JP2007064733A - エッジ検出装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 ラインセンサと、このラインセンサに向けて単色光を照射する光源と、上記単色光の光路に位置付けられた透明体のエッジにおけるフレネル回折の光強度分布から前記ラインセンサの画素配列方向における上記透明体のエッジ位置を検出するエッジ位置解析手段と、更に上記エッジ位置解析手段にて前記透明体のエッジ位置が検出できないとき、前記ラインセンサによる全受光量が予め記憶した該ラインセンサの全入光状態での全受光量よりも小さいときには前記透明体による全遮光状態として判断する全遮光状態判断手段とを備える。
【選択図】 図1
Description
更に上記エッジ位置解析手段にて前記透明体のエッジ位置が検出できないとき、前記ラインセンサによる全受光量が予め記憶した該ラインセンサの全入光状態での全受光量よりも小さいときには前記透明体による全遮光状態として判断する全遮光状態判断手段を備えたことを特徴としている。
図1はこの実施形態に係るエッジ検出装置の要部概略構成を示す図で、1は複数の画素を所定のピッチで配列したラインセンサ、2はこのラインセンサ1に対峙させて設けられて上記ラインセンサ1に向けて単色平行光を照射する光源である。この光源2は、例えばレーザ素子2aと、このレーザ素子2aが発したレーザ光を平行光として前記ラインセンサ1に照射する投光レンズ2bとを備えて構成される。上記ラインセンサ1と光源2との間の上記単色平行光が照射される光路は、被検出対象物3のエッジを検出する為の検出領域として用いられる。
2 光源
3 被検出物(透明体)
4 マイクロコンピュータ
4a エッジ位置解析手段
4b 全遮光状態判定手段
Claims (5)
- 複数の画素を所定のピッチで配列したラインセンサと、
このラインセンサに向けて単色光を照射する光源と、
上記単色光の光路に位置付けられた透明体のエッジにおけるフレネル回折の光強度分布から前記ラインセンサの画素配列方向における上記透明体のエッジ位置を検出するエッジ位置解析手段と、
このエッジ位置解析手段にて前記透明体のエッジ位置が検出できないとき、前記ラインセンサによる全受光量が予め記憶した該ラインセンサの全入光状態での全受光量よりも小さいときには前記透明体による全遮光状態として判断する全遮光状態判断手段と
を具備したことを特徴とするエッジ検出装置。 - 前記全遮光状態判断手段は、前記ラインセンサを構成する複数の画素での各受光量の総和または平均を全受光量として検出するものであって、予め記憶した全入光状態での全受光量に比較して前記透明体のエッジ位置検出時における全受光量が予め設定した割合よりも低下しているとき、前記透明体による全遮光状態として判断するものである請求項1に記載のエッジ検出装置。
- 前記エッジ位置解析手段は、前記ラインセンサの各画素での受光量を全入光状態となっている画素側から順に辿ってその受光量が全受光状態から所定の割合だけ低下した画素の位置を検出し、この画素位置と上記受光量の低下の割合とから前記透明体のエッジ位置を検出するものである請求項1に記載のエッジ検出装置。
- 前記ラインセンサと光源は、前記透明体の表面に対して傾斜した光路を形成したものである請求項1に記載のエッジ検出装置。
- 前記エッジ位置解析手段は、前記フレネル回折により生じた前記ラインセンサの各画素での受光量の変化を近似曲線関数を用いて近似し、上記近似曲線関数を用いて前記ラインセンサでの画素配列方向において所定光量となる位置を前記透明体のエッジ位置として解析するものである請求項1に記載のエッジ検出装置。
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