JP2007095935A - 導電性重合体層の形成方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】複数の板状または箔状の基材を平行に配置して導電性重合体層形成用の原料液に浸漬し、基材表面に導電性重合体層を形成する方法において、前記板または箔の面間隔dを板または箔の厚みtの20倍以上とすることを特徴とする。
【選択図】図4
Description
図3に模式的に示すように、テンポラリーバーはさらに複数枚がまとめられて一括して処理され効率化を図っている。図3では紙面奥のテンポラリーバーに固定されたコンデンサ用素子12は見えていないが、各テンポラリーバーには図3前面のテンポラリーバーと同様に複数の陽極基体12が固定され、各テンポラリーバーに固定された陽極基体12の面は実質的に平行になっている(図4参照。なお、図4は図3のA-A’上に存在する隣接する陽極基体12の断面である。)。
2.前記板または箔の面間隔を板または箔の厚みの30〜60倍の範囲とする前記1に記載の導電性重合体層の形成方法。
3.導電性重合体層形成用の原料液が、(i)導電性重合体のモノマー含有液、(ii)導電性重合体のモノマー含有液と酸化剤含有液または(iii)導電性重合体のモノマー含有液、酸化剤含有液及びドーパント能を有する対アニオン含有液との組み合わせである前記1または2に記載の導電性重合体層の形成方法。
4.基材が表面に誘電体皮膜を形成した微細孔を有する弁作用金属材料である前記1〜3のいずれかに記載の導電性重合体層の形成方法。
5.弁作用金属材料が、アルミニウム、タンタル、ニオブ、チタン、ジルコニウムのうち少なくとも一種の金属を含む前記1〜4のいずれかに記載の導電性重合体層の形成方法。
6.複数の板状または箔状の基材を支持部材の下辺に固定し、基材を固定した複数の前記支持部材を基材が平行になるように保持して原料液への浸漬を行なう前記1〜5のいずれかに記載の導電性重合体層の形成方法。
7.前記1〜6のいずれかに記載の方法を用いて表面に導電性重合体層を形成する工程を含む固体電解コンデンサの製造方法。
8.前記1〜6のいずれかに記載の方法を用いて表面に導電性重合体層が形成された板状または箔状部材。
9.基材が表面に誘電体皮膜を形成した微細孔を有する弁作用金属材料であり、前記7に記載の方法により製造された固体電解コンデンサ。
上述のように、複数の基材の表面に導電性重合体層を一括して形成する場合、これらの基材を支持部材に固定し、さらに支持部材を複数まとめて処理する(例えば、図3)。ここで、支持部材11及び基材12は、通常、平板状であり、形状及び寸法はすべて同一である。このため、図4に部分的な断面図として示すように、隣接する支持部材11に固定された基材12の面は実質的に平行である。
前記板または箔の面間隔は、板または箔の厚みの20倍以上であればよいが、比d/tが極端に大きい場合には、同時に処理できる基材の数が少なくなるため生産効率が低下する。100以下が好ましく、乾燥が安定して進行する範囲として30〜60倍の範囲がより好ましい。例えば、基材の厚みtが100μm程度の場合は、3〜6mm程度が好適な範囲となる。
(i)導電性重合体のモノマー含有液(電解酸化重合)、
(ii)導電性重合体のモノマー含有液と酸化剤含有液(化学酸化重合)、または
(iii)導電性重合体のモノマー含有液、酸化剤含有液及びドーパント能を有する対アニオン含有液との組み合わせ(化学酸化重合)
のいずれも利用可能である。
固体電解質層を形成する材料としては、例えば、チオフェン骨格を有する化合物、多環状スルフィド骨格を有する化合物、ピロール骨格を有する化合物、フラン骨格を有する化合物、アニリン骨格を有する化合物等で示される構造を繰り返し単位として含む導電性重合物が挙げられる。固体電解質を形成する導電性重合体は特に限定されないが、好適なものとして以下の化合物をモノマーとして含む重合体が挙げられる。
(実施例1)
厚み110μmの化成アルミ箔(3V化成品)を3.5mm幅に切断したものを13mmずつの長さに切り取り、この箔片の一方の短辺部を金属支持体に溶接により固定した。化成アルミ箔から裁断した際の切口面を化成し、陽極部と陰極部を分離するポリイミド樹脂を、アルミ箔の先端から5mmの部分を中心として0.8mm幅に線状に塗布し乾燥させた後、陰極層である固体電解質を以下のように形成した。
すなわち、金属支持体を多孔質素子の厚みの40倍の幅の間隔で平行に150個並べて固定した冶具を用い、箔の陰極部(3.5mm×4.6mm)を3,4−エチレンジオキシチオフェンを含むイソプロパノール溶液(溶液1)に浸漬し、引き上げて放置した。次に過硫酸アンモニウムを含む水溶液(溶液2)に浸漬し、これを乾燥し、酸化重合を行なった。溶液1に浸漬してから溶液2に浸漬し、酸化重合を行なう操作を繰り返した。50℃の温水で洗浄し、100℃で乾燥させて固体電解質層を形成した。さらに、陰極部にカーボンペースト、銀ペーストで電極を形成し、コンデンサ素子を完成させた。
これら30個のコンデンサについて、初期特性として120Hzにおける容量と損失係数(tanδ)、100kHzにおける等価直列抵抗(以下ESRとする。)、それに漏れ電流を測定した。尚、漏れ電流は定格電圧2Vを印加して1分後に測定した。測定結果は以下の通りであった。
tanδ(平均値) :1.2%
ESR(平均値) :11.4mΩ
漏れ電流(平均値) :0.27μA
また1μA(0.005CV)以上の漏れ電流を不良品とした時の不良率は5%であった。
さらにリフロー試験及びこれに続いて行なった耐湿試験での結果を示した。リフロー試験(ハンダ耐熱性試験とも言う。)は次の方法で評価した。すなわち20個のコンデンサ素子を準備し、該素子を255℃の温度下に10秒間通過させ、この作業を3回繰り返し、定格電圧印加1分後の漏れ電流を測定し、そしてその値が8μA(0.04CV)以上の素子を不良品とした。また、耐湿試験は60℃、90%RHの高温高湿下に500時間放置し、定格電圧印加1分後漏れ電流値が80μA(0.4CV)以上を不良品とした。
耐湿試験後の漏れ電流 :12.6μA
いずれも不良率0であった。
これらの結果を他の例とともに表1〜2に示す。
金属支持体を多孔質素子の厚みの25倍の幅の間隔で平行に150個並べて固定した冶具を用いた他は実施例1と同様にしてコンデンサ素子の製造及び試験を行なった。結果を表1〜2に示す。
金属支持体を多孔質素子の厚みの10倍の幅の間隔で平行に150個並べて固定した冶具を用いた他は実施例1と同様にしてコンデンサ素子の製造及び試験を行なった。結果を表1〜2に示す。
2 誘電体層(酸化皮膜)
3 マスキング層
4 固体電解質層
5 固体電解コンデンサ素子
10 支持部材(テンポラリーバー)
11 処理液
Claims (9)
- 複数の板状または箔状の基材を平行に配置して導電性重合体層形成用の原料液に浸漬し、基材表面に導電性重合体層を形成する方法において、前記板または箔の面間隔を板または箔の厚みの20倍以上とすることを特徴とする導電性重合体層の形成方法。
- 前記板または箔の面間隔を板または箔の厚みの30〜60倍の範囲とする請求項1に記載の導電性重合体層の形成方法。
- 導電性重合体層形成用の原料液が、(i)導電性重合体のモノマー含有液、(ii)導電性重合体のモノマー含有液と酸化剤含有液または(iii)導電性重合体のモノマー含有液、酸化剤含有液及びドーパント能を有する対アニオン含有液との組み合わせである請求項1または2に記載の導電性重合体層の形成方法。
- 基材が表面に誘電体皮膜を形成した微細孔を有する弁作用金属材料である請求項1〜3のいずれかに記載の導電性重合体層の形成方法。
- 弁作用金属材料が、アルミニウム、タンタル、ニオブ、チタン、ジルコニウムのうち少なくとも一種の金属を含む請求項1〜4のいずれかに記載の導電性重合体層の形成方法。
- 複数の板状または箔状の基材を支持部材の下辺に固定し、基材を固定した複数の前記支持部材を基材が平行になるように保持して原料液への浸漬を行なう請求項1〜5のいずれかに記載の導電性重合体層の形成方法。
- 請求項1〜6のいずれかに記載の方法を用いて表面に導電性重合体層を形成する工程を含む固体電解コンデンサの製造方法。
- 請求項1〜6のいずれかに記載の方法を用いて表面に導電性重合体層が形成された板状または箔状部材。
- 基材が表面に誘電体皮膜を形成した微細孔を有する弁作用金属材料であり、請求項7に記載の方法により製造された固体電解コンデンサ。
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