JP2007049198A - 表示装置 - Google Patents
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- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 26
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 26
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 14
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 75
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 abstract description 53
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 abstract description 27
- 239000007769 metal material Substances 0.000 abstract description 3
- 239000000049 pigment Substances 0.000 abstract description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 20
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 18
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 13
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 12
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 8
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 8
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 7
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 5
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 5
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N silicide(4-) Chemical compound [Si-4] FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- WQJQOUPTWCFRMM-UHFFFAOYSA-N tungsten disilicide Chemical compound [Si]#[W]#[Si] WQJQOUPTWCFRMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021342 tungsten silicide Inorganic materials 0.000 description 1
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Abstract
【解決手段】ブラックマトリクスを構成する遮光材料を顔料を含有させ、遮光性を持たせた樹脂材料114でもって構成する。そしてこの樹脂材料に直接開口119を形成し、そこで画素電極120と薄膜トランジスタとのコンタクトを行わせる。こうすることにより、ブラックマトリクスを金属材料でもって構成していた場合における画素電極とブラックマトリクスとの接触の問題を解決することができる。
【選択図】図5
Description
薄膜トランジスタと、
該薄膜トランジスタに接続された画素電極と、
前記薄膜トランジスタと前記画素電極との間に形成された遮光性を有する樹脂材料でなる膜と、
を有し、
前記樹脂材料でなる膜には、
前記画素電極と前記薄膜トランジスタとを接続するための開口と、
画素に対応する領域に形成された開口と、
が形成されていることを特徴とするディスプレイである。
(1)画素電極のTFTへのコンタクト用の開口
(2)画素電極部分に対応する領域の開口
(3)補助容量を形成するための開口
を形成することにより、透過型の液晶パネルとすることができる。
本明細書で開示する発明においては、TFTの形式として特に限定されるものではない。また、活性層を構成する半導体の種類やその結晶性に関しても特に限定されるものではない。
101 活性層パターン
102 ゲイト絶縁膜
103 ゲイト電極(ゲイト配線)(活性層との交差部がゲイト電極) 104 不純物領域(導電型を付与された領域)
105 チャネル領域
106 不純物領域(導電型を付与された領域)
107 窒化珪素膜(層間絶縁膜)
108 アクリル樹脂膜(層間絶縁膜)
109 コンタクト用の開口
110 ドレイン電極(補助容量の一方の電極)
111 ソース線
112 TFTのソース領域とソース線とのコンタクト
113 窒化珪素膜(補助容量の誘電体膜)
114 顔料含有のアクリル樹脂膜でなるブラックマトリクス
115 補助容量用の開口(アクリル樹脂膜に形成された開口)
116 画素領域に形成された開口
117 容量線(補助容量の他方の電極)
118 アクリル樹脂膜(層間絶縁膜)
119 画素電極のコンタクト用の開口
120 画素電極
121 画素電極
122 コンタクト開口部
Claims (1)
- 薄膜トランジスタと、
前記薄膜トランジスタに接続された画素電極と、
前記薄膜トランジスタと前記画素電極との間に形成された遮光性を有する樹脂材料でなる膜とを有し、
前記樹脂材料でなる膜には、前記画素電極と前記薄膜トランジスタとを接続するための開口と、画素に対応する領域に形成された開口とが形成されていることを特徴とするディスプレイ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006299976A JP4832256B2 (ja) | 2006-11-06 | 2006-11-06 | 表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006299976A JP4832256B2 (ja) | 2006-11-06 | 2006-11-06 | 表示装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19650097A Division JP3892115B2 (ja) | 1997-07-07 | 1997-07-07 | ディスプレイ及びディスプレイを備えた装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007049198A true JP2007049198A (ja) | 2007-02-22 |
JP4832256B2 JP4832256B2 (ja) | 2011-12-07 |
Family
ID=37851700
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006299976A Expired - Fee Related JP4832256B2 (ja) | 2006-11-06 | 2006-11-06 | 表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4832256B2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03196020A (ja) * | 1989-12-25 | 1991-08-27 | Casio Comput Co Ltd | 液晶表示装置 |
JPH07209670A (ja) * | 1994-01-24 | 1995-08-11 | Sony Corp | 表示パネル用半導体装置及びその製造方法 |
JPH08122522A (ja) * | 1994-10-27 | 1996-05-17 | Seiko Epson Corp | カラーフィルタ、ブラックマトリックス、表示装置、アクティブマトリックス型液晶表示装置、及びその製造方法 |
-
2006
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03196020A (ja) * | 1989-12-25 | 1991-08-27 | Casio Comput Co Ltd | 液晶表示装置 |
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