmであった。
得られたH交換型ZSM−5/SiO2成型体触媒を、1N硝酸ナトリウム水溶液(10cc/g−ゼオライト成型体)中に分散させ、室温、1時間のイオン交換処理を3回繰り返した。次いで濾過、水洗、乾燥を行い、Na交換型ZSM−5/SiO2成型体触媒を調製した。これを、0.00145N硝酸銀水溶液(10cc/g−ゼオライト成型体)中に分散させ、室温、2時間イオン交換処理する。次いで濾過、水洗、乾燥して触媒Bを調製した。
一方、木屋式硬度計で測定した触媒Bの30粒の平均圧潰強度は、7.5N/mmであった。
触媒Bを内径27.2mmφのハステロイC製反応器に充填し、温度650℃、スチーム流量218g/hr、窒素流量220NL/Hrの条件で5時間スチーミングを行った。
スチーミング処理後の触媒Aのプロトン量を液相イオン交換/濾液滴定法により求めたところ0.0015mmol/g−ゼオライトであった。
スチーミング処理後の触媒Bを用いた他は、実施例1と同様の条件にて反応実験を行なった。反応結果を表2に示す。
活性劣化が顕著であり、反応開始20時間後には転化率32%にまで低下したので実験を中止した。2時間後と20時間後でのプロピレン収率差は、9.5%であった。
本比較例より、本発明の規定するH型ゼオライト含有成型体触媒でのナトリウム量が500ppm以上含有するものは、シリカのシンタリングにより強固な触媒(高強度)が得られるが、ゼオライト細孔への拡散が阻害されるものと思われ、コーキング劣化が顕著であり、ゼオライト本来の耐劣化性が著しく損なわれている事が判る。
触媒成型用バインダーに、日産化学工業株式会社製のコロイダルシリカ、スノーテックスST−OL(カタログ値:SiO2濃度20質量%、粒子径40〜50nm、Na2O含有量0.05質量%以下)を用いた他は、実施例1と同様にしてH交換型ZSM−5/SiO2成型体触媒を調製した。
得られたH交換型ZSM−5/SiO2成型体触媒をフッ酸溶解法にてナトリウム濃度を測定したところ、330wtppmであった。
得られたH交換型ZSM−5/SiO2成型体触媒を、1N硝酸ナトリウム水溶液(10cc/g−ゼオライト成型体)中に分散させ、室温、1時間のイオン交換処理を3回繰り返した。次いで濾過、水洗、乾燥を行い、Na交換型ZSM−5/SiO2成型体触媒を調製した。これを、0.00145N硝酸銀水溶液(10cc/g−ゼオライト成型体)中に分散させ、室温、2時間イオン交換処理する。次いで濾過、水洗、乾燥して触媒Cを調製した。
一方、木屋式硬度計で測定した触媒Cの20粒の平均圧潰強度は、1.4N/mmであった。
触媒Cを内径27.2mmφのハステロイC製反応器に充填し、温度650℃、スチーム流量218g/hr、窒素流量220NL/Hrの条件で5時間スチーミングを行った。
スチーミング処理後の触媒Cのプロトン量を液相イオン交換/濾液滴定法により求めたところ0.0015mmol/g−ゼオライトであった。
スチーミング処理後の触媒Cを用いた他は、実施例1と同様の条件にて反応実験を行なった。反応結果を表2に示す。
本比較例での反応開始2時間後と48時間後でのプロピレン収率差は、2.7%と小さいものであった。
本比較例から、本発明の規定するH型ゼオライト含有成型体触媒でのナトリウム量が330ppmであり、触媒性能としては問題は無いが、圧潰強度が1.4N/mmと弱く、固定床反応器内で、頻繁な反応/再生を繰り返すうちに、ゼオライト含有成型体触媒の微粉化が見られる事が判る。
これらの特徴は本発明を工業的に実施する上で極めて有用である。
Claims (9)
- 少なくとも1種の炭素数4〜12のオレフィンを20質量%以上含有する炭化水素原料を、固定床型反応器内でゼオライト含有成型体触媒と接触させて、該少なくとも1種の炭素数4〜12のオレフィンの接触転化反応を行うことにより、エチレン及びプロピレンを製造する方法であって、該ゼオライト含有成型体触媒が、下記の要件(1)〜(6)を満たすことを特徴とするエチレン及びプロピレンの製造方法。
(1)該ゼオライトが、5〜6.5Åの細孔径を有する中間細孔径ゼオライトである。
(2)該ゼオライトが実質的にプロトンを含まない。
(3)該ゼオライトが周期律表第IB族に属する金属よりなる群から選ばれる少なくとも1種の金属を含有する。
(4)該ゼオライト含有成型体触媒がシリカをバインダーとするものである。
(5)該ゼオライト含有成型体触媒の圧潰強度が2.5N/mm以上である。
(6)該ゼオライト含有成型体触媒のH交換型でのナトリウム含有量が500ppm以下である。 - 前記炭化水素原料が、少なくとも1種の炭素数4〜12のオレフィンを、該炭化水素原料の重量に対して50質量%以上含有することを特徴とする、請求項1に記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
- 前記ゼオライト含有成型体触媒中のゼオライトが、イオン交換により銀とアルカリ金属を担持し、且つ、実質的にプロトンを含まないことを特徴とする、請求項1または2に記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
- 前記ゼオライト含有成型体触媒中のゼオライトが、ZSM−5型ゼオライトよりなる群から選ばれることを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
- 前記ゼオライト含有成型体触媒中のゼオライトのシリカアルミナモル比が800以上2,000以下であることを特徴とする、請求項1〜4のいずれかに記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
- 前記ゼオライト含有成型体触媒の成型に際して、シリカバインダー源として、5〜40nmの粒子径を有するシリカゾルを用いることを特徴とする、請求項1〜5のいずれかに記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
- 前記ゼオライト含有成型体触媒が、炭化水素原料との接触に先立ち、水蒸気の存在下、500℃以上の温度で加熱処理されていることを特徴とする、請求項1〜6のいずれかに記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
- 前記固定床型反応器が、断熱型固定床型反応器であることを特徴とする、請求項1〜7のいずれかに記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
- 前記接触転化反応の反応条件が、反応温度:500〜580℃、炭化水素原料の分圧:0.05〜0.3MPa、重量時間空間速度:2〜10hr−1であることを特徴とする、請求項1〜8のいずれかに記載のエチレン及びプロピレンの製造方法。
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