JP2007078484A - はんだ濡れ性試験装置及びはんだ濡れ性試験方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】どのような実装部品に対しても安定した正確なぬれ曲線を得ることができるはんだ濡れ性試験装置及びはんだ濡れ性試験方法を提供する。
【解決手段】基板3に実装される実装部品2を基板3にはんだ付けする際のはんだ濡れ性を測定するはんだ濡れ性試験装置1において、クリームはんだSを介して実装部品2が搭載された基板3が載置される載置台5と、クリームはんだSを加熱する加熱手段6と、実装部品2とランド12との接合部3aに供給されたはんだの変位を測定する変位測定手段8と、変位測定手段8の測定結果に応じて変位の経時変化として表されるはんだ濡れ曲線を作成する処理手段10とを備える。
【選択図】図3
【解決手段】基板3に実装される実装部品2を基板3にはんだ付けする際のはんだ濡れ性を測定するはんだ濡れ性試験装置1において、クリームはんだSを介して実装部品2が搭載された基板3が載置される載置台5と、クリームはんだSを加熱する加熱手段6と、実装部品2とランド12との接合部3aに供給されたはんだの変位を測定する変位測定手段8と、変位測定手段8の測定結果に応じて変位の経時変化として表されるはんだ濡れ曲線を作成する処理手段10とを備える。
【選択図】図3
Description
本発明は、電子部品などの実装部品を接合するはんだの濡れ性を測定するはんだ濡れ性試験装置及び試験方法に関し、特にはんだの熱的挙動に伴う変位からはんだの濡れ性を測定するはんだ濡れ性試験装置及び試験方法に関する。
従来より、プリント配線板に実装部品をはんだ付けする際には、はんだ粉とフラックスや増粘材からなるペースト状のクリームはんだをランドやスルーホールに印刷し、実装部品を搭載した後、リフロー炉においてクリームはんだを溶融させることにより行っている。はんだ付けの良否は、実装部品の端子が接合されるランドの金属部分やスルーホールの中に必要な量のはんだが均一に濡れ広がっている度合い、いわゆるはんだ濡れ性によって左右される。
このため、実際にはんだ付けを行う前に、実装部品やランド部に対するクリームはんだのぬれ性を試験することが行われる。この試験結果を受け、はんだぬれ性に優れた安定性の良いはんだを選定して、はんだ付け不良などの発生を抑止することができる。
はんだ濡れ性の試験装置としては、例えば日本電子機械工業会規格EIAJET−7404「ソルダペーストを用いた表面実装部品のはんだ付け性試験方法(平衡法)」に規定された装置がある。この装置では、アームによって実装部品を把持してはんだ漕に浸漬させ、ソルダペーストを加熱する。その際、実装部品に働く垂直方向の作用力を電子天秤等で検出し、作用力の経時変化に基づく濡れ曲線を得て、濡れ性を評価している。
しかし、かかる試験装置における環境は、表面実装部品を使用する実際の実装環境での加熱条件とは異なるため、この試験結果が実際に使えるのか不明である。また、かかる試験装置では、アームによって把持できる実装部品のサイズやリード等の電極部の形状に制限があり、全ての実装部品に対応することはできない。
その他の試験装置としては、特開2003−188528号公報(参考文献1)に記載された装置がある。かかる装置は、クリームはんだを加熱することにより、実装部品が上下方向に変位することから、この実装部品の表面にレーザ光を照射し上下方向の変位を測定するとともに、変位の経時変化を濡れ曲線として求め、表示手段に表示させるものである。
しかし、かかる測定装置では、実装部品の小型化が進むと、クリームはんだが溶融することにより実装部品の表面に溶融はんだが回り込むことがあり、測定結果にばらつきが生じやすい。また、重量のある実装部品では上下方向の変位を測定することが困難となる。
そこで、本発明は、どのような実装部品に対しても安定した正確なぬれ曲線を得ることができるはんだ濡れ性試験装置及びはんだ濡れ性試験方法を提供することを目的とする。
上述した課題を解決するために、本発明にかかるはんだ濡れ性試験装置は、基板に実装される実装部品を上記基板にはんだ付けする際のはんだ濡れ性を測定するはんだ濡れ性試験装置において、クリームはんだを介して上記実装部品が搭載された基板が載置される載置台と、上記クリームはんだを加熱する加熱手段と、上記実装部品とランドとの接合部に供給されたはんだの変位を測定する変位測定手段と、上記変位測定手段の測定結果に応じて上記変位の経時変化として表されるはんだ濡れ曲線を作成する処理手段とを備えるものである。
また本発明にかかるはんだ濡れ性試験方法は、基板に実装される実装部品を上記基板にはんだ付けする際のはんだ濡れ性を測定するはんだ濡れ性試験方法において、クリームはんだを介して上記実装部品が搭載された基板を加熱する工程と、上記実装部品とランドとの接合部に供給されたはんだの変位を測定する工程と、上記測定結果に応じて上記変位の経時変化として表されるはんだ濡れ曲線を作成する工程とを有するものである。
本発明にかかるはんだ濡れ性試験装置及びはんだ濡れ性試験方法によれば、求めた濡れ曲線より濡れ時間を測定することにより、容易且つ精度よくはんだ濡れ性を評価することができる。また、実装部品とランドとの接合部に供給されたはんだの変位を測定することで、実装部品のサイズや形状、重量等による制約がなく、あらゆる実装部品に対応することができる。
以下、本発明が適用されたはんだ濡れ性試験装置及びはんだ濡れ性試験方法について、図面を参照しながら詳細に説明する。図1に示すように、本発明が適用されたはんだ濡れ性試験装置1は、実装部品2が搭載された基板3が収納される装置本体4と、装置本体4内に設けられ基板3が載置される載置台5と、基板3に印刷されたクリームはんだSを加熱溶解する加熱手段6と、冷却手段7と、クリームはんだSの変位を検出する変位測定手段8と、実装部品2のはんだ付け挙動を撮像する撮像カメラ9と、変位測定部8による測定結果及び撮像カメラ9の撮像信号を処理する処理手段10とを備える。
装置本体4には、変位測定手段8が配設されるとともに、撮像カメラ9を内部に臨ませる窓部11が形成されている。装置本体4内に設けられた載置台5は、基板3が載置されるものであり、近傍には加熱手段6が配設されている。
加熱手段6は、例えば熱風ヒータ、赤外線ヒータ又は遠赤外線ヒータ、あるいはホットプレート等が用いられる。熱風ヒータや赤外線又は遠赤外線ヒータの場合は、載置台5の上方、側方若しくは斜め上側に熱風が排出されるノズルが設けられる。またホットプレートを用いる場合は、載置台5内に組み込まれる等され、基板3を下側から加熱する。
冷却手段7は、例えば送風機が用いられ、常温の空気を装置本体内に送り込むことにより、加熱手段6によって加熱された装置本体2の冷却を行う。なお冷却手段7は、冷却材として水を用いた水冷冷却器を用いた場合には冷却時間の短縮を図ることができる。
加熱手段6により加熱されたクリームはんだSの変位を測定する変位測定手段8は、載置台5に載置された基板3の実装部品2とランド12との接合部3a上方に配設されている。この変位測定手段8は、例えばレーザ変位計14が用いられ、基板3に印刷されたクリームはんだSあるいは実装部品2と非接触でクリームはんだSの変位を測定する。具体的に、レーザ変位計14は、図2に示すように、光源としての例えば半導体レーザ15と、受光レンズ16と、位置検出素子17とから主として構成される。位置検出素子17は、例えばPN接合シリコンダイオードを用いた半導体位置検出素子(PSD:Position Sensitive Detector )を用いることができる。
半導体レーザ15から出射したレーザ光Lは、図2に示すように、実装部品2とランド12との接合部3a、すなわち実装部品2の側面近傍に印刷されたクリームはんだSの表面で正反射し、受光レンズ16により位置検出素子17上に結像される。位置AにあるクリームはんだSの表面で反射したレーザ光Lは位置検出素子17上のa点に、位置BにあるクリームはんだSの表面で反射したレーザ光Lはb点にそれぞれ結像され、その差SよりAB間の距離、すなわちクリームはんだSの上下方向の変位が経時的かつ連続的に測定される。
レーザ変位計14の出力はアンプを介して、処理手段10たるパソコンに入力される。処理手段10は、画像処理手段、画像記録手段及び画像モニタを備え、測定されたクリームはんだSの変位の経時変化をぬれ曲線として求め、画面モニタに表示する。
撮像カメラ9は、クリームはんだSの加熱中の挙動を観察するものであり、観察結果を処理手段10に送信することにより、実装部品の挙動を観察することができる。
なお、載置台5に載置される基板3は、例えばガラス布基材からなる銅張積層板が用いられ、一面あるいは両面に配線パターン及び実装部品が実装される電極ランド12等が印刷やエッチング等により形成されている。また、ランド12にはスクリーン印刷等によって予めクリームはんだSが印刷され、部品搭載機等によって実装部品2が搭載されている。実装部品2は、BGAやQFPといった表面実装型の半導体パッケージやPGA等の挿入実装型の半導体パッケージ、あるいはトランジスタ、コンデンサ等のディスクリート部品、ベアチップ等が用いられる。
次に、かかるはんだ濡れ性試験装置1を用いたはんだ濡れ性試験方法について説明する。先ず、装置本体4の載置台5に、クリームはんだSが印刷されるとともに実装部品2が搭載された基板3を載置し、加熱手段6にてクリームはんだSを加熱、溶融させる。この間、変位測定手段8にて、実装部品2とランド12との接合部3aに印刷されたクリームはんだSの上下方向の変位を測定する。
クリームはんだSの挙動として、(A)溶融前における初期状態、(B)クリームはんだSが溶融を開始する溶融開始状態、(C)溶融したクリームはんだSがランド12上に濡れ広がる濡れ開始状態、(D)ランド12と実装部品2の接合部3aまでクリームはんだSが濡れ広がり、はんだフィレットが形成される濡れ完了状態とに分類し、かかるクリームはんだS及び実装部品2の変位状態を図3に示す。また、実装部品2とランド12との接合部3aに印刷されたクリームはんだSの変位の経時変化(ぬれ曲線)を図4に示す。
図3(A)及び図4(A)に示すように、加熱前の初期状態においては、クリームはんだSは溶融していない。このときの実装部品2とランド12との接合部3aにおけるクリームはんだSの上下方向に関する位置を基準として、この基準位置に対する、クリームはんだSの溶融に伴う変位をレーザ変位計14で測定していく。
加熱手段8からの熱風によりクリームはんだSの加熱が開始されると、先ず等温加熱のプリヒート過程にて、クリームはんだS中に含まれる溶剤の蒸発やフラックスの活性化が行われる。このとき、 図3(B)及び図4(B)に示すように、フラックスが溶融して流れ、クリームはんだSは多少下がる。
次いで、本加熱により、クリームはんだSを溶融させる。このとき、 図3(C)及び図4(C)に示すように、クリームはんだSは完全に溶融し、最も下に下がる。この状態においては、実装部品2の電極がクリームはんだSによって濡れる条件が既に整っており、濡れが始まる。
そして、図3(D)及び図4(D)に示すように、クリームはんだSの電極へのぬれが進むと、電極の下にクリームはんだSが濡れ広がり、はんだフィレットが形成されるため、クリームはんだSは上昇する。そしてクリームはんだSが上昇しきったときに濡れが完了する。
このクリームはんだSの溶融に伴って、実装部品2とランド12との接合部3aにおけるクリームはんだSが下がり始め(図3(B)及び図4(B))、クリームはんだSの溶融が進むと下降も止まり実装部品2の電極の濡れが開始され(図3(C)及び図4(C))、はんだが実装部品2の電極の下まで濡れ広がりはんだが上昇し始めるまでの時間t1と、濡れの進行に伴ってはんだフィレットが形成されるとクリームはんだSが上昇し始め、濡れの完了に伴って上昇が停止するまでの時間(図4(B)〜図4(C))をt2とを足したt3(=t1+t2)を濡れ時間とする。このぬれ時間が短いほど、クリームはんだSと実装部品2との間のぬれ性が良く、はんだ付け性が良好であると言える。
実験例
実験例
表1にタンタルコンデンサを用いてはんだ濡れ性試験を行った結果の濡れ性と濡れ時間との関係を示す。この実験では、ランド12上にクリームはんだSを印刷した直後と、印刷後一日放置した後に、それぞれタンタルコンデンサを搭載し、濡れ時間を測定した。
この結果、クリームはんだSの印刷直後にタンタルコンデンサを搭載し加熱溶融させた場合には、フラックスの揮発も少ないため濡れ性は良好であり、このとき、濡れ時間は7秒であった。一方、クリームはんだSの印刷後一日経過した後にタンタルコンデンサを搭載し加熱溶融させた場合には、フラックスが殆ど無いため濡れ性は悪化する。このとき、濡れ時間は33秒であった。このことから、濡れ性が悪くなるのに伴い、濡れ時間が長くなることがわかる。特に今回の実験では、溶融開始からタンタルコンデンサの電極の下まではんだが濡れ広がりはんだが上昇し始めるまでの時間t1に大きな差が見られた。
次に、表2にタンタルコンデンサに高熱処理を施すことにより複数の異なるメッキ状態のサンプルを用いてはんだ濡れ性試験を行った結果の濡れ状態と濡れ時間との関係を示す。この実験では、タンタルコンデンサに245℃の加熱処理を施し、クリームはんだSが印刷されたランド12と接合される電極のメッキ状態を異ならせ、クリームはんだSの濡れ時間を測定した。すなわち、タンタルコンデンサを245℃の加熱を行うと電極メッキの酸化が促進されるため、加熱時間の長さに伴ってメッキ状態が悪化していく。これより、加熱時間毎に複数の試料を用意し、それぞれの濡れ時間を測定した。
表2より、電極のメッキ状態が良好であれば、はんだ濡れ時間も短くなることがわかる。また、電極のメッキ状態が良好であれば、はんだ濡れ性も良好である。したがって、はんだ濡れ時間が短ければ、それだけ、はんだ濡れ性が良好であるといえる。
次に、表3にタンタルコンデンサのはんだ接合部3aにおけるクリームはんだSの濡れ角とはんだ濡れ時間との相関関係を調べた結果を示す。濡れ角は、タンタルコンデンサが実装されるランド12とクリームはんだSが接触する角度をいい、良好なはんだ付け状態の濡れ角は20°程度といわれており、またヤングの関係式より90°が良否の限界であり、90°を超えると濡れ不足となる。
表3より、ランド12とクリームはんだSの濡れ角が小さいほど濡れ時間が短いことがわかる。また、この濡れ角とはんだ濡れ時間との相関係数は0.9211であり、両変量には相関的な関係があることが分かる。したがって、はんだ濡れ時間が短ければ、それだけ、はんだ濡れ性が良好であるといえる。なお、濡れ角に代わって濡れ時間によってはんだ濡れ性を評価することができるため、レーザ変位計で測定することで容易にはんだ濡れ性試験を行うことができる。
以上のように、本発明が適用されたはんだ濡れ性試験装置1によれば、求めた濡れ曲線より濡れ時間を測定することにより、容易且つ精度よくはんだ濡れ性を評価することができる。
また、濡れ性試験装置1によれば、クリームはんだSに対して非接触で変位を測定しているので、クリームはんだSと実装部品2の濡れ特性のみに依存した変位として測定でき、よって、正確でバラツキのない濡れ曲線が得られ、これに基づいた正確な濡れ性の評価を行うことができる。
また、微小な部品では、その挙動が確認し難いため、撮像カメラ9によって撮像しモニタに拡大表示するようにしている。すなわち、左右の電極でクリームはんだSの溶融タイミングがずれると、左右の電極に働くモーメントに大きな差が生じてチップ立ちが起こりやすくなるが、これをモニタで容易に視認することができ、確実に異常検出を行うことができる。
また、はんだ濡れ性試験装置1は、単に実装部品2とランド12との接合部3aにおけるクリームはんだSの変位(上下動)を測定する方法であるので、従来のように、クリームはんだSが実装部品の表面へ濡れ上がっていくことによる測定結果のばらつきが生じることがなく、0402といった微小なチップ部品の測定も確実に行うことができる。
さらに、はんだ濡れ性試験装置1は、実装部品をクリームはんだSが印刷された基板に実装して測定を行うため、より実際の実装工程近い条件で測定を行うことができる。また、実装部品のサイズや形状、重量等による制約がなく、あらゆる実装部品に対応することができる。
1 はんだ濡れ性試験装置、2 実装部品、3 基板、4 装置本体、5 載置台、6 加熱手段、7 冷却手段、8 変位測定手段、9 撮像カメラ、10 処理手段、11 窓部、14 レーザ変位計、15 半導体レーザ、16 受光レンズ、17 位置検出素子、S クリームはんだ
Claims (10)
- 基板に実装される実装部品を上記基板にはんだ付けする際のはんだ濡れ性を測定するはんだ濡れ性試験装置において、
クリームはんだを介して上記実装部品が搭載された基板が載置される載置台と、
上記クリームはんだを加熱する加熱手段と、
上記実装部品とランドとの接合部に供給されたはんだの変位を測定する変位測定手段と、
上記変位測定手段の測定結果に応じて上記変位の経時変化として表されるはんだ濡れ曲線を作成する処理手段とを備えるはんだ濡れ性試験装置。 - 上記変位測定手段は、上記クリームはんだに非接触で測定することを特徴とする請求項1記載のはんだ濡れ性試験装置。
- 上記変位測定手段は、レーザ変位計であることを特徴とする請求項2記載のはんだ濡れ性試験装置。
- 上記はんだ濡れ曲線は、上記実装部品の接合箇所における上記クリームはんだの上下方向の変位に応じて測定することを特徴とする請求項1記載のはんだ濡れ性試験装置。
- 上記はんだ濡れ曲線から、上記クリームはんだが溶融し始めてから上記実装部品の所定箇所まで濡れ広がるまでのはんだ濡れ時間を測定することを特徴とする請求項1記載のはんだ濡れ性試験装置。
- 基板に実装される実装部品を上記基板にはんだ付けする際のはんだ濡れ性を測定するはんだ濡れ性試験方法において、
クリームはんだを介して上記実装部品が搭載された基板を加熱する工程と、
上記実装部品とランドとの接合部に供給されたはんだの変位を測定する工程と、
上記測定結果に応じて上記変位の経時変化として表されるはんだ濡れ曲線を作成する工程とを有するはんだ濡れ性試験方法。 - 上記はんだの変位測定は、上記クリームはんだに非接触で行うことを特徴とする請求項6記載のはんだ濡れ性試験方法。
- レーザ変位計を用いて上記はんだの変位測定を行うことを特徴とする請求項7記載のはんだ濡れ性試験方法。
- 上記はんだ濡れ曲線は、上記実装部品の接合箇所における上記クリームはんだの上下方向の変位に応じて測定することを特徴とする請求項6記載のはんだ濡れ性試験方法。
- 上記はんだ濡れ曲線から、上記クリームはんだが溶融し始めてから上記実装部品の所定箇所まで濡れ広がるまでのはんだ濡れ時間を測定することを特徴とする請求項6記載のはんだ濡れ性試験方法。
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JP2005265740A JP2007078484A (ja) | 2005-09-13 | 2005-09-13 | はんだ濡れ性試験装置及びはんだ濡れ性試験方法 |
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JP5689795B2 (ja) * | 2009-05-29 | 2015-03-25 | 山陽精工株式会社 | ソルダペーストぬれ性評価装置及び評価方法 |
JP2016053557A (ja) * | 2014-09-04 | 2016-04-14 | 株式会社ノリタケカンパニーリミテド | 評価装置 |
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2005
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