JP2007050345A - Apparatus for applying treating liquid - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、略水平に保持された基板に処理液を塗布する塗布処理装置に関する。 The present invention relates to a coating processing apparatus that applies a processing liquid to a substrate held substantially horizontally.
液晶用ガラス角形基板、半導体基板、フィルム液晶用フレキシブル基板、フォトマスク用基板、カラーフィルター用基板など各種基板の製造工程においては、基板の表面に処理液を塗布する塗布処理装置が用いられている。このような塗布処理装置としては、スリットノズルから処理液を吐出しつつ該スリットノズルを基板に対して移動させることにより基板全体に処理液を塗布するスリットコートを行うスリットコータや、スリットコートの後に基板を回転させるスリット・スピンコータなどが知られている。 In the manufacturing process of various substrates such as a glass square substrate for liquid crystal, a semiconductor substrate, a flexible substrate for film liquid crystal, a substrate for photomask, a substrate for color filter, etc., a coating processing apparatus for applying a treatment liquid to the surface of the substrate is used. . As such a coating processing apparatus, a slit coater for performing a slit coating to apply the processing liquid to the entire substrate by moving the slit nozzle relative to the substrate while discharging the processing liquid from the slit nozzle, or after the slit coating. A slit / spin coater for rotating a substrate is known.
これらの塗布処理装置において塗布処理を行なう際には、スリットノズルの下端部となる吐出口と基板とが近接された状態で、スリットノズルが基板に対して相対的に移動される。このため、基板の表面に異物が付着していたりすると、異物とスリットノズルとが接触し、スリットノズルの損傷、基板の損傷、塗布不良などの不具合が生じるおそれがある。 When performing the coating process in these coating processing apparatuses, the slit nozzle is moved relative to the substrate in a state where the discharge port serving as the lower end portion of the slit nozzle and the substrate are close to each other. For this reason, if a foreign substance adheres to the surface of the substrate, the foreign substance and the slit nozzle come into contact with each other, and there is a possibility that problems such as damage to the slit nozzle, damage to the substrate, and poor coating may occur.
したがって従来より、このような異物による不具合を防止する技術が提案されている。例えば、図16に示すように、スリットノズル81の進行の前方側に長尺状の保護部材82を配置し、スリットノズル81が基板90上の異物Fmと接触する前に、この保護部材82と異物Fmとを接触させ、異物Fmを排除したり、その振動に基づいて異物Fmを検出する技術などが知られている(例えば、特許文献1参照。)。
Therefore, conventionally, techniques for preventing such troubles caused by foreign substances have been proposed. For example, as shown in FIG. 16, a long
ところで一般に塗布処理装置において、塗布処理を開始するにあたっては、図17に示すように、基板90の直上外部から塗布処理を開始すべき開始位置P1まで、スリットノズル81が移動される。この移動の際にはスリットノズル81の吐出口の高さは塗布処理を行う際の場合よりも高くされ、吐出口が開始位置P1の直上まで搬送された時点で、その高さが塗布処理を行う所定の高さに下降されるようになっている。
By the way, in general, when starting the coating process in the coating processing apparatus, as shown in FIG. 17, the
しかしながら、このような動作では、図に示すように、基板90の端部P0から位置Px(吐出口が開始位置P1にあるときに保護部材82が存在する位置)までの領域に関しては、異物Fmに保護部材82を接触させることができない。このため、図に示す如く、この領域に異物Fmが存在すると、スリットノズル81の損傷などが生じるおそれがある。
However, in such an operation, as shown in the drawing, the foreign matter Fm is related to the region from the end portion P0 of the
これに対応するため、図18に示すように、吐出口の高さを塗布処理を行う場合と同様の高さに維持しつつ、基板90の直上外部から開始位置P1までスリットノズル81を水平移動させることも考えられる。これによれば、いずれの領域に関しても異物Fmに保護部材82を接触させることが可能である。しかしながら、図に示すように、吐出口に形成された処理液の液溜りBが、基板90のうち処理液の塗布対象でない領域(P0〜P1)に付着してしまうおそれがある。そしてこれにより、基板90を汚染したり、液溜りBの均一性を損なわせて塗布処理において塗布ムラを生じさせる可能性がある。
In order to cope with this, as shown in FIG. 18, the
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、異物による不具合を防止しつつ、基板の塗布対象外の領域への処理液の付着を防ぐことができる塗布処理装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a coating processing apparatus capable of preventing the processing liquid from adhering to a region outside the coating target of the substrate while preventing defects due to foreign matters. And
上記課題を解決するため、請求項1の発明は、略水平に保持された基板の塗布対象領域に処理液を塗布する塗布処理装置であって、略水平な第1方向に沿って延びるスリット状の吐出口から前記処理液を吐出可能なノズルと、前記第1方向に直交する略水平な第2方向に、前記基板の直上外部から前記処理液の吐出を開始すべき開始位置まで前記基板に対して前記ノズルを相対移動させ、さらに、前記塗布対象領域の上部全体を前記基板に対して前記ノズルを相対移動させて前記ノズルに前記塗布対象領域に対する吐出走査を行わせる移動手段と、前記第1方向に沿って延び、下端の位置が前記吐出口の下端以下となるように、前記ノズルの前記吐出走査における進行の前方側に相対固定される保護部材と、前記基板に対する前記吐出口の相対高を調整する調整手段と、を備え、前記調整手段は、前記吐出口の位置が前記基板の直上外部から前記基板の端部までのときには、前記吐出口の相対高を前記吐出走査の場合と同一の基準高とし、前記吐出口の位置が前記基板の端部から前記開始位置までのときには、前記吐出口の相対高を前記基準高よりも高くする。
In order to solve the above-mentioned problem, the invention of
また、請求項2の発明は、請求項1に記載の塗布処理装置において、前記保護部材の下端は、それぞれが前記第1方向に沿って延び、前記第2方向に並列配置される複数の部位で構成される。
The invention according to
また、請求項3の発明は、請求項2に記載の塗布処理装置において、前記複数の部位のうち、前記吐出走査の進行の最前方側の部位を第1部位、最後方側の部位を第2部位としたとき、前記第1及び前記第2部位のそれぞれの前記吐出走査の進行の前方位置の相互間の長さは、前記基板の端部から前記開始位置までの長さ以上である。
Further, the invention of
また、請求項4の発明は、請求項1または2に記載の塗布処理装置において、前記保護部材の下端によって規定される前記第2方向の最大長さは、前記基板の端部から前記開始位置までの長さ以上である。 According to a fourth aspect of the present invention, in the coating treatment apparatus according to the first or second aspect, the maximum length in the second direction defined by the lower end of the protective member is the start position from the end of the substrate. It is more than the length.
請求項1ないし4の発明によれば、基板の直上外部から基板の端部までのときには、吐出口の相対高を吐出走査の場合と同一の基準高とするため、保護部材と異物とが接触可能な領域を広げることができる。これとともに、基板の端部から開始位置までは吐出口の相対高を高くするため、吐出口に処理液の液溜りが形成されても、基板の塗布対象外の領域に処理液が付着することを防ぐことができる。 According to the first to fourth aspects of the present invention, since the relative height of the discharge port is set to the same reference height as in the case of the discharge scanning, the protective member and the foreign matter are in contact with each other from the outside directly above the substrate to the end of the substrate. The possible area can be expanded. At the same time, since the relative height of the discharge port is increased from the end of the substrate to the start position, the treatment liquid adheres to a region outside the application target of the substrate even if a treatment liquid pool is formed at the discharge port. Can be prevented.
また、特に請求項2の発明によれば、最前方側の部位で接触できない異物を、後方の部位で接触させることができる。 In particular, according to the second aspect of the present invention, the foreign matter that cannot be contacted at the frontmost part can be brought into contact at the rear part.
また、特に請求項3の発明によれば、第1部位の前方位置で接触できない異物を、第2部位の前方位置で必ず接触させることができる。これにより、吐出口が通過する全ての領域に関して、保護部材の前方位置で異物と接触させることができる。
In particular, according to the invention of
また、特に請求項4の発明によれば、吐出口が通過する全ての領域に関して、保護部材と異物とを接触させることができる。 In particular, according to the invention of claim 4, the protective member and the foreign matter can be brought into contact with respect to all regions through which the discharge port passes.
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
<1.塗布処理装置の概要>
図1は、本発明の実施の形態に係る塗布処理装置であるスリットコータ10の概略構成を示す斜視図である。スリットコータ10は、基板90の表面に処理液であるレジスト液を塗布するスリットコートと呼ばれる塗布処理を行う塗布処理装置であり、基板90の表面に形成された電極層などを選択的にエッチングするプロセスなどに利用される。スリットコータ10の塗布対象となる基板90は、代表的には液晶表示装置の画面パネルを製造するための角形のガラス基板であるが、半導体基板、フィルム液晶用フレキシブル基板、フォトマスク用基板、カラーフィルター用基板などの他の基板であってもよい。
<1. Overview of coating processing equipment>
FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of a
図1に示すように、スリットコータ10は、装置全体を制御する制御部1と、塗布処理を実施する塗布処理部2とに大別される。制御部1は、塗布処理部2の各部と電気的に接続されており、塗布処理部2の各部の動作を統括的に制御する。制御部1は、CPU、RAM及びROMなどから構成されるマイクロコンピュータを備えている。制御部1による各種の制御機能は、CPUが所定のプログラムやデータに従ってRAMを利用しつつ演算処理を行うことにより実現される。また、制御部1には、オペレータからの入力操作を受け付ける操作部11と各種データを表示する表示部12とが設けられており、これらはユーザインタフェースとして機能する。
As shown in FIG. 1, the
塗布処理部2は主として、基板90を保持するためのステージ3と、ステージ3に保持された基板90に対してレジスト液を吐出する吐出機構4と、吐出機構4を所定の方向に移動させる移動機構5とから構成される。
The
なお、以下の説明においては、方向及び向きを示す際に、適宜、図中に示す3次元のXYZ直交座標を用いる。このXYZ軸はステージ3に対して相対的に固定される。ここで、X軸及びY軸方向は水平方向、Z軸方向は鉛直方向(+Z側が上側)である。また、便宜上、X軸方向を奥行方向(+X側が正面側、−X側が背面側)とし、Y軸方向を左右方向(正面側からみたとき、+Y側が右側、−Y側が左側)とする。
In the following description, the three-dimensional XYZ orthogonal coordinates shown in the figure are used as appropriate when indicating the direction and direction. The XYZ axes are fixed relative to the
ステージ3は略直方体の形状を有する花崗岩等の石材で構成されており、その上面は略水平な平坦面に加工されて基板90の保持面30として機能する。保持面30には多数の真空吸着口が分散して形成されている。これらの真空吸着口により基板90が吸着されることにより、塗布処理の際に基板90が所定の位置に略水平状態に保持される。
The
吐出機構4は主として、レジスト液を吐出するスリットノズル41と、スリットノズル41を固定保持するノズル保持部42とから構成される。
The discharge mechanism 4 mainly includes a
スリットノズル41は、図外の供給機構から供給されるレジスト液を、下端部に形成されたスリット状の吐出口から基板90の上面へ吐出する。このスリットノズル41は、その吐出口が略水平にY軸方向に沿って延びるように、ノズル保持部42によって固定支持される。
The
ノズル保持部42は、スリットノズル41を固定する固定部材42aと、固定部材42aを支持するとともに昇降させる2つの昇降機構42bとから構成される。固定部材42aは、Y軸方向を長手方向とするカーボンファイバ補強樹脂等の断面矩形の棒状部材で構成される。
The
2つの昇降機構42bは固定部材42aの左右両端部に連結されており、それぞれACサーボモータ及びボールネジ等を備えている。これらの昇降機構42bにより、固定部材42a及びそれに固定されたスリットノズル41が鉛直方向(Z軸方向)に昇降され、スリットノズル41の下端部たる吐出口と基板90との間隔(ギャップ)、すなわち、基板90に対する吐出口の相対的な高さ(以下、「吐出口高さ」という。)が調整される。
The two elevating
これらの固定部材42a及び2つの昇降機構42bにより形成されるノズル保持部42は、図1に示すように、ステージ3の左右両端部をY軸方向に沿って掛け渡し、保持面30を跨ぐ架橋構造を有している。移動機構5は、この架橋構造体としてのノズル保持部42と、それに固定保持されたスリットノズル41とを含む吐出機構4の全体をX軸方向に沿って移動させることになる。
As shown in FIG. 1, the
図に示すように移動機構5は、左右対称(+Y側と−Y側とでの対称)構造となっており、左右のそれぞれにおいて、吐出機構4の移動をX軸方向に案内する走行レール51と、吐出機構4を移動するための移動力を発生するリニアモータ52と、スリットノズル41の吐出口の位置を検出するためのリニアエンコーダ53とを備えている。
As shown in the figure, the moving
2つの走行レール51はそれぞれ、ステージ3のY軸方向の端部(左右端部)にX軸方向に沿って延設されている。これら2つの走行レール51に沿って2つの昇降機構42bの下端部がそれぞれ案内されることにより、吐出機構4の移動方向がX軸方向に規定される。
Each of the two traveling
2つのリニアモータ52はそれぞれ、固定子52aと移動子52bとを有するACコアレスリニアモータとして構成される。固定子52aは、ステージ3のY軸方向の側面(左右側面)にX軸方向に沿って設けられている。一方、移動子52bは、昇降機構42bの外側に対して固設されている。リニアモータ52は、これら固定子52aと移動子52bとの間に生じる磁力によって吐出機構4を移動する。
Each of the two
また、2つのリニアエンコーダ53はそれぞれ、スケール部53aと検出部53bとを有している。スケール部53aはステージ3に固設されたリニアモータ52の固定子52aの下部にX軸方向に沿って設けられている。一方、検出部53bは、昇降機構42bに固設されたリニアモータ52の移動子52bのさらに外側に固設され、スケール部53aに対向配置される。リニアエンコーダ53は、スケール部53aと検出部53bとの相対的な位置関係に基づいて、X軸方向におけるスリットノズル41の吐出口の位置を検出する。
Each of the two
以上のような構成によって、スリットノズル41は、基板90が保持される保持面30の上部空間を、略水平なX軸方向に保持面30に対して相対的に移動可能とされる。
With the configuration as described above, the
基板90の各辺の端部から所定の幅(例えば、2〜3mm)の領域は、レジスト液の塗布対象とならない領域(以下、「非塗布領域」という。)90aとなっている。そして、基板90のうち、この非塗布領域90aを除いた矩形領域が、レジスト液を塗布すべき領域(以下、「塗布対象領域」という。)90bとなっている。したがって、この塗布対象領域90bに対して塗布処理が行われる。
A region having a predetermined width (for example, 2 to 3 mm) from the end of each side of the
塗布処理を行う際には、吐出口からレジスト液を吐出した状態でスリットノズル41がX軸方向に所定の速度で水平移動される。これにより、基板90の塗布対象領域90bに対するスリットノズル41による走査(吐出走査)がなされる。この塗布処理の結果、基板90の塗布対象領域90bの全域にわたって均一にレジスト液が塗布され、塗布対象領域90bの上に所定の膜厚のレジスト液の層が形成される。本実施の形態のスリットコータ10では、塗布処理(吐出走査)におけるスリットノズル41の移動の向きは+X向き(正面側)となっている。
When performing the coating process, the
また、塗布処理を行わないときには、スリットノズル41は、基板90の搬入・搬出が可能なように、基板90の保持面30から背面側(−X側)に外れた待避エリア31に待避される(図1に示す状態)。スリットコータ10は、この待避エリア31の下方(−Z側)に、塗布処理の前にスリットノズル41の吐出口の状態を整えるためのノズル調整部6を備えている。
Further, when the coating process is not performed, the
ノズル調整部6は、スリットノズル41からのレジスト液の吐出対象となる略円筒状のローラ61を備えている。このローラ61の外周面にスリットノズル41を近接させた状態で吐出口から一定のレジスト液を吐出させると、吐出口にレジスト液の液溜りが形成される。このように吐出口に液溜りが均一に形成されると、その後の塗布処理を高精度に遂行することが可能となる。この処理は、本来の基板90に対する塗布処理の前に行われるため「予備塗布処理(プリディスペンス)」と呼ばれる。
The nozzle adjustment unit 6 includes a substantially cylindrical roller 61 that is a discharge target of the resist solution from the
<2.異物検出機能>
また、スリットコータ10は、塗布処理の際にスリットノズル41と接触する可能性のある異物を検出する機能を有している。
<2. Foreign object detection function>
Further, the
図2は、スリットノズル41と接触する可能性のある異物Fmの例を示す側面図である。塗布処理においては、吐出口高さが例えば50μm〜200μmとなるように、昇降機構42bにより調整される。そして、この吐出口高さを維持したまま、スリットノズル41は+X向きへ移動される。以下、この塗布処理における吐出口高さを「基準高」という。
FIG. 2 is a side view showing an example of the foreign matter Fm that may come into contact with the
塗布処理においてスリットノズル41の吐出口41aが移動する領域には、図2に示すように基板90の上面に付着した異物Fmが存在することがある。このような異物Fmが存在したまま塗布処理を強行した場合、異物Fmと吐出口41aとが接触し、スリットノズル41の破損などが生じるおそれがある。
In a region where the
このため、スリットコータ10では、スリットノズル41の吐出口41aがこのような異物Fm等と接触する前に、その異物Fm等と接触させてスリットノズル41の吐出口41aを保護する保護部材7が、図1に示すように、スリットノズル41の+X側(正面側)に固定的に取り付けられている。
For this reason, in the
図3は、主としてこの保護部材7の構成を示す−Y側(左側)からの側面図である。図に示すように、保護部材7は断面が略コの字状の部材であり、第1プレート71と第2プレート72とを、接続部73で接続して構成される。プレート71,72はそれぞれが、長尺状で断面矩形の板状部材であり、例えばステンレスなどの金属で構成される。これら2つのプレート71,72は、それぞれの長手方向がY軸方向に沿うように平行に配置される。また、2つのプレート71,72は、X軸方向に互いに所定の間隔を隔てて並列配置されており、第1プレート71が塗布処理における進行の前方側(+X側)、第2プレートが後方側(−X側)に位置している。なお以下では、2つのプレート71,72のそれぞれに関して、塗布処理(吐出走査)において進行の前方位置となる+X側の面を前面といい、逆の−X側の面を背面という。
FIG. 3 is a side view mainly from the −Y side (left side) showing the configuration of the
これら2つのプレート71,72の下端部の高さ(基板90との間に形成される間隔)は同一とされており、それぞれの下端部の位置はスリットノズル41の吐出口(下端)41a以下となるようにされる。これにより、スリットノズル41の下端から+X向きに水平に延ばした仮想線には、2つのプレート71,72の双方が必ず存在することになる。
The heights of the lower end portions of these two
図3に示すように、基板90上に異物Fmが存在した場合は、この異物Fmはスリットノズル41と接触する前に保護部材7と接触し、これにより保護部材7において振動が発生し、その振動がスリットノズル41に伝達される。スリットコータ10では、このスリットノズル41の振動に基づいて、異物Fmの存在を検出するようになっている。
As shown in FIG. 3, when the foreign matter Fm exists on the
スリットノズル41には、その振動を検出するための振動センサ8が設けられている。振動センサ8は、圧電素子を有しており、与えられる加速度に比例した電気信号を出力する。この振動センサ8は、制御部1に電気的に接続され、振動は電気信号として制御部1に入力される。これにより、制御部1が異物Fmの存在を把握できるようになっている。
The
<3.基本動作>
次に、スリットコータ10の基本的な動作の流れについて説明する。図4は、スリットコータ10の基本的な動作の流れを示す図である。この動作は、塗布対象となる一の基板90ごとに実施されるものである。この動作の開始の時点では、スリットノズル41は、図1に示す如く、待避エリア31に待機されている。
<3. Basic operation>
Next, a basic operation flow of the
まず、塗布処理部2の外部の搬送機構により、基板90が塗布処理部2に搬入され、ステージ3の保持面30に受け渡される。搬入された基板90は、真空吸着口により吸着されて保持面30の所定位置に略水平に保持される(ステップS1)。
First, the
次に、ノズル調整部6において予備塗布処理が行われ、スリットノズル41の吐出口41aにレジスト液の液溜りが均一に形成される(ステップS2)。
Next, a preliminary coating process is performed in the nozzle adjustment unit 6, and a resist liquid pool is uniformly formed in the
次に、移動機構5により、スリットノズル41の吐出口41aがレジスト液の吐出を開始すべき開始位置に位置するまで、スリットノズル41が移動される(ステップS3)。ここで開始位置とは、基板90の非塗布領域90aと塗布対象領域90bとの境界となる、塗布対象領域90bの背面側(−X側)の端部である。このスリットノズル41の移動については、さらに詳述する。
Next, the
スリットノズル41の吐出口41aが開始位置に移動されると、次に、その吐出口41aから基板90に向けてレジスト液の吐出が開始される(ステップS4)。またこれと同時に、移動機構5により正面側(+X側)へ向けて所定速度でのスリットノズル41の水平移動が開始される(ステップS15)。
When the
このようなスリットノズル41の水平移動は、スリットノズル41の吐出口41aがレジスト液の吐出を終了すべき終了位置、すなわち、塗布対象領域90bの正面側(+X側)の端部となるまで継続される(ステップS5,S6)。
Such horizontal movement of the
スリットノズル41の吐出口41aが終了位置に位置するとレジスト液の吐出が停止され(ステップS7)、移動機構5によりスリットノズル41が待避エリア31に移動される(ステップS8)。そして、塗布処理が完了した基板90が、塗布処理部2から搬出されることになる(ステップS9)。
When the
以上がスリットコータ10の基本的な動作であるが、ステップS3及びステップS5におけるスリットノズル41の移動中に、振動センサ8によりスリットノズル41の振動が検出された場合は、基板90に異物Fmが存在していることになる。このため、この場合は、制御部1の制御により、スリットノズル41の移動が強制的に停止される。これにより、スリットノズル41の破損等の異物Fmによる不具合の発生が有効に防止されるようになっている。
The basic operation of the
<4.開始位置への移動>
次に、スリットノズル41の吐出口41aを開始位置に移動させる動作(ステップS3)についてさらに詳細に説明する。図5は、ステップS3の動作の詳細な流れを示す図である。
<4. Move to start position>
Next, the operation (step S3) of moving the
まず、昇降機構42bにより、吐出口高さが塗布処理の場合と同一の基準高に調整される(ステップS11)。そして、この吐出口高さを維持したまま、図6に示すように、吐出口41aが基板90の背面側(−X側)の端部P0の直上に位置するまで、スリットノズル41が+X向きへ水平移動される(ステップS12,S13)。その結果、図7において実線で示す位置までスリットノズル41が移動される。スリットノズル41の吐出口41aの位置は、リニアエンコーダ53によって検出されることになる(以降も同様。)。
First, the height of the discharge port is adjusted to the same reference height as in the case of the coating process by the elevating
続いて、図7において破線で示すように、昇降機構42bにより、スリットノズル41が上昇される。これにより、吐出口高さが基準高よりも高くされる(ステップS14)。この際の上昇幅は、レジスト液の液溜りBが基板90へ付着することが防止できればよいため、若干量でよい。
Subsequently, as shown by a broken line in FIG. 7, the
そして、この吐出口高さを維持したまま、吐出口41aが開始位置P1の直上に位置するまで、スリットノズル41が+X向きへ水平移動される(ステップS15,S16)。その結果、図8において破線で示す位置に、スリットノズル41が移動される。続いて、以降の塗布処理を行うために、図8において実線で示すように、昇降機構42bによりスリットノズル41が下降されて吐出口高さが基準高に調整される(ステップS17)。
The
このように、吐出口41aの位置が基板90の直上外部から基板90の端部P0までのときには吐出口高さが基準高とされ(ステップS11〜S13)、吐出口41aの位置が基板90の端部P0から開始位置P1までのときには吐出口高さが基準高よりも高くされる(ステップS14〜S16)。
As described above, when the position of the
すなわち、吐出口41aが非塗布領域である位置P0〜P1間の直上に位置しているときのみ吐出口高さが基準高よりも高くされ、それ以外は吐出口高さは基準高とされることになる。このことから、レジスト液の液溜りBが非塗布領域である位置P0〜P1間を回避するように移動し、液溜りBが非塗布領域に付着することが防止される。これにより、基板90の汚染を防止できるとともに、液溜りBの均一性を維持したまま吐出口41aを開始位置に移動させることができることになる。
That is, the discharge port height is set higher than the reference height only when the
また、吐出口高さを基準高とした状態で、基板90の直上外部からスリットノズル41を水平移動させることから、図6に示すように、保護部材7は塗布処理の場合と同一の高さで基板90の上部に進入する。したがって、図7に示すように、基板90の端部P0から位置P2(吐出口41aが端部P0の直上に位置したときに、第1プレート71の前面が存在する位置)までは、異物Fmを第1プレート71に接触させることができることになる。
In addition, since the
また、図8に示すように吐出口41aが開始位置P1に位置すると第1プレート71の前面は位置P3に位置する。このため、その後の塗布処理では、位置P3より正面側(+X側)の領域については、異物Fmを第1プレート71に接触させることができる。このように、スリットコータ10では、第1プレート71と異物Fmとが接触可能な領域を広げることができ、第1プレート71のみでも基板90上のほぼ全ての異物Fmの存在を検出できることになる。
As shown in FIG. 8, when the
ただし、位置P2〜P3間においては、第1プレート71が上昇された状態で移動することから、図8に示すように、この位置P2〜P3間に異物Fmが存在した場合は、この異物Fmを第1プレート71に接触させることができない。
However, since the
このため、スリットコータ10では、このような第1プレート71に接触させることができない異物Fmについては、その後方の第2プレート72に接触させるようになっている。すなわち、図8に示すように、吐出口41aが開始位置P1に位置したとき第2プレート72の前面が位置P2に存在するように、保護部材7が設計されている。これにより、その後スリットノズル41が+X方向へ移動されると、位置P2〜P3間の異物Fmを第2プレート72に接触させることができることになる。
For this reason, in the
<5.保護部材のサイズ>
ここで、この機能を実現するために必要な保護部材7のサイズについて説明する。
<5. Size of protective member>
Here, the size of the
図9に示すように、吐出口41aから第1プレート71の前面までのX軸方向の長さをL1とし、吐出口41aから第2プレート72の前面までのX軸方向の長さをL2とする。また、非塗布領域となる位置P0〜P1間のX軸方向の長さ(以下、「非塗布長」という。)をHとすると、これらは、次の式の関係を満たしている必要がある。
As shown in FIG. 9, the length in the X-axis direction from the
L1−L2≧H …(1)
この式(1)は、2つのプレート71,72のそれぞれの前面の相互間の長さをUとすると、次の式(2)としても表現できる。
L1-L2 ≧ H (1)
This expression (1) can also be expressed as the following expression (2), where U is the length between the front surfaces of the two
U≧H …(2)
すなわち、2つのプレート71,72のそれぞれの前面の相互間の長さUが、非塗布長H以上であればよいことになる。これは、第1プレート71が上昇状態で移動する長さは、位置P0〜P1間の非塗布長Hであることから、この長さが第1プレート71が異物Fmと接触できない領域(位置P2〜P3間)の長さとなるためである。つまり、式(2)の条件が満たされていれば、図8の状態の如く、吐出口41aが開始位置P1に位置したときに、第2プレート72の前面が位置P2にあるか、それよりも後方側(−X側)に位置する。このため、位置P2〜P3間の異物Fmを、第2プレート72の前面で必ず接触させることができることになる。
U ≧ H (2)
That is, the length U between the front surfaces of the two
なおここでは、異物Fmをプレート71,72の前方位置たる前面で接触させるため、プレート71,72の前面の相互間の長さUについて説明した。これは、スリットノズル41の振動を振動センサ8で検出するためには、プレート71,72の前方位置で接触させることが好ましいためである。
Here, the length U between the front surfaces of the
しかしながら、例えば、異物Fmを保護部材7に接触させて破壊するなど、異物Fmを保護部材7に単に接触させればよい場合においては、保護部材7の下端を構成する部位によって規定されるX軸方向の最大長さをVとすると、次の式(3)が満たされていればよい。
However, in the case where the foreign matter Fm is simply brought into contact with the
V≧H …(3)
つまり、本実施の形態の保護部材7においては、第1プレート71の前面と第2プレート72の背面との間の長さVが非塗布長H以上であればよいことになる(図9参照。)。式(3)の条件が満たされていれば、吐出口41aが開始位置P1に位置したときには、第2プレート72の背面が位置P2にあるか、それよりも後方側(−X側)に位置する。このため、位置P2〜P3間の異物Fmを、前面ではなくとも、第2プレート72のいずれかの部分で接触させることが可能となる。
V ≧ H (3)
That is, in the
以上のように、本実施の形態のスリットコータ10では、吐出口41aの位置が基板90の直上外部から位置P0までは吐出口高さが基準高とされ、非塗布領域である位置P0〜P1間では吐出口高さが基準高よりも高くされる。このため、基板90の非塗布領域(位置P0〜P1間)にレジスト液が付着することを有効に防止できる。
As described above, in the
また、保護部材7の下端は2つのプレート71,72で構成され、それらの前面相互間の長さは非塗布長以上とされている。このため、前方の第1プレート71で接触できない異物Fmがあったとしても、その異物Fmは後方の第2プレート72の前面で必ず接触させることができる。したがって、スリットノズル41の吐出口41aが通過する全ての領域に関して、異物Fmが吐出口41aに接触する前に、異物Fmをプレート71,72に接触させることができることになる。
Moreover, the lower end of the
<6.他の実施の形態>
以上、本発明の実施の形態について説明してきたが、この発明は上記実施の形態(以下、「第1形態」という。)に限定されるものではなく様々な変形が可能である。以下では、このような他の実施の形態について説明する。
<6. Other embodiments>
Although the embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiment (hereinafter referred to as “first embodiment”), and various modifications are possible. Hereinafter, such other embodiments will be described.
<6−1.第2形態>
図10は、第2形態として保護部材7の他の形態を示す図である。この第2形態では、第1プレート71と第2プレート72とが、樹脂などの弾性材74を挟み込むようにして保護部材7が構成されている。これによれば、第1形態のようなコの字状とするよりも、保護部材7としての強度を向上できる。
<6-1. Second form>
FIG. 10 is a diagram showing another form of the
この第2形態においても、異物Fmを保護部材7の前方位置で接触させる場合は、プレート71,72の前面の相互間の長さUを、非塗布長H以上とすればよい。また、異物Fmを保護部材7のいずれかの部分で接触させればよい場合では、保護部材7の下端によって規定されるX軸方向の最大長さ、すなわち、第1プレート71の前面と第2プレート72の背面との間の長さVを、非塗布長H以上とすればよい。
Also in this 2nd form, when making the foreign material Fm contact in the front position of the
<6−2.第3形態>
図11は、第3形態として保護部材7の他の形態を示す図である。この第3形態では、保護部材7が一つの金属部材で構成されており、その下端に第1爪75aと第2爪75bとがX軸方向に並列して形成されている。第1及び第2爪75a,75bは、Y軸方向に沿って平行に延びており、これらは第1形態の第1及び第2プレート71,72と同様に機能する。つまり、前方側の第1爪75aで接触できない異物Fmを、後方の第2爪75bで接触させることになる。
<6-2. Third form>
FIG. 11 is a diagram showing another form of the
このように、保護部材7を一つの金属部材で構成することにより、保護部材7の取り付けが容易となるとともに、保護部材7の下端を構成する部位(第1及び第2爪75a,75b)の相互間の配置の精度を高くすることができる。
Thus, by comprising the
この第3形態においても、異物Fmを保護部材7の前方位置で接触させる場合は、第1及び第2爪75a,75bの前面の相互間の長さUを、非塗布長H以上とすればよい。また、異物Fmを保護部材7のいずれかの部分で接触させればよい場合では、保護部材7の下端によって規定されるX軸方向の最大長さ、すなわち、第1爪75aの前面と第2爪75bの背面との間の長さVを、非塗布長H以上とすればよい。
Also in the third embodiment, when the foreign matter Fm is brought into contact with the front position of the
<6−3.第4形態>
図12は、第4形態として保護部材7の他の形態を示す図である。この第4形態では、保護部材7が、X軸方向の幅が下方ほど小となる傾斜形状を有する2つの傾斜プレート76a,76bを接続して構成されている。
<6-3. Fourth embodiment>
FIG. 12 is a diagram showing another form of the
保護部材7は、接触により異物Fmを破壊できる程度、あるいは、異物Fmと接触させてその振動を有効に発生できる程度の質量を有している必要がある。一方で、保護部材7の下端面は、異物Fmとの接触の精度を高くするためには厳密なレベルで平坦面となることが望まれるが、このような平坦加工には大きな製造コストがかかる。このため、製造コストの低減のためには、保護部材7の下端面の幅はできるだけ小とすることが望ましい。
The
つまり、保護部材7のプレートの幅については、「大とすべき」という要請と、「小とすべき」という要請とが競合する。これに対して、この第4形態のように、プレートの形状を傾斜形状とすることでこれらの要請を両立することができ、保護部材7としての機能を有効に確保しつつ、その製造コストを低減できることになる。
That is, regarding the width of the plate of the
この第4形態においても、異物Fmを保護部材7の前方位置で接触させる場合は、2つの傾斜プレート76a,76bのそれぞれの下端前方の相互間の長さUを、非塗布長H以上とすればよい。また、異物Fmを保護部材7のいずれかの部分で接触させればよい場合では、保護部材7の下端によって規定されるX軸方向の最大長さ、すなわち、傾斜プレート76aの下端前方位置と傾斜プレート76bの下端後方位置との間の長さVを、非塗布長H以上とすればよい。
Also in this fourth embodiment, when the foreign matter Fm is brought into contact with the front position of the
<6−4.その他の変形例>
上記実施の形態では、異物Fmと接触させる保護部材7の下端を2つの部位で構成するようにしているが、異物Fmを保護部材7のいずれかの部分で接触させればよい場合では、図13に示すように保護部材7の下端を単なる平面で構成してもよい。この場合では、保護部材7の下端によって規定されるX軸方向の最大長さ、すなわち、保護部材7のX軸方向の幅Vを非塗布長H以上とすれば、全ての領域の異物Fmを保護部材7に接触させることができることになる。
<6-4. Other variations>
In the above embodiment, the lower end of the
またこれとは逆に、保護部材7の下端を3以上の部位で構成するようにしてもよい。この場合においても、これら3以上の部位のうち、塗布処理における進行の最前方側の部位を第1部位、最後方側の部位を第2部位としたとき、第1及び第2部位のそれぞれの前方位置の相互間の長さを非塗布長H以上とすれば、異物Fmを保護部材7の前方位置で接触させることができることになる。
On the contrary, the lower end of the
また、上記実施の形態では、保護部材7はスリットノズル41の+X側の面に設けられていたが、吐出口41aを保護できるように、吐出口41aの吐出走査における進行の前方側(+X側)に相対的に固定されれば、どの位置に配置されてもよい。例えば、図14に示すように、スリットノズル41の下面側に保護部材7が設けられてもよい。この場合でも、保護部材7の構造としては、図9〜図13にて示したいずれの構造をも採用可能である。
In the above embodiment, the
また、上記実施の形態の移動手段たる移動機構5は、固定的に配置される基板90に対してスリットノズル41を移動させるようにしていたが、逆に、固定的に配置されるスリットノズル41に対して基板90を移動させるようにしてもよい。いずれの場合であっても、基板90に対してスリットノズル41を相対移動させることになる。
Further, the moving
また、上記実施の形態では、基板90の上に存在する異物Fmに関して説明を行ったが、図15に示す如く、基板90と保持面30との間に異物Fmが挟まると基板90が部分的に隆起する。このような基板90の隆起部分91に関しても保護部材7と接触させて、スリットノズル41を保護可能であることはもちろんである。
In the above embodiment, the foreign matter Fm existing on the
5 移動機構
7 保護部材
41 スリットノズル
41a 吐出口
42b 昇降機構
53 リニアエンコーダ
71 第1プレート
72 第2プレート
90 基板
Fm 異物
DESCRIPTION OF
Claims (4)
略水平な第1方向に沿って延びるスリット状の吐出口から前記処理液を吐出可能なノズルと、
前記第1方向に直交する略水平な第2方向に、前記基板の直上外部から前記処理液の吐出を開始すべき開始位置まで前記基板に対して前記ノズルを相対移動させ、さらに、前記塗布対象領域の上部全体を前記基板に対して前記ノズルを相対移動させて前記ノズルに前記塗布対象領域に対する吐出走査を行わせる移動手段と、
前記第1方向に沿って延び、下端の位置が前記吐出口の下端以下となるように、前記ノズルの前記吐出走査における進行の前方側に相対固定される保護部材と、
前記基板に対する前記吐出口の相対高を調整する調整手段と、
を備え、
前記調整手段は、
前記吐出口の位置が前記基板の直上外部から前記基板の端部までのときには、前記吐出口の相対高を前記吐出走査の場合と同一の基準高とし、
前記吐出口の位置が前記基板の端部から前記開始位置までのときには、前記吐出口の相対高を前記基準高よりも高くすることを特徴とする塗布処理装置。 A coating processing apparatus for applying a processing liquid to a coating target area of a substrate held substantially horizontally,
A nozzle capable of discharging the treatment liquid from a slit-like discharge port extending along a substantially horizontal first direction;
The nozzle is moved relative to the substrate in a substantially horizontal second direction orthogonal to the first direction from a position directly above the substrate to a start position where the discharge of the processing liquid is to be started, and the application target Moving means for moving the nozzle relative to the substrate over the entire area to cause the nozzle to perform ejection scanning on the application target area;
A protective member that extends along the first direction and is relatively fixed to a front side of the progress of the nozzle in the ejection scan so that the position of the lower end is equal to or lower than the lower end of the ejection port;
Adjusting means for adjusting the relative height of the discharge port with respect to the substrate;
With
The adjusting means includes
When the position of the discharge port is from the outside directly above the substrate to the end of the substrate, the relative height of the discharge port is set to the same reference height as in the case of the discharge scan,
When the position of the discharge port is from the end of the substrate to the start position, the coating processing apparatus is configured to make the relative height of the discharge port higher than the reference height.
前記保護部材の下端は、それぞれが前記第1方向に沿って延び、前記第2方向に並列配置される複数の部位で構成されることを特徴とする塗布処理装置。 The coating treatment apparatus according to claim 1,
The coating processing apparatus, wherein the lower end of the protection member is constituted by a plurality of portions each extending along the first direction and arranged in parallel in the second direction.
前記複数の部位のうち、前記吐出走査の進行の最前方側の部位を第1部位、最後方側の部位を第2部位としたとき、
前記第1及び前記第2部位のそれぞれの前記吐出走査の進行の前方位置の相互間の長さは、前記基板の端部から前記開始位置までの長さ以上であることを特徴とする塗布処理装置。 The coating treatment apparatus according to claim 2,
Among the plurality of parts, when the frontmost part of the progress of the discharge scanning is a first part and the rearmost part is a second part,
The length between the front positions of the progress of the ejection scan of each of the first and second portions is equal to or longer than the length from the end of the substrate to the start position. apparatus.
前記保護部材の下端によって規定される前記第2方向の最大長さは、前記基板の端部から前記開始位置までの長さ以上であることを特徴とする塗布処理装置。
The coating treatment apparatus according to claim 1 or 2,
The maximum length in the second direction defined by the lower end of the protective member is equal to or longer than the length from the end of the substrate to the start position.
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