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Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8218903B2 (en) * 2007-04-24 2012-07-10 Sony Computer Entertainment Inc. 3D object scanning using video camera and TV monitor
DE102007042963A1 (de) * 2007-09-10 2009-03-12 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur dreidimensionalen Digitalisierung von Objekten
JP2011512533A (ja) * 2008-02-15 2011-04-21 ピルキングトン・グループ・リミテッド 反射光学画像法によるガラス表面形状及び光学歪の測定方法
GB2458927B (en) * 2008-04-02 2012-11-14 Eykona Technologies Ltd 3D Imaging system
CN101755190B (zh) * 2008-05-19 2012-02-22 松下电器产业株式会社 校准方法、校准装置及具备该校准装置的校准系统
JP5375479B2 (ja) * 2009-09-17 2013-12-25 コニカミノルタ株式会社 三次元測定システムおよび三次元測定方法
JP5520562B2 (ja) * 2009-10-06 2014-06-11 本田技研工業株式会社 立体形状測定システム及び立体形状測定方法
CN102884397B (zh) * 2010-05-07 2015-07-15 深圳泰山在线科技有限公司 结构光测量方法以及系统
JP5966467B2 (ja) * 2012-03-15 2016-08-10 株式会社リコー 測距装置
JP5921271B2 (ja) * 2012-03-19 2016-05-24 株式会社東芝 物体測定装置、及び物体測定方法
US9675430B2 (en) 2014-08-15 2017-06-13 Align Technology, Inc. Confocal imaging apparatus with curved focal surface
US10186034B2 (en) 2015-01-20 2019-01-22 Ricoh Company, Ltd. Image processing apparatus, system, image processing method, calibration method, and computer-readable recording medium
WO2016158856A1 (ja) * 2015-04-02 2016-10-06 株式会社ニコン 撮像システム、撮像装置、撮像方法、及び撮像プログラム
JP2017187988A (ja) * 2016-04-07 2017-10-12 東芝テック株式会社 コード認識装置
WO2019070806A1 (en) * 2017-10-08 2019-04-11 Magik Eye Inc. CALIBRATION OF A SENSOR SYSTEM COMPRISING MULTIPLE MOBILE SENSORS
JP2019132673A (ja) * 2018-01-31 2019-08-08 沖電気工業株式会社 端末装置及び位置検出システム
JP7036874B2 (ja) * 2020-09-01 2022-03-15 東芝テック株式会社 コード認識装置

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2565885B2 (ja) * 1987-02-04 1996-12-18 日本電信電話株式会社 空間パタ−ンコ−ド化方法
JP3696335B2 (ja) * 1996-06-12 2005-09-14 株式会社トプコン 複数枚の画像の各計測点の対応づけ方法
DE19638727A1 (de) * 1996-09-12 1998-03-19 Ruedger Dipl Ing Rubbert Verfahren zur Erhöhung der Signifikanz der dreidimensionalen Vermessung von Objekten
JP2865168B1 (ja) * 1997-07-18 1999-03-08 有限会社アートウイング 動作データ作成システム
JP2000283735A (ja) * 1999-03-29 2000-10-13 Minolta Co Ltd ３次元情報入力カメラ
JP2000292135A (ja) * 1999-04-07 2000-10-20 Minolta Co Ltd ３次元情報入力カメラ
JP4110501B2 (ja) * 1999-11-22 2008-07-02 ソニー株式会社 ランダムパターン生成装置とその方法、距離画像生成装置とその方法、およびプログラム提供媒体
JP3819662B2 (ja) * 1999-12-24 2006-09-13 三洋電機株式会社 三次元モデリング装置、方法及び媒体並びに三次形状データ記録装置、方法及び媒体
DE19963333A1 (de) * 1999-12-27 2001-07-12 Siemens Ag Verfahren zur Ermittlung von dreidimensionalen Oberflächenkoordinaten
JP2001298655A (ja) * 2000-04-13 2001-10-26 Sony Corp 撮像装置および方法、並びに記録媒体
JP2001320652A (ja) * 2000-05-11 2001-11-16 Nec Corp プロジェクタ装置
JP2001338280A (ja) * 2000-05-30 2001-12-07 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> ３次元空間情報入力装置
JP4599500B2 (ja) * 2000-07-04 2010-12-15 株式会社竹中工務店 座標情報収集システム及び３次元形状推定システム
JP2002191058A (ja) * 2000-12-20 2002-07-05 Olympus Optical Co Ltd ３次元画像取得装置および３次元画像取得方法
JP4005395B2 (ja) * 2002-03-20 2007-11-07 株式会社トプコン 立体画像表示装置及び方法
JP4043931B2 (ja) * 2002-12-09 2008-02-06 株式会社リコー ３次元情報取得システム
JP2004220510A (ja) * 2003-01-17 2004-08-05 Minolta Co Ltd 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びターゲットマーク
US6937349B2 (en) * 2003-05-02 2005-08-30 Mitutoyo Corporation Systems and methods for absolute positioning using repeated quasi-random pattern
JP2005140547A (ja) * 2003-11-04 2005-06-02 3D Media Co Ltd ３次元計測方法、３次元計測装置、及びコンピュータプログラム
JP2005174151A (ja) * 2003-12-12 2005-06-30 Topcon Corp 三次元画像表示装置及び方法

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